JP3371526B2 - 塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法 - Google Patents
塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法Info
- Publication number
- JP3371526B2 JP3371526B2 JP06286694A JP6286694A JP3371526B2 JP 3371526 B2 JP3371526 B2 JP 3371526B2 JP 06286694 A JP06286694 A JP 06286694A JP 6286694 A JP6286694 A JP 6286694A JP 3371526 B2 JP3371526 B2 JP 3371526B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- measured
- light beam
- linear
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物の塗装面の状
態を検出する塗装面状態検出装置および塗装面状態検出
方法に係り、特に被測定物の塗装面の小さなごみもしく
は塗料のぶつなどを検出する塗装面状態検出装置および
塗装面状態検出方法に関する。
態を検出する塗装面状態検出装置および塗装面状態検出
方法に係り、特に被測定物の塗装面の小さなごみもしく
は塗料のぶつなどを検出する塗装面状態検出装置および
塗装面状態検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、工場で生産される自動車などの塗
装面の検査は、図８のような被測定物１に光線を照射す
るための光源２と、この光源２からの光線を線条の光線
にし被測定物１に照射するための線条光線手段であるス
リット３と、被測定物１に照射され反射するスリット３
からの線条の光線を受光し像として検出する像検出手段
であるＣＣＤカメラ４と、このＣＣＤカメラ４からの信
号を処理し被測定物の塗装面のごみおよび傷などを検出
するための画像処理部５と、この画像処理部５で処理さ
れる塗装面の状態を観察するためのモニタ部６からなる
塗装面状態検出装置により行われていた。
装面の検査は、図８のような被測定物１に光線を照射す
るための光源２と、この光源２からの光線を線条の光線
にし被測定物１に照射するための線条光線手段であるス
リット３と、被測定物１に照射され反射するスリット３
からの線条の光線を受光し像として検出する像検出手段
であるＣＣＤカメラ４と、このＣＣＤカメラ４からの信
号を処理し被測定物の塗装面のごみおよび傷などを検出
するための画像処理部５と、この画像処理部５で処理さ
れる塗装面の状態を観察するためのモニタ部６からなる
塗装面状態検出装置により行われていた。
【０００３】このような塗装面状態検出装置は、以下の
ように動作する。
ように動作する。
【０００４】光源２からの光線は、スリット３により線
条の光線になり被測定物１に照射される。そして、被測
定物に照射され反射する線条の光線は、ＣＣＤカメラ４
で像として検出されることになる。このとき検出される
像は、塗装面上に小さな傷もしくは塗料のぶつなどがな
い場合には、歪みのない線条の像として画像処理部５に
より２値化されモニタ６により検出できる。また、塗装
面上に小さな傷もしくは塗料のぶつなどがある場合に
は、線条の光線が塗装面上に小さな傷もしくは塗料のぶ
つなどにより歪み、線条の光線の明部にぶつなどがある
ときは図９のＢのように暗部に白色点として、線条の光
線の暗部にぶつなどがあるとき図９のＡのように明部に
黒色点として、それぞれ画像処理部５により２値化され
モニタ６により検出できる。
条の光線になり被測定物１に照射される。そして、被測
定物に照射され反射する線条の光線は、ＣＣＤカメラ４
で像として検出されることになる。このとき検出される
像は、塗装面上に小さな傷もしくは塗料のぶつなどがな
い場合には、歪みのない線条の像として画像処理部５に
より２値化されモニタ６により検出できる。また、塗装
面上に小さな傷もしくは塗料のぶつなどがある場合に
は、線条の光線が塗装面上に小さな傷もしくは塗料のぶ
つなどにより歪み、線条の光線の明部にぶつなどがある
ときは図９のＢのように暗部に白色点として、線条の光
線の暗部にぶつなどがあるとき図９のＡのように明部に
黒色点として、それぞれ画像処理部５により２値化され
モニタ６により検出できる。
【０００５】しかしながら、このように線条の光線の歪
みによって塗装面上の小さな傷もしくは塗料のぶつなど
を検出することは、ぶつなどが線条の光線の明部の中央
部もしくは暗部の中央部にある場合、線条の光線がぶつ
などの影響をあまり受けないために歪みの少ない線条の
像として画像処理部５で処理されるので被測定物の塗装
面上の小さな傷および塗料のぶつなどを検出する検出率
を低下させていた。
みによって塗装面上の小さな傷もしくは塗料のぶつなど
を検出することは、ぶつなどが線条の光線の明部の中央
部もしくは暗部の中央部にある場合、線条の光線がぶつ
などの影響をあまり受けないために歪みの少ない線条の
像として画像処理部５で処理されるので被測定物の塗装
面上の小さな傷および塗料のぶつなどを検出する検出率
を低下させていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明の目的
は、係る問題点である被測定物の塗装面を測定する際に
線条の光線の明部もしくは暗部の中央部に小さな傷また
は塗料のぶつなどがあっても容易にこれらを検出できる
塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法を提供す
