JPS58132867A - 位置検出方法及びその装置 - Google Patents
位置検出方法及びその装置Info
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- JPS58132867A JPS58132867A JP58005904A JP590483A JPS58132867A JP S58132867 A JPS58132867 A JP S58132867A JP 58005904 A JP58005904 A JP 58005904A JP 590483 A JP590483 A JP 590483A JP S58132867 A JPS58132867 A JP S58132867A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の利用分野」
本発明は、2次元的なパターンの2次元面内での位置を
無接触で′自動的に検出する位置検出方式方式に関する
ものである。
無接触で′自動的に検出する位置検出方式方式に関する
ものである。
従来、対象の2次元的な位置を無接触で検出するには、
対象がたとえば長方形のような単純な場合、X方向、Y
方向に2個ずつ配置された太陽電池などの光電面からの
出力を差動的に取り出すなどの方法があるが、精度的に
問題があった。また、この方法は本質的に零位法と呼ば
れる方法であって、対象を光電面からの差動出力が0と
なるようにサーボ機構で中心に持ってきて、その時のサ
ーボ機構の動きから、たとえばコード板によって位置を
検出する必要がある。
対象がたとえば長方形のような単純な場合、X方向、Y
方向に2個ずつ配置された太陽電池などの光電面からの
出力を差動的に取り出すなどの方法があるが、精度的に
問題があった。また、この方法は本質的に零位法と呼ば
れる方法であって、対象を光電面からの差動出力が0と
なるようにサーボ機構で中心に持ってきて、その時のサ
ーボ機構の動きから、たとえばコード板によって位置を
検出する必要がある。
したがって、検出に要する時間が長く、また零位法であ
るために、もしまちがった対象が検出器のもとに入って
きても、これに応答してもっともらしい位置を検出して
しまう。すなわち、従来の方法は、対象があるかないか
さえg識する能力がなかった。
るために、もしまちがった対象が検出器のもとに入って
きても、これに応答してもっともらしい位置を検出して
しまう。すなわち、従来の方法は、対象があるかないか
さえg識する能力がなかった。
本発明の目的は、たとえばトランジスタ、IC。
LSI、などの組立工程や検出工程を自動化するために
、これら複雑なパターンを持つ対象に対しても、精度よ
くかつ、高速にその位置を検出することのできる装置方
式を得ることにある。
、これら複雑なパターンを持つ対象に対しても、精度よ
くかつ、高速にその位置を検出することのできる装置方
式を得ることにある。
上記の目的を達成するために、本発明の位置検出法では
、対象の局部的なパターンを1個もしくは複数個標準パ
ターンとして記憶し、この局部パターンと、たとえばビ
ジコンなどの撮儂装置によって入力される対象の2次元
パターンとを刻々比較し、合致した座標位置を検出する
ように構成する。
、対象の局部的なパターンを1個もしくは複数個標準パ
ターンとして記憶し、この局部パターンと、たとえばビ
ジコンなどの撮儂装置によって入力される対象の2次元
パターンとを刻々比較し、合致した座標位置を検出する
ように構成する。
以下、本発明を実施例によって詳しく説明する。
第1図は、本発明を適用する対象の一例であるトランジ
スタのペレットを示す図である。
スタのペレットを示す図である。
図において、斜線部は酸化シリコン面、斜線のない部分
はアルミ蒸着による電極部分である。
はアルミ蒸着による電極部分である。
このようなトランジスタが次々と組立機に供給されると
き、電極部分の金線を圧着すべ右位置P、、P2を自動
的に検出し、その座標値を機械に与えて、たとえばサー
ボ機構で金線の圧着用ポンダを正確に位置決めする必要
がある。
き、電極部分の金線を圧着すべ右位置P、、P2を自動
的に検出し、その座標値を機械に与えて、たとえばサー
ボ機構で金線の圧着用ポンダを正確に位置決めする必要
がある。
このトランジスタにおいては、全体の複雑なパターンの
中で、他と同じようにパターンがないような局部パター
ンを選ぶ。この例では1点線で囲んだ3つの局部パター
ンを選ぶことができる。
中で、他と同じようにパターンがないような局部パター
ンを選ぶ。この例では1点線で囲んだ3つの局部パター
ンを選ぶことができる。
これら3つの局部パターンの代表位置としては、たとえ
ばその中心位置でもよいが、ここでは説明の都合上右下
側の位置A、B、Cをとるとする。
ばその中心位置でもよいが、ここでは説明の都合上右下
側の位置A、B、Cをとるとする。
このときの座標関係を第2図に抜き出して描いである。
もし、トランジスタがXY方向のずれだけでXY面内で
の回転(すなわち傾き)はないよう正確に検出器の視野
中に供給されるとすると、1つの局部パターンの位置、
たとえばA点の座標XA 、Y□が求まnば、これにあ
る所定の値を加算もしくは減算することによってボンデ
ングすぺ@p、点ノ座1[X1s Y、 トP、点)座
標X2.y!カ算出できる。
の回転(すなわち傾き)はないよう正確に検出器の視野
中に供給されるとすると、1つの局部パターンの位置、
たとえばA点の座標XA 、Y□が求まnば、これにあ
る所定の値を加算もしくは減算することによってボンデ
ングすぺ@p、点ノ座1[X1s Y、 トP、点)座
標X2.y!カ算出できる。
しかし、この場合検出され九座標XA、YAがほんとう
にA点のものであるかどうかの保証はなく、たトエばト
ランジスタ面の汚れとか、欠けによって、本来の部分パ
ターンとは別のところの方が工り一致しているかもしれ
ない。
にA点のものであるかどうかの保証はなく、たトエばト
ランジスタ面の汚れとか、欠けによって、本来の部分パ
ターンとは別のところの方が工り一致しているかもしれ
ない。
この欠点をさけるためには、二つの局部パターンの位置
、たとえばAとBを検出すればよい。もしA、B点の座
標が求まったとすると、A点とB点の距離と方向:すな
わち A−Ys A−Xa がある所定の範囲にあるかどうかを確かめ、もしそうで
あ扛ばこのA、B点の座標は確かにA、B両局部パター
ンのものだと判定して、たとえばA。
、たとえばAとBを検出すればよい。もしA、B点の座
標が求まったとすると、A点とB点の距離と方向:すな
わち A−Ys A−Xa がある所定の範囲にあるかどうかを確かめ、もしそうで
あ扛ばこのA、B点の座標は確かにA、B両局部パター
ンのものだと判定して、たとえばA。
Bを結ぶ−の中心座標を規準として(これによってA、
8点検出の誤差が平均化される可能性がおる)点P1.
P2の座標を求めることができる。
8点検出の誤差が平均化される可能性がおる)点P1.
