JPS58165345A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS58165345A JPS58165345A JP4863582A JP4863582A JPS58165345A JP S58165345 A JPS58165345 A JP S58165345A JP 4863582 A JP4863582 A JP 4863582A JP 4863582 A JP4863582 A JP 4863582A JP S58165345 A JPS58165345 A JP S58165345A
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- Japan
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- circuit
- gate
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- gates
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/10—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
- H01L27/118—Masterslice integrated circuits
- H01L27/11801—Masterslice integrated circuits using bipolar technology
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、ゲートアレ一方式の半導体装置に関し、特に
リファレンス回路の消費電力を最適化しようとするもの
である。
リファレンス回路の消費電力を最適化しようとするもの
である。
技術の背景
半導体装置の集積度向上に伴なう１つの課題は消費電力
の節減である。従来の消費電力対策は、例えばＥＣＬ
（エミッタ結合型ロジック）回路であればゲート側の消
費電力を如何に低減するかに重点が置かれている。しか
し、同チップ内には周辺回路等もあり、これらの消費電
力を節減すればその効果は一層蒙・著となる。
の節減である。従来の消費電力対策は、例えばＥＣＬ
（エミッタ結合型ロジック）回路であればゲート側の消
費電力を如何に低減するかに重点が置かれている。しか
し、同チップ内には周辺回路等もあり、これらの消費電
力を節減すればその効果は一層蒙・著となる。
従来技術と問題点
ＥＣＬ型またはＣＭＬ （カレントモードロジック）型
ゲートアレーには、電流容量、出力回路形成などが興な
る種々のゲートが含まれる。第１図はこの一例で、（ａ
）は外部出力用ゲート、（ｂ）および（Ｃ１は出力回路
形式の興なる内部ゲートである。Ｑａ、Ｑｂはエミッタ
を結合したレベル比較用のトランジスタ、Ｒａ、Ｒｂは
そのコレクタ側の負荷抵抗、Ｒｃはエミッタ側の共通負
荷抵抗、Ｑｃ、Ｑｄは出力段のトランジスタ、Ｒｄ、Ｒ
ｅはそのエミッタ側の負荷抵抗である。（ａ）の外部出
力用ゲートには抵抗Ｒｄ、Ｒｅはなく、且つ抵抗Ｒｃを
小さくして大電流ＩＬが流れるようにしである。伽）の
内部ゲートは抵抗Ｒｃが大で小電流１ｐに制限されてい
る。（Ｃ）の内部ゲートも小電流Ｉｓであるが、出力用
のトランジスタＱｃ、Ｑｄが省略され出力電位及び駆動
能力などが異なる。
ゲートアレーには、電流容量、出力回路形成などが興な
る種々のゲートが含まれる。第１図はこの一例で、（ａ
）は外部出力用ゲート、（ｂ）および（Ｃ１は出力回路
形式の興なる内部ゲートである。Ｑａ、Ｑｂはエミッタ
を結合したレベル比較用のトランジスタ、Ｒａ、Ｒｂは
そのコレクタ側の負荷抵抗、Ｒｃはエミッタ側の共通負
荷抵抗、Ｑｃ、Ｑｄは出力段のトランジスタ、Ｒｄ、Ｒ
ｅはそのエミッタ側の負荷抵抗である。（ａ）の外部出
力用ゲートには抵抗Ｒｄ、Ｒｅはなく、且つ抵抗Ｒｃを
小さくして大電流ＩＬが流れるようにしである。伽）の
内部ゲートは抵抗Ｒｃが大で小電流１ｐに制限されてい
る。（Ｃ）の内部ゲートも小電流Ｉｓであるが、出力用
のトランジスタＱｃ、Ｑｄが省略され出力電位及び駆動
能力などが異なる。
いずれのゲートも入力ＩＮに対し逆相及び同相の出力０
ＵＴＩ、０ＵＴ２が得られるが、この例の様にＥＣＬ型
とＣＭＬ型回路とにおいては基準電位Ｘ ａ ｗ Ｘ
ｃを与えるリファレンス回路が必要である。
ＵＴＩ、０ＵＴ２が得られるが、この例の様にＥＣＬ型
