JPH09288072A - 割れきず用ｘ線検査装置 - Google Patents
割れきず用ｘ線検査装置Info
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- JPH09288072A JPH09288072A JP10222896A JP10222896A JPH09288072A JP H09288072 A JPH09288072 A JP H09288072A JP 10222896 A JP10222896 A JP 10222896A JP 10222896 A JP10222896 A JP 10222896A JP H09288072 A JPH09288072 A JP H09288072A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 斜めの割れきずをも確実に検出することがで
きる割れきず用Ｘ線検出装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 Ｘ線源１と、該Ｘ線源を移動させるＸ線
源移動装置３と、前記Ｘ線源１を制御するＸ線源制御装
置２と、前記Ｘ線源１の移動と撮影を制御する撮影制御
装置４と、各Ｘ線源位置における被検体１１との透過Ｘ
線量を検出するＸ線検出器５と、該Ｘ線検出器５を制御
して撮影画像を取り込むＸ線検出器制御装置６と、前記
Ｘ線源１の位置と前記撮影画像によりＸ線源の移動に対
する被検体１１の透過Ｘ線量の違いによる輝度変化を抽
出する輝度変化抽出演算処理装置７と、輝度変化抽出結
果よりきずの有無を判定するきず判定装置８と、結果の
表示を行う表示装置９と、結果を記録する処理結果記録
装置１０とで構成されることを特徴とする。
きる割れきず用Ｘ線検出装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 Ｘ線源１と、該Ｘ線源を移動させるＸ線
源移動装置３と、前記Ｘ線源１を制御するＸ線源制御装
置２と、前記Ｘ線源１の移動と撮影を制御する撮影制御
装置４と、各Ｘ線源位置における被検体１１との透過Ｘ
線量を検出するＸ線検出器５と、該Ｘ線検出器５を制御
して撮影画像を取り込むＸ線検出器制御装置６と、前記
Ｘ線源１の位置と前記撮影画像によりＸ線源の移動に対
する被検体１１の透過Ｘ線量の違いによる輝度変化を抽
出する輝度変化抽出演算処理装置７と、輝度変化抽出結
果よりきずの有無を判定するきず判定装置８と、結果の
表示を行う表示装置９と、結果を記録する処理結果記録
装置１０とで構成されることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラント等の溶接
部における非破壊検査を行う割れきず用Ｘ線検査装置に
関する。その他、プラント等の溶接部以外にもコンクリ
ート等の構造物の割れの非破壊検査にも適用可能であ
る。
部における非破壊検査を行う割れきず用Ｘ線検査装置に
関する。その他、プラント等の溶接部以外にもコンクリ
ート等の構造物の割れの非破壊検査にも適用可能であ
る。
【０００２】
【従来の技術】図４に従来の検査装置の構成図を示す。
同図に示すように、検査対象である構造物の溶接部等の
被検体１１に対し、その表面に対しほぼ垂直方向にＸ線
源１を配し、被検体１１の反対側に配置したＸ線検出器
５にて対象部分の撮影を行う。
同図に示すように、検査対象である構造物の溶接部等の
被検体１１に対し、その表面に対しほぼ垂直方向にＸ線
源１を配し、被検体１１の反対側に配置したＸ線検出器
５にて対象部分の撮影を行う。
【０００３】このとき、Ｘ線源１の照射時間や照射強度
は、被検体１１に応じて、Ｘ線源制御装置２にて制御さ
れる。Ｘ線検出器５においては、被検体１１を通過した
Ｘ線の強度及びその分布を検出し、それをＸ線検出器制
御装置６によって読み出す。読み出しのタイミングは、
撮影制御装置４により調整を行い、読み出されたＸ線の
強度分布は、Ｘ線撮影画像として表示装置９に表示され
る他、処理結果記録装置１０に記録され保存される。
は、被検体１１に応じて、Ｘ線源制御装置２にて制御さ
れる。Ｘ線検出器５においては、被検体１１を通過した
Ｘ線の強度及びその分布を検出し、それをＸ線検出器制
御装置６によって読み出す。読み出しのタイミングは、
撮影制御装置４により調整を行い、読み出されたＸ線の
強度分布は、Ｘ線撮影画像として表示装置９に表示され
る他、処理結果記録装置１０に記録され保存される。
【０００４】このような構成では、Ｘ線源１と被検体１
１とＸ線検出器５の位置関係は、ほぼ固定となるため、