P2の座標を求めることができる。
この場合には、A、B点の線の方向がわかるので、トラ
ンジスタの多少の傾きに対しても、これを補正した値と
してPl、P2座標を求めることができ、より精密な位
置検出が可能となる。
ンジスタの多少の傾きに対しても、これを補正した値と
してPl、P2座標を求めることができ、より精密な位
置検出が可能となる。
もし、A点とB点の距離もしくは角度のいずれか一方で
も所定の範囲を越えているとすれば、A、Bのいずれか
あるいは両方が誤検出されてにせの点の座標を示してい
ることになる。この場合にはもう一つの局部パターンの
座標Cを検出して、Aと0間で上記の検定を行ない、結
果がよければP、 、 P、 の座標が検出されるし、
悪ければさらにBと0間で上記の検定を行なえばよい。
も所定の範囲を越えているとすれば、A、Bのいずれか
あるいは両方が誤検出されてにせの点の座標を示してい
ることになる。この場合にはもう一つの局部パターンの
座標Cを検出して、Aと0間で上記の検定を行ない、結
果がよければP、 、 P、 の座標が検出されるし、
悪ければさらにBと0間で上記の検定を行なえばよい。
このように一般に、記憶しておく局部パターンの数が多
くなればそれだけ検定の組合わせがふえ、信頼度を上げ
ることができるし、また、2つの検値としてP、、P!
の座標を計算することができる。
くなればそれだけ検定の組合わせがふえ、信頼度を上げ
ることができるし、また、2つの検値としてP、、P!
の座標を計算することができる。
この検定は、逐次的に行なってもよいし、あるいは考え
られるいくつかの組合わせに対して並列的に演算回路を
設け、同時に行なうことも可能である。また、トランジ
スタが多少XY面内で傾いて供給されても、記憶された
正常位置での標準パターンとの一致度によって十分その
位置を検出することができる。もちろん、その時の一致
度は、多少悪くなるが、他の部分のパターンよりも大き
な差があるために正常な位置が検出できるわけである。
られるいくつかの組合わせに対して並列的に演算回路を
設け、同時に行なうことも可能である。また、トランジ
スタが多少XY面内で傾いて供給されても、記憶された
正常位置での標準パターンとの一致度によって十分その
位置を検出することができる。もちろん、その時の一致
度は、多少悪くなるが、他の部分のパターンよりも大き
な差があるために正常な位置が検出できるわけである。
しかしながら、トランジスタの傾きがより大きくなり、
たとえば20°くらい傾くと、もはやこの正常位置での
標準パターンでは一致度が悪くなり、また他の部分の方
がより似てくる可能性もある。そのためには、第3図に
示すように、正常位置での局部パターンa、b、cのほ
かに、これを約10°くらい左へ傾けたパターンd、e
、fと右へ傾けたパターンg、h、iを準備し、この例
では計91m1の標準パターンによって位置を検出する
ことができる。この場合、頑いたパターン間、たとえば
d、e間での検定に際しては、場合とパターンの傾き角
に相当する角度、すなわち、この例では108位の差が
あるような、別の所定範囲を設定し、この範囲に入って
いるかどうかを調べればよい。
たとえば20°くらい傾くと、もはやこの正常位置での
標準パターンでは一致度が悪くなり、また他の部分の方
がより似てくる可能性もある。そのためには、第3図に
示すように、正常位置での局部パターンa、b、cのほ
かに、これを約10°くらい左へ傾けたパターンd、e
、fと右へ傾けたパターンg、h、iを準備し、この例
では計91m1の標準パターンによって位置を検出する
ことができる。この場合、頑いたパターン間、たとえば
d、e間での検定に際しては、場合とパターンの傾き角
に相当する角度、すなわち、この例では108位の差が
あるような、別の所定範囲を設定し、この範囲に入って
いるかどうかを調べればよい。
このように4いた局部パターンを標準パターンとして準
備することによって、トランジスタの場合、±200く
らいの供給角度誤差に対し、十分に位置を検出できるこ
とが実験的にも検証されている。もし、トランジスタが
上下さかさまに入るこのもあり得るとすれば、上下さか
さまの標準パターンを準備することによって対処できる
ことは勿論である。
備することによって、トランジスタの場合、±200く
らいの供給角度誤差に対し、十分に位置を検出できるこ
とが実験的にも検証されている。もし、トランジスタが
上下さかさまに入るこのもあり得るとすれば、上下さか
さまの標準パターンを準備することによって対処できる
ことは勿論である。
以上の説明においては、最終位置P1.P2の座標を局
部パターン1個もしくは複数個で検出する場合の特徴に
ついて説明し、その演算の方式を説明した。この演算に
は、もし位置があるアナログ信号、もしくは何ビ、トか
のディジタル信号として検出されさえすれば、その信号
を入力とした専用の演算回路を組むことはきわめて容易
である。
部パターン1個もしくは複数個で検出する場合の特徴に
ついて説明し、その演算の方式を説明した。この演算に
は、もし位置があるアナログ信号、もしくは何ビ、トか
のディジタル信号として検出されさえすれば、その信号
を入力とした専用の演算回路を組むことはきわめて容易
である。
最近では、この檀のトランジスタ生産工程においても、
ミニコンピユータの応用に目ざましく、もし本目的にこ
れを使えば、何の苦もなくこの汎用演算装置で上記の演
算が高速に実現できる。
ミニコンピユータの応用に目ざましく、もし本目的にこ
れを使えば、何の苦もなくこの汎用演算装置で上記の演
算が高速に実現できる。
また、上述の距離、角度の検定は、厳密な式による場合
について記述したが、もしトランジスタの供給角度誤差
が±20°程度以下と小さければ各種の近似計算式が利
用でき、根計算、2乗計算、逆正接計算を省略すること
ができることは勿論であるし、また、計算法として各種
の変形が可能である。また、上記検定の際に、用意した
すべての組合わせ間で不合格であれば、通常は対象がな
い場合か、あるいはあってもきわめて汚れた不良品であ
ることが多く、したがって、この場合にはりジエクト信
号を出すことができる。
について記述したが、もしトランジスタの供給角度誤差
が±20°程度以下と小さければ各種の近似計算式が利
用でき、根計算、2乗計算、逆正接計算を省略すること
ができることは勿論であるし、また、計算法として各種
の変形が可能である。また、上記検定の際に、用意した
すべての組合わせ間で不合格であれば、通常は対象がな
い場合か、あるいはあってもきわめて汚れた不良品であ
ることが多く、したがって、この場合にはりジエクト信
号を出すことができる。
第4図は、以上説明した位置検出法を実現するための一
実施例であり、本発明の原理構成を示す全体ブロック図
である。図において、たとえばビジコンなどから成る撮
像装置1は、これを駆動するための同期信号発生回路2
からの出力でもって、通常の撮像装置同様ラスタ走査さ
nているものとする。その時の走査ビームの位置は、座
標発生回路3によって常にそのX座標Y座標が刻々得ら
れているものとする。
実施例であり、本発明の原理構成を示す全体ブロック図
である。図において、たとえばビジコンなどから成る撮
像装置1は、これを駆動するための同期信号発生回路2
からの出力でもって、通常の撮像装置同様ラスタ走査さ
nているものとする。その時の走査ビームの位置は、座
標発生回路3によって常にそのX座標Y座標が刻々得ら
れているものとする。
撮像装置1からの映ず象信号4は、たとえば2値化回路
のごとき前処理回路5を経由して、たとえばシフトレジ
スタからなる一時記憶回路6に入力される。この一時記
憶回路6は後述のごとくいわゆるダイナミックメモリで
あって、この中から次の2次元パターン切出回路7によ
って、並列的に2次元の情報が読み出されるように構成
