JPS58212222A - フラッシュ形アナログ・ディジタル変換器 - Google Patents

フラッシュ形アナログ・ディジタル変換器

Info

Publication number
JPS58212222A
JPS58212222A JP58090130A JP9013083A JPS58212222A JP S58212222 A JPS58212222 A JP S58212222A JP 58090130 A JP58090130 A JP 58090130A JP 9013083 A JP9013083 A JP 9013083A JP S58212222 A JPS58212222 A JP S58212222A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential
type
input
circuit
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58090130A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH045294B2 (ja
Inventor
アンドリユ・ゴ−ドン・フランシス・デイングウオ−ル
ビクタ−・ザズウ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of JPS58212222A publication Critical patent/JPS58212222A/ja
Publication of JPH045294B2 publication Critical patent/JPH045294B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/36Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type
    • H03M1/361Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type
    • H03M1/362Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type the reference values being generated by a resistive voltage divider
    • H03M1/365Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type the reference values being generated by a resistive voltage divider the voltage divider being a single resistor string

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の背景〕 本発明は、フラッシュ形のアナログ・ディジタル変換器
(以下「AD変換器」という。)に関し、特にフラッシ
ュ形AD変換器に用いられる比較回路に関する。
フラッシュ形AD変換器は、入力信号を多数の時 基準電位と同着に比較する。オーバーフローする6ビツ
トの変換器では、26すなわち64の同時比較が必要で
あり、8ビツトの変換器では256の同時比較が必要で
ある。扱い易い回路を用いて経済的にフラッシュ形AD
変換器を実現するために、比較的簡単な比較回路が利用
される。少なくとも6ビツトの変換器に都合よく使用さ
れる比較回路が、イー・−一・マクグローガン・ジュニ
ア(E、P。
MeGrOgal Jr、 )氏に付与された、「比較
回路という名称の米国特許第3,676,702号明細
書に開示されている。マクグローガン・ジュニア氏の回
路は、加算コンデンサの第1の極板にまず基準電位を印
加し、次に信号電位を印加することを繰返すものである
。加算コンデンサの第2の極板はインバータ回路の入力
に接続され、基準電位が印加される度にトリップ点すな
わち閾値電位に選択的にバイアスされる。入力信号およ
び基準信号間の非常に小さな差も正確に検出され、すな
わち入力信号が基準信号よりも極めて僅かに大きくても
(小さくても)インバータが負(正)に切シ換わる。
