JPS60190802A - 位置検出方法及びその装置 - Google Patents
位置検出方法及びその装置Info
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- JPS60190802A JPS60190802A JP14945184A JP14945184A JPS60190802A JP S60190802 A JPS60190802 A JP S60190802A JP 14945184 A JP14945184 A JP 14945184A JP 14945184 A JP14945184 A JP 14945184A JP S60190802 A JPS60190802 A JP S60190802A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、2次元的なパターンの2次元面内での位置を
無接触で自動的に検出する位置検出法及びその装置に関
するものである。
無接触で自動的に検出する位置検出法及びその装置に関
するものである。
従来、対象の2次元的な位置を無接触で検出するには、
対象がたとえば長方形のような単純な場合、X方向、Y
方向に2個ずつ配置された太陽電池などの光電面からの
出力を差動的に取り出すなどの方法があるが、精度的に
問題があった。また、この方法は本質的に零位法と呼ば
れる方法であって、対象を光電面からの差動出力が0と
なるようにサーボ機構で中心に持ってきて、その時のサ
ーボ機構の動きから、たとえばコート板によって位置を
検出する必要がある。
対象がたとえば長方形のような単純な場合、X方向、Y
方向に2個ずつ配置された太陽電池などの光電面からの
出力を差動的に取り出すなどの方法があるが、精度的に
問題があった。また、この方法は本質的に零位法と呼ば
れる方法であって、対象を光電面からの差動出力が0と
なるようにサーボ機構で中心に持ってきて、その時のサ
ーボ機構の動きから、たとえばコート板によって位置を
検出する必要がある。
したがって、検出に要する時間が長く、また零位法であ
るために、もしまちがった対象が検出器のもとに入って
きても、これに応答してもっともらしい位置を検出して
しまう。すなわち、従来の方法は、対象があるかないか
さえ認識する能力がなかった。
るために、もしまちがった対象が検出器のもとに入って
きても、これに応答してもっともらしい位置を検出して
しまう。すなわち、従来の方法は、対象があるかないか
さえ認識する能力がなかった。
本発明の目的は、たとえばトランジスタ、IC。
LSI、などの組立工程や検出工程を自動化するために
、これら複雑なパターンを持つ対象に対しても、精度よ
くかつ、高速にその位置を検出することのできる方法及
び装置を得ることにある。
、これら複雑なパターンを持つ対象に対しても、精度よ
くかつ、高速にその位置を検出することのできる方法及
び装置を得ることにある。
上記の目的を達成するために、本発明の位置検出法では
、対象の局部的なパターンを1個もしくは複数個標準パ
ターンとして記憶しておき、この標準パターンと、たと
えばビジコンなどの撮像装置によって入力される対象の
2次元パターンから切出された部分パターンとの一部分
を比較して、該標準パターンに最も合致した部分パター
ンを検出することを特徴とする。
、対象の局部的なパターンを1個もしくは複数個標準パ
ターンとして記憶しておき、この標準パターンと、たと
えばビジコンなどの撮像装置によって入力される対象の
2次元パターンから切出された部分パターンとの一部分
を比較して、該標準パターンに最も合致した部分パター
ンを検出することを特徴とする。
以下、本発明を実施例によって詳しく説明する。
第1図は、本発明を適用する対象の一例であるトランジ
スタのベレットを示す図である。
スタのベレットを示す図である。
図において、斜線部は酸化シリコン面、斜線のない部分
はアルミ蒸着による電極部分である。
はアルミ蒸着による電極部分である。
このようなトランジスタが次々と組立機に供給されると
き、電極部分の金線を圧着すべき位置P1+P2を自動
的に検出し、その座標値を機械に与えて、たとえばサー
ボ機構で金線の圧着用ボンダを正確に位置決めする必要
がある。
き、電極部分の金線を圧着すべき位置P1+P2を自動
的に検出し、その座標値を機械に与えて、たとえばサー
ボ機構で金線の圧着用ボンダを正確に位置決めする必要
がある。
このトランジスタにおいては、全体の複雑なパターンの
中で、他と同じようにパターンがないような局部パター
ンを選ぶ。この例では、点線で囲んだ3つの局部パター
ンを選ぶことができる。
中で、他と同じようにパターンがないような局部パター
ンを選ぶ。この例では、点線で囲んだ3つの局部パター
ンを選ぶことができる。
これら3つの局部パターンの代表位置としては、たとえ
ばその中心位置でもよいが、ここでは説明の都合上右下
側の位置A、B、Cをとるとする。
ばその中心位置でもよいが、ここでは説明の都合上右下
側の位置A、B、Cをとるとする。
このときの座標関係を第2図に抜き出して描いである。
もし、トランジスタがXY方向のずれだけでXY面内で
の回転(すなわち傾き)はないよう正確に検出器の視野
中に供給されるとすると。
の回転(すなわち傾き)はないよう正確に検出器の視野
中に供給されるとすると。
1つの局部パターンの位置、たとえばA点の座標XA、
YAがまれば、これにある所定の値を加算もしくは減算
することによってボンディングすべきP1点の座標XI
+ Yl と22点のノ坐標X2+Y2が算出できる
。
YAがまれば、これにある所定の値を加算もしくは減算
することによってボンディングすべきP1点の座標XI
+ Yl と22点のノ坐標X2+Y2が算出できる
。
しかし、この場合検出された座1fAXA、YAがほん
とうにA点のものであるかどうかの保証はなく、たとえ
ばトランジスタ面の汚れとか、欠けによって、本来の部
分パターンとは別のところの方がより一致しているかも
しれない。
とうにA点のものであるかどうかの保証はなく、たとえ
ばトランジスタ面の汚れとか、欠けによって、本来の部
分パターンとは別のところの方がより一致しているかも
しれない。
この欠点をさけるためには、二つの局部パターンの位置
、たとえばAとBを検出すればよい。もしA、B点の座
標がまったとすると、A点とB点の距離と方向:すなわ
ち がある所定の範囲にあるかどうかを確かめ、もしそうで
あればこのA、B点の座標は確かにΔ、B両局部パター
ンのものだと判定して、たとえばA。
、たとえばAとBを検出すればよい。もしA、B点の座
標がまったとすると、A点とB点の距離と方向:すなわ
ち がある所定の範囲にあるかどうかを確かめ、もしそうで
あればこのA、B点の座標は確かにΔ、B両局部パター
ンのものだと判定して、たとえばA。
Bを結ぶ線の中心座標を基準として(これによってA、
8点検出の誤差が平均化される可能性があ” ) 点P
1 + P 2の座標をめることができる。
8点検出の誤差が平均化される可能性があ” ) 点P
1 + P 2の座標をめることができる。
この場合には、A、B点の線の方向がわかるので、トラ
ンジスタの多少の傾きに対しても、これを補正した値と
してP1+P2の座標をめることができ、より精密な位
置検出が可能となる。
ンジスタの多少の傾きに対しても、これを補正した値と
してP1+P2の座標をめることができ、より精密な位
置検出が可能となる。
もし、A点とB点の距離もしくは角度のいずれか一方で
も所定の範囲を越えているとすれば、A。
も所定の範囲を越えているとすれば、A。
Bのいずれかあるいは両方が誤検出されてにせの点の座
標を示していることになる。この場合にはもう一つの局
部パターンの座標Cを検出して、Δと0間で」1記の検
定を行ない、結果がよりればP1+P2の座標が検出さ