される。
のごとき前処理回路5を経由して、たとえばシフトレジ
スタからなる一時記憶回路6に入力される。この一時記
憶回路6は後述のごとくいわゆるダイナミックメモリで
あって、この中から次の2次元パターン切出回路7によ
って、並列的に2次元の情報が読み出されるように構成
される。
この2次元パターン切出回路7には、撮像装置1の現在
の走査位置でのビデオ信号の他に、過去において走査さ
れた位置での情報も同時にとりださnており、あたかも
撮像装置の視野の中で縦横にある大きさをもつ九四角の
窓枠を順次走査していくときのごとく、窓枠白情報が常
時並列に得られている。この窓枠白情報は、走査の進行
とともに次々と更新さ扛る。その具体的回路例について
は後述する。
の走査位置でのビデオ信号の他に、過去において走査さ
れた位置での情報も同時にとりださnており、あたかも
撮像装置の視野の中で縦横にある大きさをもつ九四角の
窓枠を順次走査していくときのごとく、窓枠白情報が常
時並列に得られている。この窓枠白情報は、走査の進行
とともに次々と更新さ扛る。その具体的回路例について
は後述する。
撮像装置の視野内での局部的な2次元パターンが、走査
の進行とともに次々と2次元パターン切出し回路7に人
力されると、この情報はあらかじめ標準となる部分パタ
ーンが記憶された部分パターン記憶回路8の内容と次々
と比較さ扛、両者の一致の度合が一致度検出回路9によ
って検出される。
の進行とともに次々と2次元パターン切出し回路7に人
力されると、この情報はあらかじめ標準となる部分パタ
ーンが記憶された部分パターン記憶回路8の内容と次々
と比較さ扛、両者の一致の度合が一致度検出回路9によ
って検出される。
実際の設計例では、撮像装置の視野のたてとよこをそれ
ぞれ240と320絵索に格子状に分割したとき、2次
元パターン切出回路7で切り出すパターンの大きさは、
12X12絵素の正方形領域とすることができる。この
場合、この領域の選び方は必ずしも正方形である必要は
なく、たとえば10X14や8X7などの目的に応じ、
任意に設計できることはもちろんである。
ぞれ240と320絵索に格子状に分割したとき、2次
元パターン切出回路7で切り出すパターンの大きさは、
12X12絵素の正方形領域とすることができる。この
場合、この領域の選び方は必ずしも正方形である必要は
なく、たとえば10X14や8X7などの目的に応じ、
任意に設計できることはもちろんである。
さて、12X12とした場合には、部分パターン記憶回
路8の大きさも12X12絵素の大きさに設計するのが
2利である。すなわち、ここには12X12=144個
の情報が記憶されており、2次元パターン切出回路から
の144個の情報との対応する情報ごとの一致度の和と
して部分パターン全体の一致度が一致度検出回路9で検
出される。
路8の大きさも12X12絵素の大きさに設計するのが
2利である。すなわち、ここには12X12=144個
の情報が記憶されており、2次元パターン切出回路から
の144個の情報との対応する情報ごとの一致度の和と
して部分パターン全体の一致度が一致度検出回路9で検
出される。
この一致度検出回路9の出力は、検出開始の段階、すな
わちフレームの最初において、あらかじめ一致度記憶回
路12にセットされた大きな不一致度に相当する一致度
情報と比較回路lOにおいて比較される。
わちフレームの最初において、あらかじめ一致度記憶回
路12にセットされた大きな不一致度に相当する一致度
情報と比較回路lOにおいて比較される。
もし、現在の一致度が過去に一致度記憶回路12に記憶
され九内容よりもよければ、比較回路10の出力が論理
的にオンの出力を出し、ゲート回路11を開いて現在の
一致度を一致度記憶回路12に送り、一致度記憶回路1
2の内容を更新する。この比較回路10の出力は、さら
にゲート回路13にも送られ、その時の座標発生回路3
の出力、すなわち走査ビームの位置に相当するXY座標
値を座標記憶回路14へ導き、過去に記憶された座標値
を更新する。
され九内容よりもよければ、比較回路10の出力が論理
的にオンの出力を出し、ゲート回路11を開いて現在の
一致度を一致度記憶回路12に送り、一致度記憶回路1
2の内容を更新する。この比較回路10の出力は、さら
にゲート回路13にも送られ、その時の座標発生回路3
の出力、すなわち走査ビームの位置に相当するXY座標
値を座標記憶回路14へ導き、過去に記憶された座標値
を更新する。
このようにすれば、走査の終了するフレームの終りの時
点では、あらかじめ記憶さ扛た部分パターンにもっとも
合致した部分パターンが存在した画壇中の座標位置X、
Yが、そのときの一致度とともに記憶され保持されてい
る。
点では、あらかじめ記憶さ扛た部分パターンにもっとも
合致した部分パターンが存在した画壇中の座標位置X、
Yが、そのときの一致度とともに記憶され保持されてい
る。
このように、1個の標準となる部分パターンに対してl
フレーム時間で最大相関位置の座標が求まることになる
。
フレーム時間で最大相関位置の座標が求まることになる
。
したがって、各フレームごとに次々と部分パターン記憶
回路8の内容を更新すれば、第1フレームでは、たとえ
ば第1図のA点の座標、第2フレームではB点の座標、
第3フレームでは0点の座標というように、各フレーム
で求めることができる。そのためには、あらかじめ処理
装置30内のリードオンメモリ、もしくは主記憶装置内
に設けた部分パターン記憶回路26.27.28の内容
を、フレームごとに切換回路29を通して部分パターン
記憶回路8に送出すればよい。このときのタイミング信
号としては、第5図のようになる。
回路8の内容を更新すれば、第1フレームでは、たとえ
ば第1図のA点の座標、第2フレームではB点の座標、
第3フレームでは0点の座標というように、各フレーム
で求めることができる。そのためには、あらかじめ処理
装置30内のリードオンメモリ、もしくは主記憶装置内
に設けた部分パターン記憶回路26.27.28の内容
を、フレームごとに切換回路29を通して部分パターン
記憶回路8に送出すればよい。このときのタイミング信
号としては、第5図のようになる。
すなわち、対象であるトランジスタが挿入された信号B
を受けて、これとは独立に動いている撮1象装置の同期
信号aを用いて、第1フレームのみでオンとなる信号C
1第2フレームのみでオンとなる信号d1第3フレーム
のみでオンとなる信号e・・・・・・を作る。たとえば
信号Cを得るにはbの信号でフリップ70ツブをトリガ
ーし、その出力とaとをアンドゲートに加え、その出力
によってもう一つのフリ、プ70ツブをトリガーし、こ
のフリップフロップをその出力とaとのアンド出力によ
ってリセットするという回路を作ればよい。
を受けて、これとは独立に動いている撮1象装置の同期
信号aを用いて、第1フレームのみでオンとなる信号C
1第2フレームのみでオンとなる信号d1第3フレーム
のみでオンとなる信号e・・・・・・を作る。たとえば
信号Cを得るにはbの信号でフリップ70ツブをトリガ
ーし、その出力とaとをアンドゲートに加え、その出力
によってもう一つのフリ、プ70ツブをトリガーし、こ
のフリップフロップをその出力とaとのアンド出力によ
ってリセットするという回路を作ればよい。
また、dを得るにはCの立下りでオンとなり、次のaで
リセットされるようなフリップフロ、プ回路を設ければ
よい。
リセットされるようなフリップフロ、プ回路を設ければ
よい。
さらに、同期信号a[対し、少し位相の遅れた同期信号
fと、位相の進んだ同期信号gを用意し、c、d、eの
信号によって、第4図の切換回路29を開閉すればよい
。すなわち、29は3個のゲートからなり、このゲート
を開閉する信号としてc、d、eを利用し、また、転送
開始の信号としてfとc、d、eとのアンド出力を利用
することができる。
