JPS5848418A - 平板状シリコン基板の成長方法 - Google Patents

平板状シリコン基板の成長方法

Info

Publication number
JPS5848418A
JPS5848418A JP56145814A JP14581481A JPS5848418A JP S5848418 A JPS5848418 A JP S5848418A JP 56145814 A JP56145814 A JP 56145814A JP 14581481 A JP14581481 A JP 14581481A JP S5848418 A JPS5848418 A JP S5848418A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
silicon
flat
cloth
melt
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56145814A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoaki Maki
真木 直明
Toshiyuki Sawada
沢田 俊幸
Koji Nakagawa
中川 公史
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56145814A priority Critical patent/JPS5848418A/ja
Publication of JPS5848418A publication Critical patent/JPS5848418A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02524Group 14 semiconducting materials
    • H01L21/02532Silicon, silicon germanium, germanium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明社平板状クリコン基板の成長方法に関る・ 従来、半導体装置に使用されるクリコン基板はテ冒り2
ルス命−法(以下CZ法と略記する)やフローティンダ
ゾーン法(以下Fz法と略記する)等によシ成長させた
円柱インゴットを円板状に切断して形成されている。し
かし、この種の方法では作成する上で技術的に離しく歩
留)低下の要因となるインゴット切断工程を必ず必要と
し、また技術上の制限により大面積の基板を得る事が困
難でありた。そこで、最近上記CZ法およびyz法の技
術上の欠点を解決するものとして、以下に示す第1乃至
第3の技術が開発されている。
第1の技術は、v9”ン融液をノズル状成型材よシ引き
出させて固化させる方法でToシ、ノズル先端の形状を
工夫することによって平板状クリーンを得ようとするも
のである。シリコン基板線ノズル先端から平板状の連続
した伸長体として形成されて来る。この技術のべ点は、
ノズル先端の温度制御であシ、温度制御不要の場・舎に
は、ノズル先端にて7リーン融液が切れてしまい゛平板
伸長体は継続形成できなくなるか1長体移動方向と直角
方□向の結晶長さく結晶幅)が大きい時には温度制御を
今要とするノズル先端の領域が広くなシ、技術上の困難
性が−1増すO 技2の技術は、シリコン基板を得るに際し、第1の技術
の如きノズル状成型材をもちいる代シに、7リコン基板
自体に融液が平板状に固体化する能力を備えさせた方法
である。その−例は、−例えば(Th1rd ECPh
ot@v@1taic 8o1arb ができ、7リーン融液中にカーがン等ンリコンに濡れる
材料で作られた補強平板を・浸しておきこれを液外′に
引き出子除゛に、との補強平板と共に引き上げられたン
リーンi”液を外界で板状に固体化させると言うもので
ある。一般に、固体と接した液体が固体化するに際して
はその固体O影響を受けるのが通例であシ、第2の技術
は−前記補強平板と共に引き上げられたクリコン液+ 
41固体化するKWIAシ結晶粒径が大きくならないi
いう欠癲を持つ・ 第3の技術は、第一2の技術の発展とも言うべ□ きも
ので、ツリーy融液を平板状に成−するに際して使用す
る前記補強平板の代シに二本のフィラメントを用いるも
のでらシ、このフィラメントはカーーy等、シリコンに
濡れる材質によって形成する。フィラメントを7リフ、
ン基板伸長体の幅方向の端部を形成するごとく融液中に
浸し、これを液外に連続的に引き上げると二本のフィラ
メントの間に張られたクリコン融液は外部で固体化し、
平板状のり゛リコンを形成・する・こ、の技術の例はT
h@E1@*tr@ahemleal 5oaLety
IBa (May 11−16.1980 abstr
uet N1330、P823)に見る事ができる。そ
して、第2の技術に比べ液体Vリーンが固体化するに除
し接触する真種の固体拡幅方向端一に存在するだけであ
り、結晶性紘良好である。しかし、鉤記2本のフィラメ
ント間に張られているVリーイー欲―が破壊されfG場
合には、その後97リーy板や形成嬬継続しなくなシ、
この点では第、1の技術に比べむ争ろ退歩である。そし
て、・この欠点は幅が大きくなる程顕著に現れる。  
本発明は、上記、事情を増率してなされた島ので、その
目的とするところは、平板状V、リコン基基板影形成る
に際し、結晶成長性を悪化させること吹く平板状シリコ
ン基板を連続成長させることができ、成長歩留シの向上
をはかt得℃かつ大面積の基板を−も容品に成長させる
ことができる平板状シリコン基板や成長方法を提供する
ことにある。
すなわち、本発明はグリーン融参を収容したルツー〒に