とＣＭＬ型回路とにおいては基準電位Ｘ ａ ｗ Ｘ
ｃを与えるリファレンス回路が必要である。
ところでこのリファレンス回路から見れば（Ｊｌ）のゲ
ートは重い負荷であるのに対し、山）および（Ｃ）のゲ
ートは軽い負荷である。従って（ｂｌのゲート（ａ）と
同じ回路形式のリファレンス回路で駆動すれば無駄に電
力を消費することになる。また負荷としては同じ重さで
も基準電位Ｘｂ、Ｘｃが異なればそれらのゲートを同じ
リファレンス回路で駆動することはできない。しかし配
線マスクスライスのゲートアレイなどでは予め幾つかの
ゲート毎に一定１、・・ のりファレンス回路が・配置されており、使用ゲーい トの種類とは無関係に竺リファレンス回路から基準電位
の供給を受けるので、小電力用ゲートな゛どではリファ
レンス回路が過大容量のものとなり、低電力化に副わな
い。
ートは重い負荷であるのに対し、山）および（Ｃ）のゲ
ートは軽い負荷である。従って（ｂｌのゲート（ａ）と
同じ回路形式のリファレンス回路で駆動すれば無駄に電
力を消費することになる。また負荷としては同じ重さで
も基準電位Ｘｂ、Ｘｃが異なればそれらのゲートを同じ
リファレンス回路で駆動することはできない。しかし配
線マスクスライスのゲートアレイなどでは予め幾つかの
ゲート毎に一定１、・・ のりファレンス回路が・配置されており、使用ゲーい トの種類とは無関係に竺リファレンス回路から基準電位
の供給を受けるので、小電力用ゲートな゛どではリファ
レンス回路が過大容量のものとなり、低電力化に副わな
い。
発明の目的
本発明は、回路形式の設定の自由度が大きく、且つ消費
電力の最適化が図れるリファレンス回路を備えたゲート
アレイ方式の半導体装置を提供するものである。
電力の最適化が図れるリファレンス回路を備えたゲート
アレイ方式の半導体装置を提供するものである。
発明の構成
本発明は、１もしくは複数のゲートと１つのリファレン
ス回路を１セントとし、該セントを１チツプ中に多数段
けてなるゲートアレ一方式の半導体装置において、全て
のリファレンス回路は予め形成された複数の抵抗および
複数のトランジスタを含む同種の素子群を備え、そして
各リファレンス回路は同一セソ内のゲートの種類に応じ
て該複数の素子を選択的に採用しそれらを結線して形成
されてなること゛ｉ特徹とするものであるが、以下図示
の実施例を、−照しながらこれを詳細に説明する。
′１〒 ＼ 発明の実施例 第２図は本発明の実施例を示す要部構成図で、リファレ
ンス回路１０の初期素子配置を示すものである。本例で
は４個のトランジスタＱ１〜Ｑ４と６個の抵抗Ｒ１〜Ｒ
６を予め半導体基板に形成しておき、それらの間を選択
的に接続して（配線マスクスライス方式）第３図のよう
な各種のリファレンス回路を構成しようとするものであ
る。第３図（ａｌのリファレンス回路は（ｂｌのリファ
レンス回路を２個重ね合わせた高速、重負荷のゲート用
である。（ｂｌは同じく高速用であるが、軽負荷のゲー
ト用である。（ｂ）の回路は抵抗Ｒ＋の電圧降下、トラ
ンジスタＱ１のＶ［ＳＥ （ベース、エミッタ間電圧）
、および抵抗Ｒ３の電圧降下の３者で電源電圧■を分割
した値を出力（基準電位）Ｘ２とするので、例えばゲー
ト側の入力ＩＮが−０，８Ｖ〜−１゜６ｖの振幅を有す
るとすればＸ２を−１，２ｖ程度に設定する。このため
にはＶＢ！ ＝ ０． Ｔ Ｖとすれば抵抗Ｒ１の電圧
降下を０．５ｖとし、残りの電圧（ＶＥＥ−１，２）Ｖ
は抵抗Ｒ３に負担させる０例えば高電位側電源がＧＮＤ
で、低電位側ＶＥＥが一５ｖであれば抵抗Ｒ３で３．８
Ｖの電圧降下を生じさせる。この回路のトランジスタＱ
３は出力Ｘ２を安定化する負帰還用であるから、高速レ
スポンスを要求される場合に適している。ｌａ）の回路
はこれを併設したものであるから、出力Ｘ＋が大電流と
なり重負荷の駆動に適している。（Ｃ）のリファレンス
回路はトランジスタＱ＋をダイオード接続して用いるも
のであるから、出力Ｘ３は山）のＸ２と同じでもトラン
ジスタＱ３がないために安定性は悪く、低速レスポンス
用として用いる。回路形式は最も簡単であり、低消費電
力である。（ｄ）の回路も低速レスポンスであるが、ト
ランジスタＱ＋に同じくダイオード接続されたトランジ
スタＱ３を併設しているので電流容量が大き（、また出
力Ｘ４の電位をＸ３より僅かに高く設定できる。（ｅ）
の回路は山）の回路の抵抗Ｒ３と電源ＶＦＥとの間にダ
イオード接続されＭｙランジスタＱ２を挿入したので、
電１１ＶＥＥが多少変動しても出方Ｘ５を安定化できる
。