fと、位相の進んだ同期信号gを用意し、c、d、eの
信号によって、第4図の切換回路29を開閉すればよい
。すなわち、29は3個のゲートからなり、このゲート
を開閉する信号としてc、d、eを利用し、また、転送
開始の信号としてfとc、d、eとのアンド出力を利用
することができる。
一方、この信号fは、第4図の一致度記憶回路12の内
容を、あらかじめ一致度の小さな値にリセットするのに
利用する。すなわち、各々フレームに初めにあらかじめ
大きな不一致情報を入力しておき、そのフレームでの一
致点の検出の準備をする。また、信号gは各フレームの
終りにc、d。
容を、あらかじめ一致度の小さな値にリセットするのに
利用する。すなわち、各々フレームに初めにあらかじめ
大きな不一致情報を入力しておき、そのフレームでの一
致点の検出の準備をする。また、信号gは各フレームの
終りにc、d。
eなどとアンドゲートがとられて切換回路15゜16を
経由して一致度記憶回路17,18,19゜のいずれか
一つ、および座標記・i意回路20.21゜22のいず
れか一つに情報を転送する書込みパルスとして利用でき
る。切換回路15.16の制御は切換回路29の制御と
同様にして可能である。
経由して一致度記憶回路17,18,19゜のいずれか
一つ、および座標記・i意回路20.21゜22のいず
れか一つに情報を転送する書込みパルスとして利用でき
る。切換回路15.16の制御は切換回路29の制御と
同様にして可能である。
このように、3回のフレームによって3つの標準部分パ
ターンに対するもっとも確からしい位置が検出さ扛、そ
の時の座標位置が記憶回路(レジスタ)20.21.2
2へと入っている。
ターンに対するもっとも確からしい位置が検出さ扛、そ
の時の座標位置が記憶回路(レジスタ)20.21.2
2へと入っている。
この時、記憶回路(レジスタ)17.18゜19には各
々の部分パターンに対する一致度情報が入っており、こ
の結果は判定回路23によって比較される。この回路は
、たとえば最大値と次大値の検出回路であって、最も一
致度の高い順に二つを選び、その結果にしたがって選択
回路24を開閉する。
々の部分パターンに対する一致度情報が入っており、こ
の結果は判定回路23によって比較される。この回路は
、たとえば最大値と次大値の検出回路であって、最も一
致度の高い順に二つを選び、その結果にしたがって選択
回路24を開閉する。
従って、選択回路24からの出力は、20゜21.22
の座標のうちの2個、すなわちもっとも一致度の高い2
つの部分パターンに対応した座標位置が出力される。第
1図の例でいえば、たとえばA点とB点の座標が出力さ
れる。
の座標のうちの2個、すなわちもっとも一致度の高い2
つの部分パターンに対応した座標位置が出力される。第
1図の例でいえば、たとえばA点とB点の座標が出力さ
れる。
したがって、演算回路25では、この2つの座標をもと
に、加算、減算、乗算、除算回路の組合わせによって、
最終の位置P、、P2の座標が出力される。この場合、
一致度によってたしからしい順に2つの部分パターンに
相当する座標を求めているため、前述したようないくつ
かのパターンの組合わせに対して行なうという処理を省
力することができる。
に、加算、減算、乗算、除算回路の組合わせによって、
最終の位置P、、P2の座標が出力される。この場合、
一致度によってたしからしい順に2つの部分パターンに
相当する座標を求めているため、前述したようないくつ
かのパターンの組合わせに対して行なうという処理を省
力することができる。
以上の説明では、引き続く3つのフレームによって映像
から3つの部分パターンの座標値を求め、その後、判定
回路23、選択回路24、演算回路25で座標を求める
とした。
から3つの部分パターンの座標値を求め、その後、判定
回路23、選択回路24、演算回路25で座標を求める
とした。
しかし、たとえば第1フレームでパターンA、第2フレ
ームでパターンBの座標位置を求めるとすぐにこの二つ
で判定し、その結果が検定に合格しなければパターンA
の情報をのこして引き続き炒7レームfパターンCにつ
いての情報を取り込んだり、あるいはまた、パターンA
、B両方の情報をともにすてて、新しくパターンC,D
という新しい組について行なうなど各種の変形が可能で
ある。この場合には、一致度による判定回路23は不要
となり、情報取り込みの制御が多少複雑になるだけであ
る。
ームでパターンBの座標位置を求めるとすぐにこの二つ
で判定し、その結果が検定に合格しなければパターンA
の情報をのこして引き続き炒7レームfパターンCにつ
いての情報を取り込んだり、あるいはまた、パターンA
、B両方の情報をともにすてて、新しくパターンC,D
という新しい組について行なうなど各種の変形が可能で
ある。この場合には、一致度による判定回路23は不要
となり、情報取り込みの制御が多少複雑になるだけであ
る。
以上のような、処理回路30での処理は専用ノー−ドウ
エアを構成すればきわめて高速であるが、通常の汎用処
理装置であるミニコンピユータで代用しても、フレーム
の終りのごく短い時間、すなわち撮像装置の帰線帰間の
間に上記のすべての判定処理が可能である。
エアを構成すればきわめて高速であるが、通常の汎用処
理装置であるミニコンピユータで代用しても、フレーム
の終りのごく短い時間、すなわち撮像装置の帰線帰間の
間に上記のすべての判定処理が可能である。
したがって、いずれの場合でも新しいフレームでの情報
が入るに従って、新しい組合わせに対しで実時間で処理
することができ、したがって、たとえばパターンAとパ
ターンBが入った時点での計算結果によって最終座標位
置が求まってしまう例がきわめて多く、実際にはよほど
局部的に汚れている対象でない限り、第3フレーム、第
4フレームというように、次々と新しい局部ノ(ターン
を使った位置検出をする必要が生じないのが普逃である
。
が入るに従って、新しい組合わせに対しで実時間で処理
することができ、したがって、たとえばパターンAとパ
ターンBが入った時点での計算結果によって最終座標位
置が求まってしまう例がきわめて多く、実際にはよほど
局部的に汚れている対象でない限り、第3フレーム、第
4フレームというように、次々と新しい局部ノ(ターン
を使った位置検出をする必要が生じないのが普逃である
。
また、以上の説明では一致度検出回路9を1個だけ使用
する例について説明した。この場合には原則として1フ
レームで1個の部分)(ターンの位置が検出される。も
し、部分パターンが視野の上方にあることが限られ、人
名の探索エリアがわかっていれば、画面の上半分を走査
しているときにパターンAを、下半分を走査していると
きに)くターンBをというように、部分ノ(ターン記憶
回路8の内容を切換えることも可能である。
する例について説明した。この場合には原則として1フ
レームで1個の部分)(ターンの位置が検出される。も
し、部分パターンが視野の上方にあることが限られ、人
名の探索エリアがわかっていれば、画面の上半分を走査
しているときにパターンAを、下半分を走査していると
きに)くターンBをというように、部分ノ(ターン記憶
回路8の内容を切換えることも可能である。
さらに、−数置検出回路9、比較回路10、ゲート回路
11、−前震記憶回路12、ゲート回路13、座標記憶
回路]4の組を3個ずつ設けるとすれば、3個の一致度
検出回路9で同時に三つのパターンA、B、Cに対する
位置が同一フレームで求まることは当然である。
11、−前震記憶回路12、ゲート回路13、座標記憶
回路]4の組を3個ずつ設けるとすれば、3個の一致度
検出回路9で同時に三つのパターンA、B、Cに対する
位置が同一フレームで求まることは当然である。
この場合、3つの一致度記憶回路12.3つの座標記憶
回路14は、それぞれ一致度記憶回路17、18 、
