JPH02212395A - 化合物半導体結晶の製造方法および製造装置 - Google Patents

化合物半導体結晶の製造方法および製造装置

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JPH02212395A
JPH02212395A JP3193589A JP3193589A JPH02212395A JP H02212395 A JPH02212395 A JP H02212395A JP 3193589 A JP3193589 A JP 3193589A JP 3193589 A JP3193589 A JP 3193589A JP H02212395 A JPH02212395 A JP H02212395A
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清輝 吉田
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木島 孝
Shoichi Ozawa
小沢 章一
Toshio Kikuta
俊夫 菊田
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、シーディング(種子つけ)後に引上げ法によ
り肩部形状の形成と初期成長を行い、その後は垂直凝固
法により所定の温度プロファイルによりルツボ内で結晶
を成長させる化合物半導体結晶の製造方法および製造装
置に関するものである。
〔従来の技術] 融液からの結晶成長法のうちで縦型のものとして、引上
げ法(チョクラルスキー法)、カイロポーラス法、縦型
ブリッジマン法、縦型温度勾配凝固法等があげられる。
これらのうちで、引上げ法とカイロポーラス法は、シー
ドを融液の上部におき、そのシードを融液内に付着させ
、結晶を固化させる方法である。
引上げ法は、結晶を温度勾配のある方向に引き上げなが
ら、結晶を固化させていく方法であり、カイロポーラス
法は、シードをメルト(融液)に付着させ、そのシード
を冷却し続けることにより、結晶をルツボの中でそのま
ま固化させる方法である。
【発明が解決しようとする課題] 上述した従来の各方法によって、InP (燐化インジ
ウム)等の化合物半導体を結晶成長させる場合に、引上
げ法では、結晶の形状制御が難しかった。
また、カイロポーラス法では、シードを融液内に付着さ
せ、固化させようとしたときに、InP等が積層欠陥エ
ネルギーの小さい物質であるため、シード直下から双晶
が発生しやすく、単結晶化が難しかった。さらに、結晶
が融液温度付近に長時間さらされるため、転位の再配列
や集合、セル構造等が発生しやすく、高品質の単結晶が
得にくかった。
本発明の目的は、前述したカイロポーラス法と引上げ法
のもつ問題点をともに解決し、シーディング後の単結晶
化がしやすく、結晶の形状制御がいらない化合物半導体
結晶の製造方法および製造装置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
前記課題を解決するために、本発明による化合物半導体
結晶の製造方法は、ルツボ内に化合物半導体の融液を収
容しその化合物半導体と不活性な不揮発性の液体封止剤
の融液で被覆し、前記化合物半導体の融液にその化合物
半導体の種子結晶を接触させたのち徐々に上方に引き上
げながら凝固させ、肩部形状を形成しながら結晶を所定
の直径に達するまで成長させる引上げ工程と、前記引上
げ工程で成長させた結晶をもとにして前記ルツボ内の融
液に所定の温度プロファイルを形成して固液界面の温度
勾配の移動により前記ルツボ内で前記融液を凝固させて
結晶を成長させる垂直凝固工程とから構成されている。
この場合、前記温度プロファイルは、融液帯の温度を融
点から融点子T℃(10≦T≦20)の範囲に設定し、
固液界面の温度勾配を20°(/ c m〜60°C/
 c mに設定し、凝固帯の温度を融点から融点−30
0℃の範囲に設定することができる。
また、本発明による化合物半導体結晶の製造方法は、不
活性ガスを充填して所定の圧力に加圧できる高圧容器と
、前記高圧容器内に収容され化合物半導体の融液をその
融液に不活性な不揮発性の液体封止剤の融液で被覆して
収容するルツボと、前記ルツボを固定するルツボ受が設
けられ上下に移動する支持軸と、前記ルツボの上方に配
置され先端に前記化合物半導体の種子結晶が取り付けら
れ上下に移動する引上セと、前記ルツボの外周に配置さ
れそのルツボの上下方向に所定の温度プロファイルを形
成するヒータとからなり、前記引上軸を降下させて前記
種子結晶を前記ルツボ内の化合物半導体の融液に接触さ
せ、前記引上軸を徐々に引き上げながら前記融液を凝固
させて肩部を形成し結晶を所定の直径に達するまで成長
させ、前記支持軸および前記引上軸を同時に移動させる
か、または前記ヒータの温度プロファイルを電気的に移
動して、前記ルツボに温度勾配を与え前記ルツボ内で前
記融液を凝固させて結晶を成長させるように構成されて
いる。
〔作用) 前記構成によれば、シーディング後は、引上げ法により
融液からシードを引き上げて、結晶の適切な肩部形状を
形成するので、単結晶化しやすくなった。
また、結晶が所望の直径に達したのちには、ブリッジマ
ン法もしくは温度勾配凝固法などの垂直凝固法によりル
ツボ内で結晶を固化させるので、結晶の形状がルツボの
形状で決定され、形状制御が不要になった。
〔実施例〕
