JPS5858269A - 無電解めつき浴 - Google Patents
無電解めつき浴Info
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- JPS5858269A JPS5858269A JP15570881A JP15570881A JPS5858269A JP S5858269 A JPS5858269 A JP S5858269A JP 15570881 A JP15570881 A JP 15570881A JP 15570881 A JP15570881 A JP 15570881A JP S5858269 A JPS5858269 A JP S5858269A
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- sodium
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気記録媒体の膜厚方向の磁化によつて記録
管行う、いわゆる垂直記録に用いる磁気記録媒体(磁性
膜)を作製するめりき浴に関するものである。
管行う、いわゆる垂直記録に用いる磁気記録媒体(磁性
膜)を作製するめりき浴に関するものである。
従来、一般の磁気ディスク装置、磁気テープ装置などの
磁気記録装置においては、基板上に形成された磁気記録
媒体(1(リング型磁気ヘッドによりて水平方向に磁化
することKより記録を行なつている。
磁気記録装置においては、基板上に形成された磁気記録
媒体(1(リング型磁気ヘッドによりて水平方向に磁化
することKより記録を行なつている。
しかし、水平磁化による記録には記録信号が短波長にな
るに従い、即ち記録密度の増加に従って・媒体内の反磁
界が増大して残留磁化の減衰と回転を生じ、再生出力が
著しく減少するという欠点が存在する。そこで、この問
題解決のため短波長和なる相反磁界が小さくなる性質を
4つ垂直記録方式が提案され、この垂直記−に適した磁
気記録媒体としては、膜厚に垂直な方向(磁化容易軸を
もつco−Crスパッタ膜が提案されている。そして、
この垂直磁化記録方式は従来の水平方向の磁化による配
置方式に比べて高密度記録に優れていることが報告され
ている(Il#開昭52−134706号公報参照)。
るに従い、即ち記録密度の増加に従って・媒体内の反磁
界が増大して残留磁化の減衰と回転を生じ、再生出力が
著しく減少するという欠点が存在する。そこで、この問
題解決のため短波長和なる相反磁界が小さくなる性質を
4つ垂直記録方式が提案され、この垂直記−に適した磁
気記録媒体としては、膜厚に垂直な方向(磁化容易軸を
もつco−Crスパッタ膜が提案されている。そして、
この垂直磁化記録方式は従来の水平方向の磁化による配
置方式に比べて高密度記録に優れていることが報告され
ている(Il#開昭52−134706号公報参照)。
ところでCo <r膜をスパッタ法により作製する場合
、真空系内で行うため量産性に問題がある。
、真空系内で行うため量産性に問題がある。
本発明の目的はこの様な製造上の問題点を改善して量産
性に優れた無電解めっき法により、膜面K11l*な方
向に硫化容易軸を一つ磁気記録媒体を濃過する無電解め
っき浴を提供する仁とKある。
性に優れた無電解めっき法により、膜面K11l*な方
向に硫化容易軸を一つ磁気記録媒体を濃過する無電解め
っき浴を提供する仁とKある。
本発明による無電解めりき浴は、コ/(ルトイオン、コ
バルトイオンの還元剤、pHlll1ili14、pt
I調節剤並びにコバルトイオンの錯化剤としてのマロン
酸基およびリンゴ酸基を含む水溶液に、マンガンイオン
、タングステン酸イオン、鉄イオンの群よp選択された
211以上の金属イオンを加えたことをIli倣として
おり、と九によりilに気記録媒体の磁化容易軸を膜面
に喬直な方向に向けることができ、マンガンイオン、タ
ングステン酸イオン、鉄イオンのうちの一種のみの金属
イオンを加えた場合よりも配向性會改善できるO 本発明において金属イオンとして用いられるコバルトイ
オン、マンガンイオン、鉄イオンとしては、コバルト、
マンガンあるいは鉄のiti*塩、塩化塩、酢酸塩など
O可溶性塩を無電解めりき浴中に溶解することによりて