マクグローガン・ジュニア氏の回路は、加算コンデンサ
に基準電位あるいは信号電位を交互に印加するために、
相補形電界効果トランジスタ■酊)から成る相補形伝送
ダートを使用する。相補形伝送ダートは、ゲートを構成
するスイッチング・トランジスタに固有の漂遊キャ・9
シタンスあるいはその他の不可避的キャパシタンスを介
して加算コンデンサに結合されるスイッチ・A?ルスの
電位tを見掛は上減少させる傾向がある。各相補形伝送
ダートは、並列に接続されたN形FETおよびP形FE
Tから成り、それぞれの制御電極には等しい振幅の相補
信号が同時に供給され3.る、。一方のトランジスタに
よって信号回路に結合されるスイッチング・パルス信号
のいずれかに等しいものは全て他方のトランジスタによ
る結合によって補償すなわち除去される。
この種の現存するフラッシュ形AD変換器の回路測定を
行なうと、自己補償形のトランジスタ間に、等しくない
ダート・ドレイン間のキャパシタンスが存在するため、
実際にはスイッチング・・ぐルス信号が完全に相殺され
ない傾向がある。不完全な補償によって生ずる問題点の
1つは、信号入力バスにスイッチング・スパイクが結合
されることである。これにより入力信号は低下し、従っ
て変換器の感度あるいは変換速度が低下する。この問題
点は、入力信号線における比較器の前に低インピーダン
スのバッファ増幅器を直列に接続することによって解決
することができる。しかしながら、このような増幅器を
MO8集積回路上で実現するには可なりのシリコン領域
が必要である。
フラッシュ形AD変換器の感度を制限する第2の要因は
、基準はし、)1:ご形回路を流れる電流から生ずる。
入力信号が俄イ場合を考えてみる。比較サイクルの量大
力信号が供給され、全ての加算コンデンサが実質的に放
電する。続いて次のシステム・サイクルの間加算コンデ
ンサを再充電すると、はしご形回路に電流が流れ、従っ
て非線形性が生じ、また変換器のサイクル時間が実質的
に減少するか、あるいは、サイクル時間を一定にすると
、変換器の感度が低下する。
動作可能な信号範囲の極値にある入力信号は、すべての
加算コンデンサを実質的に充電あるいは放電しなければ
ならない。このことは、多数の入力信号回路を負荷とす
る入力信号源に比較的高い電流を要求することになる。
この種の負荷によって、システムの変換時間が影響を受
け、少なくとも変換時間および変換精度のどちらを優先
させるかが問題となる。
〔発明の概要〕
本発明によるフラッシュ形AD変換器は、各々の入力端
子を有する複数個の比較回路と;変換器の入力端子およ
び各比較回路の入力端子間にそれぞれ結合される複数個
のコンデンサと;漸増する複数個の基準電圧と;複数個
の組合せスイッチ手段とを含んでいる。この組合せスイ
ッチ手段は、そ(5) れぞれの基準電圧あるいは入力信号を各コンデンサに交
互に供給する。基準電位に対する負荷を減少させるため
に、コンデンサの電位の最大変位を制限するだめの手段
が入力端子およびスイッチ手段の間に接続される。
本発明の実施例によると、信号入力・ぐスを介して加算
コンデンサに変位される電荷量を制限し、各直列インピ
ーダンスによシ各信号入力スイッチを信号入力パスから
分離することによって前述の問題点が解決される。電界
効果トランジスタが各信号入力スイッチおよび信号入力
バス間に接続される。この電界効果トランジスタのゲー
ト電極は、抵抗性はしご形回路に沿って各電界効果トラ
ンジスタの相対的な位置に対して調整されるり、C,電
位でバイアスされる。電界効果トランジスタは、個々の
加算コンデンサが各トランジスタのダート電位からその
トランジスタの閾値電位を減じた値を越えるような電位
に充電もしくは放電することができないようにして抵抗
性はしご形回路における負荷が減少されるように、入力
信号の成る範囲で(6) はソース・ホロワ−・モードで動作する。各電界効果ト
ランジスタのrレイン・ソース間のインピーダンスによ
って信号入力バスは信号入力スイッチに付随するクロッ
クから保護される。
以下、図面を参照しつつ本発明の詳細な説明する。
c+P4扼工、。
第1図を参照すると、並列の6ビツト2進出力信号AO
〜A5を発生し得る典型的なフラッシュ形AD変換器が
示されている。この6ビツトの出力信号は、最大許容入