一方向からの撮影画像しか得ることができない。Ｘ線検
出器５は、Ｘ線が当たることによって、可視光を発生す
る蛍光体を用いたイメージインテンシファイアやＸ線カ
メラといった検出装置がこれに相当する。
１とＸ線検出器５の位置関係は、ほぼ固定となるため、
一方向からの撮影画像しか得ることができない。Ｘ線検
出器５は、Ｘ線が当たることによって、可視光を発生す
る蛍光体を用いたイメージインテンシファイアやＸ線カ
メラといった検出装置がこれに相当する。
【０００５】被検体１１のＸ線透過の撮影画像は、被検
体中の成分がほぼ一様であるなら、Ｘ線透過方向の厚み
に応じた濃淡画像として得られる。従って、厚い部分で
はＸ線の減衰がより多くなるため暗く、薄い部分ではそ
れに比べ逆に明るく写ることとなる。そのため、被検体
中に中空等のきずがある場合、その部分でのＸ線の透過
量が変化するため、異なる濃淡値の画像が得られ、きず
を検出することが可能となっている。
体中の成分がほぼ一様であるなら、Ｘ線透過方向の厚み
に応じた濃淡画像として得られる。従って、厚い部分で
はＸ線の減衰がより多くなるため暗く、薄い部分ではそ
れに比べ逆に明るく写ることとなる。そのため、被検体
中に中空等のきずがある場合、その部分でのＸ線の透過
量が変化するため、異なる濃淡値の画像が得られ、きず
を検出することが可能となっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】前述のように構成され
たＸ線検出装置では、被検体に対し一方向からしかＸ線
を照射することができず、基本的に、被検体の表面に対
して垂直方向からＸ線を透過した画像しか得られない。
そのため、被検体中にある中空状の体積のあるきずに対
して、その部分によるＸ線の透過量に違いが現れやすい
が、非常に幅の狭い平面状の割れといったきずに対して
は、Ｘ線の透過方向に対し、きず部分を透過する長さ、
つまり、厚みが小さいため、十分なＸ線の透過量の違い
が検出できず、きずを見つけることは困難となってい
る。
たＸ線検出装置では、被検体に対し一方向からしかＸ線
を照射することができず、基本的に、被検体の表面に対
して垂直方向からＸ線を透過した画像しか得られない。
そのため、被検体中にある中空状の体積のあるきずに対
して、その部分によるＸ線の透過量に違いが現れやすい
が、非常に幅の狭い平面状の割れといったきずに対して
は、Ｘ線の透過方向に対し、きず部分を透過する長さ、
つまり、厚みが小さいため、十分なＸ線の透過量の違い
が検出できず、きずを見つけることは困難となってい
る。
【０００７】また、このような割れといったきずは、被
検体の溶接部分において、斜めに生じることが多く、被
検体の表面に対し垂直方向からのＸ線透過では、まず検
出することは不可能である。きずの傾きによるＸ線透過
量、即ち、輝度分布の違いの模式図を図２（ａ）（ｂ）
にそれぞれ示す。
検体の溶接部分において、斜めに生じることが多く、被
検体の表面に対し垂直方向からのＸ線透過では、まず検
出することは不可能である。きずの傾きによるＸ線透過
量、即ち、輝度分布の違いの模式図を図２（ａ）（ｂ）
にそれぞれ示す。
【０００８】Ｘ線透過方向と平行にきずが有る場合は、
厚みの変化が大きく輝度変化も大きいが、割れきずが傾
くと、輝度変化が小さく範囲が広くなりぼやけた輝度変
化の分布となり、検出が困難となる。
厚みの変化が大きく輝度変化も大きいが、割れきずが傾
くと、輝度変化が小さく範囲が広くなりぼやけた輝度変
化の分布となり、検出が困難となる。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
本発明の請求項１に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、Ｘ
線源と、該Ｘ線源を移動させるＸ線源移動装置と、前記
Ｘ線源を制御するＸ線源制御装置と、前記Ｘ線源の移動
及び撮影を制御する撮影制御装置と、各Ｘ線源位置にお
ける被検体との透過Ｘ線量を検出するＸ線検出器と、該
Ｘ線検出器を制御して撮影画像を取り込むＸ線検出器制
御装置と、前記Ｘ線源の位置と前記撮影画像によりＸ線
源の移動に対する被検体の透過Ｘ線量の違いによる輝度
変化を抽出する輝度変化抽出演算処理装置と、抽出され
た輝度変化によりきずの有無を判定するきず判定装置
と、きずの有無の結果を表示する表示装置と、きずの有
無の結果を記録する処理結果記録装置とで構成されるこ
とを特徴とする。
本発明の請求項１に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、Ｘ