ることを目的とする。
は、係る問題点である被測定物の塗装面を測定する際に
線条の光線の明部もしくは暗部の中央部に小さな傷また
は塗料のぶつなどがあっても容易にこれらを検出できる
塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法を提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を解決するた
めの本発明の塗装面状態検出装置は、被測定物に光線を
照射するための光源と、当該光源からの光線を線条の光
線にし被測定物に照射するための線条光線手段と、被測
定物に照射され反射する当該線条光線手段からの線条の
光線を受光し像として撮像する像検出手段と、からなる
塗装面状態検出装置において、前記線条光線手段を前記
光源に対して移動させ、被測定物に照射される線条の光
線の明暗部の位置を変えるための移動手段と、前記像検
出手段で撮像した線条の像の画像データを輝度変化の大
きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし
合わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手
段と、を有することを特徴とする。
めの本発明の塗装面状態検出装置は、被測定物に光線を
照射するための光源と、当該光源からの光線を線条の光
線にし被測定物に照射するための線条光線手段と、被測
定物に照射され反射する当該線条光線手段からの線条の
光線を受光し像として撮像する像検出手段と、からなる
塗装面状態検出装置において、前記線条光線手段を前記
光源に対して移動させ、被測定物に照射される線条の光
線の明暗部の位置を変えるための移動手段と、前記像検
出手段で撮像した線条の像の画像データを輝度変化の大
きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし
合わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手
段と、を有することを特徴とする。
【０００８】本発明の塗装面状態検出方法は、被測定物
に光線を照射するための光源と、当該光源からの光線を
線条の光線にし被測定物に照射するための線条光線手段
と、被測定物に照射され反射する当該線条光線手段から
の線条の光線を受光し像として撮像する像検出手段と、
からなる塗装面状態検出装置を用いて被測定物の塗装面
を検出する塗装面状態検出方法であって、前記線条光線
手段により前記光源からの光を線条の光線とした後に被
測定物に照射し、前記線条光線手段を前記光源に対して
移動し被測定物に照射される線条の光線の明暗部の位置
を変え、被測定物で反射する線条の光線を前記像検出手
段により像として撮像し、当該像の画像データを輝度変
化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画像
をたし合わせて被測定物の塗装面の状態を検出すること
を特徴とする。
に光線を照射するための光源と、当該光源からの光線を
線条の光線にし被測定物に照射するための線条光線手段
と、被測定物に照射され反射する当該線条光線手段から
の線条の光線を受光し像として撮像する像検出手段と、
からなる塗装面状態検出装置を用いて被測定物の塗装面
を検出する塗装面状態検出方法であって、前記線条光線
手段により前記光源からの光を線条の光線とした後に被
測定物に照射し、前記線条光線手段を前記光源に対して
移動し被測定物に照射される線条の光線の明暗部の位置
を変え、被測定物で反射する線条の光線を前記像検出手
段により像として撮像し、当該像の画像データを輝度変
化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画像
をたし合わせて被測定物の塗装面の状態を検出すること
を特徴とする。
【０００９】また、本発明の塗装面状態検出装置は、移
動する被測定物に光線を照射するための光源と、当該光
源からの光線を線条の光線にし被測定物に照射するため
の線条光線手段と、前記被測定物に照射され反射する当
該線条光線手段からの線条の光線を受光し像として撮像
する像検出手段と、からなる塗装面状態検出装置におい
て、前記被測定物の移動位置および移動速度を検出する
ための位置速度検出手段と、当該位置速度検出手段によ
り検出される前記被測定物の移動位置および移動速度か
ら前記像検出手段で撮像した線条の像を移動した分だけ
ずらしながら、当該像の画像データを輝度変化の大きい
画像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし合わ
せて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手段
と、を有することを特徴とする。
動する被測定物に光線を照射するための光源と、当該光
源からの光線を線条の光線にし被測定物に照射するため
の線条光線手段と、前記被測定物に照射され反射する当
該線条光線手段からの線条の光線を受光し像として撮像
する像検出手段と、からなる塗装面状態検出装置におい
て、前記被測定物の移動位置および移動速度を検出する
ための位置速度検出手段と、当該位置速度検出手段によ
り検出される前記被測定物の移動位置および移動速度か
ら前記像検出手段で撮像した線条の像を移動した分だけ
ずらしながら、当該像の画像データを輝度変化の大きい
画像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし合わ
せて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手段
と、を有することを特徴とする。
【００１０】本発明の塗装面状態検出方法は、移動する
