JPS5831499A - ひずみ測定回路 - Google Patents

ひずみ測定回路

Info

Publication number
JPS5831499A
JPS5831499A JP56128602A JP12860281A JPS5831499A JP S5831499 A JPS5831499 A JP S5831499A JP 56128602 A JP56128602 A JP 56128602A JP 12860281 A JP12860281 A JP 12860281A JP S5831499 A JPS5831499 A JP S5831499A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
circuit
input signal
distortion
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56128602A
Other languages
English (en)
Inventor
益田 康雄
荒 光之
平林 和紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP56128602A priority Critical patent/JPS5831499A/ja
Publication of JPS5831499A publication Critical patent/JPS5831499A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 この発明は、データ回線の品質チェック用に使用するひ
ずみ測定回路についてのものである。
(2)従来技術 データ1線のひずみにはバイアスひずみや単点ひずみな
どかあ夛、バイアスひずみは入力信号のある周期につい
てのひずみの平均であ)、単点ひずみは入力信号の変換
点についてのひずみである。
従来のバイアスひずみ調定回路の一例を第1図に示す0
図で、1は入力端子、2社積分回路、3社アナログディ
ジタル変換器、4は表示回路である。
第1#tJは端子1からの入力信号を積分回路2で積分
して直流信号に変換し、アナログディジタル変換器5で
ディジタル信号に変換してから表示呻路4で入力信号の
バイアスひずみを表示するものである。
(5)  従来技術の間慝点 最近は、ひずみ測定回路を始め、データ回線のチェック
回路をCPU制御にする方向にある。この場合、第1図
の従来回路のようにアナログ信号の部分があると、信号
処理が複雑になるという問題がある。
(4)  発明の目的 この発明は、ひずみ測定回路をすべてディジタル回路で
構成してCPU制御ができるようにするとともに、バイ
アスひずみと単点ひずみの測定ができる測定回路を提供
するものである。
(51発明の実施例 この発明による実施例の回路を第2図に、第2図の各部
波形例を第3図に示す、第2図で、11はフリップ70
ツブ、12は符号発生回路、13拡排他的論理和(EO
凡)回路、14はあらかじめ設定した入力信号の繰シ返
し数をカウントするカウンタ、15社入力信号の立上多
信号でセットされ、カウンタ14からの信号でリセット
される7リツプ70ツブ、16はアップダウンカウンタ
、17はアップダウ/カウンタ16の出力と7リツプ7
0ツブ15の出力から入力信号のひずみを演算するコー
ド変換器である。
7リツプフロツプ11と符号発生回路12でひずみの基
準となる信号を発生する。
第5図アは端子1からの入力信号波形であシ、j13図
イはフリップ70ツブ11の出力波形である。第5図イ
の信号を受け、符号発生回路12は第5図つのように一
領域と十領域の等しい信号を発生する。この第5図つが
ひずみの基準に&る信号波形である。
第3図工はEOR回路15の出力波形で、第3図アの入
力信号と第5図つの基準信号との差の波形である。この
波形が入力信号のひずみを示すもので、第5図工は+側
のひずみの例である。
第5図才はカウンタ14の出力で、第5図アの入力信号
の繰身返し周期が1で出力が「1」になっている、カウ
ンタ14のカウント値をあらかじめ決めておけば、この
カウント値になるとカウンタ14の出力を7リツプフロ
ツプ15へ送る。
第3図力はスリップ70ツブ15の出力波形で。
第5図アの立上シで出力が「1」になシ、カウンタ14
の出力が「1」になると第5図力の出力線「0」になる
、したがって、カウンタ14のカウント数だ叶フリップ
70ツブ15の出力は「1」を保持する。
第3図キは端子5からのクロック信号で、ゲート回路1
8a〜18dを介してアップダウンカウンタ16に入る
第3図りはゲート回路1 ’8 bの出力波形で、第3
図工に対応するクロック信号が得られる。
ゲート回路18c〜18eはアップダウンカウンタ16
で第5図りのクロック信号をカウントする場合、第3図
りのクロック信号が十領域と一領域のどちらにあるかを
識別、するゲート回路である。
アップダウンカウンタ16は第3図りのクロック信号だ
けをカウントすればよいので、ひずみを精度よく測定す
ることができる。
なお、第3図アルカ社入力信号の繰シ返し周期が1サイ
クルの場合の例で、単点ひずみを測定している状態を示
す。
第゛5図アの入力信号を繰シ返していくと、アップダウ
ンカウンタ16社前同の結果からカウント□を始めるの
で一カウント値を累積していく、シ九かって、アップダ
ウ/カウンタ16の出力をカウンタ14のpラント値で
割れば、入力信号の平均されたバイアスひずみを求める
ことができる。コード変換器17社、これを演算するも
のである。
(6]  発明の効果 この発fljKよれば、すべての処理がディジタル処理
となるので、CPU制御ができるようになる。
また、カウンタ14のカウントを1にすれば単点ひずみ
、2以上にすればバイアスひずみ=tilJ定すること
ができる。さらに、基準信号との変化分だけを検出する
ので、ひずみを精度よく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来回路の一例、 第2図はこの発明による実施例の回路、第5図は第2E
の各部波形図。 1・・・・・・入力端子、2・・・・・・積分回路、5
・・・・・・アナログディジタル変換器、4・・・二・
・表示回路、5・・・・・・クロック信号を加える端1
子、11・・・・・・フリップ70ツブ、12・・・・
・・符号発生回路、13・・・・・・EOR回路、14
・・・・・・カウンタ、15・・・・・・7リツプ7$
1ツブ、16・・・・・・アップダウンカウンタ、17
・・・・・・コード変換器、18a〜t8e・・・・・
・ゲート回路。 代理人  弁理士  小俣欽司 第1図 1(1【りQ−yワ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 t 入力信号から基準信号を発生する符号発生回路と、 この符号発生回路の出力と入力信号を入力とする101
    回路と、 あらかじめ設定した入力信号の繰り返し数をカウントす
    るカウンタAと、 入力信号の立上シ償号でセットされ、前記カランタムか
    らの信号でリセットされるフリップ70ツブと。 このフリップ70ツブ出力と前記101回路の出力との
    差に対応するクロック信号をカウントするアップダウン
    カウンタBと、 このアップダウンカラ、ンタBの出力と前記7リツプフ
    ロツプO出力から入力信号のひずみを演算するコード変
    換器とを備えるひずみ測定回路。
JP56128602A 1981-08-17 1981-08-17 ひずみ測定回路 Pending JPS5831499A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56128602A JPS5831499A (ja) 1981-08-17 1981-08-17 ひずみ測定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56128602A JPS5831499A (ja) 1981-08-17 1981-08-17 ひずみ測定回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5831499A true JPS5831499A (ja) 1983-02-24

