JPS58199548A - リ−ドフレ−ム - Google Patents
リ−ドフレ−ムInfo
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- JPS58199548A JPS58199548A JP57081441A JP8144182A JPS58199548A JP S58199548 A JPS58199548 A JP S58199548A JP 57081441 A JP57081441 A JP 57081441A JP 8144182 A JP8144182 A JP 8144182A JP S58199548 A JPS58199548 A JP S58199548A
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- JP
- Japan
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- tab
- resin
- lead frame
- package
- lead
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49503—Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
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- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/181—Encapsulation
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレジンモールド型パッケージを有する半導体装
置に使用するリードフレームに関するものである。
置に使用するリードフレームに関するものである。
一般に、この種の半導体装置の製造に用いられるリード
フレームは、第1図に示すように、そりリードフレーム
1のほぼ中央部に半導体ペレット3を取り付けるための
タブ2を有し、ペレット取付後に該半導体ペレット3の
ポンディングパッドをリードフレーム1のインナーリー
ド部4とワイヤ5でボンディング接続し、アウターリー
ド部(外部リード端子)6に導通させている。その後、
リードフレーム1のタブ2、インナーリード部4および
半導体ペビット3等はレジンモールド型パッケージ7で
封止される。
フレームは、第1図に示すように、そりリードフレーム
1のほぼ中央部に半導体ペレット3を取り付けるための
タブ2を有し、ペレット取付後に該半導体ペレット3の
ポンディングパッドをリードフレーム1のインナーリー
ド部4とワイヤ5でボンディング接続し、アウターリー
ド部(外部リード端子)6に導通させている。その後、
リードフレーム1のタブ2、インナーリード部4および
半導体ペビット3等はレジンモールド型パッケージ7で
封止される。
このようなレジンモールド型パッケージ7を有する半導
体装置、特に大容量MOSメモリの如き半導体装置では
、タブ20寸法、とりわけ長手方向すなわちタブ吊り用
リード8の方向への寸法J(第2図)がかなり長いもの
となる。したがって、。
体装置、特に大容量MOSメモリの如き半導体装置では
、タブ20寸法、とりわけ長手方向すなわちタブ吊り用
リード8の方向への寸法J(第2図)がかなり長いもの
となる。したがって、。
このリードフレームを用いた半導体装置の場合において
は、レジンモールド型パッケージ7に対シて温度ストレ
スが繰返し加わった場合、リードフレーム1のタブ2の
材料たとえば42アロイとパッケージ7のレジンとの間
の熱膨張差圧起因して、該タブ2の端部で歪応力が最大
となり、第1図に示すようにレジンクラック9が発生す
るおそれがある。このようなレジンクラック9の発生原
因は、タブ2とパッケージ7との界面の接着強度が弱い
ため、タブ2とパッケージ7との熱膨張差による歪応力
に耐えられず、特にタブ2の端部でその傾向が顕著にな
ることにあると考えら5れる。
は、レジンモールド型パッケージ7に対シて温度ストレ
スが繰返し加わった場合、リードフレーム1のタブ2の
材料たとえば42アロイとパッケージ7のレジンとの間
の熱膨張差圧起因して、該タブ2の端部で歪応力が最大
となり、第1図に示すようにレジンクラック9が発生す
るおそれがある。このようなレジンクラック9の発生原
因は、タブ2とパッケージ7との界面の接着強度が弱い
ため、タブ2とパッケージ7との熱膨張差による歪応力
に耐えられず、特にタブ2の端部でその傾向が顕著にな
ることにあると考えら5れる。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、耐温
度ストレス性を向上させ、レジンクラックの発生を防止
することのできるリードフレームを提供することにある
。
度ストレス性を向上させ、レジンクラックの発生を防止
することのできるリードフレームを提供することにある
。
この目的を達成するため、本発明は、リードフレームの
タブの裏面を凹凸形状に形成し、タブとレジンとの接着
強度を増大させることを特徴とするものである。
タブの裏面を凹凸形状に形成し、タブとレジンとの接着
強度を増大させることを特徴とするものである。
以下、本発明を図面に示す実施例にしたがって詳細に説
明する。
明する。
第3図(Alと(均はそれぞれ本発明によるリードフレ
ームの一実施例を示すタブの部分裏面図と正面図である
。
ームの一実施例を示すタブの部分裏面図と正面図である
。
この実施例においては、リードフレームのタブ2の裏面
