JPH1196506A - 磁気カードリーダ及び磁気カードリーダにおける磁気カードの抗磁力判定方法 - Google Patents

磁気カードリーダ及び磁気カードリーダにおける磁気カードの抗磁力判定方法

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JPH1196506A
JPH1196506A JP9254954A JP25495497A JPH1196506A JP H1196506 A JPH1196506 A JP H1196506A JP 9254954 A JP9254954 A JP 9254954A JP 25495497 A JP25495497 A JP 25495497A JP H1196506 A JPH1196506 A JP H1196506A
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幸彦 瀧田
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明 中沢
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用される磁気カードの抗磁力を自動的に判
定する。 【解決手段】 カード挿入口より挿入したカードに形成
された磁気情報を磁気ヘッドにより再生又は記録するよ
うにした磁気カードリーダにおいて、磁気情報を記録す
るためのデータトラックの抗磁力を判定する判定手段を
設けた。取り込んだ磁気カード(ステップS31)のデ
ータトラックに低抗磁力カードに対応する電流にてテス
トデータを記録した(ステップS33)後再生し(ステ
ップS34)、この再生データがテストデータと一致
(ステップS35)した場合に低抗磁力カードであると
判定する(ステップS36)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気カードリーダ
及び磁気カードリーダにおける磁気カードの抗磁力判定
方法に関する。より詳しくは、本発明は、磁気カードの
抗磁力の高低を自動判定する機能を有する磁気カードリ
ーダ及び磁気カードリーダにおける磁気カードの抗磁力
判定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の磁気カードリーダでは抗磁力が同
じ磁気カードを使用していた。即ち、予め上位からの信
号により用いる磁気カードの抗磁力が指定されており、
2種類以上の抗磁力の磁気カードを処理できる磁気カー
ドリーダはなかった。したがって、磁気カードリーダ
は、使用する磁気カードの抗磁力を判定する機能を有し
ていなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】近年、磁気カードの抗
磁力を大きくする傾向がある。例えば、抗磁力が300
Oeの低抗磁力カードを、抗磁力が2750Oeの高抗
磁力カードに切り換える動きがある。このため、過渡期
には、低抗磁力カードと高抗磁力カードの両方の磁気カ
ードが同時に使用される可能性がある。一般に、抗磁力
の異なる磁気カードをライトする場合、抗磁力に応じた
適正なライト電流を設定しないと適正なカード出力を得
ることができない。したがって、カード挿入口に挿入さ
れた磁気カードの抗磁力に応じて適正なライト電流を設
定するために、当該磁気カードが高抗磁力カードである
か低抗磁力カードであるかを判定する機能を磁気カード
リーダに備える必要がある。
【0004】本発明は、使用される磁気カードの抗磁力
を判定することができる磁気カードリーダ及び磁気カー
ドリーダにおける磁気カードの抗磁力判定方法を提供す
ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに請求項1記載の磁気カードリーダは、カード挿入口
より挿入したカードに形成された磁気情報を磁気ヘッド
により再生又は記録するようにした磁気カードリーダに
おいて、磁気情報を記録するためのデータトラックの抗
磁力を判定する判定手段を設けた構成である。したがっ
て、カード挿入口より磁気カードが挿入されると、判定
手段がデータトラックの抗磁力を判定し、その抗磁力に
適した電流値でデータがライトされる。
【0006】この場合、請求項2記載の発明のように、
判定手段は、磁気ヘッドを介して所定の電流にてデータ