れるし、悪番づればさらにBと0間で上記の検定を行な
えばよい。
標を示していることになる。この場合にはもう一つの局
部パターンの座標Cを検出して、Δと0間で」1記の検
定を行ない、結果がよりればP1+P2の座標が検出さ
れるし、悪番づればさらにBと0間で上記の検定を行な
えばよい。
このように一般に、記憶しておく局部パターンの数が多
くなればそれだけ検定の組合わせがふえ、信頼度を上げ
ることができるし、また、2つの検出位置の角度から供
給される1ヘランジスタペレツトの角度位置がかわり、
この供給誤差を補正した値としてP1+P2の座標を剖
算することができる。
くなればそれだけ検定の組合わせがふえ、信頼度を上げ
ることができるし、また、2つの検出位置の角度から供
給される1ヘランジスタペレツトの角度位置がかわり、
この供給誤差を補正した値としてP1+P2の座標を剖
算することができる。
この検定は、遂次的に行なってもよいし、あるいは考え
られるいくつかの組合わせに対して並列的に演算回路を
設け、同時に行なうことも可能である。また、1−ラン
ジスタが多少XY面内で傾いて供給されても、記憶され
た正常位置での標準パターンとの一致度によって十分そ
の位置を検出することができる。もちろん、その時の一
致度は、多少悪くなるが、他の部分のパターンよりも太
きな差があるために正常な位置が検出できるわけである
。
られるいくつかの組合わせに対して並列的に演算回路を
設け、同時に行なうことも可能である。また、1−ラン
ジスタが多少XY面内で傾いて供給されても、記憶され
た正常位置での標準パターンとの一致度によって十分そ
の位置を検出することができる。もちろん、その時の一
致度は、多少悪くなるが、他の部分のパターンよりも太
きな差があるために正常な位置が検出できるわけである
。
しかしながら、トランジスタの傾きがより大きくなり、
たとえば20°くらい傾くと、もはやこの正常位置での
標準パターンでは一致度が悪くなり、また他の部分の方
がより似てくる可能性もある。そのためには、第3図に
示すように、正常位置での局部パターンa、b、cのほ
かに、これを約10°くらい左へ傾けたパターンd、e
、fと右へ傾けたパターンg+ h+ 1を準備し、こ
の例では計9個の標準パターンによって位置を検出する
ことができる。この場合、傾いたパターン間、たとえば
d、e間での検定に際しては、場合とパターンの傾き角
に相当する角度、すなわち、この例では10°位の差が
あるような、別の所定範囲を設定し、この範囲に入って
いるかどうかを調べればよい。
たとえば20°くらい傾くと、もはやこの正常位置での
標準パターンでは一致度が悪くなり、また他の部分の方
がより似てくる可能性もある。そのためには、第3図に
示すように、正常位置での局部パターンa、b、cのほ
かに、これを約10°くらい左へ傾けたパターンd、e
、fと右へ傾けたパターンg+ h+ 1を準備し、こ
の例では計9個の標準パターンによって位置を検出する
ことができる。この場合、傾いたパターン間、たとえば
d、e間での検定に際しては、場合とパターンの傾き角
に相当する角度、すなわち、この例では10°位の差が
あるような、別の所定範囲を設定し、この範囲に入って
いるかどうかを調べればよい。
このように傾いた局部パターンを標準パターンとして7
(0備することによって、トランジスタの場合、±20
°くらいの供給角度誤差に対し、十分に位置を検出でき
ることが実験的にも検証されている。もし、1ヘランジ
スタが上下さかさまに入ることもあり1昂るとすれば、
−に下さかさまの+W’t r<Qパターンを準備する
ことによって対処できることは勿論である。
(0備することによって、トランジスタの場合、±20
°くらいの供給角度誤差に対し、十分に位置を検出でき
ることが実験的にも検証されている。もし、1ヘランジ
スタが上下さかさまに入ることもあり1昂るとすれば、
−に下さかさまの+W’t r<Qパターンを準備する
ことによって対処できることは勿論である。
以上の説明においては、最終位置P1+P2の座標を局
部パターン1個もしくは複数個で検出する場合の特徴に
ついて説明し、その演算の方式を説明した。この演算に
は、もし位置があるアナログ信号、もしくは何ピッ1へ
かのディジタル信号として検出されさえすれば、その信
号を入力とした専用の演算回路を組むことばきわめて容
易である。
部パターン1個もしくは複数個で検出する場合の特徴に
ついて説明し、その演算の方式を説明した。この演算に
は、もし位置があるアナログ信号、もしくは何ピッ1へ
かのディジタル信号として検出されさえすれば、その信
号を入力とした専用の演算回路を組むことばきわめて容
易である。
最近では、この種の1〜ランジスタ生産工程においても
、ミニコンピユータの応用に[〒1ざましく、もし本目
的にこれを使えば、何の苦もなくこの汎用演算装置で上
記の演算が高速に実現できる。
、ミニコンピユータの応用に[〒1ざましく、もし本目
的にこれを使えば、何の苦もなくこの汎用演算装置で上
記の演算が高速に実現できる。
また、上述の距離、角度の検定は、厳密な式による場合
について記述したが、もしトランジスタの供給角度誤差
が±20°程度以下と小さければ各種の近似計算式が利
用でき、根計算、2乗泪算、逆正接計算を省略すること
ができることは勿論であるし、また、計算法として各種
の変形が可能である。また、上記検定の際に、用意した
すべての組合わせ間で不合格であれば、通常は対象がな
い場合か、あるいはあってもきわめて汚れた不良品であ
ることが多く、したがって、この場合にはりジェクト信
号を出すことができる。
について記述したが、もしトランジスタの供給角度誤差
が±20°程度以下と小さければ各種の近似計算式が利
用でき、根計算、2乗泪算、逆正接計算を省略すること
ができることは勿論であるし、また、計算法として各種
の変形が可能である。また、上記検定の際に、用意した
すべての組合わせ間で不合格であれば、通常は対象がな
い場合か、あるいはあってもきわめて汚れた不良品であ
ることが多く、したがって、この場合にはりジェクト信
号を出すことができる。
第4図は、以上説明した位置検出法を実現するための一
実施例であり、本発明の原理構成を示す全体ブロック図
である。図において、たとえばビジコンなどから成る撮
像装置1は、これを駆動するための同期信号発生回路2
からの出力でもって、通常の撮像装置同様ラスク走査さ
れているものとする。その時の走査ビー11の位置は、
座標発生回路3によって常にそのX座標Y座標が刻々得
られているものとする。
実施例であり、本発明の原理構成を示す全体ブロック図
である。図において、たとえばビジコンなどから成る撮
像装置1は、これを駆動するための同期信号発生回路2
からの出力でもって、通常の撮像装置同様ラスク走査さ
れているものとする。その時の走査ビー11の位置は、
座標発生回路3によって常にそのX座標Y座標が刻々得
られているものとする。
撮像装置1からの映像信号4は、たとえば2値化回路の
ごとき前処理回路5を経由して、たとえばシフトレジス
タからなる一時記憶回路6に入力される。この一時記憶
回路6は後述のごとくいわゆるダイナミックメモリであ
って、この中から次の2次元パターン切出口路7によっ
て、並列的に2次元の情報が読み出されるように植成さ
れる。
ごとき前処理回路5を経由して、たとえばシフトレジス
タからなる一時記憶回路6に入力される。この一時記憶
回路6は後述のごとくいわゆるダイナミックメモリであ
って、この中から次の2次元パターン切出口路7によっ
て、並列的に2次元の情報が読み出されるように植成さ
れる。
この2次元パターン切出回路7には、撮像装置1の現在
の走査位置でのビデオ信号の他に、過去において走査さ
れた位置での情報も同時にとりだされており、あたかも
撮像装置の視野の中で縦横にある大きさをもった四角の
窓枠を順次走査していくときのごとく、窓枠白情報が常