19 、および座標記憶回路20゜21.22に相当す
るので、切換回路15.16は不嶽となる。
回路14は、それぞれ一致度記憶回路17、18 、
19 、および座標記憶回路20゜21.22に相当す
るので、切換回路15.16は不嶽となる。
第6図〜第8図は第4図に示し九本発明の全体構成の主
要部分のさらに具体的な構成例である。
要部分のさらに具体的な構成例である。
第6図は、第4図の同期信号発生回路2と座標発生回路
3の具体列であり、たとえば6!j4Hz程度の絵系パ
ルス発生器31からのパルスをカラ/り(Xカウンタと
称する)32によって計数し。
3の具体列であり、たとえば6!j4Hz程度の絵系パ
ルス発生器31からのパルスをカラ/り(Xカウンタと
称する)32によって計数し。
その内容がある一定値になったとき自らをリセットする
とともに、カラ/り(Yカウンタと称する)33に1を
加えるようになっている。カウンタ33はある一定値に
なると自らをリセットし、まAXカウンタ32をもリセ
ットするように構成する。
とともに、カラ/り(Yカウンタと称する)33に1を
加えるようになっている。カウンタ33はある一定値に
なると自らをリセットし、まAXカウンタ32をもリセ
ットするように構成する。
このようにしたとき、各カウンタの出力パルスは、それ
ぞ3X同期信号、Y同期信号となり、これを基準として
パルス中、′区圧値を適切に変換してビデイコ7などを
用いた撮像装置を駆動する。
ぞ3X同期信号、Y同期信号となり、これを基準として
パルス中、′区圧値を適切に変換してビデイコ7などを
用いた撮像装置を駆動する。
一方、XカウンタおよびYカラ/りの内容そのものはビ
ームの位置に関する情報となυ、走査する座標値を与え
るものとなる。
ームの位置に関する情報となυ、走査する座標値を与え
るものとなる。
第7図はC第4図の映倫人力系の具体例を示している。
撮像装置からのビデオ情報4社差動増幅器34を介して
2値化回路35に入力される。
2値化回路35に入力される。
この場合、ある画面部分たとえば中央部が走査されてい
るときのみオンとなる信号36を別途作っておいてその
時のみゲート回路37を通して映像信号4を積分器に導
き、フレームの終9でその出力を保持回路39でサンプ
ルホールドさせる。
るときのみオンとなる信号36を別途作っておいてその
時のみゲート回路37を通して映像信号4を積分器に導
き、フレームの終9でその出力を保持回路39でサンプ
ルホールドさせる。
その出力は必要に応じ適切なアッテネータを介して差動
増幅器34に入力される。
増幅器34に入力される。
′この回路の働きは、常時、一つ曲のフレームにおける
特定画面部分の平均間るさに対応したしきい値を求める
ことであシ、この回路と2値化回路35により、明暗の
中間値でうまく2値化が可能となる。これらを含めて第
4図の前処理回路5に対応している。
特定画面部分の平均間るさに対応したしきい値を求める
ことであシ、この回路と2値化回路35により、明暗の
中間値でうまく2値化が可能となる。これらを含めて第
4図の前処理回路5に対応している。
2値化された映像は、走査の進行に応じシフトレジスタ
37−1のほか、36−1 、36−2 。
37−1のほか、36−1 、36−2 。
・・・・・ 、36−(n−t)の(n−1)本のシフ
トレジスタに順次人力されるよう構成され、また、これ
らのシフトレジスタ36の各々からシフトレジスタ37
−2 、37−3 、・・・・・・、37−nへと順次
入力されるようになっている。シフトレジスタ36とし
ては一水平走査の絵素数に相当するビット段数を有する
ものであり、数nとしては前述のl 2X12の部分パ
ターンに対してはn=12である。したがって、シフト
レジスタ36は11本、シフトレジスタ37は12本、
シフトレジスタ37のビット段数は12個というのが一
つの設計例である。
トレジスタに順次人力されるよう構成され、また、これ
らのシフトレジスタ36の各々からシフトレジスタ37
−2 、37−3 、・・・・・・、37−nへと順次
入力されるようになっている。シフトレジスタ36とし
ては一水平走査の絵素数に相当するビット段数を有する
ものであり、数nとしては前述のl 2X12の部分パ
ターンに対してはn=12である。したがって、シフト
レジスタ36は11本、シフトレジスタ37は12本、
シフトレジスタ37のビット段数は12個というのが一
つの設計例である。
このようにしたとき、36−1からは一つ前のラスタで
の情報が、36−2からは2つ前のラスタでの情報が、
・・・・・・というように出力され、したがって、シフ
トレジスタ37には12本の2スタにおける水平方向1
2個の情報、すなわち12×12の平面的情報が走査の
進行とともに次々と表われる。したがって、この12X
12の絵素の内容を一致度検出回路へ導けばよい。
の情報が、36−2からは2つ前のラスタでの情報が、
・・・・・・というように出力され、したがって、シフ
トレジスタ37には12本の2スタにおける水平方向1
2個の情報、すなわち12×12の平面的情報が走査の
進行とともに次々と表われる。したがって、この12X
12の絵素の内容を一致度検出回路へ導けばよい。
第8図は、一致度の検出部分の具体例を示している。平
面的な部分パターン記憶回路8はここではレジスタ8−
1 、8−2 、・・・・・・、8−nというJうに複
数個のレジスタとして表示し、前述のシフトレジスタ3
7−1〜37−nと対向させている。
面的な部分パターン記憶回路8はここではレジスタ8−
1 、8−2 、・・・・・・、8−nというJうに複
数個のレジスタとして表示し、前述のシフトレジスタ3
7−1〜37−nと対向させている。
各対応するビットごとの排他的論理和の否定を求める論
理回路38によって、ビットが一致しないときのみ論理
的“1′出力が出るようにする。
理回路38によって、ビットが一致しないときのみ論理
的“1′出力が出るようにする。
これらを加算器39で加算すると、その出力はパターン
が一致しないとき大、一致する程0に近い小さな出力と
なる。
が一致しないとき大、一致する程0に近い小さな出力と
なる。
したがって、−数置記憶回路12にディジタル記憶され
た内容をDA変換器40でアナログに変換したものとと
もに、差動増幅器41に入力すれば、一致度がよくなっ
たときのみ2値化回路42の出力が1となり、絵素パル
スに同期したタイミングパルス43の働きでゲート44
を介してサンプルホールド回路45が一致度を保持し、
これがAD変換器46によってディジタルに変換されて
一致度記憶回路12に記憶され、−前席が更新される。
た内容をDA変換器40でアナログに変換したものとと
もに、差動増幅器41に入力すれば、一致度がよくなっ
たときのみ2値化回路42の出力が1となり、絵素パル
スに同期したタイミングパルス43の働きでゲート44
を介してサンプルホールド回路45が一致度を保持し、
これがAD変換器46によってディジタルに変換されて
一致度記憶回路12に記憶され、−前席が更新される。
一方、ゲート44からの出力は、すでに第4図に示した
ようにゲート回路13を開き、その時の座標位置を座標
記憶回路14に記憶する。
ようにゲート回路13を開き、その時の座標位置を座標
記憶回路14に記憶する。
以下説明した例では、映像値を2値化するとしたが、こ
れはトランジスタなど比較的明暗のはつきりしたパター
ンをもつ対象に対しては有利である。しかしながら、2
値化するのは必ずしも本質ではなく、多値情報として演
算することも可能である。この場合には、第7図のシフ
トレジスタ36.37はある深さを持った多値のシフト
レジスタになす必要があり、また−数置検出のだめの第
8図の論理回路38は、たとえば減算回路と絶対値回路
を直列にしたものとすることができ、これによってパタ
