JPH0991912A - 磁気ディスクの欠陥検査装置 - Google Patents
磁気ディスクの欠陥検査装置Info
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- JPH0991912A JPH0991912A JP24164895A JP24164895A JPH0991912A JP H0991912 A JPH0991912 A JP H0991912A JP 24164895 A JP24164895 A JP 24164895A JP 24164895 A JP24164895 A JP 24164895A JP H0991912 A JPH0991912 A JP H0991912A
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- track
- magnetic
- magnetic head
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡便な構成にて安価に離散トラック型磁気デ
ィスクのトラック欠陥の検査を行うことが可能である磁
気ディスクの欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】 隣接するトラック間にガードバンドを有
する磁気ディスク１１のトラックの欠陥を検査する磁気
ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象となる
磁気ディスク１１のトラック幅よりも広いヘッド幅を有
するとともに、該磁気ディスク１１を読み取る磁気ヘッ
ド１と、磁気ヘッド１にて読み取られた信号を再生する
記録再生アンプ２と、記録再生アンプ２にて得された再
生信号の振幅のレベル検出を行うレベル検出部４と、レ
ベル検出部４からの検出結果に応じて磁気ヘッド１にて
読み取られたトラックが欠陥であるか否かを判別すると
ともに、磁気ヘッド１の磁気ディスク１１へのアクセス
動作を制御するＣＰＵ５とを備える。
ィスクのトラック欠陥の検査を行うことが可能である磁
気ディスクの欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】 隣接するトラック間にガードバンドを有
する磁気ディスク１１のトラックの欠陥を検査する磁気
ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象となる
磁気ディスク１１のトラック幅よりも広いヘッド幅を有
するとともに、該磁気ディスク１１を読み取る磁気ヘッ
ド１と、磁気ヘッド１にて読み取られた信号を再生する
記録再生アンプ２と、記録再生アンプ２にて得された再
生信号の振幅のレベル検出を行うレベル検出部４と、レ
ベル検出部４からの検出結果に応じて磁気ヘッド１にて
読み取られたトラックが欠陥であるか否かを判別すると
ともに、磁気ヘッド１の磁気ディスク１１へのアクセス
動作を制御するＣＰＵ５とを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、隣接するトラック
間にガードバンドを有する磁気ディスクのトラックの欠
陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査装置に関する。
間にガードバンドを有する磁気ディスクのトラックの欠
陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来において、連続膜型の磁気ディスク
が用いられている。このタイプの磁気ディスクのトラッ
クの欠陥を検査する欠陥検査装置は、磁気ヘッドを径方
向に送りながら、信号の書き込みと読み出しとを行って
欠陥を検出するものである。
が用いられている。このタイプの磁気ディスクのトラッ
クの欠陥を検査する欠陥検査装置は、磁気ヘッドを径方
向に送りながら、信号の書き込みと読み出しとを行って
欠陥を検出するものである。
【０００３】一方、連続膜型の磁気ディスクの他に、隣
接するトラック間にガードバンドを有する磁気ディス
ク、いわゆる離散トラック型磁気ディスクも存在する。
この離散トラック型磁気ディスクの欠陥検査装置は、上
述の連続膜型の磁気ディスクの欠陥検査装置とは異な
り、各トラックに順次トラッキングし、データゾーンに
信号を書き込み、この再生信号を評価することで、トラ
ックの欠陥を検出するものである。
接するトラック間にガードバンドを有する磁気ディス
ク、いわゆる離散トラック型磁気ディスクも存在する。
この離散トラック型磁気ディスクの欠陥検査装置は、上
述の連続膜型の磁気ディスクの欠陥検査装置とは異な
り、各トラックに順次トラッキングし、データゾーンに
信号を書き込み、この再生信号を評価することで、トラ
ックの欠陥を検出するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記の連続
膜型の磁気ディスクの欠陥検査装置は、検査したいトラ
ック幅の磁気ヘッドを用いて径方向に移動させながら、
上記磁気ディスク上のデータゾーンに信号を記録し再生
して、欠陥を検出している。この欠陥の判断基準は、ト
ラック単位の平均振幅いわゆるＴＡＡ（track average
amplitude ）としている。また、ザーボゾーンのパター
ン（以下単にサーボパターンという）を一括成形するも
のも存在している。
膜型の磁気ディスクの欠陥検査装置は、検査したいトラ
ック幅の磁気ヘッドを用いて径方向に移動させながら、
上記磁気ディスク上のデータゾーンに信号を記録し再生
して、欠陥を検出している。この欠陥の判断基準は、ト
ラック単位の平均振幅いわゆるＴＡＡ（track average
amplitude ）としている。また、ザーボゾーンのパター
ン（以下単にサーボパターンという）を一括成形するも
のも存在している。
【０００５】また、離散トラック型の磁気ディスクには
信号を書き込む部分と、いわゆるガードバンド部分とが
別々に存在している。
信号を書き込む部分と、いわゆるガードバンド部分とが
別々に存在している。
【０００６】従って、磁気ヘッドを用いて径方向に移動
させながら、上述の磁気ディスクのデータゾーンに信号
の記録再生を行って欠陥を検出する方法を適用すると、
上記ガードバンド部分には信号が書き込まれないため、
磁気ヘッドがガードバンド部分を横切るときに再生出力
が得られず、その結果ガードバンド部分が欠陥トラック
として認識されてしまう。
させながら、上述の磁気ディスクのデータゾーンに信号
の記録再生を行って欠陥を検出する方法を適用すると、
上記ガードバンド部分には信号が書き込まれないため、
磁気ヘッドがガードバンド部分を横切るときに再生出力
が得られず、その結果ガードバンド部分が欠陥トラック
として認識されてしまう。
【０００７】また、ザーボパターンを一括成形する方法
をとると、サーボゾーンそのものも全て欠陥として検出
されてしまう。
をとると、サーボゾーンそのものも全て欠陥として検出
されてしまう。
【０００８】そこで、離散トラック型磁気ディスクの欠
陥検査装置においては、一本一本のトラック毎に磁気ヘ
ッドのアクセスすなわちトラッキングを制御すること
で、各トラックのデータの書き込み部分のみの検査を行
う方法が提案されている。
陥検査装置においては、一本一本のトラック毎に磁気ヘ
ッドのアクセスすなわちトラッキングを制御すること
で、各トラックのデータの書き込み部分のみの検査を行
う方法が提案されている。
【０００９】しかし、この方法によれば、全トラック一
本一本の検査を必ず行わなければならないため、トラッ
クピッチが小さくなるにつれて、検査の所用時間が増加
してしまう。さらに、磁気ヘッドをトラックに追従させ
るための制御機構が必要になり、欠陥検査装置が複雑化
し、コストアップの要因になる。
本一本の検査を必ず行わなければならないため、トラッ
クピッチが小さくなるにつれて、検査の所用時間が増加
してしまう。さらに、磁気ヘッドをトラックに追従させ
るための制御機構が必要になり、欠陥検査装置が複雑化
し、コストアップの要因になる。
【００１０】そこで、本発明は、上述の問題に鑑みてな
されたものであり、簡便な構成にて安価に離散トラック
型磁気ディスクのトラック欠陥の検査を行うことが可能
である磁気ディスクの欠陥検査装置を提供することを目
的とする。
されたものであり、簡便な構成にて安価に離散トラック
型磁気ディスクのトラック欠陥の検査を行うことが可能
である磁気ディスクの欠陥検査装置を提供することを目
的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気ディス
クの欠陥検査装置は、上述した問題を解決するために、
隣接するトラック間にガードバンドを有する磁気ディス
クのトラックの欠陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査
装置において、検査する対象となる磁気ディスクのトラ
ック幅よりも広いヘッド幅を有するとともに、該磁気デ
ィスクを読み取る磁気ヘッドと、上記磁気ヘッドにて読
み取られた再生信号の振幅を所定の閾値を用いてレベル
検出するレベル検出手段と、上記レベル検出手段からの
検出結果に応じて上記磁気ヘッドにて読み取られたトラ
ックが欠陥であるか否かを判別するとともに、上記磁気
ヘッドの上記磁気ディスクへのアクセス動作を制御する
制御手段とを備えることを特徴としている。
クの欠陥検査装置は、上述した問題を解決するために、
隣接するトラック間にガードバンドを有する磁気ディス
クのトラックの欠陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査
装置において、検査する対象となる磁気ディスクのトラ
ック幅よりも広いヘッド幅を有するとともに、該磁気デ
ィスクを読み取る磁気ヘッドと、上記磁気ヘッドにて読
み取られた再生信号の振幅を所定の閾値を用いてレベル
検出するレベル検出手段と、上記レベル検出手段からの
検出結果に応じて上記磁気ヘッドにて読み取られたトラ
ックが欠陥であるか否かを判別するとともに、上記磁気
ヘッドの上記磁気ディスクへのアクセス動作を制御する
制御手段とを備えることを特徴としている。
【００１２】上記磁気ディスクの欠陥検査装置によれ
ば、磁気ヘッドは、検査する磁気ディスクの１トラック
以上のトラックにアクセスし、アクセスした全てのトラ
ックのデータゾーンに信号を書き込んで、この信号を読
み取る。レベル検出手段は、磁気ヘッドにより読み取ら
れた信号の振幅と所定の振幅とを比較し、この比較結果
を出力する。制御手段は、上記レベル検出手段により得
られた検出結果に応じて、上記磁気ヘッドがアクセスし
ているトラックの内で幾つのトラックが欠陥であるかを
判別するとともに、該磁気ヘッドのトラックへのアクセ