時並列に得られている。この窓枠白情報は、走査の進行
とともに次々と更新される。その具体的回路例について
は後述する。
の走査位置でのビデオ信号の他に、過去において走査さ
れた位置での情報も同時にとりだされており、あたかも
撮像装置の視野の中で縦横にある大きさをもった四角の
窓枠を順次走査していくときのごとく、窓枠白情報が常
時並列に得られている。この窓枠白情報は、走査の進行
とともに次々と更新される。その具体的回路例について
は後述する。
撮像装置の視野内での局部的な2次元パターンが走査の
進行とともに次々と2次元パターン切出し回路7に入力
されると、この情報はあらかじめ標準となる部分パター
ンが記憶された部分パターン記憶回路8の内容と次々と
比較され、両者の一致の度合が一致度検出回路9によっ
て検出される。
進行とともに次々と2次元パターン切出し回路7に入力
されると、この情報はあらかじめ標準となる部分パター
ンが記憶された部分パターン記憶回路8の内容と次々と
比較され、両者の一致の度合が一致度検出回路9によっ
て検出される。
実際の設計例では、撮像装置の視野のだてとよこをそれ
ぞれ240と320絵素に格子状に分割したとき、2次
元パターン切出回路7で切り出すパターンの大きさは、
12X12絵素の正方形領域とすることができる。この
場合、この領域の選び方は必ずしも正方形である必要は
なく、たとえば10X14や8X7などの目的に応じ、
任意に設計できることはもちろんである。
ぞれ240と320絵素に格子状に分割したとき、2次
元パターン切出回路7で切り出すパターンの大きさは、
12X12絵素の正方形領域とすることができる。この
場合、この領域の選び方は必ずしも正方形である必要は
なく、たとえば10X14や8X7などの目的に応じ、
任意に設計できることはもちろんである。
さて、12X12とした場合には、部分パターン記憶回
路8の大きさも12X12絵素の大きさに設計するのが
便利である。すなわち、ここには12X12=144個
の情報が記憶されており、2次元パターン切出回路から
の144個の情報との対応する情報ごとの一致度の和と
して部分パターン全体の一致度が一致度検出回路9で検
出される。
路8の大きさも12X12絵素の大きさに設計するのが
便利である。すなわち、ここには12X12=144個
の情報が記憶されており、2次元パターン切出回路から
の144個の情報との対応する情報ごとの一致度の和と
して部分パターン全体の一致度が一致度検出回路9で検
出される。
この一致度検出回路9の出力は、検出開始の段階、すな
わちフレームの最初において、あらかじめ一致度記憶回
路12にセットされた大きな不一致度に相当する一致度
情報と比較回路10において比較される。
わちフレームの最初において、あらかじめ一致度記憶回
路12にセットされた大きな不一致度に相当する一致度
情報と比較回路10において比較される。
もし、現在の一致度が過去に一致度記憶回路12に記憶
された内容よりもよけ九ば、比較回路lOの出力が論理
的にオンの出力を出し、ゲート回路11を開いて現在の
一致度を一致度記憶回路12に送り、一致度記憶回路1
2の内容を更新する。この比較回路10の出力は、さら
にゲート回路13にも送られ、その時の座標発生回路3
の出力、すな力ち走査ビームの位置に相当するXY座標
値を座標記憶回路14へ導き、過去に記憶された座標値
を更新する。
された内容よりもよけ九ば、比較回路lOの出力が論理
的にオンの出力を出し、ゲート回路11を開いて現在の
一致度を一致度記憶回路12に送り、一致度記憶回路1
2の内容を更新する。この比較回路10の出力は、さら
にゲート回路13にも送られ、その時の座標発生回路3
の出力、すな力ち走査ビームの位置に相当するXY座標
値を座標記憶回路14へ導き、過去に記憶された座標値
を更新する。
このようにすれば、走査の終了するフレームの終りの時
点では、あらかじめ記憶された部分パターンにもっとも
合致した部分パターンが存在した画像中の座標位置X、
Yが、そのときの一致度とともに記憶され保持されてい
る。
点では、あらかじめ記憶された部分パターンにもっとも
合致した部分パターンが存在した画像中の座標位置X、
Yが、そのときの一致度とともに記憶され保持されてい
る。
このように、1個の標準となる部分パターンに対して1
フレ一ム時間で最大相関位置の座標がまることになる。
フレ一ム時間で最大相関位置の座標がまることになる。
したがって、各フレームごとに次々と部分パターン記憶
回路8の内容を更新すれば、第1フレームでは、たとえ
ば第1図のA点の座標、第2フレームではB点の座標、
第3フレームでは0点の座標というように、各フレーム
でめることができる。そのためには、あらかじめ処理装
置30内のリードオンメモリ、もしくは主記憶装置内に
設けた部分パターン記憶回路26,27.28の内容を
、フレームごとに切換回路29を通して部分パターン記
憶回路8に送出すればよい。このときのタイミング信号
としては、第5図のようになる。
回路8の内容を更新すれば、第1フレームでは、たとえ
ば第1図のA点の座標、第2フレームではB点の座標、
第3フレームでは0点の座標というように、各フレーム
でめることができる。そのためには、あらかじめ処理装
置30内のリードオンメモリ、もしくは主記憶装置内に
設けた部分パターン記憶回路26,27.28の内容を
、フレームごとに切換回路29を通して部分パターン記
憶回路8に送出すればよい。このときのタイミング信号
としては、第5図のようになる。
すなわち、対象であるトランジスタが挿入された信号B
を受けて、これとは独立に動いている撮像装置の同期信
号aを用いて、第1フレームのみ ′でオンとなる信号
C1第2フレームのみでオンとなる信号d、第3フレー
ムのみでオンとなる信号e・・・・を作る。たとえば信
号Cを得るにはbの信号でフリップフロップを1〜リガ
ーし、その出力とaとをアンドゲートに加え、その出力
によってもう一つのフリップフロップをトリガーし、こ
のフリップフロップをその出力とaとのアンド出力によ
ってリセッ1へするという回路を作れはよい。
を受けて、これとは独立に動いている撮像装置の同期信
号aを用いて、第1フレームのみ ′でオンとなる信号
C1第2フレームのみでオンとなる信号d、第3フレー
ムのみでオンとなる信号e・・・・を作る。たとえば信
号Cを得るにはbの信号でフリップフロップを1〜リガ
ーし、その出力とaとをアンドゲートに加え、その出力
によってもう一つのフリップフロップをトリガーし、こ
のフリップフロップをその出力とaとのアンド出力によ
ってリセッ1へするという回路を作れはよい。
また、dを得るにはCの立下りでオンとなり、次のaで
リセッ1〜されるようなフリップフロップ回路を設けれ
ばよい。
リセッ1〜されるようなフリップフロップ回路を設けれ
ばよい。
さらに、同期信号aに列し、少し位相の遅れた同期信号
fと1位相の進んだ同期信号gを用意し、c、d、eの
信号によって、第4図の切換回路29を開閉すればよい
。すなわち、29ば3個のゲートからなり、このゲー1
−を開閉する信号としてc、d、eを利用し、また、転
送開始の信号としてfとc、d、eとのアンド出力を利
用することができる。
fと1位相の進んだ同期信号gを用意し、c、d、eの
信号によって、第4図の切換回路29を開閉すればよい
。すなわち、29ば3個のゲートからなり、このゲー1
−を開閉する信号としてc、d、eを利用し、また、転
送開始の信号としてfとc、d、eとのアンド出力を利
用することができる。
一方、この信号fは、第4図の一致度記憶回路12の内
容を、あらかじめ一致度の小さな値にリセットするのに
利用する。すなわち、各々フレームに初めにあらかじめ
大きな不一致情報を入力しておき、そのフレームでの一
致点の検出の準備をする。また、信号gは各フレームの
終りにc、ci。
容を、あらかじめ一致度の小さな値にリセットするのに
