JPS58148456A - 信号検出回路 - Google Patents
信号検出回路Info
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- JPS58148456A JPS58148456A JP3271582A JP3271582A JPS58148456A JP S58148456 A JPS58148456 A JP S58148456A JP 3271582 A JP3271582 A JP 3271582A JP 3271582 A JP3271582 A JP 3271582A JP S58148456 A JPS58148456 A JP S58148456A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 35
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 15
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76816—Output structures
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は信号検出回路に関するもので、出力のトランジ
スタ回路がエミッタフォロワ又はソースフォロワであっ
て、そのベース電圧又はゲート電圧が所定のコレクタ電
圧又はドレイン電圧より高い状態においても特別な電源
を用いずに信号電圧をすべて検出できる信号検出回路に
関するものである。
スタ回路がエミッタフォロワ又はソースフォロワであっ
て、そのベース電圧又はゲート電圧が所定のコレクタ電
圧又はドレイン電圧より高い状態においても特別な電源
を用いずに信号電圧をすべて検出できる信号検出回路に
関するものである。
従来のNチャネルMO8型BBDの検出回路は、周知の
ように、信号電荷蓄積用コンデンサによって、半導体の
所定接合部に蓄えられた信号電圧をソースフォロワで外
部に検出する構造のものが一般的である。具体的な構造
は第1図に示すように、クロック信号部φ1に接続され
た電荷蓄積用コンデンサの結合ダイオード部N1が信号
検出用トランジスタQ2のゲート電極に接続され、同ト
ランジスタQ1のドレイン電極が回路駆動電圧vDDの
電源端子に接続され、同トランジスタQ1のソース電極
が抵抗Rを介して接地されることにより、このトランジ
スタQ1のソース電極より信号電圧を検出するようにな
っている。トランジスタQ2はBBD信号出力部の電荷
蓄積用コンデンサの結合ダイオード部N1の信号電圧リ
セット用トランジスタである。そして通常、単一電源の
場合は、BBDのMOSゲートに印加されるクロック信
号のハイレベルと回路駆動用電源vDDの電圧は等しい
値である。
ように、信号電荷蓄積用コンデンサによって、半導体の
所定接合部に蓄えられた信号電圧をソースフォロワで外
部に検出する構造のものが一般的である。具体的な構造
は第1図に示すように、クロック信号部φ1に接続され
た電荷蓄積用コンデンサの結合ダイオード部N1が信号
検出用トランジスタQ2のゲート電極に接続され、同ト
ランジスタQ1のドレイン電極が回路駆動電圧vDDの
電源端子に接続され、同トランジスタQ1のソース電極
が抵抗Rを介して接地されることにより、このトランジ
スタQ1のソース電極より信号電圧を検出するようにな
っている。トランジスタQ2はBBD信号出力部の電荷
蓄積用コンデンサの結合ダイオード部N1の信号電圧リ
セット用トランジスタである。そして通常、単一電源の
場合は、BBDのMOSゲートに印加されるクロック信
号のハイレベルと回路駆動用電源vDDの電圧は等しい
値である。
しかるに、NチャネルMO3型BBDの動作では、電荷
蓄積用コンデンサによって転送され、半導体側の所定ダ
イオード部に誘発された信号電圧は以下に説明するよう
にクロックハイレベルより高い電圧になシ、信号電圧検
出用トランジスタのゲート容量が電荷蓄積用コンデンサ
の容量よりはるかに小さい時には、信号電圧検出用トラ
ンジスタのゲート電圧は上記トランジスタのドレイン電
圧よりはるかに高い電圧となり、信号電圧の一部分が信
号電圧検出用トランジスタによって検出できないことに
なる。
蓄積用コンデンサによって転送され、半導体側の所定ダ
イオード部に誘発された信号電圧は以下に説明するよう
にクロックハイレベルより高い電圧になシ、信号電圧検
出用トランジスタのゲート容量が電荷蓄積用コンデンサ
の容量よりはるかに小さい時には、信号電圧検出用トラ
ンジスタのゲート電圧は上記トランジスタのドレイン電
圧よりはるかに高い電圧となり、信号電圧の一部分が信
号電圧検出用トランジスタによって検出できないことに
なる。
NチャネルMO8型BBDはMOSトランジスタとその
MOSゲートをゲート酸化膜を介してドレイン領域上に
延長して形成された電荷蓄積用コンデンサとの一対より
成り立ち、それらが従属接続されている。そして、それ
らが互いに逆位相関係の2相のクロックφ1とφ2によ
って順次に駆動されている。
MOSゲートをゲート酸化膜を介してドレイン領域上に
延長して形成された電荷蓄積用コンデンサとの一対より
成り立ち、それらが従属接続されている。そして、それ