線源と、該Ｘ線源を移動させるＸ線源移動装置と、前記
Ｘ線源を制御するＸ線源制御装置と、前記Ｘ線源の移動
及び撮影を制御する撮影制御装置と、各Ｘ線源位置にお
ける被検体との透過Ｘ線量を検出するＸ線検出器と、該
Ｘ線検出器を制御して撮影画像を取り込むＸ線検出器制
御装置と、前記Ｘ線源の位置と前記撮影画像によりＸ線
源の移動に対する被検体の透過Ｘ線量の違いによる輝度
変化を抽出する輝度変化抽出演算処理装置と、抽出され
た輝度変化によりきずの有無を判定するきず判定装置
と、きずの有無の結果を表示する表示装置と、きずの有
無の結果を記録する処理結果記録装置とで構成されるこ
とを特徴とする。
【００１０】また、上記課題を解決する本発明の請求項
２に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、上記請求項１にお
いて、前記Ｘ線検出器は、斜めに入射するＸ線をも検知
可能であることを特徴とする。更に、上記課題を解決す
る本発明の請求項３に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、
上記請求項１又は２において、前記きず判定装置は、健
全部における被検体の透過Ｘ線量に比較して、透過Ｘ線
量の顕著な変化があったときに、きずがあると判定する
ことを特徴とする。
２に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、上記請求項１にお
いて、前記Ｘ線検出器は、斜めに入射するＸ線をも検知
可能であることを特徴とする。更に、上記課題を解決す
る本発明の請求項３に係る割れきず用Ｘ線検査装置は、
上記請求項１又は２において、前記きず判定装置は、健
全部における被検体の透過Ｘ線量に比較して、透過Ｘ線
量の顕著な変化があったときに、きずがあると判定する
ことを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の割れきず用Ｘ線検査装置
では、Ｘ線源をＸ線源移動装置で移動させると共に撮影
制御装置で制御しながら、Ｘ線検出器及びＸ線検出器制
御装置によって、被検体のＸ線透過画像を各Ｘ線源位置
において撮影する。Ｘ線検出器は固定したまま、Ｘ線源
を移動させることで、被検体の同じ箇所に対して様々な
角度でＸ線を透過させることが可能となる。
では、Ｘ線源をＸ線源移動装置で移動させると共に撮影
制御装置で制御しながら、Ｘ線検出器及びＸ線検出器制
御装置によって、被検体のＸ線透過画像を各Ｘ線源位置
において撮影する。Ｘ線検出器は固定したまま、Ｘ線源
を移動させることで、被検体の同じ箇所に対して様々な
角度でＸ線を透過させることが可能となる。
【００１２】Ｘ線を斜めに透過させるため、被検体の厚
みは見掛け上厚くなるため、Ｘ線源の移動に応じて、Ｘ
線の被検体の透過量、即ち、輝度値は図３に示すよう
に、被検体の表面に対し垂直な方向からＸ線を透過する
場合をピークに、Ｘ線源の移動に従って低くなってい
く。これに対し、図５に示すように、Ｘ線源を移動させ
ることにより、斜めに割れきずがあった場合、きずの傾
きとＸ線の透過する傾きが一致するＸ線源位置では、そ
の部分の輝度値が高くなる。
みは見掛け上厚くなるため、Ｘ線源の移動に応じて、Ｘ
線の被検体の透過量、即ち、輝度値は図３に示すよう
に、被検体の表面に対し垂直な方向からＸ線を透過する
場合をピークに、Ｘ線源の移動に従って低くなってい
く。これに対し、図５に示すように、Ｘ線源を移動させ
ることにより、斜めに割れきずがあった場合、きずの傾
きとＸ線の透過する傾きが一致するＸ線源位置では、そ
の部分の輝度値が高くなる。
【００１３】従って、図３（ｂ）に示すように、きずが
無い場合の輝度値の低くなる傾向と異なり、Ｘ線源から
の方向ときずが平行となる位置で輝度値が高くなる。こ
の輝度値の変化を輝度変化抽出演算処理装置によって検
出し、きずがない場合の輝度値変化との違いにより、き
ず判定装置できずの有無を判定し、その結果を表示装置
に表示出力するとともに、処理結果記録装置に記録し保
存される。
無い場合の輝度値の低くなる傾向と異なり、Ｘ線源から
の方向ときずが平行となる位置で輝度値が高くなる。こ
の輝度値の変化を輝度変化抽出演算処理装置によって検
出し、きずがない場合の輝度値変化との違いにより、き
ず判定装置できずの有無を判定し、その結果を表示装置
に表示出力するとともに、処理結果記録装置に記録し保
存される。
【００１４】
【実施例】以下、本発明について、図面に示す実施例を
参照して詳細に説明する。図１に本発明の一実施例に係