利用する。すなわち、各々フレームに初めにあらかじめ
大きな不一致情報を入力しておき、そのフレームでの一
致点の検出の準備をする。また、信号gは各フレームの
終りにc、ci。
eなどとアンドゲートがとられて切換回路15゜16を
経由して一致度記憶回路]、7.’18,19゜のいず
れか一つ、および座標記憶回路20,21゜22のいず
れか一つに情報を転送する書込みパルスとして利用でき
る。切換回路15.16の制御は切換回路29の制御と
同様にして可能である。
経由して一致度記憶回路]、7.’18,19゜のいず
れか一つ、および座標記憶回路20,21゜22のいず
れか一つに情報を転送する書込みパルスとして利用でき
る。切換回路15.16の制御は切換回路29の制御と
同様にして可能である。
このように、3回のフレームによって3つの標準部分パ
ターンに対するもつとも確からしい位置が検出され、そ
の時の座標位置が記憶回路(レジスタ)20,21.2
2へと入っている。
ターンに対するもつとも確からしい位置が検出され、そ
の時の座標位置が記憶回路(レジスタ)20,21.2
2へと入っている。
この時、記憶回路(レジスタ)1.7,18゜19には
各々の部分パターンに対する一致度情報が入っており、
この結果は判定回路23によって比較される。この回路
は、たとえば最大値と次大値の検出回路であって、最も
一致度の高い順に二つを選び、その結果にしたがって選
択回路24を開閉する。
各々の部分パターンに対する一致度情報が入っており、
この結果は判定回路23によって比較される。この回路
は、たとえば最大値と次大値の検出回路であって、最も
一致度の高い順に二つを選び、その結果にしたがって選
択回路24を開閉する。
従って、選択回路24からの出力は、20゜21.22
の座標のうちの2個、すなわちもつとも一致度の高い2
つの部分パターンに対応した座標位置が出力される。第
1図の例でいえば、たとえばへ点と13点の座標が出力
される。
の座標のうちの2個、すなわちもつとも一致度の高い2
つの部分パターンに対応した座標位置が出力される。第
1図の例でいえば、たとえばへ点と13点の座標が出力
される。
したがって、演算回路25では、この2つの座標をもと
に、加算、減算2乗算、除算回路の組合わせによって、
最終の位置P1+P2の座標が出力される。この場合、
一致度によってたしからしい順に2つの部分パターンに
相当する座標をめているため、前述したようないくつか
のパターンの組合わせに対して行なうという処理を省力
することができる。
に、加算、減算2乗算、除算回路の組合わせによって、
最終の位置P1+P2の座標が出力される。この場合、
一致度によってたしからしい順に2つの部分パターンに
相当する座標をめているため、前述したようないくつか
のパターンの組合わせに対して行なうという処理を省力
することができる。
以−4この説明では、引き続く3つのフレームによって
映像から3つの部分パターンの座標値をめ、その後、判
定回路23、選択回路24、演算回路25で座標をめる
とした。
映像から3つの部分パターンの座標値をめ、その後、判
定回路23、選択回路24、演算回路25で座標をめる
とした。
しかし、たとえば第1フレームでパターンA、第2フレ
ームでパターンBの座標位置をめるとすぐにこの二つで
判定し、その結果が検定に合格しなけ汎ばパターンAの
情報をのこして引き続き次のフレームでパターンCにつ
いての情報を取り込んだり、あるいはまた、パターンA
、B両方の情報をともにすてて、新しくパターンC,D
という新しい組について行なうなど各種の変形が可能で
ある。この場合には、一致度による判定回路23は不要
どなり、情報取り込みの制御が多少複雑になるだけであ
る。
ームでパターンBの座標位置をめるとすぐにこの二つで
判定し、その結果が検定に合格しなけ汎ばパターンAの
情報をのこして引き続き次のフレームでパターンCにつ
いての情報を取り込んだり、あるいはまた、パターンA
、B両方の情報をともにすてて、新しくパターンC,D
という新しい組について行なうなど各種の変形が可能で
ある。この場合には、一致度による判定回路23は不要
どなり、情報取り込みの制御が多少複雑になるだけであ
る。
以上のような、処理回路30での処理は専用ハードウェ
アを構成すればきわめて高速であるが、通常の汎用処理
装置であるミニコンピユータで代用しても、フレームの
終りのごく短い時間、すなわち撮像装置の帰線部間の間
に」1記のすべての判定処理が可能である。
アを構成すればきわめて高速であるが、通常の汎用処理
装置であるミニコンピユータで代用しても、フレームの
終りのごく短い時間、すなわち撮像装置の帰線部間の間
に」1記のすべての判定処理が可能である。
したがって、いずれの場合でも新しいフレームでの情報
が入るに従って、新しい組合オ〕せに対して実時間で処
理することができ、したがって、たとえばパターンAと
パターンBが入った時点での削性結果によって最終座標
位置がまってしまう例がきわめて多く、実際にはよほど
局部的に汚れている対象でない限り、第3フレーム、第
4フレームというように、次々と新しい局部パターンを
使った位置検出をする必要、が生じないのが普通である
。
が入るに従って、新しい組合オ〕せに対して実時間で処
理することができ、したがって、たとえばパターンAと
パターンBが入った時点での削性結果によって最終座標
位置がまってしまう例がきわめて多く、実際にはよほど
局部的に汚れている対象でない限り、第3フレーム、第
4フレームというように、次々と新しい局部パターンを
使った位置検出をする必要、が生じないのが普通である
。
また、以上の説明では一致度検出回路9を1個だけ使用
する例について説明した。この場合には原則として1フ
レームで1個の部分パターンの位置が検出される。もし
、部分パターンが視野の上方にあることが限られ、大略
の探索エリアがわかっていれば、画面の上半分を走査し
ているときにパターンAを、下半分を走査しているとき
にパターンBをというように、部分パターン記憶回路8
の内容を切換えることも可能である。
する例について説明した。この場合には原則として1フ
レームで1個の部分パターンの位置が検出される。もし
、部分パターンが視野の上方にあることが限られ、大略
の探索エリアがわかっていれば、画面の上半分を走査し
ているときにパターンAを、下半分を走査しているとき
にパターンBをというように、部分パターン記憶回路8
の内容を切換えることも可能である。
さらに、−政変検出回路9.比較回路10.ゲート回路
11.−成度記憶回路12.ゲート回路13、座標記憶
回路14の組を3個ずつ設けるとすれば、3個の一致度
検出回路9で同時に三つのパターンA、B、Cに対する
位置が同一フレームでまることは当然である。
11.−成度記憶回路12.ゲート回路13、座標記憶
回路14の組を3個ずつ設けるとすれば、3個の一致度
検出回路9で同時に三つのパターンA、B、Cに対する
位置が同一フレームでまることは当然である。
この場合、3つの一致度記憶回路12,3つの座標記憶
回路14は、それぞれ−成度記憶回路17.18..1
9.および座標記憶回路20゜21.22に相当するの
で、切換回路15.16は不要となる。
回路14は、それぞれ−成度記憶回路17.18..1
9.および座標記憶回路20゜21.22に相当するの
で、切換回路15.16は不要となる。
第6図〜第8図は第4図に示した本発明の全体構成の主
要部分のさらに具体的な構成例である。
要部分のさらに具体的な構成例である。
第6図は、第4図の同期信号発生回路2と座標発生回路
3の具体例であり、たとえば6 M Hz程度の絵素パ
ルス発生器31からのパルスをカウンタ(Xカウンタと
称する)32によって計数し、その内容がある一定値に
なったとき自らをリセットするとともに、カウンタ(Y
カウンタと称する)33に1を加えるようになっている