以下、図面等を参照して、実施例につき、本発明の詳細
な説明する。
第1図は、本発明による化合物半導体結晶の製造装置の
実施例を示した図、第2図〜第5図は、同実施例装置の
動作を説明するための図、第6図は、同実施例装置に使
用されるルツボを説明するための図である。
高圧容器1は、30〜50気圧程度の加圧に耐えられる
容器であって、上側には引上軸2が設けられ、下側には
支持軸4が設けられている。
引上軸2は、上下方向の移動および回転ができる構造に
しである。この引上軸2の先端には、化合物半導体のシ
ード(種子結晶)3が固定されている。
支持軸4は、同様に上下方向の移動および回転ができる
構造である。支持軸4の上端には、ルツボ受5が固定さ
れている。ルツボ受5には、止めねじ6が設けられてお
り、ルツボ7が機械的な力を受けても動かないように締
め付は固定することができる。
ルツボ7には、化合物半導体の融液8が収容され、その
上側にはその化合物半導体と不活性で不揮発性のある液
体封止剤の融液9が化合物半導体の融液8を被覆するよ
うにして収容されている。
この実施例では、化合物半導体の融液8として燐化イン
ジウム(InP)のポリ原料を用い、液体封止剤の融液
9として酸化ホウ素CBt Os )を用いている。
ルツボ7の材質は、PBN(熱分解形ボロンナイトライ
ド)、もしくは石英を用いることができる0石英を用い
た場合には、ルツボ7が融液8にぬれないようにするた
めに、内表面に粗面化処理を施すことが好ましい。
ルツボ7の形状は、円筒形のものであってもよいしく第
6図(a))、上部口径が広く下部口径が狭い錐形のも
のであってもよい(第6図う))。
ルツボ7の口径は、所望の単結晶の直径よりもやや広め
のもの、例えば、3インチの単結晶の場合には、3イン
チ+α(α:5〜10mm)程度の口径(底部の口径)
のものを用いることが好ましい、この理由は、結晶成長
後のルツボ7からの分離が容易にできるからである。
ルツボ7の外周には、多分割ヒータ10が配置されてい
る。多分割ヒータ10は、ルツボ7の移動域に、上下方
向に所定の温度プロファイルをもたせるように、多分割
されている。この実施例では、5分割のものを使用して
いる。この多分割ヒータ10の外周には、さらに、温度
プロファイルを安定させるための熱遮蔽板11が配置さ
れていつぎに、第2図〜第5図を参照して、本発明によ
る化合物半導体結晶の製造方法の実施例を、前述した製
造装置の動作に対応させて説明する。
この実施例では化合物半導体として燐化インジウム(I
nP)を用いた場合について説明する。
高圧容器1内に、アルゴンガスなどの不活性ガスを充填
して、30〜50気圧に加圧し、昇温中に、連発性元素
であるP(燐)が飛散しないようにする。
多分割ヒータ10を用いて、lnPの融点1062°C
を越えるまでルツボ7内を加熱し、InPのポリ原料を
溶かして融液8にする。
融液8を合成したのち、第2図に示すように、引上軸2
を下降して、引上軸2の先端に設けられたシード3を、
その融液8の中に浸したのち、第3図に示すように、引
上軸2によりシード3を回転させながらゆっ(り結晶8
Aを引き上げ、自由空間で、結晶の肩部形状を形成させ
、単結晶化をはかる。結晶8Aが、所望の直径(ルツボ
7の口径に近い)に到達したところで、引上軸2の上昇
を停止させるとともに回転を停止し、シード3の引き上
げおよび回転をゆっくりと停止する。
このとき、ルツボ7内は、多分割ヒータ10により、第
3図(b)に示したような温度プロファイルに制御しで
ある。温度プロファイルは、融液帯の温度を融点から融
点十T℃(10≦T≦20)の範囲とし、固液界面の温
度勾配を20°(/ c m〜60’(/ c mとし
、凝固帯の温度を融点から融点−300°Cの範囲とす
ることが好ましい、この実施例では、lnPの融点が1
062°Cであるので、融液帯の温度は、1070°C
−1080℃に設定し、固液界面の温度勾配は、10℃
/cm〜20℃/cmに設定し、凝固帯の温度は、10
40 ℃〜1060 ℃に設定しである。
この状態で、第4図に示すように、引上軸2と支持軸4
を同時に、同じ速度で、上方向に移動させる。すなわち
、ルツボ7を温度勾配のある方向に押し上げて、引き続
き結晶を一定速度で成長させ、結晶を固化する。
結晶8Aは、ルツボ7内で固化するようにしたので、直
胴部の直径が一定となり、特別な結晶の形状制御を行う
必要がない、また、この実施例のように、温度勾配が1
0°C/Cm〜20°(/ c mと比較的小さい条件
で結晶を固化できるので、熱歪みが少なく、低転位の単
結晶を成長させることができる。
結晶8Aの成長が終了したのちには、結晶8Aをそのま
ま固めずに、液体封止剤の融液9が溶けている状態、例
えば600 ℃以上の高温中で、第5図に示すように、
引上軸2を上方向に移動させるとともに、支持軸4を下
方向に移動させ、ルツボ7から結晶8Aを分離する。こ
のとき、結晶8Aは、ルツボ7よりわずかに浮き上がる
程度、例えば、2cm程度離しておけばよい、このよう
にすれば、高温中でルツボ7と結晶8Aを切り離すこと
ができるので、結晶成長終了後の結晶8Aを極めて容易
に取り出すことができる。
第7図は、本発明による化合物半導体結晶の製造装置の
他の実施例を示した図である。
なお、第1図に示した実施例と同様な機能を果たす部分
には、同一の符号を付して説明する。
第1図に示した製造装置では、結晶8Aの肩部を成形し
たのちに、ルツボ7を温度勾配のある方向に移動させて