る割れきず用Ｘ線検査装置を示す。同図に示すように、
被検体１１の検査対象部の裏側に、ほぼ固定されたＸ線
検出器５に対して、Ｘ線源１は、Ｘ線源移動装置３に取
り付けられ、被検体１１及びＸ線検出器５に対して移動
できる構造となっている。
参照して詳細に説明する。図１に本発明の一実施例に係
る割れきず用Ｘ線検査装置を示す。同図に示すように、
被検体１１の検査対象部の裏側に、ほぼ固定されたＸ線
検出器５に対して、Ｘ線源１は、Ｘ線源移動装置３に取
り付けられ、被検体１１及びＸ線検出器５に対して移動
できる構造となっている。
【００１５】先ず、Ｘ線源１を被検体１１に対し、ある
範囲をＸ線源移動装置３によって移動させながら、撮影
制御装置４の制御指令により、Ｘ線源制御装置２で照射
時間及び照射タイミングを制御し、同じく撮影制御装置
４の制御指令によりＸ線検出器５により、Ｘ線検出制御
装置６によってＸ線透過画像を読み出す。Ｘ線検出器５
は、斜めに入射するＸ線も感知できるため、固定してお
いても検出可能である。
範囲をＸ線源移動装置３によって移動させながら、撮影
制御装置４の制御指令により、Ｘ線源制御装置２で照射
時間及び照射タイミングを制御し、同じく撮影制御装置
４の制御指令によりＸ線検出器５により、Ｘ線検出制御
装置６によってＸ線透過画像を読み出す。Ｘ線検出器５
は、斜めに入射するＸ線も感知できるため、固定してお
いても検出可能である。
【００１６】撮影制御装置４からの指令信号で、輝度変
化抽出装置７は、撮影されたＸ線透過画像をＸ線検出器
制御装置６から読み込むと共に、Ｘ線源移動装置３から
はＸ線源１の位置信号を読み込み、Ｘ線源１の位置の変
化に対するＸ線透過画像の各場所のＸ線透過量、即ち、
輝度変化の抽出を行う。
化抽出装置７は、撮影されたＸ線透過画像をＸ線検出器
制御装置６から読み込むと共に、Ｘ線源移動装置３から
はＸ線源１の位置信号を読み込み、Ｘ線源１の位置の変
化に対するＸ線透過画像の各場所のＸ線透過量、即ち、
輝度変化の抽出を行う。
【００１７】抽出された輝度変化は、きず判定装置８に
おいて、図３（ａ）に示すような、きず無しの場合の輝
度変化に対し、図３（ｂ）に示すような輝度変化が現れ
ている場合、割れきずがあるものと判定し、その判定結
果を表示装置９に表示すると共に、処理結果記録装置１
０に記録し保存を行う。
おいて、図３（ａ）に示すような、きず無しの場合の輝
度変化に対し、図３（ｂ）に示すような輝度変化が現れ
ている場合、割れきずがあるものと判定し、その判定結
果を表示装置９に表示すると共に、処理結果記録装置１
０に記録し保存を行う。
【００１８】尚、Ｘ線検出器５については、特にリアル
タイムに撮影画像が得られ、且つ、デジタル値としてＸ
線の透過量、即ち、輝度値が得られるＸ線ＣＣＤカメラ
等を用い、Ｘ線画像データはデジタル値として後段の輝
度変化抽出演算処理装置７へ送ると良い。
タイムに撮影画像が得られ、且つ、デジタル値としてＸ
線の透過量、即ち、輝度値が得られるＸ線ＣＣＤカメラ
等を用い、Ｘ線画像データはデジタル値として後段の輝
度変化抽出演算処理装置７へ送ると良い。
【００１９】
【発明の効果】以上、実施例に基づいて説明したよう
に、本発明の割れきず用Ｘ線検査装置では、次の効果を
奏する。 Ｘ線源をＸ線源移動装置で移動させると共に撮影制御
装置で制御しながら、Ｘ線検出器及びＸ線検出器制御装
置によって、被検体のＸ線透過画像を各Ｘ線源位置にお
いて撮影するため、通常のＸ線検査装置では、検出困難
な割れきずを検出することが可能となった。 きずが無い健全部の輝度値と、きずがある場合の輝度
値との違いにより、きず判定装置できずの有無を判定す
るため、傾いた割れきずの傾き角度をも、同時に検出す
ることも可能である。
に、本発明の割れきず用Ｘ線検査装置では、次の効果を
奏する。 Ｘ線源をＸ線源移動装置で移動させると共に撮影制御
装置で制御しながら、Ｘ線検出器及びＸ線検出器制御装
置によって、被検体のＸ線透過画像を各Ｘ線源位置にお
いて撮影するため、通常のＸ線検査装置では、検出困難
な割れきずを検出することが可能となった。 きずが無い健全部の輝度値と、きずがある場合の輝度
値との違いにより、きず判定装置できずの有無を判定す
るため、傾いた割れきずの傾き角度をも、同時に検出す
ることも可能である。
【図１】本発明の一実施例に係る割れきず用Ｘ線検査装
置の構成を示すブロック図である。
置の構成を示すブロック図である。
【図２】割れきずの傾きとＸ線透過量（輝度分布）の変
化を示す模式図である。
化を示す模式図である。
【図３】Ｘ線源の移動に伴うＸ線画像の各部の輝度変化
