JPS58115378A - 磁気媒体の検査装置 - Google Patents
磁気媒体の検査装置Info
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- JPS58115378A JPS58115378A JP21369681A JP21369681A JPS58115378A JP S58115378 A JPS58115378 A JP S58115378A JP 21369681 A JP21369681 A JP 21369681A JP 21369681 A JP21369681 A JP 21369681A JP S58115378 A JPS58115378 A JP S58115378A
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- magnetic
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- G—PHYSICS
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）本発明の技術分野
本発明は磁気媒体の検査装置に係り、特に、磁気記録再
生円盤の欠陥を検出する検査装置に於て複数のスライス
レベルで磁気媒体の検査を行う様にした磁気媒体の検査
装置に関する。
生円盤の欠陥を検出する検査装置に於て複数のスライス
レベルで磁気媒体の検査を行う様にした磁気媒体の検査
装置に関する。
（２）技術の背景
磁気記録再生円盤や磁気テープ等の磁気媒体を基板に塗
布したときに生ずるピンホールやドロップアウト等の欠
陥を検出する検査装置として該磁気媒体に例えば一定の
周波数信号を書き込み、この書き込まれた信号を読み出
して、その平均の出力を求め、この平均出力の特定割合
からミッシング又はエキストラと呼ばれる信号を検出し
、これら信号をカウントすることで、前記信号がある個
数以上の磁気媒体を不良としていた。
布したときに生ずるピンホールやドロップアウト等の欠
陥を検出する検査装置として該磁気媒体に例えば一定の
周波数信号を書き込み、この書き込まれた信号を読み出
して、その平均の出力を求め、この平均出力の特定割合
からミッシング又はエキストラと呼ばれる信号を検出し
、これら信号をカウントすることで、前記信号がある個
数以上の磁気媒体を不良としていた。
しかし、上記検査では読み出される信号の平均出力を所
定のスライスレベルと比較した出力をミノシング又はエ
キストラとしているために、磁気媒体が装着される装置
によってスライスレベルが異なり、検査装置のスライス
レベルと同一でないことから、磁気媒体の良品率を一定
に確保すること及び検査の信頼性とに問題があった。
定のスライスレベルと比較した出力をミノシング又はエ
キストラとしているために、磁気媒体が装着される装置
によってスライスレベルが異なり、検査装置のスライス
レベルと同一でないことから、磁気媒体の良品率を一定
に確保すること及び検査の信頼性とに問題があった。
（３）従来技術と問題点
第１図は従来の磁気媒体の検査装置を示す系統図であり
、第２図及び第３図はその波形説明図と不良個数とスラ
イスレベルの関係を説明する曲線図であり、第１図に於
て磁気記録再生円盤３は例えばターンテーブル２上に載
置されモータ１により回転される。磁気記録再生円盤３
上には記録用ヘッド又は、消去ヘッド５と読み出しヘッ
ド４を有し、これらへソドギャップは磁気記録再生円盤
３上に対接させても浮上させてもよく、且つ同心円状に
複数のトラックが形成され、円盤３の半径方向に上記ヘ
ッドは歩進する様に構成されている。
、第２図及び第３図はその波形説明図と不良個数とスラ
イスレベルの関係を説明する曲線図であり、第１図に於
て磁気記録再生円盤３は例えばターンテーブル２上に載
置されモータ１により回転される。磁気記録再生円盤３
上には記録用ヘッド又は、消去ヘッド５と読み出しヘッ
ド４を有し、これらへソドギャップは磁気記録再生円盤
３上に対接させても浮上させてもよく、且つ同心円状に
複数のトラックが形成され、円盤３の半径方向に上記ヘ
ッドは歩進する様に構成されている。
５が記録用ヘッドである場合は記録回路６より一定周波
数信号が記録用ヘッドに加えられて磁気記録再生円盤３
に書き込みが行われる。
数信号が記録用ヘッドに加えられて磁気記録再生円盤３
に書き込みが行われる。
又、５が消去ヘッドである場合は消去回路６よりの消去
電流により、磁気記録再生円盤の複数トラックは完全に
消磁された状態となされる。
電流により、磁気記録再生円盤の複数トラックは完全に