を記録又は消去すると共にそのデータの再生動作を行っ
て抗磁力を判定する抗磁力判定部を有することが望まし
い。この場合には、データを記録又は消去する電流の値
とデータの再生による出力値とに基づいて、判定手段が
磁気カードの抗磁力を判定する。
【0007】また、請求項3記載の磁気カードリーダ
は、所定の電流にてデータを記録する前にデータトラッ
クに記録されたデータを記憶しておく記憶部を有する構
成である。したがって、記憶部にデータトラックのデー
タを退避させた状態でデータトラックの抗磁力の判定が
行われる。
【0008】また、請求項4記載の磁気カードリーダに
おける磁気カードの抗磁力判定方法は、カード挿入口よ
り挿入したカードに形成された磁気情報を磁気ヘッドに
より再生又は記録するようにした磁気カードリーダにお
いて、磁気ヘッドによりデータトラックに所定の電流に
てデータを記録又は消去した後データの再生出力により
データトラックの抗磁力を判定することを特徴としてい
る。したがって、データを記録又は消去した電流値と再
生出力値との関係から磁気カードの抗磁力が判定され
る。
【0009】この場合、請求項5記載の磁気カードの抗
磁力判定方法のように、データトラックに所定の電流に
てデータを記録又は消去する前に、データトラックのデ
ータを再生してメモリしておき、抗磁力の判定後にメモ
リしたデータをデータトラックに記録することが望まし
い。したがって、抗磁力の判定のためにデータトラック
の内容を書き換える場合であってもデータトラックに予
め記録されていたデータを保存できる。
【0010】また、請求項6記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに低抗磁力カードに対応す
る電流にてテストデータを記録した後再生し、この再生
データがテストデータと一致した場合に低抗磁力カード
であると判定することを特徴とするものである。使用さ
れる磁気カードが低抗磁力カードであればテストデータ
の記録が良好になり、再生データがテストデータと一致
する。一方、使用される磁気カードが高抗磁力カードで
あればテストデータの記録は不十分であり、再生データ
はテストデータと相違する。したがって、再生データと
テストデータとの関係から使用される磁気カードが低抗
磁力カードか高抗磁力カードかが判定される。
【0011】また、請求項7記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに高抗磁力カードに対応す
る電流にてテストデータを記録し、その後の再生出力が
所定値以上得られた場合に高抗磁力カードであると判定
することを特徴とするものである。使用される磁気カー
ドが高抗磁力カードであればテストデータは良好に記録
され、所定値以上の再生出力を得ることができる。一
方、使用される磁気カードが低抗磁力カードであればテ
ストデータの記録は不十分であり、再生出力は所定値よ
りも小さくなる。したがって、再生出力の大きさから使
用された磁気カードが高抗磁力カードか低抗磁力カード
かが判定される。
【0012】また、請求項8記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに記録されているデータを
一度消去した後、低抗磁力カードに対応する電流にてテ
ストデータを記録し、その後の再生出力が所定値以上得
られた場合に低抗磁力カードであると判定することを特
徴とするものである。使用される磁気カードが低抗磁力
カードであればテストデータは良好に記録され、所定値
以上の再生出力を得ることができる。一方、使用される
磁気カードが高抗磁力カードであればテストデータの記
録は不十分であり、再生出力は所定値よりも小さくな
る。したがって、再生出力の大きさから使用された磁気
カードが低抗磁力カードか高抗磁力カードかが判定され
る。
【0013】さらに、請求項9記載の磁気カードの抗磁
力判定方法は、データトラックに記録されている記録デ
ータを低抗磁力カードのデータのみ消去可能な電流にて
消去し、その後の再生出力が所定値以上得られた場合に
高抗磁力カードであると判定することを特徴とするもの
である。使用される磁気カードが高抗磁力カードであれ
ばデータの消去は不十分であり、所定値以上の再生出力
を得ることができる。一方、使用される磁気カードが低
抗磁力カードであればデータは良好に消去され、再生出
力は所定値よりも小さくなる。したがって、再生出力の