ス回路を１セントとし、該セントを１チツプ中に多数段
けてなるゲートアレ一方式の半導体装置において、全て
のリファレンス回路は予め形成された複数の抵抗および
複数のトランジスタを含む同種の素子群を備え、そして
各リファレンス回路は同一セソ内のゲートの種類に応じ
て該複数の素子を選択的に採用しそれらを結線して形成
されてなること゛ｉ特徹とするものであるが、以下図示
の実施例を、−照しながらこれを詳細に説明する。
′１〒 ＼ 発明の実施例 第２図は本発明の実施例を示す要部構成図で、リファレ
ンス回路１０の初期素子配置を示すものである。本例で
は４個のトランジスタＱ１〜Ｑ４と６個の抵抗Ｒ１〜Ｒ
６を予め半導体基板に形成しておき、それらの間を選択
的に接続して（配線マスクスライス方式）第３図のよう
な各種のリファレンス回路を構成しようとするものであ
る。第３図（ａｌのリファレンス回路は（ｂｌのリファ
レンス回路を２個重ね合わせた高速、重負荷のゲート用
である。（ｂｌは同じく高速用であるが、軽負荷のゲー
ト用である。（ｂ）の回路は抵抗Ｒ＋の電圧降下、トラ
ンジスタＱ１のＶ［ＳＥ （ベース、エミッタ間電圧）
、および抵抗Ｒ３の電圧降下の３者で電源電圧■を分割
した値を出力（基準電位）Ｘ２とするので、例えばゲー
ト側の入力ＩＮが−０，８Ｖ〜−１゜６ｖの振幅を有す
るとすればＸ２を−１，２ｖ程度に設定する。このため
にはＶＢ！ ＝ ０． Ｔ Ｖとすれば抵抗Ｒ１の電圧
降下を０．５ｖとし、残りの電圧（ＶＥＥ−１，２）Ｖ
は抵抗Ｒ３に負担させる０例えば高電位側電源がＧＮＤ
で、低電位側ＶＥＥが一５ｖであれば抵抗Ｒ３で３．８
Ｖの電圧降下を生じさせる。この回路のトランジスタＱ
３は出力Ｘ２を安定化する負帰還用であるから、高速レ
スポンスを要求される場合に適している。ｌａ）の回路
はこれを併設したものであるから、出力Ｘ＋が大電流と
なり重負荷の駆動に適している。（Ｃ）のリファレンス
回路はトランジスタＱ＋をダイオード接続して用いるも
のであるから、出力Ｘ３は山）のＸ２と同じでもトラン
ジスタＱ３がないために安定性は悪く、低速レスポンス
用として用いる。回路形式は最も簡単であり、低消費電
力である。（ｄ）の回路も低速レスポンスであるが、ト
ランジスタＱ＋に同じくダイオード接続されたトランジ
スタＱ３を併設しているので電流容量が大き（、また出
力Ｘ４の電位をＸ３より僅かに高く設定できる。（ｅ）
の回路は山）の回路の抵抗Ｒ３と電源ＶＦＥとの間にダ
イオード接続されＭｙランジスタＱ２を挿入したので、
電１１ＶＥＥが多少変動しても出方Ｘ５を安定化できる
。
第２図のリファレンス回−１０は１もしくは複数のゲー
トに１つの割合いで設けられる。第４図は同一種類の４
個のゲート２１〜２４に１個のリファレンス回路１０を
割当てた例で、１チツプ内にはこの様なセット３０が多
数配列される。そして各セット３０内ではゲー）２１〜
２４の形式に応じてそのリファレンス回路１０を所望と
する回路形式に結線し、配線に各ゲートへ基準電位を供
給する。回路形式の選択条件には前述したように■負荷
の重さと■基準電位の違いが挙げられるが、この他にも
■電源電圧、■要求される特性、■消費電力がある。■
の電源電圧はこれが変更されたとき、または同一チップ
で２以上の電源を用いる場合に選択する。■は応答性或
いは安定性等で、レスポンスに関しては第３図（ａ）
（ｂ）の高速型または（Ｃ１ｌｄｌの低速型が選択され
る。また安定性については第３図（１１１）のダイオー
ドＱ２追加のものなどを選択する。■の消費電力ば要求
される特性を満足ｉ″１゜ する上で最も電力消費の少、存い回路形式を選択すると
いう。と、あ、。 ′−：。
トに１つの割合いで設けられる。第４図は同一種類の４
個のゲート２１〜２４に１個のリファレンス回路１０を
割当てた例で、１チツプ内にはこの様なセット３０が多
数配列される。そして各セット３０内ではゲー）２１〜
２４の形式に応じてそのリファレンス回路１０を所望と
する回路形式に結線し、配線に各ゲートへ基準電位を供
給する。回路形式の選択条件には前述したように■負荷
の重さと■基準電位の違いが挙げられるが、この他にも
■電源電圧、■要求される特性、■消費電力がある。■
の電源電圧はこれが変更されたとき、または同一チップ
で２以上の電源を用いる場合に選択する。■は応答性或
いは安定性等で、レスポンスに関しては第３図（ａ）
（ｂ）の高速型または（Ｃ１ｌｄｌの低速型が選択され
る。また安定性については第３図（１１１）のダイオー
ドＱ２追加のものなどを選択する。■の消費電力ば要求