力信号(すなわち、動作可能な入力電圧範囲)を64個
すなわち2 個の漸増値に割り当てることに対応する。
これは、ツェナー基準回路10によって与えられる既知
の電圧を線形抵抗器20の両端間に印加し、その両端間
で降下する電位を64個の等間隔のタップから取り出す
ことによって行なわれる。抵抗器のタップ1課:・ 〜64は、それぞれ順次増大する基準電圧を発生する。
入力電圧信号は、並列に動作する64個の比較器15に
よって各タップの基準電圧と比較される。入力電圧より
も小さい電圧値を有する基準タップに接続された全ての
比較器の出力は、第1の出力状態(例えば、「高」)を
示し、残りの比較器は第2の出力状態(例えば、「低」
)を示す。
比較器15は入力信号を所定の間隔でサンプリングして
比較するようにクロック制御される。比較器の出力状態
は、サンプリング期間の終りに64個の並列ラッチ回路
16にそれぞれラッチされる。
ラッチされた出力信号は゛、63個の並列3人力アンド
回路17に供給される。各アンド回路は隣接する3つの
比較器の状態を検査し、それに接続された隣接する2つ
のラッチが「高」い論理出力状態を示し、次に高位のラ
ッチが「低」い論理出力状態を示す場合のみ所定の状態
(例えば、「高」または「低」)の出力信号を発生する
。この構成によって63個のアンド回路の中の1個のみ
が所定の入力サンプルに勅して所定状態の出力信号を発
生する。    パ□ 例えば、アンド・ダート17Aは、ラッチ16Aが第2
の出力状態(すなわち「低」)であって、ラッチ16B
および16Cの両方が第1め出力状態(すなわち、「高
」)である場合にのみ「高」い出力を発生する。この場
合、アンド・ゲート17Aの反転入力(丸で示される)
は「低」い入力を受は取り、非反転入力は「高」い入力
を受は取る。この条件下でのみ、アンP−デート17A
は「高」い状態になる。
アンド回路17の各出力端子は、所定の状態の出力信号
を発生している特定のアンド回路に関連して、並列6ビ
ツトの2進出力信号AO−A5を発生するプログラム可
能々論理アレイすなわちPLA 18に供給される。
第2図は、第1図に示されるAD変換器に使用される比
較回路を示す。抵抗30は、はしご形抵抗器20(第1
図)を分割したもので基準電圧の一部を示す。64個の
基準電位の中の特定の1つが点31に得られる。
比較器は、正電位vDDと接地点との間に直列に接続さ
れたP形トランジスタ40およびN形トラ(9) ンジスタ42から成る相補対称形すなわちCMO8形の
インバータ45を含んでいる。制御信号1およびφにそ
れぞれ応答するP形トランジスタ43およびN形トラン
ジスタ44を含んでいる相補形トランジスタ・スイッチ
47は、インバータの出力端子41をその入力端子39
に選択的に接続する。これによりインバータはその中点
すなわち切換え点で自己バイアスされる。このバイアス
電位は加算コンデンサ38に貯えられる。
インバータ45の端子41の出力電位が入力端子39お
よびコンデンサ38に帰還される間、P形トランジスタ
34および制御信号7およびφにそれぞれ応答するP形
トランジスタ34およびN形トランジスタ35から成る
第2の相補形トランジスタ・スイッチ48は、点31の
基準電位を加算コンデンサ38のもう一方の側の接続点
32に選択的に供給する。次いで、スイッチ47および
48が遮断されると、インバータ45はソノ切換え点に
バイアスされたままとなり、また接続点32には基準電
位が貯えられる。
(10) この直後、制御信号φ′および1′にそれぞれ応答する
P形トランジスタ36およびN形トランジスタ37を含
んでいる第3の相補形トランジスタ・スイッチ49は、
端子330入力信号を接続点32に供給する。この入力
信号が基準電位よシ大きいかまたは小さければ、その電
位差が加算コンデンサ38を介してインバータの入力接
続点39に供給される。このインバータの利得は極めて
高く、自己バイアス電位に極めて小さな変位が生じると
、出力が「高」出力状態(vin < Vref )ま
たは「低」出力状態(vin > Vref )に切シ
換わる。この出力状態は、低状態になる制御信号7′に
応答して出力状態を貯えるラッチ16′の入力に供給さ
れる。
上述の回路および動作の説明は、比較回路の信号サンプ
リング・サイクルの完全な1サイクルに関する。インバ