大きさから使用された磁気カードが高抗磁力カードか低
抗磁力カードかが判定される。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の構成を図面に示す
最良の形態に基づいて詳細に説明する。
【0015】図1に、本発明を適用した磁気カードリー
ダの実施形態の一例を示す。なお、本実施形態のカード
リーダは、例えば300Oeの低抗磁力カードと275
0Oeの高抗磁力カードに対応するものである。
【0016】磁気カードリーダは、カード挿入口2より
挿入した磁気カード1に形成された磁気情報を磁気ヘッ
ド3により再生又は記録するようにしたもので、磁気情
報を記録するためのデータトラックの抗磁力を判定する
判定手段を備えている。判定手段は、磁気ヘッド3を介
して所定の電流にてデータを記録又は消去すると共にそ
のデータの再生を行って磁気カード1の抗磁力を判定す
る抗磁力判定部4を有している。また、制御部10は、
所定の電流にてデータを記録する前にデータトラックに
記録されたデータを記憶しておく元データメモリ(記憶
部)5を有している。
【0017】カード挿入口2より挿入された磁気カード
1は、カード走行駆動手段6によって駆動されるローラ
対7,7により搬送される。カード走行駆動手段6はセ
ンサ8,8からの信号に基づいてローラ対7,7を正逆
両方向に回転させる。
【0018】磁気ヘッド3は、例えば2750Oeの高
抗磁力カード用のもので、電流の大きさを変化させるこ
とで300Oeの低抗磁力カード用としても使用するこ
とができる。この磁気ヘッド3は、記録及び再生の機能
を有する磁気ヘッドであり、磁気ヘッド制御部9によっ
て制御される。この磁気ヘッド3で高抗磁力カードをラ
イトした場合のライト特性を図2に示す。飽和電流値は
125mA0−pである。ライト電流は、磁気ヘッド3
のライト能力のマージン等を考慮し、飽和電流値の1.
5〜3倍程度にするのが一般的である。ISOの高抗磁
力カードのテスト書込み電流の規定では、飽和電流値の
80%の出力のとれる電流値の2.5〜3.5倍の値で
ライトするようになっている。即ち、飽和時の出力が
7.8mVであることから、7.8×0.8=6.24
mVが飽和時の出力の80%の値となる。この出力がと
れるライト電流値は、66mAである(図2)。そし
て、66mAを3倍すると、66×3=198mA≒2
00mAとなり、高抗磁力カードをライトする時の適正
ライト電流は、おおよそ200mA0−pである。
【0019】一方、この磁気ヘッド3で低抗磁力カード
をライトした場合のライト特性を図3に示す。飽和電流
値は12.5mAである。飽和電流値の80%の出力が
とれる電流値は7.5mAであり、7.5×3=22.
5mA0−p(ゼロ−ピーク)程度が適正ライト電流値
になる。
【0020】図4は、図3の特性についてさらに電流値
を大きくしていった場合の特性を示す。いま、高抗磁力
カード用の適正ライト電流で低抗磁力カードをライトし
た場合を考える。つまり、低抗磁力カードを200mA
0−pでライトすることになり、図4に示すように、ラ
イト電流が過大となり、出力が2.6÷5.7×100
=46%におちる。飽和時の46%しか出力が出ない磁
気カード1をデータリードする時、曲がりカード等のス
ペーシングなどを考慮すると、さらに出力が低下し、デ
ータリードできないカードが出てくる虞がある。以上の
通り、高抗磁力カード用の適正ライト電流で低抗磁力カ
ードをライトした場合には、適切なリード出力を得るこ
とができない。同様にして、低抗磁力カード用の適正ラ
イト電流で高抗磁力カードをライトした場合にも、適切
なリード出力を得ることができない。
【0021】即ち、低抗磁力カードを、低抗磁力カード
適正ライト電流にてライトした場合には飽和時の90%
以上の出力が得られるのに対し、高抗磁力カード適正ラ
イト電流にてライトした場合には出力が飽和時の46%
程度に下がる。また、高抗磁力カードを、低抗磁力カー
ド適正ライト電流にてライトした場合にはライト前のデ
ータがそのまま残る(データが予め消去されていたとき
には出力が出ない)のに対し、高抗磁力カード適正ライ
ト電流にてライトした場合には飽和時の90%以上の出
力が得られる。本発明では、これらの原理に基づいて低
抗磁力カードと高抗磁力カードとを判定している。
【0022】次に、磁気カード1の抗磁力判定方法につ
