JPH1166849A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH1166849A
JPH1166849A JP9218605A JP21860597A JPH1166849A JP H1166849 A JPH1166849 A JP H1166849A JP 9218605 A JP9218605 A JP 9218605A JP 21860597 A JP21860597 A JP 21860597A JP H1166849 A JPH1166849 A JP H1166849A
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circuit
power
clock
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博之 大竹
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成夫 大島
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    • GPHYSICS
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    • G11C7/20Memory cell initialisation circuits, e.g. when powering up or down, memory clear, latent image memory

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Abstract

(57)【要約】 【課題】パワーダウンモードの解除からコマンド入力ま
での時間が長く、回路構成の簡単化、消費電流の削減が
困難であった。 【解決手段】パワーダウン制御回路14は、クロック信
号と非同期のクロックイネーブル信号CKEがハイレベ
ルとなると、パワーダウン信号/PDENTRをハイレ
ベルとしてパワーダウンモードを解除する。クロック制
御回路13はパワーダウンモードが解除されると、マス
ク信号/CLKMSKを解除し、クロック駆動回路12
は内部クロック信号CP1を出力し、コマンドデコーダ
43の出力信号をラッチ可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばシンクロナ
スDRAM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモ
リ)等のクロック信号に同期して動作する半導体記憶装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】近時、従来のDRAMをSRAM(スタ
ティック・ランダム・アクセス・メモリ)並にデータア
クセスを高速化し、高いデータバンド幅(単位時間当た
りのデータバイト数)を得るため、シンクロナスDRA
Mが提案されている。このシンクロナスDRAMは、既
に、4Mビット、16Mビット世代の製品が実用化され
ている。このシンクロナスDRAMは、従来のDRAM
のカラム系回路によって制御されるメモリセルアレイの
ビット線にラッチされたデータを入出力(I/O)ピン
に出力するまでの時間、所謂カラムアクセスタイム(t
CAC)を高速化する点が最大の特徴である。さらに、
全ての動作がクロック信号入力ピンに入力されるクロッ
ク信号の立ち上がりに同期している点も、従来のDRA
Mと大きく異なっている。
【0003】ところで、このシンクロナスDRAMは、
パワーダウンモードを備えている。このパワーダウンモ
ードは、チップをアクセスしないスタンバイ状態での消
費電流を削減するために用いられるモードである。この
パワーダウンモードに入ると、チップ内部では、入力バ
ッファ回路等の動作を停止させ、消費電流を削減する制
御が実行される。
【0004】図9は、シンクロナスDRAMに使用され
る従来のパワーダウン制御部とその周辺の回路を示して
いる。クロック信号CLKは入力バッファ回路81、8
2にそれぞれ供給される。これら入力バッファ回路8
1、82から出力されるクロック信号CLKIN1、C
LKIN2はそれぞれクロック駆動回路83、84に供
給され、これらクロック駆動回路83、84から内部ク
ロック信号CP1、CP2が出力される。これら内部ク
