JPS5973492A - 帯状シリコン結晶の製造装置 - Google Patents

帯状シリコン結晶の製造装置

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JPS5973492A
JPS5973492A JP18287082A JP18287082A JPS5973492A JP S5973492 A JPS5973492 A JP S5973492A JP 18287082 A JP18287082 A JP 18287082A JP 18287082 A JP18287082 A JP 18287082A JP S5973492 A JPS5973492 A JP S5973492A
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JP
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crystal
capillary
dies
silicon
band
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JP18287082A
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Michiya Kobayashi
道哉 小林
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/34Edge-defined film-fed crystal-growth using dies or slits

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は帯状シリコン結晶の製造装置に関する。
〔従来技術とその問題点〕
シリコン融液中から帯状シリコン結晶を引上げる方法の
ひとつとして、キャピラリ・ダイを用いるEFG法(E
dge−de目nod Film−fed Growt
h method)がよく知られているが、このような
キャピラリ・ダイな用いる方法の原産は、Tslvin
akilらによる以下のような方法にある(8. V、
 Ti1vinik目eta1.。
Sow、 Phys、 −8olid 8tate v
ol、 8(1966)p449−450)。
用いられる装置は第1図(a)のようなものであシ、黒
鉛るつぼl中に2本の円柱形タングステンロッド2を設
置する。それぞれのロッド2には同図の如くスリット8
が切っである(以下このスリットのあるロッドを指して
これもキャピラリダイと称する)。るつぼl中にシリコ
ン融液4(ただしTslvinskllらの文献の場合
はゲルマニウム融液)を充填すると、シリコン融液4は
毛細管現象によシキャビラリ・ダイ2のスリット8に沿
って上昇し、キャピラリ・ダイ2の上端に達する。2個
のキャピラリ・ダイ2の両スリット3の間隔とほぼ同程
度の幅を有する板状種子結晶(或いはタングステン板)
6を、キャピラリ・ダイ2上のシリコン融液に種子付け
すると、両キャピラリ・ダイ間にも表面張力によシリコ
ン融液が山裾状に張られ、同図の如く固液界面6が形成
される。この後種子結晶5を引上げることにより、連続
的に帯状シリコン結晶7が成長するのである、しかし、
キャピラリ・ダイ上のシリコン融液形状は、ダイ上端面
の形状で規定されるがゆえ、得られる結晶はその幅方向
の中央部では帯状であるが、両端部においては結晶幅方
向の断面が円形をなし、第1図(b)のような断面をし
た結晶となってしまう。かかる結晶の形状は素子を形成
する上で障害となる。またこの方法では、7リコン融液
上に露出したキャピラリ・ダイの高さが高いと、穐子付
けの際に両ダイ間にシリコン融液が張らなかったシ、或
いは、成長途中で(融液の減少に伴ない)結晶中央部で
融液が結晶から離れる、即ち、結晶が切れるという難点
があシ、逆にΦヤビラリ・ダイの高さが低いと結晶中央
部では結晶から張られた融液の裾が広いために所望以上
の厚い結晶が成長してしまうという問題点がある。厚さ
が一様に0.5鰭程匿の幅の広い帯状シリコン結晶をこ
の方法で製造しようとすれば、まず2個のキャピラリ・
ダイ上端面の直径を0.5W程度にすることが考えられ
るが、この場合でも、キャピラリ・ダイ上で成長する結
晶の断面はダイ上端面形状によシ規定されるため、やは
り、得られる結晶はその両端部では断面が円形状で、中
央部の結晶の厚さが薄いという第1図(b)の如き断面
を有する結晶となる。これを防ぐために、上端面が半円
形のキャピラリダイを対向させることで解決を図るとい
う考えもあるが、上述したようなキャピラリ・ダイのシ
リコン融液から露出した部分の高低による連続一様成長
の困難さは避けることはできない。
〔発明の目的〕
本発明は上記の諸問題点に鑑みてなされたものであり、
厚さの一様な帯状シリコン結晶を連続して容易に成長さ
せることが可能な帯状シリコン結晶の製造装置を提供す
る仁とを目的とする、〔発明の概要〕 上記の目的を達成する本発明に係る帯状シリコン結晶の
製造装置は、るつぼに充填されたシリコン融液から帯状
シリコン結晶を引上げ製造する装置において、傾斜した
上端面を有し、前記上端面から下端面に向けてスリット
がきられた2個のキャピラリ・ダイか、それぞれの上端
面における傾斜の方向が同一直線上になるように対向し
てるっほに設置され、かつ、前記2個のキャピラリ・ダ
イ上端面の傾斜は、相対向する面外側でそれぞれ高く、
内向側でそれぞれ低くされたことを特徴とし、しかも、
前記2個のキャピラリダイの上端面の形状は、前記傾斜
方向の直線と垂直な方向の厚さにおりて、上記2個のキ
ャピラリ・ダイの相対向する両性1111j’から内向
側に向かって、それぞれしだいに厚くなる形状を有する