被測定物に光線を照射するための光源と、当該光源から
の光線を線条の光線にし被測定物に照射するための線条
光線手段と、前記被測定物に照射され反射する当該線条
光線手段からの線条の光線を受光し像として撮像する像
検出手段と、からなる塗装面状態検出装置を用いて被測
定物の塗装面を検出する塗装面状態検出方法であって、
前記線条光線手段により前記光源からの光を線条の光線
とした後に前記被測定物に照射し、前記被測定物で反射
する線条の光線を前記像検出手段により像として撮像
し、前記被測定物の移動位置および移動速度から前記像
検出手段で撮像した線条の像を移動した分だけずらしな
がら、当該像の画像データを輝度変化の大きい画像のみ
とする処理を行い、さらにこの画像をたし合わせて被測
定物の塗装面の状態を検出することを特徴とする。
被測定物に光線を照射するための光源と、当該光源から
の光線を線条の光線にし被測定物に照射するための線条
光線手段と、前記被測定物に照射され反射する当該線条
光線手段からの線条の光線を受光し像として撮像する像
検出手段と、からなる塗装面状態検出装置を用いて被測
定物の塗装面を検出する塗装面状態検出方法であって、
前記線条光線手段により前記光源からの光を線条の光線
とした後に前記被測定物に照射し、前記被測定物で反射
する線条の光線を前記像検出手段により像として撮像
し、前記被測定物の移動位置および移動速度から前記像
検出手段で撮像した線条の像を移動した分だけずらしな
がら、当該像の画像データを輝度変化の大きい画像のみ
とする処理を行い、さらにこの画像をたし合わせて被測
定物の塗装面の状態を検出することを特徴とする。
【００１１】
【作用】本発明の塗装面状態検出装置は、線条光線手段
より光源からの光線を線条の光線としこの線条の光線を
被測定物に照射し、移動手段により線条光線手段を光源
に対して移動し被測定物に照射する線条の光線の明暗部
の位置を変えると共に、像検出手段により被測定物から
の反射光を像として撮像し、画像処理手段によりこの撮
像した像の線条が消え小さな傷および塗料のぶつなどの
像が強調されるように、撮像した像の画像データを輝度
変化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画
像をたし合わせることによって、小さな傷および塗料の
ぶつなどを検出する。そして、塗装面状態検出方法は、
線条光線手段により線条の光線を被測定物に照射し、こ
の線条光線手段を光源に対して移動し被測定物に照射さ
れる線条の光線の明暗部の位置を変化させると共に像検
出手段によりこの像を撮像し、線条が消え小さな傷およ
び塗料のぶつなどの像が強調されるように、撮像した像
の画像データを輝度変化の大きい画像のみとする処理を
行い、さらにこの画像をたし合わせることによって、小
さな傷および塗料のぶつなどを検出する。
より光源からの光線を線条の光線としこの線条の光線を
被測定物に照射し、移動手段により線条光線手段を光源
に対して移動し被測定物に照射する線条の光線の明暗部
の位置を変えると共に、像検出手段により被測定物から
の反射光を像として撮像し、画像処理手段によりこの撮
像した像の線条が消え小さな傷および塗料のぶつなどの
像が強調されるように、撮像した像の画像データを輝度
変化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画
像をたし合わせることによって、小さな傷および塗料の
ぶつなどを検出する。そして、塗装面状態検出方法は、
線条光線手段により線条の光線を被測定物に照射し、こ
の線条光線手段を光源に対して移動し被測定物に照射さ
れる線条の光線の明暗部の位置を変化させると共に像検
出手段によりこの像を撮像し、線条が消え小さな傷およ
び塗料のぶつなどの像が強調されるように、撮像した像
の画像データを輝度変化の大きい画像のみとする処理を
行い、さらにこの画像をたし合わせることによって、小
さな傷および塗料のぶつなどを検出する。
【００１２】また、本装置は、線条光線手段により線条
の光線を移動する被測定物に照射し、像検出手段により
この被測定物で反射する線条の反射光を像として撮像
し、位置速度検出手段により検出される移動する被測定
物の移動位置および移動速度から前述の撮像した像が移
動した分だけずらしながら、当該像の画像データを輝度
変化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画
像をたし合わせ、線条が消え小さな傷および塗料のぶつ
などの像が強調された画像とし、この画像より小さな傷
および塗料のぶつなどを検出する。一方、本方法は、線
条光線手段により線条の光線を移動する被測定物に照射
し、像検出手段によりこの被測定物で反射する線条の光
線を像として撮像し、移動する非測定物の位置および速
度から像検出手段により撮像した像が移動した分だけず
らしながら、当該像の画像データを輝度変化の大きい画
像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし合わ
せ、線条が消え小さな傷および塗料のぶつなどの像が強
調された画像とし、この画像より小さな傷および塗料の
ぶつなどを検出する。
の光線を移動する被測定物に照射し、像検出手段により
この被測定物で反射する線条の反射光を像として撮像
し、位置速度検出手段により検出される移動する被測定
物の移動位置および移動速度から前述の撮像した像が移
動した分だけずらしながら、当該像の画像データを輝度
変化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画
像をたし合わせ、線条が消え小さな傷および塗料のぶつ
などの像が強調された画像とし、この画像より小さな傷
および塗料のぶつなどを検出する。一方、本方法は、線
