JPS58138608A - 樹脂封止形半導体装置用モ−ルド金型 - Google Patents

樹脂封止形半導体装置用モ−ルド金型

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JPS58138608A
JPS58138608A JP2150882A JP2150882A JPS58138608A JP S58138608 A JPS58138608 A JP S58138608A JP 2150882 A JP2150882 A JP 2150882A JP 2150882 A JP2150882 A JP 2150882A JP S58138608 A JPS58138608 A JP S58138608A
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JP
Japan
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runner
semiconductor device
resin
lead frame
draft
Prior art date
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Application number
JP2150882A
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English (en)
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JPH0233509B2 (ja
Inventor
Keigo Ikeda
池田 啓悟
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、IC,)ランジスタなどの半導体装tt’
ポ/デイングエ機で取り付けたリードフレームを位wL
決め載置し、上記千尋体装置の部分にmmytm圧注入
して倒脂封止形手導体装置を成形丁6鰍に用いるモール
ド金ti;m<以下、単に金製と略称する)に関するも
のであ゛る。
第1図(a)および(b)はそれぞれ**封止形lCの
一例の外形を示す斜視図および側田園である。
ag 2 m kpm 1 m (a) # j:び<
b) K示f@Mii封止形ICがリードフレームに成
形された状mを示す斜視図である。
@a図は#air封止形IC成形用の従来の下型な示す
平面図、[4図は纂3−の1−1−での断面図である。
これらの−において、1は下金緘、2は前記下金騰1に
加工されたランナ、4は前記下金臘1に加工され第1図
に示した**封止形ICの樹劇封止部の下半分の形状と
同一の形状を有したキャビティ、3は前記下金11i1
に加工されう/す2かりキャビティ4へ11jIlII
−導くゲート、5は位置決めビンで、リードフレーム1
4Km工された位置決め穴141と嵌合しリードフレー
ム14&下金戯1に正しく1位置決めし、フレーム鎮を
向6,1に載置する。8は空気抜きで、ランナ2の端s
K加工された浅い溝である1、9.10は前記下金臘1
に付着した樹mvエジェクトするエジェクタ穴で、エジ
ェクタ穴1.10にはニジエフタビ′/11゜12が摺
動可能に挿入されており、モールド終了恢、キャビティ
向ランナ等tエジェクトし盤より離1Mする。第1図(
1)および<b)の12m、12b。
纂2図のlla、llb、12m、12bk裏エジエク
タビン跡である。
な−、下金111に裏下金型1り千ヤビティ4と対向1
6表向部の部分に第1図に示した剃膚封止形ICのm*
封止部の上半分の形状と四−の形状なMするキャビティ
が形成され、位置決めビン5に対向する表面−の部分に
位1決めピン5を挿入可能な位1IIl因めビン挿入穴
が加工されており、う/す2、ゲート3.空気抜き8が
ない状−と同様であるので、以下、下金型についての図
示12らびに説明は省略し、下金型1についてのみ説明
することにする。
上記でg明した下金mlと止金′INlン用いて稠腫封
止形IC4’成形するわけであるが、ます便用する1l
IJ11、例えばエポキシ@腫、シリコン樹mなどの熱
値化性11驕の成形温度に下金mtsよび止金111w
I!+瓢し、リードフレーム14k”下金型1に正しく
載置しプレスにより下金Mlと上金型ンm−めする。
次に、第3図の太線矢印方向から樹脂な注入加圧すれば
樹脂は、順次ランナ2→ゲート3→キャビティ4に充填
される。樹脂を注入加圧後、樹脂が硬化するのtまって
鳳開きゼすると、まず下金型に設けられたエジェクタピ
ンにより下金型に付着した5arrが1董され、プレス
下死点で下金fII!1に設けられたエジェクタピン1
1,12にょ91m脂部が離mだれ第2図に示す工5な
成形品が得られる。
上記従来例による金IIi構造においては、プレス下死
点での一臘時にランナ2の終端面B(纂4−)とエジェ
クタピン11との閾のms付着応カのため第4図に示す
C闇に曲げモーメントが作用し、ランナ2m(第2図)
が艦載するとき振動した9、ランナ2aが折れ残るとい
うm象があった。
従来のmm封止形半導体装置用金屋では、この振m現象
やランナ2aの折れ椀象のためリードフレーム14がラ
ンナ2aから外れリードフレーム14が臘に残ったり、
折れたランナ2aが型内に!!&ることがあった。その
ため成形製品の柩出じや、ランナ2aが盤内に伐ってい
ないかt点検する会費があるなどの欠点があるとともに
、桝f1−jt止作粂の自動化を阻害する原因ともなっ
ていた。
この発11.1、上述の間趙点にかんがみなされたもの
で、う/すの終端面での11riIの引っかかり振a’
tなくシ、また、amの折れ浅りtなくした樹JIIi
Ij1止形半導体装置用金aihv提供すりことな目的
とする◎以下、第1図に示した一膚封止形ICの成形に
用いるこの発明の一実施例の金mt編5図。
gstllQrcついてitt明する。
