JPS5812477Y2 - 高周波機器のシ−ルド構造 - Google Patents
高周波機器のシ−ルド構造Info
- Publication number
- JPS5812477Y2 JPS5812477Y2 JP12654779U JP12654779U JPS5812477Y2 JP S5812477 Y2 JPS5812477 Y2 JP S5812477Y2 JP 12654779 U JP12654779 U JP 12654779U JP 12654779 U JP12654779 U JP 12654779U JP S5812477 Y2 JPS5812477 Y2 JP S5812477Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- high frequency
- circuit element
- shield
- conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Structure Of Receivers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案はテレビの共同受信において用いられる高周波
機器あるいはその他の高周波機器におけるシールド構造
に関する。
機器あるいはその他の高周波機器におけるシールド構造
に関する。
従来よりシールド構造としては、シールドしたい回路要
素に金属板で箱形に形成されたシールドケースを被せ付
ける構造がよく知られている。
素に金属板で箱形に形成されたシールドケースを被せ付
ける構造がよく知られている。
しかしながらそのようなものは、シールドされた回路要
素を後から点検しようとしてもその外部からは内部の回
路要素が見えない為、その検査はシールドケースを外し
た状態で行なわねばならない。
素を後から点検しようとしてもその外部からは内部の回
路要素が見えない為、その検査はシールドケースを外し
た状態で行なわねばならない。
しかしそのような状態での検査は、シールドケースが無
い故に検査されるべき回路要素に外部からの影響が及ん
でしまい、不正確なものとなってしまう問題点がある。
い故に検査されるべき回路要素に外部からの影響が及ん
でしまい、不正確なものとなってしまう問題点がある。
また上記のようなものはその形態が大嵩化して大きなス
ペースを占拠してしまう問題点もある。
ペースを占拠してしまう問題点もある。
そこで本考案は上記問題点を除くようにしたもので、シ
ールドされた回路要素を実動状態で正確に検査すること
ができ、またその形態も小嵩化し得るようにした高周波
機器のシールド構造を提供しようとするものである。
ールドされた回路要素を実動状態で正確に検査すること
ができ、またその形態も小嵩化し得るようにした高周波
機器のシールド構造を提供しようとするものである。
以下本願の実施例を示す図面について説明する。
第1図乃至第4図において、1は回路基板で、絶縁板2
の一面(本例では裏面)に銅箔を貼着し、その銅箔をエ
ツチングすることにより種々の回路導体を形成したいわ
ゆるプリント基板と称されるものが用いである。
の一面(本例では裏面)に銅箔を貼着し、その銅箔をエ
ツチングすることにより種々の回路導体を形成したいわ
ゆるプリント基板と称されるものが用いである。
3は上記銅箔の一部をもって構成されたアース回路を示
す。
す。
4は基板1上に形成された増幅回路で、電子回路として
例示するものであり、トランジスタ5、結合トランス6
、分岐用トランス7、複数の抵抗8及びコンデンサ9等
の回路要素でもって第4図に示されるような回路に構成
されている。
例示するものであり、トランジスタ5、結合トランス6
、分岐用トランス7、複数の抵抗8及びコンデンサ9等
の回路要素でもって第4図に示されるような回路に構成
されている。
次に、10は増幅回路4の種々の回路要素に被せ付けた
シールド部材で、ポリイミド樹脂その他の絶縁材料で形
成された透視可能(透明あるいは半透明などむこう側の
回路要素をすかして見ることのできるもの)を絶縁膜体
11に網状の導電体12を接着剤13で貼着した構造と
なっている。
シールド部材で、ポリイミド樹脂その他の絶縁材料で形
成された透視可能(透明あるいは半透明などむこう側の
回路要素をすかして見ることのできるもの)を絶縁膜体
11に網状の導電体12を接着剤13で貼着した構造と
なっている。
これら絶縁膜体11.導電体12、接着剤は全て薄肉に
形成されてシールド部材10としては可撓性を有するよ
うにしである。
形成されてシールド部材10としては可撓性を有するよ
うにしである。
尚本例においては、絶縁膜体11の厚みが75μm、導
