JPS5856341A - 熱処理方法および熱処理装置 - Google Patents

熱処理方法および熱処理装置

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JPS5856341A
JPS5856341A JP15560181A JP15560181A JPS5856341A JP S5856341 A JPS5856341 A JP S5856341A JP 15560181 A JP15560181 A JP 15560181A JP 15560181 A JP15560181 A JP 15560181A JP S5856341 A JPS5856341 A JP S5856341A
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JP
Japan
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core tube
gas
tube
flange
heat treatment
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JP15560181A
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English (en)
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JPH0250619B2 (ja
Inventor
Kiyohiro Kawasaki
清弘 川崎
Keiichi Kagawa
恵一 香川
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体製造における熱処理方法ならびに熱処理
装置に関するものであり、パックディフュージョンによ
る汚染や不拘−性ケ抑制するとともに減圧さnた雰囲気
を提供することを目的とす3−゛ る。
従来、半導体とりわけシリコン系の集積回路の製造プロ
セスに用いら扛る電気炉は第1図に示すようなものであ
った。高純度の石英エリなる炉心管1はガス導入口2ケ
その一端に有し、他の一端3は一般には切断形状で開口
さtている。図示はしないが炉心管1の両端を除く部分
は加熱用手段例えばヒータなどによって適当な温度に保
たrるべく加熱さ扛る。シリコンウエーノ\6はボート
7に乗せら扛て開口部3よジ炉心管1の中央部の均熱領
域に壕で運ば【る。炉心管1の内部汚染や有毒ガスの離
散ケ防ぐ意味もあって、ガス排出口6葡有するキャップ
4は各種熱処理中も待機時も常時開口部3にかぶせて用
いらn、ボート7の出し入n時のみはずさnる。
したがってボートの出し入n時には開口部3から大気が
炉心管1の内部へ逆流するいわゆるバンクディフュージ
ョンが生じる。このパックディフュージョンによる支障
?防止す6ためには大量の不活性ガスケガス導入口2か
ら流したり、ボートに乱流が生じるために思った程の効
果に上らず、またボート7と炉心管1との摩擦によって
生じている微粉末がウェーハに付着するなど新たな問題
が生じ、後者では急激な熱変化によって生じるそりが後
の工程において様々な障害ケもたらす。
パックディフュージョンによる支障のうち、もっとも顕
著な事例はMoやWなどの熱処理と100Å以下の薄い
酸化膜の形成である。MoやWなどの高融点金稿はごく
微量の酸素が存在しても高温熱処理によって酸化さnて
消華する。したがって予めヒーターケ切って炉心管内部
の温度ケ室温程度に下げた状態でポートヶ挿入踵昇温、
所望の熱処理、降温ケ経て再び室温程度に下げてから取
り出さねばならなかった。このような工程は電気炉の熱
容量から考えて分るように10時間位の長時間ケ要して
現実的でないばがりが炉心管の寿命ケ著しく縮めるもの
である。
薄い酸化膜?成長させるためには当然温度ケ下げるか圧
カケ下げる手法が選ばする。温度ケ下げくなるものの膜
質の劣化は避けらnない。一方減− ギ酸化の場合ににパックディフュージョンのためどうし
ても酸化膜の均一性が悪くなる。そのためボートの挿入
時の温度2soo〜600℃に下げる手法が用いらn、
るが、先述したように炉温の変更に伴なう諸問題は避け
らtない。
電気炉の安定性や炉心管の寿命から考えても分るように
炉心管の温度は余り変更しないことが望’EAる。半導
体ウェーハの大口径化によって熱処理がもたらすそりの
問題ケ避けるために採用さ扛7(900℃待機方式に石
英の変態温度(850℃)よりも高いので寿命への影響
は少なくかつ電力の節約になるものの、パックディフュ
ージョンの影響は避けらnぬ冒温である。
本発明は上記した問題点に鑑みなさfたものでパックデ
ィフュージョンを避けるとともに減圧下の熱処理?可能
とするもので、その要点は開口部の等制約な断面積?小
さくすることとフランジの導入にある。
の炉心管ケ示す斜視図である。第1の炉心管8はその一
端にガス導入口2と他の一端の開口部3に第1のフラン
ジ9ヶ備えている。図示はしないが第1の炉心管8の両
端部ケ除く部分はヒータなどで常時加熱さする。第2の
炉心管101−Jその一端vcカ、’、排出口6とその
近傍に第2のフランジ11ケ備えている。第2の炉心管
10の外径は第1の炉心管8の内径エリも6MM程度細
くなっている。
第2の炉心管10の他端が切断形状であるとボート7?
