JPH1188146A - レベルインターフェース回路 - Google Patents

レベルインターフェース回路

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JPH1188146A
JPH1188146A JP9239910A JP23991097A JPH1188146A JP H1188146 A JPH1188146 A JP H1188146A JP 9239910 A JP9239910 A JP 9239910A JP 23991097 A JP23991097 A JP 23991097A JP H1188146 A JPH1188146 A JP H1188146A
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JP9239910A
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Kazuhiro Ninomiya
和博 二宮
Toshiya Uchida
敏也 内田
Hiroko Michiji
ひろ子 道地
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
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Abstract

(57)【要約】 【課題】LVTTLとSSTLの両方のレベルインター
フェース回路機能を実現する。 【解決手段】LVTTLの入力INとレファレンスレベ
ルVref により動作する第一のインターフェース回路
を、内部電源Viiを電源にした差動増幅回路で構成し、
SSTLの入力INとレファレンスレベルVref により
動作する第二のインターフェース回路を、外部電源Vcc
を電源にした差動増幅回路で構成し、LVTTLとSS
TLの判定回路の判定結果により、両インターフェース
回路の電流源トランジスタを選択的に導通させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、異なるインターフ
ェース規格の入力とレファレンスレベルに対応すること
ができるレベルインターフェース回路に関する。
【0002】
【従来の技術】ダイナミックRAMやその他の集積回路
装置に対するインターフェースは、従来からLVTTL
(Low Voltage Transistor Transistor Logic)が広く利
用されてきた。このLVTTLは、5V電源電圧による
TTLレベルに対して、やや低い3.3Vの電源電圧を
利用した低電圧TTLレベルである。LVTTLでは、
Hレベルが2.0V以上、Lレベルが0.8V以下であ
ることが仕様上義務付けられている。そして、レファレ
ンスレベルVref は、その中間の1.4Vに固定され
る。このLVTTLは、システムのバスは開放端で使用
されることから、高速動作のもとではリンギングによる
ノイズが大きくなる欠点を有する。
【0003】そこで、近年において高速動作に適したイ
ンターフェースとしてSSTL(Series Stub Terminat
ion Logic)が提唱されている。このSSTLでは、シス
テムのバスを所定の抵抗で終端させて、高速動作時のノ
イズの発生を防止する。SSTLでは、レファレンスレ
ベルVref は、電源電圧Vccの0.45倍近傍(0.4
3〜0.47倍)のレベルであり、電源電圧の変動に併
せてレファレンスレベルVref も変動する。そして、信
号のHレベルは、レファレンスレベルVref から0.2
V高いレベルに、信号のLレベルは、レファレンスレベ
ルVref から0.2V低いレベルに設定される。
【0004】図8は、上記の両インターフェースのLV
TTLとSSTLのレベルの関係を示す図である。LV
TTLの場合は、上記の通り電源電圧Vccにかかわら
ず、レファレンスレベルVref がグランドVssから約
1.4V高いレベルに設定されていて、一般に集積回路
装置内部で生成される。また、SSTLの場合は、レフ
ァレンスレベルVref が電源電圧Vccの変動に応じて変
動し、集積回路装置には外部からレファレンスレベルV
ref が供給される。即ち、SSTLの場合は、システム
バス全体が、電源Vccの変動に追従してレファレンスレ
ベルVref 及び信号のHまたはLレベルも変動するプラ
ットフォームであり、電源電圧の変動に強い。
【0005】図7は、従来のレベルインターフェース回
路の例を示す図である。この例では、入力INとレファ
レンスレベルVref がゲートに供給されるN型トランジ
スタQ1,Q2と、それらの共通ソース端子nsとグラ
ンドVssとの間に設けられ、イネーブル信号ENにより
制御される電流源トランジスタQ3と、更に、トランジ
スタQ1,Q2のドレインと内部電源Viiとの間にP型
トランジスタP1,P2からなる負荷回路を有する。こ
の負荷回路は、カレントミラー回路を構成し、両側の電
流値がトランジスタP1,P2の面積に比例した値に制
御される。また、内部電源Viiは電源電圧Vccから生成
される低い電圧であり、電源電圧Vccの変動の影響を受
けない固定電位を有する。出力端子OUTは、トランジ
スタQ1のドレインに接続され、図示しない後段のCM
OS回路に与えられる。
【0006】このレベルインターフェース回路は、外部
から与えられる入力INをレファレンスレベルVref と
比較し、入力のHレベルとLレベルに応じて、後段のC
MOS回路のレベルに整合したレベルの信号を出力端子
OUTに生成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たレベルインターフェース回路を、例えばLVTTLに
