JPS58124322A - 信号発生回路 - Google Patents

信号発生回路

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JPS58124322A
JPS58124322A JP57222230A JP22223082A JPS58124322A JP S58124322 A JPS58124322 A JP S58124322A JP 57222230 A JP57222230 A JP 57222230A JP 22223082 A JP22223082 A JP 22223082A JP S58124322 A JPS58124322 A JP S58124322A
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internal signal
signal
circuit
voltage
internal
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/247Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the supply voltage

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 こσ〕発明は集A4回路装置のためのパルス応答入力回
路、待に、外部から制御σねたタイミング間隔に対して
所定のタイミング関係ケ持つよう(でなされた内部タイ
ミング信号全発生する回路に関する。
従来技術 東積回路装険は非常に多くのパラメータ変数、例えば異
なる処理パラメータや動作環境パラメータの結果として
の変数の支配ケ受ける。こねらの変数は回路の性能ケ非
常に大きく変え、[[−+1路の設計?困難にする。特
に、設計される回路が他の1捷たは複数の集積回路とイ
ンターフニースケ分は合うよ・)にな埒れている時に問
題となる。設計者は、変数パラメータ変数償する多くの
技術や回路?提供して集積回路が製品仕様書に記載芒F
した条件下で作動芒れるならば、集積回路の作動が指定
をねた限界内に留まることが保証できるようにしてきた
I G FET (1nsulated  gate 
 f 1eld−effect  transisto
r)集積回路は、特に製造中に存在する変数により大き
く影響ケ受ける多くの異なった変数パラメータに敏感で
ある。これ(3) らの変数ハラメータ、例えばスレッシュホールド電圧、
拡散抵抗、物理的太ききおよび他の変数など、を補償す
ることケ意図した多くの技術が知られている。例オば、
It O,As k i n等によるIBM  Tec
hnical Disclosure  Bullet
in\Vo1.i4、馬7.1971年12月、208
8〜2089ページの記事” FET  I)evic
eParamet+:rs  Compensatio
n  C1rcuit”には、ダイオード型に結合層J
′L’を複数のIGFETの直列が、負荷のゲート電圧
ケ接k(j2.電位上に、所定数のスレッシュホールド
電圧降下分に等しい電圧でクランプするために用いられ
たI G I=” E Tインバータの負荷装置のゲー
ト電圧7兄生するバイアス回路が開示きれている。この
回路は、1共給電力の変動と装置パラメータ〃・負荷装
置の電流と電力消費について持つ影響を最小VCする役
割を有する。F、Grunberg 等によるIBMT
echnical  Disclosure  Bul
letin。
Vow、 16、扁1.1973年6月、25−26ベ
ージの記事” A  Bias  C1rcuit  
Compensated(A) for  Threshold  and  5upp
ly Variations ”には、負荷ゲート・バ
イアス電圧が、オンチップで発生された基準電圧に固尾
数のスレッシュホールド電圧降下分ケ加えた値に等しい
同様な回路が開示されている。R,H,Kr u gg
e ]によるIBMTechnical  Discl
osure  Bulletin。
Vol、 17、A 8.1975年1月、2230ベ
ージの記事” High−PerformanceEn
hancementModeF)+ETLogic”に
は、外部の基準電圧ケ用いて、負荷装置のゲート、駆動
電圧(Vg−Vt)がその基準電圧に等(7いブートス
トランプ、−動回路ケバイアスする同様の回路が開示芒
れている。
供給電圧の変動に応じて負荷のゲート・バイアス電圧ケ
