JPS5868163A - システム障害検出方式 - Google Patents
システム障害検出方式Info
- Publication number
- JPS5868163A JPS5868163A JP56165752A JP16575281A JPS5868163A JP S5868163 A JPS5868163 A JP S5868163A JP 56165752 A JP56165752 A JP 56165752A JP 16575281 A JP16575281 A JP 16575281A JP S5868163 A JPS5868163 A JP S5868163A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- trouble
- pulse
- timer
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31919—Storing and outputting test patterns
- G01R31/31921—Storing and outputting test patterns using compression techniques, e.g. patterns sequencer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Software Systems (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子交換機等システムダウンの許容されないシ
ステムの状態情報を事前に検出する方法に関するもので
ある。
ステムの状態情報を事前に検出する方法に関するもので
ある。
従来技術を電子交換機を例に述べる。
電子交換機は通話路系装置をプロセッサにょ゛り集中制
御するものであり、プロセッサは完全二重化構成で運用
されて居り、片側のプロセッサーが実稼動状態のときも
う片側のプロセッサーは待機状態でプログラムの実行は
行なっていない。実稼動のプロセッサがシステム異常と
なると特殊なシステト系制御回路(エマージーント・シ
回路と呼ぶ)が動作し、プロセッサー等をチェンジし、
システムの2重構成装置を再形成する。このシステム再
形成のための前記エマ−シーンシー回路はシステム異常
時起動されるものであり、その起動信号はタイマー回路
のオーバ1、−70−により行なわれている。このタイ
マー回路はプログラムでリセット可能であり、通常U6
る周期でリセットするよう交換処理プログ 。
御するものであり、プロセッサは完全二重化構成で運用
されて居り、片側のプロセッサーが実稼動状態のときも
う片側のプロセッサーは待機状態でプログラムの実行は
行なっていない。実稼動のプロセッサがシステム異常と
なると特殊なシステト系制御回路(エマージーント・シ
回路と呼ぶ)が動作し、プロセッサー等をチェンジし、
システムの2重構成装置を再形成する。このシステム再
形成のための前記エマ−シーンシー回路はシステム異常
時起動されるものであり、その起動信号はタイマー回路
のオーバ1、−70−により行なわれている。このタイ
マー回路はプログラムでリセット可能であり、通常U6
る周期でリセットするよう交換処理プログ 。
ラムが準備されている。しかし、システムが異常となり
プログラムが正常に実行不可能となると前記タイマーは
リセットされずオーバーフローする。オーバーフローに
よりエマ−ジエンシー回路が動作した場合の状態情報は
以前の動作状態から、ある程度の把握は可能である。し
かしシステノ・異常状態を事前に把握することは不−゛
可能であると共にシステム状態によってはエマ−シーン
シー回路が連続起動されると以前の状態情報は不明確と
なる。したがってその対応が遅くなるとともに原因調査
が困難となる。
プログラムが正常に実行不可能となると前記タイマーは
リセットされずオーバーフローする。オーバーフローに
よりエマ−ジエンシー回路が動作した場合の状態情報は
以前の動作状態から、ある程度の把握は可能である。し
かしシステノ・異常状態を事前に把握することは不−゛
可能であると共にシステム状態によってはエマ−シーン
シー回路が連続起動されると以前の状態情報は不明確と
なる。したがってその対応が遅くなるとともに原因調査
が困難となる。
本発明の目的はシステム障害の原因を明確化、・)する
ための情報を確保することにより対応を迅4速化するこ
と及びシステム障害発生前に異常状態ン検知する手段を
提供するにある。
ための情報を確保することにより対応を迅4速化するこ
と及びシステム障害発生前に異常状態ン検知する手段を
提供するにある。
本発明はシステム異常時システム再形成のた。
め動作するタイマー回路にオーバーフロー前の1゜ある
任意の時間1で信号を生起させ、前記信号により割込み
回路を起動し、実行中のプログラムを中断させ、システ
ム状態?セーブするようにすると共1tこ表示回路を起
動する。
任意の時間1で信号を生起させ、前記信号により割込み
回路を起動し、実行中のプログラムを中断させ、システ
ム状態?セーブするようにすると共1tこ表示回路を起
動する。
本発明の一実施例馨第1図、第2因により説明する。
第1図はタイマー回路100.起動信号端子゛1、リセ
ット端子2、オーバーフロー前のタイ。
ット端子2、オーバーフロー前のタイ。
マーtB 力” 、オーバーフロー出力4、エマ−ジエ
ンシー回路200.割込み源回路300より1構成され
る。
ンシー回路200.割込み源回路300より1構成され
る。
第2図は第1図の各回路の人出力パルスを示す。
定常状態時はタイマー回路100は起動信号・1端子よ
シ第2図に示すパルス1Pyよりカラ1゜ンタアップさ
れ、リセット端子2に第2図に示す1セツトパルス2P
入力にょシリセットされ。
シ第2図に示すパルス1Pyよりカラ1゜ンタアップさ
れ、リセット端子2に第2図に示す1セツトパルス2P
入力にょシリセットされ。
る。リセットタイミングt1 はプログラムにより制御
されほぼ一定の値の数100m5 程度である。
されほぼ一定の値の数100m5 程度である。
今システム異常状態となりリセットタイミングt1 時