Family

ID=14988825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56128602A Pending JPS5831499A (ja) 1981-08-17 1981-08-17 ひずみ測定回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5831499A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923148A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 Nippon Denso Co Ltd 自動車用自動変速制御装置
JPS61108560U (ja) * 1984-12-20 1986-07-09
JPH01164850A (ja) * 1987-12-17 1989-06-28 Daikin Mfg Co Ltd 自動車用自動変速機の変速制御装置
US5895435A (en) * 1996-03-01 1999-04-20 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Vehicle drive mode estimating device, and vehicle control apparatus, transmission shift control apparatus and vehicle drive force control apparatus including drive mode estimating device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558645A (en) * 1978-10-24 1980-05-01 Siemens Ag Diginal signal phase jitter detector circuit
JPS5590162A (en) * 1978-12-28 1980-07-08 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> Speed distortion detection system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558645A (en) * 1978-10-24 1980-05-01 Siemens Ag Diginal signal phase jitter detector circuit
JPS5590162A (en) * 1978-12-28 1980-07-08 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> Speed distortion detection system

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923148A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 Nippon Denso Co Ltd 自動車用自動変速制御装置
JPH034789B2 (ja) * 1982-07-29 1991-01-23 Nippon Denso Co
JPS61108560U (ja) * 1984-12-20 1986-07-09
JPH0212351Y2 (ja) * 1984-12-20 1990-04-06
JPH01164850A (ja) * 1987-12-17 1989-06-28 Daikin Mfg Co Ltd 自動車用自動変速機の変速制御装置
US4996893A (en) * 1987-12-17 1991-03-05 Kabushiki Kaisha Daikin Seisakusho Speed change control device in automatic transmission for automobile
JPH0574746B2 (ja) * 1987-12-17 1993-10-19 Daikin Mfg Co Ltd
US5895435A (en) * 1996-03-01 1999-04-20 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Vehicle drive mode estimating device, and vehicle control apparatus, transmission shift control apparatus and vehicle drive force control apparatus including drive mode estimating device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5831499A (ja) ひずみ測定回路
US4685075A (en) Apparatus for measuring propagation time of ultrasonic waves
JPS5831500A (ja) ひずみ測定回路
JPS588614B2 (ja) キジユンデンイセイギヨカイロ
JP3271323B2 (ja) 時間測定回路
JPH0734540B2 (ja) A/d変換装置
JPS5821172A (ja) ひずみ測定回路
JP2584747B2 (ja) 画像処理装置
JPS6022679Y2 (ja) D/aコンバ−タ
JP3047264B2 (ja) 時間計測装置
JP2626352B2 (ja) A/d変換装置
JPH07101223B2 (ja) ピ−ク値検出回路
SU651490A1 (ru) Измеритель уровн вн тных переходных вли ний в каналах св зи с импульснокодовой модул цией
JP2517376B2 (ja) 時間計測装置
SU1633439A1 (ru) Информационно-измерительна система
JPH055514Y2 (ja)
JPH0983363A (ja) A/d変換回路
JPS632488B2 (ja)
SU757995A1 (ru) Способ измерения амплитуды сигнала с аддитивной помехой и устройство для его осуществления 1
SU480103A1 (ru) Устройство дл измерени угловых и линейных перемещений
JPS63289482A (ja) 端数時間測定装置
JPS5949724B2 (ja) Agc回路
JPS6290549A (ja) 測定器の入力回路
JPS6355109B2 (ja)
JPH01197669A (ja) パルス幅検出方式