ーンの各ビットの差が加算器39で加算されることにな
る。
れはトランジスタなど比較的明暗のはつきりしたパター
ンをもつ対象に対しては有利である。しかしながら、2
値化するのは必ずしも本質ではなく、多値情報として演
算することも可能である。この場合には、第7図のシフ
トレジスタ36.37はある深さを持った多値のシフト
レジスタになす必要があり、また−数置検出のだめの第
8図の論理回路38は、たとえば減算回路と絶対値回路
を直列にしたものとすることができ、これによってパタ
ーンの各ビットの差が加算器39で加算されることにな
る。
加算器としては、定電流源からある抵抗に電流を流すよ
う構成し、その電流を各々の差に応じて制御すれば!い
。
う構成し、その電流を各々の差に応じて制御すれば!い
。
以上の例では対象そのものの複雑なパターンの中から、
局部的な部分パターンを標準とする場合について述べた
。しかし、これは必ずしも本質ではなく、場合によって
は特定のパターンをこの検出の目的のために対象に入れ
ることができる。
局部的な部分パターンを標準とする場合について述べた
。しかし、これは必ずしも本質ではなく、場合によって
は特定のパターンをこの検出の目的のために対象に入れ
ることができる。
第9図は、そのようなマークの例であり、トランジスタ
の表面にアルミ蒸着とホトエツチングによって電極と同
時に検出用マークを入江たものである。ここで、斜線部
は酸化シリコン部、斜線のない部分はアルミ蒸着部であ
る。四角の破線枠は標準として覚える局部パターンの大
きさ”を示すために、マーク上にあてはめて描いたもの
である。
の表面にアルミ蒸着とホトエツチングによって電極と同
時に検出用マークを入江たものである。ここで、斜線部
は酸化シリコン部、斜線のない部分はアルミ蒸着部であ
る。四角の破線枠は標準として覚える局部パターンの大
きさ”を示すために、マーク上にあてはめて描いたもの
である。
パターンA、Bは同心円状に作られているために、トラ
ンジスタのXY千面内はおける傾きに強く、第3図に示
したような傾いたパターンを別個に設ける必要がないの
で有利である。また、パターンAとBはこの例では大き
さが等しく、明暗部分が反対になるようにしであるが、
このようにすると第8図の論理回路と加算回路とを共通
にし、そのあとの回路として、最大値によって一致度を
検出する回路と蛾小値を検出する回路の2つを設ければ
よいようになる。
ンジスタのXY千面内はおける傾きに強く、第3図に示
したような傾いたパターンを別個に設ける必要がないの
で有利である。また、パターンAとBはこの例では大き
さが等しく、明暗部分が反対になるようにしであるが、
このようにすると第8図の論理回路と加算回路とを共通
にし、そのあとの回路として、最大値によって一致度を
検出する回路と蛾小値を検出する回路の2つを設ければ
よいようになる。
したがって、この場合には局部的に回路を2組にするだ
けで、同一フレームでA、Bパターンの位置を味到に求
めることができることになる。
けで、同一フレームでA、Bパターンの位置を味到に求
めることができることになる。
第9図のパターンCはより複雑化した例である。
この形を適当なコードとすれば、ある特定のコードパタ
ーンのみが入ってきたときのみ位置を検出することが可
能である。
ーンのみが入ってきたときのみ位置を検出することが可
能である。
すなわち、本方式は品種の選別にも使用できる。
さらにパターンCは、対象本来のパターンの一部と、故
意につけた部分とを合わせて一つの局部パターンとした
例である。このように局部パターンとしては人為的に多
様な構成が可能であ秒、本方式の検出方式はそのいずれ
にも標準パターンを記憶する作業だけで対処可能である
。
意につけた部分とを合わせて一つの局部パターンとした
例である。このように局部パターンとしては人為的に多
様な構成が可能であ秒、本方式の検出方式はそのいずれ
にも標準パターンを記憶する作業だけで対処可能である
。
本方式の一つの欠点は、周囲温度の変動のはげしいとこ
ろで使用されるとき、映像信号がずれてくる可能性があ
ることである。すなわち、当初光学系の中心が画面の中
心となるよう調整しておいても、ピジコ/などを用いた
撮像装置ではビームの中心のドリフトやビームの振れ幅
の変動によって、映像中心と光学中心がずれたり、映f
lと対象との拡大比率が変ったりする可能性もある。撮
像装置が光電素子アレーのような固体化されたものであ
ると、光学系のみの温度ドリフトだけとなるので、これ
は通常の用途ではまったく問題がない。
ろで使用されるとき、映像信号がずれてくる可能性があ
ることである。すなわち、当初光学系の中心が画面の中
心となるよう調整しておいても、ピジコ/などを用いた
撮像装置ではビームの中心のドリフトやビームの振れ幅
の変動によって、映像中心と光学中心がずれたり、映f
lと対象との拡大比率が変ったりする可能性もある。撮
像装置が光電素子アレーのような固体化されたものであ
ると、光学系のみの温度ドリフトだけとなるので、これ
は通常の用途ではまったく問題がない。
第10図は、ビジコン撮像装置などを使った場合のこの
ようなドリフトに対する補償法を示しである。
ようなドリフトに対する補償法を示しである。
トランジスタの自動組立機に本発明を応用した場合を例
にとると、約1時間おきにこのドリフト補償をおこなう
のが便利である。この場合、処理装置30は、自ら保有
するタイマでもって、ある一定時間がきたときに、ある
いは人間もしくは自動組立機械から要求があったときに
、第10図のシャ、ター50を閉じ、シャッター51を
あける。
にとると、約1時間おきにこのドリフト補償をおこなう
のが便利である。この場合、処理装置30は、自ら保有
するタイマでもって、ある一定時間がきたときに、ある
いは人間もしくは自動組立機械から要求があったときに
、第10図のシャ、ター50を閉じ、シャッター51を
あける。
通常はその逆になっていて、撮像装置lはレンズなどの
光学系52を介して、ハーフミラ−53を通して、光源
54.レンズ55によって照明された対象60を見てい
る。この校正の時点では、光源54からの光は開かれた
シャッター51を通して光軸を注意深くセットされた基
準板56を照射し、撮像装置1は・・−7ミラー53を
介してこの基準板56を見るように構成される。この基
準板上には、たとえば中心部に1個、四隅部に11固ず
つの計5個の相異なる明暗2値パターンが描かれている
。この時、撮像装置1からの映像信号は既述の回路によ
っていくつかのフレームにわたり。
光学系52を介して、ハーフミラ−53を通して、光源
54.レンズ55によって照明された対象60を見てい
る。この校正の時点では、光源54からの光は開かれた
シャッター51を通して光軸を注意深くセットされた基
準板56を照射し、撮像装置1は・・−7ミラー53を
介してこの基準板56を見るように構成される。この基
準板上には、たとえば中心部に1個、四隅部に11固ず
つの計5個の相異なる明暗2値パターンが描かれている
。この時、撮像装置1からの映像信号は既述の回路によ
っていくつかのフレームにわたり。
次々とこの局部的なパターンの位置を検出して、処理装
置30、たとえばミニコンピユータに知らせることがで
きる。処理装置30では、この位置情報をもとに、たと
えば中心のパターンから映像のずれ童を、また四隅パタ
ーンの平均からたとえば儂の拡大率の変動を知り、第4
図の演算回路25で用いるパラメータを修正することが
できる。
置30、たとえばミニコンピユータに知らせることがで
きる。処理装置30では、この位置情報をもとに、たと
えば中心のパターンから映像のずれ童を、また四隅パタ
ーンの平均からたとえば儂の拡大率の変動を知り、第4
図の演算回路25で用いるパラメータを修正することが
できる。
これにより自動的に定期的な校正が可能となる。