条光線手段により線条の光線を移動する被測定物に照射
し、像検出手段によりこの被測定物で反射する線条の光
線を像として撮像し、移動する非測定物の位置および速
度から像検出手段により撮像した像が移動した分だけず
らしながら、当該像の画像データを輝度変化の大きい画
像のみとする処理を行い、さらにこの画像をたし合わ
せ、線条が消え小さな傷および塗料のぶつなどの像が強
調された画像とし、この画像より小さな傷および塗料の
ぶつなどを検出する。
【００１３】
【実施例】以下、添付した図面を使用して本発明の塗装
面状態検出装置および塗装面状態検出方法を説明する。
面状態検出装置および塗装面状態検出方法を説明する。
【００１４】第１実施例の装置には、図１のように従来
例で説明した図８の塗装面状態検出装置にさらに、スリ
ット３を光源２と平行方向に移動させ被測定物１に照射
される線条の光線の明暗部の位置を変えるための移動手
段であるモータ１５と、このモータ１５とスリット３を
接続し可動するための接続部１３と、モータ１５を所望
の回転数に自在に制御するためのモータ制御部１７と、
ＣＣＤカメラ４で撮像した線条の像の線条が消え小さな
傷および塗料のぶつなどの像が強調されるように画面を
たし合わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処
理手段である画像処理部１１を設けたものである。
例で説明した図８の塗装面状態検出装置にさらに、スリ
ット３を光源２と平行方向に移動させ被測定物１に照射
される線条の光線の明暗部の位置を変えるための移動手
段であるモータ１５と、このモータ１５とスリット３を
接続し可動するための接続部１３と、モータ１５を所望
の回転数に自在に制御するためのモータ制御部１７と、
ＣＣＤカメラ４で撮像した線条の像の線条が消え小さな
傷および塗料のぶつなどの像が強調されるように画面を
たし合わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処
理手段である画像処理部１１を設けたものである。
【００１５】なお、スリット３は、光線を線条に拡散さ
せる拡散レンズでもよい。また、モータ１５は、スリッ
ト３を光源と平行方向に移動できればよくソレノイドな
どのアクチュエータでもよい。光源２は、レーザ光源お
よび蛍光灯などである。
せる拡散レンズでもよい。また、モータ１５は、スリッ
ト３を光源と平行方向に移動できればよくソレノイドな
どのアクチュエータでもよい。光源２は、レーザ光源お
よび蛍光灯などである。
【００１６】以上のような装置は、次のように動作す
る。
る。
【００１７】光源２で発生する光線は、スリット３によ
り線条の光線にされ被測定物１に照射される。このと
き、スリット３は、モータ制御部１７により制御される
モータ１５により線条の光線の明暗部が一定間隔でずれ
るように可動される。そして、ＣＣＤカメラ４で撮像さ
れる像は、図２のように明暗部が一定間隔でずれた像と
なり、この像のデータをそれぞれ画像処理部１１により
微分フィルタを通過させる。この微分フィルタは、ＣＣ
Ｄカメラ４の画素で検出される隣り合う画像データをそ
れぞれ引き算するので、結果として線条の輝度変化のあ
まりない画像データはほとんどなくなり、画像の輝度変
化が大きい箇所のみが強調される画像となる。したがっ
て、微分フィルタ処理後の画像をたし合わせることによ
り、塗装面上の小さな傷および塗料のぶつなどがより鮮
明に検出することができる。
り線条の光線にされ被測定物１に照射される。このと
き、スリット３は、モータ制御部１７により制御される
モータ１５により線条の光線の明暗部が一定間隔でずれ
るように可動される。そして、ＣＣＤカメラ４で撮像さ
れる像は、図２のように明暗部が一定間隔でずれた像と
なり、この像のデータをそれぞれ画像処理部１１により
微分フィルタを通過させる。この微分フィルタは、ＣＣ
Ｄカメラ４の画素で検出される隣り合う画像データをそ
れぞれ引き算するので、結果として線条の輝度変化のあ
まりない画像データはほとんどなくなり、画像の輝度変
化が大きい箇所のみが強調される画像となる。したがっ
て、微分フィルタ処理後の画像をたし合わせることによ
り、塗装面上の小さな傷および塗料のぶつなどがより鮮
明に検出することができる。
【００１８】また、第１実施例を用いる塗装面状態検出
方法は、図４のフローチャートのようにＣＣＤカメラ４
にて被測定物からの反射光を撮像する（Ｓ１）ことによ
り図３（ａ）のような画像を得、次に被測定物の撮像デ
ータを微分フィルタに通し、図３（ｂ）のような輝度変
化の大きい箇所の強調された画像データを得る（Ｓ
２）。さらにスリット３を移動させ（Ｓ３）、スリット
３の移動回数が６回以上になったならば前述の撮像デー
タをたし合わせて図３（ｃ）のような像とし（Ｓ５）、
被測定物の塗装面の塗料のぶつなどの位置および大きさ
を検出する（Ｓ６）。
方法は、図４のフローチャートのようにＣＣＤカメラ４
にて被測定物からの反射光を撮像する（Ｓ１）ことによ
り図３（ａ）のような画像を得、次に被測定物の撮像デ
ータを微分フィルタに通し、図３（ｂ）のような輝度変
化の大きい箇所の強調された画像データを得る（Ｓ
２）。さらにスリット３を移動させ（Ｓ３）、スリット
３の移動回数が６回以上になったならば前述の撮像デー
タをたし合わせて図３（ｃ）のような像とし（Ｓ５）、
被測定物の塗装面の塗料のぶつなどの位置および大きさ
を検出する（Ｓ６）。
【００１９】なお、スリット３の移動回数は、例では６
回としたが被測定物１の大きさまたは線条の光線の幅な
どにより移動回数は異なるものであり、被測定物１の塗
装面が十分検出できる程度に移動回数を設定する。
回としたが被測定物１の大きさまたは線条の光線の幅な
どにより移動回数は異なるものであり、被測定物１の塗