ータそれ自体は各サイクルの間自己バイアスし、・母う
メータの変、動、による安定性の問題を無くなしている
。制御俗情1φおよびiは相補信号である。制御信号φ
′および1′は、それぞれ信号φおよび1と持続時間お
よび位相が実質的に同一である相補信号である。一般に
、これらの信号の持続時間は、スイッチ49が導通する
前に、スイッチ47および48が非導通となるように設
計されているが、・ぐルスが少々重なっていてもシステ
ムは動作可能である。
本発明において、スイッチング回路は、スイッチ49お
よび端子33の間に直列に接続されたドレン電極および
ソース電極を有する追加のEFTを設けることによって
変更される。この追加のFET〔実施例の説明〕 第3図は、本発明によるフラッシュ形AD変換器に使用
される比較器のスイッチ構成の一部を示す。これらのス
イッチはI−Vで示される5つのグループに分けられる
。これらのグループは接続される基準電位の範囲に対応
している。各スイッチは、それが接続される各基準電位
に調整されるのが理想的であるけれども、そうすると必
要な支持回路の量が増える。従って、本実施例の場合、
5つのグループの選択は全く任意である。
第3図において、回路要素50−59は、第2図の要素
48および49と同様な相補形のFET伝送デートであ
る。各スイッチング回路中の2つのダートは交互に駆動
され、最初に基準電位、次いで入力電位を各加算コンデ
ンサ38に供給する。
グループIおよび■においては入力パス60および各入
力伝送ゲート間にN形のFETが直列に接続される。ま
た、グループ■および■においては入力パス60および
各入力伝送タート間にP形のFETが直列に接続され、
さらにグループ■におい(13) ては入力パス端子60および各入力伝送ダート間に直列
にP形およびN形のFETが並列接続され゛る。
P形トランジスタは、はしご形抵抗器の比較的正側のタ
ップで使用され、N形トランジスタは、比較的負側のタ
ッグで使用され、その結果、端子67−72に供給され
るケ8−トのバイアス電位v6.−vB6は、”11哩
より実質的に大きくなくあるいはvRJ→より実質的に
小さい電位から得られる。
説明の便宜上、トランジスタ61−66がエンハンスメ
ント形の素子であって、N形素子は+1?ルトの閾値電
位(V、rH,)を有し、P形素子は−1がルトの閾値
電位(vTI()を有するものと仮定する。
まだ、バイアス電位VB、は、タラ7’91における基
準電位より少なくとも閾値電位だけ大きく、バイアス電
位vB2は、タップ92における基準電位より少なくと
も閾値電位だけ大きく、またバイアス電位■B3は、タ
ッグ93における基準電位よシ少なくとも閾値電位だけ
大きいものと仮定する。
イj乙 同様に、バイアス電曇vB6+ VH2およびVH4は
、(14) それぞれタップ93.92および91における基準電位
より少なくとも閾値電位だけ小さいものと仮定する。
双方向性導電素子であるFETは、ダート、ドレインお
よびソース電極に与えられる各電位によっていずれかの
方向に導通する。第3図に示される形式の構成では、公
称上、FETのドレイン・ソースの構造は対称であって
、ドレインおよびソース電極は機能上交換可能である。
しかしながら、ドレインおよびソース電極の中の1方が
ダート電極よりも太きくGNN形ET ) 、かつドレ
インおよびソース電極の中の他方がダート電極より少な
くとも閾値電位だけ小さいと、ドレインおよびソース電
極の中、低い方の電位を有する方がソース電極として動
作する。ドレインおよびソース電極の両方の電位がダー
ト電位よりも小さいと、本発明の場合それらの区別は問
題とならなり。
、1:′、1 比較的高い、例えば、vRI2(+−)の入力信号電位
が端子60に供給された場合について、スイッチ構成の
グループIの部分を検討してみる。トランジスタ61が
無い場合、加算コンデンサは1サイクルのサンプリング
部分の間vRF、F(→に充電し、次いで1サイクルの
比較部分の間はしご形抵抗を介してvRI、F(−)に
放電する。トランジスタ61が回路に付加され、vRo
F())が端子60に供給されると、その左側および右
側の電極がそれぞれドレインおよびソースとして動作す
る。スイッチ50が閉じると、トランジスタ61は、負
荷として加算コンデンサ38を有するソース・ホロワ−