らが互いに逆位相関係の2相のクロックφ1とφ2によ
って順次に駆動されている。
定常動作機構は第2図に示すように、φ1=φ2=0で
ある蓄積モードと、第3図に示すように、φ1=o、φ
2=vcPH又はφ1#vcPH1φ2=0である転送
モードがある。第3図より明らか圧である。ここで、C
bは電荷蓄積用コンデンサの容量、C,は浮遊容量、v
Tはしきい値電圧である。
ある蓄積モードと、第3図に示すように、φ1=o、φ
2=vcPH又はφ1#vcPH1φ2=0である転送
モードがある。第3図より明らか圧である。ここで、C
bは電荷蓄積用コンデンサの容量、C,は浮遊容量、v
Tはしきい値電圧である。
そして、出力検出ノードには出力検出用トランジスタの
ゲート容量が浮遊容量として加算されるため、ハイレベ
ルは浮遊容量C,の増加分だけ低くなるが、C,はCb
に比べ十分率さいため、出方検出ノードのハイレベルは
、クロックφ1.φ2のハイレベルvcPH1つまりv
DD電圧よりかなり高くなる。そして、出力検出トラン
ジスタQ1において上記のゲート電圧がドレイン電圧よ
りしきい値分以上に高くなると、上記トランジスタQ1
は三極管領域の動作となり、出力の直線性が低下しつい
には出力がクランプされることになる。
ゲート容量が浮遊容量として加算されるため、ハイレベ
ルは浮遊容量C,の増加分だけ低くなるが、C,はCb
に比べ十分率さいため、出方検出ノードのハイレベルは
、クロックφ1.φ2のハイレベルvcPH1つまりv
DD電圧よりかなり高くなる。そして、出力検出トラン
ジスタQ1において上記のゲート電圧がドレイン電圧よ
りしきい値分以上に高くなると、上記トランジスタQ1
は三極管領域の動作となり、出力の直線性が低下しつい
には出力がクランプされることになる。
そのため、通常は基板濃度、しきい値電圧、Cb。
Cj、出力検出トランジスタサイズ等を適当に調節して
、信号電圧のハイレベルをvc、H+vTまで低ばて使
用するか、もしくは二電源を使用してvDD電圧をvc
PHより高くして使用している。
、信号電圧のハイレベルをvc、H+vTまで低ばて使
用するか、もしくは二電源を使用してvDD電圧をvc
PHより高くして使用している。
本発明は二電源を用いずに出力検出トランジスタのドレ
イン電圧をゲート電圧より高くすることによって、信号
電圧をすべて検出することを目的とする。
イン電圧をゲート電圧より高くすることによって、信号
電圧をすべて検出することを目的とする。
第4図は本発明の一実施例に係る信号検出回路を示すも
のである。この回路はクロックφ1に接続された電荷蓄
積用コンデンサの結合ダイオード部N1と出力検出用ト
ランジスタQ1のゲート電極全接続し、上記トランジス
タQ1のドレイン電極はコンデンサC1を介してクロッ
クφ1に接続され、さらにこのトランジスタQ1のドレ
イン電極は、上記クロックφ1と逆位相のクロックφ2
をゲート電極に接続したトランジスタQ2を介して回路
駆動電源の電圧vDDに接続されている。そして、前記
出力検出用トランジスタQ1のソース電極に抵抗Rを介
して接地することにより、このソース電極より信号電圧
を検出することができる。この回路では、第5図に示す
ように、出力検出用トランジスタQ1のドレイン電圧v
(N2)が、クロックφ1が00時・VCPH−vTで
・同クロックφ1がvcPHの時2vcPH−vTとな
るように、クロックφ、に同期して変化する。つまり、
信号検出時には前記出力検出用トランジスタQ2のドレ
イン電圧v(N2)わち、最大でも2vcPH−7丁で
あるため、信号電圧はすべて検出することができる。こ
のようにこの回路によって、MO8型BBDの信号出力
電圧は最適な設計を行なえば60%程度増大させること
ができ、ダイナミックレンジも数デシベル向上させるこ
とができた。この回路によれば特に低電圧動作時におい
ても、大きな信号出力電圧が得られる。ここで、トラン
ジスタQ3はトランジス7 ぺ−1 りQ2と同じ働きをするもので、N2部の信号型1Fリ
セット用トランジスタである。
のである。この回路はクロックφ1に接続された電荷蓄
積用コンデンサの結合ダイオード部N1と出力検出用ト
ランジスタQ1のゲート電極全接続し、上記トランジス
タQ1のドレイン電極はコンデンサC1を介してクロッ
クφ1に接続され、さらにこのトランジスタQ1のドレ
イン電極は、上記クロックφ1と逆位相のクロックφ2
をゲート電極に接続したトランジスタQ2を介して回路
駆動電源の電圧vDDに接続されている。そして、前記
出力検出用トランジスタQ1のソース電極に抵抗Rを介
して接地することにより、このソース電極より信号電圧
を検出することができる。この回路では、第5図に示す
ように、出力検出用トランジスタQ1のドレイン電圧v
(N2)が、クロックφ1が00時・VCPH−vTで
・同クロックφ1がvcPHの時2vcPH−vTとな
るように、クロックφ、に同期して変化する。つまり、
信号検出時には前記出力検出用トランジスタQ2のドレ
イン電圧v(N2)わち、最大でも2vcPH−7丁で
あるため、信号電圧はすべて検出することができる。こ
のようにこの回路によって、MO8型BBDの信号出力
電圧は最適な設計を行なえば60%程度増大させること
ができ、ダイナミックレンジも数デシベル向上させるこ