。カウンタ33はある一定値になると自らをリセットし
、またXカウンタ32をもリセットするように構成する
。
3の具体例であり、たとえば6 M Hz程度の絵素パ
ルス発生器31からのパルスをカウンタ(Xカウンタと
称する)32によって計数し、その内容がある一定値に
なったとき自らをリセットするとともに、カウンタ(Y
カウンタと称する)33に1を加えるようになっている
。カウンタ33はある一定値になると自らをリセットし
、またXカウンタ32をもリセットするように構成する
。
このようにしたとき、各カウンタの出力パルスは、それ
ぞれX同期信号、Y同期信号となり、これを基準として
パルス中、電圧値を適切に変換してビディコンなどを用
いた撮像装置を駆動する。
ぞれX同期信号、Y同期信号となり、これを基準として
パルス中、電圧値を適切に変換してビディコンなどを用
いた撮像装置を駆動する。
一方、XカウンタおよびYカウンタの内容そのものはビ
ームの位置に関する情報となり、走査する座標値を与え
るものとなる。
ームの位置に関する情報となり、走査する座標値を与え
るものとなる。
第7図は、第4図の映像入力系の具体例を示している。
m像装置からのビデオ情報4は差動増幅器34を介して
2値化回路35に入力される。
2値化回路35に入力される。
この場合、ある画面部分たとえば中央部が走査されてい
るときのみオンとなる信号36を別途作っておいてその
時のみゲート回路37を通して映像信号4を積分器に導
き、フレームの終りでその出力を保持回路39でサンプ
ルホー°ルドさせる。
るときのみオンとなる信号36を別途作っておいてその
時のみゲート回路37を通して映像信号4を積分器に導
き、フレームの終りでその出力を保持回路39でサンプ
ルホー°ルドさせる。
その出力は必要に応じ適切なアッテネータを介して差動
増幅器34に入力される。
増幅器34に入力される。
この回路の働きは、常時、一つ前のフレームにおける特
定画面部分の平均明るさに対応したしきい値をめること
であり、この回路と2値化回路35により、明暗の中間
値でうまく2値化が可能となる。これらを含めて第4図
の前処理回路5に対応している。
定画面部分の平均明るさに対応したしきい値をめること
であり、この回路と2値化回路35により、明暗の中間
値でうまく2値化が可能となる。これらを含めて第4図
の前処理回路5に対応している。
2値化された映像は、走査の進行に応じシフトレジスタ
37−1のほか、36−1.36−2゜・・・・、 3
6−(r+ −1)の(n−1)本のシフ1−レジスタ
に順次入力されるよう構成され、また、これらのシフト
レジスタ36の各々からシフトレジスタ37−2.37
−3.・・・・、37−nへと順次入力されるようにな
っている。シフトレジスタ36としては一水平走査の絵
素数に相当するビット段数を有するものであり、数nと
しては前述の12X12の部分パターンに対してはn=
12である。したがって、シフトレジスタ36は11本
、シフトレジスタ37は12本、シフトレジスタ37の
ビット段数は12個というのが一つの設計例である。
37−1のほか、36−1.36−2゜・・・・、 3
6−(r+ −1)の(n−1)本のシフ1−レジスタ
に順次入力されるよう構成され、また、これらのシフト
レジスタ36の各々からシフトレジスタ37−2.37
−3.・・・・、37−nへと順次入力されるようにな
っている。シフトレジスタ36としては一水平走査の絵
素数に相当するビット段数を有するものであり、数nと
しては前述の12X12の部分パターンに対してはn=
12である。したがって、シフトレジスタ36は11本
、シフトレジスタ37は12本、シフトレジスタ37の
ビット段数は12個というのが一つの設計例である。
このようにしたとき、36−1からは一つ前のラスタで
の情報が、36−2からは2つ前のラスタでの情報が、
・・・・というように出力され、したがって、シフトレ
ジスタ37には12本のラスタにおける水平方向12個
の情報、すなわち12×12の平面的情報が走査の進行
とともに次々と表われる。。したがって、この12X1
2の絵素の内容を一致度検出回路へ導けばよい。
の情報が、36−2からは2つ前のラスタでの情報が、
・・・・というように出力され、したがって、シフトレ
ジスタ37には12本のラスタにおける水平方向12個
の情報、すなわち12×12の平面的情報が走査の進行
とともに次々と表われる。。したがって、この12X1
2の絵素の内容を一致度検出回路へ導けばよい。
第8図は、−成度の検出部分の具体例を示している。平
面的な部分パターン記憶回路8はここではレジスタ8−
1.8−2.・・・・、8−nというように複数個のレ
ジスタとして表示し、前述のシフトレジスタ37−1〜
37−TIと対向させている。
面的な部分パターン記憶回路8はここではレジスタ8−
1.8−2.・・・・、8−nというように複数個のレ
ジスタとして表示し、前述のシフトレジスタ37−1〜
37−TIと対向させている。
各対応するビットごとの排他的論理和の否定をめる論理
回路38によって、ヒツトが一致しないときのみ論理的
” 1 ”出力が出るようにする。
回路38によって、ヒツトが一致しないときのみ論理的
” 1 ”出力が出るようにする。
これらを加算器39で加算すると、その出力はパターン
が一致しないとき大、・一致する程Oに近い小さな出力
となる。
が一致しないとき大、・一致する程Oに近い小さな出力
となる。
したがって、−成度記憶回路12にディジタル記憶すれ
た内容をDA変換器40でアナログに変換したものとど
もに、差動増幅器41に入力すれば、一致度がよくなっ
たときのみ2値化回路42の出力が1となり、絵素パル
スに同期したタイミングノパルス43の働きでゲー1〜
44を介してサンプルホールド回路45が一致度を保持
し、これがΔD変換器46によってディジタルに変換さ
れて一致度記憶回路12に記憶され、一致度が更新され
る。
た内容をDA変換器40でアナログに変換したものとど
もに、差動増幅器41に入力すれば、一致度がよくなっ
たときのみ2値化回路42の出力が1となり、絵素パル
スに同期したタイミングノパルス43の働きでゲー1〜
44を介してサンプルホールド回路45が一致度を保持
し、これがΔD変換器46によってディジタルに変換さ
れて一致度記憶回路12に記憶され、一致度が更新され
る。
一方、ゲート44からの出力は、すでに第4図に示した
ようにグー1〜回路13を開き、その時の座標位置を座
標記憶回路14に記憶する。
ようにグー1〜回路13を開き、その時の座標位置を座
標記憶回路14に記憶する。
以下説明した例では、映像値を2値化するとしたが、こ
れは1〜ランジスタなど比較的明暗のはっきりしたパタ
ーンをもっ対象に対しては有利である。しかしながら、
2値化するのは必ずしも本質ではなく、多値情報として
演算することも可能である。この場合には、第7図のシ
フトレジスタ36.37はある深さを持った多値のシフ
トレジスタになす必要があり、また−政変検出のための
第8図の論理回路38は、たとえば減算回路と絶対値回
路を直列にしたものとすることができ、これによってパ
ターンの各ピッ1〜の差が加算器39で加算されること
になる。
れは1〜ランジスタなど比較的明暗のはっきりしたパタ
ーンをもっ対象に対しては有利である。しかしながら、
2値化するのは必ずしも本質ではなく、多値情報として
演算することも可能である。この場合には、第7図のシ
フトレジスタ36.37はある深さを持った多値のシフ
トレジスタになす必要があり、また−政変検出のための
第8図の論理回路38は、たとえば減算回路と絶対値回
路を直列にしたものとすることができ、これによってパ
ターンの各ピッ1〜の差が加算器39で加算されること
になる。
加算器としては、定電流源からある抵抗に電流を流すよ
う構成し、その電流を各々の差に応じて制御すればよい
。