袖償する別の試みが、Cohenの木目・1%許第37
57200号に開示芒れている。ここでは、一対の反転
増幅器7有する負帰還回路が、供給電圧の変動に応じて
ドライバ回路内で予想される電流や電力消費の増加ケ制
限するために用いられている。
上述のそれぞれの従来技術において、主な目的はパラメ
ータの変化が負荷のゲート・バイアス電圧を上昇させた
り下降させたりする傾向がある時、オフセツティング補
償を与えることにより、負荷のゲート電圧を安定させる
ことである。以下の従来技術においては、種々の技術が
負荷ゲートのバイアス電圧を補償する役割を越えて、負
荷装置の電流を安定させるように用いられている。
Warner、Jr、の米国特許第3508084号に
は、電流またば/および電圧のA整を与える回路を有し
、IGFET装置に対して種々のバイアス効果を行う回
路が開示されている。この特許の第14図及び第17図
には、可変なドレイ4圧源乞横切ってソース電圧に接続
されたIGFETにより達成される負性抵抗効果を持つ
回路が記載されている。
負荷のゲート・バイアス電圧の減少が、小さくて高イン
ピーダンスのプル・アップbfjtと大きくて低インピ
ーダンスのプル・ダウン装置とを有し、そのゲート電極
をダイオード型に結合した装置の連鎖に結合させていて
、大きい方の装置は供給篭圧がスレッシュホールド電圧
に落ちた後導通状態になる電圧分割器を用いることによ
り行なわれる。
小さい装置1の実質的に一定な電流に対して比例的に増
大する大きい装置の電流は、一旦、大きい装置が導電状
態に存るとゲート電圧を索早く減少させる。
Kawagoeの米国特許第40084[]6号には、
WarnerXJr、の第14図と同様な負性抵抗回路
を用いた例が示されている。この回路では、インバータ
回路の負荷ゲート・バイアス電圧は、プル・アップ抵抗
と、負荷ゲート・バイアス電圧の過大補償を減するため
に供給電圧に応答するプル・ダウン装置とにより与えら
れており、供給電圧の変化に応じて発生されたバイアス
電圧をほぼ一定にする。
Leehanの米国特許第3970875号には、ケー
ト・バイアス信誉の増大の比が差動増幅回路の反転入力
端子に加えられる回路を用いることにより、装置のパラ
メータや供給電圧変動が補償される負荷のゲート・バイ
アス補償回路が、記載されているーもし、発生されたゲ
ート・バイアス信号が、オン・チップ電圧4+割器によ
り発生された基準電圧より増加すると、増加した部分は
フィードバックされ、元の増加した電圧より低い新しい
ゲート・バイアス電圧を発生する。基準電圧は供給電圧
の増加とともに増加するため、ゲート・バイアス電圧の
正味の減少された増加は供給電圧の相当する増加により
、発生し、ゲート電圧は基準電圧と等しい電圧に安定す
るという傾向を持つ。
基準電圧は供給電圧の増加とともに増加するため、ゲー
ト・バイアス亀圧も甘だ増加する。
De  Filippi  の米国特許第401646
4号にはL e e h a nの回路に似た反転増幅
器を用いた別の負荷ゲート バイアス回路が開示されて
いる。De  Filippi  は、負荷ゲート・バ
イアス電圧の大きさを減少することでドレイン供給電力
の増大を補償することが好ましいことを認識していたが
、負荷装置の電流捷たは負荷装置の′出:力消費につい
て意図した効果を決定するためには不十分な清報しか力
えられていない。これに加うるに(7) 回路は、負荷装置の電流および電力消費がドレイン供給
電圧の関数になるように、負荷製置が線形モードにより
作動されることを必要とする。回路は、捷だ補償につい
ての記載がない付加的な外部の電圧供給源を必要とする
。したがって、供給電圧の増加は、ゲート・バイアス電
圧の減少により補償されるけれども、負荷装置の電流と
電力消費について賞の結果に関してはいずれも示唆する
ものがかい。
従来技術は、装置パラメータおよび供給電圧の変化の両
方に対して補償を行5q重々の技術を教えるけれども、
これらの技術の意図された結果は、回路性能や電力消費
などの種々の特性が最小の範囲に限定されるように回路
を実質的に裡々のパラメータの変化に対して不感にして
本質的に安定化する方法で前もって補償を与えるという
ち・のである。
発明の概要 この発明によれば、集積回路、特に外部から加(8) えられるタイミング信号と関連した集積回路に、回路性
能やスイ /チップ速度などの特性と電力渉費が装置パ
ラメータおよび供給電圧の許容動作・範囲にわたって変
化させられる負荷ゲート・バイアス回路が提供される。