いて説明する。制御部10は以下に説明するプログラム
を実行して抗磁力を判定する。
【0023】図5に示す第1の方法では、磁気カード1
のデータトラックに低抗磁力カードに対応する電流(低
抗磁力カード適正ライト電流)にてテストデータを記録
した後再生し、この再生データがテストデータと一致し
た場合に低抗磁力カードであると判定する。また、デー
タトラックに所定の電流にてテストデータを記録する前
に、データトラックのデータを再生してメモリしてお
き、抗磁力の判定後にメモリしたデータをデータトラッ
クに記録する。
【0024】具体的に説明すると、先ず、カード挿入口
2から磁気カード1を取り込んだ(ステップS31)
後、磁気カード1のデータトラックに既に記録されてい
るデータ(以下、元データという)をリードして元デー
タメモリ5に保存しておく(ステップS32)。次に、
低抗磁力カードをライトする電流22.5mA0−pに
てテストデータをライトする(ステップS33)。ここ
で、テストデータは、元データと異なるデータである。
【0025】次に、ライトしたテストデータをリードす
る(ステップS34)。いま、カードリーダに入ってき
た磁気カード1が低抗磁力カードであればデータトラッ
クの内容はテストデータで書き換えられているはずであ
り、リードしたデータはテストデータに一致するはずで
ある。したがって、リードしたデータとテストデータと
を比較し(ステップS35)、これらが一致する場合に
は磁気カード1が低抗磁力カードであると判定し(ステ
ップS36)、データトラックに元データを適正な電流
値でライト(ステップS38)した後このプログラムを
終了する。
【0026】一方、カードリーダに入ってきた磁気カー
ド1が高抗磁力カードであればデータトラックの内容は
テストデータで書き換えられていないはずであり、リー
ドしたデータはテストデータとは異なるはずである。し
たがって、リードしたデータとテストデータとが一致し
ない場合には磁気カード1が高抗磁力カードであると判
定し(ステップS37)、データトラックに元データを
適正な電流値でライト(ステップS38)した後このプ
ログラムを終了する。
【0027】このようにして磁気カード1が低抗磁力カ
ードであるか高抗磁力カードであるかの判定を行った
後、各カードにおける適正なライト電流によりデータの
ライトを行う。したがって、高抗磁力カードと低抗磁力
カードとが混じって市場に流通しても、抗磁力を自動的
に判定することができ、同一のカードリーダでこれらの
磁気カードを処理することができる。
【0028】次に、図6に基づいて第2の方法について
説明する。この方法では、磁気カード1のデータトラッ
クに高抗磁力カードに対応する電流(高抗磁力カード適
正ライト電流)にてテストデータを記録し、その後の再
生出力が所定値以上得られた場合に高抗磁力カードであ
ると判定する。また、データトラックに所定の電流にて
テストデータを記録する前に、データトラックのデータ
をリードしてメモリしておき、抗磁力の判定後にメモリ
したデータをデータトラックにライトする。
【0029】具体的に説明すると、先ず、カード挿入口
2から磁気カード1を取り込んだ(ステップS41)
後、元データをリードして元データメモリ5に保存して
おく(ステップS42)。次に、高抗磁力カードをライ
トする電流200mA0−pにてテストデータをライト
する(ステップS43)。
【0030】そして、ライトしたテストデータをリード
する(ステップS44)。いま、カードリーダに入って
きた磁気カード1が高抗磁力カードであればデータトラ
ックにはテストデータが良好にライトされているはずで
あり、リード出力は所定値以上になるはずである。した
がって、リード出力が所定値以上であるか否かを判断し
(ステップS45)、所定値以上の場合には磁気カード
1が高抗磁力カードであると判定し(ステップS4
6)、データトラックに元データを適正な電流値でライ
ト(ステップS48)した後このプログラムを終了す
る。
【0031】一方、カードリーダに入ってきた磁気カー
ド1が低抗磁力カードであればテストデータのデータト
ラックへのライトは不十分となって、リード出力は所定
値未満になるはずである。したがって、この場合には磁
気カード1が低抗磁力カードであると判定し(ステップ
S47)、データトラックに元データを適正な電流値で
ライト(ステップS48)した後このプログラムを終了
する。
【0032】なお、ステップS45の所定値としては、