として動作する。エンハンスメント形のFETのソース
電極が達成し得る最大の電位は、そのダート電極(vg
ate)に印加される電位よりも閾値電位(■TH)だ
け小さく、すなわちvgate ’−”THであること
はよく知られている。上述の条件の場合、本発明の装置
の段1−8における加算コンデンサ38は、入力信号に
よる(VI]1−1)yl?ルトより大きい電位となる
ことはあシ得ない。(VB1羊1)がルトの電位は段1
−8□冒 に印加される基準電位よりも大きく、それ故これらの加
算コンデンサ38に対する充電の制限によって回路の論
理動作は何ら影響されないが、比較的大きな入力信号に
ついて、グループIの加算コンデンサ38に付随する電
荷の変位は減少する。
(VB、−1)ボルトよりも小さい入力信号電位につ゛
いては、ドレインおよびソース電極の両方が入力電位と
なる。
グループ■の直列トランジスタ(段9において、トラン
ジスタ62で表わされる)のダートは、グループ■のF
ETが更に大きい入力信号電位をそれぞれの加算コンデ
ンサに伝達することができるから、グループIのFET
よりも更に正側にバイアスされている。グループ■のN
形FETのダート電極に印加されるバイアス電位vB3
は、同じ理由でグループ■のバイアス電位■B2よりも
太きい。
次に、グループVのトランジスタを検討スる。
P形のFETが使用される理由は、それらがV□F(→
に対して比較的負の電位でバイアスされ得るからである
。この箇所にN形のFETを使用すると、■R0F(+
)よりも大きなバイアス電位、それ故追加の電位源が必
要となる。さらに重要なことは、N形のFETは、その
ダートのバイアス電位が入力信号(17) の最大範囲よりも必然的に大きくなるから、コンデンサ
の充電電流を何ら制限することができない。
グループ■のP形トランジスタ66は、N形トランジス
タ61に対して相補的に動作する。P形のトランジスタ
66は、各加算コンデンサが(vB6+1)ボルトの値
以下の比較的大きい基準電位を放電することができない
比較的負の入力信号については、ソース・ホロワ−・モ
ードで動作する。
同様に、グループ■および■のP形の直列FETによっ
て、それぞれ(V、5+1 ) yl?ルトおよび(V
、4+1)ボルト以下の各加算コンデンサ38の放電が
行なわれない。
N形の直列FETによってもたらされるグループ■およ
び■における加算コンデンサの制限された充電と、P形
の直列FETによってもたらされるグループ■および■
における加算コンデンサ38の制限された放電とにより
、入力範囲の極値に近い入力信号について抵抗性はしご
形回路における負荷が減少し、従ってシステムの線形性
が増強される。加算コンデンサ38における電位の振れ
が城(18) 少するから、加算コンデンサ38をそれぞれの基準電位
に再充電し、放電するのに必要な時間が減少し、従って
、システムの変換速度が増強される3グループ■の並列
接続されたP形およびN形のFETから成る直列FET
は、本発明の場合、それぞれの加算コンデンサ38の電
位が全ての入力電位範囲を越えて振れるようにバイアス
されている。
従って、グルー7°開の直列FETは、コンデンサの変
位電流を制限することに関してはほとんど影響を及ぼさ
ない。しかしながら、グループ■の直列FETのドレイ
ン/ソース・インピーダンスによって、入力信号バス6
0から入力伝送ダートのクロック供給が分離される。P
形トランジスタ64あるいはN形トランジスタ63が所
望のシステム速度で各加算コンデンサを放電/充電する
ことができる程、VB4またはVB3に対するバイアス
電位の範囲があれば、P形あるいはN形トランジスタの
: ・!。
いずれか一方を回路から取り鹸<゛ことができ、その場
合、コンデンサの充電および放電電流は更に減少する。
第4図は、第3図の回路のような低電圧の供給例、例え
ば、57I−#ルトの供給電位の場合にバイアス電位v
6.−vB6を発生するだめの回路である。
この条件の場合、タラf92および93(第3図参照)
の基準電位は、それぞれ約2ボルトと約3ボルトである
。段24のN形の直列FETのバイアス電位は、2ポル
トの入力信号を加算コンデンサに伝達するために3デル
トよシも大きくなければならない。加算コンデンサを急
速に充電するためには、直列FETを過電圧でバイアス
する必要がある。
