JPS58147287A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JPS58147287A JPS58147287A JP57029968A JP2996882A JPS58147287A JP S58147287 A JPS58147287 A JP S58147287A JP 57029968 A JP57029968 A JP 57029968A JP 2996882 A JP2996882 A JP 2996882A JP S58147287 A JPS58147287 A JP S58147287A
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- JP
- Japan
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、たとえば放射線(X線など)などによる透視
像などの不鮮明な儂を鮮明に撮像する撮像装置の改良に
関する。
像などの不鮮明な儂を鮮明に撮像する撮像装置の改良に
関する。
一般に、X線などの透過性を有する放射線は、物体を透
過した後、その物体の状態(厚みや均一度など)に応じ
て放射線強度が変化する0七4ノ こて、このような性質を利用して産業分野は種種の検査
や測定にX線が使用されている。とりわけ、直接その物
体に外力を加えず罠検査を行ういわゆる非破壊検査(溶
接部の検査など)においては、専らX線が使用されてい
る。
過した後、その物体の状態(厚みや均一度など)に応じ
て放射線強度が変化する0七4ノ こて、このような性質を利用して産業分野は種種の検査
や測定にX線が使用されている。とりわけ、直接その物
体に外力を加えず罠検査を行ういわゆる非破壊検査(溶
接部の検査など)においては、専らX線が使用されてい
る。
ところで、従来、このよりなX#Hの透過性を利用して
得られ物体の透視像は、−面が小さいものであったシ、
放射ITl!ilを扱う上の安全面などから一旦撮像機
などによって撮像され、後に画像再生して目視検査など
が行われている。すなわち、X線管よりxmを被検体に
照射して、被検体の後背部に配置し九X線センサーを備
えたイメージシステムによシ、X線強度に応じて被検体
の儂を作成し、これをテレビカメラなどの撮gI機によ
って可視光のll1Il像信号に変換して現場から離れ
たモニター用のテレビなどで被検体の目視検査などを行
うものである。
得られ物体の透視像は、−面が小さいものであったシ、
放射ITl!ilを扱う上の安全面などから一旦撮像機
などによって撮像され、後に画像再生して目視検査など
が行われている。すなわち、X線管よりxmを被検体に
照射して、被検体の後背部に配置し九X線センサーを備
えたイメージシステムによシ、X線強度に応じて被検体
の儂を作成し、これをテレビカメラなどの撮gI機によ
って可視光のll1Il像信号に変換して現場から離れ
たモニター用のテレビなどで被検体の目視検査などを行
うものである。
ところで、上記の装置では、X線センサーの感度やX#
I管の出力不足などによって、再生される画像はとか(
SN比(目的信号の明りょう度)が悪いという欠点があ
り、被検体の小さな欠陥の判別は非常に困難である。こ
のような場合、よく映像信号を加算してSN比を向上さ
せる手段が用いられるが、被検体が静止している時に限
られており、工場の工程などで移動する被検体を撮像す
る時にri移1IIbVcよるズレなどでうまく加算が
できない問題がある。
I管の出力不足などによって、再生される画像はとか(
SN比(目的信号の明りょう度)が悪いという欠点があ
り、被検体の小さな欠陥の判別は非常に困難である。こ
のような場合、よく映像信号を加算してSN比を向上さ
せる手段が用いられるが、被検体が静止している時に限
られており、工場の工程などで移動する被検体を撮像す
る時にri移1IIbVcよるズレなどでうまく加算が
できない問題がある。
〔発明の目的〕
本発明は、たとえば移動する被検体を放射線透視家など
によって検査する場合、その不鮮明な透視像を充分なコ
ントラストをもった1儂としてとらえることのできる撮
像装置を提供することを目的とする。
によって検査する場合、その不鮮明な透視像を充分なコ
ントラストをもった1儂としてとらえることのできる撮
像装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的達成のため撮像部から出されテ被写
体の移動によるフレーム毎のずれをもった画像信号を交
互に記憶する2個の画像メモリを設け、この両画像メモ
リの一方の画像より特定部分lll1像を抽出し、この
%足部分画像と他方の画像メモリのth像の各部分画像
とを1幀次照合して−にあるいは酷似した該部分l1I
i儂を選び、該部分画像と前記特定部分画像との1儂位
置の差を求める手段によって前記画像ずれ量を算出しこ
のずれ菫の補正を前記画一像メモリの一方のl1ki像
に施して、両画像メモリの画像を加算することによりコ
ントラストの向上を図る撮像装置とした。
体の移動によるフレーム毎のずれをもった画像信号を交