には、該タブ2の長手方向に対して横断方向に溝10A
が形成され、タブ2の裏面は第3図(Blから明らかな
ように凹凸面状になっている。
には、該タブ2の長手方向に対して横断方向に溝10A
が形成され、タブ2の裏面は第3図(Blから明らかな
ように凹凸面状になっている。
これらの溝10Aは、このリードフレームを第1図に示
す如くレジンモールドしたときにレジンモールド型パッ
ケージ7のレジンとタブ2との界面の接着強度を大きく
し、耐温度ストレス性を向上させるために形成されたも
のである。
す如くレジンモールドしたときにレジンモールド型パッ
ケージ7のレジンとタブ2との界面の接着強度を大きく
し、耐温度ストレス性を向上させるために形成されたも
のである。
すなわち、本実施例によれば、リードフレーム1のタブ
2がレジンモールド型パッケージ7内に封入された時、
パッケージ7のレジンがタブ2の溝10Aの中に入り込
むので、レジンとタブ2との接着面積が大きくなり、レ
ジンの硬化後にはパッケージ7のレジンとタブ2の溝1
0Aとが互いに強固に結合し合い、レジンとタブ2との
接着強度は大巾に増大する。
2がレジンモールド型パッケージ7内に封入された時、
パッケージ7のレジンがタブ2の溝10Aの中に入り込
むので、レジンとタブ2との接着面積が大きくなり、レ
ジンの硬化後にはパッケージ7のレジンとタブ2の溝1
0Aとが互いに強固に結合し合い、レジンとタブ2との
接着強度は大巾に増大する。
その結果、半導体装置がレジン刺止後に繰返し温度スト
レスを受けても、タブ2の端部におけるパッケージ7の
レジンクラックの発生は防止されるので、品質向上によ
り信頼性が向上する。
レスを受けても、タブ2の端部におけるパッケージ7の
レジンクラックの発生は防止されるので、品質向上によ
り信頼性が向上する。
第4図(Alと(B)はそれぞれ本発明によるリードフ
レームの他の1つの実施例を示すタブの部分裏面図とそ
の正面図である。
レームの他の1つの実施例を示すタブの部分裏面図とそ
の正面図である。
本実施例の場合、リードフレー間のタブ2の農、111
″11 面には、第3図におけるタブ2の横断方向への溝10A
の他に、該タブ2の長手方向への溝10Bが互いKil
交するよう形成されている。
″11 面には、第3図におけるタブ2の横断方向への溝10A
の他に、該タブ2の長手方向への溝10Bが互いKil
交するよう形成されている。
したがって、本実施例では、溝10AとIOBとの存在
により、タブ2とレジンとの接着面積はさらに増大し、
タブ2とパッケージ7のレジンとの接着強度は非常に大
きくなる。
により、タブ2とレジンとの接着面積はさらに増大し、
タブ2とパッケージ7のレジンとの接着強度は非常に大
きくなる。
その結果、タブ2とパッケージ7のレジンとの熱膨張差
による歪応力が加わっても、タブ2め端部におけるパッ
ケージ7にレジンクラックが発生することは防止される
。
による歪応力が加わっても、タブ2め端部におけるパッ
ケージ7にレジンクラックが発生することは防止される
。
なお、溝10A、IOBの如き角形断面の溝以外に、ギ
ザギザ状(鋸歯状)の溝による凹凸面をタブ2の裏面に
形成してもよく、また溝ではなくて穴や突起で凹凸面を
形成すること等も可能である。
ザギザ状(鋸歯状)の溝による凹凸面をタブ2の裏面に
形成してもよく、また溝ではなくて穴や突起で凹凸面を
形成すること等も可能である。
以上説明したように、本発明によれば、リードフレーム
のタブとパッケージのレジンとの接着強度を増大させ、
耐温度ストレス性を向上させることができ、パッケージ
のレジンクランクの発生を防止することが可能となる。
のタブとパッケージのレジンとの接着強度を増大させ、
耐温度ストレス性を向上させることができ、パッケージ
のレジンクランクの発生を防止することが可能となる。
第1図は本発明を適用できるレジンモールド型半導体装
置の断面図、 第2図は従来のリードフレームのタブの部分平面図、 第31!9(Alと(Blはそれぞれ本発明によるリー
ドフレームの一実施例のタブの部分真面図とその正面図
、 第4図(A)と(Blはそれぞれ本発明の他の1つの実
施例におけるタブの部分裏面図とその正面図である。 1・・・リードフレーム、2・・・タブ、3・・・半導
体ペレット、4・・・インナーリード都、5・・・ワイ
ヤ、6・・・アウターリード部、7・・・Cジンモール
ド型パッケージ、8・・・タブ吊り用リード、9・・・
レジンクラック、IOA、IOB・・・溝。
置の断面図、 第2図は従来のリードフレームのタブの部分平面図、 第31!9(Alと(Blはそれぞれ本発明によるリー
ドフレームの一実施例のタブの部分真面図とその正面図
、 第4図(A)と(Blはそれぞれ本発明の他の1つの実
施例におけるタブの部分裏面図とその正面図である。 1・・・リードフレーム、2・・・タブ、3・・・半導
体ペレット、4・・・インナーリード都、5・・・ワイ
ヤ、6・・・アウターリード部、7・・・Cジンモール
ド型パッケージ、8・・・タブ吊り用リード、9・・・
レジンクラック、IOA、IOB・・・溝。
Claims (1)
- レジンモールド酒パッケージを有する半導体装置に用り
るリードフレームにおいて、タブの裏面を凹凸形状に形