供給される。
バルトイオンの還元剤、pHlll1ili14、pt
I調節剤並びにコバルトイオンの錯化剤としてのマロン
酸基およびリンゴ酸基を含む水溶液に、マンガンイオン
、タングステン酸イオン、鉄イオンの群よp選択された
211以上の金属イオンを加えたことをIli倣として
おり、と九によりilに気記録媒体の磁化容易軸を膜面
に喬直な方向に向けることができ、マンガンイオン、タ
ングステン酸イオン、鉄イオンのうちの一種のみの金属
イオンを加えた場合よりも配向性會改善できるO 本発明において金属イオンとして用いられるコバルトイ
オン、マンガンイオン、鉄イオンとしては、コバルト、
マンガンあるいは鉄のiti*塩、塩化塩、酢酸塩など
O可溶性塩を無電解めりき浴中に溶解することによりて
供給される。
囲が用いられるが、好ましく u 0.01〜0.15
mo 1/lの範囲である0マンガンイオンの濃ltは
、0.003〜2mol/Aの範囲が用いられるが好ま
しくは0.02〜02m0 t7zの範囲である。
mo 1/lの範囲である0マンガンイオンの濃ltは
、0.003〜2mol/Aの範囲が用いられるが好ま
しくは0.02〜02m0 t7zの範囲である。
タングステン酸イオンは、タングステン酸の可溶性塩に
よって供給されるが、溶液中で安定に存在するタングス
テン酸ナトリウム (NazWO42%o)p yゲステン酸カリ(KzW
(M)などの6価のタングステン酸塩が好ましい0タン
グステン酸イオン濃fはo、o o s〜1mol/l
の範囲が用いられるが、好ましく tl 0.02〜0
.15mol/lの範囲である0 還元剤としては次亜リン酸塩が普通に用いられるが、ヒ
ドラジン塩類、ホウ水素化物なども用いることができる
。
よって供給されるが、溶液中で安定に存在するタングス
テン酸ナトリウム (NazWO42%o)p yゲステン酸カリ(KzW
(M)などの6価のタングステン酸塩が好ましい0タン
グステン酸イオン濃fはo、o o s〜1mol/l
の範囲が用いられるが、好ましく tl 0.02〜0
.15mol/lの範囲である0 還元剤としては次亜リン酸塩が普通に用いられるが、ヒ
ドラジン塩類、ホウ水素化物なども用いることができる
。
pH1lfi剤としてはアンモニウム塩、巌識塩、有機
酸塩などが使用され、0.01〜2mol/Aの範囲の
濃度が用いられる。
酸塩などが使用され、0.01〜2mol/Aの範囲の
濃度が用いられる。
pH1lIi剤としては、pHの上昇にはアンモニア、
水酸化ナトリウム表とのアルカリが用いられ、pH12
)降下には引[塩酸などの酸が用いられる錯化剤として
のマロン酸基は、マロン酸またはマロン酸の可溶性塩に
よって供給され、0.1〜2.6mo l/zの範囲の
濃度が用いられるoQンゴ鐵基は、リンゴ酸またはリン
ゴ酸の可溶性塩によりて供給され、o、oos〜1.O
mol/A O範囲の濃度が用いられる。
水酸化ナトリウム表とのアルカリが用いられ、pH12
)降下には引[塩酸などの酸が用いられる錯化剤として
のマロン酸基は、マロン酸またはマロン酸の可溶性塩に
よって供給され、0.1〜2.6mo l/zの範囲の
濃度が用いられるoQンゴ鐵基は、リンゴ酸またはリン
ゴ酸の可溶性塩によりて供給され、o、oos〜1.O
mol/A O範囲の濃度が用いられる。
以下、本発明による無電解めっき浴の特長をkm例及び
実施例により説明する。
実施例により説明する。
比較例 1
エタノール脱fir後水洗を行)た銅基板に下記条件に
て活性化処理taした後、下記のめりき浴組成及びめつ
き条件にてその上にco−M「P膜(II厚z1βm)
を形成した0 活性化処理条件 H8l0IB(日立化成製) 60cc/L、塩@ 5
zocxlt純水62叫”Itを組成とする活性液に3
分間浸漬する0 促進化処理条件 ADP201’ (日立化成Ii ) 200a7t、
純水g oocg’tOを組成とする促進@ic3分間
浸漬する。
て活性化処理taした後、下記のめりき浴組成及びめつ
き条件にてその上にco−M「P膜(II厚z1βm)
を形成した0 活性化処理条件 H8l0IB(日立化成製) 60cc/L、塩@ 5
zocxlt純水62叫”Itを組成とする活性液に3