互に記憶する2個の画像メモリを設け、この両画像メモ
リの一方の画像より特定部分lll1像を抽出し、この
%足部分画像と他方の画像メモリのth像の各部分画像
とを1幀次照合して−にあるいは酷似した該部分l1I
i儂を選び、該部分画像と前記特定部分画像との1儂位
置の差を求める手段によって前記画像ずれ量を算出しこ
のずれ菫の補正を前記画一像メモリの一方のl1ki像
に施して、両画像メモリの画像を加算することによりコ
ントラストの向上を図る撮像装置とした。
本発明の一実施例を第1図の構成図に示し、これを説明
する。IFiXIii!を出力するX!l管でTo夛、
このX線管1のX線出力方向に、透視検査される被検体
2が矢印方向に移動している。
する。IFiXIii!を出力するX!l管でTo夛、
このX線管1のX線出力方向に、透視検査される被検体
2が矢印方向に移動している。
そして、この被検体2を介して前記X線管lに対向する
ーようにイメージシステム3が配置される。このイメー
ジシステム3はX線センサー。
ーようにイメージシステム3が配置される。このイメー
ジシステム3はX線センサー。
螢光体、増幅器などで構成され、被検体2の透視像を写
し出す。この透視像は、テレビカメラコントロールユニ
、 ) 4 (以下Tvcctrト称ス)にてカメラに
写され1フレーム毎の画像信号として出力される。そし
て、この画像信号をディジタル−像信号に変換して記憶
するために2個の画像メモリ5.6がTVCCU 4の
後段に並設されている。さらに、これら画像メモリ5,
6に記憶された画像を所定の動作で交互に読出すチャン
ネルセレクタ7が設けられ、このチャンネルセレクタ7
によって読出された画像メモリ5の画像のうち、被検体
2の特定となる部分の画像を特定部分画像メモリ8へ記
憶させ、且つ同画像メモリ6から読出された画像と前記
特定部分画像メモリ8に記憶された画像との照合を行う
画像ずれ検出回路9が設けられている。そして、画像ず
れ検出回路9の照合結果によるずれ量を基に、前記画像
メモリ5と6の画像を加算して画像メモリ5へ記憶させ
るJJIJ算参10を設けている◎11は前記画像メモ
リ5の加算された画像データを基に画gI栴生するモニ
ターテレビであり、12は加算された1lili葎デー
タを直接取り出す出力端であり、これに欠陥部自動判定
回路(図示せず)などが接続される。また、13は画像
メモリ5,6、チャンネルセレクタ7、画像ずれ検出回
路9−および加算器10を制御する中央処理装置である
。
し出す。この透視像は、テレビカメラコントロールユニ
、 ) 4 (以下Tvcctrト称ス)にてカメラに
写され1フレーム毎の画像信号として出力される。そし
て、この画像信号をディジタル−像信号に変換して記憶
するために2個の画像メモリ5.6がTVCCU 4の
後段に並設されている。さらに、これら画像メモリ5,
6に記憶された画像を所定の動作で交互に読出すチャン
ネルセレクタ7が設けられ、このチャンネルセレクタ7
によって読出された画像メモリ5の画像のうち、被検体
2の特定となる部分の画像を特定部分画像メモリ8へ記
憶させ、且つ同画像メモリ6から読出された画像と前記
特定部分画像メモリ8に記憶された画像との照合を行う
画像ずれ検出回路9が設けられている。そして、画像ず
れ検出回路9の照合結果によるずれ量を基に、前記画像
メモリ5と6の画像を加算して画像メモリ5へ記憶させ
るJJIJ算参10を設けている◎11は前記画像メモ
リ5の加算された画像データを基に画gI栴生するモニ
ターテレビであり、12は加算された1lili葎デー
タを直接取り出す出力端であり、これに欠陥部自動判定
回路(図示せず)などが接続される。また、13は画像
メモリ5,6、チャンネルセレクタ7、画像ずれ検出回
路9−および加算器10を制御する中央処理装置である
。
次に、上記のように構成される装置の作用を第2図のシ
ーム(溶接線部)断面図および第3図の特定部分画像を
説明する画像図を参照して説明する。
ーム(溶接線部)断面図および第3図の特定部分画像を
説明する画像図を参照して説明する。
X線fxOX線透視によって第2図に示すようなシーム
断面をもった被検体2の透視像は、イメージシステム3
にて映像化される。なお、同図中z oriシーム、X
Xri欠陥部、22Fi被検体本体を示す。そこで、イ
メージシステム3によって作成された映像はTVCCU
4によって画像信号に変換される。この画像信号はま
ずII!i像メモリ5へ、次の画像信号は画像メモリ6
へと交互に記憶されるが、被検体2が移動しているため
両画像メモリ5,6に記憶される画像は、同じ被検体2
の1Iiii像でもずれをもっている・このずれは、被
検体2の移動速度に応じてTVCCU角 4のカメラの脅フレームおきに画像信号を前記画像メモ
リ6.6に記憶させるかによって決まる・したがって、
通常両画像メモリ5,6の画像ずれは1フン一ム期間の
ずれであるが、場合によってはlフレーム期間の整数倍
期間のずれをもたせることもある。
断面をもった被検体2の透視像は、イメージシステム3
にて映像化される。なお、同図中z oriシーム、X