、結晶8Aを固化させる例を示したが、多分割ヒータ1
0を利用して、温度勾配を付けである部分を、第7図Φ
)の温度プロファイルに示すように、電気的にルツボ7
の上部方向から下部方向に移動させて、結晶8Aを固化
するようにしてもよい。
この場合でも、固液界面の温度勾配は、10℃/ c 
m〜20°(/ c mと前述の実施例と同程度にすれ
ばよい。
以上説明した実施例にとられれることなく、種々の変形
ができる。
燐化インジウム結晶の製造について説明したが、他の化
合物半導体の製造にも適用できる。
〔発明の効果〕
以上詳しく説明したように、本発明によれば、シーディ
ング後の結晶成長の初期には、引上げ法により結晶の肩
部を成形して、所定の口径まで比較的低温度勾配で結晶
を成長させるので、垂直凝固法では双晶の発生しやすい
化合物半導体であっても、単結晶化がしやすく、結晶欠
陥の少ない化合物半導体の単結晶を製造することができ
る。
その後の成長工程では、ルツボ内で垂直凝固法により単
結晶を成長させるので、結晶の形状はルツボの形状によ
り決まり、形状制御を行う必要がない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による化合物半導体結晶の製造装置の
実施例を示した図、第2図〜第5図は、同実施例装置の
動作を説明するための図、第6図は、同実施例装置に使
用されるルツボを説明するための図である。 第7図は、本発明による化合物半導体結晶の製造装置の
他の実施例を示した図である。 l・・・高圧容器      2・・・引上軸3・・・
シード       4・・・支持軸5・・・ルツボ受
      6・・・ねじ7・・・ルツボ 8・・・化合物半導体の融液 9・・・液体封止剤の融液 10・・・多分割ヒータ   11・・・熱遮蔽板出願
人代理人 弁理士 河 野 茂 同      弁理士 鎌 1)次 第1図 t+叉η匈 第4区 第6 (a) 第7 (a) 第5区 (b)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ルツボ内に化合物半導体の融液を収容しその化合
    物半導体と不活性な不揮発性の液体封止剤の融液で被覆
    し、前記化合物半導体の融液にその化合物半導体の種子
    結晶を接触させたのち徐々に上方に引き上げながら凝固
    させ、肩部形状を形成しながら結晶を所定の直径に達す
    るまで成長させる引上げ工程と、前記引上げ工程で成長
    させた結晶をもとにして前記ルツボ内の融液に所定の温
    度プロファイルを形成して固液界面の温度勾配の移動に
    より前記ルツボ内で前記融液を凝固させて結晶を成長さ
    せる垂直凝固工程とから構成した化合物半導体結晶の製
    造方法。
  2. (2)前記温度プロファイルは、融液帯の温度を融点か
    ら融点+T℃(10≦T≦20)の範囲に設定し、固液
    界面の温度勾配を20℃/cm〜60℃/cmに設定し
    、凝固帯の温度を融点から融点−300℃の範囲に設定
    することを特徴とする請求項(1)記載の化合物半導体
    結晶の製造方法。
  3. (3)不活性ガスを充填して所定の圧力に加圧できる高
    圧容器と、前記高圧容器内に収容され化合物半導体の融
    液をその融液に不活性な不揮発性の液体封止剤の融液で
    被覆して収容するルツボと、前記ルツボを固定するルツ
    ボ受が設けられ上下に移動する支持軸と、前記ルツボの
    上方に配置され先端に前記化合物半導体の種子結晶が取
    り付けられ上下に移動する引上軸と、前記ルツボの外周
    に配置されそのルツボの上下方向に所定の温度プロファ
    イルを形成するヒータとからなり、前記引上軸を降下さ
    せて前記種子結晶を前記ルツボ内の化合物半導体の融液
    に接触させ、前記引上軸を徐々に引き上げながら前記融
    液を凝固させて肩部を形成し結晶を所定の直径に達する
    まで成長させ、前記支持軸および前記引上軸を同時に移
    動させるか、または前記ヒータの温度プロファイルを電
    気的に移動して、前記ルツボに温度勾配を与え前記ルツ
    ボ内で前記融液を凝固させて結晶を成長させるように構
    成した化合物半導体結晶の製造装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113308739A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的系统
CN113308738A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113308739A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的系统
CN113308738A (zh) * 2021-06-01 2021-08-27 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法
CN113308738B (zh) * 2021-06-01 2022-06-17 中国电子科技集团公司第十三研究所 注入合成后连续lec与vgf结合制备化合物半导体晶体的方法

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