JPS58132984A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents
太陽電池の製造方法Info
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- JPS58132984A JPS58132984A JP57014635A JP1463582A JPS58132984A JP S58132984 A JPS58132984 A JP S58132984A JP 57014635 A JP57014635 A JP 57014635A JP 1463582 A JP1463582 A JP 1463582A JP S58132984 A JPS58132984 A JP S58132984A
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、プラズマOVD法により作製するアモルファ
スシリコン(以下ではα−11と書<)太陽電池におい
て、リン(以下ではPとかく)を含む溶液を用いてrの
ドーピングを行なうことにより、4l−si中にPの連
続的な濃度分布の傾斜をもたせ、性能向上を達成した太
陽電池の製造方法に関する。
スシリコン(以下ではα−11と書<)太陽電池におい
て、リン(以下ではPとかく)を含む溶液を用いてrの
ドーピングを行なうことにより、4l−si中にPの連
続的な濃度分布の傾斜をもたせ、性能向上を達成した太
陽電池の製造方法に関する。
近年、太陽電池の低コスト化へのアプローチとして、ト
11を用いた太陽電池が非常に注目を集めているゝ゛。
11を用いた太陽電池が非常に注目を集めているゝ゛。
従来のa −s i薄膜太陽電池の断面構造を第1図に
示す。同図において、11はガラス、12は透明導電膜
で、通常S:aO1,工n、03 、XTO(インジウ
ム酸化錫)が用いられる。また、15はα−,si膜で
透明導電llXff1IlからP層、1層、A層の積層
構造になっている。14はアルミ電極である光は矢印ム
の方向から照射され、太陽電池の電気的出力は、透明電
極12とアルミ電極14とから取り出す。
示す。同図において、11はガラス、12は透明導電膜
で、通常S:aO1,工n、03 、XTO(インジウ
ム酸化錫)が用いられる。また、15はα−,si膜で
透明導電llXff1IlからP層、1層、A層の積層
構造になっている。14はアルミ電極である光は矢印ム
の方向から照射され、太陽電池の電気的出力は、透明電
極12とアルミ電極14とから取り出す。
製造方法は通常のプラズマown法が一般に用いられる
。すなわち透明導電膜のついたガラス基板を真空容器に
入れ、250〜500℃に加熱する。この状態で、必要
に応じ5in4 、PH,。
。すなわち透明導電膜のついたガラス基板を真空容器に
入れ、250〜500℃に加熱する。この状態で、必要
に応じ5in4 、PH,。
B、H,のガスを流しながら、高周波放電を起こし、P
、i、nの各トリ1膜を形成する。
、i、nの各トリ1膜を形成する。
用いられるガスは通常、Hlをペースにした10%の1
元”j4 @ Hl ペースの500PPMのPH。
元”j4 @ Hl ペースの500PPMのPH。
eHlベースの500PPMのB、H,である。また!
’、i、n各層の膜厚はそれぞれP層が100〜200
5’ e ’層が4000〜60001.11層が10
00〜zoooiである。
’、i、n各層の膜厚はそれぞれP層が100〜200
5’ e ’層が4000〜60001.11層が10
00〜zoooiである。
ガス流量は装置の大きさによって異なるが、20e11
1φの平行平板製の電極をもつプラズマOVD装置を例
にとるならば、基板温度を300℃に保ち、約5分間5
00 oo/jの81H,と200007mのB、H,
を流す。高周波出力は407で高周波放電を行なうこと
により、所望のP層が得られる。
1φの平行平板製の電極をもつプラズマOVD装置を例
にとるならば、基板温度を300℃に保ち、約5分間5
00 oo/jの81H,と200007mのB、H,
を流す。高周波出力は407で高周波放電を行なうこと
により、所望のP層が得られる。
次に一度排気したのちSiH,、のみを流して、約90
分高周波放電を行なうことにより4000〜6000X
の1層が得られる。さらに再び排気したのち、PH8と
81H4を流し約15分の高周波放電により、所望のn
層を得ることができ、太陽電池に必要なP −i −n
接合が形成される。
分高周波放電を行なうことにより4000〜6000X
の1層が得られる。さらに再び排気したのち、PH8と
81H4を流し約15分の高周波放電により、所望のn
層を得ることができ、太陽電池に必要なP −i −n
接合が形成される。
この従来の方法には、大きな欠点がある。それハト−ピ
ング量を簡単に変えられないことである。P −i −
n構造における不純物の濃度分布はステップジャンクシ
ラン型より傾斜接合型の方が望ましい。
ング量を簡単に変えられないことである。P −i −
n構造における不純物の濃度分布はステップジャンクシ
ラン型より傾斜接合型の方が望ましい。
その理由は、α、−81中においては単結晶に比べてキ
ャリアの拡散距離が桁違いに短いため、膜中のどの部分
にも障壁電界が存在する方が太陽電池の光電流が大きく
なる為である。
ャリアの拡散距離が桁違いに短いため、膜中のどの部分
にも障壁電界が存在する方が太陽電池の光電流が大きく
なる為である。
にもかかわらず、従来の方法ではガスボンベを交換しな