ことを特徴とするものである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、キャピラリ・ダイ上端面の傾斜及び厚
さの変化により、厚さの一様な帯状シリコン結晶が、シ
リコン融液量の変化にかかわらず安定して容易に製造で
きるという効果がある。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して祥細に説明する
$2図は、本発明の一実施例である帯状シリコンの製造
装置の主要部である。黒鉛るっぽ1に、上端面が傾斜を
もった半だ円形で、前把手だ円形の長軸に沿ってスリッ
ト8が切られた黒鉛製のキャピラリダイ2が2個対向し
て、それぞれの内側で上端が低く外側で高くなるように
設置されている。2個のキャピラリ・ダイ2間の距離は
それぞれのスリット8の端どうしで測って100 mで
ある。
また、スリット8の幅は0.5■、上端高低差は1Qs
sである。本装置においては、図示していないが、るつ
ぼ1に充填したシリコンを融解するためのヒータ、帯状
シリコン結晶を引上げるための駆動部等を有することは
言うまでもない。
本発明に係る第2図の装置を用い、帯状シリコン結晶を
以下のようにして引上げた。るつぽ1にシリコン塊を入
れ、アルゴン雰囲気中にて図示しないヒータによシ温度
をシリコンの融点(約1420C)以上に上げシリコン
を融解する。予め充填するシリコン結晶1は、融解時に
ギヤピラリダイ上端面の低い部分がシリコン融液中にひ
たされるようにした。融解したシリコン融液4はキャピ
ラリダイ2のスリットB中を毛細管現象により上昇し、
ダイ上端面に達する。この時点で幅IQ(Ig、厚さ、
  約Q、511111のシリコン種子結晶を2個のキ
ャピラリダイ2の上に徐々におろして種子付けをする。
種子結晶の先端はエツチングまたは研磨などによシ薄く
しておくと種子付けが行ない易い。種子付けによって両
キャピラリダイ間にもシリコン融液が表面張力によシ張
られる。この後種子結晶を引上げて帯状シリコン結晶を
成長させた。得られたシリコン結晶は、厚さ約0.51
m、幅約100W1長さ8mの一様な帯状であった。
第8図(a)、(b)はそれぞれ種子付は及び結晶成長
途中の概念を示す側面図及び上面図である。キャピラリ
ダイ2及びシリコン融液4の自由液面の上にシリコン結
晶7によシ持ち上げられたシリコン融液であるメニスカ
ス8が形成されている。固液界面6はほぼ水平でアシ、
また、同図(b)のように固液界面の巾換言すれば成長
した帯状シリコン結晶7の厚さは一様であった。これは
2個のキャピラリダイ2の上端面が#i斜、対向してお
り、かつその厚さに変化を持たせていることに由来する
製造中に引上げたシリコン結晶の址に相当する量のシリ
コン原料をるつほに連続供給すれば第8図の状態は永続
されるが、供給を行なわない場合、シリコン融液の自由
液面は徐々に下がっていき、キャピラリダイの融液から
露出する旨さが高くなる。第4図(a)、 (b)はそ
れぞれこのような状況での帯状シリコン結晶成長概念を
表わす側面図、上面図である。固液界面6は水平ではな
くなるが依然として得られる結晶の厚さは一様でアシ、
成長中に結晶が切れることはなかった。
上述のように本発明による帯状シリコン結晶製造装置を
用いれば、厚さの一様な帯状シリコン結晶が連続して安
定に、かつ容易に製造で睡る。
〔発明の他の実施例〕 上述の実施例では、2個のギヤピラ1ノ・りイ)よるつ
ばに制定されていたが、適当な夕°イ・ホール*−でダ
イを支え、−シリコン融液中に吊るしたような構成にし
ても勿論よい。また、タ゛イ自体をff11面から見た
場合くさび形をしたものでもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図はTsivinsk目らによる帯状結晶製造装置
を用いた結晶成長の概念図及び得られる結晶の断面図、
第2図は本発明による帯状シリコン結晶の製造装置の説
明図、第8図は本発明による帯状シリコン結晶の製造装
置を用いた結晶成長の概念図で通常の成長状態を表わす
図、第4図は同じく、シリコン融液が減少した場合の成
長状態を表わす図である。 1・・・るつぼ    2・・・キャビ2す・夕°イ8
、・・スリット   4・・・シリコン融液5・・・様
子結晶   6・・・固液界面7・・・帯状シリコン結
晶 8・・・メニスカス代理人 弁理士 則 近 麻 
佑 (ほか1名)第  1  図 第  2  図 第  3  図 8 7   4 第  4  図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  るつぼに充填されたシリコン融液から帯状シ
    リコン結晶を引上げ製造する装置において、傾斜した上
    端向を有し、前記上端面から下端面に向けてスリットが
    きられた2個のキャビ之り・ダイが、それぞれの上端面
    における傾斜の方向が同一直線上になるように対向して
    るつぼに設置され、かつ、前記2個のキャピラリ・ダイ
    上端面の傾斜は、相対向する両性側でそれぞれ高く、両
    内側でそれぞれ低くされたことを特徴とする帯状シリコ
    ン結晶の製造装置。
  2. (2)上記2個のキャピラリ・ダイの上端面の形状は、
    上記傾斜方向の直線と垂直な、方向の厚さにおいて、上
    記2個のキャピラリ・ダイの相対向する両性側から両内
    側に向かってそれぞれしだいに厚くなる形状を有するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の帯状シリコ
    ン結晶の製造装置。
JP18287082A 1982-10-20 1982-10-20 帯状シリコン結晶の製造装置 Expired JPS5950640B2 (ja)

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