適合させて回路設計を行うと、SSTLの入力INとレ
ファレンスレベルVrefに対して、十分な動作マージン
を有することができない。
【0008】今仮に、図7に示される通り、内部電源V
iiが負荷回路のP型トランジスタP1,P2のソースに
供給されたとすると、LVTTLに対応したレファレン
スレベルVref と入力INがトランジスタQ2,Q1の
ゲートに供給される場合は、正常に動作する。しかし、
トランジスタQ2,Q1のゲートにSSTLに対応した
レファレンスレベルVref と入力INが供給されると、
電源電圧Vccの変動による上昇によりレファレンスレベ
ルVref (=Vcc×0.45)及び入力INも上昇し、
共通ソースノードnsに対してゲート電圧が高くなりす
ぎ、トランジスタQ1,Q2が飽和領域で動作する可能
性がある。その結果、出力OUTが十分な振幅を有しな
いことになり、正常な差動回路動作が不可能になる。逆
に、電源電圧Vccの変動による下降により、レファレン
スレベルVref (=Vcc×0.45)及び入力INも下
降し、共通ソースノードnsに対してゲート電圧が低く
なりすぎ、トランジスタQ1,Q2が十分導通できない
領域で動作する可能性がある。その場合も、出力OUT
に適切な振幅を持つ信号を生成できなくなる。
【0009】この様に、電源電圧に依存しないLVTT
Lのインターフェースと、電源電圧に依存したレベルを
有するSSTLのインターフェースとを上記の差動回路
で対応することは困難である。
【0010】そこで、本発明の目的は、異なるインター
フェースの信号に対応することが可能なレベルインター
フェース回路を提供することにある。
【0011】更に、本発明の別の目的は、固定電位のレ
ベルを有するインターフェースと、電源電圧に依存した
レベルを有するインターフェースの両方に対応可能なレ
ベルインターフェース回路を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する為
に、第一の発明は、固定電位のHレベル、Lレベル及び
その中間の第一のレファレンスレベルを有する第一のイ
ンターフェースの入力、または、電源電圧に応じて決め
られた第二のレファレンスレベル、Hレベル、Lレベル
を有する第二のインターフェースの入力が供給され、前
記入力と前記レファレンスレベルを比較して出力を生成
するレベルインターフェース回路において、前記入力と
第一のレファレンスレベルがそれぞれのゲートに供給さ
れ、ソースが共通接続された第一及び第二のトランジス
タと、該第一及び第二のトランジスタのソース側に接続
された第一の電流源トランジスタと、該第一及び第二の
トランジスタのドレインと前記電源電圧より低い固定の
内部電圧との間に設けられた第一の負荷回路とを有する
第一のインターフェース回路と、前記入力と第二のレフ
ァレンスレベルがそれぞれのゲートに供給され、ソース
が共通接続された第三及び第四のトランジスタと、該第
三及び第四のトランジスタのソース側に接続された第二
の電流源トランジスタと、該第三及び第四のトランジス
タのドレインと前記電源電圧との間に設けられた第二の
負荷回路とを有する第二のインターフェース回路と、前
記入力が第一または第二のインターフェースのいずれか
に対応するかを判定し、それに応じて前記第一または第
二の電流源トランジスタを導通する選択回路とを有する
ことを特徴とする。
【0013】第一のインターフェース回路は、LVTT
Lのインターフェースに最適な構成を有し、第二のイン
ターフェース回路は、SSTLのインターフェースに最
適な構成を有するので、それぞれ適正なレベルインター
フェース機能を提供することができる。
【0014】上記の目的を達成する為に、第二の発明
は、固定電位のHレベル、Lレベル及びその中間の第一
のレファレンスレベルを有する第一のインターフェース
の入力、または、電源電圧に応じて決められた第二のレ
ファレンスレベル、Hレベル、Lレベルを有する第二の
インターフェースの入力が供給され、前記入力と前記レ
ファレンスレベルを比較して出力を生成するレベルイン
ターフェース回路において、前記入力とレファレンスレ
ベルがそれぞれのゲートに供給されソースが共通接続さ
れた第一及び第二のトランジスタと、該第一及び第二の
トランジスタのソース側に接続された電流源トランジス
タと、該第一及び第二のトランジスタのドレインにそれ
ぞれ接続された負荷回路と、前記負荷回路と前記電源電
圧との間に設けられた電圧制御用トランジスタとを有
し、前記入力が第一または第二のインターフェースのい
ずれかに対応するかを判定し、それに応じて前記電圧制
御用トランジスタのインピーダンスを高くまたは低くす
る電圧制御回路を更に有することを特徴とする。
【0015】上記発明では、負荷回路に印加される電圧
が、LVTTLの場合は内部電源と同等の電位となり、
SSTLの場合は外部電源と同等となる。従って、実質
的に、上記第一の発明と同等の回路を構成することがで
きる。
【0016】上記の目的を達成する為に、第三の発明
は、固定電位のHレベル、Lレベル及びその中間の第一
のレファレンスレベルを有する第一のインターフェース
の入力、または、電源電圧に応じて決められた第二のレ
ファレンスレベル、Hレベル、Lレベルを有する第二の
インターフェースの入力が供給され、前記入力と前記レ
ファレンスレベルを比較して出力を生成するレベルイン
ターフェース回路において、前記入力とレファレンスレ
ベルがそれぞれのゲートに供給されソースが共通接続さ
れた第一及び第二のトランジスタと、該第一及び第二の
トランジスタのソース側に接続された電流源トランジス
タと、該第一及び第二のトランジスタのドレインと前記