Xri欠陥部、22Fi被検体本体を示す。そこで、イ
メージシステム3によって作成された映像はTVCCU
4によって画像信号に変換される。この画像信号はま
ずII!i像メモリ5へ、次の画像信号は画像メモリ6
へと交互に記憶されるが、被検体2が移動しているため
両画像メモリ5,6に記憶される画像は、同じ被検体2
の1Iiii像でもずれをもっている・このずれは、被
検体2の移動速度に応じてTVCCU角 4のカメラの脅フレームおきに画像信号を前記画像メモ
リ6.6に記憶させるかによって決まる・したがって、
通常両画像メモリ5,6の画像ずれは1フン一ム期間の
ずれであるが、場合によってはlフレーム期間の整数倍
期間のずれをもたせることもある。
次に、チャンネルセレクタ7は画像メモリ5を選択し、
第3図(、)のような画像Aを画像ずれ検出回路9へ入
力する0この画像ずれ検出回路9において、入力された
画像Aのうち、続出し位置8At−もった被検体2の特
定の部分の画像JJAを抽出して特定部分−偉メモリ8
へ記憶させる。
第3図(、)のような画像Aを画像ずれ検出回路9へ入
力する0この画像ずれ検出回路9において、入力された
画像Aのうち、続出し位置8At−もった被検体2の特
定の部分の画像JJAを抽出して特定部分−偉メモリ8
へ記憶させる。
次ニ、チャンネルセレクタ7ri画揮メモリ6を選択し
、被検体2の移動によってm像メモリ5の画像Aとは、
ずれた1Iiil像Bを読出して前記画像ずれ検出回路
9へ入′力する。この画像ずれ検出回路9は、画像メモ
リ6の画像Bを切り出して部分画像とし、この部分ll
1ll像と特定部分画像メモリ8に記憶されているth
+#23Aとを照合する。そして、両部分画像が一致あ
るいは最も似ている時、画像メモリ6から切り出された
該画像JJBの絖出し位f!tSBより両部分画像(2
3Aと23B)同志のずれil (5A−8B)を算出
する。これによって、被検体2の移動によって生じる画
像メモリ5と6のずれ量が求まる。そして、このずれ量
は加8610へ入力される。加算器10は、入力され九
ずれ量で被検体2の移動方向と逆にシフトさせた画像を
l1ii儂メモリ6よシ続出し、さらに画像メモリ5か
ら画像を続出し、この両th像を加算して、その加Jl
th像を再び画像メモリ5へ記憶させる。この記憶され
た加算−像データをモニターテレビ11で画像再生すれ
ば、欠陥部21にと21Bも加算されたth像となりコ
ントラストの向上し九Iii像で被検体2の欠陥部21
が目視検査できる0また、出力端12にも同様にコント
ラストの向上し九ua*r−夕が得られ、以後の処理も
正確に行える。なお、第3図の斜線部20Aおよび20
Bri第2図のシーム2oを示す。
、被検体2の移動によってm像メモリ5の画像Aとは、
ずれた1Iiil像Bを読出して前記画像ずれ検出回路
9へ入′力する。この画像ずれ検出回路9は、画像メモ
リ6の画像Bを切り出して部分画像とし、この部分ll
1ll像と特定部分画像メモリ8に記憶されているth
+#23Aとを照合する。そして、両部分画像が一致あ
るいは最も似ている時、画像メモリ6から切り出された
該画像JJBの絖出し位f!tSBより両部分画像(2
3Aと23B)同志のずれil (5A−8B)を算出
する。これによって、被検体2の移動によって生じる画
像メモリ5と6のずれ量が求まる。そして、このずれ量
は加8610へ入力される。加算器10は、入力され九
ずれ量で被検体2の移動方向と逆にシフトさせた画像を
l1ii儂メモリ6よシ続出し、さらに画像メモリ5か
ら画像を続出し、この両th像を加算して、その加Jl
th像を再び画像メモリ5へ記憶させる。この記憶され
た加算−像データをモニターテレビ11で画像再生すれ
ば、欠陥部21にと21Bも加算されたth像となりコ
ントラストの向上し九Iii像で被検体2の欠陥部21
が目視検査できる0また、出力端12にも同様にコント
ラストの向上し九ua*r−夕が得られ、以後の処理も
正確に行える。なお、第3図の斜線部20Aおよび20
Bri第2図のシーム2oを示す。
また、中央処理装W113は装置各部のタイミング制御
をするとともに、加算終了後、次の加算の丸めに新たな
画像の特定部分画像を抽出させたり、加1#回数を指定
したりするなど作用全般を統括する。
をするとともに、加算終了後、次の加算の丸めに新たな
画像の特定部分画像を抽出させたり、加1#回数を指定
したりするなど作用全般を統括する。
なお、ffj接検前検査の場合の特定部分画像の抽出に
おいては、上記実施例のごとく特定部分を溶接部のシー
ムなど形状の複雑な部分とすると、他の部分と比べ1l
tii像信号の量が着しく多く、特定部分の追跡として
都合が良いことはもちろんである。
おいては、上記実施例のごとく特定部分を溶接部のシー
ムなど形状の複雑な部分とすると、他の部分と比べ1l
tii像信号の量が着しく多く、特定部分の追跡として
都合が良いことはもちろんである。
本発明によれば、2つの@像メモリに記憶されたlII
Ilglを基に両画像のずれ電を電子的に検出して、そ
のずれ菫に相当した補正を施して画像の加算會行ってい
るので、移動する被検体を放射線で透視撮像する場合、