にリセット端子2にパルスが供給不可能となるとカウン
タ回路100はカウントアツプを継続する。この継続さ
れた後1.のタイミング時カウンタ回路100の出力3
に5Pに示すパルスを生起する。このパルスは割込ミT
M m路300を起動する。また同時に表示回路400
゛を起動する。この割込み源回路300は一般の割込み
源回路と同じであり実行中のプログラム゛を中断し、あ
らかじめ足められた番地ヘジャン1プする。このジャン
プ先にシステム状態を取込゛む命令を設定しておくこと
忙より、例えば中断・命令のアドレス、システム状態等
の情報をシステムエリアに格納する。又ランプ表示ある
いは。
にリセット端子2にパルスが供給不可能となるとカウン
タ回路100はカウントアツプを継続する。この継続さ
れた後1.のタイミング時カウンタ回路100の出力3
に5Pに示すパルスを生起する。このパルスは割込ミT
M m路300を起動する。また同時に表示回路400
゛を起動する。この割込み源回路300は一般の割込み
源回路と同じであり実行中のプログラム゛を中断し、あ
らかじめ足められた番地ヘジャン1プする。このジャン
プ先にシステム状態を取込゛む命令を設定しておくこと
忙より、例えば中断・命令のアドレス、システム状態等
の情報をシステムエリアに格納する。又ランプ表示ある
いは。
警報を鳴動する。あるいは入出力装置郷に出力1(1す
ることにより異常状態を事前通知できる。そ。
ることにより異常状態を事前通知できる。そ。
の後カウンタ回路100のオーバーフロー出力4に4P
に示すパルスが発生しエマ−ジエンシー回路200を起
動する。オーバーフロー出力。
に示すパルスが発生しエマ−ジエンシー回路200を起
動する。オーバーフロー出力。
タイミングt3 はあらかじめハード的に定めら1゜れ
た一定値である。
た一定値である。
起動されたエマ−ジエンシー回路200はシステムの装
置再形成のため種々の信号を発生し、再形成が完了する
とプログラムにリンクする。
置再形成のため種々の信号を発生し、再形成が完了する
とプログラムにリンクする。
なおプロセッサ2重構成および割込み動作、エマーシー
ンシー回路動作等については、一般的電子交換機と同様
である。
ンシー回路動作等については、一般的電子交換機と同様
である。
本発明により従来社システムlI害発生時の事後情報の
確保はある程度可能でろったが、システム障害発生前情
報を事前に確保可能と−Cるこ5とにより、システム障
害の原因探索を容易化丁。
確保はある程度可能でろったが、システム障害発生前情
報を事前に確保可能と−Cるこ5とにより、システム障
害の原因探索を容易化丁。
ると共に表示回路を設けることにより危険状態・全目視
できることからシステム状態ヲ監視でき・る0 4、図面の簡単な説明 1゜第
1図は本発明によるシステム障害検出の一冥施例の図、
第2図は第1図名部のタイムチャ。
できることからシステム状態ヲ監視でき・る0 4、図面の簡単な説明 1゜第
1図は本発明によるシステム障害検出の一冥施例の図、
第2図は第1図名部のタイムチャ。
−トの図でおる。
100・・・タイマー回路
200・・・エマ−ジエンシー回路1゜500・・・割
込み源回路 400・・・表示回路 代理人弁理士 薄 1)利 幸 、。
込み源回路 400・・・表示回路 代理人弁理士 薄 1)利 幸 、。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 プロセッサを二重化し、1台な待機状態で運用する
システムで、プログラム的に対処で□きないシステム障
害時にプロセッサを金物により強制的に切替える回路お
よび前記システム障害を検出する手段としてタイマー回
路を具備するシステムにおいて、タイマー回路のオーバ
ーフロー発生の一定時間前に制御信号・。 を発生させる回路を有し前記制御信号を割込み要因とす
る回路構成および外部表示回路により表示する構成とし
、タイマー回路作動の一定時間経過後からオーバーフロ
ーするまでの時間内にシステム状態情報を主記憶装置等
1にセーブあるいは外部表示回路によりランプ表示、警
報等によりシステム障害を検出することを特徴とするシ
ステム障害検出方式。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/307,322 US4433414A (en) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | Digital tester local memory data storage system |
US307322 | 1994-09-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5868163A true JPS5868163A (ja) | 1983-04-22 |
JPS6152496B2 JPS6152496B2 (ja) | 1986-11-13 |
Family
ID=23189221
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56165752A Granted JPS5868163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-10-19 | システム障害検出方式 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4433414A (ja) |
EP (1) | EP0077237B1 (ja) |
JP (1) | JPS5868163A (ja) |
KR (1) | KR880001169B1 (ja) |
AU (1) | AU566662B2 (ja) |
CA (1) | CA1191552A (ja) |
DE (1) | DE3269077D1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4517661A (en) * | 1981-07-16 | 1985-05-14 | International Business Machines Corporation | Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit |
US4554630A (en) * | 1981-08-24 | 1985-11-19 | Genrad, Inc. | Control apparatus for back-driving computer memory and forcing execution of idle loop program in external memory |
US4493079A (en) * | 1982-08-18 | 1985-01-08 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Method and system for selectively loading test data into test data storage means of automatic digital test equipment |
GB8309692D0 (en) * | 1983-04-09 | 1983-05-11 | Int Computers Ltd | Verifying design of digital electronic systems |
US4652814A (en) * | 1983-06-13 | 1987-03-24 | Hewlett-Packard Company | Circuit testing utilizing data compression and derivative mode vectors |
US4594692A (en) * | 1983-06-27 | 1986-06-10 | Standard Oil Company | Seismic signal generator |
US4587625A (en) * | 1983-07-05 | 1986-05-06 | Motorola Inc. | Processor for simulating digital structures |
GB2149159B (en) * | 1983-10-28 | 1987-07-08 | Membrain Ltd | Method and apparatus for generating sequence of multibit words |
FR2570232A1 (fr) * | 1984-09-11 | 1986-03-14 | Thomson Csf | Dispositif de traduction de sequence de test en sequence de rodage pour circuit logique et/ou numerique, procede de rodage de circuit logique et/ou numerique et dispositif de rodage de circuit logique et/ou numerique |
US4696005A (en) * | 1985-06-03 | 1987-09-22 | International Business Machines Corporation | Apparatus for reducing test data storage requirements for high speed VLSI circuit testing |
JPS6244674A (ja) * | 1985-08-23 | 1987-02-26 | Toshiba Corp | 評価容易化回路 |
US4682330A (en) * | 1985-10-11 | 1987-07-21 | International Business Machines Corporation | Hierarchical test system architecture |
US4772445A (en) * | 1985-12-23 | 1988-09-20 | Electric Power Research Institute | System for determining DC drift and noise level using parity-space validation |
US4727312A (en) * | 1985-12-23 | 1988-02-23 | Genrad, Inc. | Circuit tester |
US4771428A (en) * | 1986-04-10 | 1988-09-13 | Cadic Inc. | Circuit testing system |
US5025210A (en) * | 1986-07-18 | 1991-06-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Evaluation facilitating circuit device |
US4730318A (en) * | 1986-11-24 | 1988-03-08 | International Business Machines Corporation | Modular organized storage tester |
US4847838A (en) * | 1987-06-22 | 1989-07-11 | Ag Communication Systems Corporation | Circuit for testing the bus structure of a printed wiring card |
US5321701A (en) * | 1990-12-06 | 1994-06-14 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for a minimal memory in-circuit digital tester |
US5345450A (en) * | 1993-03-26 | 1994-09-06 | Vlsi Technology, Inc. | Method of compressing and decompressing simulation data for generating a test program for testing a logic device |