電源電圧との間にそれぞれ設けられた負荷回路とを有
し、前記入力が第一または第二のインターフェースのい
ずれかに対応するかを判定し、それに応じて前記電流源
トランジスタのインピーダンスを低くまたは高くする選
択回路を更に有することを特徴とする。
【0017】LVTTLに対しては、第一及び第二のト
ランジスタの共通ソースノードが低めの電位となり、S
STLに対しては同共通ソースノードが高めの電位とな
り、それぞれのレファレンスレベルVref に対して、第
一及び第二のトランジスタの動作範囲を最適な領域に保
つことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例に
ついて図面に従って説明する。しかしながら、かかる実
施の形態例が本発明の技術的範囲を限定するものではな
い。
【0019】図1は、本発明の実施の形態例のレベルイ
ンターフェース回路を示す図である。この例では、LV
TTLの入力INとレファレンスレベルVref に対応し
た第一のインターフェース回路IF1と、SSTLの入
力INとレファレンスレベルVref に対応した第二のイ
ンターフェース回路IF2とを有する。更に、外部から
与えられるレファレンスレベルVref を検出することに
よりLVTTLの信号かSSTLの信号かを判定する判
定回路100と、その出力n10によりいずれか一方の
インターフェース回路IF1,IF2を活性化するイン
バータ101,NORゲート102,103からなる選
択回路とを有する。NORゲート102,103には、
入力イネーブル信号ENが入力として与えられる。
【0020】LVTTLの入力INとレファレンスレベ
ルVref に対応した第一のインターフェース回路IF1
は、ゲートに入力INが与えられるN型トランジスタ1
11とゲートにレファレンスレベルVref が与えられる
N型トランジスタ112とがソース共通接続され、その
ソース端子n1とグランドVssとの間に電流源トランジ
スタ113が設けられる。また、ソース共通のトランジ
スタ111,112のゲートと内部電源Viiとの間に
は、従来例と同様のP型トランジスタ109,110か
らなる負荷回路が設けられる。この負荷回路はカレント
ミラー回路を構成する。そして、トランジスタ111の
ドレイン端子n11が、トランスファーゲートトランス
ファー116,117を介して出力端子OUTに接続さ
れる。
【0021】一方、SSTLの入力INとレファレンス
レベルVref に対応した第二のインターフェース回路I
F2は、ゲートに入力INが与えられるN型トランジス
タ106とゲートにレファレンスレベルVref が与えら
れるN型トランジスタ107とがソース共通接続され、
そのソース端子n2とグランドとの間に電流源トランジ
スタ108が設けられる。また、ソース共通のトランジ
スタ106,107のゲートと電源電圧Vccとの間に
は、従来例と同様のP型トランジスタ104,105か
らなる負荷回路が設けられる。この負荷回路はカレント
ミラー回路を構成する。そして、トランジスタ106の
ドレイン端子n12が、トランスファーゲートトランス
ファー114,115を介して出力端子OUTに接続さ
れる。
【0022】LVTTL/SSTL判定回路100は、
具体的回路は後述するが、外部から与えられるレファレ
ンスレベルVref を判定して、LVTTLの場合にLレ
ベル、SSTLの場合にHレベルの出力n10を生成す
る。従って、LVTTLが検出されると、出力n10の
Lレベルと入力イネーブル信号ENの活性化レベルのL
レベルとにより、NORゲート103の出力がHレベル
となり、トランジスタ113が導通し、LVTTL用の
インターフェース回路IF1が活性化される。また、S
STLが検出されると、出力n10のHレベルと入力イ
ネーブル信号ENの活性化レベルのLレベルとにより、
NORゲート102の出力がHレベルとなり、トランジ
スタ108が導通し、SSTL用のインターフェース回
路IF2が活性化される。
【0023】第一のインターフェース回路IF1は、負
荷回路のP型トランジスタ109,110のソースに外
部電源Vccの変動に依存しない固定の内部電源Viiが与
えられる。その結果、トランジスタ109,110と電
源トランジスタ113とのインピーダンス比を、共通ソ
ースノードn1がLVTTLの入力INとレファレンス
レベルVref のレベルに最適なレベルになる様に設定す
ることで、回路の動作マージンを最適にすることができ
る。即ち、電源電圧Vccの変動に依存しない入力INと
レファレンスレベルVref に対して、同じく電源電圧V
ccの変動に依存しない内部電源Viiを使用することで、
差動回路を構成するトランジスタ111,112のソー
スノードn1も固定させることができ、トランジスタ1
11,112のゲートソース間電圧を最適にし、その動
作領域を最適な領域に維持することができる。更に、内
部電源Viiが固定電位にあるので、外部電源Vccを使用
する場合に比較して、トランジスタ111のドレインノ
ードn11のHレベルとLレベルを、後段の内部のCM
OS回路に整合したレベルにすることができる。
【0024】尚、第一のインターフェース回路IF1に
外部電源Vccが接続されると、外部電源Vccの変動に伴
い、トランジスタ111のドレインノードn11のレベ
ルの変動し、後段のCMOS回路の閾値に整合しない出
力となり好ましくない。
【0025】第二のインターフェース回路IF2は、負
荷回路のP型トランジスタ104,105のソースに外
部電源Vccが与えられる。外部電源Vccは、例えば仕様
上は3.0V〜3.6Vの変動が許容されている。外部
電源Vccが上昇する場合は、負荷回路のトランジスタ1