ス動作を制御する。
ば、磁気ヘッドは、検査する磁気ディスクの１トラック
以上のトラックにアクセスし、アクセスした全てのトラ
ックのデータゾーンに信号を書き込んで、この信号を読
み取る。レベル検出手段は、磁気ヘッドにより読み取ら
れた信号の振幅と所定の振幅とを比較し、この比較結果
を出力する。制御手段は、上記レベル検出手段により得
られた検出結果に応じて、上記磁気ヘッドがアクセスし
ているトラックの内で幾つのトラックが欠陥であるかを
判別するとともに、該磁気ヘッドのトラックへのアクセ
ス動作を制御する。
【００１３】また、本発明に係る磁気ディスクの欠陥検
査装置は、上述した問題を解決するために、隣接するト
ラック間にガードバンドを有するとともに、トラックに
偏心を有する磁気ディスクのトラックの欠陥を検査する
磁気ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象と
なる磁気ディスクのトラック幅よりも広いヘッド幅を有
するとともに、該磁気ディスクを読み取る磁気ヘッド
と、上記磁気ヘッドにて得られた再生信号の磁気ディス
クの偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を補正する補
正手段と、上記補正手段にて補正された再生信号の振幅
を所定の閾値を用いてレベル検出するレベル検出手段
と、上記レベル検出手段からの検出結果に応じて上記磁
気ヘッドにて読み取られたトラックが欠陥であるか否か
を判別するとともに、上記磁気ヘッドの上記磁気ディス
クへのアクセス動作を制御する制御手段とを備えること
を特徴としている。
査装置は、上述した問題を解決するために、隣接するト
ラック間にガードバンドを有するとともに、トラックに
偏心を有する磁気ディスクのトラックの欠陥を検査する
磁気ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象と
なる磁気ディスクのトラック幅よりも広いヘッド幅を有
するとともに、該磁気ディスクを読み取る磁気ヘッド
と、上記磁気ヘッドにて得られた再生信号の磁気ディス
クの偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を補正する補
正手段と、上記補正手段にて補正された再生信号の振幅
を所定の閾値を用いてレベル検出するレベル検出手段
と、上記レベル検出手段からの検出結果に応じて上記磁
気ヘッドにて読み取られたトラックが欠陥であるか否か
を判別するとともに、上記磁気ヘッドの上記磁気ディス
クへのアクセス動作を制御する制御手段とを備えること
を特徴としている。
【００１４】上記磁気ディスクの欠陥検査装置によれ
ば、磁気ヘッドは、検査する磁気ディスクのトラックに
アクセスし、アクセスした全てのトラックのデータゾー
ンに信号を書き込んで、この信号を読み取る。補正手段
は、磁気ヘッドにて読み取られた信号の磁気ディスクの
偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を規格化して補正
する。レベル検出手段は、補正手段にて補正された信号
の振幅と所定の振幅とを比較し、この比較結果を出力す
る。制御手段は、上記レベル検出手段により得られた検
出結果に応じて、上記磁気ヘッドがアクセスしているト
ラックの内で幾つのトラックが欠陥であるかを判別する
とともに、該磁気ヘッドのトラックへのアクセス動作を
制御する。
ば、磁気ヘッドは、検査する磁気ディスクのトラックに
アクセスし、アクセスした全てのトラックのデータゾー
ンに信号を書き込んで、この信号を読み取る。補正手段
は、磁気ヘッドにて読み取られた信号の磁気ディスクの
偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を規格化して補正
する。レベル検出手段は、補正手段にて補正された信号
の振幅と所定の振幅とを比較し、この比較結果を出力す
る。制御手段は、上記レベル検出手段により得られた検
出結果に応じて、上記磁気ヘッドがアクセスしているト
ラックの内で幾つのトラックが欠陥であるかを判別する
とともに、該磁気ヘッドのトラックへのアクセス動作を
制御する。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る磁気ディスク
の欠陥検査装置の具体的な適用例について、図面を参照
しながら説明する。
の欠陥検査装置の具体的な適用例について、図面を参照
しながら説明する。
【００１６】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第１の
具体的な構成は、図１に示すように、隣接するトラック
間にガードバンドを有する磁気ディスク１１のトラック
の欠陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査装置におい
て、検査する対象となる磁気ディスク１１のトラック幅
よりも広いヘッド幅を有するとともに、該磁気ディスク
１１を読み取る磁気ヘッド１と、磁気ヘッド１にて読み
取られた信号を再生する記録再生アンプ２と、記録再生
アンプ２にて得された再生信号の振幅のレベル検出を行
うレベル検出部４と、レベル検出部４からの検出結果に
応じて磁気ヘッド１にて読み取られたトラックが欠陥で
あるか否かを判別するとともに、磁気ヘッド１の磁気デ
ィスク１１へのアクセス動作を制御するＣＰＵ５とを備
えることを特徴とするものである。
具体的な構成は、図１に示すように、隣接するトラック
間にガードバンドを有する磁気ディスク１１のトラック
の欠陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査装置におい
て、検査する対象となる磁気ディスク１１のトラック幅
よりも広いヘッド幅を有するとともに、該磁気ディスク
１１を読み取る磁気ヘッド１と、磁気ヘッド１にて読み
取られた信号を再生する記録再生アンプ２と、記録再生
アンプ２にて得された再生信号の振幅のレベル検出を行
うレベル検出部４と、レベル検出部４からの検出結果に
応じて磁気ヘッド１にて読み取られたトラックが欠陥で
あるか否かを判別するとともに、磁気ヘッド１の磁気デ
ィスク１１へのアクセス動作を制御するＣＰＵ５とを備
えることを特徴とするものである。
【００１７】また、上記磁気ヘッドにて読み取られた再
生信号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り
出すサーボゾーン同定回路６と、サーボゾーン同定回路
６で取り出されたサーボゾーンのタイミングに基づい
て、レベル検出部４の動作を制御するタイミング制御回
路７とを備えることが挙げられる。
生信号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り
出すサーボゾーン同定回路６と、サーボゾーン同定回路
６で取り出されたサーボゾーンのタイミングに基づい
て、レベル検出部４の動作を制御するタイミング制御回
路７とを備えることが挙げられる。
【００１８】図１によれば、磁気ヘッド１にて磁気ディ
スク１１の複数のトラックにアクセスして、アクセスし
た全てのトラックのデータゾーンに信号が書き込まれ、
この信号が読み取られ再生信号となる。ザーボゾーン同
定回路６にて、再生信号からザーボゾーンが検出され
る。また、タイミング制御回路７は、このザーボゾーン
が出現するタイミングに基づいてレベル検出部４の動作
を制御する。例えば、ザーボゾーンが出現するときは動
作オフにするように制御信号を出力する。
スク１１の複数のトラックにアクセスして、アクセスし
た全てのトラックのデータゾーンに信号が書き込まれ、
この信号が読み取られ再生信号となる。ザーボゾーン同
定回路６にて、再生信号からザーボゾーンが検出され
る。また、タイミング制御回路７は、このザーボゾーン
が出現するタイミングに基づいてレベル検出部４の動作
を制御する。例えば、ザーボゾーンが出現するときは動
作オフにするように制御信号を出力する。
【００１９】また、レベル検出部４では、上記再生信号
の振幅と所定の閾値とが比較され、比較結果としての例
えば上記振幅が該閾値を超えたか否かで２値化されたデ
ータが、ＣＰＵ５に出力される。ＣＰＵ５では、レベル
検出部４からの比較結果に基づいて、磁気ヘッド１がア
クセスしているトラックに欠陥があるか否かが判別され
る。また、ＣＰＵ５から磁気ヘッド１のトラックアクセ
ス動作を制御する制御信号が磁気ヘッドを支持する駆動
機構８に出力される。
の振幅と所定の閾値とが比較され、比較結果としての例
えば上記振幅が該閾値を超えたか否かで２値化されたデ
ータが、ＣＰＵ５に出力される。ＣＰＵ５では、レベル
検出部４からの比較結果に基づいて、磁気ヘッド１がア
クセスしているトラックに欠陥があるか否かが判別され
る。また、ＣＰＵ５から磁気ヘッド１のトラックアクセ
ス動作を制御する制御信号が磁気ヘッドを支持する駆動
機構８に出力される。
【００２０】以上のことから、検査時に検査用の磁気ヘ
ッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要がない
ため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の実現
が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査する
ため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気ディ
スクの供給が可能になる。
ッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要がない
ため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の実現
が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査する
ため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気ディ
スクの供給が可能になる。
【００２１】図１において、磁気ディスク１１は、離散
トラック型の磁気ディスクであり、例えば図２のＡに示
すように、予め凹凸が形成された基板２１の凹凸部分に
沿って磁性膜２２が形成される磁気ディスク（以下基板
凹凸型磁気ディスクという）や、または図２のＢに示す
ように、凹凸のない平面な基板２５上に所定の間隔をお
いて磁性膜２６が形成される磁気ディスク（以下磁性膜
除去型磁気ディスクという）が挙げられる。
トラック型の磁気ディスクであり、例えば図２のＡに示
すように、予め凹凸が形成された基板２１の凹凸部分に
沿って磁性膜２２が形成される磁気ディスク（以下基板
凹凸型磁気ディスクという）や、または図２のＢに示す