第2の炉心管に装荷するためには第2の炉心管10ケ第
1の炉心管8エリ完全に離脱せねばならない。第2の炉
心管1oが重くかつ長くなるのでその操作は容易ではな
い。第2図に示したように第2の炉心管1oの他端は半
円状12に切断1〜、半円状部12の先端ケ第1の炉心
管8の開口部3に2〜3−程挿入した状態でボート7に
ウェーハケ装荷すると好都合である。
ウェーハケ装荷さ′t′I−たボート7に半円状部12
にセットし、第2の炉心管10i従来のボート同11と
第1のフランジ9が密接する位置で止める。
この時ボート7が置か扛ている半円状部12が第1の炉
心管8の中央部に位置するように第2の炉心管10の長
さと第2のフランジ11の位置決めがなさnる。減圧さ
nた熱処理雰囲気ケ与えたい場合にはさらにオーリング
ヶ第1のフランジ9と第2のフランジ11との間にはさ
みこんだ状態で十分に締めつける。このために必要なネ
ジ穴やネジ山がフランジに形成さfていることは言う1
でもない。しかる後にガス排出口5に減圧ケ与える手段
、例えばロータリーポンプヶ接続し第1の炉心管8と第
2の炉心管10エリなる閉空間ケ減圧する。
第3図は本発明の他の実施例の装置の炉心管孕示す斜視
図で、第2の炉心管1oの一端ケ封管し、第1のフラン
ジ9の近くの炉心管側面にガス排出口6ヶ設けたもので
ある。
本発明の実施例の構成によれば、ボート7すなわち第2
の炉心管1oの挿入時にガス導入口2よジ流nこむガス
は第1の炉心管8の内壁と第2の炉心管、10の外壁に
より形成さ【る極めて狭い二重のトンネル領域とガス排
出ロケ通って排出さする。このためこnらのガス通路は
大気のノくツクディフュージョン?阻止するに十分なガ
ス流量とガス圧ケ保つことができる。したがってノ”7
クデイフユージヨンによる汚染は皆無となるとともに、
十分なパージが行なわ扛るので第2の炉心管1゜の挿入
時にN2やムrなどの不活性ガスヶ用い扛ば挿入時の炉
心管の設定温度がgoo’c’2越えていてもシリコン
ウェーノ・に酸化膜が成長することはなく、またMOや
Wが被着さlrしたシリコンウエーノ・であってもそ【
らが消華丁ゐことはない。
さらにフランジケ締めつけ扛は熱処理時の雰囲気ケ減圧
にすることも極めて容易であり、減圧酸化に言うに及ば
ず減圧拡散も可能である。そしてボートニ第2の炉心管
に乗せて挿入さ【るので第1の炉心管と第2の炉心管が
こすt合って石英の微粉末が舞い上ってもボートやウエ
ーノ・に付着すにとなくガスによって運び去らn/)と
いう副次9パ−〕 的な効果も得ら扛る。
以上述べたように本発明に工nば、ノ(ツクディフュー
ジョン?阻止することが可能であるば力鳳りでなく、高
温待機も可能で熱処理工程のサイクルタイムも短かくま
た減圧雰囲気も容易に得ら【るなど数多くの優nfc特
長ケ有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の炉心管の概略図、第2,3図は不発明の
一実施例の電気炉に用いら【る炉)ら管の概略斜視図で
ある。 2・・・・・・ガス導入口、3・・・・・・開口部、6
・・・・・・ガス排出口、7・・・・・・ボート、8・
・・・・・第1の炉、B管、9゜11・・・・・・フラ
ンジ、1o・・・・・・第2の炉心管。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)加熱さ扛る第1の炉心管のガス導入ロケその一端
    に形成し他の一端の開口部に第1のフランジ近傍成し、
    前記第1の炉心管の内径よりも細い外径を有する第2の
    炉心管に第2のフランジ部を形成し、前記第2の炉心管
    に試料を装荷し、前記ガス導入口より不活性ガスヶ流入
    させ、前記第1または・第2の炉心管に設けらnたガス
    排出口と前記第1の炉心管と第2の炉心管で形成さ扛る
    隙間より不活性ガスヶ流出させつつ前記第2の炉心管ケ
    第1の炉心管中に挿入することケ特徴とする熱処理方法
    。 (2)第2の炉心管全第1の炉心管中に挿入後、第1の
    フランジと第2のフランジ?密着する工程と、減圧ケ与
    える手段をガス排出口に接続する工程とを備えてなるこ
    とヶ特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の熱処理方
    法。 部に第1のフランジケ有する第1の炉心管と、第2のフ
    ランジケ有し第1の炉心管の内径よりも細い外径を有す
    る第2の炉心管と、前記第1または第2の炉心管に設け
    らまたガス排出口と、前記第1の炉心管全加熱する手段
    と會備えてなること奢特徴とする熱処理装置。 (4) ガス排出口が第2のフランジ近傍に設けらnて
    いることケ特徴とする特許請求の範囲第3項に記載の熱
    処理装置。 (6)第2の炉心管の一端が封管さnるとともにこの封
    管部の近傍に第2のフランジ全有し、第1のフランジ近
    傍の側面にガス排出ロケ有することケ特徴とする特許請
    求の範囲第3項に記載の熱処理装置。
JP15560181A 1981-09-29 1981-09-29 熱処理方法および熱処理装置 Granted JPS5856341A (ja)

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