04、105のインピーダンスが低下し、ソースノード
nsは上昇する。その時、外部電源Vccから生成される
レファレンスレベルVref と入力INのレベルも同様に
上昇するので、差動動作するトランジスタ106,10
7のゲート・ソース間電圧は電源変動の影響を余り受け
ずに、最適な動作領域に維持される。その結果、トラン
ジスタ106のドレインノードn12には、後段のCM
OS回路の閾値に整合した振幅の信号が生成される。
【0026】一方、外部電源Vccが下降する場合は、負
荷回路のトランジスタ104、105のインピーダンス
が上昇し、ソースノードnsは下降する。その時、外部
電源Vccから生成されるレファレンスレベルVref と入
力INのレベルも同様に下降するので、差動動作するト
ランジスタ106,107のゲート・ソース間電圧は電
源変動の影響を余り受けずに、最適な動作領域に維持さ
れる。その結果、トランジスタ106のドレインノード
n12には、後段のCMOS回路の閾値に整合した振幅
の信号が生成される。即ち、第二のインターフェース回
路IF2は、外部電源Vccの変動に強い特性を有する。
従来例で説明した様な、外部電源Vccの変動によりトラ
ンジスタ106,107が飽和したりカットオフしたり
することは防止される。
【0027】図2は、図1の実施の形態例の変形例であ
る。図1と同じ部分には同じ引用番号を付している。こ
の例では、入力端子INとインターフェース回路のトラ
ンジスタ106,111のゲートとの間に、CMOSト
ランスファーゲート120,121,122,123が
設けられ、LVTTL/SSTL判定回路100の出力
n10及びその反転信号で制御される。
【0028】判定回路100がLVTTLを検出して出
力n10をLレベルにすると、インバータ101の出力
はHレベルとなり、N型トランジスタ122とP型トラ
ンジスタ123とが導通し、入力INは第一のインター
フェース回路IF1のトランジスタ111のゲートに与
えられる。その時、トランジスタ120,121からな
るトランスファーゲートが非導通状態になるので、入力
端子INのゲート容量は、トランジスタ106の分だけ
少なくなる。トランスファーゲートの接合容量は、ゲー
ト容量に比較して小さいので、図2の例では、入力端子
INに接続される容量は、図1の例よりも少なくなる。
尚、トランスファーゲート116,117も、同様に判
定回路の出力により導通して、トランジスタ111のド
レインノードn11が出力端子OUTに接続される。
【0029】判定回路100がSSTLを検出して出力
n10をHレベルにすると、トランスファー120,1
21が導通し、入力端子INが第二のインターフェース
回路IF2のトランジスタ106のゲートに接続され、
第一のインターフェース回路IF1のトランジスタ11
1のゲートは切り離される。尚、トランスファーゲート
114,115も、同様に判定回路の出力により導通し
て、トランスファー106のドレインノードn12が出
力端子OUTに接続される。
【0030】[第二の実施の形態例]図3は、本発明の
第二の実施の形態例のレベルインターフェース回路を示
す図である。この例は、ゲートに入力INが与えられる
トランジスタ306とゲートにレファレンスレベルVre
f が与えられるトランジスタ307とをソース共通接続
し、そのソースノードnsとグランドVssとの間に入力
イネーブル信号ENが与えられる電流源トランジスタ2
08を設ける。更に、トランジスタ306,307のド
レイン側に、P型トランジスタ304,305からなる
負荷回路を接続する。ここまでの構成は、従来例と同等
である。
【0031】更に、本実施の形態例では、負荷回路のト
ランジスタ304,305のソースノードn31、n3
2と外部電源Vccとの間に、ソースノードn31,n3
2の電圧を制御する電圧制御用のP型トランジスタ30
2,303が設けられる。そして、トランジスタ30
2,303のゲートは、電圧制御回路301の出力n3
0で制御される。更に、電圧制御回路301は、LVT
TL/SSTL判定回路100の出力n10により制御
される。
【0032】今仮に、判定回路100がレファレンスレ
ベルVref からLVTTLを判定したとすると、電圧制
御回路301の出力n30は、P型トランジスタ30
2,303が完全に導通しない動作範囲で動作するレベ
ルに制御される。具体的には、出力n30のレベルは、
外部電源Vccから閾値電圧Vth程度低いレベルに制御
される。その結果、トランジスタ302,303はある
程度の高いインピーダンスを有して導通し、ノードn3
1、n32は、外部電源Vccより低い電位に制御され
る。そのため、入力INとレファレンスレベルVref に
外部電源Vccの変動に依存しない固定電位が与えられる
場合、外部電源Vccの変動による出力OUTへの影響
を、抑えることができる。
【0033】逆に、判定回路100がレファレンスレベ
ルVref からSSTLを判定したとすると、電圧制御回
路301の出力n30は、P型トランジスタ302,3
03が完全に導通するするレベルに制御される。具体的
には、出力n30のレベルは、外部電源Vccから閾値電
圧Vth以上十分に低いレベル(例えばグランドレベ
ル)に制御される。その結果、トランジスタ302,3
03のインピーダンスは低くなり、実質的に、ノードn
31、n32は、外部電源Vccの電位に制御される。し
たがって、ノードn31,n32には、外部電源Vccの
変動がそのまま伝えられる。
【0034】SSTLの場合は、入力INとレファレン
スレベルVref が外部電源Vccから決められているの
で、それらが外部電源Vccの変動と同様に変動しても、
トランジスタ306,307の動作範囲が大きく変動す
