JPS62173675A - 磁気デイスク欠陥検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、磁気ディスクの欠陥を検出する回路に関する
ものであり、詳しくは磁気ディスクの検査工程において
磁気ディスク表面の欠陥を検出し、当該磁気ディスクの
出荷の可否を示唆する磁気ディスク欠陥検出回路に関す
るものである。

（従来技術） フロッピーディスク等の磁気ディスクは円板状の非磁性
支持体上に磁性材料を塗布して形成されるが、その際塗
布面に塵埃が付着したり、細かいギズがついたりしてい
わゆる欠陥が形成されることがある。

このような欠陥を右する磁気ディスクを出荷した場合に
は、この磁気ディスクを記録媒体として用いた際の読取
信号に欠落が生じ、この読取信号から得られた情報ある
いは画像にドロップアウトが発生し、ニーＩＪ”に不測
の不利益を与えることがある。

そこでメーカは磁気ディスクの検査工程において磁気デ
ィスクに欠陥があるか否かを検査し、このような欠陥が
検出された場合にはその磁気ディスクの出荷を中止する
にうにしている。

ところで、従来このような検査を行なう装置としては、
磁気ディスクの３回転分の時間をかけて１１−ラックの
欠陥を検査づる１ｆｉｆｆが知られている。

ザなわら、第１回転目で被検査１へラックに信号を門さ
′込み、第２回転目でそのトラックに書き込んだ信号を
読み取ると共に演算回路にてこの読取信号にＩＢづく基
準信号を形成し、第３回転目で再度上記書き込んだ信号
を読み取ると共に比較回路にてこの読取信号と上記基準
信号を比較して信号の欠落があるか否かを判定すること
によりそのトラックの検査を行なう装置が知られている
。

しかしながら、このような検査は磁気ディスク１枚に対
し複数のトラックについて行なわなければならず、上記
装置を用いると検査時間が極めて良くなるため、製造時
間及び製造コス１へ全体に占める検査時間及び検査コス
トの割合が極めて大きくなり問題となっていた。

（発明の目的〉 本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、精度を
低下させることなく検査時間を短縮し１！７る磁気ディ
スク欠陥検出回路を提供することを目的とづるものであ
る。

〈発明の構成） 本発明の磁気ディスク欠陥検出回路は、１１〜ラック分
の読取信号を平均値レベル信号発生回路と最小値レベル
信号発生回路に同時に入力し、平均値レベル信号発生回
路で読取信号のピーク値の累積平均を演算しながらその
演算結果に基づく平均値レベル信号を逐次出力し、最小
値レベル信号発生回路で今までに入力された読取信号の
うらその絶対値が最小のピーク値をホールドしておいて
その値を最小値レベル信号として出力し、この２つのレ
ベル信号を比較回路で逐次比較し、その比較結果に基づ
いて磁気ディスクの欠陥の有ＩＫ（を判定するものであ
って、以上の信号読取、演算および判定を磁気ディスク
の１回転中に行なうことを特徴とするものである。

上述したことかられかるように、平均値レベル信号発生
回路および最小値レベル信号発生回路からの出力信号は
時間と共にそのレベルが変化し得る信号である。また、
上記平均値レベル信号は読取信号の累積平均値に例えば
０．６という係数を乗じたレベルの信号であり、通常最
小値レベル信号の最大レベルよりもやや低いレベルの信
号である。

（′Ｒ，明の効果） 本発明の磁気ディスク欠陥検出回路によれば、従来磁気
ディスクの第１回転目と第２回転目に分りで行なってい
た平均値レベル信号を形成するための演咋と２つのレベ
ル信号の比較を、読取信号を同時に入力される２つのレ
ベル信号発生回路をｌｉΩ（プることにより、同−回転
期間内に行なうようにしているから１トラツクあたりの
検査時間を磁気ディスクの１回転明間分減少せしめるこ
とができる。これは１トラツクあたりの検査１．１間を
従来の２７′３の時間に減らすことができることを意味
し、その検査効率を大きく向トさせることができると共
に検査コストを大幅に引き下げることができる。