第11図は、本装置方式をトランジスタ生産に適用した
場合の全体構成図である。
場合の全体構成図である。
第4図の処理装置30以外の部分は、検出装置61とし
て一つのブロックに示しである。
て一つのブロックに示しである。
検出装置61には複数台の撮像装置1−1.1−2.・
・・・・・、1−mが、たとえば電子的なスイ。
・・・・・、1−mが、たとえば電子的なスイ。
チロ2によってつながれている。各撮像装置はm台の自
動機械63−1.63−2.・・・・・・、63−mの
それぞれに付属され、各機械に供給されるトランジスタ
60を上方から眺めるように構成されている。
動機械63−1.63−2.・・・・・・、63−mの
それぞれに付属され、各機械に供給されるトランジスタ
60を上方から眺めるように構成されている。
各機械に、対象であるトランジスタが供給されたことを
示す信号が機械から発生されるようにしておくと、この
信号はブスライン64を経由して処理装置30への割込
み信号となる。この信号は割込要因検出回路65で検出
される。そのあと、検出装置61が自動機械63−1〜
63−mのどれにサービス中であるかを示すステータス
レジスタ66の内容をビジー判定回路67によって判定
し、もし、検出装置61がどこかの機械にサービス中で
あればビジー信号を出して割込要因検出回路に指令を戻
し、ビジーがとけるまでこれをくり返す。ビジーでなけ
れば、検出回路61が使用可能であることになるので、
次の制御信号発生回路68によって割込まれた機械に制
御信号を出力し、スイ、チロ2とスイ、チロ9を該当す
る機械に切り換える。それと同時にステータスレジスタ
66の割込んだ機械に該当するピット位置をオンとし、
検出fjut6xがビジーとなったことを示し、そのあ
との割込に対してマスクを掛ける。この場合、割込信号
だけは保持されるよう割込要因検出回路にはレジスタが
内蔵されるのが普通である。
示す信号が機械から発生されるようにしておくと、この
信号はブスライン64を経由して処理装置30への割込
み信号となる。この信号は割込要因検出回路65で検出
される。そのあと、検出装置61が自動機械63−1〜
63−mのどれにサービス中であるかを示すステータス
レジスタ66の内容をビジー判定回路67によって判定
し、もし、検出装置61がどこかの機械にサービス中で
あればビジー信号を出して割込要因検出回路に指令を戻
し、ビジーがとけるまでこれをくり返す。ビジーでなけ
れば、検出回路61が使用可能であることになるので、
次の制御信号発生回路68によって割込まれた機械に制
御信号を出力し、スイ、チロ2とスイ、チロ9を該当す
る機械に切り換える。それと同時にステータスレジスタ
66の割込んだ機械に該当するピット位置をオンとし、
検出fjut6xがビジーとなったことを示し、そのあ
との割込に対してマスクを掛ける。この場合、割込信号
だけは保持されるよう割込要因検出回路にはレジスタが
内蔵されるのが普通である。
ついで部分パターン記憶回路70(第4図の26.27
.28を合わせたものに相当)から標41s分パターン
を標準パターン送出回路71によって検出回路61へと
送出し、それによって得ら扛る座標信号と一致度信号を
データ取込制御回路72によって取込み、以後はこのデ
ータを使って既述のごとき演算を行なう。そして判定回
路73゜座標演算回路74によって最終結果を出力する
。
.28を合わせたものに相当)から標41s分パターン
を標準パターン送出回路71によって検出回路61へと
送出し、それによって得ら扛る座標信号と一致度信号を
データ取込制御回路72によって取込み、以後はこのデ
ータを使って既述のごとき演算を行なう。そして判定回
路73゜座標演算回路74によって最終結果を出力する
。
この最終座標位置は、スイッチ69の選択された状態に
応じてレジスタ75−1〜75−m(7)m個のうちの
該当するレジスタに入力され、その値をもととして該当
するXYササ−機構76が駆動される。
応じてレジスタ75−1〜75−m(7)m個のうちの
該当するレジスタに入力され、その値をもととして該当
するXYササ−機構76が駆動される。
このサーボ機構76は、図では対象60を移動させるよ
うに描いであるが、トランジスタの組立機では、対象は
停止し、金線圧着ボンダの方をこのサーボ機構によって
位置決めし、あとはあらかじめ決められたカム操作によ
イ一連の圧着工程を行なわせるのがよい。
うに描いであるが、トランジスタの組立機では、対象は
停止し、金線圧着ボンダの方をこのサーボ機構によって
位置決めし、あとはあらかじめ決められたカム操作によ
イ一連の圧着工程を行なわせるのがよい。
以後の説明においてはトランジスタを対象として説明し
九。しかし、これは説明のためのものであって、この方
式に適合するものであれば、対象は何であってもよいこ
とは勿論である。通常、対象の位置を検出する場合、全
体を一つのパターンとして記憶しておくことは情報量も
多く不可能に近いし、たとえ記憶できたとしても装置が
きわめてぼり大になる。
九。しかし、これは説明のためのものであって、この方
式に適合するものであれば、対象は何であってもよいこ
とは勿論である。通常、対象の位置を検出する場合、全
体を一つのパターンとして記憶しておくことは情報量も
多く不可能に近いし、たとえ記憶できたとしても装置が
きわめてぼり大になる。
本発明装置では比較的小さな部分パターンのみを記憶す
ることによって、位置を検出するようにしたことに特徴
があり、比較的小さな装置規模で有効な応用がはかれる
ものである。
ることによって、位置を検出するようにしたことに特徴
があり、比較的小さな装置規模で有効な応用がはかれる
ものである。
また、以上の説明においては、部分パターンを正方形も
しくは長方形として説明した。
しくは長方形として説明した。
しかしながら、たとえば12X12の計144個の絵素
からなる部分パターンにおいて、この正方領域での四隅
近傍の値を無視して、たとえば第8図の論理回路38を
省略するとか、あるいは省略しないまでもその出力を禁
止するようにすれば、円形の部分パターンを用いたのと
同じことになる。
からなる部分パターンにおいて、この正方領域での四隅
近傍の値を無視して、たとえば第8図の論理回路38を
省略するとか、あるいは省略しないまでもその出力を禁
止するようにすれば、円形の部分パターンを用いたのと
同じことになる。
このようにして平面をディジタル化したことによる誤差
は生じるが、一応任意の形の部分パターンとして処理す
ることができる。
は生じるが、一応任意の形の部分パターンとして処理す
ることができる。
以上説明したごとく本発明は、比較的小さな装置規模で
、撮像装置の走査速度と同じ速度でのパターンマツチン
グが可能であり、かつパターンとして4h部分パターン
に限っているので、記憶装置の容量としては小さくてす
むことになる。
、撮像装置の走査速度と同じ速度でのパターンマツチン
グが可能であり、かつパターンとして4h部分パターン
に限っているので、記憶装置の容量としては小さくてす
むことになる。
したがって、本発明を適用した場合、従来不可能に近か
った対象の位置の認識が視覚装置で可能となり、かつ経
済性よく実現できるため、生産機械の自動化などが容易
となった。
った対象の位置の認識が視覚装置で可能となり、かつ経
済性よく実現できるため、生産機械の自動化などが容易
となった。
第1図は本発明を適用する対象の1例であるトランジス
タのペレットを示す図、第2図は第1図における各点の
位置関係を示す図、第3図は第1図における部分パター
ンを示す図、第4図は本発明の位置検出方式の一実施例
を示すブロック図、第5図は第4図の装置を制御するた
めのタイミング信号の説明図、第6図は第4図の装置に
おける同期信号及び座標信号発生回路の具体例を示す図
第7図は第4図の装置における映像入力系回路の具体例