分間浸漬する0 促進化処理条件 ADP201’ (日立化成Ii ) 200a7t、
純水g oocg’tOを組成とする促進@ic3分間
浸漬する。
めりき浴組成
硫酸コバルト 0.025mo l/を次亜リ
ン駿ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモニウ
ム 0.50 mol/jマ■ン酸ナトリウム
0.50 mol/1リンゴ酸ナトリクム 0.05
mol/j硫酸マンガン O〜0.07 mo
l/jめりき条件 めっき浴のpi(:9.0 (室温にてNH40)Iで
pn調節) めりき浴の温t285℃ 硫酸マンガンの濃度を0から0.07mol/Aまで変
化させて得られたCo−Mrr−P膜の結晶構造の変化
を明らかにするためX線回折を行−)fL結果を次表に
示す0表中の数字は同一試料における最大強度の回折線
の強さを100とした相対強度を示す◇ 硫酸マンガン#1度が0.02mo 1/を以上に増加
するに従りてσ−Q六方晶のC軸(磁化容易軸)が基板
に対して面内方向から垂直方向に変化した〇 実施例 1゜ 比較例1と同様にしてCo−Mn−P IIのかわりK
Co −Mn W −P膜(膜厚= 1 a m )
のめクキを行りたが、め−)II浴として下記の組
成を用いた。
ン駿ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモニウ
ム 0.50 mol/jマ■ン酸ナトリウム
0.50 mol/1リンゴ酸ナトリクム 0.05
mol/j硫酸マンガン O〜0.07 mo
l/jめりき条件 めっき浴のpi(:9.0 (室温にてNH40)Iで
pn調節) めりき浴の温t285℃ 硫酸マンガンの濃度を0から0.07mol/Aまで変
化させて得られたCo−Mrr−P膜の結晶構造の変化
を明らかにするためX線回折を行−)fL結果を次表に
示す0表中の数字は同一試料における最大強度の回折線
の強さを100とした相対強度を示す◇ 硫酸マンガン#1度が0.02mo 1/を以上に増加
するに従りてσ−Q六方晶のC軸(磁化容易軸)が基板
に対して面内方向から垂直方向に変化した〇 実施例 1゜ 比較例1と同様にしてCo−Mn−P IIのかわりK
Co −Mn W −P膜(膜厚= 1 a m )
のめクキを行りたが、め−)II浴として下記の組
成を用いた。
めっき浴組成
硫酸コバルト 0.025mo L/1次亜
リン酸ナトリウム 0.20 not/を硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマ謬ン摩ナトリウ
ム 0.50 mol/lリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/を硫酸マンガン 0〜0
.07 mol/lタングステン酸ナトリウム 0.0
4 mol/を硫酸マンガンのamを0から0.07m
o l/ltで変化させて得られたCo−Mrr−W−
P IIのX#@折結果を次表に示す〇 硫酸マノガン濃度が増加するに従りて―−C。
リン酸ナトリウム 0.20 not/を硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマ謬ン摩ナトリウ
ム 0.50 mol/lリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/を硫酸マンガン 0〜0
.07 mol/lタングステン酸ナトリウム 0.0
4 mol/を硫酸マンガンのamを0から0.07m
o l/ltで変化させて得られたCo−Mrr−W−
P IIのX#@折結果を次表に示す〇 硫酸マノガン濃度が増加するに従りて―−C。
六方晶のC・軸が基板に対して面内方向から垂直方向に
変化したが、(100)及び(101) ID相対強
度がO,(002)の相対強度が 100となり十分に
垂直配向した状11′に与える硫酸マンガン濃度社0.
04mo1/Aとなり比較例100.05mol/jよ
り減少し配向性が改善された。
変化したが、(100)及び(101) ID相対強
度がO,(002)の相対強度が 100となり十分に
垂直配向した状11′に与える硫酸マンガン濃度社0.