この実施例にSいても、第3 ll!Qe第4図に示し
た値米儒と同様に下金型を工下金盛とほは同様であるの
で、下金型の説明は省略し、下金型についてのみ説明す
る。
145図はこの実施例の下金型を示す平向図、第sg1
は#I5図のト1線でのM面図である。これらの図にお
いて、1〜12は上述した従来例と同等のものであり、
13は前記ランナ2より注入されたl111iIt下雀
m1から流出するのt封止するための端板、この端@1
3は下金m1にねじ締め(卸示せず)結合されている。
端板13には空気抜き8が加工されている。15はモー
ルド成形後ランナ2の終端面と、端板13との接触面か
ら固着した樹脂が容易K11lllllするように、端
板13とランf2(1)@la’flAi1gの端1j
13に加工された本発明の特徴である抜きこう配である
上記構成の金層によれは、ランナ2の終端−と端板13
の接触面に加工された抜きこ5tIi!、15により、
従来例で説明した発、化モーメントな着しく軽減できる
なお、この発明の説明は、下金型1にランナ2が設けら
れたものについて行ったが、止金層にランナがあった場
合にも、抜きこう配を同様に設けることにより同等の作
用な行わせることができる。
以上詳#IKIl!明したように、この発明はモールド
金層のランナの終端面に抜きこう配を形成したので、モ
ールド成形後、固着した@f1を容易KJ緘できるので
、作業総皐および時間の短編がはかれ砺勅皐を向上でき
る利点がある。
【図面の簡単な説明】
嬉1図(a) 、  (b)はそれぞれ11側封止形I
Cの一例の外形な示す斜視図および側面図、第2図はM
l−に示す樹驕封止形ICがリードフレームに成形され
た状jllな示す斜視図、第3図は従来例における下金
型の平面図、JI4図は第3図の1−1#lKよる断I
li図、第5図はこの発明の一実施例を示す下金型の平
面図、第6図は第5図のト」−による1IliIjl!
lQである。 図中、1は下金型、2はランナ、3はゲート、4番工千
ヤビテイ、5は位置決めビン、6.TはフL’−ム鎮a
m、 @4!空jLJtl、9.l Q@@zジzクタ
穴、11.12はエジェクタビン、13は端板、14は
リードフレーム、15は抜きこう配である。なお、図中
の同一符号は同一または相当部分を示す。 代塩人 扁野傷−(外1名) 第1図 第3図 第4図 第5図 第6図 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 ’ 、参f+ ノ表示特願昭87−21808 ’!2
、発明の名称    樹脂封止形半導体装置用モールド
余慶3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 代表者片由仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 図面 6、 補正の内容 図面の第6図中の符号13の引出線を別紙朱書のように
補正する。 以上 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 千尋体amが組み立てられたリードフレームと、このリ
    ードフレームを位11にめ載置し前記千尋体#を鑑の部
    分に横型を注入するためのランナ、ゲート、Sよびキャ
    ビチイン肩する上下一対のモールド盆mK#いて、この
    そ−ルド金″麺の前記ランナの終端函に扱きこう配ヶ形
    成したことな特徴とする1i!腫到止形半導体装置用モ
    ールド金臘。
JP2150882A 1982-02-10 1982-02-10 Jushifushigatahandotaisochomoorudokanagata Expired - Lifetime JPH0233509B2 (ja)

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JP2150882A JPH0233509B2 (ja) 1982-02-10 1982-02-10 Jushifushigatahandotaisochomoorudokanagata

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58138608A true JPS58138608A (ja) 1983-08-17
JPH0233509B2 JPH0233509B2 (ja) 1990-07-27

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003033922A (ja) * 2001-05-18 2003-02-04 Hitachi Ltd 成形金型クリーニング用シートおよびそれを用いた半導体装置の製造方法
CN114228017A (zh) * 2022-02-24 2022-03-25 南京博兰得电子科技有限公司 Dcdc转换器的成型装置、成型工艺及dcdc转换器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003033922A (ja) * 2001-05-18 2003-02-04 Hitachi Ltd 成形金型クリーニング用シートおよびそれを用いた半導体装置の製造方法
CN114228017A (zh) * 2022-02-24 2022-03-25 南京博兰得电子科技有限公司 Dcdc转换器的成型装置、成型工艺及dcdc转换器
CN114228017B (zh) * 2022-02-24 2022-04-29 南京博兰得电子科技有限公司 Dcdc转换器的成型装置、成型工艺及dcdc转换器

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JPH0233509B2 (ja) 1990-07-27

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