ツク:能および電力消費のこの制御された変化はある入
力信号応答回路だけに現れて補償が行なわれ7−い他の
電力l的回路に現れる性能および電力消費の相応する変
化を補償するのに役立つ。これに、にり得られる入力信
号応答集積回路は、製品仕様書に示される装置パラメー
タと供給電力の許容範囲にわたってその全体の特性およ
び特に電力消費が安定化される。
この発明は、外部タイミング信号および内部タイミング
信号の両方がシステム丑たは与えられた環境内の回路の
最通動作に影響を与える動作集積回路に荷に有用である
。この発明は、外部から’rtt制御されるチップ選択
信号が内部タイミング信号の連続を開始し、内部タイミ
ング信号の少なくともいくつかが付加的な外部タイミン
グ信号の少なくとも1つに対して重要なタイミング関係
ケ持つ集積回路メモリ・チップに特に適用される。
この発明は、ある内部信号発生回路の特性が増加させら
れるような動作条件の変化の際には、ある外部応答回路
の特性を減させろことにより達成される。得ちれるIF
味の結果に、内部および外部信号応答回路の全体の特性
が安定化され、したがって、明確なタイミング間隔を持
つ多叔のタイミング信号を、集積回路の設計パラメータ
のタイミング内に内部安全余裕を設ける必要なく集積回
路に収納することができる。集積回路の反応時間と動作
時間が減少するという結果が得られる。これに加うろに
、外部信号応答回路による電力消費、普通、+44積回
路により必要とされる待機電力の大部分、は回路が動作
される最悪から最良の動作条件にわたって減少される。
この清貧電力の減少は、同じ集積1i′Il路捷たはシ
ステムの他の集積回路チップにある他の回路に生ずる電
力消費の増大を補償する傾向があり、システムの正味の
電力消費は安定化される傾向がある。
この発明の特別な実施例が、内部タイミング信号の′I
!続を開始するチップ入力信号反転バッファ回路の電力
消費と特性を制臼jするためのゲート・バイアス電圧を
与える負荷ゲート・バイアス回路を使用することにより
与えられる。東NN路チップの動作条件が内部の回路の
特性や電力消費を増大させるとき、ゲート・バイアス回
1脩は、人力バッファ回路の牛1性や゛電力消費を減少
させ、内部分。
生タイミング信月を固定された間隔の外部タイミング1
;l隔とより容易に一致させる。
この兄明の特別な夷娩例が、外部からチップ・う4択パ
ルスが装置に力えられムー後、チップの動作条件が、チ
ップを衣示された名目的な設計条件よりもより速く動作
させるかまたはより遅く動作させるかにかかわらず、外
部的に決定された時間!司lWI後に有効データをメモ
リに人力させるメモリ回路装置についておこなわれる。
以下、この発明を図示の実がし例について詳細に説明す
る。
(11) 実施例の説明 集積回路装置F「、特にメモリ・チップの応用および使
用において、アクセス・タイムとして知られているチッ
プ顆択信月が加えられて所望の読出し捷だ附″¥1込み
反応が得られる寸でに要する時間が非常に重要である。
この時間は、多くの紳々のパラメータ、例えば動作温度
、供給電圧、装置の物理的および電気的パラメータによ
り影響を受ける。
これらのパラメータは制御するのに田畑および7寸たは
高価であるため、集積回路装jtl/II:げ、アクセ
ス・タイムを含む回路特性や、装置パラメータなどの装
置が製造される除に満足されなければならないパラメー
タの範囲や、動作温度や、供給゛成子範囲外どのように
集積回路が使用されるシステムにより満足されなければ
ならないパラメータを定義した動作仕権畳が与えられて
いる。
メモリに使用されるように設計された集積1川路チツプ
は普通、活動と待機の状態をM*’ シ、システム全体
の′電力消費を減するように々っている。メ(13) (12) モリ・サイクルを開始するためには、1捷たけ複数のメ
モリ・チップが撰択されて待機状態から活動状態に変換
されなければならない。活動状態を開始するために媛す
る時間はアクセス・サイクルの固有の部分となる。メモ
リ・チップの設計者は、j卿マされたチップのアクセス
・タイムを減少するために必要な全ての情報、例えば、
アクセス・サイクルの実行に用いられるデータやメモリ
・アドレスをチップが選択される際に有効にするように
設計することを好む。しかし、これはシステム設計者に
そのような要求を満足するために負州をかけ、そして、
実際にシステム レベルにオイiiJ:り長いアクセス
・タイムを必要とする。したがって、チップ・アクセス
・タイムを最小にしたことにより得られた利益を失なう