消磁された状態となされる。
読み出しヘッド４からの信号は増幅回路と平均出力設定
回路７で増幅され、その平均出力が第２図ＡのＴＡＡレ
ベルで示すように求められ、これは磁気記録再生円盤の
１トラツクの平均出力を示す゛。
回路７で増幅され、その平均出力が第２図ＡのＴＡＡレ
ベルで示すように求められ、これは磁気記録再生円盤の
１トラツクの平均出力を示す゛。
この出力をスライスレベル設定回路８よりの第２図Ａの
ＳＬＩ、ＳＬ２レベルで示すスライスレベルとエラー検
出回路９で比較され、出力端子１０に第２図Ｂ、Ｃで示
すようにＴＡＡレベルの特定割合以下の出力の落ち込み
（ミッシング）を検知する。
ＳＬＩ、ＳＬ２レベルで示すスライスレベルとエラー検
出回路９で比較され、出力端子１０に第２図Ｂ、Ｃで示
すようにＴＡＡレベルの特定割合以下の出力の落ち込み
（ミッシング）を検知する。
さらに消去へソド５で磁気記録再生円盤の表面を消磁し
た場合には欠陥部３Ｃで第２図Ｅの如きパルス性ノイズ
を読み出しヘッドから検出することができるので、この
パルス性ノイズがＴＡＡの特定割合以上（エキストラパ
ルス）になったものを検出し、第２図Ｆの如きパルス波
形を得て磁気欠陥とし、ある個数以上のエラー（欠１１
１ｉｉ）を有するものを不良品と判断するようにしてい
る。
た場合には欠陥部３Ｃで第２図Ｅの如きパルス性ノイズ
を読み出しヘッドから検出することができるので、この
パルス性ノイズがＴＡＡの特定割合以上（エキストラパ
ルス）になったものを検出し、第２図Ｆの如きパルス波
形を得て磁気欠陥とし、ある個数以上のエラー（欠１１
１ｉｉ）を有するものを不良品と判断するようにしてい
る。
上述の如く、磁気記録再生円盤を単独で検査したものを
、上記磁気記録再生円盤を組み込んで実際に使用する装
置では基本的には上記したと同じ方法で磁気記録再生円
盤の欠陥検査を行って欠陥個数が規定個数以下であるこ
とを確認して市場に出荷しているが磁気記録再生円盤を
実装する装置によってはスライスレベルが多少異なり磁
気記録再生円盤を単独で検査した場合のスライスレベル
と同一でないことがあり装置での良品率を一定に確認す
ることが困難であった。
、上記磁気記録再生円盤を組み込んで実際に使用する装
置では基本的には上記したと同じ方法で磁気記録再生円
盤の欠陥検査を行って欠陥個数が規定個数以下であるこ
とを確認して市場に出荷しているが磁気記録再生円盤を
実装する装置によってはスライスレベルが多少異なり磁
気記録再生円盤を単独で検査した場合のスライスレベル
と同一でないことがあり装置での良品率を一定に確認す
ることが困難であった。
このようなバラツキの問題を第３図によって説明する。
第３図で縦軸は磁気記録再生円盤の欠陥（エラー）個数
を横軸にスライスレベルをとったものであるが、同図で
たとえばＣで示すスライスレベルの第１の被検査用磁気
記録再生円盤１１の欠陥個数は第２の被検査用磁気記録
再生円盤１２より得られる欠陥個数に比べてカウント数
が多いために商いレベルのスライスレベルＣでは第１の
被検査用磁気記録再生円盤１１が不良品、第２の被検査
用磁気記録再生円盤１２が良品と判断されるが、これを
たとえばスライスレベルがＡのレベルで測定すると逆に
第２の被検査用磁気記録再生円盤１２が不良品で第１の
被検査用磁気記録再生円盤１１が良品と判断されること
になる。すなわち磁気記録再生円盤を単独で検査して使
用する装置に実装すると良品が不良品となるケースも出
てくる。これはスライスレベルを従来では１つのレベル
で行っていたことに原因している。
を横軸にスライスレベルをとったものであるが、同図で
たとえばＣで示すスライスレベルの第１の被検査用磁気
記録再生円盤１１の欠陥個数は第２の被検査用磁気記録
再生円盤１２より得られる欠陥個数に比べてカウント数
が多いために商いレベルのスライスレベルＣでは第１の
被検査用磁気記録再生円盤１１が不良品、第２の被検査
用磁気記録再生円盤１２が良品と判断されるが、これを
たとえばスライスレベルがＡのレベルで測定すると逆に
第２の被検査用磁気記録再生円盤１２が不良品で第１の
被検査用磁気記録再生円盤１１が良品と判断されること
になる。すなわち磁気記録再生円盤を単独で検査して使
用する装置に実装すると良品が不良品となるケースも出
てくる。これはスライスレベルを従来では１つのレベル
で行っていたことに原因している。
（４）発明の目的
本発明は上述の欠点に鑑みなされたもので複数のスライ
スレベルを設定し該スライスレベルで記録波形を同時に
比較して正確に磁気記録媒再生円盤の良否判定を行うこ
とを目的とするものである。
スレベルを設定し該スライスレベルで記録波形を同時に