い限り、BtHs、あるいはPH,の希釈比を変えるこ
とができない。また仮にざンペを交換しなからa−81
のデlジシ田ンを行なうにしても、連続的なドーピング
量の変化を持たせることはできない。
い限り、BtHs、あるいはPH,の希釈比を変えるこ
とができない。また仮にざンペを交換しなからa−81
のデlジシ田ンを行なうにしても、連続的なドーピング
量の変化を持たせることはできない。
ドーピング量を連続的に変える一つの方法としては不純
物ガス(B、 H,やPH,)の流量を連続的に変える
方法が考えられる。しかし、不純物ガスの流量を変える
とSiH4を含めた総流量が変化してしまい、プラズマ
条件が変化しα−giの特性が変ってしまう。場合によ
ってはプラズマ発振が不安定になってしまう。
物ガス(B、 H,やPH,)の流量を連続的に変える
方法が考えられる。しかし、不純物ガスの流量を変える
とSiH4を含めた総流量が変化してしまい、プラズマ
条件が変化しα−giの特性が変ってしまう。場合によ
ってはプラズマ発振が不安定になってしまう。
構造上、第1図に示した太陽電池の場合、n層はアルミ
電極とのオーム性接触が必要なため、アルミ電極との境
界面付近では高濃度のリンドープが必要である。一方、
キャリアの収集効率を良−くするためにはアルミとの境
界面から1層方向へ向ってリンのドープ量を少なくシ、
α−s1膜中に電界を形成することが望ましし)。自「
述のように従来の作製方法では、リンの濃度分布に傾斜
を持たせることが困難であり、太陽電池の特性も十分な
ものが得られなかった0 本発明はかかる欠点を除失したものであって、目的とす
るところは、ガスの総流量を変イヒさせることなく、p
のドーピング量を連続的に変えることにより、n層中に
不純唆濃度の傾斜□をもたせ、太陽電池の性能を向上さ
せようとするものである本発明については実施例をもっ
て説明する。
電極とのオーム性接触が必要なため、アルミ電極との境
界面付近では高濃度のリンドープが必要である。一方、
キャリアの収集効率を良−くするためにはアルミとの境
界面から1層方向へ向ってリンのドープ量を少なくシ、
α−s1膜中に電界を形成することが望ましし)。自「
述のように従来の作製方法では、リンの濃度分布に傾斜
を持たせることが困難であり、太陽電池の特性も十分な
ものが得られなかった0 本発明はかかる欠点を除失したものであって、目的とす
るところは、ガスの総流量を変イヒさせることなく、p
のドーピング量を連続的に変えることにより、n層中に
不純唆濃度の傾斜□をもたせ、太陽電池の性能を向上さ
せようとするものである本発明については実施例をもっ
て説明する。
実施例
第2図は本発明のPのドーピング量の制御部を示す図で
、中心線を含む上下方向の面で切断したところを表わし
ている。同図において、21はウォーターパス、22は
温水の導入口、?3は冷水の導入口、24は排水口であ
る。また25はウォーターパス内の温度を検知するため
の熱電対、26は石英容器、27は■、ガス導入管、2
8はH!ガス排出管、29はオキシ塩化リン(又は三塩
化リン)の液体である。
、中心線を含む上下方向の面で切断したところを表わし
ている。同図において、21はウォーターパス、22は
温水の導入口、?3は冷水の導入口、24は排水口であ
る。また25はウォーターパス内の温度を検知するため
の熱電対、26は石英容器、27は■、ガス導入管、2
8はH!ガス排出管、29はオキシ塩化リン(又は三塩
化リン)の液体である。
本装置は熱電対25によって、ウォーターノくス内の温
度を検知し、フィードバックをかけて、温水の導入口2
2と冷水の導入口23から流入する量を制御し、オキシ
塩化リン(又は三塩化リン)の温度を所定の温度に保つ
ことができる。また、温水、冷水の量を連続的に変える
ことによりオキシ塩化リン(又は三塩化リン)の温度を
連続的に変えることもできる。
度を検知し、フィードバックをかけて、温水の導入口2
2と冷水の導入口23から流入する量を制御し、オキシ
塩化リン(又は三塩化リン)の温度を所定の温度に保つ
ことができる。また、温水、冷水の量を連続的に変える
ことによりオキシ塩化リン(又は三塩化リン)の温度を
連続的に変えることもできる。
H,ガスの導入管27からH,ガスを流し、排出管から
H,ガスを排出すると、そのH,ガス中にはPOOts
(ヌはpo4)が含まれている。しかも含有量は、ア
oo4(又はpoLs)の蒸気圧に依存し、ウォーター
バスの温度によりて制御される。
H,ガスを排出すると、そのH,ガス中にはPOOts
(ヌはpo4)が含まれている。しかも含有量は、ア
oo4(又はpoLs)の蒸気圧に依存し、ウォーター
バスの温度によりて制御される。
H,ガスの排出管28からのH富ガスをプラズマOVD
装置の反応室に導きSin、ガスと一緒にしてプラズマ
放電させると、所望のリン濃度を有するn形のa −@
i膜が得られる。しかも、ウォーターバスの温度を変
えることによりα−−1中に含まれるリン濃度を制御で
きる。
装置の反応室に導きSin、ガスと一緒にしてプラズマ
放電させると、所望のリン濃度を有するn形のa −@
i膜が得られる。しかも、ウォーターバスの温度を変
えることによりα−−1中に含まれるリン濃度を制御で
きる。
従来の方法のところで述べた装置におし)て、B、 H
6のガス系のかわりに第2図のガス系をつ番す、voc
t、C又はpalB )の温度を、30℃から75℃ま
で上げながらn層を形成しα−11太陽電池を形成した
。H,ガスの流量は200 Go/−に保りた。