ように、凹凸のない平面な基板２５上に所定の間隔をお
いて磁性膜２６が形成される磁気ディスク（以下磁性膜
除去型磁気ディスクという）が挙げられる。
【００２２】基板凹凸型磁気ディスクでは、一般に凸部
に成膜された磁性膜にデータトラック２３が設けられ、
凹部に成膜された磁性膜にガードバンド２４が設けられ
ている。また、磁性膜除去型磁気ディスクでは、磁性膜
２２が形成された表面にデータトラック２３が設けら
れ、磁性膜と磁性膜との間にガードバンド２４が設けら
れている。
に成膜された磁性膜にデータトラック２３が設けられ、
凹部に成膜された磁性膜にガードバンド２４が設けられ
ている。また、磁性膜除去型磁気ディスクでは、磁性膜
２２が形成された表面にデータトラック２３が設けら
れ、磁性膜と磁性膜との間にガードバンド２４が設けら
れている。
【００２３】磁気ヘッド１は、例えばボイスコイルモー
タ（ＶＣＭ：voice coil motor）を備えた駆動機構８に
より磁気ディスク１の径方向に回動可能に支持される。
また、例えば図３に示すように、トラックピッチがＴＰ
のデータトラック２３の３つ分すなわち略３ＴＰ分のヘ
ッド幅Ｗを有している。なお、磁気ヘッドの幅は、トラ
ック幅の３倍に限定されるわけではなく、整数倍の幅で
あれば何倍でもよい。このようにすることで、後述する
ように、磁気ヘッドを完全にオントラックさせることが
可能になる。
タ（ＶＣＭ：voice coil motor）を備えた駆動機構８に
より磁気ディスク１の径方向に回動可能に支持される。
また、例えば図３に示すように、トラックピッチがＴＰ
のデータトラック２３の３つ分すなわち略３ＴＰ分のヘ
ッド幅Ｗを有している。なお、磁気ヘッドの幅は、トラ
ック幅の３倍に限定されるわけではなく、整数倍の幅で
あれば何倍でもよい。このようにすることで、後述する
ように、磁気ヘッドを完全にオントラックさせることが
可能になる。
【００２４】また、磁気ヘッド１は、スピンドル９によ
り回転可能に支持され、後述するように、データゾーン
やザーボゾーンにアクセスし、得られた信号を電磁変換
し電気信号例えば電圧を出力する。また、記録再生アン
プ２は、後述するタイミング制御回路７からザーボゾー
ン検出信号が送られない間、磁気ヘッド１から出力され
る電圧を増幅し出力する。
り回転可能に支持され、後述するように、データゾーン
やザーボゾーンにアクセスし、得られた信号を電磁変換
し電気信号例えば電圧を出力する。また、記録再生アン
プ２は、後述するタイミング制御回路７からザーボゾー
ン検出信号が送られない間、磁気ヘッド１から出力され
る電圧を増幅し出力する。
【００２５】波形取り込み部３は、後述するトラッキン
グ信号の波形や再生信号の波形を取り込んで、レベル検
出部４に出力する。
グ信号の波形や再生信号の波形を取り込んで、レベル検
出部４に出力する。
【００２６】ここで、図４にデータゾーンのトラッキン
グパターンを示し、図５に該トラッキングパターンに磁
気ヘッドがアクセスして得られるトラッキング情報とし
てのトラッキング信号の波形を示す。
グパターンを示し、図５に該トラッキングパターンに磁
気ヘッドがアクセスして得られるトラッキング情報とし
てのトラッキング信号の波形を示す。
【００２７】図４において、データトラック２３のトラ
ック中心３３に通常の幅を持つヘッド（以下単に通常ヘ
ッドという）１０１あるいは本発明の幅広のヘッド（以
下単に幅広ヘッドという）１１がアクセスしている。ま
た、領域３１は、磁気ヘッドがアクセスすると後述する
Ａパターンのバースト信号を与える領域であり、領域３
２は後述するＢパターンのバースト信号を与える領域で
ある。
ック中心３３に通常の幅を持つヘッド（以下単に通常ヘ
ッドという）１０１あるいは本発明の幅広のヘッド（以
下単に幅広ヘッドという）１１がアクセスしている。ま
た、領域３１は、磁気ヘッドがアクセスすると後述する
Ａパターンのバースト信号を与える領域であり、領域３
２は後述するＢパターンのバースト信号を与える領域で
ある。
【００２８】図５のａは、通常ヘッド１０１がトラック
中心３３にアクセスしたときすなわちオントラック時に
おいて、得られるトラッキング信号の波形を示す。ま
た、オントラック時におけるＡパターン及びＢパターン
の振幅をＶとしている。図５のｂは、通常ヘッド１０１
がトラック中心３３からΔｒだけずれてアクセスしたと
きすなわちオフトラック時において、得られるトラッキ
ング信号の波形を示す。オフトラック効果として、振幅
Ｖと比較してＡパターンの振幅はＶより大きいＶ2 、Ｂ
パターンの振幅はＶより小さいＶ1 になり、このときの
オフトラック量はΔＶ＝Ｖ2 −Ｖ1 で示される。
中心３３にアクセスしたときすなわちオントラック時に
おいて、得られるトラッキング信号の波形を示す。ま
た、オントラック時におけるＡパターン及びＢパターン
の振幅をＶとしている。図５のｂは、通常ヘッド１０１
がトラック中心３３からΔｒだけずれてアクセスしたと
きすなわちオフトラック時において、得られるトラッキ
ング信号の波形を示す。オフトラック効果として、振幅
Ｖと比較してＡパターンの振幅はＶより大きいＶ2 、Ｂ
パターンの振幅はＶより小さいＶ1 になり、このときの
オフトラック量はΔＶ＝Ｖ2 −Ｖ1 で示される。
【００２９】また、図５のｃは、幅広ヘッド１１がオン
トラック時に得るトラッキング信号の波形を示す。Ａパ
ターン及びＢパターン共に、振幅が２Ｖとなる。図５の
ｄは、幅広ヘッド１１がオフトラック時に得るトラッキ
ング信号の波形を示す。オフトラック効果として、上述
と同様に、振幅２Ｖと比較してＡパターンの振幅は２Ｖ
より大きいＶ2´ 、Ｂパターンの振幅はＶより小さいＶ
1´ になり、このときのオフトラック量はΔＶ＝Ｖ2´
−Ｖ1´ で示される。
トラック時に得るトラッキング信号の波形を示す。Ａパ
ターン及びＢパターン共に、振幅が２Ｖとなる。図５の
ｄは、幅広ヘッド１１がオフトラック時に得るトラッキ
ング信号の波形を示す。オフトラック効果として、上述
と同様に、振幅２Ｖと比較してＡパターンの振幅は２Ｖ
より大きいＶ2´ 、Ｂパターンの振幅はＶより小さいＶ
1´ になり、このときのオフトラック量はΔＶ＝Ｖ2´
−Ｖ1´ で示される。
【００３０】このように、Ｖ1 及びＶ1´ やＶ2 及びＶ
2´ の大きさは異なるがΔＶは同じ値になる。このΔＶ
をトラッキング情報すなわちオフトラック量とすると、
通常ヘッドを用いて得られるトラッキング情報を扱う方
法と同じ方法で、磁気ヘッドのトラッキング制御すなわ
ちヘッド位置の制御を行うことが可能である。
2´ の大きさは異なるがΔＶは同じ値になる。このΔＶ
をトラッキング情報すなわちオフトラック量とすると、
通常ヘッドを用いて得られるトラッキング情報を扱う方
法と同じ方法で、磁気ヘッドのトラッキング制御すなわ
ちヘッド位置の制御を行うことが可能である。
【００３１】また、図６に磁気ヘッドが磁気ディスクの
データトラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式
的に示し、図７に検査用の信号を読み出して得られる再
生信号の波形を示す。
データトラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式
的に示し、図７に検査用の信号を読み出して得られる再
生信号の波形を示す。
【００３２】図６において、各データトラック２３には
書き込み領域１０２が存在しており、信号が磁化の向き
の並びにて記録されている。また、幅広ヘッドを用いて
信号の記録を行っているので、複数のトラックに同時に
かつ完全に位相が揃った状態で信号を書き込むことがで
きる。なお、この磁化の向きは矢印にて示される。
書き込み領域１０２が存在しており、信号が磁化の向き
の並びにて記録されている。また、幅広ヘッドを用いて
信号の記録を行っているので、複数のトラックに同時に
かつ完全に位相が揃った状態で信号を書き込むことがで
きる。なお、この磁化の向きは矢印にて示される。
【００３３】また、図７のａは、１トラック分の再生信
号の波形を示し、図７のｂは、３トラック分の再生信号
の波形を示す。なお、図７のｂに示すように、幅広ヘッ
ドを用いて再生信号を読み取ると、実際には各トラック
から取り出された信号が合成されて観測される。
号の波形を示し、図７のｂは、３トラック分の再生信号
の波形を示す。なお、図７のｂに示すように、幅広ヘッ
ドを用いて再生信号を読み取ると、実際には各トラック
から取り出された信号が合成されて観測される。
【００３４】図７のａ、ｂによれば、隣接したトラック
間で完全に位相が揃った信号を、複数のトラック幅を有
する幅広ヘッドを用いて読み出すため、トラッキング信
号とは異なり、１トラック分の再生信号の振幅の整数倍
例えば本具体例においては３倍の振幅を有した再生信号
が得られる。
間で完全に位相が揃った信号を、複数のトラック幅を有
する幅広ヘッドを用いて読み出すため、トラッキング信
号とは異なり、１トラック分の再生信号の振幅の整数倍
例えば本具体例においては３倍の振幅を有した再生信号
が得られる。
【００３５】図１に戻り、レベル検出部４は、後述する
タイミング制御回路７からザーボゾーン検出信号が送ら
れない間、波形取り込み部３にて取り込まれた再生信号
の波形に基づいて、単数あるいは複数の閾値にてレベル
検出する。これら閾値と再生信号の振幅と比較し２値化
された信号、例えば再生信号の振幅が閾値を超えた場合
“Ｈ”を、また、超えない場合“Ｌ”をそれぞれ出力す
る。なお、波形取り込み部３から送られるトラッキング
信号をＣＰＵ５に送る。
タイミング制御回路７からザーボゾーン検出信号が送ら
れない間、波形取り込み部３にて取り込まれた再生信号
の波形に基づいて、単数あるいは複数の閾値にてレベル
検出する。これら閾値と再生信号の振幅と比較し２値化
された信号、例えば再生信号の振幅が閾値を超えた場合
“Ｈ”を、また、超えない場合“Ｌ”をそれぞれ出力す
る。なお、波形取り込み部３から送られるトラッキング
信号をＣＰＵ５に送る。
【００３６】具体的には、上述のように、再生信号の振
幅は、同時に読み取るデータトラックの数に比例したも
のとなっているため、仮に読み取っているトラックの中
に、例えばビット単位で信号振幅が低下するいわゆるミ
ッシングエラーが存在する欠陥トラックが存在すると、
この欠陥トラックからの再生信号が得られないため、観
測される再生信号の波形の振幅値が減少する。また、こ
の減少する程度も、欠陥トラックの数に比例する。
幅は、同時に読み取るデータトラックの数に比例したも
のとなっているため、仮に読み取っているトラックの中
に、例えばビット単位で信号振幅が低下するいわゆるミ
ッシングエラーが存在する欠陥トラックが存在すると、
この欠陥トラックからの再生信号が得られないため、観
測される再生信号の波形の振幅値が減少する。また、こ
の減少する程度も、欠陥トラックの数に比例する。
【００３７】従って、この振幅値の減少を検出すること
で、磁気ディスクにどれぐらいの欠陥トラックが存在し
ているかが分かる。そこで、各欠陥トラックの数に対応
する再生信号の振幅を検出レベルとし、各検出レベルの
間に閾値を設けて、再生信号の振幅が各閾値を超えたか
否かでレベル検出を行うことで、欠陥トラックの数が分
かることになる。すなわち、３つのデータトラックを同
時に検査する場合、欠陥トラックが３つ、２つ、１つ、
なしの４種類のレベルが検出されればよい。
で、磁気ディスクにどれぐらいの欠陥トラックが存在し
ているかが分かる。そこで、各欠陥トラックの数に対応
する再生信号の振幅を検出レベルとし、各検出レベルの
間に閾値を設けて、再生信号の振幅が各閾値を超えたか
否かでレベル検出を行うことで、欠陥トラックの数が分
かることになる。すなわち、３つのデータトラックを同
時に検査する場合、欠陥トラックが３つ、２つ、１つ、
なしの４種類のレベルが検出されればよい。
【００３８】一般に、仮にＮトラックを同時に検査でき
るすなわち最初に同時にＮトラックに信号を書き込ん
で、この信号を同時に読み取ることが可能な磁気ヘッド
を用いる場合、この検出レベルが（Ｎ＋１）個あれば、
欠陥検出として十分に機能することになる。
るすなわち最初に同時にＮトラックに信号を書き込ん
で、この信号を同時に読み取ることが可能な磁気ヘッド
を用いる場合、この検出レベルが（Ｎ＋１）個あれば、
欠陥検出として十分に機能することになる。
【００３９】そこで、図８に再生信号の波形の例を示
す。
す。
【００４０】図８のａは、１トラック分の再生信号の波
形を示し、このときの信号振幅とＶとしている。図８の
ｂは、３トラック分の欠陥トラックの無い再生信号の波
形を示す。なお、このときの信号振幅は３Ｖとなる。
形を示し、このときの信号振幅とＶとしている。図８の
ｂは、３トラック分の欠陥トラックの無い再生信号の波
形を示す。なお、このときの信号振幅は３Ｖとなる。
【００４１】図８のｃは、欠陥トラックが１つある場合
に得られる再生信号の波形を示す。欠陥トラックに相当
する部分の信号振幅をＶ1 としている。同様に、図８の
ｄは、欠陥トラックが２つある場合に得られる再生信号
の波形を示し、欠陥トラックに相当する部分の信号振幅
をＶ2 としている。さらに、図８のｅは、欠陥トラック
が３つある場合に得られる再生信号の波形を示し、欠陥
トラックに相当する部分の信号振幅をＶ3 としている。
に得られる再生信号の波形を示す。欠陥トラックに相当
する部分の信号振幅をＶ1 としている。同様に、図８の
ｄは、欠陥トラックが２つある場合に得られる再生信号
の波形を示し、欠陥トラックに相当する部分の信号振幅
をＶ2 としている。さらに、図８のｅは、欠陥トラック
が３つある場合に得られる再生信号の波形を示し、欠陥
トラックに相当する部分の信号振幅をＶ3 としている。
【００４２】従って、検出レベルを３Ｖ、Ｖ1 、Ｖ2 、
Ｖ3 とし、閾値をそれぞれ３ＶとＶ 1 との間、Ｖ1 とＶ
2 との間及びＶ2 とＶ3 との間に設ければ、合成して得
られる再生信号中に幾つの欠陥トラックが存在している
かを知ることができる。
Ｖ3 とし、閾値をそれぞれ３ＶとＶ 1 との間、Ｖ1 とＶ
2 との間及びＶ2 とＶ3 との間に設ければ、合成して得
られる再生信号中に幾つの欠陥トラックが存在している
かを知ることができる。
【００４３】図１に戻り、ＣＰＵ５は、レベル検出部４
からの２値化された信号に基づいて、存在する欠陥トラ
ックの数を判別し判断結果を出力端子１０より出力す
る。さらに、トラッキング信号として送られるΔＶの値
に基づいて、磁気ヘッド１のトラッキング動作を制御す
る。
からの２値化された信号に基づいて、存在する欠陥トラ
ックの数を判別し判断結果を出力端子１０より出力す
る。さらに、トラッキング信号として送られるΔＶの値
に基づいて、磁気ヘッド１のトラッキング動作を制御す
る。
【００４４】検出レベルを４つ用いた動作例を、図９の
フローチャートに示す。なお、図９で検出レベル１は欠
陥トラックなし、検出レベル２は欠陥トラック１つ、検
出レベル３は欠陥トラック２つ、検出レベル４は欠陥ト
ラック３つとし、それぞれ第１の閾値は検出レベル１と
２との間に、第２の閾値は検出レベル２と３との間に、
第３の閾値は検出レベル３と４との間に設けられた値と
している。
フローチャートに示す。なお、図９で検出レベル１は欠
陥トラックなし、検出レベル２は欠陥トラック１つ、検
出レベル３は欠陥トラック２つ、検出レベル４は欠陥ト
ラック３つとし、それぞれ第１の閾値は検出レベル１と
２との間に、第２の閾値は検出レベル２と３との間に、
第３の閾値は検出レベル３と４との間に設けられた値と
している。
【００４５】上記フローチャートにおいて、ステップＳ
１では、第１の閾値で“Ｌ”の信号が存在するか否かが
判別される。この判別結果がＹＥＳ、すなわち第１の閾
値で“Ｌ”の信号が検出されたらステップＳ２に進む。
また、ステップＳ１での判別結果がＮＯ、すなわち第１
の閾値で“Ｌ”の信号が検出されない場合ステップＳ４
に進んで検出レベル１すなわち検査区間では欠陥トラッ
クがないと判断される。
１では、第１の閾値で“Ｌ”の信号が存在するか否かが
判別される。この判別結果がＹＥＳ、すなわち第１の閾
値で“Ｌ”の信号が検出されたらステップＳ２に進む。
また、ステップＳ１での判別結果がＮＯ、すなわち第１
の閾値で“Ｌ”の信号が検出されない場合ステップＳ４
に進んで検出レベル１すなわち検査区間では欠陥トラッ
クがないと判断される。
【００４６】ステップＳ２では、第２の閾値で“Ｌ”の
信号が存在するか否かが判別される。この判別結果がＹ
ＥＳ、すなわち第２の閾値で“Ｌ”の信号が検出された
らステップＳ３に進む。また、ステップＳ２での判別結
果がＮＯ、すなわち第２の閾値で“Ｌ”の信号が検出さ
れない場合ステップＳ５に進んで検出レベル２すなわち
検査区間では欠陥トラックが１つ存在していると判断さ
れる。
信号が存在するか否かが判別される。この判別結果がＹ
ＥＳ、すなわち第２の閾値で“Ｌ”の信号が検出された
らステップＳ３に進む。また、ステップＳ２での判別結
果がＮＯ、すなわち第２の閾値で“Ｌ”の信号が検出さ
れない場合ステップＳ５に進んで検出レベル２すなわち
検査区間では欠陥トラックが１つ存在していると判断さ
れる。
【００４７】ステップＳ３では、第３の閾値で“Ｌ”の
信号が存在するか否かが判別される。この判別結果がＹ
ＥＳ、すなわち第３の閾値で“Ｌ”の信号が検出された
らステップＳ７に進んで、検出レベル４すなわち検査区
間では欠陥トラックが３つ存在していると判断される。
また、ステップＳ３での判別結果がＮＯ、すなわち第３
の閾値で“Ｌ”の信号が検出されない場合ステップＳ６
に進んで検出レベル３すなわち検査区間では欠陥トラッ
クが２つ存在していると判断される。
信号が存在するか否かが判別される。この判別結果がＹ
ＥＳ、すなわち第３の閾値で“Ｌ”の信号が検出された
らステップＳ７に進んで、検出レベル４すなわち検査区
間では欠陥トラックが３つ存在していると判断される。
また、ステップＳ３での判別結果がＮＯ、すなわち第３
の閾値で“Ｌ”の信号が検出されない場合ステップＳ６
に進んで検出レベル３すなわち検査区間では欠陥トラッ
クが２つ存在していると判断される。
【００４８】図１に戻り、サーボゾーン同定回路６は、
磁気ヘッド１から送られて記録再生アンプ２にて増幅さ
れた再生信号の中から、サーボゾーンに基づいて得られ
る信号を取り出す部分である。また、ザーボゾーンは周
期的に設けられているため、ザーボゾーン同定回路６
は、ザーボゾーンが検出されるタイミングを検出してこ
のタイミングに関するデータをタイミング制御回路７に
出力する。
磁気ヘッド１から送られて記録再生アンプ２にて増幅さ
れた再生信号の中から、サーボゾーンに基づいて得られ
る信号を取り出す部分である。また、ザーボゾーンは周
期的に設けられているため、ザーボゾーン同定回路６
は、ザーボゾーンが検出されるタイミングを検出してこ
のタイミングに関するデータをタイミング制御回路７に
出力する。
【００４９】ここで、図１０にザーボゾーンに構成され
るパターンの一例を示す。
るパターンの一例を示す。
【００５０】図１０によれば、ザーボゾーン４４は、ザ
ーボゾーンであることを示すヘッダパターン４１、トラ
ックアドレスを示すアドレスコードパターン４２、精密
な位置情報を与えるファインパターンを有して成る部分
である。これらのパターンは、図中に示したものに限ら
ず、制御方式によって様々なものが考えられる。
ーボゾーンであることを示すヘッダパターン４１、トラ
ックアドレスを示すアドレスコードパターン４２、精密
な位置情報を与えるファインパターンを有して成る部分
である。これらのパターンは、図中に示したものに限ら
ず、制御方式によって様々なものが考えられる。
【００５１】また、複数のトラック幅を有する磁気ヘッ
ド１にてデータトラック２３をアクセスする場合、ヘッ
ダパターン４１は全てのトラックにわたり記録されてい
るため問題なく読み取ることができる。また、例えばザ
ーボゾーンが検出されるタイミングとして、ヘッダパタ
ーンが検出される周期が利用される。
ド１にてデータトラック２３をアクセスする場合、ヘッ
ダパターン４１は全てのトラックにわたり記録されてい
るため問題なく読み取ることができる。また、例えばザ
ーボゾーンが検出されるタイミングとして、ヘッダパタ
ーンが検出される周期が利用される。
【００５２】また、アドレスコードパターン４２につい
ては、トラックピッチよりも大きなトラック幅のヘッド
で再生すると、アドレスの分解能はヘッドトラック幅で
制限されてしまうため、下位ビットの判別ができなくな
るが、その分解能の範囲でトラックアドレスの復号化処
理を行うことは可能であるので欠陥トラックの検査する
範囲では問題にならない。
ては、トラックピッチよりも大きなトラック幅のヘッド
で再生すると、アドレスの分解能はヘッドトラック幅で
制限されてしまうため、下位ビットの判別ができなくな
るが、その分解能の範囲でトラックアドレスの復号化処
理を行うことは可能であるので欠陥トラックの検査する
範囲では問題にならない。
【００５３】また、ファインパターン４３については、
トラック毎に区別できなくなってしまうが、上述したよ
うに、磁気ヘッド１がオントラックの状態にあるか、あ
るいはオフトラックの状態にあるかを検出することが可
能であるため、正確な位置情報は必要なくなり、トラッ
ク毎の区別は必要なくなる。
トラック毎に区別できなくなってしまうが、上述したよ
うに、磁気ヘッド１がオントラックの状態にあるか、あ
るいはオフトラックの状態にあるかを検出することが可
能であるため、正確な位置情報は必要なくなり、トラッ
ク毎の区別は必要なくなる。
【００５４】タイミング制御回路７は、ザーボゾーン同
定回路６から上記ヘッダパターンが検出される周期に基
づいて、ザーボゾーン検出信号を出力し、各部に出力し
ている。上述のように、レベル検出部４の動作をこのザ
ーボゾーン検出信号に基づいて制御することで、磁気ヘ
ッド１がザーボゾーンを読み取っているときにレベル検
出が行われる虞がないため、レベル検出部４ではデータ
トラックの欠陥のみを正確にモニタする検出レベルが得
られる。
定回路６から上記ヘッダパターンが検出される周期に基
づいて、ザーボゾーン検出信号を出力し、各部に出力し
ている。上述のように、レベル検出部４の動作をこのザ
ーボゾーン検出信号に基づいて制御することで、磁気ヘ
ッド１がザーボゾーンを読み取っているときにレベル検
出が行われる虞がないため、レベル検出部４ではデータ
トラックの欠陥のみを正確にモニタする検出レベルが得
られる。
【００５５】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の
具体的な構成は、図１１に示すように、隣接するトラッ
ク間にガードバンドを有するとともに、トラックに偏心
を有する磁気ディスク１２のトラックの欠陥を検査する
磁気ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象と
なる磁気ディスク１２のトラック幅よりも広いヘッド幅
を有するとともに、該磁気ディスク１２を読み取る磁気
ヘッド１と、磁気ヘッド１にて得られた再生信号の磁気
ディスク１２の偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を
補正するエンベロープ補正回路１３と、エンベロープ補
正回路１３にて補正された再生信号の振幅を所定の閾値
を用いてレベル検出するレベル検出部４と、レベル検出
部４からの検出結果に応じて磁気ヘッド１にて読み取ら
れたトラックが欠陥であるか否かを判別するとともに、
当該磁気ヘッド１の磁気ディスク１２へのアクセス動作
を制御するＣＰＵ５とを備えることを特徴としている。
具体的な構成は、図１１に示すように、隣接するトラッ
ク間にガードバンドを有するとともに、トラックに偏心
を有する磁気ディスク１２のトラックの欠陥を検査する
磁気ディスクの欠陥検査装置において、検査する対象と
なる磁気ディスク１２のトラック幅よりも広いヘッド幅
を有するとともに、該磁気ディスク１２を読み取る磁気
ヘッド１と、磁気ヘッド１にて得られた再生信号の磁気
ディスク１２の偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を
補正するエンベロープ補正回路１３と、エンベロープ補
正回路１３にて補正された再生信号の振幅を所定の閾値
を用いてレベル検出するレベル検出部４と、レベル検出
部４からの検出結果に応じて磁気ヘッド１にて読み取ら
れたトラックが欠陥であるか否かを判別するとともに、
当該磁気ヘッド１の磁気ディスク１２へのアクセス動作
を制御するＣＰＵ５とを備えることを特徴としている。
【００５６】また、磁気ヘッド１にて読み取られた再生
信号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り出
すサーボゾーン同定回路６と、サーボゾーン同定回路６
からの検出結果に基づいて、上記レベル検出部４の動作
を制御するタイミング制御回路７とを備えることが挙げ
られる。
信号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り出
すサーボゾーン同定回路６と、サーボゾーン同定回路６
からの検出結果に基づいて、上記レベル検出部４の動作
を制御するタイミング制御回路７とを備えることが挙げ
られる。
【００５７】図１１によれば、磁気ヘッド１にて磁気デ
ィスク１２のトラックにアクセスして該トラックのデー
タゾーンに信号が書き込まれ、この信号が読み取られ再
生信号となる。ザーボゾーン同定回路６にて、再生信号
からザーボゾーンが検出される。また、タイミング制御
回路７は、このザーボゾーンが出現するタイミングに基
づいてレベル検出部４の動作を制御する。例えば、ザー
ボゾーンが出現するときは動作オフにするように制御信
号を出力する。
ィスク１２のトラックにアクセスして該トラックのデー
タゾーンに信号が書き込まれ、この信号が読み取られ再
生信号となる。ザーボゾーン同定回路６にて、再生信号
からザーボゾーンが検出される。また、タイミング制御
回路７は、このザーボゾーンが出現するタイミングに基
づいてレベル検出部４の動作を制御する。例えば、ザー
ボゾーンが出現するときは動作オフにするように制御信
号を出力する。
【００５８】一方、磁気ディスク１２はトラックに偏心
を有しているため磁気ヘッド１からの再生信号はこの偏
心に基づいて振幅の変動成分を有している。エンベロー
プ補正回路１３にて、この変動成分が規格化、補正され
る。
を有しているため磁気ヘッド１からの再生信号はこの偏
心に基づいて振幅の変動成分を有している。エンベロー
プ補正回路１３にて、この変動成分が規格化、補正され
る。
【００５９】また、レベル検出部４では、補正された再
生信号の振幅と、セグメント単位の平均電圧（以下ＳＡ
Ａという：segment average amplitude ）測定回路１４
から送られる所定の閾値とが比較され、比較結果として
の例えば上記振幅が該閾値を超えたか否かで２値化され
たデータが、ＣＰＵ５に出力される。ＣＰＵ５では、レ
ベル検出部４からの比較結果に基づいて、磁気ヘッド１
がアクセスしているトラックに欠陥があるか否かが判別
される。また、ＣＰＵ５から磁気ヘッド１のトラックア
クセス動作を制御する制御信号が磁気ヘッドを支持する
駆動機構８に出力される。
生信号の振幅と、セグメント単位の平均電圧（以下ＳＡ
Ａという：segment average amplitude ）測定回路１４
から送られる所定の閾値とが比較され、比較結果として
の例えば上記振幅が該閾値を超えたか否かで２値化され
たデータが、ＣＰＵ５に出力される。ＣＰＵ５では、レ
ベル検出部４からの比較結果に基づいて、磁気ヘッド１
がアクセスしているトラックに欠陥があるか否かが判別
される。また、ＣＰＵ５から磁気ヘッド１のトラックア
クセス動作を制御する制御信号が磁気ヘッドを支持する
駆動機構８に出力される。
【００６０】以上のことから、検査時に検査用の磁気ヘ
ッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要がない
ため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の実現
が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査する
ため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気ディ
スクの供給が可能になる。
ッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要がない
ため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の実現
が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査する
ため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気ディ
スクの供給が可能になる。
【００６１】なお、図１１に示される構成で、図１と同
じ番号を伏した構成で特に説明しない部分は、上述と同
様の動作をする。
じ番号を伏した構成で特に説明しない部分は、上述と同
様の動作をする。
【００６２】磁気ディスク１２は、図１２に示すよう
に、データトラック２３が磁気ヘッド１の進行方向ｓに
対して偏心を有した構成となっている。
に、データトラック２３が磁気ヘッド１の進行方向ｓに
対して偏心を有した構成となっている。
【００６３】磁気ヘッド１は、例えばトラックに偏心を
有する磁気ディスクの３トラック分の読み出しを行うた
めにヘッド幅ＷはトラックピッチＴＰが３つ分よりも少
し幅広になっている。
有する磁気ディスクの３トラック分の読み出しを行うた
めにヘッド幅ＷはトラックピッチＴＰが３つ分よりも少
し幅広になっている。
【００６４】図１３に、磁気ヘッド１がデータトラック
２３にアクセスして検査用の信号を記録した状態を模式
的に示す。
２３にアクセスして検査用の信号を記録した状態を模式
的に示す。
【００６５】図１３によれば、磁気ヘッド１のトラック
幅は上述のように３ＴＰよりも少し幅広であるため、目
的のトラックの前後のトラックの一部分にも信号が書き
込まれている。また、上述のように、複数のトラックに
同時に書き込まれる信号は、完全に位相が揃っている。
なお、この磁化の向きは矢印にて示される。
幅は上述のように３ＴＰよりも少し幅広であるため、目
的のトラックの前後のトラックの一部分にも信号が書き
込まれている。また、上述のように、複数のトラックに
同時に書き込まれる信号は、完全に位相が揃っている。
なお、この磁化の向きは矢印にて示される。
【００６６】波形取り込み部３は、上述のように、磁気
ヘッド１にて取り込んで記録再生アンプ２にて増幅した
再生信号の波形を取り込んだ後、この取り込んだ再生信
号をエンベロープ補正回路１３に送る。
ヘッド１にて取り込んで記録再生アンプ２にて増幅した
再生信号の波形を取り込んだ後、この取り込んだ再生信
号をエンベロープ補正回路１３に送る。
【００６７】ここで、取り込まれた再生信号は、図７に
示したように、ある振幅値を有している周期性のある曲
線であるが、上述したようにトラックの偏心に基づいた
振幅変動成分があるため、例えば図１４のａに示すよう
に、包絡線すなわちエンベロープ（envelope）をとる
と、エンベロープが波打ったような形状になる。
示したように、ある振幅値を有している周期性のある曲
線であるが、上述したようにトラックの偏心に基づいた
振幅変動成分があるため、例えば図１４のａに示すよう
に、包絡線すなわちエンベロープ（envelope）をとる
と、エンベロープが波打ったような形状になる。
【００６８】なお、図１４のａは、磁気ディスク１２が
一周する間に磁気ヘッド１が読み取った再生信号の波形
の包絡線を示す。また、図１４のｂは、後述するよう
に、図１４のａに示した包絡線の振幅変動成分を補正し
て得られる再生信号の波形の包絡線を示す。なお、図１
４のａ、ｂ共に、再生信号の包絡線では、ザーボゾーン
に基づく出力電圧から成る領域ＳＺと、データゾーンに
基づく出力電圧から成る領域ＤＺとが周期的に交互に現
れる。
一周する間に磁気ヘッド１が読み取った再生信号の波形
の包絡線を示す。また、図１４のｂは、後述するよう
に、図１４のａに示した包絡線の振幅変動成分を補正し
て得られる再生信号の波形の包絡線を示す。なお、図１
４のａ、ｂ共に、再生信号の包絡線では、ザーボゾーン
に基づく出力電圧から成る領域ＳＺと、データゾーンに
基づく出力電圧から成る領域ＤＺとが周期的に交互に現
れる。
【００６９】エンベロープ補正回路１３は、図１４のａ
に示したように波形取り込み部３からのトラックの偏心
に基づいた振幅変動成分のある再生信号の波形を、図１
４のｂに示すように、出力電圧を規格化、平滑化して変
動成分を低減して、すなわち変動成分を補正して、レベ
ル検出部４及びＳＡＡ測定回路１４に出力する。
に示したように波形取り込み部３からのトラックの偏心
に基づいた振幅変動成分のある再生信号の波形を、図１
４のｂに示すように、出力電圧を規格化、平滑化して変
動成分を低減して、すなわち変動成分を補正して、レベ
ル検出部４及びＳＡＡ測定回路１４に出力する。
【００７０】ここで、図１５にエンベロープ補正回路１
３の具体例として自動利得制御（ＡＧＣ：automatic ga
in control）回路を用い、このＡＧＣ回路にて振幅変動
成分を補正する動作を模式的に表す図である。
３の具体例として自動利得制御（ＡＧＣ：automatic ga
in control）回路を用い、このＡＧＣ回路にて振幅変動
成分を補正する動作を模式的に表す図である。
【００７１】図１５において、ＡＧＣ回路６１は、再生
信号または入力波形５１の振幅値が大きいときは利得を
落として、小さいときは利得を上げて、一定の振幅の出
力信号を発生する。すなわち、入力波形５１の振幅値の
変動が平滑化、補正されて出力波形５４が得られる。こ
の際に、入力波形５１の包絡線５２が平滑化されて、一
定の振幅である出力波形５４の包絡線５５に変換されて
出力される。このとき、欠陥領域５３は、そのまま残る
ため後述する欠陥トラックの検出には支障を来す虞がな
い。
信号または入力波形５１の振幅値が大きいときは利得を
落として、小さいときは利得を上げて、一定の振幅の出
力信号を発生する。すなわち、入力波形５１の振幅値の
変動が平滑化、補正されて出力波形５４が得られる。こ
の際に、入力波形５１の包絡線５２が平滑化されて、一
定の振幅である出力波形５４の包絡線５５に変換されて
出力される。このとき、欠陥領域５３は、そのまま残る
ため後述する欠陥トラックの検出には支障を来す虞がな
い。
【００７２】また、図１４のａの変動成分すなわち波打
ちの振幅は、ヘッド幅を磁気ディスクのトラックピッチ
で規格化したときの余りに相当し、波打ちの数は、偏心
量をトラックピッチで規格化した量に対応する。従っ
て、この波打ちを計測した結果を用いて、全体の振幅を
規格化すれば平坦なエンベロープを持った波形が得られ
ることになる。
ちの振幅は、ヘッド幅を磁気ディスクのトラックピッチ
で規格化したときの余りに相当し、波打ちの数は、偏心
量をトラックピッチで規格化した量に対応する。従っ
て、この波打ちを計測した結果を用いて、全体の振幅を
規格化すれば平坦なエンベロープを持った波形が得られ
ることになる。
【００７３】そこで、この方法で規格化を行う例とし
て、図１６に、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換回路
と、エンベロープ検出部と、規格化処理回路とを備えた
構成を用いて、振幅変動成分を補正する動作を示す。
て、図１６に、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換回路
と、エンベロープ検出部と、規格化処理回路とを備えた
構成を用いて、振幅変動成分を補正する動作を示す。
【００７４】図１６において、例えば関数ｖ（ｔ）で表
される入力波形５１がＡ／Ｄ変換回路にてデジタル信号
に変換された後、エンベロープ検出部にて関数ｖ１
（ｔ）で表されるエンベロープ５２ａと関数ｖ２（ｔ）
で表されるエンベロープ５２ｂとが検出され出力され
る。この２つのエンベロープが、規格化処理回路にて例
えば規格化関数としてｖn ＝（ｖ（ｔ）−ｖ２（ｔ））
／（ｖ１（ｔ）−ｖ２（ｔ））−１．０が用いられ、規
格化処理される。規格化処理した出力波形５４の包絡線
５５が出力される。
される入力波形５１がＡ／Ｄ変換回路にてデジタル信号
に変換された後、エンベロープ検出部にて関数ｖ１
（ｔ）で表されるエンベロープ５２ａと関数ｖ２（ｔ）
で表されるエンベロープ５２ｂとが検出され出力され
る。この２つのエンベロープが、規格化処理回路にて例
えば規格化関数としてｖn ＝（ｖ（ｔ）−ｖ２（ｔ））
／（ｖ１（ｔ）−ｖ２（ｔ））−１．０が用いられ、規
格化処理される。規格化処理した出力波形５４の包絡線
５５が出力される。
【００７５】また、上述の規格化は、必要とされる測定
精度によっては行う必要がない。すなわち、レベル検出
のための閾値の設定精度に対して上記偏心に起因する振
幅変動が無視できる程度であれば、規格化は必要なくな
る。例えば、ヘッド幅が磁気ディスクのトラックピッチ
に正確に一致した場合はトラックの偏心による振幅変動
は生じない。
精度によっては行う必要がない。すなわち、レベル検出
のための閾値の設定精度に対して上記偏心に起因する振
幅変動が無視できる程度であれば、規格化は必要なくな
る。例えば、ヘッド幅が磁気ディスクのトラックピッチ
に正確に一致した場合はトラックの偏心による振幅変動
は生じない。
【００７６】図１１に戻り、ＳＡＡ測定回路１４は、エ
ンベロープ補正回路１３からの出力波形の振幅を測定
し、ザーボセグメント単位の平均レベルを検出する。な
お、この平均レベルに応じて検出レベル及び比較用の閾
値が設定される。また、設定された閾値は、レベル検出
部４に出力される。また、ＳＡＡ測定回路１４はタイミ
ング制御回路７からの上記ザーボゾーン検出信号に基づ
いて制御される。例えば、ザーボゾーンからの再生信号
が検出されている間は、ＳＡＡ測定回路１４の動作は停
止する。
ンベロープ補正回路１３からの出力波形の振幅を測定
し、ザーボセグメント単位の平均レベルを検出する。な
お、この平均レベルに応じて検出レベル及び比較用の閾
値が設定される。また、設定された閾値は、レベル検出
部４に出力される。また、ＳＡＡ測定回路１４はタイミ
ング制御回路７からの上記ザーボゾーン検出信号に基づ
いて制御される。例えば、ザーボゾーンからの再生信号
が検出されている間は、ＳＡＡ測定回路１４の動作は停
止する。
【００７７】ここで、通常、閾値は、ＴＡＡを基準とし
てＴＡＡの何％以下を欠陥とするといった具合に設定さ
れるが、磁気ヘッドがガードバンド部を横切る際には、
再生信号の振幅が低下するので、局所的には欠陥を正確
にモニタできないことになる。そこで、ＳＡＡを用いる
ことで、より狭い範囲について精密な欠陥トラックの有
無を正確にモニタすることが可能になる。
てＴＡＡの何％以下を欠陥とするといった具合に設定さ
れるが、磁気ヘッドがガードバンド部を横切る際には、
再生信号の振幅が低下するので、局所的には欠陥を正確
にモニタできないことになる。そこで、ＳＡＡを用いる
ことで、より狭い範囲について精密な欠陥トラックの有
無を正確にモニタすることが可能になる。
【００７８】以上、上記磁気ディスクの欠陥検査装置の
具体的な説明を行ったが、本発明は上述の具体例に限定
されることはなく、種々の変更が可能である。
具体的な説明を行ったが、本発明は上述の具体例に限定
されることはなく、種々の変更が可能である。
【００７９】例えば、磁気ヘッドとして、磁気ディスク
のトラック３つ分のヘッド幅の磁気ヘッドを用いたが、
さらに、幅広のヘッド幅を有する磁気ヘッドを用いても
よい。
のトラック３つ分のヘッド幅の磁気ヘッドを用いたが、
さらに、幅広のヘッド幅を有する磁気ヘッドを用いても
よい。
【００８０】また、欠陥の検出として、ミッシングエラ
ーを検出する例を説明したが、他に、ミッシングエラー
とは逆に読み取っているトラックの中に、例えばビット
単位で信号振幅が上昇するいわゆるスパイクパルスや、
ビット単位よりも大きな単位で信号が欠落したり逆に過
剰になるいわゆるモデュレーションエラーや、一旦記録
した検査用の信号を消去した後で磁気ヘッドで信号が拾
われてしまう、すなわち磁気ディスクの何らかの欠陥に
より信号が残ったようになるいわゆるエキストラパルス
の検出を行うことも可能である。
ーを検出する例を説明したが、他に、ミッシングエラー
とは逆に読み取っているトラックの中に、例えばビット
単位で信号振幅が上昇するいわゆるスパイクパルスや、
ビット単位よりも大きな単位で信号が欠落したり逆に過
剰になるいわゆるモデュレーションエラーや、一旦記録
した検査用の信号を消去した後で磁気ヘッドで信号が拾
われてしまう、すなわち磁気ディスクの何らかの欠陥に
より信号が残ったようになるいわゆるエキストラパルス
の検出を行うことも可能である。
【００８１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る磁気
ディスクの欠陥検査装置によれば、検査時に検査用の磁
気ヘッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要が
ないため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の
実現が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査
するため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気
ディスクの供給が可能になる。
ディスクの欠陥検査装置によれば、検査時に検査用の磁
気ヘッドを磁気ディスクのトラックに追従させる必要が
ないため、簡単な構成で磁気ディスクの欠陥検査装置の
実現が可能になる。また、複数のトラックを同時に検査
するため、検査時間が短縮される。さらに、安価な磁気
ディスクの供給が可能になる。
【図１】本発明に係る磁気ディスクの欠陥検査装置の具
体的な構成の一例を示す図である。
体的な構成の一例を示す図である。
【図２】上記磁気ディスクの欠陥検査装置にて検査され
る離散トラック型磁気ディスクの構成例を示す図であ
る。
る離散トラック型磁気ディスクの構成例を示す図であ
る。
【図３】上記磁気ディスクの欠陥検査装置における磁気
ヘッドのヘッド幅と、検査する磁気ディスクのトラック
ピッチとの関係を示す図である。
ヘッドのヘッド幅と、検査する磁気ディスクのトラック
ピッチとの関係を示す図である。
【図４】上記磁気ディスクのデータゾーンのトラッキン
グパターンを示す図である。
グパターンを示す図である。
【図５】上記トラッキングパターンに上記磁気ヘッドが
アクセスして得られるトラッキング信号の波形を示す図
である。
アクセスして得られるトラッキング信号の波形を示す図
である。
【図６】上記磁気ヘッドが検査する磁気ディスクのデー
タトラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式的に
示す図である。
タトラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式的に
示す図である。
【図７】上記磁気ヘッドにより磁気ディスクに記録した
検査用の信号を読み取って得られる再生信号の波形を示
す図である。
検査用の信号を読み取って得られる再生信号の波形を示
す図である。
【図８】上記磁気ディスクの欠陥検査装置で得られる再
生信号を示す図である。
生信号を示す図である。
【図９】上記磁気ディスクの欠陥検査装置におけるＣＰ
Ｕでの欠陥判別動作を示すフローチャートである。
Ｕでの欠陥判別動作を示すフローチャートである。
【図１０】上記磁気ディスクのザーボゾーンを構成する
ザーボパターンの一例を示す図である。
ザーボパターンの一例を示す図である。
【図１１】本発明に係る磁気ディスクの欠陥検査装置の
具体的な構成の他の一例を示す図である。
具体的な構成の他の一例を示す図である。
【図１２】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の例
における磁気ヘッドのヘッド幅と、検査する磁気ディス
クのトラックピッチとの関係を示す図である。
における磁気ヘッドのヘッド幅と、検査する磁気ディス
クのトラックピッチとの関係を示す図である。
【図１３】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の例
において、磁気ヘッドが検査する磁気ディスクのデータ
トラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式的に示
す図である。
において、磁気ヘッドが検査する磁気ディスクのデータ
トラックに検査用の信号を書き込んだ様子を模式的に示
す図である。
【図１４】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の例
において、上記検査用の信号を読み取って得られる再生
信号の包絡線と、この包絡線を規格化して得られる包絡
線を示す図である。
において、上記検査用の信号を読み取って得られる再生
信号の包絡線と、この包絡線を規格化して得られる包絡
線を示す図である。
【図１５】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の例
において、エンベロープ補正回路の具体的な動作の一例
を説明する図である。
において、エンベロープ補正回路の具体的な動作の一例
を説明する図である。
【図１６】上記磁気ディスクの欠陥検査装置の第２の例
において、エンベロープ補正回路の具体的な動作の他の
一例を説明する図である。
において、エンベロープ補正回路の具体的な動作の他の
一例を説明する図である。
１ 磁気ヘッド ４ レベル検出部 ５ ＣＰＵ ６ ザーボゾーン同定回路 ７ タイミング制御回路 １１、１２ 磁気ディスク １３ エンベロープ補正回路 １４ ＳＡＡ測定回路
【手続補正書】
【提出日】平成７年１２月５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項５
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００４】ところで、前記の連続膜型の磁気ディスク
の欠陥検査装置は、検査したいトラック幅の磁気ヘッド
を用いて径方向に移動させながら、上記磁気ディスク上
のデータゾーンに信号を記録し再生して、欠陥を検出し
ている。この欠陥の判断基準は、トラック単位の平均振
幅いわゆるＴＡＡ（track average amplitude ）として
いる。また、サーボゾーンのパターン（以下単にサーボ
パターンという）を一括成形するものも存在している。
の欠陥検査装置は、検査したいトラック幅の磁気ヘッド
を用いて径方向に移動させながら、上記磁気ディスク上
のデータゾーンに信号を記録し再生して、欠陥を検出し
ている。この欠陥の判断基準は、トラック単位の平均振
幅いわゆるＴＡＡ（track average amplitude ）として
いる。また、サーボゾーンのパターン（以下単にサーボ
パターンという）を一括成形するものも存在している。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】また、サーボパターンを一括成形する方法
をとると、サーボゾーンそのものも全て欠陥として検出
されてしまう。
をとると、サーボゾーンそのものも全て欠陥として検出
されてしまう。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１８】図１によれば、磁気ヘッド１にて磁気ディ
スク１１の複数のトラックにアクセスして、アクセスし
た全てのトラックのデータゾーンに信号が書き込まれ、
この信号が読み取られ再生信号となる。サーボゾーン同
定回路６にて、再生信号からサーボゾーンが検出され
る。また、タイミング制御回路７は、このサーボゾーン
が出現するタイミングに基づいてレベル検出部４の動作
を制御する。例えば、サーボゾーンが出現するときは動
作オフにするように制御信号を出力する。
スク１１の複数のトラックにアクセスして、アクセスし
た全てのトラックのデータゾーンに信号が書き込まれ、
この信号が読み取られ再生信号となる。サーボゾーン同
定回路６にて、再生信号からサーボゾーンが検出され
る。また、タイミング制御回路７は、このサーボゾーン
が出現するタイミングに基づいてレベル検出部４の動作
を制御する。例えば、サーボゾーンが出現するときは動
作オフにするように制御信号を出力する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２４】また、磁気ヘッド１は、スピンドル９によ
り回転可能に支持され、後述するように、データゾーン
やサーボゾーンにアクセスし、得られた信号を電磁変換
し電気信号例えば電圧を出力する。また、記録再生アン
プ２は、後述するタイミング制御回路７からサーボゾー
ン検出信号が送られない間、磁気ヘッド１から出力され
る電圧を増幅し出力する。
り回転可能に支持され、後述するように、データゾーン
やサーボゾーンにアクセスし、得られた信号を電磁変換
し電気信号例えば電圧を出力する。また、記録再生アン
プ２は、後述するタイミング制御回路７からサーボゾー
ン検出信号が送られない間、磁気ヘッド１から出力され
る電圧を増幅し出力する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３５】図１に戻り、レベル検出部４は、後述する
タイミング制御回路７からサーボゾーン検出信号が送ら
れない間、波形取り込み部３にて取り込まれた再生信号
の波形に基づいて、単数あるいは複数の閾値にてレベル
検出する。これら閾値と再生信号の振幅と比較し２値化
された信号、例えば再生信号の振幅が閾値を超えた場合
“Ｈ”を、また、超えない場合“Ｌ”をそれぞれ出力す
る。なお、波形取り込み部３から送られるトラッキング
信号をＣＰＵ５に送る。
タイミング制御回路７からサーボゾーン検出信号が送ら
れない間、波形取り込み部３にて取り込まれた再生信号
の波形に基づいて、単数あるいは複数の閾値にてレベル
検出する。これら閾値と再生信号の振幅と比較し２値化
された信号、例えば再生信号の振幅が閾値を超えた場合
“Ｈ”を、また、超えない場合“Ｌ”をそれぞれ出力す
る。なお、波形取り込み部３から送られるトラッキング
信号をＣＰＵ５に送る。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００４８】図１に戻り、サーボゾーン同定回路６は、
磁気ヘッド１から送られて記録再生アンプ２にて増幅さ
れた再生信号の中から、サーボゾーンに基づいて得られ
る信号を取り出す部分である。また、サーボゾーンは周
期的に設けられているため、サーボゾーン同定回路６
は、サーボゾーンが検出されるタイミングを検出してこ
のタイミングに関するデータをタイミング制御回路７に
出力する。
磁気ヘッド１から送られて記録再生アンプ２にて増幅さ
れた再生信号の中から、サーボゾーンに基づいて得られ
る信号を取り出す部分である。また、サーボゾーンは周
期的に設けられているため、サーボゾーン同定回路６
は、サーボゾーンが検出されるタイミングを検出してこ
のタイミングに関するデータをタイミング制御回路７に
出力する。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００４９】ここで、図１０にサーボゾーンに構成され
るパターンの一例を示す。
るパターンの一例を示す。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５０】図１０によれば、サーボゾーン４４は、サ
ーボゾーンであることを示すヘッダパターン４１、トラ
ックアドレスを示すアドレスコードパターン４２、精密
な位置情報を与えるファインパターンを有して成る部分
である。これらのパターンは、図中に示したものに限ら
ず、制御方式によって様々なものが考えられる。
ーボゾーンであることを示すヘッダパターン４１、トラ
ックアドレスを示すアドレスコードパターン４２、精密
な位置情報を与えるファインパターンを有して成る部分
である。これらのパターンは、図中に示したものに限ら
ず、制御方式によって様々なものが考えられる。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５１】また、複数のトラック幅を有する磁気ヘッ
ド１にてデータトラック２３をアクセスする場合、ヘッ
ダパターン４１は全てのトラックにわたり記録されてい
るため問題なく読み取ることができる。また、例えばサ
ーボゾーンが検出されるタイミングとして、ヘッダパタ
ーンが検出される周期が利用される。
ド１にてデータトラック２３をアクセスする場合、ヘッ
ダパターン４１は全てのトラックにわたり記録されてい
るため問題なく読み取ることができる。また、例えばサ
ーボゾーンが検出されるタイミングとして、ヘッダパタ
ーンが検出される周期が利用される。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５４】タイミング制御回路７は、サーボゾーン同
定回路６から上記ヘッダパターンが検出される周期に基
づいて、サーボゾーン検出信号を出力し、各部に出力し
ている。上述のように、レベル検出部４の動作をこのサ
ーボゾーン検出信号に基づいて制御することで、磁気ヘ
ッド１がサーボゾーンを読み取っているときにレベル検
出が行われる虞がないため、レベル検出部４ではデータ
トラックの欠陥のみを正確にモニタする検出レベルが得
られる。
定回路６から上記ヘッダパターンが検出される周期に基
づいて、サーボゾーン検出信号を出力し、各部に出力し
ている。上述のように、レベル検出部４の動作をこのサ
ーボゾーン検出信号に基づいて制御することで、磁気ヘ
ッド１がサーボゾーンを読み取っているときにレベル検
出が行われる虞がないため、レベル検出部４ではデータ
トラックの欠陥のみを正確にモニタする検出レベルが得
られる。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５７】図１１によれば、磁気ヘッド１にて磁気デ
ィスク１２のトラックにアクセスして該トラックのデー
タゾーンに信号が書き込まれ、この信号が読み取られ再
生信号となる。サーボゾーン同定回路６にて、再生信号
からサーボゾーンが検出される。また、タイミング制御
回路７は、このサーボゾーンが出現するタイミングに基
づいてレベル検出部４の動作を制御する。例えば、サー
ボゾーンが出現するときは動作オフにするように制御信
号を出力する。
ィスク１２のトラックにアクセスして該トラックのデー
タゾーンに信号が書き込まれ、この信号が読み取られ再
生信号となる。サーボゾーン同定回路６にて、再生信号
からサーボゾーンが検出される。また、タイミング制御
回路７は、このサーボゾーンが出現するタイミングに基
づいてレベル検出部４の動作を制御する。例えば、サー
ボゾーンが出現するときは動作オフにするように制御信
号を出力する。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６８】なお、図１４のａは、磁気ディスク１２が
一周する間に磁気ヘッド１が読み取った再生信号の波形
の包絡線を示す。また、図１４のｂは、後述するよう
に、図１４のａに示した包絡線の振幅変動成分を補正し
て得られる再生信号の波形の包絡線を示す。なお、図１
４のａ、ｂ共に、再生信号の包絡線では、サーボゾーン
に基づく出力電圧から成る領域ＳＺと、データゾーンに
基づく出力電圧から成る領域ＤＺとが周期的に交互に現
れる。
一周する間に磁気ヘッド１が読み取った再生信号の波形
の包絡線を示す。また、図１４のｂは、後述するよう
に、図１４のａに示した包絡線の振幅変動成分を補正し
て得られる再生信号の波形の包絡線を示す。なお、図１
４のａ、ｂ共に、再生信号の包絡線では、サーボゾーン
に基づく出力電圧から成る領域ＳＺと、データゾーンに
基づく出力電圧から成る領域ＤＺとが周期的に交互に現
れる。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００７６】図１１に戻り、ＳＡＡ測定回路１４は、エ
ンベロープ補正回路１３からの出力波形の振幅を測定
し、サーボセグメント単位の平均レベルを検出する。な
お、この平均レベルに応じて検出レベル及び比較用の閾
値が設定される。また、設定された閾値は、レベル検出
部４に出力される。また、ＳＡＡ測定回路１４はタイミ
ング制御回路７からの上記サーボゾーン検出信号に基づ
いて制御される。例えば、サーボゾーンからの再生信号
が検出されている間は、ＳＡＡ測定回路１４の動作は停
止する。
ンベロープ補正回路１３からの出力波形の振幅を測定
し、サーボセグメント単位の平均レベルを検出する。な
お、この平均レベルに応じて検出レベル及び比較用の閾
値が設定される。また、設定された閾値は、レベル検出
部４に出力される。また、ＳＡＡ測定回路１４はタイミ
ング制御回路７からの上記サーボゾーン検出信号に基づ
いて制御される。例えば、サーボゾーンからの再生信号
が検出されている間は、ＳＡＡ測定回路１４の動作は停
止する。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１０】上記磁気ディスクのサーボゾーンを構成する
サーボパターンの一例を示す図である。
サーボパターンの一例を示す図である。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】 １ 磁気ヘッド ４ レベル検出部 ５ ＣＰＵ ６ サーボゾーン同定回路 ７ タイミング制御回路 １１、１２ 磁気ディスク １３ エンベロープ補正回路 １４ ＳＡＡ測定回路
【手続補正１８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１１
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１１】
Claims (13)
- 【請求項１】 隣接するトラック間にデータの書き込み
ができないような構造のガードバンドを有する離散トラ
ック型磁気ディスクのトラックの欠陥を検査する磁気デ
ィスクの欠陥検査装置において、 検査する対象となる磁気ディスクのトラック幅よりも広
いヘッド幅を有するとともに、該磁気ディスクを読み取
る磁気ヘッドと、 上記磁気ヘッドにて読み取られた再生信号の振幅を所定
の閾値を用いてレベル検出するレベル検出手段と、 上記レベル検出手段からの検出結果に応じて上記磁気ヘ
ッドにて読み取られたトラックが欠陥であるか否かを判
別するとともに、上記磁気ヘッドの上記磁気ディスクへ
のアクセス動作を制御する制御手段とを備えることを特
徴とする磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項２】 上記磁気ヘッドにて読み取られた再生信
号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り出す
サーボゾーン検出手段と、 上記サーボゾーン検出手段からの検出結果に基づいて、
上記レベル検出手段の動作を制御するレベル検出制御手
段とを備えることを特徴とする請求項１記載の磁気ディ
スクの欠陥検査装置。 - 【請求項３】 上記磁気ヘッドは、磁気ディスクのトラ
ックピッチの整数倍のトラック幅を持つとともに、同時
に１トラック分以上の範囲の欠陥検査を行うことを特徴
とする請求項１記載の磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項４】 上記レベル検出手段は、複数の閾値に基
づいて複数のレベルを検出することを特徴とする請求項
１記載の磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項５】 上記レベル検出手段は、閾値を電圧で設
定し、基準となる基準電圧としてザーボセグメント単位
の平均電圧を用いることを特徴とする請求項１記載の磁
気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項６】 隣接するトラック間にガードバンドを有
するとともに、トラックに偏心を有する磁気ディスクの
トラックの欠陥を検査する磁気ディスクの欠陥検査装置
において、 検査する対象となる磁気ディスクのトラック幅より広い
ヘッド幅を有するとともに、該磁気ディスクを読み取る
磁気ヘッドと、 上記磁気ヘッドにて得られた再生信号の磁気ディスクの
偏心に基づいて生じる振幅の変動成分を補正する補正手
段と、 上記補正手段にて補正された再生信号の振幅を所定の閾
値を用いてレベル検出するレベル検出手段と、 上記レベル検出手段からの検出結果に応じて上記磁気ヘ
ッドにて読み取られたトラックが欠陥であるか否かを判
別するとともに、上記磁気ヘッドの上記磁気ディスクへ
のアクセス動作を制御する制御手段とを備えることを特
徴とする磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項７】 上記磁気ヘッドにて読み取られた再生信
号からサーボゾーンに基づいて得られる信号を取り出す
サーボゾーン検出手段と、 上記サーボゾーン検出手段からの検出結果に基づいて、
上記レベル検出手段の動作を制御するレベル検出制御手
段とを備えることを特徴とする請求項６記載の磁気ディ
スクの欠陥検査装置。 - 【請求項８】 上記磁気ヘッドは、１トラックピッチ以
上の幅を持つとともに、同時に１トラック分以上の範囲
の欠陥検査を行うことを特徴とする請求項６記載の磁気
ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項９】 上記レベル検出手段は、複数の閾値に基
づいて複数のレベルを検出することを特徴とする請求項
６記載の磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項１０】 上記レベル検出手段は、閾値を電圧で
設定し、基準となる基準電圧としてザーボセグメント単
位の平均電圧を用いることを特徴とする請求項６記載の
磁気ディスクの欠陥検査装置。 - 【請求項１１】 上記補正手段は、再生信号の包絡線の
振幅を補正することを特徴とする請求項６記載の磁気デ
ィスクの欠陥検査装置。 - 【請求項１２】 上記補正手段は、自動利得制御回路を
有することを特徴とする請求項６記載の磁気ディスクの
欠陥検査装置。 - 【請求項１３】 上記補正手段は、トラックの偏心によ
り生じる再生信号の振幅の変動成分を検出して、この検
出された変動成分に基づいて該再生信号全体の振幅を規
格化することを特徴とする請求項６記載の磁気ディスク
の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24164895A JPH0991912A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24164895A JPH0991912A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0991912A true JPH0991912A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17077448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24164895A Pending JPH0991912A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 磁気ディスクの欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0991912A (ja) |
-
1995
- 1995-09-20 JP JP24164895A patent/JPH0991912A/ja active Pending
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| A02 | Decision of refusal |
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