される特性を満足ｉ″１゜ する上で最も電力消費の少、存い回路形式を選択すると
いう。と、あ、。 ′−：。
発明の効果
以上述べたように本発明によれば、ゲートアレイ方式の
半導体装置におけるリファレンス回路の段重の自由度を
増し、且つ消費電力の最適化が図れる利点がある。
半導体装置におけるリファレンス回路の段重の自由度を
増し、且つ消費電力の最適化が図れる利点がある。
第１図はＥＣ，Ｌ型ゲートの各側を示す回路図、第２図
〜第４図は本発明の一実施例を示す説明図で、第２図は
リファレンス回路の初期素子配置を示す説明図、第３図
は各種のリファレンス回路の結線例を示す回路図、第４
図はゲートアレ〜における１セツトのリファレンス回路
とゲートの説明図である。 図中、１０はリファレンス回路、Ｑ＋〜Ｑ ａ 。 Ｒ１へＲ６はその構成素子、２１〜２４はゲート、３０
はセットである。 、１．： 出願人：、：富士通株式会社 代理人弁理士 □青 柳 稔 第２図
〜第４図は本発明の一実施例を示す説明図で、第２図は
リファレンス回路の初期素子配置を示す説明図、第３図
は各種のリファレンス回路の結線例を示す回路図、第４
図はゲートアレ〜における１セツトのリファレンス回路
とゲートの説明図である。 図中、１０はリファレンス回路、Ｑ＋〜Ｑ ａ 。 Ｒ１へＲ６はその構成素子、２１〜２４はゲート、３０
はセットである。 、１．： 出願人：、：富士通株式会社 代理人弁理士 □青 柳 稔 第２図
Claims (1)
- ｌもしくは複数のゲートと１つのリファレンス回路を１
セツトとし、該セントを１チツプ中に多数設けてなるゲ
ートアレ一方式の半導体装置において、全てのリファレ
ンス回路は予め形成された複数の抵抗および複数のトラ
ンジスタを含む同種の素子群を備え、そして各リファレ
ンス回路は同一セント内のゲートの種類に応じて該複数
の素子を選択的に採用しそれらを結線して形成されてな
ることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4863582A JPS58165345A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4863582A JPS58165345A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58165345A true JPS58165345A (ja) | 1983-09-30 |
| JPH0556023B2 JPH0556023B2 (ja) | 1993-08-18 |
Family
ID=12808825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4863582A Granted JPS58165345A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58165345A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5493376A (en) * | 1977-12-30 | 1979-07-24 | Fujitsu Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
| JPS5833852A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | 大規模半導体集積回路装置 |
-
1982
- 1982-03-26 JP JP4863582A patent/JPS58165345A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5493376A (en) * | 1977-12-30 | 1979-07-24 | Fujitsu Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
| JPS5833852A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | 大規模半導体集積回路装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0556023B2 (ja) | 1993-08-18 |
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