とができた。この回路によれば特に低電圧動作時におい
ても、大きな信号出力電圧が得られる。ここで、トラン
ジスタQ3はトランジス7 ぺ−1 りQ2と同じ働きをするもので、N2部の信号型1Fリ
セット用トランジスタである。
尚、本発明はBBDに限らずその他の電荷検出装置に適
用でき、信号検出トランジスタもMO5FET以外のl
FET、バイポーラトランジスタでも代用できることは
言うまでもない。
用でき、信号検出トランジスタもMO5FET以外のl
FET、バイポーラトランジスタでも代用できることは
言うまでもない。
以上の如く、本発明の信号検出回路は大きな信号出力電
圧が得られるので、工業的価値が高い。
圧が得られるので、工業的価値が高い。
第1図は従来のMO8型BBDの出力検出回路図、第2
図は蓄積モード時のMO8mBBDの動作機構説明図、
第3図は転送モード時のMO8型BBDの動作機構説明
図、第4図は本発明の一実施例に係るMO8型BBDの
出力検出回路図、第5図は第4図の回路動作を説明する
為の各部電圧波形図である。 Ql ・・・・・・信号電圧検出用トランジスタ、Q
2、・・・・・信号電圧リセット用トランジスタ、Q3
・・・・・・・トランジスタ、C−、・・−・コンデン
サ、R・・・・・・抵抗。 7寺贅昭58−148456 (3)第1図 4図 5図
図は蓄積モード時のMO8mBBDの動作機構説明図、
第3図は転送モード時のMO8型BBDの動作機構説明
図、第4図は本発明の一実施例に係るMO8型BBDの
出力検出回路図、第5図は第4図の回路動作を説明する
為の各部電圧波形図である。 Ql ・・・・・・信号電圧検出用トランジスタ、Q
2、・・・・・信号電圧リセット用トランジスタ、Q3
・・・・・・・トランジスタ、C−、・・−・コンデン
サ、R・・・・・・抵抗。 7寺贅昭58−148456 (3)第1図 4図 5図
Claims (1)
- 電荷転送装置の検出用トランジスタのベース又はゲート
電極が第1のクロック信号部に接続された電荷蓄積用コ
ンデンサの結合部に接続され、前記検出用トランジスタ
のコレクタ又はドレイン電極がコンデンサを介して、前
記の第1のクロック信号部に接続され、前記検出用トラ
ンジスタのコレクタ又はドレイン電極が前記第1のクロ
ック信号部のクロック信号と逆位相関係にあるクロック
信号を生じる第2のクロック信号部に接続されたベース
又はゲートを有するトランジスタを介して所定の回路電
源に接続され、前記検出用トランジスタのエミッタ又は
ソース電極が抵抗を介して接地されてなり、前記抵抗を
通じて信号を検出することを特徴とする信号検出回路0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3271582A JPS58148456A (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 信号検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3271582A JPS58148456A (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 信号検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58148456A true JPS58148456A (ja) | 1983-09-03 |
JPH0430181B2 JPH0430181B2 (ja) | 1992-05-21 |
Family
ID=12366527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3271582A Granted JPS58148456A (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 信号検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58148456A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013118007A (ja) * | 2009-10-20 | 2013-06-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd | 集積アプリケーション用のldoレギュレータ |
-
1982
- 1982-03-01 JP JP3271582A patent/JPS58148456A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013118007A (ja) * | 2009-10-20 | 2013-06-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd | 集積アプリケーション用のldoレギュレータ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0430181B2 (ja) | 1992-05-21 |
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