ることはない。この動作は、図1における第二のインタ
ーフェース回路IF2と全く同じである。
【0035】図4は、両インターフェースの判定回路の
例を示す図である。この判定回路は、集積回路装置のレ
ファレンスレベル端子42に供給されるレベルを、抵抗
401,402で分割したノードn41のレベルと比較
することにより、LVTTL又はSSTLの判別を行
う。LVTTLのインターフェースの場合は、レファレ
ンスレベル端子42には、外部電源Vccが供給されるか
或いはフローティングになる。一方、SSTLのインタ
ーフェースの場合は、レファレンスレベル端子42に
は、外部からレファレンスレベルVref が与えられる。
このレファレンスレベルVref は、外部電源Vccの45
%の電位を有する。従って、ノードn41の電位を、S
STLのインターフェースの時に供給されるレファレン
スレベルVref と外部電源Vccとの間に設定すること
で、トランジスタ405,406の差動回路により、端
子42に与えられる電位を検出することができる。
【0036】尚、電流源トランジスタ407はゲートに
外部電源Vccが与えられ、導通状態にある。また、トラ
ンジスタ403,404はカレントミラー回路構成の負
荷回路である。トランジスタ406のドレイン端子がイ
ンバータ409,410を介して出力n10として出力
される。
【0037】今仮に、LVTTLのインターフェースと
すると、レファレンスレベル端子42は電源Vccかフロ
ーティング状態にあるので、プルアップ抵抗408によ
り、トランジスタ406のゲートの電位は、レファレン
ス電位のノードn41よりも高くなる。従って、トラン
ジスタ406のドレインはLレベルとなり、出力n10
もLレベルとなる。
【0038】一方、SSTLのインターフェースとする
と、レファレンスレベル端子42はレファレンスレベル
Vref が与えられるので、ノードn41よりも低くな
り、トランジスタ406のドレインはHレベルとなり、
出力n10もHレベルとなる。
【0039】かくして、判定回路100は、LVTTL
の時は出力n10をLレベルにし、SSTLの時は出力
n10をHレベルにする。
【0040】図5は、電圧制御回路301の例を示す図
である。この回路では、判定回路100の判定出力n1
0に応じて、抵抗502と503による抵抗分割により
ノードn50に生成した電位またはグランドVssを出力
n30に供給する。即ち、判定回路100が、LVTT
Lのインターフェースを検出して出力n10をLレベル
にすると、トランスファーゲート504,505が導通
し、出力n30にノードn50の電位が出力される。一
方、判定回路100が、SSTLのインターフェースを
検出して出力n10をHレベルにすると、トランスファ
ーゲート506,507が導通し、出力n30にグラン
ド電位Vssが出力される。
【0041】そして、図3に戻り、出力n30がノード
n50の中間的なレベルの時は、P型トランジスタ30
2,303はインピーダンスが高い導通状態に制御さ
れ、ノードn31,n32は、外部電源Vccよりも低い
電位に制御される。しかも、外部電源Vccの変動に応じ
て、ノードn50の電位も変動するので、のーどn3
1,n32は内部電源Viiと同等の固定電位となる。一
方、出力n30がグランドVssの時は、P型トランジス
タ302,303はインピーダンスが低い導通状態に制
御され、ノードn31,n32は外部電源Vccと同じ電
位になる。
【0042】[第三の実施の形態例]図6は第三の実施
の形態例のレベルインターフェース回路を示す図であ
る。この例は、ゲートに入力INが与えられるトランジ
スタ206とゲートにレファレンスレベルVref が与え
られるトランジスタ207とがソース共通接続され、そ
のソースノードnsに、LVTTL用の電流源トランジ
スタ208とSSTL用の電流源トランジスタ209を
接続する。そして、トランジスタ206,207のドレ
インと外部電源Vccとの間に、P型トランジスタ20
4,205からなる負荷回路が設けられる。この負荷回
路は、カレントミラー回路である。
【0043】更に、この例では、LVTTL/SSTL
判定回路100の判定出力n10により、電流源トラン
ジスタ208と209が制御される。LVTTLのイン
ターフェースが検出されるときは、出力n10がLレベ
ルになり、入力イネーブル信号ENが活性状態のLレベ
ルの時に、NORゲート202を介してトランジスタ2
08が導通する。一方、SSTLのインターフェースが
検出されるときは、出力n10がHレベルになり、入力
イネーブル信号ENが活性状態のLレベルの時に、NO
Rゲート203を介してトランジスタ209が導通す
る。
【0044】そして、LVTTL用の電流源トランジス
タ208の導通状態のインピーダンスは、SSTL用の
電流源トランジスタ209の導通状態のインピーダンス
よりも低くなるよう設計される。その結果、LVTTL
用の電流源トランジスタ208が導通する場合は、ソー
スノードnsの電位が、SSTL用の電流源トランジス
タ20が導通する場合よりも低くなる。この様に、ソー
スノードnsの電位が制御されることにより、それぞれ
のインピーダンスに適応した差動トランジスタ206,
207の動作を保障することができる。
【0045】即ち、インターフェースの仕様上は、LV
TTLの場合のレファレンスレベルVref は、既に述べ
た通り1.4V固定である。一方、SSTLの場合のレ
ファレンスレベルVref は、3.0〜3.6Vが許容さ
れる外部電源Vccの0.43〜0.47倍と規定されて
いる。その為、SSTLの場合のレファレンスレベルV
ref は、最高値で1.7V、最低値で1.3Vとなる。