クリシン融液に濡れる、少なくと43杢の繊維替材料で
編んだ布状基板を浸したのち、上記布状基板を引き上げ
て陪基似の両面に付着しへVv〒ン笹液を固体イしせし
めるよう(して、前記目的を達成せんとした方法である
、以下、本発明の、詳細を図示や、実施例によって説明
する。
第1図および第2図はそれぞれ本発明の一実施例に係わ
る平板状y 9 M、ン基板の成長工tiを示す模式図
である。まず、第1図に示す如く1、ツリーy融液lを
収容するルッー2中に石英ガラスで栴、成し九第1のC
2Tう3を設置すると共Kをツが2.の外側に第2(9
c1−=、94を設置する。
第2のa−24はカー一ン或いは石英ガラスで桝成する
。岐記各9−’)3.4間にVす、フン融液1に濡れる
3本の繊維状の材料、例えばカーが、ン繊維、Vす;ン
カーパイ、ド牽維で編んだ薄い布状基、板5、を2設置
し、特に第2のローフ4に長い平板状の、シリ、コイ基
2板を成、長させ、るため布状基板5を複数回巻きつけ
る。そし下、布状基板go先端1部を引き上げ治具6に
取シ、付ける。
なお、前記ンリーンー液1の温度は、図示しないヒーー
の入力電力を制、御して、その凝固温7度近傍(145
0℃)に設定した・ 次に、引上げ治Agを第2図に示す如く矢印ム方向に引
上げ、!−j II # 4.を、それぞれ矢印B、C
方向に回転させ、布状基板rをグリーン融液1中から引
き上げた。布状基板5はクリーン融液1に濡れるため、
基板50両面には表面張力によシ平板状のクリーン−融
液1が形成され。
引上げることによシ、凝固温度(1420℃)に達し、
平板状のシリコン融液1は結晶化する。
そして、結晶幅10(cm)にわたるクリーン融液1の
温度分布を1450〔℃〕±30〔℃〕の範囲内に保持
し、50〔■/分〕の速度で引上げを開始すると布状基
板50両面には約1’O(3)幅、ヤ平板1状のクリー
ン基板1が形成され牟・     。
かくして本実施例では、酌記第1の技術のよ。
うに、ノズル゛先端の厳密な温度制御の必要性がないた
めに、クリーン融液1が切゛れたり1ノズ。
ル先端で固着することが解決され、シリコン基板1を継
続成長させることができる。iた、前゛記第20技術と
比較する左補強材がノリコン融液1と接触する面積がは
るかに小さいために大きな粒径の平板状7す;ン基板2
が得られる。
さらに、第3の技術と比較すると、補強材が3本の繊維
で布状に纒まれているン二め、補強効果が強化され、結
晶幅が大きくな−りても、ンリーン融液膜が破壊される
し4 a e ’A。
以上の如〈実施例によっても本技術は、従来技術の欠点
を排除する技術であ、′)事は明らかであるが、更に本
発明者が、上記実施例によシ得たクリコン基板の結晶性
を観察した結果、以下の事柄がわかりた。前述従来技術
によるクリコン基板は多結晶の平板であシ、第1、第2
、第30どの技術によっ七得たクリコン基板もその粒界
の存在に規則性は生ミクた。”しかるに、本技術に、よ
って得些クリーン板は同じく多結晶の□平板ではあるも
−iの、その粒界の存李には規則性があシ、布状に編元
だ繊維と対応していた。
即ち、繊維間隔50 ’O(μm〕に基板目状に編んだ
目状の粒界が並“ぶ7リコン基板が得られた。この基板
をもちいて500 (Am)間隔で素子の並ぶ半導体ス
イ、チンダ素子アレイを作成し、作成の際には各素子の
動作領域は粒子内に収まるようにしたところ全素子が動
作した。しかし、従来技術によるシリコン基板を用いた
場合には粒界に規則性が存在しなかったため、動作領域
を横切る粒界を避けるヒとができず、その素子は不良と
なった。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い0例えば、前記布状基板はカーダン、7リコンカーバ
イドに限るものではなく、シリコン融液に濡れるもので
あればよい、さらに、その本数は3本に限ることはなく
3本以上であればよい。また、グリーン融液の温度や布
状基板の引上げ速度等は、仕様に応じて適宜定めればよ
い、その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変
形して実施することができる。
以上、詳述したように本発明によれば、シリコン融液に
濡れる3本以上の繊維状材料で布状に編み上げた布状基
板を補強材として用いることによって、クリーン基板を
成長するに際し、シリコン融液の温度制御を比較的簡単
′にでき、成長歩留〉の向上をはかり得て、かつ継続し
た連続成長を行い匈る。また、3本以上のフィラメント
を布状に編んでいるため、補強効果が強く、平板状y’
すHン基板の幅が・広くなjつてLシリコン融液膜が結
晶化の際に破壊されるしとがなく、大面積のv 14 
sン基竺を竺、長させることができる。さらに、大面積
の平板状Vリコン基板上の大きな結晶粒径を補強布の編
目に−そり一#−規則正しい配列として作成できるため
、素子化への応用範囲が広く、たとえば各種のスイツ 
゛チンダマトリ、クス用等にも利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、それぞれ本発明の一実施製資係
わるクリコン基板の成長工程を示す模式図工ある。 J −” ’i 17コンmi、!・・・ルツd、je
 4・・・ロー2.5・・・布状基板、6・・・引上げ
治具、7・・・クリーン基板。 出願人代理人 弁理士 鈴−江 武 彦第1図 第2図 昭和56年11月58 3特許庁長官 島田春樹  殿 1、事件の表示 特願昭56−145814号 ′°1”°“□、、、あ、9.□。、ヵゆ3、補正をす
る者 事件との関係 特許出願人 (307)  東京芝浦電気株式会社     □4、
代理人