第4図の回路によって、グループI、 It、IVおよ
びVの各々の最も正側の段において2がルトの効の過電
圧は比例してより大きい。グループ■のFET 75E
 加Nコンデン、すをソース・ホロワ−・モート−1 1111,1 ドで(VB2−vT)すなわち4?ルトの最大電位まで
充電するとすれば、バイアス電圧vB2は供給電位vD
D1例えば、5デルトに等しいことが第4図の回路から
分る。従って、それぞれの加算コンデンサにおける最大
の電位振れは1デルトだけ制限される。同様に、■、5
は、グループ■のP形FETがソース・ホロワ−・モー
ドでそれぞれの加算コンデンサを(V、−VT)すなわ
ち1がルトになるまで放電するv88、例えば、0デル
トに直接接続される。従って、グループ■の各加算コン
デンサにおける最大の電位振れも1?ルトだけ減少する
。まだ、第4図の回路によって、それぞれ5がルトおよ
び0ボルトのバイアス電位VB5およびVB4が与えら
れる。しかしながら、グループ■のFETは並列の相補
形素子であるから、対応する加算コンデンサの最大電位
の振れにおける減少はない。このグループにおける基準
電位は2デルトから3がルトまで変わるから、回路の動
作可能な範囲で生ずる入力信号については、加算コンデ
ンサ電位の最(21) 第4図の回路によって発生されるバイアス電位vB1は
(vDD−vT)すなわち4がルトで、VB6は1′ゴ
ルトである。従って、グループ■の加算コンデンサにお
ける信号による最大の充電電位は(VB。
−VT)すなわち3yI?ルトであり、グループ■の加
算コンデンサにおける最小の放電電位は(V、6−vT
)すなわち2?ルトである。従って、グループ■および
■の加算コンデンサにおける最大の電位振れは2ボルト
だけ減少し、基準のはしご形抵抗回路の負荷が実質的に
減少したことになる。
バイアス電位発生器80は、それぞれ供給電位′vDD
およびv88に接続されたゲートを有し、並列接続され
た一対のN形FET 83およびP形FET 82に直
列接続されたダイオード接続のP形FET 81および
ダイオード接続のN形FET 84を含んでいる。電流
が直列接続されたFETを流れると、P形FET 81
およびN形FET 84の両方によって、それぞれのケ
゛−ト・ドレイン接続による約1デルトのドレイン・ソ
ース電位が発生される。FET 81のト9レイン88
の電位vB1は(VDD−vT)テあり、(22) FET8417)l’L/イン87の電位VB6は(”
88  ”T)であり、■DDが5デルトでVS2が接
地電位に等しい場合、それぞれ4ポルトおよび1ボルト
になる。
FET 82および83は線形にバイアスされるから、
過剰の供給電位はそれらのソース・ドレイン接続の間で
降下する。
バイアス回路80のFETおよび第3図のスイッチ回路
のFETを同一の集積回路で構成すると、N形およびP
形の閾値電圧を同じにすることができることに注目すべ
きである。また、それらは実質的に同一の温度環境にあ
るから、閾値電圧は温度変動に追随する。
さらに大きな供給電位の場合、ダイオード接続のFII
ETを第4図の回路に直列に追加することによって更に
広範囲のバイアス電位を発生することができる。閾値電
位が増加した場合のバイアス電圧は、ダイオード接続さ
れたFETのrレイン電極に′X 接続される。
また、バイアス電圧vB1−vB6は、供給電位間に接
続された簡単な抵抗分割器を使って発生することもでき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、6ビツトのフラッシュ形AD変換器のブロッ
ク図である。 第2図は、フラッシュ形AD変換器に使用される、FE
T回路で構成した比較回路の回路図である。 第3図は、コンデンサの電荷の変位の度合を制限するた
めに、信号入力伝送ケ゛〜トに直列に接続されたブロッ
キングFETを含んでいる比較器の伝送ダートの構成の
ブロック図の一部および回路図の一部である。 第4図は、第3図に示される回路において直列に接続さ
れたFETをバイアスするり、C,電位を発生するだめ
の回路図である。 15・・・比較回路、16・・・ラッチ回路、17・・
・アンド回路、18・・・プログラム可能な論理アレイ
、20・・・はしご形抵抗q、、:、38・・・加算コ
ンデンサ、45・・・相補形インバータ、47,48.