US5596587A (en) * | 1993-03-29 | 1997-01-21 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for preparing in-circuit test vectors |
US5682392A (en) * | 1994-09-28 | 1997-10-28 | Teradyne, Inc. | Method and apparatus for the automatic generation of boundary scan description language files |
JPH10170603A (ja) * | 1996-12-13 | 1998-06-26 | Ando Electric Co Ltd | Icテスタのキャリブレーション方法 |
US5825787A (en) * | 1997-11-25 | 1998-10-20 | Xilinx, Inc. | System and method for accessing a test vector memory |
US6865704B2 (en) * | 2001-11-09 | 2005-03-08 | Agilent Technologies, Inc. | Scan multiplexing for increasing the effective scan data exchange rate |
KR20100101921A (ko) * | 2009-03-10 | 2010-09-20 | 주식회사 비에스이 | 마이크로 스피커용 진동판 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3222653A (en) * | 1961-09-18 | 1965-12-07 | Ibm | Memory system for using a memory despite the presence of defective bits therein |
US3999051A (en) * | 1974-07-05 | 1976-12-21 | Sperry Rand Corporation | Error logging in semiconductor storage units |
JPS5247345A (en) * | 1975-10-13 | 1977-04-15 | Advantest Corp | Pattern generating equipment |
US4066880A (en) * | 1976-03-30 | 1978-01-03 | Engineered Systems, Inc. | System for pretesting electronic memory locations and automatically identifying faulty memory sections |
US4293950A (en) * | 1978-04-03 | 1981-10-06 | Nippon Telegraph And Telephone Public Corporation | Test pattern generating apparatus |
US4216539A (en) * | 1978-05-05 | 1980-08-05 | Zehntel, Inc. | In-circuit digital tester |
JPS6030977B2 (ja) * | 1978-09-28 | 1985-07-19 | 株式会社アドバンテスト | パタ−ン発生装置 |
JPS5585265A (en) * | 1978-12-23 | 1980-06-27 | Toshiba Corp | Function test evaluation device for integrated circuit |
-
1981
- 1981-09-30 US US06/307,322 patent/US4433414A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-10-19 JP JP56165752A patent/JPS5868163A/ja active Granted
-
1982
- 1982-09-28 EP EP82401748A patent/EP0077237B1/en not_active Expired
- 1982-09-28 AU AU88806/82A patent/AU566662B2/en not_active Ceased
- 1982-09-28 DE DE8282401748T patent/DE3269077D1/de not_active Expired
- 1982-09-29 KR KR8204391A patent/KR880001169B1/ko active
- 1982-09-29 CA CA000412502A patent/CA1191552A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0077237B1 (en) | 1986-02-12 |
AU8880682A (en) | 1984-04-05 |
CA1191552A (en) | 1985-08-06 |
AU566662B2 (en) | 1987-10-29 |
EP0077237A1 (en) | 1983-04-20 |
KR880001169B1 (ko) | 1988-07-02 |
JPS6152496B2 (ja) | 1986-11-13 |
US4433414A (en) | 1984-02-21 |
KR840001729A (ko) | 1984-05-16 |
DE3269077D1 (en) | 1986-03-27 |
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