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  クリコン融液を収容したルツボ中に7リコン
    融液に濡れる少なくとも3本の繊維状材料で編んだ布状
    基板を浸し九のち、上記布状基板を引き上げて骸基板の
    両面に付着した7リコン融液な固体化せしめ石ことを特
    徴とする平板状クリコン基板の成長方法。
  2. (2)岐記繊維状材料として、カーがン或いはクリーン
    カー・臂イドを用いたことを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の平板状7リコン基板の成長方法・
  3. (3)  紡記布状基板は、基板目状に編まれ丸亀めで
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
    記載の平板状クリ−3ノ基板の成長方法。
JP56145814A 1981-09-16 1981-09-16 平板状シリコン基板の成長方法 Pending JPS5848418A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56145814A JPS5848418A (ja) 1981-09-16 1981-09-16 平板状シリコン基板の成長方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56145814A JPS5848418A (ja) 1981-09-16 1981-09-16 平板状シリコン基板の成長方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5848418A true JPS5848418A (ja) 1983-03-22

Family

ID=15393751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56145814A Pending JPS5848418A (ja) 1981-09-16 1981-09-16 平板状シリコン基板の成長方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5848418A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60234316A (ja) * 1984-04-09 1985-11-21 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 太陽電池用シリコン結晶体の製造方法
JPH06283742A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法
JPH06283734A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法
JPH06283733A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60234316A (ja) * 1984-04-09 1985-11-21 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 太陽電池用シリコン結晶体の製造方法
JPH0582751B2 (ja) * 1984-04-09 1993-11-22 Siemens Ag
JPH06283742A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法
JPH06283734A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法
JPH06283733A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Tdk Corp 多結晶シリコン太陽電池及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1193521A (en) Methods and apparatus for melt growth of crystalline semiconductor sheets
JP2002220300A (ja) ナノファイバーおよびナノファイバーの作製方法
JP2516823B2 (ja) 浮遊帯域融解法による単結晶シリコン製造用の棒状多結晶シリコン及びその製造方法
JPS5848418A (ja) 平板状シリコン基板の成長方法
JPH0582751B2 (ja)
JP2627901B2 (ja) 結晶材料の融液サセプタの蓋
JPS58194798A (ja) 平板状シリコン結晶の成長装置
JP2004026584A (ja) GaAs単結晶製造方法及びGaAs単結晶
JP2005277186A (ja) シートおよびその製造方法、ならびにシートを用いた太陽電池
JPH01226798A (ja) リボン状シリコン結晶の製造方法
JPS6111914B2 (ja)
JP3213806B2 (ja) 硼酸リチウム単結晶の育成方法
JPH0787186B2 (ja) Bsoウエハの製造方法
JPS6111916B2 (ja)
JPS5973492A (ja) 帯状シリコン結晶の製造装置
JP3624295B2 (ja) 単結晶の製造方法及びその製造装置
JPS62113791A (ja) 帯状シリコン結晶製造装置
JP2640615B2 (ja) 圧電性結晶の製造方法
JP2864808B2 (ja) Iii−v族化合物半導体単結晶
JPS61251114A (ja) 単結晶シリコン膜の製造方法
JPH0782088A (ja) 単結晶の育成方法
JPS63107887A (ja) 単結晶引上げ用るつぼ
JPH0725533B2 (ja) シリコン多結晶インゴツトの製造方法
JPH02212395A (ja) 化合物半導体結晶の製造方法および製造装置
JP2773441B2 (ja) GaAs単結晶の製造方法