う構成し、その電流を各々の差に応じて制御すればよい
。
以上の例では対象そのものの複雑なパターンの中から、
局部的な部分パターンを標準どする場合について述べた
。しかし、これは必ずしも本質ではなく、場合によって
は特定のパターンをこの検出の目的のために対象に入れ
ることができる。
局部的な部分パターンを標準どする場合について述べた
。しかし、これは必ずしも本質ではなく、場合によって
は特定のパターンをこの検出の目的のために対象に入れ
ることができる。
第9図は、そのようなマークの例であり、1−ランジス
タの表面にアルミ蒸着とホ1−エツチングによって電極
と同時に検出用マークを入れたものである。ここで、斜
線部は酸化シリコン部、斜線のない部分はアルミ蒸着部
である。四角の破線枠は標準として覚える局部パターン
の大きさを示すために、マーク上にあてはめて描いたも
のである。
タの表面にアルミ蒸着とホ1−エツチングによって電極
と同時に検出用マークを入れたものである。ここで、斜
線部は酸化シリコン部、斜線のない部分はアルミ蒸着部
である。四角の破線枠は標準として覚える局部パターン
の大きさを示すために、マーク上にあてはめて描いたも
のである。
パターンA、Bは同心円状に作られているために、1−
ランジスタのXY平面内はおける傾きに強く、第3図に
示したような傾いたパターンを別個に設ける必要がない
ので有利である。また、パターンAと13はこの例では
大きさが等しく、明暗部分が反対になるようにしである
が、このようにすると第8図の論理回路と加算回路とを
共通にし、そのあとの回路として、最大値によって一致
度を検出する回路と最小値を検出する回路の2つを設け
ればよいようになる。
ランジスタのXY平面内はおける傾きに強く、第3図に
示したような傾いたパターンを別個に設ける必要がない
ので有利である。また、パターンAと13はこの例では
大きさが等しく、明暗部分が反対になるようにしである
が、このようにすると第8図の論理回路と加算回路とを
共通にし、そのあとの回路として、最大値によって一致
度を検出する回路と最小値を検出する回路の2つを設け
ればよいようになる。
したがって、この場合には局部的に回路を2組にするだ
けで、同一フレームでA、Bパターンの位置を並列にめ
ることができることになる。
けで、同一フレームでA、Bパターンの位置を並列にめ
ることができることになる。
第9図のパターンCはより複雑化した例である。
この形を適当なコードとすれば、ある特定のコードパタ
ーンのみが入ってきたときのみ位置を検出することが可
能である。
ーンのみが入ってきたときのみ位置を検出することが可
能である。
すなわち、本方式は品種の選別にも使用できる。
さらにパターンCは、対象本来のパターンの一部と、故
意につけた部分とを合わせて一つの局部パターンとした
例である。このように局部パターンとしては人為的に多
様な構成が可能であり、本方式の検出方式はそのいず九
にも標準パターンを記憶する作業だけで対処可能である
。
意につけた部分とを合わせて一つの局部パターンとした
例である。このように局部パターンとしては人為的に多
様な構成が可能であり、本方式の検出方式はそのいず九
にも標準パターンを記憶する作業だけで対処可能である
。
本方式の一つの欠点は、周囲温度の変動のはげしいとこ
ろで使用されるとき、映像信号がずれてくる可能性があ
ることである。すなわち、当初光学系の中心が画面の中
心となるよう調整しておいても、ビジコンなどを用いた
撮像装置ではビームの中心のドリフ1−やビームの振れ
幅の変動によって、映像中心と光学中心がずれたり、映
像と対象との拡大比率が変ったりする可能性もある。撮
像装置が光電素子アレーのような固体化されたものであ
ると、光学系のみの温度ドリフトだけとなるので、これ
は通常の用途ではまったく問題がない。
ろで使用されるとき、映像信号がずれてくる可能性があ
ることである。すなわち、当初光学系の中心が画面の中
心となるよう調整しておいても、ビジコンなどを用いた
撮像装置ではビームの中心のドリフ1−やビームの振れ
幅の変動によって、映像中心と光学中心がずれたり、映
像と対象との拡大比率が変ったりする可能性もある。撮
像装置が光電素子アレーのような固体化されたものであ
ると、光学系のみの温度ドリフトだけとなるので、これ
は通常の用途ではまったく問題がない。
第10図は、ビジコン撮像装置などを使った場合のこの
ようなドリフ1−に列する補償法を示しである。
ようなドリフ1−に列する補償法を示しである。
1〜ランジスタの自動組立機に本発明を応用した場合を
例にとると、約1時間おきにこのドリフト補償をおこな
うのが便利である。この場合、処理装置30は、自ら保
有するタイマでもって、ある一定時間がきたときに、あ
るいは人間もしくは自動組立機械から要求があったとき
に、第10図のシャッター50を閉じ、シャッター51
をあける。
例にとると、約1時間おきにこのドリフト補償をおこな
うのが便利である。この場合、処理装置30は、自ら保
有するタイマでもって、ある一定時間がきたときに、あ
るいは人間もしくは自動組立機械から要求があったとき
に、第10図のシャッター50を閉じ、シャッター51
をあける。
通常はその逆になっていて、撮像装置1はレンズなどの
光学系52を介して、ハーフミラ−53を通して、光源
54.レンズ55によって照明された対象60を見てい
る。この校正の時点では、光源54からの光は開かれた
シャッター51を通して光軸を注意深くセットされた基
準板56を照射し、撮像装置1はハーフミラ−53を介
してこの基準板56を見るように構成される。この1基
準板上には、たとえば中心部に1個、四隅部に1個ずつ
の計5個の相異なる明暗2値パターンが描かれている。
光学系52を介して、ハーフミラ−53を通して、光源
54.レンズ55によって照明された対象60を見てい
る。この校正の時点では、光源54からの光は開かれた
シャッター51を通して光軸を注意深くセットされた基
準板56を照射し、撮像装置1はハーフミラ−53を介
してこの基準板56を見るように構成される。この1基
準板上には、たとえば中心部に1個、四隅部に1個ずつ
の計5個の相異なる明暗2値パターンが描かれている。
この時、撮像装置1からの映像信号は既述の回路によっ
ていくつかのフレームにわたり、次々とこの局部的なパ
ターンの位置を検出して、処理装置30、たとえばミニ
コンピユータに知らせることができる。処理装置30で
は、この位置情報をもとに、たとえば中心のパターンか
ら映像のずれ量を、また四隅パターンの平均からたとえ
ば像の拡大率の変動を知り、第4図の演算回路25で用
いるパラメータを修正することができる。
ていくつかのフレームにわたり、次々とこの局部的なパ
ターンの位置を検出して、処理装置30、たとえばミニ
コンピユータに知らせることができる。処理装置30で
は、この位置情報をもとに、たとえば中心のパターンか
ら映像のずれ量を、また四隅パターンの平均からたとえ
ば像の拡大率の変動を知り、第4図の演算回路25で用
いるパラメータを修正することができる。
こ九により自動的に定期的な校正が可能となる。
第11図は、本装置方式をトランジスタ生産に適用した
場合の全体構成図である。
場合の全体構成図である。
第4図の処理装置30以外の部分は、検出装置61とし
て一つのブロックに示しである。
て一つのブロックに示しである。
検出装置61には複数台の撮像装置1−1.1−2.・
・・・、1−mが、たとえば電子的なスイッチ62によ
ってつながれている。各撮像装置はm台の自動機械63
−1.63−2.・・・・、63−mのそれぞれに付属
され、各機械に供給されるトランジスタ60を上方から
眺めるように構成されている。
・・・、1−mが、たとえば電子的なスイッチ62によ
ってつながれている。各撮像装置はm台の自動機械63
−1.63−2.・・・・、63−mのそれぞれに付属