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図４】従来のＸ線検査装置の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図５】割れきずの傾きとＸ線源を移動させた場合の輝
度分布の変化を示す模式図である。
度分布の変化を示す模式図である。
１ Ｘ線源 ２ Ｘ線源制御装置 ３ Ｘ線源移動装置 ４ 撮影制御装置 ５ Ｘ線検出器 ６ Ｘ線検出器制御装置 ７ 輝度変化抽出演算処理装置 ８ きず判定装置 ９ 表示装置 １０ 処理結果記録装置 １１ 被検体 １２，１３ きず
Claims (3)
- 【請求項１】 Ｘ線源と、該Ｘ線源を移動させるＸ線源
移動装置と、前記Ｘ線源を制御するＸ線源制御装置と、
前記Ｘ線源の移動及び撮影を制御する撮影制御装置と、
各Ｘ線源位置における被検体との透過Ｘ線量を検出する
Ｘ線検出器と、該Ｘ線検出器を制御して撮影画像を取り
込むＸ線検出器制御装置と、前記Ｘ線源の位置と前記撮
影画像によりＸ線源の移動に対する被検体の透過Ｘ線量
の違いによる輝度変化を抽出する輝度変化抽出演算処理
装置と、抽出された輝度変化によりきずの有無を判定す
るきず判定装置と、きずの有無の結果を表示する表示装
置と、きずの有無の結果を記録する処理結果記録装置と
で構成されることを特徴とする割れきず用Ｘ線検査装
置。 - 【請求項２】 前記Ｘ線検出器は、斜めに入射するＸ線
をも検知可能であることを特徴とする請求項１記載の割
れきず用Ｘ線検査装置。 - 【請求項３】 前記きず判定装置は、健全部における被
検体の透過Ｘ線量に比較して、透過Ｘ線量の顕著な変化
があったときに、きずがあると判定することを特徴とす
る請求項１又は２記載の割れきず用Ｘ線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10222896A JPH09288072A (ja) | 1996-04-24 | 1996-04-24 | 割れきず用ｘ線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10222896A JPH09288072A (ja) | 1996-04-24 | 1996-04-24 | 割れきず用ｘ線検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09288072A true JPH09288072A (ja) | 1997-11-04 |
Family
ID=14321804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10222896A Pending JPH09288072A (ja) | 1996-04-24 | 1996-04-24 | 割れきず用ｘ線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09288072A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104569006A (zh) * | 2015-01-16 | 2015-04-29 | 成都理工大学 | 废物桶中放射性废物水泥固化体裂缝检测装置和方法 |
| JP2016085199A (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-19 | 三菱重工業株式会社 | き裂評価方法 |
| JP2018003461A (ja) * | 2016-07-04 | 2018-01-11 | 川崎重工業株式会社 | 平底円筒型タンクの内槽側板建造方法 |
-
1996
- 1996-04-24 JP JP10222896A patent/JPH09288072A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016085199A (ja) * | 2014-10-29 | 2016-05-19 | 三菱重工業株式会社 | き裂評価方法 |
| CN104569006A (zh) * | 2015-01-16 | 2015-04-29 | 成都理工大学 | 废物桶中放射性废物水泥固化体裂缝检测装置和方法 |
| JP2018003461A (ja) * | 2016-07-04 | 2018-01-11 | 川崎重工業株式会社 | 平底円筒型タンクの内槽側板建造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011204 |