（実施態様） 以下、本発明の実施態様について図面を用いて説明する
。

第１図は本発明の一実施態様による磁気ディスク欠陥検
出回路を示４回路図である。この回路は信号読取装置か
らの磁気ディスク読取信号を増幅する差動アンプ１、差
動アンプ１からの出力信号Ａを入力されこの信＠Ａの尖
頭タイミングを検出し正の尖頭タイミング信号Ｅおよび
角の尖頭タイミング信号「を出力する尖頭タイミング検
出回路２、差動アンプ１からの出力信号Ａと上記２つの
タイミング信号Ｅ、Ｆを入力されこの出力１３日の正負
両尖頭値信号Ｇ、１」を出力する尖頭値検出回路３、上
記２つの尖頭値信号Ｇ、１」及び１−記２つのタイミン
グ信ｉ’＋Ｅ、Ｆを入力されてそのうら絶対値が最小と
なる値をボールドし最小艙しベル信ｔ）Ｊを逐次出力す
る最小値レベル信）３発生回路４、上記２つの尖頭値信
号Ｇ、ｌ−１と−［記２つの尖頭タイミングｆｆｆｉ号
Ｅ、Ｆを入力され順次尖頭値をサンプルボールドするサ
ンプルホールド回路５、サンプルホールド回路５からの
出力信号を入力されそれまでに入力された信号の累積平
均値を出力する電圧平均値用オペアンプ６、オペアンプ
６からの累積平均値信号に例えば所定の係数を乗算して
平均値レベル信舅Ｋを逐次出力する平均値レベル信号発
生回路７、および最小値レベル信号Ｊと平均値レベル信
号Ｋを比較して最小値レベル信号Ｊが小さいときにＮＧ
を示づパルスあるいはレベルを出力する比較器８を備え
ている。

ところで、従来の欠陥検出装置の１３号演算、比較回路
では磁気ディスクからの信号読出を２回行なう必要があ
った。すなわち第１回転目の信号読出により平均値レベ
ルを演算、設定し、この設定値と第２回転目の信号続出
により読み出された信シ〕値とを比較していたため１ト
ラツクについて磁気ディスク２回転分の読出期間が必要
で検査効率が悪かった。本発明の回路は２回転分の読出
期間を１回転分に縮めることにより検査効率を向上せし
めたものである。

以下、第１図に示す回路の機能を第２図に示すタイミン
グチ↑・−トを用いて説明する。なお、磁気ディスクに
は予め所定のサイン波信号が８き込まれている。

信す読取装置により読取られ、第１図の回路に入力され
た信号は差動アンプ１から信号△として出力される。こ
の信号Ａは、磁気ディスクの欠陥の情報を信号欠損の形
で有してなるものである。

この信号Ａがタイミング検出回路２に入力されると信号
Ａの正のピークおよび負のピークのタイミングを示ザ正
の尖頭タイミング信号ＥＪ３よび角の尖頭タイミングＦ
がパルス信号の形で形成され、これらのタイミング信号
Ｅ、Ｆは尖頭値検出回路３、最小値レベル信号発生回路
４およびサンプルホールド回路５に送出される。一方、
信号Ａは上記タイミング検出回路２に入力されるのと同
時に尖頭値検出回路３に入力される。この尖頭値検出回
路３では、タイミング化ＱＥ、Ｆの入力と同時に入力さ
れた信号Δの値がホールドされ、この操作により形成さ
れた正負の尖頭値信号Ｇ、Ｈが最小値レベル信号発生回
路４およびサンプルホールド回路５に送出される。最小
値レベル信号発生回路４では、それまでに入力された尖
頭値信号Ｇ。