装面が十分検出できる程度に移動回数を設定する。
【００２０】第２実施例の装置には、図５のように従来
例で説明した図８の塗装面状態検出装置にさらに、移動
する被測定物の移動位置および移動速度を検出するため
の位置速度検出手段である位置速度検出部２３と、この
位置速度検出部２３からの信号をディジタル値などに処
理するための位置速度検出処理部２５と、位置速度検出
部２３により検出される被測定物１の移動位置および移
動速度からＣＣＤカメラ４で撮像した線条の像をたし合
わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手段
である画像処理部２１を設けたものである。
例で説明した図８の塗装面状態検出装置にさらに、移動
する被測定物の移動位置および移動速度を検出するため
の位置速度検出手段である位置速度検出部２３と、この
位置速度検出部２３からの信号をディジタル値などに処
理するための位置速度検出処理部２５と、位置速度検出
部２３により検出される被測定物１の移動位置および移
動速度からＣＣＤカメラ４で撮像した線条の像をたし合
わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画像処理手段
である画像処理部２１を設けたものである。
【００２１】なお、位置速度検出部２３は、例えばエン
コーダおよびレーザー光反射形検出器もしくはドップラ
ー効果を利用した位置および速度検出器など被測定物の
位置および速度が検出できるものである。
コーダおよびレーザー光反射形検出器もしくはドップラ
ー効果を利用した位置および速度検出器など被測定物の
位置および速度が検出できるものである。
【００２２】以上のような装置は、次のように動作す
る。
る。
【００２３】光源２で発生する光線は、スリット３によ
り線条の光線にされ移動する被測定物１に照射される。
このとき、ＣＣＤカメラ４で撮像される像は、図６のよ
うに明暗部が一定間隔でずれた像となり、この像のデー
タをそれぞれ画像処理部２１により微分フィルタを通過
させる。この微分フィルタは、ＣＣＤカメラ４の画素で
検出される隣り合う画像データをそれぞれ引き算するの
で、結果として線条の輝度変化のあまりない画像データ
はほとんどなくなり、画像の輝度変化が大きい箇所のみ
が強調される画像となる。したがって、微分フィルタ処
理後の画像を位置速度検出部２３で検出し位置速度検出
処理部２５で処理される被測定物１の位置および速度か
ら被測定物１が移動した分だけ画像をずらせてたし合わ
せ画像とするので小さな傷および塗料のぶつなどがより
鮮明に検出することができる。
り線条の光線にされ移動する被測定物１に照射される。
このとき、ＣＣＤカメラ４で撮像される像は、図６のよ
うに明暗部が一定間隔でずれた像となり、この像のデー
タをそれぞれ画像処理部２１により微分フィルタを通過
させる。この微分フィルタは、ＣＣＤカメラ４の画素で
検出される隣り合う画像データをそれぞれ引き算するの
で、結果として線条の輝度変化のあまりない画像データ
はほとんどなくなり、画像の輝度変化が大きい箇所のみ
が強調される画像となる。したがって、微分フィルタ処
理後の画像を位置速度検出部２３で検出し位置速度検出
処理部２５で処理される被測定物１の位置および速度か
ら被測定物１が移動した分だけ画像をずらせてたし合わ
せ画像とするので小さな傷および塗料のぶつなどがより
鮮明に検出することができる。
【００２４】また、第２実施例を用いる塗装面状態検出
方法は、図７のフローチャートのように被測定物を１mm
移動し、（Ｓ１１）、このときの被測定物をＣＣＤカメ
ラ４により被測定物の反射光を撮像し（Ｓ１２）、被測
定物の撮像データを微分フィルタ処理を行うことにより
輝度変化の大きい箇所のみの画像とし（Ｓ１３）、この
画像を１mm分だけずらした画像たし合わせ（Ｓ１４）、
これらを繰り返し被測定物１の全体の測定が終了したな
らば（Ｓ１５）、たし合わせた画像から塗装面上の塗料
のぶつなどの位置および大きさを検出する（Ｓ１６）。
方法は、図７のフローチャートのように被測定物を１mm
移動し、（Ｓ１１）、このときの被測定物をＣＣＤカメ
ラ４により被測定物の反射光を撮像し（Ｓ１２）、被測
定物の撮像データを微分フィルタ処理を行うことにより
輝度変化の大きい箇所のみの画像とし（Ｓ１３）、この
画像を１mm分だけずらした画像たし合わせ（Ｓ１４）、
これらを繰り返し被測定物１の全体の測定が終了したな
らば（Ｓ１５）、たし合わせた画像から塗装面上の塗料
のぶつなどの位置および大きさを検出する（Ｓ１６）。
【００２５】なお、ＣＣＤカメラ４で撮像する被測定物
１の移動距離は、例では１mmとしたが被測定物１の大き
さまたは線条の光線の幅などにより移動距離は異なるも
のであり、被測定物１の塗装面が十分検出できる程度に
移動距離を設定する。
１の移動距離は、例では１mmとしたが被測定物１の大き
さまたは線条の光線の幅などにより移動距離は異なるも
のであり、被測定物１の塗装面が十分検出できる程度に
移動距離を設定する。
【００２６】以上のように構成し、動作させることで本
発明の塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法
は、被測定物に照射する線条の光線の明暗部を移動させ
ると共にＣＣＤカメラ４により被測定物からの像を撮像
し、この撮像した画像データを微分フィルタなどにより
輝度変化の大きい画像のみとし、さらにこの画像をたし
合わせるので塗装面上の小さな傷および塗料の物を鮮明
に検出することができる。
発明の塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法
は、被測定物に照射する線条の光線の明暗部を移動させ
ると共にＣＣＤカメラ４により被測定物からの像を撮像
