JPS5853839A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
- Publication number
- JPS5853839A JPS5853839A JP56151727A JP15172781A JPS5853839A JP S5853839 A JPS5853839 A JP S5853839A JP 56151727 A JP56151727 A JP 56151727A JP 15172781 A JP15172781 A JP 15172781A JP S5853839 A JPS5853839 A JP S5853839A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- diagnosis
- self
- signal
- diagnostic
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路、特に、自己診断回路を内蔵し内蔵
した論理回路の自己診断により良否の判定が行える集積
回路に関する。
した論理回路の自己診断により良否の判定が行える集積
回路に関する。
従来の集積回路は内蔵した論理回路の自己診断を行う自
己診断回路を有するものでも、その診断結果は外部接続
端子を介して、−信号として外部に出力されるため、外
部試験器または測定器等により、その信号を判別し、良
否の判定を行う必要が６９、その試験を実施するためＫ
は、専用の試験器または測定器等の試験設備を準備しな
ければならないという欠点があった。
己診断回路を有するものでも、その診断結果は外部接続
端子を介して、−信号として外部に出力されるため、外
部試験器または測定器等により、その信号を判別し、良
否の判定を行う必要が６９、その試験を実施するためＫ
は、専用の試験器または測定器等の試験設備を準備しな
ければならないという欠点があった。
本発明の目的は試験設備を外部接続することなく良否の
判定ができる集積回路を提供することにある。
判定ができる集積回路を提供することにある。
すなわち、本発明の目的社、内蔵された自己診断回路に
１９試験した結果を、内蔵する表示回路によ）表示する
ことにより、上記欠点を除去した集積回路を提供するこ
とにある。
１９試験した結果を、内蔵する表示回路によ）表示する
ことにより、上記欠点を除去した集積回路を提供するこ
とにある。
本発明の集積回路は、論理回路と、前記論理回路から供
給される診断信号にもとづいて自己診断を行う自己診断
回路と、前記自己診断回路から出力される表示信号を表
示するための少なくとも１個の表示回路とを含んで構成
される。
給される診断信号にもとづいて自己診断を行う自己診断
回路と、前記自己診断回路から出力される表示信号を表
示するための少なくとも１個の表示回路とを含んで構成
される。
本発明の集積回路は、自己診断回路と少なくとも１個の
表示回路から構成された集積回路において、自己診断回
路における診断結果を、外部信号として出力することな
く、内蔵された表示回路によル、直ちに表示可能とし、
集積回路の試験時間の短縮を可能とすることができる。
表示回路から構成された集積回路において、自己診断回
路における診断結果を、外部信号として出力することな
く、内蔵された表示回路によル、直ちに表示可能とし、
集積回路の試験時間の短縮を可能とすることができる。
二に二：：二””′°“゛“′″゛。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図で、第１図
に示す集積回路は自己診断回路における診断結果表示の
実話例を示すもので、論理回路１と自己診断回路２と表
示回路３とから構成される。
に示す集積回路は自己診断回路における診断結果表示の
実話例を示すもので、論理回路１と自己診断回路２と表
示回路３とから構成される。
さらに、表示回路３はｎ個の表示回路に分割される場合
もある。
もある。
診断信号ａは、論理回路１から自己診断回路２に供給さ
れるもので、自己診断回路２ではこの診断信号ａにもと
づいて自己診断する６表示信号す、早− は自己診断回路２から表示回路３＋５ｉｑＥ供給される
もので、自己診断回路２での診断結果を表示するための
信号である。
れるもので、自己診断回路２ではこの診断信号ａにもと
づいて自己診断する６表示信号す、早− は自己診断回路２から表示回路３＋５ｉｑＥ供給される
もので、自己診断回路２での診断結果を表示するための
信号である。
自己診断回路２によりｖＩ／ａ理回路１の論理診断が実
施されると、その結果は表示信号すとして表示回路３へ
送出される。その診断結果は、あらかじめ定められた表
示回路３に供給され、その表示回路３の表示により容易
にその結果を知ることができる。
施されると、その結果は表示信号すとして表示回路３へ
送出される。その診断結果は、あらかじめ定められた表
示回路３に供給され、その表示回路３の表示により容易
にその結果を知ることができる。
本発明の集積回路は、自己診断回路を内蔵した集積回路
に表示回路を追加することにより、外部試験器又は測定
器等の試験設備を必要とせず、容易にその診断結果を知
ることができ、コストダウンできるという効果がある。
に表示回路を追加することにより、外部試験器又は測定
器等の試験設備を必要とせず、容易にその診断結果を知
ることができ、コストダウンできるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１・・・・・・論理回路、２・・・・・・自己診断回路
、３・・・・・・表示回路、 ａ・・・・・・診断信号、ｂ・・・・・・表示信号。
、３・・・・・・表示回路、 ａ・・・・・・診断信号、ｂ・・・・・・表示信号。
Claims (1)
- 論理回路と、前記論理回路から供給される診断信号にも
とづいて自己診断を行う自己診断回路と、前記自己診断
回路から出力される表示信号を表示するための少なくと
も１個の表示回路とを含むことを特徴とする集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56151727A JPS5853839A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56151727A JPS5853839A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5853839A true JPS5853839A (ja) | 1983-03-30 |
Family
ID=15524962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56151727A Pending JPS5853839A (ja) | 1981-09-25 | 1981-09-25 | 集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5853839A (ja) |
-
1981
- 1981-09-25 JP JP56151727A patent/JPS5853839A/ja active Pending
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