04mo1/Aとなり比較例100.05mol/jよ
り減少し配向性が改善された。
実施例 2゜
比較例1と同様にしてco−Mn−PIEのかわりK
Co Mn −Fa−P膜(膜厚= 1 p m )
のめクキを行−)たが、めりき拾として下記の組成
管用いた。
Co Mn −Fa−P膜(膜厚= 1 p m )
のめクキを行−)たが、めりき拾として下記の組成
管用いた。
め2き浴組成
硫酸コバルト 0.025mo l/L次亜リ
ン酸ナトリウム 0.20 mol/を硫酸77 %
=つh 0.50 mol/Aマロン酸ナトリウ
ム 0.50 mol/Lリンゴ酸ナトリウム 0
.05 mol/を硫酸マンガン 0−0.07
rnol/A硫酸第一鉄 0.001mo
l/を硫酸マンガンの濃tLを0から0.07mo l
/ltで変化させて得られ九Co Mrr−F”e
PliのX!11回折結果を次表に示す。
ン酸ナトリウム 0.20 mol/を硫酸77 %
=つh 0.50 mol/Aマロン酸ナトリウ
ム 0.50 mol/Lリンゴ酸ナトリウム 0
.05 mol/を硫酸マンガン 0−0.07
rnol/A硫酸第一鉄 0.001mo
l/を硫酸マンガンの濃tLを0から0.07mo l
/ltで変化させて得られ九Co Mrr−F”e
PliのX!11回折結果を次表に示す。
硫酸マンガン濃度が増加するに従りてα−C。
六方晶のC軸が基板に対して面内方向から垂直方向に変
化したが、 (100)及び(101)の相対強度がQ
、 (002)の相対強度が100となり十分(配向
した状mを与える硫酸マンガン濃度は0.04mo17
tとなり比較例1の0.05mo l/Lより減少し配
向性が改善された。
化したが、 (100)及び(101)の相対強度がQ
、 (002)の相対強度が100となり十分(配向
した状mを与える硫酸マンガン濃度は0.04mo17
tとなり比較例1の0.05mo l/Lより減少し配
向性が改善された。
実施例 3゜
比較例と同様にしてCo−MnPMのかわ夛にCo−M
rr−W Fe−PM(膜厚= 1 a m ) の
めっきを行ったが、めっき浴として下記の組成を用いえ
。
rr−W Fe−PM(膜厚= 1 a m ) の
めっきを行ったが、めっき浴として下記の組成を用いえ
。
めりき浴組成
硫ii1 :y A & ) 0.025m
o 1/’次亜リン酸ナトリウム 0.20 mol/
1allアンモニウム 0.50 mol/lマロ
ン鍍ナトリタナトリウム50 mol/lリンゴ献ナト
リタナトリウム05 mol/を硫酸マンガンO〜0.
07 mo 1/jタンクステン醸ナトリウム0.04
mol/を硫酸第一鉄 0.OOlmo
l/zi1wtマンガン員度を0から線区07rno
l/z fで変化させて得られたGo−fvln−W
−Fe P IIのx*回折結果を次表に示す。
o 1/’次亜リン酸ナトリウム 0.20 mol/
1allアンモニウム 0.50 mol/lマロ
ン鍍ナトリタナトリウム50 mol/lリンゴ献ナト
リタナトリウム05 mol/を硫酸マンガンO〜0.