し、この撮像した画像データを微分フィルタなどにより
輝度変化の大きい画像のみとし、さらにこの画像をたし
合わせるので塗装面上の小さな傷および塗料の物を鮮明
に検出することができる。
【００２７】
【発明の効果】以上、述べたように本発明の装置は、被
測定物に照射する線条の光線を移動させる構成により被
測定物に照射する線条の光線の明暗部を移動し、この明
暗部が移動する像を撮像し、撮像した像の画像データを
輝度の変化が大きい箇所のみの画像とし、さらにこの画
像をたし合わせて小さな傷もしくは塗料のぶつなどを検
出する構成によって線条の光線の明部もしくは暗部の中
央部に小さな傷または塗料のぶつなどがあっても容易に
これらを検出できる。
測定物に照射する線条の光線を移動させる構成により被
測定物に照射する線条の光線の明暗部を移動し、この明
暗部が移動する像を撮像し、撮像した像の画像データを
輝度の変化が大きい箇所のみの画像とし、さらにこの画
像をたし合わせて小さな傷もしくは塗料のぶつなどを検
出する構成によって線条の光線の明部もしくは暗部の中
央部に小さな傷または塗料のぶつなどがあっても容易に
これらを検出できる。
【００２８】そして、本方法は、被測定物に照射する線
条の光線を移動させるので、被測定物に照射される線条
の光線の明暗部が移動することになり、この明暗部が移
動する像を撮像し、撮像した像の画像データを輝度の変
化が大きい箇所のみの画像とし、さらにこの画像をたし
合わせて小さな傷もしくは塗料のぶつなどを検出するの
で線条の光線の明部もしくは暗部の中央部に小さな傷ま
たは塗料のぶつなどがあっても容易にこれらを検出でき
る。
条の光線を移動させるので、被測定物に照射される線条
の光線の明暗部が移動することになり、この明暗部が移
動する像を撮像し、撮像した像の画像データを輝度の変
化が大きい箇所のみの画像とし、さらにこの画像をたし
合わせて小さな傷もしくは塗料のぶつなどを検出するの
で線条の光線の明部もしくは暗部の中央部に小さな傷ま
たは塗料のぶつなどがあっても容易にこれらを検出でき
る。
【００２９】一方、本装置は、被測定物が移動するの
で、被測定物に照射される線条の光線の明暗部が移動す
る構成により、この明暗部が移動する像を撮像し、撮像
した像の画像データを輝度の変化が大きい箇所のみの画
像とし、さらにこの画像をたし合わせて小さな傷もしく
は塗料のぶつなどを検出する構成によって線条の光線の
明部もしくは暗部の中央部に小さな傷または塗料のぶつ
などがあっても容易にこれらを検出できる。
で、被測定物に照射される線条の光線の明暗部が移動す
る構成により、この明暗部が移動する像を撮像し、撮像
した像の画像データを輝度の変化が大きい箇所のみの画
像とし、さらにこの画像をたし合わせて小さな傷もしく
は塗料のぶつなどを検出する構成によって線条の光線の
明部もしくは暗部の中央部に小さな傷または塗料のぶつ
などがあっても容易にこれらを検出できる。
【００３０】また、本方法は、被測定物が移動するの
で、被測定物に照射される線条の光線の明暗部が移動す
ることになり、この明暗部が移動する像を撮像し、撮像
した像の画像データを輝度の変化が大きい箇所のみの画
像とし、さらにこの画像をたし合わせて小さな傷もしく
は塗料のぶつなどを検出するので線条の光線の明部もし
くは暗部の中央部に小さな傷または塗料のぶつなどがあ
っても容易にこれらを検出できる。
で、被測定物に照射される線条の光線の明暗部が移動す
ることになり、この明暗部が移動する像を撮像し、撮像
した像の画像データを輝度の変化が大きい箇所のみの画
像とし、さらにこの画像をたし合わせて小さな傷もしく
は塗料のぶつなどを検出するので線条の光線の明部もし
くは暗部の中央部に小さな傷または塗料のぶつなどがあ
っても容易にこれらを検出できる。
【図１】 本発明の塗装面状態検出装置の第１実施例の
構成を説明するための図面である。
構成を説明するための図面である。
【図２】 本発明の塗装面状態検出装置の第１実施例の
画像処理を説明するための図面である。
画像処理を説明するための図面である。
【図３】 本発明の塗装面状態検出装置の第１実施例の
画像処理を説明するための図面である。
画像処理を説明するための図面である。
【図４】 本発明の塗装面状態検出方法を説明するため
のフローチャートである。
のフローチャートである。
【図５】 本発明の塗装面状態検出装置の第２実施例の
構成を説明するための図面である。
構成を説明するための図面である。
【図６】 本発明の塗装面状態検出装置の第２実施例の
画像処理を説明するための図面である。
画像処理を説明するための図面である。
【図７】 本発明の別の塗装面状態検出方法を説明する
ためのフローチャートである。
ためのフローチャートである。
【図８】 従来の塗装面状態検出装置の構成を説明する
ための図面である
ための図面である
【図９】 従来の塗装面状態検出装置の画像処理を説明
するための図面である。
するための図面である。
１…被測定物、 ２…光
源、３…スリット、 ４…
ＣＣＤカメラ、５，１１，２１…画像処理部、
６…モニタ部、１３…接続部、
１５…モータ、１７…モータ制御部、
２３…位置速度検出部、２５…位置
速度検出処理部。
源、３…スリット、 ４…
ＣＣＤカメラ、５，１１，２１…画像処理部、
６…モニタ部、１３…接続部、
１５…モータ、１７…モータ制御部、
２３…位置速度検出部、２５…位置
速度検出処理部。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭62−103545（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−201607（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−73139（ＪＰ，Ａ)