従って、総じて、SSTLの場合のレファレンスレベル
Vref (1.7〜1.3V)がLVTTLの場合のレフ
ァレンスレベルVref (1.4V)よりも高くなる。
【0046】その為、上記した第三の実施の形態例で
は、LVTTLの場合は、トランジスタ208を導通さ
せて低いインピーダンスの電流源トランジスタとし、ソ
ースノードnsの電位を低く設定する。一方、SSTL
の場合は、トランジスタ209を導通させて高いインピ
ーダンスの電流源トランジスタとし、ソースノードns
の電位を高く設定する。その結果、差動トランジスタ2
06,207のレファレンスレベルVref とソースノー
ドnsとの電位差は、それぞれのレファレンスレベルV
ref の電位にかかわらず変動が少なくなる。その結果、
レベルインターフェース回路の動作マージンを適正にす
ることができる。
【0047】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、異
なるインターフェースの入力信号及びレファレンスレベ
ルVref に対応して、動作マージンを適正に保って動作
することができるレベルインターフェース回路を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態例のレベルインターフェー
ス回路を示す図である。
【図2】図1の実施の形態例の変形例である。
【図3】本発明の第二の実施の形態例のレベルインター
フェース回路を示す図である。
【図4】インターフェースの判定回路の例を示す図であ
る。
【図5】電圧制御回路の例を示す図である。
【図6】本発明の第三の実施の形態例のレベルインター
フェース回路を示す図である。
【図7】従来のレベルインターフェース回路の例を示す
図である。
【図8】インターフェースのLVTTLとSSTLのレ
ベルの関係を示す図である。
【符号の説明】
IF1 第一のインターフェース回路 IF2 第二のインターフェース回路 106,107 第一、第二のトランジスタ 108 電流源トランジスタ 111,112 第三、第四のトランジスタ 113 電流源トランジスタ 100 判定回路 302,303 電圧制御トランジスタ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】固定電位のHレベル、Lレベル及びその中
    間の第一のレファレンスレベルを有する第一のインター
    フェースの入力、または、電源電圧に応じて決められた
    第二のレファレンスレベル、Hレベル、Lレベルを有す
    る第二のインターフェースの入力が供給され、前記入力
    と前記レファレンスレベルを比較して出力を生成するレ
    ベルインターフェース回路において、 前記入力と第一のレファレンスレベルがそれぞれのゲー
    トに供給され、ソースが共通接続された第一及び第二の
    トランジスタと、該第一及び第二のトランジスタのソー
    ス側に接続された第一の電流源トランジスタと、該第一
    及び第二のトランジスタのドレインと前記電源電圧より
    低い固定の内部電圧との間に設けられた第一の負荷回路
    とを有する第一のインターフェース回路と、 前記入力と第二のレファレンスレベルがそれぞれのゲー
    トに供給され、ソースが共通接続された第三及び第四の
    トランジスタと、該第三及び第四のトランジスタのソー
    ス側に接続された第二の電流源トランジスタと、該第三
    及び第四のトランジスタのドレインと前記電源電圧との
    間に設けられた第二の負荷回路とを有する第二のインタ
    ーフェース回路と、 前記入力が第一または第二のインターフェースのいずれ
    かに対応するかを判定し、それに応じて前記第一または
    第二の電流源トランジスタを導通する選択回路とを有す
    ることを特徴とするレベルインターフェース回路。
  2. 【請求項2】請求項1において、 更に、前記選択回路の判定に応じて、前記第一または第
    二のトランジスタのドレインまたは第三または第四のト
    ランジスタのドレインを、前記出力が供給される出力端
    子に接続するスイッチ回路を有することを特徴とするレ
    ベルインターフェース回路。
  3. 【請求項3】請求項1において、 更に、前記選択回路の判定に応じて、前記第一のトラン
    ジスタのゲートまたは第三のトランジスタのゲートを、
    前記入力が供給される入力端子に接続するスイッチ回路
    を有することを特徴とするレベルインターフェース回
    路。
  4. 【請求項4】固定電位のHレベル、Lレベル及びその中
    間の第一のレファレンスレベルを有する第一のインター
    フェースの入力、または、電源電圧に応じて決められた
    第二のレファレンスレベル、Hレベル、Lレベルを有す
    る第二のインターフェースの入力が供給され、前記入力
    と前記レファレンスレベルを比較して出力を生成するレ
    ベルインターフェース回路において、 前記入力とレファレンスレベルがそれぞれのゲートに供
    給されソースが共通接続された第一及び第二のトランジ
    スタと、該第一及び第二のトランジスタのソース側に接
    続された電流源トランジスタと、該第一及び第二のトラ
    ンジスタのドレインにそれぞれ接続された負荷回路と、
    前記負荷回路と前記電源電圧との間に設けられた電圧制
    御用トランジスタとを有し、 前記入力が第一または第二のインターフェースのいずれ
    かに対応するかを判定し、それに応じて前記電圧制御用
    トランジスタのインピーダンスを高くまたは低くする電
    圧制御回路を更に有することを特徴とするレベルインタ