比較して正確に磁気記録媒再生円盤の良否判定を行うこ
とを目的とするものである。
（５）発明の構成
本発明の上記目的は磁気媒体よ−り読み出しされた検出
信号をエラー検出回路に加え、該エラー検出回路のスラ
イスレベルを複数に選択し、磁気媒体の欠陥を異なるレ
ベルで検出してなることを特徴とする磁気媒体の検出装
置を提供することで達成される。
信号をエラー検出回路に加え、該エラー検出回路のスラ
イスレベルを複数に選択し、磁気媒体の欠陥を異なるレ
ベルで検出してなることを特徴とする磁気媒体の検出装
置を提供することで達成される。
（６）発明の実施例
以下、第４図を参照して本発明の−・実施例を説明する
。
。
なお第１図と同一部分には同一符号を付して重複説明を
省略する。磁気記録再生円盤より読み出され増幅回路１
５で増幅された出力は破線で示す複数のエラー検出回路
１３ａ、・・・、１３ｎの比較回路１４ａ５ ・・・、
１４ｎの一方の入力端子に加えられる。
省略する。磁気記録再生円盤より読み出され増幅回路１
５で増幅された出力は破線で示す複数のエラー検出回路
１３ａ、・・・、１３ｎの比較回路１４ａ５ ・・・、
１４ｎの一方の入力端子に加えられる。
さらに増幅回路１５からの出力は平均値設定回路１６ａ
、 ・・・、１６ｎによって１トラック間の読み出し
信号の平均出方を平均値設定回路１６ａ。
、 ・・・、１６ｎによって１トラック間の読み出し
信号の平均出方を平均値設定回路１６ａ。
・・・、１６ｎで求めて該平均値回設足回路の直流出力
をデジタル−アナログ変換回路１７ａ、・・・、１７ｎ
の直流入力に加えると共にスライスＬ・ヘル設定回路１
８ａ、・・・、１８ｎから選択すべきスライスレベル値
が１．２，４，８． ・・・専のコードでデジタル−
アナログ変換回路に与えられる。よって、たとえばスラ
イスレベル設定値を８０％に選定するようにデジタル−
アナログ変換回路１７ａに与え、平均値設定回路１６ａ
で求めた平均値出力電圧が直流で３■であるとすると、
デジタル−アナログ変換回路１７ａの出力には２．４ｖ
の電圧が取り出されて比較回路・１４ａの他方の入力端
子に加えられるために該比較回路１４ａにはエキストラ
やミッシングの検出信号が得られる。
をデジタル−アナログ変換回路１７ａ、・・・、１７ｎ
の直流入力に加えると共にスライスＬ・ヘル設定回路１
８ａ、・・・、１８ｎから選択すべきスライスレベル値
が１．２，４，８． ・・・専のコードでデジタル−
アナログ変換回路に与えられる。よって、たとえばスラ
イスレベル設定値を８０％に選定するようにデジタル−
アナログ変換回路１７ａに与え、平均値設定回路１６ａ
で求めた平均値出力電圧が直流で３■であるとすると、
デジタル−アナログ変換回路１７ａの出力には２．４ｖ
の電圧が取り出されて比較回路・１４ａの他方の入力端
子に加えられるために該比較回路１４ａにはエキストラ
やミッシングの検出信号が得られる。
上記構成では比較回路１４ａに取り出される検出信号を
説明したが他の比較回路１４ｂ、・・・。
説明したが他の比較回路１４ｂ、・・・。
１４Ｈにも同時にスライスレベルの異なる検出信号が得
られる。また、記憶信号の読み出しは磁気記録再生円盤
の内周または外周トラックから外周または内周トラック
にわたっての全トラックについて行われる。
られる。また、記憶信号の読み出しは磁気記録再生円盤
の内周または外周トラックから外周または内周トラック
にわたっての全トラックについて行われる。
上記構成によれば同一時間に複数のスライスレベルでエ
ラー検出を行うことができることは明らかである 第５図および第６図は本発明の他の実施例をボすもので
あり、第５図は本発明の磁気媒体検査装置の系統図、第
６図は第５図の波形説明図である。
ラー検出を行うことができることは明らかである 第５図および第６図は本発明の他の実施例をボすもので
あり、第５図は本発明の磁気媒体検査装置の系統図、第
６図は第５図の波形説明図である。
第４図においては複数のエラー検出回路を用いて設定値
の異なるスライスレベルで磁気媒体の欠陥を同時に検出
したが、第５図の場合は複数のスライスレベルをレジス
タに記憶させ、磁気記録再生円盤のトラック毎に設けら
れたイニシャル信号をセントパルスとしてレジスタのス
ライスレベルを順次変化させ、トラック毎に異なったス
ライスレベルで欠陥を検出するようにしたものである。
の異なるスライスレベルで磁気媒体の欠陥を同時に検出
したが、第５図の場合は複数のスライスレベルをレジス
タに記憶させ、磁気記録再生円盤のトラック毎に設けら
れたイニシャル信号をセントパルスとしてレジスタのス