磁気カード1の出力ばらつき等を考慮して飽和時の値の
例えば60%程度の値とすることが好ましい。
【0033】次に、図7に基づいて第3の方法について
説明する。この方法では、磁気カード1のデータトラッ
クに記録されているデータを一度消去した後、低抗磁力
カードに対応する電流にてテストデータを記録し、その
後の再生出力が所定値以上得られた場合に低抗磁力カー
ドであると判定する。また、データトラックに所定の電
流にてテストデータを消去する前に、データトラックの
データをリードしてメモリしておき、抗磁力の判定後に
メモリしたデータをデータトラックにライトする。
【0034】具体的に説明すると、先ず、カード挿入口
2から磁気カード1を取り込んだ(ステップS51)
後、元データをリードして元データメモリ5に保存して
おく(ステップS52)。次に、高抗磁力カード適正ラ
イト電流200mA0−pにて元データをDC(直流)
消去(ステップS53)した後、低抗磁力カード適正ラ
イト電流22.5mA0−pにてテストデータをライト
する(ステップS54)。
【0035】そして、ライトしたテストデータをリード
する(ステップS55)。いま、カードリーダに入って
きた磁気カード1が低抗磁力カードであればデータトラ
ックにはテストデータが良好にライトされているはずで
あり、リード出力は所定値以上になるはずである。した
がって、リード出力が所定値以上であるか否かを判断し
(ステップS56)、所定値以上の場合には磁気カード
1が低抗磁力カードであると判定し(ステップS5
7)、データトラックに元データを適正な電流値でライ
ト(ステップS59)した後このプログラムを終了す
る。
【0036】一方、カードリーダに入ってきた磁気カー
ド1が高抗磁力カードであればテストデータのデータト
ラックへのライトは不適切であり、リード出力は所定値
未満になるはずである。したがって、この場合には磁気
カード1が高抗磁力カードであると判定し(ステップS
58)、データトラックに元データを適正な電流値でラ
イト(ステップS59)した後このプログラムを終了す
る。
【0037】次に、図8に基づいて第4の方法について
説明する。この方法では、磁気カード1のデータトラッ
クに記録されている記録データを低抗磁力カードのデー
タのみ消去可能な電流にて消去し、その後の再生出力が
所定値以上得られた場合に高抗磁力カードであると判定
する。また、データトラックに所定の電流にてテストデ
ータを消去する前に、データトラックのデータをリード
してメモリしておき、抗磁力の判定後にメモリしたデー
タをデータトラックにライトする。
【0038】具体的に説明すると、先ず、カード挿入口
2から磁気カード1を取り込んだ(ステップS61)
後、元データをリードして元データメモリ5に保存して
おく(ステップS62)。次に、低抗磁力カード適正ラ
イト電流22.5mA0−pにて元データをDC(直
流)消去(ステップS63)した後、元データをリード
する(ステップS64)。
【0039】いま、カードリーダに入ってきた磁気カー
ド1が高抗磁力カードであれば、低抗磁力カード適正ラ
イト電流ではデータ消去を良好に行うことができずに元
データが残っているはずであり、リード出力は所定値以
上になるはずである。したがって、リード出力が所定値
以上であるか否かを判断し(ステップS65)、所定値
以上の場合には磁気カード1が高抗磁力カードであると
判定し(ステップS66)、データトラックに元データ
を適正な電流値でライト(ステップS68)した後この
プログラムを終了する。
【0040】一方、カードリーダに入ってきた磁気カー
ド1が低抗磁力カードであれば元データは良好に消去さ
れているはずであり、リード出力は所定値未満になるは
ずである。したがって、この場合には磁気カード1が低
抗磁力カードであると判定し(ステップS67)、デー
タトラックに元データを適正な電流値でライト(ステッ
プS68)した後このプログラムを終了する。
【0041】なお、上述の形態は本発明の好適な形態の
一例ではあるがこれに限定されるものではなく本発明の
要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能であ
る。例えば、上述の説明では、低抗磁力カードとして3
00Oeのものを、高抗磁力カードとして2750Oe
のものを判別するようにしたが、抗磁力の大きさとして