49・・・相補形トランジスタ・スイッチ、50.51
−58゜59・・・組合せスイッチ手段、6o・・・信
号入力端子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)各々の入力端子を有する複数個の比較器と、前記
    比較器の各入力端子にそれぞれ直列に接続される複数個
    のコンデンサと、 信号入力端子と、 漸増する複数個の基準電位と、 前記基準電位の各々または前記信号入力端子を。 交互に前記コンデンサの各々に直列に結合するだめの複
    数個の組合せスイッチ手段と、 前記コンデンサの各々における電位の最大変位を制限し
    、以て前記基準電位の負荷を減少させるための、前記入
    力端子と前記組合せスイッチ手段の各々との間にそれぞ
    れ結合された複数個の手段とを含んでいるフラッシュ形
    アナログ・ディジタル変換器@
JP58090130A 1982-05-24 1983-05-24 フラッシュ形アナログ・ディジタル変換器 Granted JPS58212222A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/381,732 US4507649A (en) 1982-05-24 1982-05-24 Flash A/D converter having reduced input loading
US381732 1982-05-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58212222A true JPS58212222A (ja) 1983-12-09
JPH045294B2 JPH045294B2 (ja) 1992-01-31

Family

ID=23506166

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58090130A Granted JPS58212222A (ja) 1982-05-24 1983-05-24 フラッシュ形アナログ・ディジタル変換器

Country Status (16)

Country Link
US (1) US4507649A (ja)
JP (1) JPS58212222A (ja)
KR (1) KR920000839B1 (ja)
AU (1) AU562623B2 (ja)
CA (1) CA1229171A (ja)
DE (1) DE3318537A1 (ja)
DK (1) DK228783A (ja)
ES (1) ES522479A0 (ja)
FI (1) FI81222C (ja)
FR (1) FR2527400B1 (ja)
GB (1) GB2120881B (ja)
IT (1) IT1171674B (ja)
NL (1) NL8301811A (ja)
NZ (1) NZ204322A (ja)
SE (1) SE452228B (ja)
ZA (1) ZA833700B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01296821A (ja) * 1988-03-10 1989-11-30 General Electric Co <Ge> 単一ラッチを有するフラッシュ型アナログ―ディジタル変換器用高速化装置
JP2010062995A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Yokogawa Electric Corp A/d変換器

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4602241A (en) * 1985-06-28 1986-07-22 Rca Corporation Input current saving apparatus for flash A/D converter
JPS62258521A (ja) * 1986-05-02 1987-11-11 Nec Corp A−d変換器
DE3784285T2 (de) * 1986-08-29 1993-07-22 Mitsubishi Electric Corp Integrierte komplementaere mos-schaltung.
JPS6382124A (ja) * 1986-09-26 1988-04-12 Toshiba Corp アナログスイツチ回路
JPS63125017A (ja) * 1986-11-14 1988-05-28 Mitsubishi Electric Corp 3ステ−ト付相補型mos集積回路
JPH01106517A (ja) * 1987-10-19 1989-04-24 Mitsubishi Electric Corp 比較回路
JPH07118656B2 (ja) * 1988-02-15 1995-12-18 三菱電機株式会社 エンコード回路
US4870418A (en) * 1988-03-03 1989-09-26 Linear Integrated Systems, Inc. Bipolar input circuit for CMOS flash analog to digital converter
JPH01305616A (ja) * 1988-06-02 1989-12-08 Toshiba Corp 半導体集積回路の出力回路
US4918449A (en) * 1989-02-13 1990-04-17 National Semiconductor Corporation Multistep flash analog to digital converter with voltage estimator
JPH03179920A (ja) * 1989-12-08 1991-08-05 Mitsubishi Electric Corp サンプルホールド回路装置
JP3103657B2 (ja) * 1992-03-23 2000-10-30 松下電器産業株式会社 電圧保持回路及び容量結合網を有するa/d変換器
JP3111424B2 (ja) * 1992-09-01 2000-11-20 株式会社鷹山 信号統合処理回路
KR100335117B1 (ko) * 1998-07-07 2002-07-18 박종섭 저전압용 아날로그/디지탈 변환기
US6177899B1 (en) 1998-07-29 2001-01-23 Etrend Electronics, Inc. Analog-to-digital converter having multiple reference voltage comparators and boundary voltage error correction
US7190298B2 (en) * 2002-05-24 2007-03-13 Broadcom Corporation Resistor ladder interpolation for subranging ADC
US7271755B2 (en) * 2002-05-24 2007-09-18 Broadcom Corporation Resistor ladder interpolation for PGA and DAC
JP2005266043A (ja) * 2004-03-17 2005-09-29 Hitachi Displays Ltd 画像表示パネルおよびレベルシフト回路