ライスレベルを順次変化させ、トラック毎に異なったス
ライスレベルで欠陥を検出するようにしたものである。
第５図で第４図と同一部分は同一符号を付して重複説明
は省略する。デジタル−アナログ変換面Ｂ １７ ａに
はレジスタ回路１９の出力が与えられると共にたとえば
トランクのイニシャルパルス（第６図Ａ）を検出ヘッド
２０等より取り出し、レジスタのセントパルス入力に加
えてレジスタ回路をセットし、第６図Ｃのセットパルス
２２ａ、２２ｂ・・・が入る度にレジスタ回路１９の入
力に与えられるスライスレベルをあらかじめ設定した値
に切り換えるようにする。第６図Ｂはリードゲート波形
を示すものである。
は省略する。デジタル−アナログ変換面Ｂ １７ ａに
はレジスタ回路１９の出力が与えられると共にたとえば
トランクのイニシャルパルス（第６図Ａ）を検出ヘッド
２０等より取り出し、レジスタのセントパルス入力に加
えてレジスタ回路をセットし、第６図Ｃのセットパルス
２２ａ、２２ｂ・・・が入る度にレジスタ回路１９の入
力に与えられるスライスレベルをあらかじめ設定した値
に切り換えるようにする。第６図Ｂはリードゲート波形
を示すものである。
このようにすると磁気記録再生円盤の内周から外周へ読
み出しヘッドが移動してアクセスが行われる毎にスライ
スレベルを変えて欠陥検査が順次行われることになる。
み出しヘッドが移動してアクセスが行われる毎にスライ
スレベルを変えて欠陥検査が順次行われることになる。
なお、本実施例は磁気記録再生円盤、に通用したもので
あるが、磁気テープ等の磁気媒体にも本発明を適用でき
ることはいうまでもない。
あるが、磁気テープ等の磁気媒体にも本発明を適用でき
ることはいうまでもない。
（７）発明の効果
以上、詳細に説明したように本発明によれば磁気媒体の
欠陥検査を何種類かのスライスレベルで自動的に検査す
ることができるので信頼性の高い欠陥検査を行うことが
できる特徴を有する。
欠陥検査を何種類かのスライスレベルで自動的に検査す
ることができるので信頼性の高い欠陥検査を行うことが
できる特徴を有する。
第１図は従来の磁気媒体の検査装置の系統図、第２図Ａ
−Ｆは従来の検査方法の各種波形図、第３図は欠陥個数
とスライスレベルの関係を示す曲線図、第４図は本発明
の磁気媒体の検査装置の系統図、第５図は本発明の他の
実施例を示す磁気媒体の検査装置の要部系統図、第６図
は第５図の波形説明図である。 １・・・モータ、３・・・磁気記録再生円盤等の磁気媒
体、４・・・読み出しヘッド、９．１３ａ〜１３ｎ・・
・エラー検出回路、１７ａ〜１７ｆｉ・・・Ｄ／Ａ変換
回路、１８ａ−１８ｎ・・・スライスレベル設定回路、
１９・・・レジスタ。
−Ｆは従来の検査方法の各種波形図、第３図は欠陥個数
とスライスレベルの関係を示す曲線図、第４図は本発明
の磁気媒体の検査装置の系統図、第５図は本発明の他の
実施例を示す磁気媒体の検査装置の要部系統図、第６図
は第５図の波形説明図である。 １・・・モータ、３・・・磁気記録再生円盤等の磁気媒
体、４・・・読み出しヘッド、９．１３ａ〜１３ｎ・・
・エラー検出回路、１７ａ〜１７ｆｉ・・・Ｄ／Ａ変換
回路、１８ａ−１８ｎ・・・スライスレベル設定回路、
１９・・・レジスタ。
Claims (3)
- （１）磁気媒体より読み出された検出信号をエラー検出
回路に加え、該エラー検出回路のスライスレベルを複数
に選択し、該磁気媒体の欠陥を異なるレベルで検出して
なることを特徴とする磁気媒体の検査装置。 - （２）磁気媒体より読み出された検出信号をスライスレ
ベルを適宜変化させるεとの出来る複数のエラー検出回
路に加え、該複数のエラー検出回路のスライスレベルを
各々興らせ°ζ、磁気媒体の欠陥を異なるレベルで同時
に検出してなることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の磁気媒体の検査装置。 - （３）磁気媒体より読み出された検出信号をエラー検出
回路に加え、該エラー検出回路の複数のスライスレベル
を磁気媒体の回転に同期したセットパルスにより選択し
、順次異なるスライスレベルで磁気媒体の欠陥を検出し
てなることを特徴とする特許請求範囲第１項記載の磁気
媒体の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21369681A JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21369681A JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58115378A true JPS58115378A (ja) | 1983-07-09 |