    ーフェース回路。
  5. 【請求項5】固定電位のHレベル、Lレベル及びその中
    間の第一のレファレンスレベルを有する第一のインター
    フェースの入力、または、電源電圧に応じて決められた
    第二のレファレンスレベル、Hレベル、Lレベルを有す
    る第二のインターフェースの入力が供給され、前記入力
    と前記レファレンスレベルを比較して出力を生成するレ
    ベルインターフェース回路において、 前記入力とレファレンスレベルがそれぞれのゲートに供
    給されソースが共通接続された第一及び第二のトランジ
    スタと、該第一及び第二のトランジスタのソース側に接
    続された電流源トランジスタと、該第一及び第二のトラ
    ンジスタのドレインと前記電源電圧との間にそれぞれ設
    けられた負荷回路とを有し、 前記入力が第一または第二のインターフェースのいずれ
    かに対応するかを判定し、それに応じて前記電流源トラ
    ンジスタのインピーダンスを低くまたは高くする選択回
    路を更に有することを特徴とするレベルインターフェー
    ス回路。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100352767B1 (ko) * 2000-07-19 2002-09-16 삼성전자 주식회사 고속 반도체 디바이스에 적합한 인터페이스 회로 및인터페이싱 방법
US6795906B2 (en) 2000-06-16 2004-09-21 Nec Corporation Memory controller, interface device and method using a mode selection signal to support different types of memories
US6859067B2 (en) 2000-06-05 2005-02-22 Elpida Memory, Inc. Semiconductor apparatus
JP2005346499A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Canon Inc クロック信号供給装置
JP2012104195A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Elpida Memory Inc 半導体装置及びこれを備える情報処理システム
US9384847B2 (en) 2007-02-16 2016-07-05 Conversant Intellectual Property Management Inc. Clock mode determination in a memory system

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2870582B2 (ja) * 1996-02-16 1999-03-17 日本電気株式会社 ハイパーメディア文書管理装置
EP0809254B1 (en) * 1996-05-24 2003-10-15 STMicroelectronics S.r.l. Line decoder for memory devices
JPH1020974A (ja) * 1996-07-03 1998-01-23 Fujitsu Ltd バス構造及び入出力バッファ
US5877632A (en) * 1997-04-11 1999-03-02 Xilinx, Inc. FPGA with a plurality of I/O voltage levels
JP3796034B2 (ja) * 1997-12-26 2006-07-12 株式会社ルネサステクノロジ レベル変換回路および半導体集積回路装置
US6144226A (en) * 1999-01-08 2000-11-07 Sun Microsystems, Inc. Charge sharing selectors with added logic
KR100287888B1 (ko) * 1999-01-12 2001-04-16 김영환 레벨 시프터 회로
JP4226710B2 (ja) * 1999-01-25 2009-02-18 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 入力バッファ回路、及び半導体装置の動作試験方法
US6552569B2 (en) * 2000-12-22 2003-04-22 National Semiconductor Corporation Dual purpose low power input circuit for a memory device interface
US7167023B1 (en) 2001-08-29 2007-01-23 Altera Corporation Multiple data rate interface architecture
US6686769B1 (en) * 2001-12-14 2004-02-03 Altera Corporation Programmable I/O element circuit for high speed logic devices
US6825692B1 (en) * 2002-01-25 2004-11-30 Altera Corporation Input buffer for multiple differential I/O standards