はこれらに限るものではないことは勿論である。
【0042】また、上述の説明では、1つの磁気ヘッド
3を用いてリード,ライト,消去を行っていたが、これ
らを別々の磁気ヘッドで行うようにしても良い。この場
合には、カード走行1回での処理が可能である。
【0043】さらに、上述の説明では、磁気カードの抗
磁力を判定する前に元データの保存を行っていたが、元
データを保存しておく必要が無い場合には元データの保
存ステップ及びライトステップを省略しても良い。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように請求項1記載の磁気
カードリーダは、磁気情報を記録するためのデータトラ
ックの抗磁力を判定する判定手段を設けているので、た
とえ抗磁力の異なる磁気カードを使用した場合であって
も、各磁気カードに対し適正なライト電流にてデータを
ライト処理することができる。
【0045】この場合、請求項2記載の発明のように、
判定手段は、磁気ヘッドを介して所定の電流にてデータ
を記録又は消去すると共にそのデータの再生を行って抗
磁力を判定する抗磁力判定部を有することが望ましい。
この様にすることで、データを記録又は消去する電流の
値とデータの再生動作による出力値とに基づいて磁気カ
ードの抗磁力を判定することができる。
【0046】また、請求項3記載の磁気カードリーダ
は、所定の電流にてデータを記録する前にデータトラッ
クに記録されたデータを記憶しておく記憶部を有するの
で、データトラックのデータを保存しておくことができ
る。
【0047】また、請求項4記載の磁気カードリーダに
おける磁気カードの抗磁力判定方法は、カード挿入口よ
り挿入したカードに形成された磁気情報を磁気ヘッドに
より再生又は記録するようにした磁気カードリーダにお
いて、磁気ヘッドによりデータトラックに所定の電流に
てデータを記録又は消去した後データの再生出力により
データトラックの抗磁力を判定することを特徴とするの
で、データを記録又は消去した電流値と再生出力値との
関係から磁気カードの抗磁力を判定することができる。
【0048】この場合、請求項5記載の磁気カードの抗
磁力判定方法のように、データトラックに所定の電流に
てデータを記録又は消去する前に、データトラックのデ
ータを再生してメモリしておき、抗磁力の判定後にメモ
リしたデータをデータトラックに記録することが望まし
い。この様にすることで、データトラックのデータを保
存しておくことができる。
【0049】また、請求項6記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに低抗磁力カードに対応す
る電流にてテストデータを記録した後再生し、この再生
データがテストデータと一致した場合に低抗磁力カード
であると判定するので、再生データとテストデータとの
関係から使用される磁気カードが低抗磁力カードである
か高抗磁力カードであるかを判定することができる。
【0050】また、請求項7記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに高抗磁力カードに対応す
る電流にてテストデータを記録し、その後の再生出力が
所定値以上得られた場合に高抗磁力カードであると判定
するので、再生出力の大きさから使用された磁気カード
が高抗磁力カードであるか低抗磁力カードであるかを判
定することができる。
【0051】また、請求項8記載の磁気カードの抗磁力
判定方法は、データトラックに記録されているデータを
一度消去した後、低抗磁力カードに対応する電流にてテ
ストデータを記録し、その後の再生出力が所定値以上得
られた場合に低抗磁力カードであると判定するので、再
生出力の大きさから使用された磁気カードが低抗磁力カ
ードであるか高抗磁力カードであるかを判定することが
できる。
【0052】さらに、請求項9記載の磁気カードの抗磁
力判定方法は、データトラックに記録されている記録デ
ータを低抗磁力カードのデータのみ消去可能な電流にて
消去し、その後の再生出力が所定値以上得られた場合に
高抗磁力カードであると判定するので、再生出力の大き
さから使用された磁気カードが高抗磁力カードであるか
低抗磁力カードであるかを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した磁気カードリーダの実施形態
の一例を示す概略構成図である。