6のガス系のかわりに第2図のガス系をつ番す、voc
t、C又はpalB )の温度を、30℃から75℃ま
で上げながらn層を形成しα−11太陽電池を形成した
。H,ガスの流量は200 Go/−に保りた。
この結果、得られた太陽電池は、従来のものに比べて、
200ルクスの螢光打丁での変換効率Gl約2割増加し
た。
200ルクスの螢光打丁での変換効率Gl約2割増加し
た。
以上の説明かられかるように、本発明4マ9ンのドーピ
ング量の制御を容易に行なう方法を示すも電池で重要な
P層の不純物濃度を連続的にかえ、太陽電池の性能向上
をはかることができる。
ング量の制御を容易に行なう方法を示すも電池で重要な
P層の不純物濃度を連続的にかえ、太陽電池の性能向上
をはかることができる。
また本発明は、P−1−n層を第1図と逆にした構造の
太111m!池、すなわち、透明導電膜上に、それぞれ
n、i、Pの順でα−11を積層した太陽電池において
も効果は同じであり応用範囲は広い。
太111m!池、すなわち、透明導電膜上に、それぞれ
n、i、Pの順でα−11を積層した太陽電池において
も効果は同じであり応用範囲は広い。
第1図はα−81太陽電池の断面構造を示す図、第2図
は本発明のリンのドーピング量の制御部を示す図である
。 21・・・・・・ウォーターバス 22・・・・・・温水の導入口 23・・・・・・冷水の導入口 24・・・・・・排水口 25・・・・・・熱電対 26・・・・・・石英の容器 27・・・・・・H,ガス導入管 2B・・・・・・H,ガス排出管 29・・・・・・オキシ塩化リン(又は三塩化リン)以
上 出願人 株式会社諏訪精工舎 35
は本発明のリンのドーピング量の制御部を示す図である
。 21・・・・・・ウォーターバス 22・・・・・・温水の導入口 23・・・・・・冷水の導入口 24・・・・・・排水口 25・・・・・・熱電対 26・・・・・・石英の容器 27・・・・・・H,ガス導入管 2B・・・・・・H,ガス排出管 29・・・・・・オキシ塩化リン(又は三塩化リン)以
上 出願人 株式会社諏訪精工舎 35
Claims (1)
- (1) プラズマOvD法により作製するアモルファ
スシリコン太陽電池において、リンを含む溶液を用いて
、リンのドーピングを行なうことを特徴とする太陽電池
の製造方法。 (1) リンを含む溶液として、三塩化リン(Pot
、)、又はオキシ塩化リン(poa4)を用いたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の太陽電池の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57014635A JPS58132984A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57014635A JPS58132984A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 太陽電池の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58132984A true JPS58132984A (ja) | 1983-08-08 |
Family
ID=11866650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57014635A Pending JPS58132984A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58132984A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4681984A (en) * | 1985-04-11 | 1987-07-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Solar cell comprising a semiconductor body formed of amorphous silicon and having a layer sequence p-SiC/i/n |
US5769963A (en) * | 1995-08-31 | 1998-06-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaic device |
-
1982
- 1982-02-01 JP JP57014635A patent/JPS58132984A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4681984A (en) * | 1985-04-11 | 1987-07-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Solar cell comprising a semiconductor body formed of amorphous silicon and having a layer sequence p-SiC/i/n |
US5769963A (en) * | 1995-08-31 | 1998-06-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Photovoltaic device |
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