を示す図、第8図は第4図の装置における一致度検出部
の具体例を示す図、第9図は部分パターンの説明図、第
10図は本発明に用いられる撮像装置の付属装置の構成
図、第11図は本発明方式をトランジスタの生産に適用
した場合のシステムの全体構成図である。 1・・・・・・撮像装置、2・・・・・・同期信号発生
回路、3・・・・・・座標発生回路、5・・・・・・前
処理回路、6・・・・・・一時記憶回路、7・・・・・
・2次元パターン切出回路、8・・・・・・部分パター
ン記憶回路、13・・・・・・ゲート回路、14・・・
・・・座標記憶回路、30・・・・・・処理回路、31
・・・・・・絵ネハネル発生器、32・・・・・・Xカ
ウンタ、33・・・・・・Yカラ/り、34・・・・・
・差動増@器・・・・・・35・・・・・・2値化回路
、36.37・・・・・・シフトレジスタ、38・・・
・・・−数置検出回路、39・・・・・・加算回路、4
1・・・・・・差動増幅器、42・・・・・・2値化回
路、45・・・・・・サンプルホールド回路、50.5
1・・・・・・シャッタ、53・・・・・・ノ・−7ミ
ラー、54・・・・・・光源、56・・・・・・基準板
、60・・・・・・対象、66.69・・・・・・切換
え用スイッチ回路、63・・・・・・自動機械、75・
・・・・・レジスタ、76・・・・・・サーボ機構。 第 1 謡 晃 2 函 克 5 図 塾 6 目 濃傳敦jl / z 島 7 別 −敷友t!田回路9〜 8 e 園 遁 q 図 亮/θ園
タのペレットを示す図、第2図は第1図における各点の
位置関係を示す図、第3図は第1図における部分パター
ンを示す図、第4図は本発明の位置検出方式の一実施例
を示すブロック図、第5図は第4図の装置を制御するた
めのタイミング信号の説明図、第6図は第4図の装置に
おける同期信号及び座標信号発生回路の具体例を示す図
第7図は第4図の装置における映像入力系回路の具体例
を示す図、第8図は第4図の装置における一致度検出部
の具体例を示す図、第9図は部分パターンの説明図、第
10図は本発明に用いられる撮像装置の付属装置の構成
図、第11図は本発明方式をトランジスタの生産に適用
した場合のシステムの全体構成図である。 1・・・・・・撮像装置、2・・・・・・同期信号発生
回路、3・・・・・・座標発生回路、5・・・・・・前
処理回路、6・・・・・・一時記憶回路、7・・・・・
・2次元パターン切出回路、8・・・・・・部分パター
ン記憶回路、13・・・・・・ゲート回路、14・・・
・・・座標記憶回路、30・・・・・・処理回路、31
・・・・・・絵ネハネル発生器、32・・・・・・Xカ
ウンタ、33・・・・・・Yカラ/り、34・・・・・
・差動増@器・・・・・・35・・・・・・2値化回路
、36.37・・・・・・シフトレジスタ、38・・・
・・・−数置検出回路、39・・・・・・加算回路、4
1・・・・・・差動増幅器、42・・・・・・2値化回
路、45・・・・・・サンプルホールド回路、50.5
1・・・・・・シャッタ、53・・・・・・ノ・−7ミ
ラー、54・・・・・・光源、56・・・・・・基準板
、60・・・・・・対象、66.69・・・・・・切換
え用スイッチ回路、63・・・・・・自動機械、75・
・・・・・レジスタ、76・・・・・・サーボ機構。 第 1 謡 晃 2 函 克 5 図 塾 6 目 濃傳敦jl / z 島 7 別 −敷友t!田回路9〜 8 e 園 遁 q 図 亮/θ園
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対象物の像を撮像するための撮像装置と、該対象物
の2次元パターンにおける特定部分のパターンを予め標
準パターンとして記憶しておくための記憶装置と、該撮
像装置により撮像された対象物の2次元パターンから部
分的な2次元パターンを逐次切出す手段と、該切り出さ
れた部分パターンを代表する位置の座標を該切り出しに
同期して発生する手段と、切出された部分パターンと上
記標準パターンとを比較し、該標準パターンに龜−昏、 最もよく一致した部分パターンを代表する位置の
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58005904A JPS6017152B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 位置検出方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58005904A JPS6017152B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 位置検出方法及びその装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP48021636A Division JPS5214112B2 (ja) | 1973-02-22 | 1973-02-22 |
Related Child Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14945184A Division JPS60190802A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 位置検出方法及びその装置 |
JP59149452A Division JPS60190803A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 位置検出方法 |
JP61076532A Division JPS61292003A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 位置検出方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58132867A true JPS58132867A (ja) | 1983-08-08 |
JPS6017152B2 JPS6017152B2 (ja) | 1985-05-01 |
Family
ID=11623881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58005904A Expired JPS6017152B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 位置検出方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6017152B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6272245B1 (en) | 1998-01-23 | 2001-08-07 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for pattern recognition |
-
1983
- 1983-01-19 JP JP58005904A patent/JPS6017152B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6272245B1 (en) | 1998-01-23 | 2001-08-07 | Seiko Epson Corporation | Apparatus and method for pattern recognition |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6017152B2 (ja) | 1985-05-01 |
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