【図2】高抗磁力カード用ヘッドによる高抗磁力カード
へのライト特性図である。
【図3】高抗磁力カード用ヘッドによる低抗磁力カード
へのライト特性図である。
【図4】高抗磁力カード用ヘッドによる低抗磁力カード
へのライト特性を示し、図3の特性についてさらに電流
値を大きくした場合の特性図である。
【図5】本発明を適用した磁気カードリーダにおける磁
気カードの抗磁力判定方法の第1の実施形態を示す流れ
図である。
【図6】本発明を適用した磁気カードリーダにおける磁
気カードの抗磁力判定方法の第2の実施形態を示す流れ
図である。
【図7】本発明を適用した磁気カードリーダにおける磁
気カードの抗磁力判定方法の第3の実施形態を示す流れ
図である。
【図8】本発明を適用した磁気カードリーダにおける磁
気カードの抗磁力判定方法の第4の実施形態を示す流れ
図である。
【符号の説明】
1 磁気カード 2 カード挿入口 3 磁気ヘッド 4 抗磁力判定部 5 元データメモリ(記憶部)

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カード挿入口より挿入したカードに形成
    された磁気情報を磁気ヘッドにより再生又は記録するよ
    うにした磁気カードリーダにおいて、上記磁気情報を記
    録するためのデータトラックの抗磁力を判定する判定手
    段を設けたことを特徴とする磁気カードリーダ。
  2. 【請求項2】 上記判定手段は、上記磁気ヘッドを介し
    て所定の電流にてデータを記録又は消去すると共にその
    データの再生を行って上記抗磁力を判定する抗磁力判定
    部を有することを特徴とする請求項1記載の磁気カード
    リーダ。
  3. 【請求項3】 上記所定の電流にてデータを記録する前
    に上記データトラックに記録されたデータを記憶してお
    く記憶部を有することを特徴とする請求項2記載の磁気
    カードリーダ。
  4. 【請求項4】 カード挿入口より挿入したカードに形成
    された磁気情報を磁気ヘッドにより再生又は記録するよ
    うにした磁気カードリーダにおいて、上記磁気ヘッドに
    よりデータトラックに所定の電流にてデータを記録又は
    消去した後データの再生出力により上記データトラック
    の抗磁力を判定するようにしたことを特徴とする磁気カ
    ードリーダにおける磁気カードの抗磁力判定方法。
  5. 【請求項5】 上記データトラックに所定の電流にてデ
    ータを記録又は消去する前に、上記データトラックのデ
    ータを再生してメモリしておき、上記抗磁力の判定後に
    上記メモリしたデータを上記データトラックに記録する
    ことを特徴とする請求項4記載の磁気カードリーダにお
    ける磁気カードの抗磁力判定方法。
  6. 【請求項6】 上記データトラックに低抗磁力カードに
    対応する電流にてテストデータを記録した後再生し、こ
    の再生データが上記テストデータと一致した場合に低抗
    磁力カードであると判定することを特徴とする請求項4
    又は5記載の磁気カードリーダにおける磁気カードの抗
    磁力判定方法。
  7. 【請求項7】 上記データトラックに高抗磁力カードに
    対応する電流にてテストデータを記録し、その後の再生
    出力が所定値以上得られた場合に高抗磁力カードである
    と判定することを特徴とする請求項4又は5記載の磁気
    カードリーダにおける磁気カードの抗磁力判定方法。
  8. 【請求項8】 上記データトラックに記録されているデ
    ータを一度消去した後、低抗磁力カードに対応する電流
    にてテストデータを記録し、その後の再生出力が所定値
    以上得られた場合に低抗磁力カードであると判定するこ
    とを特徴とする請求項4又は5記載の磁気カードリーダ
    における磁気カードの抗磁力判定方法。
  9. 【請求項9】 上記データトラックに記録されている記
    録データを低抗磁力カードのデータのみ消去可能な電流
    にて消去し、その後の再生出力が所定値以上得られた場
    合に高抗磁力カードであると判定することを特徴とする
    請求項4又は5記載の磁気カードリーダにおける磁気カ
    ードの抗磁力判定方法。
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