特開 平１−213509（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 21/84 - 21/958
G01B 11/00 - 11/30
Claims (4)
- 【請求項１】 被測定物に光線を照射するための光源
と、当該光源からの光線を線条の光線にし被測定物に照
射するための線条光線手段と、被測定物に照射され反射
する当該線条光線手段からの線条の光線を受光し像とし
て撮像する像検出手段と、からなる塗装面状態検出装置
において、 前記線条光線手段を前記光源に対して移動させ、被測定
物に照射される線条の光線の明暗部の位置を変えるため
の移動手段と、 前記像検出手段で撮像した線条の像の画像データを輝度
変化の大きい画像のみとする処理を行い、さらにこの画
像をたし合わせて被測定物の塗装面の状態を検出する画
像処理手段と、を有することを特徴とする塗装面状態検
出装置。 - 【請求項２】 被測定物に光線を照射するための光源
と、当該光源からの光線を線条の光線にし被測定物に照
射するための線条光線手段と、被測定物に照射され反射
する当該線条光線手段からの線条の光線を受光し像とし
て撮像する像検出手段と、からなる塗装面状態検出装置
を用いて被測定物の塗装面を検出する塗装面状態検出方
法であって、 前記線条光線手段により前記光源からの光を線条の光線
とした後に被測定物に照射し、 前記線条光線手段を前記光源に対して移動し被測定物に
照射される線条の光線の明暗部の位置を変え、 被測定物で反射する線条の光線を前記像検出手段により
像として撮像し、 当該像の画像データを輝度変化の大きい画像のみとする
処理を行い、さらにこの画像をたし合わせて被測定物の
塗装面の状態を検出することを特徴とする塗装面状態検
出方法。 - 【請求項３】 移動する被測定物に光線を照射するため
の光源と、当該光源からの光線を線条の光線にし被測定
物に照射するための線条光線手段と、前記被測定物に照
射され反射する当該線条光線手段からの線条の光線を受
光し像として撮像する像検出手段と、からなる塗装面状
態検出装置において、 前記被測定物の移動位置および移動速度を検出するため
の位置速度検出手段と、 当該位置速度検出手段により検出される前記被測定物の
移動位置および移動速度から前記像検出手段で撮像した
線条の像を移動した分だけずらしながら、当該像の画像
データを輝度変化の大きい画像のみとする処理を行い、
さらにこの画像をたし合わせて被測定物の塗装面の状態
を検出する画像処理手段と、を有することを特徴とする
塗装面状態検出装置。 - 【請求項４】 移動する被測定物に光線を照射するため
の光源と、当該光源からの光線を線条の光線にし被測定
物に照射するための線条光線手段と、前記被測定物に照
射され反射する当該線条光線手段からの線条の光線を受
光し像として撮像する像検出手段と、からなる塗装面状
態検出装置を用いて被測定物の塗装面を検出する塗装面
状態検出方法であって、 前記線条光線手段により前記光源からの光を線条の光線
とした後に前記被測定物に照射し、 前記被測定物で反射する線条の光線を前記像検出手段に
より像として撮像し、 前記被測定物の移動位置および移動速度から前記像検出
手段で撮像した線条の像を移動した分だけずらしなが
ら、当該像の画像データを輝度変化の大きい画像のみと
する処理を行い、さらにこの画像をたし合わせて被測定
物の塗装面の状態を検出することを特徴とする塗装面状
態検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06286694A JP3371526B2 (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06286694A JP3371526B2 (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07270323A JPH07270323A (ja) | 1995-10-20 |
| JP3371526B2 true JP3371526B2 (ja) | 2003-01-27 |
Family
ID=13212648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06286694A Expired - Fee Related JP3371526B2 (ja) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | 塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3371526B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4147682B2 (ja) * | 1998-04-27 | 2008-09-10 | 旭硝子株式会社 | 被検物の欠点検査方法および検査装置 |
| JP4666908B2 (ja) | 2003-12-12 | 2011-04-06 | キヤノン株式会社 | 露光装置、計測方法及びデバイス製造方法 |
| JP4704846B2 (ja) * | 2005-08-03 | 2011-06-22 | 昭和電工株式会社 | 表面検査方法および同装置 |
| FR2914422B1 (fr) * | 2007-03-28 | 2009-07-03 | Soitec Silicon On Insulator | Procede de detection de defauts de surface d'un substrat et dispositif mettant en oeuvre ledit procede. |