07 mo 1/jタンクステン醸ナトリウム0.04
mol/を硫酸第一鉄 0.OOlmo
l/zi1wtマンガン員度を0から線区07rno
l/z fで変化させて得られたGo−fvln−W
−Fe P IIのx*回折結果を次表に示す。
硫酸マンガン濃度が増加するに従りてa −C。
六方晶のC軸が基板に対して面内方向から垂直方向に変
化したが、(100)及び(101)の相対!i!!嵐
が0 、 (002)の相対強度が100とな9十分く
配向した状1#At−与える硫酸マンガン濃度は0.0
3mo l/lとなり比較例100.05mol/lよ
り減少し配向性が改善された。
化したが、(100)及び(101)の相対!i!!嵐
が0 、 (002)の相対強度が100とな9十分く
配向した状1#At−与える硫酸マンガン濃度は0.0
3mo l/lとなり比較例100.05mol/lよ
り減少し配向性が改善された。
比較例 2
比較例1と同様にしてCg −Mrr−P Mのかわり
K Co −W −P 換(膜1tl= 1 s to
)のめりきを行9たが、めっき浴として下記の組成を
用いた。
K Co −W −P 換(膜1tl= 1 s to
)のめりきを行9たが、めっき浴として下記の組成を
用いた。
めっき浴組成
硫酸コバルト 0.10mol/を次亜リン
酸ナトリウム 0.20mol/1硫酸アンモニクム
0.50mol/jマロン酸ナトリウム
0.90mo l/jリンゴ酸ナトリウム 0.0
5mol/jタングステン酸ナトリウム θ〜0.10
mol/lタングステン酸ナトリウム#1度を0から0
.10mol/lまで変化させて得られたCo−WPl
[のX線回折結果を次表に示す@ タングステン酸ナトリウムatが0から0,10mol
/lK増加するに従ってα−O六方晶のC軸が基@に対
して面内方向から垂直方向に徐々に変化し九〇 実施例 4゜ 比較例1と同様にしてCo−Mn PIEのかわりに
Co−W−Mn−P膜(IF厚= 1 p m )のめ
りきを行フたが、め9き浴として下記の組成を用い九〇 めっき浴組成 硫11コAルト 0.10mo l/z次亜
リン酸ナトリウム 0.20mol/を硫酸アンモニ
ウム 0.50mo L/L”マロン酸ナトリウ
ム 0.90mo 1/Lリンゴ酸ナトリウム
0.05mol/Aタングステン酸ナトリウム
θ〜0.10mol/を硫酸マy カy
0.03mol/lタングステン液ナトリウム濃度を0
から0.10mol/lまで変化させて得られたCo−
W−胤−P膜のX!回折結果を次表に示す。
酸ナトリウム 0.20mol/1硫酸アンモニクム
0.50mol/jマロン酸ナトリウム
0.90mo l/jリンゴ酸ナトリウム 0.0
5mol/jタングステン酸ナトリウム θ〜0.10
mol/lタングステン酸ナトリウム#1度を0から0
.10mol/lまで変化させて得られたCo−WPl
[のX線回折結果を次表に示す@ タングステン酸ナトリウムatが0から0,10mol
/lK増加するに従ってα−O六方晶のC軸が基@に対
して面内方向から垂直方向に徐々に変化し九〇 実施例 4゜ 比較例1と同様にしてCo−Mn PIEのかわりに
Co−W−Mn−P膜(IF厚= 1 p m )のめ
りきを行フたが、め9き浴として下記の組成を用い九〇 めっき浴組成 硫11コAルト 0.10mo l/z次亜
リン酸ナトリウム 0.20mol/を硫酸アンモニ
ウム 0.50mo L/L”マロン酸ナトリウ
ム 0.90mo 1/Lリンゴ酸ナトリウム
0.05mol/Aタングステン酸ナトリウム
θ〜0.10mol/を硫酸マy カy
0.03mol/lタングステン液ナトリウム濃度を0
から0.10mol/lまで変化させて得られたCo−
W−胤−P膜のX!回折結果を次表に示す。
タングステン酸ナトリウム0.10mo 1/lで(1
00)及び(101)の相対強度が0. (002)の
相対強度が100となり、比較例2の場合より配向性が
改善された。
00)及び(101)の相対強度が0. (002)の
相対強度が100となり、比較例2の場合より配向性が
改善された。
実施例 5゜
比較例1と同様にしてCo−Mn−PMのかわりKCo
−W−F@−PI((M厚= 1 p m )のめりき
を行ったが、めっき浴として下記の組成を用いたO めりき浴組成 硫11=Iバルト 0.10 mol/を次亜
リン醸ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマロン酸ナトリウ
ム 0.90 mol/lリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/7タングステン酸ナトリウム O
〜0.10 rnol/7硫酸第−鉄 0
.002mo 1/1タングステン酸ナトリウム濃度を
0から0.10mat/Ltで変化させて得られたco
−WFe−P膜のXM回折結果を次表に示す。
−W−F@−PI((M厚= 1 p m )のめりき
を行ったが、めっき浴として下記の組成を用いたO めりき浴組成 硫11=Iバルト 0.10 mol/を次亜
リン醸ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマロン酸ナトリウ
ム 0.90 mol/lリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/7タングステン酸ナトリウム O
〜0.10 rnol/7硫酸第−鉄 0
.002mo 1/1タングステン酸ナトリウム濃度を
0から0.10mat/Ltで変化させて得られたco
−WFe−P膜のXM回折結果を次表に示す。
タングステン酸ナトリウム0.10mo 1/Lで(1
00)及び(101)の相対強度が0 、 (002)
のS対強度が100となり、比較例20場合より配向性
が改善された0 実施例 6 比較例1と同様にしてGo−hlbP膜のかわりに:
Co−W −Mn−Fs−P II (膜厚= 1 p
m )のめつきを行ったが、めっき浴として下記の組
成を用いた。
00)及び(101)の相対強度が0 、 (002)
のS対強度が100となり、比較例20場合より配向性
が改善された0 実施例 6 比較例1と同様にしてGo−hlbP膜のかわりに:
Co−W −Mn−Fs−P II (膜厚= 1 p
m )のめつきを行ったが、めっき浴として下記の組
成を用いた。
めっき浴組成
硫酸コバルト 0.10 mol/1次亜リ
ン酸ナトリウム 0.20 mol/zii117
y モ= 9 ム0.50 mo 1/zマロン酸ナト
リウム 0.90 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/jタングステン酸ナトリクム
0〜0.10 mol/を硫駿−rンガン0.03
mol/を 硫酸第一鉄 0.002mo l/lタン
グステン酸ナトリウム濃tを0から0.10mo t/
zまで変化させて得られたco−W−Mn−FePjl
KのX線回折結果を次表に示すOタングステン酸ナトリ
ウム0.08mol/lで(100)及び(101)の
相対強度が0 、 ’ (002)の相対強度が100
となり配向性が実施例4.50場合よりも更に改善され
た。
ン酸ナトリウム 0.20 mol/zii117
y モ= 9 ム0.50 mo 1/zマロン酸ナト
リウム 0.90 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/jタングステン酸ナトリクム
0〜0.10 mol/を硫駿−rンガン0.03
mol/を 硫酸第一鉄 0.002mo l/lタン
グステン酸ナトリウム濃tを0から0.10mo t/
zまで変化させて得られたco−W−Mn−FePjl
KのX線回折結果を次表に示すOタングステン酸ナトリ
ウム0.08mol/lで(100)及び(101)の
相対強度が0 、 ’ (002)の相対強度が100
となり配向性が実施例4.50場合よりも更に改善され
た。
比較例 3゜
比較例1と同111CしてCO−胤−P膜のかわ9K
Co−F@−P膜(膜厚= 1 a m )のめつきを
行ったが、めっき浴として下記の組成を用いた。
Co−F@−P膜(膜厚= 1 a m )のめつきを
行ったが、めっき浴として下記の組成を用いた。
めりき浴組成
硫酸コバルト 0.05 mol/z次亜リ
ン酸ナトリウム 0.20 mol/l硫酸アンモニ
ウム 0.50 mol/lマーノ酸ナトリウム
OsOmol/lリンゴ酸ナトリウム 0.
05 mol/j硫酸第一鉄 0〜0.01
5mo l/を硫#第一鉄の濃度をOから0.015m
o l/’ まで変化させて得られたCo−Fe−P
IFのX線回折結果を次表に示す〇 硫酸第・−鉄濃度が増加するに従りて一−Co六方晶の
C軸が基板に対して内円方向から垂直方向に変化した。
ン酸ナトリウム 0.20 mol/l硫酸アンモニ
ウム 0.50 mol/lマーノ酸ナトリウム
OsOmol/lリンゴ酸ナトリウム 0.
05 mol/j硫酸第一鉄 0〜0.01
5mo l/を硫#第一鉄の濃度をOから0.015m
o l/’ まで変化させて得られたCo−Fe−P
IFのX線回折結果を次表に示す〇 硫酸第・−鉄濃度が増加するに従りて一−Co六方晶の
C軸が基板に対して内円方向から垂直方向に変化した。
実施例 7、
比較例1と同様にしてCo −Mn−P膜のかわ〕K
Co−Fe −Mu P l! (II厚二1声m)の
めクキを行りたが、めうき浴として下記の組成を用いた
。
Co−Fe −Mu P l! (II厚二1声m)の
めクキを行りたが、めうき浴として下記の組成を用いた
。
め2を浴組成
硫酸コバルト 0.05 mol/を次亜リ
ン酸ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモニ
ウム 0.50 mol/Aマ四ン酸ナトリウム
0.50 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.os rnol/を硫酸第一鉄 0〜0.
015mo 1/z硫酸マンガン 0.03
mol/を硫WRIIi−鉄のj![を0から0.0
15rno 1/7まで変化させて得られたCo−Fe
−胤=pmoX線回折結果を次!!に示す〇 硫酸第一鉄0.007mol/jで(Zoo)及び(1
01)の相対強度がO,(002)の相対強度がlOO
となり・比較例3の場合より配向性が改善された。
ン酸ナトリウム 0.20 mol/j硫酸アンモニ
ウム 0.50 mol/Aマ四ン酸ナトリウム
0.50 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.os rnol/を硫酸第一鉄 0〜0.
015mo 1/z硫酸マンガン 0.03
mol/を硫WRIIi−鉄のj![を0から0.0
15rno 1/7まで変化させて得られたCo−Fe
−胤=pmoX線回折結果を次!!に示す〇 硫酸第一鉄0.007mol/jで(Zoo)及び(1
01)の相対強度がO,(002)の相対強度がlOO
となり・比較例3の場合より配向性が改善された。
実施例 8゜
比較例1と同様にしてCo −Mrr−P IIのかわ
9K Co−Fe−W −P I[(膜厚= 1 s
m 3のめりきを行・りたが、めっき浴として下記の組
成を用いた〇めっき浴組成 硫酸コバルト 0.05 mol/L次亜、
リン酸ナトリウム 0.20 mol/を硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマロン酸ナトリウ
ム 0.50 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/を硫酸第一鉄 0〜0
.015mol/lタンゲステン酸ナトリウム 0
.04 mol/A硫酸第一鉄の員度をOから0.01
5mp 1/Lまで変化させて得られたCo−P’e−
W −P膜のX線回折結果を次表に示す。
9K Co−Fe−W −P I[(膜厚= 1 s
m 3のめりきを行・りたが、めっき浴として下記の組
成を用いた〇めっき浴組成 硫酸コバルト 0.05 mol/L次亜、
リン酸ナトリウム 0.20 mol/を硫酸アンモ
ニウム 0.50 mol/lマロン酸ナトリウ
ム 0.50 mol/jリンゴ酸ナトリウム
0.05 mol/を硫酸第一鉄 0〜0
.015mol/lタンゲステン酸ナトリウム 0
.04 mol/A硫酸第一鉄の員度をOから0.01
5mp 1/Lまで変化させて得られたCo−P’e−
W −P膜のX線回折結果を次表に示す。
硫酸第一鉄0.007mo 1/zで(100)及び(
101)の相対強度がO,(002)C)相対強度が1
00となり、比較例3の場合よりも配向性が改善された
。
101)の相対強度がO,(002)C)相対強度が1
00となり、比較例3の場合よりも配向性が改善された
。
実施例 9゜
比較例1と同様にしてCo −Mn−P膜のかわりに:
Co −Fe −kin W −P膜(MJll[
:law)のめり’at行りたが、めっき浴として下記
の組IRt用いた。
Co −Fe −kin W −P膜(MJll[
:law)のめり’at行りたが、めっき浴として下記
の組IRt用いた。
めり゛き浴組成
硫酸コバルト 0.05 mo171次亜リ
ン酸ナすリクム Oj!Omol/を硫酸アンモニウ
ム OjOmol/lマロン酸ナトリウム
0.50 n1ol/jリンゴ酸ナトリウム 0.
05 mol/1m1I!第一鉄 0〜0.
015mol/を硫酸マンガン 0.03
mol/lタングステン酸ナトリウム 0.04
mol/1m酸第−鉄の濃Ifを0から0.015mo
1/l まで変化させて得らt′したGo Fe−
Mn−W −P IIのXIm回折回折結果表次表す。
ン酸ナすリクム Oj!Omol/を硫酸アンモニウ
ム OjOmol/lマロン酸ナトリウム
0.50 n1ol/jリンゴ酸ナトリウム 0.