ロック信号CP1、CP2はパイプライン構造を構成す
る各ステージに供給される。
【0005】また、クロック信号の入力を許容するクロ
ックイネーブル信号CKEは入力バッファ回路85に供
給される。この入力バッファ回路85の出力信号CKE
INはクロック制御回路86に供給される。このクロッ
ク制御回路86は前記入力バッファ回路82の出力信号
CLKIN2、及びクロック信号に同期してデータを連
続的に出力するバースト動作時を示す信号BURSTに
応じて、パワーダウンモードに入ることを示すパワーダ
ウン信号/PDENTRを発生するとともに、このパワ
ーダウン信号/PDENTRが発生されている場合、ク
ロック信号をマスクするマスク信号/CLKMSKを発
生する。このマスク信号/CLKMSKは、前記クロッ
ク駆動回路83、84に供給され、前記パワーダウン信
号/PDENTRは、前記入力バッファ回路81、及び
他の入力バッファ回路87に供給される。
【0006】前記入力バッファ回路87には、ローアド
レスストローブ信号/RAS、カラムアドレスストロー
ブ信号/CAS、チップセレクト信号/CS、書き込み
イネーブル信号/WE等の信号(これらを総称してCT
RLSIGと称す)が供給される複数の入力バッファ回
路を含んでいる。この入力バッファ回路87の出力信号
COMINはコマンドデコーダ88に供給される。この
コマンドデコーダ88はローアドレスストローブ信号/
RAS、カラムアドレスストローブ信号/CAS等をデ
コードし、書き込み、読み出し等の各種コマンドCOM
DECを生成する。この生成されたコマンドCOMDE
Cは前記内部クロック信号CP1、/CP1により駆動
されるクロックドインバータ回路89、インバータ回路
90を介して前記内部クロック信号CP1、/CP1に
より駆動されるクロックドインバータ回路91に供給さ
れ、このクロックドインバータ回路91の出力信号CO
MLTCが図示せぬ内部回路へ供給される。
【0007】図10は、前記入力バッファ回路81の回
路構成を示している。入力バッファ回路81において、
カレントミラー回路91は、PチャネルMOSトランジ
スタ(以下、PMOSトランジスタと称す)81a、8
1b、81c、及びNチャネルMOSトランジスタ(以
下、NMOSトランジスタと称す)81d、81e、8
1fにより構成されている。前記PMOSトランジスタ
81aのゲートには、接地電位Vssが供給され、NMO
Sトランジスタ81dのゲートには基準電位Vref が供
給され、NMOSトランジスタ81eのゲートにはクロ
ック信号CLKが供給され、NMOSトランジスタ81
fのゲートには前記パワーダウン信号/PDENTRが
供給されている。
【0008】前記PMOSトランジスタ81cとNMO
Sトランジスタ81eの接続ノードN1と、電源Vccの
相互間には、PMOSトランジスタ81gが接続されて
いる。このPMOSトランジスタ81gのゲートには前
記パワーダウン信号/PDENTRが供給されている。
【0009】さらに、前記接続ノードN1には、フリッ
プフロップ回路81hを構成するナンド回路81iの一
方入力端が接続されている。このフリップフロップ回路
81hを構成するナンド回路81jの一方入力端と他方
入力端の相互間には遅延回路81kを構成する例えば3
つのインバータ回路が直列接続されている。前記ナンド
回路81iの出力端にはインバータ回路81l、81m
が直列接続され、インバータ回路81mの出力端から信
号CLKIN1が出力される。
【0010】図11は、前記クロック駆動回路83の回
路構成を示している。このクロック駆動回路83は、前
記信号CLKIN1とマスク信号/CLKMSKが供給
されるナンド回路83aと、このナンド回路83aの出
力端に接続されたインバータ回路83bとからなり、こ
のインバータ回路83bの出力端から内部クロック信号
CP1が出力される。
【0011】図12は、前記入力バッファ回路82の構
成を示し、図13は、前記クロック駆動回路84の構成
を示している。入力バッファ回路82は、前記入力バッ
ファ回路81と殆ど同様の構成であり、クロック駆動回
路84は前記クロック駆動回路83と殆ど同様の構成で
あるため、同一部分には同一符号を付し、異なる部分に
ついてのみ説明する。
【0012】すなわち、図12に示す入力バッファ回路
82において、NMOSトランジスタ81fのゲートに
は電源電圧Vccが供給され、接続ノードN1にはPMO