され、各機械に供給されるトランジスタ60を上方から
眺めるように構成されている。
各機械に、対象である1〜ランジスタが供給されたこと
を示す信号が機械から発生されるようにしておくと、こ
の信号はブスライン64を経由して処理装置30への割
込み信号となる。この信号は割込要因検出回路65で検
出さ九る。そのあと、検出装置61が自動機械63−1
〜63−mのどれにサービス中であるかを示すステータ
スレジスタ66の内容をビジー判定回路67ばよって判
定し、もし、検出装置61がどこかの機械にサービス中
であればビジー信号を出して割込要因検出回路に指令を
戻し、ビジーがとけるまでこれをくり返す。ビジーでな
ければ、検出回路61が使用可能であることになるので
一次の制御信号発生回路68によって割込まれた機械に
制御信号を出力し、スイッチ62とスイッチ69を該当
する機械に切す換える。それと同時にステータスレジス
タ66の割込んだ機械に該当するビット位置をオンとし
、検出装置61がビジーとなったことを示し、そのあと
の割込に対してマスクを掛ける。この場合、割込信号だ
けは保持されるよう割込要因検出回路にはレジスタが内
蔵されるのが普通である。
を示す信号が機械から発生されるようにしておくと、こ
の信号はブスライン64を経由して処理装置30への割
込み信号となる。この信号は割込要因検出回路65で検
出さ九る。そのあと、検出装置61が自動機械63−1
〜63−mのどれにサービス中であるかを示すステータ
スレジスタ66の内容をビジー判定回路67ばよって判
定し、もし、検出装置61がどこかの機械にサービス中
であればビジー信号を出して割込要因検出回路に指令を
戻し、ビジーがとけるまでこれをくり返す。ビジーでな
ければ、検出回路61が使用可能であることになるので
一次の制御信号発生回路68によって割込まれた機械に
制御信号を出力し、スイッチ62とスイッチ69を該当
する機械に切す換える。それと同時にステータスレジス
タ66の割込んだ機械に該当するビット位置をオンとし
、検出装置61がビジーとなったことを示し、そのあと
の割込に対してマスクを掛ける。この場合、割込信号だ
けは保持されるよう割込要因検出回路にはレジスタが内
蔵されるのが普通である。
ついで部分パターン記憶回路70(第4図の26.27
.28を合わせたものに相当)から標準部分パターンを
標準パターン送出口路71によって検出回路6Iへと送
出し、それによって得られる座標信号と一致度信号をデ
ータ取込制御回路72によって取込み、以後はこのデー
タを使って既述のごとき演算を行なう。そして判定回路
73、座標演算回路74によって最終結果を出力する。
.28を合わせたものに相当)から標準部分パターンを
標準パターン送出口路71によって検出回路6Iへと送
出し、それによって得られる座標信号と一致度信号をデ
ータ取込制御回路72によって取込み、以後はこのデー
タを使って既述のごとき演算を行なう。そして判定回路
73、座標演算回路74によって最終結果を出力する。
この最終座標位置は、スイッチ69の選択された状態に
応じてレジスタ75−1〜75−mのm個のうちの該当
するレジスタに入力され、その値をもととして該当する
XYサーボ機構76が駆動される。
応じてレジスタ75−1〜75−mのm個のうちの該当
するレジスタに入力され、その値をもととして該当する
XYサーボ機構76が駆動される。
このサーボ機構76は、図では対象60を移動させるよ
うに描いであるが、トランジスタの組立機では、対象は
停止し、金線圧着ボンダの方をこのサーボ機構によって
位置決めし、あとはあらかじめ決められたカム操作によ
って一連の圧着工程を行なわせるのがよい。
うに描いであるが、トランジスタの組立機では、対象は
停止し、金線圧着ボンダの方をこのサーボ機構によって
位置決めし、あとはあらかじめ決められたカム操作によ
って一連の圧着工程を行なわせるのがよい。
以後の説明においては1ヘランジスタを対象として説明
した。しかし、これは説明のためのものであって、この
方式に適合するものであれば、対象は何であってもよい
ことは勿論である。対常5列象の位置を検出する場合、
全体を一つのパターンとして記憶しておくことは情報量
も多く不可能に近いし、たとえ記憶できたとしても装置
がきわめてぼう太になる。
した。しかし、これは説明のためのものであって、この
方式に適合するものであれば、対象は何であってもよい
ことは勿論である。対常5列象の位置を検出する場合、
全体を一つのパターンとして記憶しておくことは情報量
も多く不可能に近いし、たとえ記憶できたとしても装置
がきわめてぼう太になる。
本発明装置vrでは比較的小さな部分パターンのみを記
憶することによって、位置を検出するようにしたことに
特徴があり、比較的小さな装置規模で有効な応用かはか
1しるものである。
憶することによって、位置を検出するようにしたことに
特徴があり、比較的小さな装置規模で有効な応用かはか
1しるものである。
また、以上の説明においては、部分パターンを正方形も
しくは長方形として説明した。
しくは長方形として説明した。
しかしながら、たとえば12X12の計144個の絵素
からなる部分パターンにおいて、この正方領域での四隅
近傍の値を無視して、たとえば第8図の論理回路38を
省略するとか、あるいは省略しないまでもその出力を禁
止するようにすれば、円形の部分パターンを用いたのと
同じことになる。
からなる部分パターンにおいて、この正方領域での四隅
近傍の値を無視して、たとえば第8図の論理回路38を
省略するとか、あるいは省略しないまでもその出力を禁
止するようにすれば、円形の部分パターンを用いたのと
同じことになる。
このようにして平面をディジタル化したことによる誤差
は生じるが、一応任意の形の部分パターンとして処理す
ることができる。
は生じるが、一応任意の形の部分パターンとして処理す
ることができる。
以」二説明したごとく本発明は、師≠パターンの一部分
を用いてマツチングをするので、該標準パターンを任意
の形の部分パターンとして用いることができ、しかもパ
ターンとしても部分パターンに限っているので、記憶装
置の容量としては小さくてすむことになる。
を用いてマツチングをするので、該標準パターンを任意
の形の部分パターンとして用いることができ、しかもパ
ターンとしても部分パターンに限っているので、記憶装
置の容量としては小さくてすむことになる。
したがって、本発明を適用した場合、従来不可能に近か
った対象の位置の認識が視覚装置で可能どなり、かつ経
済性よく実現できるため、生産機械の自動化などが容易
となった。
った対象の位置の認識が視覚装置で可能どなり、かつ経
済性よく実現できるため、生産機械の自動化などが容易
となった。
第1図は本発明を適用する対象の1例であるトランジス
タのベレン1〜を示す図、第2図は第1図における各点
の位置関係を示す図、第3図は第1図における部分パタ
ーンを示す図、第4図は本発明の位置検出方式の一実施
例を示すブロック図、第5図は第4図の装置を制御する
ためのタイミング信号の説明図、第6図は第4図の装置
における同期信号及び座標信号発生回路の具体例を示す
同第7図は第4図の装置における映像入力系回路の具体
例を示す図、第8図は第4図の装置における一致度検出
部の具体例を示す図、第9図は部分パターンの説明図、
第10図は本発明に用いられる撮像装置の付属装置の構
成図、第11図は本発明方式を1ヘランジスタの生産に
適用した場合のシステムの全体構成図である。 1・・・・撮像装置、2・・・・同期信号発生回路、3
・・・・座標発生回路、5・・・・前処理回路、6・・
・・一時記憶回路、7・・・・2次元パターン切“出回
路、8・・・・部分パターン記憶回路、13・・・ゲー
ト回路、14・・・・座標記憶回路、30・・・・処理
回路、31・・・・絵素パネル発生器、32・・・・X
カウンタ、33・・・・Yカウンタ、34・・・・差動