七の不鮮明な画像のコントラストを容易に向上させるこ
とができ、被検体の小さな欠陥部の発見も容易となる。
Ilglを基に両画像のずれ電を電子的に検出して、そ
のずれ菫に相当した補正を施して画像の加算會行ってい
るので、移動する被検体を放射線で透視撮像する場合、
七の不鮮明な画像のコントラストを容易に向上させるこ
とができ、被検体の小さな欠陥部の発見も容易となる。
また、ずれ量の検出を電子的に行っているので、被検体
の移動速度などから模株的にずれ量を検出するものに比
べ、正確に画像の加算が行える。したがって、再生画像
もより鮮明なものが得られる撮像装置を提供できる0
の移動速度などから模株的にずれ量を検出するものに比
べ、正確に画像の加算が行える。したがって、再生画像
もより鮮明なものが得られる撮像装置を提供できる0
第1図は本発明に係る撮像装置の実施例の構成図、第2
図は被検体のシーム断面図、第3図は第1図の構成の装
置における特定部分画像を説明する画像図である。 4・・・TVCCU 、 5 、6・・・画体メモリ
、7・・・チャンネルセレクタ、8・・・特定部分−像
メモリ、9・・・画像ずれ検出回路、10・・・加算器
、13・・・中央処理装置。
図は被検体のシーム断面図、第3図は第1図の構成の装
置における特定部分画像を説明する画像図である。 4・・・TVCCU 、 5 、6・・・画体メモリ
、7・・・チャンネルセレクタ、8・・・特定部分−像
メモリ、9・・・画像ずれ検出回路、10・・・加算器
、13・・・中央処理装置。
Claims (1)
- 被写体を撮揮してフレーム毎のjjlVl信号を出力す
る撮像部と、この撮像部の画像信号を所定フレーム期間
の差で順次記憶する複数の画像メモリと、これらの−億
メモリの記憶画像を選択読出しする選択手段と、この選
択手段によって読出された一つの画像メモリの画像の特
定部分−像を抽出し且つ他の画像メモリよシ続出され九
―像の部分1IliJ像を前記特定部分画像と照合しそ
れらの画像メモlJ[記憶された画偉ずれ量を出力する
手段と、この手段によって出力される前記ll1ii像
ずれ童に応じ照会した前記画像メモリの画像をすらして
それら画像を一致させ加算する加算器とを備え、被写体
の静止や移動にかかわらず同−画像の加算が行えること
を%黴とし九撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57029968A JPS58147287A (ja) | 1982-02-26 | 1982-02-26 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57029968A JPS58147287A (ja) | 1982-02-26 | 1982-02-26 | 撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58147287A true JPS58147287A (ja) | 1983-09-02 |
JPS6247036B2 JPS6247036B2 (ja) | 1987-10-06 |
Family
ID=12290761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57029968A Granted JPS58147287A (ja) | 1982-02-26 | 1982-02-26 | 撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58147287A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4626908A (en) * | 1982-11-22 | 1986-12-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Tracking input device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6423849U (ja) * | 1987-08-03 | 1989-02-08 | ||
JPH0230036U (ja) * | 1988-04-07 | 1990-02-26 |
-
1982
- 1982-02-26 JP JP57029968A patent/JPS58147287A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4626908A (en) * | 1982-11-22 | 1986-12-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Tracking input device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6247036B2 (ja) | 1987-10-06 |
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