成したことを特徴とするリードフレーム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57081441A JPS58199548A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | リ−ドフレ−ム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57081441A JPS58199548A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | リ−ドフレ−ム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58199548A true JPS58199548A (ja) | 1983-11-19 |
Family
ID=13746477
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57081441A Pending JPS58199548A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | リ−ドフレ−ム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58199548A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0146330A2 (en) * | 1983-12-12 | 1985-06-26 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit device with textured bar pad |
JPS60133736A (ja) * | 1983-12-21 | 1985-07-16 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JPS6280342U (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-22 | ||
JPH01251748A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置用リードフレーム |
EP0771029A3 (en) * | 1995-10-24 | 1997-07-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device with improved structure to avoid cracks and manufacturing process |
-
1982
- 1982-05-17 JP JP57081441A patent/JPS58199548A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0146330A2 (en) * | 1983-12-12 | 1985-06-26 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit device with textured bar pad |
JPS60186044A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-09-21 | テキサス インスツルメンツ インコ−ポレイテツド | 集積回路装置 |
JPS60133736A (ja) * | 1983-12-21 | 1985-07-16 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JPS6280342U (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-22 | ||
JPH01251748A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置用リードフレーム |
EP0771029A3 (en) * | 1995-10-24 | 1997-07-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device with improved structure to avoid cracks and manufacturing process |
US5864174A (en) * | 1995-10-24 | 1999-01-26 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having a die pad structure for preventing cracks in a molding resin |
US6177725B1 (en) | 1995-10-24 | 2001-01-23 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small-sized semiconductor and method of manufacturing the same |
US6459145B1 (en) | 1995-10-24 | 2002-10-01 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, and improved small-sized semiconductor |
US6569755B2 (en) | 1995-10-24 | 2003-05-27 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small sized semiconductor and method of manufacturing the same |
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