。より短かなシステム・アクセス・タイムはシステムが
アト1/スや他の必要な入力データをメモリ・チップへ
有効とする前に、所定時間先立ってメモリ・チップへ選
択信号を与えることができろようにすることにより得ら
れる。これは、回路設計者に最悪の状態あるいに11イ
い例能の下、および、最良の状態あろい(・;L佇い性
能の下で、アクセス・サイクルを開始することができる
回路を作り、丑だ、アクセス サイクルの開始後に、外
部から決定される時間ill隔でデータ情報寸た附:不
動なアドレスσ)受は大計」を可能にするのに必要な内
部タイミング信−弓を作るという問題を与える。
第1図および第2図は、この問題をある特別な例により
示している。第1図にUJ、この実施例の信月発牛回路
すなわちチップ選択、デーり1だ一一アドレス人力、お
よび内部タイミング信月を匍1叫1するのに用いられる
中間タイミング・チェノのブロック図が示されている。
第1外部人カイr277としてのチップ選択人力信号c
siz、ホスト・システl、かC8を高い時機レベルか
ら低いレベルに放電。
する時にC8入力端子10へ加えられる。この変化は数
ナノ秒ないし20ナノ秒以上で変化することができるも
ので、第1内部信号発生回路とし2ての人カバノフ了1
2により検出さit、1yいレベルから高いレベルに立
ち−1−る第1内部信−弓としての(15) パルスPOを発生する。パルスP OにJ、複数の6延
回路の直列接続およびドライバ回路18へ伝播し、1ア
クセス・サイクルを実行1ろのに必安なS々のメモリ機
能を制ノ・ゴjするのに用いられる内部タイミング信号
P1、P2  ・・・・Pnの連続を発生1゛る。
メモリ・チップ蹟より行われる最初の喘能の1つは、チ
ップ選択信号C8かゾステノ、により有効にさ才また抜
、固Wの時間間隔t1後に、データ入力端子20に加え
られる第2外部人力信号としての有効データを受は人J
’lることである。データは、ゲーティング・トランジ
スタTDを介してデータ・ラッチ捷たはデータ真/補数
発生器22へ加えら才する。人力信+iに、第2内音I
s信列としての入力タイミングイぎ号Pnが能動斗たは
高レベルにある時にのみ受は入れられろ。チップ・アク
セス・タイムを減少するために、タイミング信号は各ア
クセス・サイクルの終りで高い状、態に維持されろ。
入力端子20にあるデータがメモリ・チップに受は入れ
られるためには、内筒S信+;Pnが、データ(16) が有効に々つた後す々わち時刻C8+tI後に、データ
・ラッチ22の状態をセットする内部信号P1が高レベ
ルになる前に、低レベルに下がらなければならない。チ
ップ選択信号C8が低くなる寸では何も起ることができ
ない。内部タイミング信号Pnは、内部信号Piの立」
一つに応答してトランジスタ・I” CVCより放電さ
れる。Plは内部信号POがトランジスタTBを導通状
蝦するのに応答して立1−る。PlはトランジスタTA
によりチップ選択信閃C8が能動状態にない時はいっで
も低レベルに維持される。これらトランジスタTA。
TB、TCは第2内部化号発生回路を構1反している。
第2図に神々の外部および内部信刊のタイミング関係が
示されている。動作の正しい順序か実線で第2図に示さ
れていて、人力制御回路の゛名目上″の動作特性を表わ
している。ここで、゛′名目」−″という語は、゛′最
悪″′の場合および′・最良・・の場合として知られて
いる装随仕様書により許される可変なパラメータの前も
って定められる最小価および最大値を定嵩する条件に対
して、名目的な処理および動作条件におけろ回路の動作
と同じである。
第2図に示ずように、内部パル7100名11.−1゜
0立上りは、人カチップ選択信+−3csが低下してサ
イクルか開始した後、時+jf1 t 2 nで牛する
。1■、I+′間t3nの遅延後に、入カゲーティング
信弓Pnに、O8の態勢の開始とPnとの低下と間にt
4nに等(〜い時間間1稍を与えて低下する。co)時
間間隔は外部か1:・制商1さ才するC8能4fυ開始
およびデータV A L I Dの間の時間間隔t1よ
り長くなるように意図されている。時間t4n後に、入
力端イ2D上にあるアドレス丑だit他のチークイ名+
−3はラッチ22への人力に隔離される。ラッチ22を
セットする人力信郊P1が遅蝋間隔D 1 nたけ遅れ
生ずる。ラッチ22は例えば1977年7月26日にS
、 C,Lewi s等に与えられた米国特許4068
567号に記載されたメモリ人力信月バッファ回路ど同
一であってよい。
1〜かし最悪および最善の場合の条件下でのr[]l 
:賂の実際の動作は、回路がJi正に動作するためには
問題となるタイミング問題を生ずる。最悪の場合の条件
下、例えばスレッシュホールド電圧が許される最高のレ
ベルにあり、供給電圧が許される最低のレベルにあり、
そしてチップ選択虞号C8の低下時間がもつとも遅いよ
うな時に生ずる条件下では、回路は名目条件下よりもか
なり遅く反応する。
したがって、外部からのC8能動の発生とPOの発生の
間の時間ばt2sになる。したがって、内部信号Pnも
I) Oの後、t3sだけ遅れ、間隔t4sは外部から
制菌される間隔t1よりもかなり長くなる。信号Pnお
よびPlに対する信号伝稲径路が異なるため、データが
ラッチ22への人力に隔離される前に信号P1が立上る
可能性がある。データ入力端子20を外部し1路へ接続
する純に付随した大きな容量は、ラッチ22が相対的に
低いレベルの入力データ(i号をメモリ・チップの潜正
な動作に必要とされる相対的に高いレベルに変僕するた
めに所望の電圧レベルへ正しくセツティングするのを妨
げる。
一方、モしメモリ・チップが最善の場合の条件下で動作
されると、すなわち、世いスレッシュホールド電圧、高
い供給電圧およびチップ選択人力C8のすい変化の場合
では、事象の連続は名目−にの1揚今に対して早くなる
。POおよびPnの両方はt2fおよびt3fの時間間
隔により表わされるように名目上より速く動作し、デー
タが間隔t1で有効となる前に、信号Pnを放電させて
し′8P5゜入力端子20の情報は隔離された時は有効
で々いため、無効なデータがラッチ22に現れる。
−1−述の問題は、時間間隔t4fが外部時間間隔ti
に先立って決して発生しないように、また、時間間隔D
1にt2sを加えた時間が常に時同間隔t4sより長く
なるように、チップ・アクセス・タイムを増加させるこ
とにより容易に防ぐことができる。このような問題解決
ねアクセス・タイムにかなりの増加をもたらす。
この発明は以下に述べるようにアクセス・タイムの増加
を必要としない解1失を提供する。手段としての負荷ゲ
ート・バイアス回路14が、第1図の第1内部信号発生
回路としての人力バッファ回路12の負荷装置に結合さ
れていて、内部信号POを発生するのに要する時間間隔
が最悪の場合または遅いυ+j作条件下で最短になり、
最善の場合の動作条件下で最長になる。第2図の第1内
部信号としてのパルスPO′に示されるように、外部の
チップ選択CSの能動の開始とPO2の立上り時間との
間の時間間隔t2s”は名目」二の場合より短くなり、
そして時間間隔t2f’は名目」−の場合より長くなる
。回路の残りの部分は最悪の条件下では寸だより遅く動
作するため、C8能動と第2内部信号としてのP n 
’との間の時間間隔t4’は許容される動作条件の全て
の範囲内で実質的に一定にとど捷る。
入力バッファ回路12の性能の制御は、第ろ図に示され
る回路によって行なわれる。この回路中トランジスタT
1ないしT5および抵抗Rが、トランジスタT6ないし
TIOにより表わされる入力バッファ回路への負荷ゲー
ト・バイアス電圧、VBiasを与える。この実施例で
は、重要な可変パラメータの限度はドレイン供給電圧V
ddが8、5 V±10%に等しく、スレッシュホール
ド電圧の範囲が低い方で約115■で、高い方で約16
0Vである。装置の大きさは、各装置の近くにチャネル
幅/チャネル長をミクロンで表わした分数で示されてい
る。装置T1とT2の分数に示されている分母の積は、
表示されたチャネル幅をイイする表示された数のトラン
ジスタが直列に接続していることを示している。例えば
、装置T1のW/Lは1015X2と表示されているが
、5ミクロンのチャネル長を有する10ミクロンの幅の
装置が2つ直列に接続されていることと同じである。
装置T2の表示はW/Lが10/3に等しい4つの装置
が直列に接続されていることを示している。
抵抗Rは同様な方法で表示されていて、幅が6ミクロン
に等しい拡散線を衣わしており、全抵抗は約24000
オームである。
バイアス補償回路は、供給電圧源Vdclと出力VBi
asとの間に結合されたチップ上の拡散抵抗Rを有する
。VBiasと回路接地との間に灯、W/Lがそれぞれ
6075に等しくて、相対的に大きいチャネル幅と小さ
いチャネル長を有するろつの直列に接続されたトランジ
スタT3、T4、T5が結合されている。トランジスタ
T4、T5は、ゲート電(全がドレイ/電極に1ギ続さ
れて飽和モードで動作するダイオード結合である。T1
およびT2は電圧分割器として働くように両方ともダイ
オード結合されていて、T2およびT3のソースの電圧
だけ小さい電圧Vclclの一部をT3のゲートへ加え
るようになっている。供給’に、 )t、 V d d
が4スレツンユホ一ルド電圧降下分より上で動作させら
れろ時、Tろ(ハ)、Vddのレベルや装置のスレッシ
ュホールド電圧および他のパラメータにより決定される
そのゲートおよびソース電極上の電圧に依存して多かれ
少々かれ導通状態にある。
トランジスタTろが導通状態にバイアスされる大きさは
、そのドレイン電流を決定し、したがって抵抗Rを横切
る電圧降下を決定する。
第4図は、出力電圧VBiasを、3つの異なるスレッ
シュホールドtEすなわち名目1−のスレッシュホール
ド電圧、高いスレッシュホールド電圧、低いスレッシュ
ホールド電圧において、供給電圧Vddの関数として示
1〜でいる。6つの各スレッシュホールド電圧に対して
、VBiasは仕様書により許されるVddの全範囲、
すなわちVddの最小値からVddの最大1111にわ
たって減少する。
VBiasは、第5図に示1よ5に1またロー複数の入
カバソファ回路に結合されている。人力バッファ回路は
、・し肘T6ないしT10をイ・J°シ、チップ選択入
力端子C8に加えられるT T L人力信月に応答して
出力信弓Vout(PQ)を発生ずるようになっている
。トランジスタ1゛7およびT8はブーツストラップ型
反転回路を形成している。
トランジスタT9およびT10fiゲートをバイアス電
圧Vglおよびvg2に結合させていて、当該技術でよ
く知られているように、入力とT8のゲートとの1川を
分離している。このIjIJとしては、S、 C,Le
wi sによるI B M  T e c h n i
 c a ]1)isclosure  Bullet
in、、Vol、23、A、8.1981年1月、66
08ないし3609べ−・ジの” Threshold
  Independent ChipSelect 
 Input  C1rcuit ”  という論文に
(2ろ) 示されるものがある。
待機゛または選択されていない状態においては、T T
 L入力b22ボルトを超えた高いレベルにある。この
高い入力信号はT8のスレッシュホールドを超えていて
、T8は高い2〜1通状態にあり、出力V c) u 
tを接地電位凍たは零電圧近くに保持している。ドライ
バ装置T7は、ゲートがT6のスレッシュホールド電圧
だけ小さいVBiasによりバイアスされている。T6
はブーツストラップの1油充電装置として働き、そのゲ
ートがVB i a sに接続されている。待機時間中
、T7およびT 8はともに導通状態にあって、T8が
出力V o u tを零ボルトに非常に近く保持してい
ると仮定すると、T7のドレイン電流に供給電圧Vdd
を掛けた大きさの電力を消費する。T7のドレイン′砥
流は、T7のスレッシュホールド電圧だけ低いケート・
ドライブVg7の関数である。ゲート・ドライブiJV
 B i a sからT6およびT7のスレッシュホー
ルド電圧を引いた値あるいはVBias−2Vtに大体
等しい。第5図には、T7のゲート(24) ・ドライブの値、VBias  2Vtを異なるスレッ
シュホールド重用を持つ装[4に対l〜て供給電圧の範
囲にわたって示[7ており、ゲート・ドライブがVdd
の最小とVddの最大との間の増加範囲にわたって減少
することを示している。ゲート・ドライブは、高いスレ
ッシュホールドの装置に対してよりも低いスレッシュホ
ールドの装置に対しての方かわすか((低い。
入力信号CSが選択された時、人力信+3はその最小の
高レベルである。2.2Vから最大のfmレベルである
0、8Vへ第3図に示すように下る。この結果、T8が
、匣内IされてドライバT7が1−IJl力ノードVo
utをVdd甘でブーツストラップ容量CBの助けを得
て充電する。バッファの性能は、出力Voutが始めの
零VからVddへ充電される変化時間tKより決定さね
、そして、t=CoutXVout/Id7として定義
されろ。ここで、Coutは節点V o u tの寄生
出力容量であり、V o u tげ出力電圧差Vdd−
OVであり、そして、Id7はT7のドレイン電流であ
く)。装置T7td’、Vgs−Vtが常にVdsより
低い為、飽和モードになる。そして、T7のドレイン電
流(d(VB i a 5−2Vt)2の関数である。
従って、変化時間tは、Vd d/(VBias−2V
I;)2の関数であり、そして最悪の条件下、即ち最小
のVddと最大のスレッシュホールド電圧にVtと最良
の条fl下、即ち、最大のVdclと最小のスレッシュ
ホールド電圧Vtとでは、第5図から得られたVddと
V t3i a s −2V tとの値に基くと05ろ
/12の比の間で変化する。即ち、・くノファ回路は、
最良の場合の条件下では最悪の場合θ)条件下の約2倍
の時間で最高レベルσ)出力Vld’Y生ずる。補償狛
荷ゲー l−・バイアス回路を除いた集積回路チップの
残りの回路は、同じ最悪の場合の条件と最良の場合の条
件との間で約30係の変化時間もの減少ケ生ずるように
なっている。
第2図ン参照1フ)と、集積回路の回路が最良又は最速
の条件下で1す1作1−ろ時ば、PO2とPn’との間
の内部の遅延はt3f’になろ事がわかろ。しかし、こ
の発明のバイアス補償回路があると、最良の場合θ)(
27) 条件下での遅延t2f’は名目上よりJΩ〈庁り、人力
C8と1)n′との間の合剖時間t4’は、外部から開
側1されろ時間t1後K P n ’ 7発生する適i
Eな時間である。最悪の場合又は遅い条件下で内部回路
が動作する時、同様であるが逆のタイミング状態が生L
−1PO′がより早い時間に発生し、PO2とPn’と
の間の増大する遅延を補償する。補償−[ろ条件下と補
償し々い条件下に於て、内部の遅延t3f、、t3nと
t3sはt3〆、t3n’とt3s’とにそれぞれ等し
く、内部バッファ回路のタイミングだけが変化1〜て℃
・ろ事(で任意すべさである。
この発明の別の廟利々点に−1入カバソフア回路により
消費されろ電力は、供給電圧が増大し、装置のスレッシ
ュホールド電圧が減少する条件下で減少し、1だ、補償
されないバッファ回路においては電力消費が増大するよ
うな条件下でも減少するということである。待機中にバ
ッファ回路の装置T7およびT8てより消費されろ電力
は、大よそ装置T7のドレイン電流にVddと接地との
間の電圧降丁を掛けたものに等しいか、あるいは、P−
IdxvdaK等しい。第6図は、ドレイン(2B) 供給電圧の許容される動作範囲内でいくつかの異なる負
荷ゲート・バイアス技術を使用した第6図のバッファ回
路の電力消費の有効な範囲を示している。電力が、この
発明の!l]1路に対して任意の部位でスレッシュホー
ルド電圧の低、高、名目の場合につき示されており、最
小のVddと最大のVddとの間の動作範囲にわたって
明らかに減少するのが屋えろ。同じ集積回路チップにあ
る回路の付加的な電力消費d、Vddの同じ範囲にわた
って市、力消費を増大する。したがって、集積回路チッ
プにより消費されろ全電力は、この発明が191用され
ろ時、安定するか贅たけ減少fイ)。比較のフ、二めに
、伺加的に2つの広く使用されるバイアスの構成が示さ
れている。加えられるVBiasかV d dに等しい
場合、電力消費は曲線VBias−Vddに示されるよ
うに実質に指数関数的に増大する。
V B i a sが外側から固定されるかあるいは内
部的に発生さ才1石基準電圧に寺しい場合で、装置のス
レッシュホールド?[圧および他のパラメータを補fr
(−4−る4シ術が使用されると仮定すイ)と、電力は
VBias=6Vの回路に示されるようにMm的に増大
する。最後の2つの場合の両方において、Vddの動作
範囲にわたって電力消費は増加し、集積回路の全消費電
力も同様に無条件に増加するだろう。
第6図のバイアス補償回路に用いられた装置の大きさは
、実質的に全ての処理パラメータ変数か、Vddが固定
される時、処理の変化により生ずるパラメータの変化か
V B i a sの変化を生じないように補償されろ
大きさである。例えは、直列的に結合された装置T3、
T4、T5のチャネル幅wH実質的に拡散抵抗Rの有効
幅に等しいように選ばれている。処理パラメータが拡散
幅を増大てろ時、拡散抵抗Rの抵抗は減少する。1〜か
しなから、直列に接続された幅も同様に増大し、ドレイ
ン電流方程式のW/L項を増大させる。したがって、直
列に流れる電流が増大し、抵抗Rの減少を補償する。低
いスレッシュホールド電圧を示す装置に対してVBia
sを過度に補償する(四路の傾向を除去する六−めに、
装置T2のザブチャネル長ば、特に■、が約65ミクロ
ン以下の時、有効スレッシュホールド電圧の減少を生じ
やすい傾向のあるザブチャネル効果に対して敏感にする
1こめに十分に短く形成される。スレッシュホールド電
圧の減少はT1の副装置よりもT2の副装置にはっきり
表われ、装置乙のゲート電圧を減少させるため、T2に
流れる電流を増大する処理パラメータを生ずる短チャネ
ルを可能とてる。これにより、VBiasの増加を可能
とする。したがって、VBiasはどん々集積回路にお
いても、所望のように主としてVddの関数として変化
する。捷だ、制御されるように意図された実際のパラメ
ータや、装置T7のゲート・ドライブ電圧(Vgs−V
t)iたは(VB i as−2Vt )は外部から加
えられるドレイン供給電圧Vddの変化のみによって変
化する。
々お、この発明はIGFETについて適用された実施例
について説明してきたが、他の技術、たとえばバイポー
ラ装置にも適用できることはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による集積回路チップ内に
設けら才また信号発生回路を示すブロック図で、チップ
・セレクト信号、データ入力信号および内部タイミング
パルス発生回路の関係を示し、第2図は種々の異なる動
作環境下における外部信号と内部タイミング信号の関係
を示すタイミングチャート図、第3図はこの発明の一実
施例である第1図の回路の一部の負荷ゲート・バイアス
補償回路と入力バッファ回路を示す回路図、第4図はバ
イアス補償回路によって発生される電圧VBiasを縦
軸に、ドレイン供給電圧Vddを横軸に取って示すグラ
フ図、第5図は第6図のインバータ・バッファ回路の負
荷に加えられる実際のゲート・ドライブ電圧VBias
−2Vtを縦軸に、ドレイン供給電圧Vddを横軸に取
って示すグラフ図、第6図は縦軸に人力バッファ回路の
負荷装置によって示される電力消費POWERを任意の
単位で示し、横軸にドレイン供給電圧Vddを示すグラ
フ図である。 12・・・・第1内部信号発生回路(入力バッファ回路
)、TA、TB、TC・・・・第2内部信号発生回路(
トランジスタ)、C8・・・・第1外部入力信号(チッ
プ選択信号)、VALID  DATA・・・・第2外
部入力信号(有効データ)、PO1PO′・・・・第1
内部信号(内部パルス)、Pn、Pn’・・・・第2内
部信号(入力タイミング信号)、14・・・・手段(負
荷ゲート・バイアス回路)。 出願人インターナシ田プフいビジネス・マシニング・コ
ー寸しにクヨン復代理人  弁理士  合   1) 
    潔1) P−w  の  寸  1 〜 − 
 〇(^) SD:@Δ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外部から決定される時間間隔で発生する第1およ
    び第2外部入力信号に応答する集積回路装置のための信
    号発生回路にして、前記第1外部入力信号に応答して第
    1内部信号ケ発生する第1内部信号発生回路と、前記第
    1内部信号に応答して前記第、2外部入力信号に対して
    所定のタイミング関係?待つ第2内部信号r発生する第
    2門部信号発生回路と?有し、前記第2内部信号発生回
    路が、前記集積回路装置や環境のパラメータの変化の影
    響ケ受けて前記第1内部信号と前記第2内部信号との間
    の時間間隔?変化させる信号発生回路において、 前記第1内部信号発生回路が、前記紀1外部入力信号と
    前記第1内部信号との間の時間間隔全、前記第1内部信
    号と前記第2内部信号との間の時間間隔?変化でせる同
    じパラメータに応答して前記第1内部信号と前記第2内
    部信号との間の時間間隔の変化とは逆方向に変化きせて
    、前記第2内部信号の発生を前記第2外部入力信号に2
    1して実質的に前記所定のタイミング間隔に等しくする
    手段全市することケ特徴とする信号発生回路。 (2、特許請求の範囲j■(1)項記載の信号発生回路
    において、前記手段≠・、n14記第1内部信号と前記
    第2内部信号との間の時間間隔ケ減少芒せる様な条件−
    干では前記第1内部信号発生回路Q)前記第1内部信号
    の発生を遅らせ、前記第1内部侶号と前記第2内飾信号
    とのII梢の時間間隔ケ増ノ(させるような条件下では
    前記第1内部信号発生回路の前記第1内部信号の昇生ケ
    進めるバイアス電圧発生回路會有すること?特徴とする
    信号うと主回路。
JP57222230A 1982-01-18 1982-12-20 信号発生回路 Granted JPS58124322A (ja)

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US340438 1999-06-28

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