05 mol/1m1I!第一鉄 0〜0.
015mol/を硫酸マンガン 0.03
mol/lタングステン酸ナトリウム 0.04
mol/1m酸第−鉄の濃Ifを0から0.015mo
1/l まで変化させて得らt′したGo Fe−
Mn−W −P IIのXIm回折回折結果表次表す。
硫rR落−鉄0.004mo t/zで(100)及び
(101)の相対強度がO,(002)の相対強度が1
00となり配向性が実施例7.8の場合よりも更に改善
された。
(101)の相対強度がO,(002)の相対強度が1
00となり配向性が実施例7.8の場合よりも更に改善
された。
以上のように実施例1〜9においてマンガンイオン、タ
ングステン酸イオン、鉄イオンの群より選択さfifc
28i以上の金属イオンを加えため−)き浴より得られ
る磁性膜は、七のC@を基板に対して垂直方向く向ける
ことができ、その配向性が改善できるため、垂直磁化記
録の磁気記録媒体に用いることができる。
ングステン酸イオン、鉄イオンの群より選択さfifc
28i以上の金属イオンを加えため−)き浴より得られ
る磁性膜は、七のC@を基板に対して垂直方向く向ける
ことができ、その配向性が改善できるため、垂直磁化記
録の磁気記録媒体に用いることができる。
以上、実施例で示された様に本発明によれば、磁性l1
lIを作製するめりき浴においてコI(ルトイオン、コ
バルトイオンの還元剤、pHailti剤、pH調節剤
、並びにコバルトイオンの錯化剤としてのマロン酸基お
よびリンゴ酸基を含む水溶液に、マンガンイオン、タン
グステン酸イオン、鉄イオンの群より選択された21i
以上の金属イオンを加えることにより、磁気記録媒体と
なる磁性膜の磁化容易軸をg百に垂直な方向に向けるこ
とができ、マンガンイオン、タングステン酸イオン、鉄
イオンのうち一穏Oみの金属イオンを加えた場合よりも
配向性を改善できる0
lIを作製するめりき浴においてコI(ルトイオン、コ
バルトイオンの還元剤、pHailti剤、pH調節剤
、並びにコバルトイオンの錯化剤としてのマロン酸基お
よびリンゴ酸基を含む水溶液に、マンガンイオン、タン
グステン酸イオン、鉄イオンの群より選択された21i
以上の金属イオンを加えることにより、磁気記録媒体と
なる磁性膜の磁化容易軸をg百に垂直な方向に向けるこ
とができ、マンガンイオン、タングステン酸イオン、鉄
イオンのうち一穏Oみの金属イオンを加えた場合よりも
配向性を改善できる0
Claims (1)
- コバルトイオン、コバルトイオンの追元剤、pH緩術剤
、pH41節剤並びにコバルトイオンの錯化剤としてマ
シン酸基およびリンゴ酸基を含む水溶液に、マンガンイ
オン、タングステン酸イオン、鉄イオンの群よシ選択さ
れた211以上の金属イオンを加えたことを4111と
する無電解めつき浴。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15570881A JPS5858269A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 無電解めつき浴 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15570881A JPS5858269A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 無電解めつき浴 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5858269A true JPS5858269A (ja) | 1983-04-06 |
Family
ID=15611768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15570881A Pending JPS5858269A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 無電解めつき浴 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5858269A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56106982U (ja) * | 1980-01-21 | 1981-08-20 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56155705A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-02 | Matsushita Electric Works Ltd | Manufacture of aggregate wood |
JPS56155706A (en) * | 1980-05-06 | 1981-12-02 | Ai Tadashi | Automatic cutter for small width veneer |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP15570881A patent/JPS5858269A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56155705A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-02 | Matsushita Electric Works Ltd | Manufacture of aggregate wood |
JPS56155706A (en) * | 1980-05-06 | 1981-12-02 | Ai Tadashi | Automatic cutter for small width veneer |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56106982U (ja) * | 1980-01-21 | 1981-08-20 | ||
JPS6114944Y2 (ja) * | 1980-01-21 | 1986-05-09 |
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