| JPH0355796B2 JPH0355796B2 (ja) | 1991-08-26 |
Family
ID=16643472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21369681A Granted JPS58115378A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 磁気媒体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58115378A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6278774A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-11 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 磁気記録媒体処理装置 |
| JPS62159378A (ja) * | 1986-01-07 | 1987-07-15 | Nec Corp | 光デイスク装置 |
| JPS62173678A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS62173675A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気デイスク欠陥検出回路 |
| JPS6350980A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS63144272A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
| JPH0668609A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Teac Corp | ディスク装置 |
| US7888930B2 (en) * | 2007-06-21 | 2011-02-15 | Fujifilm Corporation | Method for testing mold structure and magnetic recording medium |
-
1981
- 1981-12-29 JP JP21369681A patent/JPS58115378A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6278774A (ja) * | 1985-10-02 | 1987-04-11 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 磁気記録媒体処理装置 |
| JPS62159378A (ja) * | 1986-01-07 | 1987-07-15 | Nec Corp | 光デイスク装置 |
| JPS62173678A (ja) * | 1986-01-27 | 1987-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS62173675A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気デイスク欠陥検出回路 |
| JPS6350980A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 欠陥検出装置 |
| JPS63144272A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 複数の検出限界値による磁気デイスクの検査方法 |
| JPH0668609A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Teac Corp | ディスク装置 |
| US7888930B2 (en) * | 2007-06-21 | 2011-02-15 | Fujifilm Corporation | Method for testing mold structure and magnetic recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0355796B2 (ja) | 1991-08-26 |
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