| JP2010234237A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Toray Eng Co Ltd | 塗布装置及び塗布方法 |
| JP5760371B2 (ja) * | 2010-10-13 | 2015-08-12 | 富士通株式会社 | 塗装表面欠陥検査方法 |
| GB2497135A (en) * | 2011-12-02 | 2013-06-05 | Univ Nottingham | Optical detector with a plurality of pixel pairs for laser ultrasonic surface inspection |
| JP6393663B2 (ja) * | 2015-07-06 | 2018-09-19 | 株式会社豊田中央研究所 | 表面検査装置 |
| CN105158259A (zh) * | 2015-08-14 | 2015-12-16 | 浙江江山三友电子有限公司 | 灯丝涂粉质量实时检测装置 |
| JP6590633B2 (ja) * | 2015-10-19 | 2019-10-16 | リコーエレメックス株式会社 | 画像検査システム、電子機器、および画像検査方法 |
| CN106596584B (zh) * | 2016-11-15 | 2019-10-25 | 江汉大学 | 一种粘胶长丝毛丝检测的方法和装置 |
| JP7404747B2 (ja) * | 2019-10-02 | 2023-12-26 | コニカミノルタ株式会社 | ワークの表面欠陥検出装置及び検出方法、ワークの表面検査システム並びにプログラム |
| JP2021060392A (ja) * | 2020-08-21 | 2021-04-15 | コニカミノルタ株式会社 | ワークの表面欠陥検出装置及び検出方法、ワークの表面検査システム並びにプログラム |
| CN117969550B (zh) * | 2024-03-29 | 2024-06-04 | 长春汽车工业高等专科学校 | 一种基于图像识别的汽车缺陷分析方法及系统 |
-
1994
- 1994-03-31 JP JP06286694A patent/JP3371526B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07270323A (ja) | 1995-10-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3371526B2 (ja) | 塗装面状態検出装置および塗装面状態検出方法 | |
| JPH0674907A (ja) | 透明板状体の欠点検出方法 | |
| JP3185559B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2011038773A (ja) | ロボット追従式画像検査装置、ロボット追従式画像検査方法及びロボット追従式画像検査に用いるコンピュータプログラム | |
| JP4633245B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
| JP3514107B2 (ja) | 塗装欠陥検査装置 | |
| JP4491850B2 (ja) | レーザ溶接機におけるレーザ照射点検出装置及びシーム位置検出装置 | |
| JP3189588B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH0713598B2 (ja) | 周期性パタ−ンの欠陥検査方法 | |
| JPH0979988A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| EP0374977B1 (en) | Method and device for the detection and classification of the crimpling of a surface treatment | |
| JPS5818103A (ja) | 散乱体雰囲気中での被測定面の形状測定方法 | |
| JPH05231837A (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
| JP3871963B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
| CN110412056A (zh) | 一种车载玻璃模组自动光学检测方法及装置 | |
| JPH0283438A (ja) | 透明板表面の付着物等評価装置 | |
| JP2792517B2 (ja) | 試料の検査方法 | |
| JP3160838B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP3202089B2 (ja) | 周期性パターンの表面欠陥検査方法 | |
| JP2911619B2 (ja) | 周期性パターンの表面欠陥検査方法および装置 | |
| JP2683248B2 (ja) | 着色周期性パターンの検査方法 | |
| JP2007003332A (ja) | 板状体側面の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
| JP2955686B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP3433333B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPH0972722A (ja) | 基板外観検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |