JPS5810880B2 - 銅被膜の密着性向上方法 - Google Patents

銅被膜の密着性向上方法

Info

Publication number
JPS5810880B2
JPS5810880B2 JP54111241A JP11124179A JPS5810880B2 JP S5810880 B2 JPS5810880 B2 JP S5810880B2 JP 54111241 A JP54111241 A JP 54111241A JP 11124179 A JP11124179 A JP 11124179A JP S5810880 B2 JPS5810880 B2 JP S5810880B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
copper coating
copper
adherend
adhesion
heat treatment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP54111241A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5635497A (en
Inventor
笠次徹
千田厚生
中川卓二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP54111241A priority Critical patent/JPS5810880B2/ja
Priority to US06/194,980 priority patent/US4328048A/en
Publication of JPS5635497A publication Critical patent/JPS5635497A/ja
Priority to US06/337,979 priority patent/US4833004A/en
Publication of JPS5810880B2 publication Critical patent/JPS5810880B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C8/00Solid state diffusion of only non-metal elements into metallic material surfaces; Chemical surface treatment of metallic material by reaction of the surface with a reactive gas, leaving reaction products of surface material in the coating, e.g. conversion coatings, passivation of metals
    • C23C8/80After-treatment
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/181Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はセラミック、金属、耐熱性樹脂などの被着体
に形成した銅被膜の密着性向上方法に関するものである
銅被膜はその特徴の1つとして、高い導電性を有してい
るため、たとえば種々の電子部品、そのうちセラミック
コンデンサの電極部分や、回路部品の導電回路部分とし
て多くの用途を持っている。
しかし実際には、銅セラミックコンデンサや回路部品を
構成するセラミック素体との密着性が極めて悪く、金と
並んで、密着性の悪い金属の代表として挙げられており
、銅単独ではセラミックコンデンサの電極部分や、セラ
ミック基板の導電回路部を構成することは不可能とされ
ていた。
このような銅被膜の欠点を補う手段として、たとえば、
真空蒸着法で銅被膜を形成する場合には、セラミック基
板上にクロムやアルミニウムなど、原子半径の小さい金
属か、あるいは酸化物を形成しやすい金属をあらかじめ
蒸着しておき、その上に銅を蒸着する、いわゆる多層蒸
着によって密着性の良い銅被膜を得ている。
すなわち、銅被膜とセラミック素体との間に原子半径の
小さい金属かあるいは、金属酸化物を介在させてはじめ
て、セラミック素体と密着性の良い銅被膜を得ていたの
である。
しかし、この手段では工程数が増え、簡便な方法とは云
えないものである。
また、この他に、無電解メッキ法によって銅被膜を形成
させる場合には、セラミック素体をまずフッ酸などの水
溶液中に浸漬してエツチングを施すことにより、セラミ
ック素体の表面を粗面化し、さらに銅のメッキ被膜を形
成するという手段を採っており、いわゆる機械的な力に
よって銅被膜をセラミック素体に形成している。
しかし、誘電体、絶縁体、半導体、抵抗体などセ)ミッ
ク素体について、フッ酸などのエツチング剤で粗面化す
ると、セラミック素体の表面が腐蝕され、セラミック素
体の機能が変化するに止まらず、劣化してしまうことす
らあり、好ましい方法ではない。
したがって、この発明の主たる目的とするところは、銅
被膜を形成しようとする被着体の種類、および銅被膜の
形成手段を問わず、簡便な方法で銅被膜の密着性を向上
させる方法を提供することにある。
また、この発明の他の目的とするところは、銅単独で種
々の被着体との密着性を向上させる方法を提供すること
にある。
すなわち、この発明の要旨とするところは、セラミック
、金属、耐熱性樹脂などの被着体に銅被膜を形成し、こ
の銅被膜を一旦空気中の熱処理または酸化剤により酸化
したのち、さらに窒素、水素、一酸化炭素などの還元性
雰囲気中で熱処理することにより、被着体と銅被膜の間
て、つまり境界部分に酸化銅を介在させることを特徴と
する。
被着体に銅被膜を形成する手段としては、無電解メッキ
法、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンブレーティ
ング法などがあり、この発明において銅被膜の形成方法
として、いずれの方法もその対象となる。
銅被膜が形成された被着体は、その銅被膜を酸。
化処理するために、空気中での熱処理または酸化剤によ
る酸化処理に付され、酸化銅被膜に変化する。
この酸化処理のうち空気中での熱処理は100〜200
℃の温度範囲、特に140〜160℃が好ましい。
これは100℃未満では密着性の良好な銅被膜が得られ
ず、また200℃を越えると、引きつづいて行う還元雰
囲気中で熱処理しても、高い導電率が得られなくなるこ
とによる。
また、酸化剤による酸化処理としては、たとえば過酸化
水素水、過マンガン酸カリなどの水溶液に被着体を浸漬
するか、これらの水溶液な被着体に塗布、吹き付けする
などの方法がある。
このうち過酸化水素水を用いるときは1〜10係濃度の
水溶液のものが好ましい。
次いで、酸化処理に付された被着体は窒素、水素、一酸
化炭素などの還元雰囲気中で熱処理される。
このときの熱処理温度としては高い導電率を得るために
500℃以上が好ましい。
このようにして熱処理されると、被着体と銅被膜との間
に酸化銅が介在することになる。
つまり被着体に形成された銅被膜を酸化処理することに
より、銅被膜は酸化銅に変化するが、次いで行われる還
元雰囲気中での熱処理により、銅被膜の表面側から純銅
状態の銅被膜になり、還元雰囲気中での熱処理時間を適
当に選択することによって、被着体と銅被膜との境界部
分に酸化銅を介在させることになり一波着体と銅被膜と
の密着性を向上させることができる。
密着性を向上させることができる根拠としては、被着体
と銅被膜の間に介在させた酸化銅の被膜が金属銅の被膜
にくらべて著しく密着性にすぐれているからである。
特に被着体が金属酸化物から構成されるセラミック素体
については、両者が構造的に近似しており、さらに一層
密着性な向上させることができる。
以下にこの発明を詳細な実症例にもとづいて説明する。
実施例 1 縦60mm、横30mm、厚み0.5mmの大きさのア
ルミナ基板の表面に、真空蒸着法を用いてマスキング手
法により、所要形状の純銅よりなる導電回路を形成した
次いで、この基板を3%過酸化水素水の溶液中に浸漬し
た。
この浸漬処理は常温の過酸化水素水溶液に銅被膜が黄褐
色を呈して酸化銅の被膜となるまで浸漬した。
そののち十分水洗して乾燥し、800℃の温度で窒素雰
囲気中において熱処理を行った。
このようにしてアルミナ基板の表面上に形成した銅被膜
の導電回路に粘着テープを貼着し、次いでこのテープを
剥離して、剥離試験を行ったところ、銅被膜の剥離現象
は見られず、良好な密着強度が得られていることが確認
できた。
なお、過酸化水素水溶液による処理を行っていないもの
について、同条件で熱処理を行ったが、この銅被膜はア
ルミナ基板との密着性は良好なものではなく、長時間の
使用に耐えるものではなかった。
実施例 2 酸化ジルコニウムを主成分とする誘電体セラミックとし
て、大きさが6mmφ、厚み0.3mmのものを用意し
、無電解メッキ法によりその表面に銅被膜を形成した。
次いで、160℃の温度で大気中において、褐色の酸化
銅被膜が形成されるまで熱処理を行った。
そののち800℃の温度で窒素雰囲気中において、純銅
の光沢が出るまで熱処理を行った。
このようにして得られた銅被膜と誘電体セラミックとの
密度強度は2.5〜3.0kg/10mm2であった。
また、銅被膜は誘電体とセラミックの全面に形成されて
いるため、周側面の銅被膜な除去してセラミックコンデ
ンサを構成し、その特性を測定したところ、電極として
銀電極を用いたものにくらべて、Qは50%向上し、単
位面積容量も20〜30%増加した。
なお、酸化熱処理を行っていないものについて、同じ条
件で窒素雰囲気中での熱処理を行ったが、密着強度は3
00〜400g/10mm2であった。
以上説明した各実施例から明らかなように、この発明に
よれば、被着体に銅被膜を形成し、この銅被膜を一旦酸
化したのち、さらに還元雰囲気中で熱処理することによ
り、被着体と密着強度の大きな銅被膜を得ることができ
、セラミックコンデンサの電極部分として、あるいは回
路部品の導電部分として、さらにはその他金属、ポリイ
ミド樹脂などの耐熱性樹脂に形成した銅被膜の密着性を
向上させる方法としてきわめて有用なものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被着体に銅被膜を形成し、この銅被膜を一旦酸化し
    たのち、さらに還元雰囲気中で熱処理し、被着体と銅被
    膜の間に酸化鋼を介在させることを特徴とする銅被膜の
    密着性向上方法。 2 酸化は空気中での熱処理により行うことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の銅被膜の密着性向上方法
    。 3 酸化は空気中、100〜200℃の温度範囲での熱
    処理により行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    または第2項記載の銅被膜の密着性向上方法。 4 酸化は酸化剤により行うことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の銅被膜の密着性向上方法。
JP54111241A 1979-08-30 1979-08-30 銅被膜の密着性向上方法 Expired JPS5810880B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP54111241A JPS5810880B2 (ja) 1979-08-30 1979-08-30 銅被膜の密着性向上方法
US06/194,980 US4328048A (en) 1979-08-30 1980-10-08 Method of forming copper conductor
US06/337,979 US4833004A (en) 1979-08-30 1982-01-08 Structure of copper conductor and method of forming same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP54111241A JPS5810880B2 (ja) 1979-08-30 1979-08-30 銅被膜の密着性向上方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5635497A JPS5635497A (en) 1981-04-08
JPS5810880B2 true JPS5810880B2 (ja) 1983-02-28

Family

ID=14556149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP54111241A Expired JPS5810880B2 (ja) 1979-08-30 1979-08-30 銅被膜の密着性向上方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4328048A (ja)
JP (1) JPS5810880B2 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153797A (en) * 1980-04-28 1981-11-27 Hitachi Chemical Co Ltd Method of manufacturing multilayer printed circuit board substrate
JPS5793517A (en) * 1980-12-02 1982-06-10 Murata Manufacturing Co Method of forming terminal electrode for chip circuit part
DE3280233D1 (de) * 1981-09-11 1990-10-04 Toshiba Kawasaki Kk Verfahren zum herstellen eines substrats fuer multischichtschaltung.
JPS58166806A (ja) * 1982-03-26 1983-10-03 Murata Mfg Co Ltd 高周波用誘電体セラミツク上に電極を形成する方法
JPS59150453A (ja) * 1982-12-23 1984-08-28 Toshiba Corp 半導体モジユ−ル用基板の製造方法
US4500605A (en) * 1983-02-17 1985-02-19 Olin Corporation Electrical component forming process
US4649083A (en) * 1983-02-17 1987-03-10 Olin Corporation Electrical component forming process
DE3447669A1 (de) * 1983-12-29 1985-07-18 Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo Verbundstruktur aus metall und kunstharz sowie verfahren zu deren herstellung
JPS6194756A (ja) * 1984-10-17 1986-05-13 株式会社日立製作所 金属と樹脂の複合体の製造方法
JPS61243447A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Asahi Chem Ind Co Ltd パタ−ン形成方法
JPS62205615A (ja) * 1986-03-05 1987-09-10 株式会社村田製作所 セラミツクスの金属化方法
DE3884756T2 (de) * 1987-05-20 1994-05-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Verfahren zur herstellung eines dünnen films von basismetall und dessen verwendung.
US5041420A (en) * 1987-06-26 1991-08-20 Hewlett-Packard Company Method for making superconductor films from organometallic precursors
US5302412A (en) * 1989-02-03 1994-04-12 The Boc Group, Inc. Single atmosphere for firing compatible thick film material
US4946518A (en) * 1989-03-14 1990-08-07 Motorola, Inc. Method for improving the adhesion of a plastic encapsulant to copper containing leadframes
JPH0644676B2 (ja) * 1989-05-22 1994-06-08 松下電工株式会社 多層配線基板の製造方法
JPH0387092A (ja) * 1989-06-15 1991-04-11 Matsushita Electric Works Ltd 内層用回路板の銅回路の処理方法
EP0469470B1 (en) * 1990-07-30 1996-10-09 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Process for producing multilayered printed board
JPH0485024A (ja) * 1990-07-30 1992-03-18 Mitsubishi Gas Chem Co Inc 銅張積層板の製造法
US5382333A (en) * 1990-07-30 1995-01-17 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Process for producing copper clad laminate
US5747727A (en) * 1990-08-09 1998-05-05 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of making a thermocouple
JPH07116640B2 (ja) * 1991-04-12 1995-12-13 株式会社日立製作所 金属銅箔、及びその製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4913914A (ja) * 1972-05-18 1974-02-06

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
UST926132I4 (ja) * 1929-09-11
US2643199A (en) * 1945-12-18 1953-06-23 Hersch Paul Process of forming a layer of metallic copper on copper oxide
US2893891A (en) * 1954-05-19 1959-07-07 Armour Res Found High surface area coating production
US4189331A (en) * 1978-06-22 1980-02-19 Canada Wire And Cable Limited Oxidation resistant barrier coated copper based substrate and method for producing the same

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4913914A (ja) * 1972-05-18 1974-02-06

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5635497A (en) 1981-04-08
US4328048A (en) 1982-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5810880B2 (ja) 銅被膜の密着性向上方法
US7731831B2 (en) Method for manufacturing a composite material including copper foil and support layer
US4668925A (en) Dielectric resonator and method for making
JPS62293608A (ja) 固体電解コンデンサの製造方法
JPH0463838B2 (ja)
US4737416A (en) Formation of copper electrode on aluminum nitride
JPH052940A (ja) 電気接点材料とその製造方法
JP2637804B2 (ja) メッキ付き基材
US4508756A (en) Method for inhibiting oxidation of a copper film on ceramic body
US3502449A (en) Diffusion barrier for polypropylene
US4833004A (en) Structure of copper conductor and method of forming same
US4748086A (en) Formation of copper electrode on ceramic oxide
JP2989975B2 (ja) 窒化アルミニウム質基板の製造方法
JPH0136243B2 (ja)
US3627650A (en) Method for producing a chromium-tungsten coating on tungsten for protection against oxidation at elevated temperatures
US3499782A (en) Substrate protective oxidized coating process
JPS5837922B2 (ja) 耐熱性配線用電気導体
JPH07109558A (ja) 水ぬれ性の良い銅箔の製造方法
JPS5946312B2 (ja) 熱処理された銅被膜の酸化防止法
US3034921A (en) Metal coating and method of making the same
JPS628261B2 (ja)
JP2002356789A (ja) 積層板用銅合金箔
JPS6226166B2 (ja)
JPH0626910B2 (ja) 樹脂被覆金属基体の製造方法およびサーマルヘッドの製造方法
JPH04171609A (ja) はんだ付け可能な軽量耐熱マグネットワイヤ