電体12の厚みが35μm(電解銅箔)、接着剤13の
厚みが25μmのフレキシブ小基板と称されるものが用
いてあり(前記絶縁膜体は25,50,125μm、銅
箔は20.70μmなどのものもある)、また導電体1
2はエツチング手段によって網状に形成しである。
電体12の厚みが35μm(電解銅箔)、接着剤13の
厚みが25μmのフレキシブ小基板と称されるものが用
いてあり(前記絶縁膜体は25,50,125μm、銅
箔は20.70μmなどのものもある)、また導電体1
2はエツチング手段によって網状に形成しである。
また上記導電体12における網目の大きさは、上記電子
回路が取扱う信号の周波数に応じて、必要充分なシール
ド効果が得られる大きさに決められる。
回路が取扱う信号の周波数に応じて、必要充分なシール
ド効果が得られる大きさに決められる。
(例えばテレビのUHF帯域の470−770 MH7
の場合、網目の各辺が数mm程度、また網目を形成する
導電体12の幅も数mm程度にされる) 次に上記シールド部材10の止着部の構造を説明する。
の場合、網目の各辺が数mm程度、また網目を形成する
導電体12の幅も数mm程度にされる) 次に上記シールド部材10の止着部の構造を説明する。
14は回路基板1に穿設した透孔、15はシールド部材
10に穿設した透孔、16は透孔14,15に貫設した
接続片で、銅その他の良導電体で丸棒状に形成されてお
り、その一端及び他端は半田17によってアース回路3
及び導電体12に接続されている。
10に穿設した透孔、16は透孔14,15に貫設した
接続片で、銅その他の良導電体で丸棒状に形成されてお
り、その一端及び他端は半田17によってアース回路3
及び導電体12に接続されている。
尚、上記電子回路4は増幅回路に限らず、発振回路、周
波数変換回路、分岐分配回路等の高周波回路で゛あって
も良い。
波数変換回路、分岐分配回路等の高周波回路で゛あって
も良い。
次に第5図乃至第7図は本願の異なる実施例を示すもの
で、回路基板1eの裏面側の回路要素(銅箔でもって構
成された回路導体)をシールドする構造を示すものであ
る。
で、回路基板1eの裏面側の回路要素(銅箔でもって構
成された回路導体)をシールドする構造を示すものであ
る。
尚21はスイッチ、22は抵抗を示す。
またシールド部材10 eの導電体12 eは、前記の
ように接続片を用いることなく直接にアース回路3eに
半田付しである。
ように接続片を用いることなく直接にアース回路3eに
半田付しである。
また本例の場合、取扱い周波数帯域は470〜770
M Jlz、網目の透視可能な部分が2 mmX 9
mm、導電体12eの幅が1mmとなっている。
M Jlz、網目の透視可能な部分が2 mmX 9
mm、導電体12eの幅が1mmとなっている。
なお、本例において機能上前図のものと同−又は均等構
成と考えられる部分には、前回と同一の符号にアルファ
ベットのeを付して重複する説明を省略した。
成と考えられる部分には、前回と同一の符号にアルファ
ベットのeを付して重複する説明を省略した。
以上のようにこの考案にあっては、シールド部材10を
透視可能な絶縁膜体11と網状の導電体12とで形成し
て、導電体12の網目からの透視を可能にしであるから
、回路要素の配列及び結線状態を検査したり、回路要素
に通電をした状態でその回路要素の検査をする場合、シ
ールドされている部分の回路要素はそのシールド状態の
ままで検査することができる特長がある。
透視可能な絶縁膜体11と網状の導電体12とで形成し
て、導電体12の網目からの透視を可能にしであるから
、回路要素の配列及び結線状態を検査したり、回路要素
に通電をした状態でその回路要素の検査をする場合、シ
ールドされている部分の回路要素はそのシールド状態の
ままで検査することができる特長がある。
特に回路要素の実動状態での正確な検査(検査の為にシ
ールドを外すなど特別の手を加えてない状態での検査)
を行ない得る特長がある。
ールドを外すなど特別の手を加えてない状態での検査)
を行ない得る特長がある。
しかもそのような検査時、あるいは他の修理、点検時に
、回路基板に手を近づけたり触れたりすることが頻繁に
行なわれる場合でも、上記シールド部材10は可撓性を
有すると共に湾曲状態で回路基板1に装着しであるから
、このシールド部材10があるが為に作業者にけがをさ
せてしまうようなことを防止でき、作業の安全確保に貢
献し得る効果もある。
、回路基板に手を近づけたり触れたりすることが頻繁に
行なわれる場合でも、上記シールド部材10は可撓性を
有すると共に湾曲状態で回路基板1に装着しであるから
、このシールド部材10があるが為に作業者にけがをさ
せてしまうようなことを防止でき、作業の安全確保に貢