US7135890B2 (en) * 2004-04-19 2006-11-14 Super Talent Electronics, Inc. SCL type FPGA with multi-threshold transistors and method for forming same
US20060114140A1 (en) * 2004-11-29 2006-06-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Two step flash analog to digital converter

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB156810A (ja) *
GB874051A (en) * 1958-12-23 1961-08-02 Ass Elect Ind Improvements relating to analogue-to-digital converters
GB904625A (en) * 1959-01-30 1962-08-29 Standard Telephones Cables Ltd Improvements in or relating to electric pulse code modulation systems of communication
GB1216081A (en) * 1967-06-22 1970-12-16 Nat Res Dev Electronic logic element
US3676702A (en) * 1971-01-04 1972-07-11 Rca Corp Comparator circuit
GB2082410B (en) * 1980-08-23 1984-08-30 Plessey Co Ltd Analogue-to-digital converter

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01296821A (ja) * 1988-03-10 1989-11-30 General Electric Co <Ge> 単一ラッチを有するフラッシュ型アナログ―ディジタル変換器用高速化装置
JP2010062995A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Yokogawa Electric Corp A/d変換器

Also Published As

Publication number Publication date
SE8302762L (sv) 1983-11-25
FR2527400A1 (fr) 1983-11-25
GB8312347D0 (en) 1983-06-08
AU1461883A (en) 1983-12-01
ES8404586A1 (es) 1984-04-16
DE3318537A1 (de) 1983-11-24
GB2120881B (en) 1986-02-05
CA1229171A (en) 1987-11-10
ZA833700B (en) 1984-07-25
IT1171674B (it) 1987-06-10
JPH045294B2 (ja) 1992-01-31
AU562623B2 (en) 1987-06-18
DE3318537C2 (ja) 1991-11-21
NZ204322A (en) 1986-03-14
FI81222C (fi) 1990-09-10
FI831729L (fi) 1983-11-25
IT8321141A1 (it) 1984-11-17
FI81222B (fi) 1990-05-31
GB2120881A (en) 1983-12-07
DK228783D0 (da) 1983-05-20
NL8301811A (nl) 1983-12-16
FR2527400B1 (fr) 1989-08-18
KR920000839B1 (ko) 1992-01-30
SE8302762D0 (sv) 1983-05-17
FI831729A0 (fi) 1983-05-17
ES522479A0 (es) 1984-04-16
IT8321141A0 (it) 1983-05-17
SE452228B (sv) 1987-11-16
KR840004992A (ko) 1984-10-31
DK228783A (da) 1983-11-25
US4507649A (en) 1985-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58212222A (ja) フラッシュ形アナログ・ディジタル変換器
US6774831B2 (en) Analog switch circuit
US8836375B2 (en) Continuously self-calibrated latched comparator
EP0101571A1 (en) Differential voltage amplifier
CN108989951B (zh) 用于扬声器电流感测的地开关
KR102549745B1 (ko) 전압 비교기, 이의 전압 비교 방법, 그리고 이의 리셋 방법
JP3037972B2 (ja) 高速自動ゼロ比較器
US9438262B1 (en) Method for testing differential analog-to-digital converter and system therefor
US6972706B2 (en) Current folding cell and circuit comprising at least one folding cell
KR930007720B1 (ko) 플래시 a/d변환기
JPH0346918B2 (ja)
US8710896B2 (en) Sampling switch circuit that uses correlated level shifting
JP2001320250A (ja) オフセット補正回路、オフセット補正電圧生成回路、および積算回路
US6281831B1 (en) Analog to digital converter
CN108736849B (zh) 低偏移电流感测放大器
JPS62258521A (ja) A−d変換器
US10916321B2 (en) Circuit with capacitors and corresponding method
US20170229955A1 (en) Capacitor strings and application thereof to precision analog performance without precision parts
US11611341B2 (en) Sampling circuit and sampling method
JP6215398B1 (ja) スイッチドキャパシタ回路及びad変換装置
KR20150072972A (ko) 타이밍 켈리브레이션을 이용한 인터폴레이션을 위한 아날로그 디지털 변환기
CN117639785A (zh) 栅压自举采样保持电路
JPS6037831A (ja) D/a変換回路及びこれを用いた積分回路
JPS6327114A (ja) スイツチ制御回路
JPH01185017A (ja) コンパレータ