Sトランジスタ81gが接続されていない。また、イン
バータ回路81mからは信号CLKIN2が出力され
る。
【0013】図13に示すクロック駆動回路84におい
て、ナンド回路83aの入力端には信号CLKIN2が
供給され、インバータ回路83bの出力端からは内部ク
ロック信号CP2が出力される。
【0014】図14は、前記入力バッファ回路87の回
路構成を示している。この回路において、カレントミラ
ー回路92は、PMOSトランジスタ87a、87b、
87c、及びNMOSトランジスタ87d、87e、8
7fにより構成されている。前記PMOSトランジスタ
87aのゲートには、接地電位Vssが供給され、NMO
Sトランジスタ87dのゲートには基準電位Vref が供
給され、NMOSトランジスタ87eのゲートには信号
CTRLSIGが供給され、NMOSトランジスタ87
fのゲートには前記パワーダウン信号/PDENTRが
供給されている。
【0015】前記PMOSトランジスタ87cとNMO
Sトランジスタ87eの接続ノードN2と、電源Vccの
相互間には、PMOSトランジスタ87gが接続されて
いる。このPMOSトランジスタ87gのゲートには前
記パワーダウン信号/PDENTRが供給されている。
【0016】さらに、前記接続ノードN2には、3つの
インバータ回路87h、87i、87jが直列接続さ
れ、インバータ回路87jの出力端より、信号COMI
Nが出力される。
【0017】図15は、前記入力バッファ回路85の回
路構成を示している。この入力バッファ回路は前記入力
バッファ回路87と殆ど同様の構成であるため、同一部
分には同一符号を付し、異なる部分についてのみ説明す
る。
【0018】図15において、NMOSトランジスタ8
7fのゲートには電源電圧Vccが供給され、接続ノード
N2にはPMOSトランジスタ87gが接続されていな
い。また、インバータ回路87jからは信号CKEIN
が出力される。
【0019】図16は、前記クロック制御回路86の構
成を示している。この回路はクロックドインバータ回路
86a、86c、86g、インバータ回路86b、86
d、86f、86h、86iが図示順序で直列接続さ
れ、インバータ回路86iの出力端からマスク信号/C
LKMSKが出力される。前記インバータ回路86dに
はクロックドインバータ回路86eが並列接続され、こ
れらによりラッチ回路が構成されている。前記クロック
ドインバータ回路86a、86c、86e、86gは、
それぞれ前記信号CLKIN2、及びその反転信号/C
LKIN2により駆動される。前記クロックドインバー
タ回路86gの出力端はノア回路86iの一方入力端に
接続されている。このノア回路86iの他方入力端には
前記信号BURSTが供給され、出力端はインバータ回
路86kの入力端に接続されている。このインバータ回
路86kの出力端よりパワーダウン信号/PDENTR
が出力される。
【0020】図17は、図9乃至図16に示す回路の動
作を示している。上記構成において、入力バッファ回路
85に供給されるクロックイネーブル信号CKEがロー
レベルとされると、この入力バッファ回路85の出力信
号CKEINがローレベルとなり、クロック制御回路8
6よりパワーダウン信号/PDENTRが出力され、パ
ワーダウンモードに入る。入力バッファ回路81、87
は前記パワーダウン信号/PDENTRに従い停止さ
れ、消費電流が削減される。また、この時、クロック制
御回路86より出力されるマスク信号/CLKMSKに
よりクロック駆動回路83、84から出力される内部ク
ロック信号CP1、CP2がマスクされる。
【0021】上記パワーダウンモードにおいて、クロッ
クイネーブル信号CKEがハイレベルとされると、常時
活性化状態の入力バッファ回路85から信号CKEIN
が出力される。また、入力バッファ回路82も、常時活
性化状態であり、クロック制御回路86は、この入力バ
ッファ回路82から供給される信号CLKIN2、/C
KIN2に応じて前記入力バッファ回路85から出力さ
れる信号CKEINを取り込み、この信号CKEINに
応じてパワーダウン信号/PDENTR、及びマスク信
号/CLKMSKをハイレベルとする。このため、パワ
ーダウンモードが解除され、入力バッファ回路81、8
7等が動作され、コマンドのデコード及びラッチ等が可
能となる。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