献し得る効果もある。
更にまたシールド部材10は可撓性を有するものである
から、これを回路要素に覆い被せてそれをシールドする
場合、回路要素の回りをぐるっと覆うは勿論のこと、第
2図に明示されるように、各回路要素において夫々最も
突出している部分に接した状態で被せ付けそれをシール
ドすることもできて、シールド構造を非常に小嵩に構成
できる特長もある。
から、これを回路要素に覆い被せてそれをシールドする
場合、回路要素の回りをぐるっと覆うは勿論のこと、第
2図に明示されるように、各回路要素において夫々最も
突出している部分に接した状態で被せ付けそれをシール
ドすることもできて、シールド構造を非常に小嵩に構成
できる特長もある。
、二のことは、例えば゛このようなシールド構造を有す
る高周波機器の収納用ケースの小型化に役立つ効果を有
する。
る高周波機器の収納用ケースの小型化に役立つ効果を有
する。
図面は本願の実施例を示すもので、第1図は斜視図、第
2図は縦断面図、第3図は止着部の拡大図、第4図は回
路図、第5図乃至第7図は異なる実施例を示すもので、
第5図は被着前の状態を示す斜視図、第6図は被着した
状態の縦断面図、第7図は同訓−視図。 1・・・・−・回路基板、5〜9・・・・・・回路要素
、10・・・・・・シールド部材、1]・・・・・・絶
縁膜体、12・・・・・・導電体。
2図は縦断面図、第3図は止着部の拡大図、第4図は回
路図、第5図乃至第7図は異なる実施例を示すもので、
第5図は被着前の状態を示す斜視図、第6図は被着した
状態の縦断面図、第7図は同訓−視図。 1・・・・−・回路基板、5〜9・・・・・・回路要素
、10・・・・・・シールド部材、1]・・・・・・絶
縁膜体、12・・・・・・導電体。
Claims (1)
- 回路基板には回路要素を装着し、更に上記回路基板には
シールド部材を上記回路要素に対し覆い被せた状態に装
着して、上記回路要素をシールドするようにしている高
周波機器のシールド構造において、上記シールド部材は
、透視可能な絶縁膜体と、網状に形成してその網目を通
しての透視を可能にした導電体とを重合させて構成する
と共に、該シールド部材は全体として可撓性を具有せし
め、しかも該シールド部材は、絶縁膜体が上記回路要素
に面する状態でしかも湾曲状態で上記回路要素に覆い被
せ、また上記導電体の端部は上記回路基板におけるアー
ス回路に接続しであることを特徴とする高周波機器のシ
ールド構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12654779U JPS5812477Y2 (ja) | 1979-09-13 | 1979-09-13 | 高周波機器のシ−ルド構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12654779U JPS5812477Y2 (ja) | 1979-09-13 | 1979-09-13 | 高周波機器のシ−ルド構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5646299U JPS5646299U (ja) | 1981-04-24 |
JPS5812477Y2 true JPS5812477Y2 (ja) | 1983-03-09 |
Family
ID=29358443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12654779U Expired JPS5812477Y2 (ja) | 1979-09-13 | 1979-09-13 | 高周波機器のシ−ルド構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5812477Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59153154A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-09-01 | Jeol Ltd | 電子線分析方法及び装置 |
JP2622689B2 (ja) * | 1987-07-29 | 1997-06-18 | 株式会社日立製作所 | 二次イオン質量分析計 |
-
1979
- 1979-09-13 JP JP12654779U patent/JPS5812477Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5646299U (ja) | 1981-04-24 |
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