１−；のうち絶対値の最も小さい尖頭値がホールドされ
そのボールドされた値が最小値レベル信号Ｊとなって出
力される。すなわち、信号欠損のある尖頭値ａが入力さ
れると信号Ｊのレベルは尖頭値ａのレベルまで下がり、
さらに尖頭値ａよりもレベルの低い尖頭値すが入力され
ると信号Ｊのレベルはさらに尖頭値すのレベルまで下が
る。その後、正常イｆ尖頭値Ｃが入力されても信号Ｊの
レベルは１トラツクの検査が終了するまで尖頭値すのレ
ベルに保持される。一方すンブルボールド回路５で（ユ
信ｑＱ、＋１がタイミング信号［、［の入力により次々
とサンプルホールドされる。このサンプルホールド値が
オペアンプ６にａ３いて次々と電圧平均され、最終的に
平均値レベル信号Ｒ生回路７から平均値レベル信号Ｉ〈
どしで出力され、参照信］）として機能づる。この平均
値レベル信号ｌくのレベルはノイズ等の影響を考；還し
てＩ最小値レベル信ｑＪの最大値より低い値、例えばそ
の最大値の６０％の値に設定されている。最小値レベル
信号Ｊと平均値レベル信＠には逐次比較回路８に入力さ
れそのレベルの大きさが比較される。最小値レベル信号
Ｊのレベルの方が小さくなりれば信号欠損がない、ある
いは極めて小さいと判定されこの比較回路８からはＬＯ
Ｗレベル信号Ｌ１が出力される。反対に平均値レベル信
号にのレベルの方が大き＋フれば１１号欠損があるとγ
り定されこの比較回路８からはＨ１Ｑｈレベル４：＝　
＠　Ｌ　２が出力される。

比較回路８から１トラック明間ｌ−１１９ｈレベル（ｉ
号Ｌ１が出力されなかった場合には検査操作は次；〜ラ
ックへのシーク操ｆ［に移？１するが、１−ｌｉ！Ｊｔ
＋レベル信号Ｌ２が出力された場合にはその１−ラック
の再倹合を行なうか、その磁気ディスクを不良品として
処分する５゜ 上述しｌこ第′１図の回路にＪ３いて【ま信号油筒をハ
ードトコシックにて処理しているが、これを第３図に示
η−ようにマイクロニ１ンビ］−９１０を用いて行なう
ようにしてもよい。

第３図に示す回路は、最小値レベル信号発生回路４によ
り最小値レベル信号を発生し、Δペアシブ６により信号
平均するところまでは第１図の回路と同一に構成されて
いるが、第１図の平均値レベル信＠光生回路７および比
較回路８に代え、Ａ／Ｄ変換器９およびマイクロコンピ
ュータ１０を用いて最小値レベル信号と平均値レベル信
号をデジタル的に比較覆るようにしている。なお、Ａ／
Ｄ変換器９への信号入力はマイクロコンピュータ１０の
制御１３号に基づいて開閉ηるスイッチ１１ａ　、　１
１ｂによりコントロールされる。マイクロコンピュータ
を用い１ｃ場合には表示機能あるいは複雑な演惇機能を
持たせることが容易である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施態様による磁気ディスク欠陥検
出回路を示す回路図、 第２図は第１図の回路の各出力部での信号波形を示１タ
イミングチャート、 第３図は第１図とは別の実施態様を示す回路図である。 ２・・・尖頭タイミング検出回路 ３・・・尖頭値検出回路 ４・・・最小値レベル信８発生回路 ５・・・サンプルホールド回路 ６・・・電圧平均用Ａペアンプ ７・・・平均値レベルイ３号発生回路 ８・・・比較回路 ９・・・Ａ／Ｄ変換器

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 磁気ディスクを回転させ、該磁気ディスクに書き込まれ
   た所定の信号を１トラック分ずつ読み出して基準信号と
   比較し、その比較結果に基づいて該磁気ディスクの欠陥
   を検出する磁気ディスク欠陥検出回路において、 前記１トラック分の読取信号を同時に入力されてそれぞ
   れ該読取信号の平均値レベル信号および最小値レベル信
   号を逐次出力する平均値レベル信号発生回路および最小
   値レベル信号発生回路と、前記２つのレベル信号を比較
   し、その比較結果に基づいて欠陥存否の判定信号を出力
   する判定回路を備えてなることを特徴とする磁気ディス
   ク欠陥検出回路。