増幅器、35・・・・2値化回路、36.37・・・・
シフ1〜レジスタ、38・・・・−成度検出回路、39
・・・・加算回路、41・・・・差動増幅器、42・・
・・2値化回路、45・・・・サンプルホールド回路、
50+51・・・・シャッタ、53・・・・ハーフミラ
−154・・・・光源、56・・・・基準板、60・・
・・対象、66.69・・・・切換え用スイッチ回路、
63・・・・自動機械、75・・・・レジスタ、76・
・・・サーボ機構。 第 l 図 第 2 図 /’l(X^、YA) 第 3 図 第 4 図 第 3 図 オlフ[−ム 才2)し−ム 才3ルム 才4りL−ム
才lルームaら 6 図 房基乱りへ 第 7 図 一修ソL利(水口発タヘ
タのベレン1〜を示す図、第2図は第1図における各点
の位置関係を示す図、第3図は第1図における部分パタ
ーンを示す図、第4図は本発明の位置検出方式の一実施
例を示すブロック図、第5図は第4図の装置を制御する
ためのタイミング信号の説明図、第6図は第4図の装置
における同期信号及び座標信号発生回路の具体例を示す
同第7図は第4図の装置における映像入力系回路の具体
例を示す図、第8図は第4図の装置における一致度検出
部の具体例を示す図、第9図は部分パターンの説明図、
第10図は本発明に用いられる撮像装置の付属装置の構
成図、第11図は本発明方式を1ヘランジスタの生産に
適用した場合のシステムの全体構成図である。 1・・・・撮像装置、2・・・・同期信号発生回路、3
・・・・座標発生回路、5・・・・前処理回路、6・・
・・一時記憶回路、7・・・・2次元パターン切“出回
路、8・・・・部分パターン記憶回路、13・・・ゲー
ト回路、14・・・・座標記憶回路、30・・・・処理
回路、31・・・・絵素パネル発生器、32・・・・X
カウンタ、33・・・・Yカウンタ、34・・・・差動
増幅器、35・・・・2値化回路、36.37・・・・
シフ1〜レジスタ、38・・・・−成度検出回路、39
・・・・加算回路、41・・・・差動増幅器、42・・
・・2値化回路、45・・・・サンプルホールド回路、
50+51・・・・シャッタ、53・・・・ハーフミラ
−154・・・・光源、56・・・・基準板、60・・
・・対象、66.69・・・・切換え用スイッチ回路、
63・・・・自動機械、75・・・・レジスタ、76・
・・・サーボ機構。 第 l 図 第 2 図 /’l(X^、YA) 第 3 図 第 4 図 第 3 図 オlフ[−ム 才2)し−ム 才3ルム 才4りL−ム
才lルームaら 6 図 房基乱りへ 第 7 図 一修ソL利(水口発タヘ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 対象の特定部分の2次元パターンを予め標準パタ
ーンとして記憶しておき、入力された」−記対象の像を
含む2次元パターンから部分パターンを遂次切出し、切
出された部分パターンと−L:記標7(ロバターンとの
一部分を比較して該標準パターンに最もよく一致する部
分パターンを選び、その部分パターンの上記入力された
2次元パターンにおける位置をもとに対象の特定位置を
めることを特徴とする位置検出方法。 2、 対象の像を含む2次元パターンを入力する入力手
段と、該対象の特定部分の2次元パターンを予め標準パ
ターンとして記憶しておくための記憶手段と、上記入力
手段により得られる2次元パターンから部分パターンを
逐次切出す手段と、切出された部分パターンと」二記標
イク(!パターンとの一部分の比較結果を統合してその
一致の程度をめる手段と、該一致の程度の最も大きい部
分パターンの」−記入力された2次元パターンにおける
位置をもとに対象物の位置をめる手段とからなる位置検
出装置。 3、 特許請求の範囲第2項記載の装置において、一致
の程度をめる手段は、切出された部分パターンと標i(
+!パターンとをそれぞれ構成する絵素信号どうしを比
較する手段と、この手段の出力の一部を抑止し、残りの
出力を加算する手段とからなる位置検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14945184A JPS60190802A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 位置検出方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14945184A JPS60190802A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 位置検出方法及びその装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58005904A Division JPS6017152B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 位置検出方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60190802A true JPS60190802A (ja) | 1985-09-28 |
JPS628722B2 JPS628722B2 (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=15475403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14945184A Granted JPS60190802A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 位置検出方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60190802A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62261005A (ja) * | 1986-05-07 | 1987-11-13 | Omron Tateisi Electronics Co | プリント基板の位置ずれ補正装置 |
JPH03167407A (ja) * | 1989-11-28 | 1991-07-19 | Kao Corp | 表示図柄のずれ検査装置 |
JP2006029933A (ja) * | 2004-07-15 | 2006-02-02 | Neive:Kk | 画像式スケール |
-
1984
- 1984-07-20 JP JP14945184A patent/JPS60190802A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1EEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62261005A (ja) * | 1986-05-07 | 1987-11-13 | Omron Tateisi Electronics Co | プリント基板の位置ずれ補正装置 |
JPH03167407A (ja) * | 1989-11-28 | 1991-07-19 | Kao Corp | 表示図柄のずれ検査装置 |
JPH0663734B2 (ja) * | 1989-11-28 | 1994-08-22 | 花王株式会社 | 表示図柄のずれ検査装置 |
JP2006029933A (ja) * | 2004-07-15 | 2006-02-02 | Neive:Kk | 画像式スケール |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS628722B2 (ja) | 1987-02-24 |
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