US6894537B1 (en) 2002-12-18 2005-05-17 National Semiconductor Corporation Apparatus and method for level shifting in power-on reset circuitry in dual power supply domains
US6771062B1 (en) * 2003-05-14 2004-08-03 Advantest Corporation Apparatus for supporting and manipulating a testhead in an automatic test equipment system
GB2404799B (en) * 2003-08-05 2007-03-21 Agilent Technologies Inc Integrated circuit and method of improving signal integrity
US7202699B1 (en) * 2003-09-15 2007-04-10 Cypress Semiconductor Corporation Voltage tolerant input buffer
TWI306251B (en) * 2004-06-18 2009-02-11 Tian Holdings Llc System of sampleing interface for pick-up head
US7355450B1 (en) 2005-05-27 2008-04-08 Altera Corporation Differential input buffers for low power supply
US7382168B2 (en) * 2005-08-30 2008-06-03 Agere Systems Inc. Buffer circuit with multiple voltage range
US7924065B2 (en) * 2008-07-17 2011-04-12 Continental Automotive Gmbh Control circuit for a power field-effect transistor and method for configuring a control circuit for a power field-effect transistor

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5019729A (en) * 1988-07-27 1991-05-28 Kabushiki Kaisha Toshiba TTL to CMOS buffer circuit
JP3547752B2 (ja) * 1994-06-13 2004-07-28 株式会社 日立製作所 信号受信回路とディジタル信号処理システム
KR0120606B1 (ko) * 1994-12-31 1997-10-30 김주용 반도체 기억소자의 자동모드 선택 회로
JPH1166862A (ja) * 1997-08-14 1999-03-09 Nec Corp 半導体メモリ

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6859067B2 (en) 2000-06-05 2005-02-22 Elpida Memory, Inc. Semiconductor apparatus
US6795906B2 (en) 2000-06-16 2004-09-21 Nec Corporation Memory controller, interface device and method using a mode selection signal to support different types of memories
KR100352767B1 (ko) * 2000-07-19 2002-09-16 삼성전자 주식회사 고속 반도체 디바이스에 적합한 인터페이스 회로 및인터페이싱 방법
JP2005346499A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Canon Inc クロック信号供給装置
US9384847B2 (en) 2007-02-16 2016-07-05 Conversant Intellectual Property Management Inc. Clock mode determination in a memory system
US11347396B2 (en) 2007-02-16 2022-05-31 Mosaid Technologies Incorporated Clock mode determination in a memory system
JP2012104195A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Elpida Memory Inc 半導体装置及びこれを備える情報処理システム
US8917563B2 (en) 2010-11-11 2014-12-23 Ps4 Luxco S.A.R.L. Semiconductor device and information processing system including an input circuit with a delay

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Publication number Publication date
KR19990029112A (ko) 1999-04-26
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