構成では、パワーダウンモードにおいて、クロックイネ
ーブル信号CKEをハイレベルとすると、外部から供給
されるクロック信号CLKを受けて、パワーダウンモー
ドを解除している。このため、パワーダウンモードを解
除し、各回路を活性化するために、クロックイネーブル
信号CKEをハイレベルとした後に、外部クロック信号
CLKを必ず1クロック必要とする。つまり、図17に
示すように、パワーダウンモードを解除するためのクロ
ック信号CLKnの次のクロック信号CLKn+1でな
ければ内部クロック信号CP1が出力されない。クロッ
クドインバータ回路91は、この内部クロック信号CP
1に応じてコマンドを受けるため、パワーダウンモード
を解除してからコマンドをラッチするまでに時間がかか
る。
【0023】また、パワーダウンモードが解除されるま
での時間がサイクルタイムに依存しているため、サイク
ルタイムが長くなると、当然、クロックイネーブル信号
CKEをハイレベルとしてからパワーダウンモードが解
除されるまでの時間も長くなる。したがって、この場
合、パワーダウンモードを解除してからコマンドをラッ
チするまでに一層時間がかかることとなる。
【0024】さらに、パワーダウンモードを解除するた
めにクロック信号CLKから生成した信号CLKIN2
を必要とするため、入力バッファ回路82を常時活性化
しておく必要がある。このため、クロック信号を受ける
入力バッファ回路として、パワーダウンモード時に非活
性状態の入力バッファ回路と活性状態の入力バッファ回
路の二種類の回路を必要とするため回路構成が複雑であ
り、しかも、パワーダウンモード時に活性化状態の入力
バッファ回路が複数あるため、消費電流が多くなるとい
う問題を有している。
【0025】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、その目的とするところは、パワーダウ
ンモードの解除からコマンド入力までの時間を短縮でき
るとともに、回路構成を簡単化でき消費電流を削減可能
な半導体記憶装置を提供しようとするものである。
【0026】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
は、上記課題を解決するため、クロック信号の入力を許
容するクロックイネーブル信号の第1の論理レベルに応
じてパワーダウンモードを設定する第1の論理レベルの
パワーダウン信号を生成し、前記クロックイネーブル信
号の第2の論理レベルに応じて、前記パワーダウンモー
ドを解除する第2の論理レベルのパワーダウン信号を生
成するパワーダウン制御回路と、前記パワーダウン制御
回路から出力される前記第1の論理レベルのパワーダウ
ン信号に応じて内部クロック信号を非活性とし、前記第
2の論理レベルのパワーダウン信号に応じて内部クロッ
ク信号を活性化するクロック制御部と、入力信号をデコ
ードするデコーダと、前記クロック制御部により活性化
された内部クロック信号に応じて前記デコーダの出力信
号をラッチするラッチ回路とを具備している。
【0027】前記パワーダウン制御回路と前記デコーダ
の相互間に配置され、前記パワーダウン制御回路から出
力される前記第2の論理レベルのパワーダウン信号に応
じて、前記デコーダが入力信号をデコードするタイミン
グを前記クロック制御部が前記内部クロック信号を活性
化するまで遅延する遅延手段とを具備している。
【0028】前記クロック制御部は、前記パワーダウン
制御回路から出力される前記第1の論理レベルのパワー
ダウン信号に応じて前記内部クロック信号をマスクする
第1の論理レベルのマスク信号を生成し、前記第2の論
理レベルのパワーダウン信号に応じて前記マスクを解除
する第2の論理レベルのマスク信号を生成するクロック
制御回路と、外部から供給されるクロック信号を受け、
前記パワーダウン制御回路から出力される前記第1の論
理レベルのパワーダウン信号に応じて非活性とされる入
力バッファ回路と、前記入力バッファ回路の出力信号が
供給され、前記第1の論理レベルのマスク信号に応じて
前記内部クロック信号をマスクし、前記第2の論理レベ
ルのマスク信号に応じて前記内部クロック信号を出力す
るクロック駆動回路とを具備している。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。先ず、図2を参照してこの
発明が適用される半導体記憶装置の構成について説明す
る。図2において、クロック信号CLK、チップセレク
ト信号/CS、ローアドレスストローブ信号/RAS、
カラムアドレスストローブ信号/CAS、書き込みイネ
ーブル信号/WEは、それぞれ図示せぬ外部接続ピンに
供給される。前記クロック信号CLKは入力バッファ回
路41aに供給され、前記チップセレクト信号/CSは
入力バッファ回路41bに供給され、前記ローアドレス
ストローブ信号/RASは入力バッファ回路41cに供
給され、前記カラムアドレスストローブ信号/CASは
入力バッファ回路41dに供給され、前記書き込みイネ
ーブル信号/WEは入力バッファ回路41eに供給され
る。
【0030】前記入力バッファ回路41aは、複数の入
力バッファ回路を有し、クロック信号CLKはこれらバ
ッファにそれぞれ供給される。これら入力バッファ回路
から出力されるクロック信号はクロック駆動回路42に
供給される。このクロック駆動回路42も前記複数の入
力バッファ回路に対応して複数のクロック駆動回路を有
している。これらクロック駆動回路はクロック信号を出
力し、制御信号発生部44やその他の回路に供給する。
これらクロック駆動回路42、入力バッファ回路41a
は、チップ内の各部に供給されるクロック信号のスキュ
ーを減少させたり、多くの回路を駆動するためにそれぞ
れ複数設けている。
【0031】前記入力バッファ回路41b、41c、4
1d、41eから出力されるチップセレクト信号/C
S、ローアドレスストローブ信号/RAS、カラムアド
レスストローブ信号/CAS、書き込みイネーブル信号
/WEは、コマンドデコーダ43に供給される。このコ
マンドデコーダ43は、例えばローアドレスストローブ
信号/RAS、カラムアドレスストローブ信号/CAS
に基づいて、データの読み出しコマンドや書き込みコマ
ンド、レイテンシを切り替えるコマンド等を生成する。
このコマンドデコーダ43の出力信号は後述するラッチ
回路を介して前記制御信号発生部44に供給される。
【0032】一方、クロックイネーブル信号CKEは、
入力バッファ回路41fを介してパワーダウン制御部4
5に供給される。このパワーダウン制御部45はクロッ
クイネーブル信号CKEに応じて、パワーダウン信号/
PDENTR、マスク信号/CLKMSK、コマンドイ
ネーブル信号COMEBLを発生する。パワーダウン信
号/PDENTRは前記入力バッファ回路41a〜41
e、前記制御信号発生部44、アドレスバッファ回路4
1g、及び入力バッファ回路41h、41iに供給さ
れ、スタンバイ時に、これらの回路の消費電流が削減さ
れる。クロック信号をサスペンドするための前記マスク
信号/CLKMSKはクロック駆動回路12に供給さ
れ、コマンドイネーブル信号COMEBLはコマンドデ
コーダ43に供給される。
【0033】また、アドレス信号A0〜A11は前記ア
ドレスバッファ回路41gを介して前記制御信号発生部
44に供給される。この制御信号発生部44はモードレ
ジスタ44a、オペレーション・クロック制御回路44
b、カラムカウンタ44c、バースト長カウンタ44
d、アドレス・パーシャル・デコーダ44e、及び図示
せぬリフレッシュ回路を有している。
【0034】前記モードレジスタ44aはレイテンシの
制御情報、バースト長の制御情報を記憶する。前記オペ
レーション・クロック制御回路44bは前記クロック駆
動回路42から供給されるクロック信号に応じてカラム
デコーダの動作タイミング、カラム選択線の選択タイミ
ング、読み出しデータや書き込みデータを保持する図示
せぬDQバッファの動作タイミング、及びパイプライン
の各ステージを切換えるクロック信号等を制御する。前
記カラムカウンタ44cはバースト読み出し時のカラム
アドレスをカウントする。前記バースト長カウンタ44
dはバースト読み出し時にバースト長をカウントする。
前記アドレスパーシャルデコーダ44eはカラムアドレ
ス、及びローアドレスを部分的にデコードする。前記ア
ドレスパーシャルデコーダ44eのデコード出力はメモ
リブロック48に供給される。このメモリブロック48
は複数のバンクを有し、各バンクはメモリセルアレイM
CA、カラムデコーダCDC、ローデコーダRDCを有
している。
【0035】また、データの入出力をマスクする信号U
/LDQMは入力バッファ回路41hを介してDQマス
ク制御回路46に供給され、図示せぬ外部接続ピンに供
給された入力データDQ0〜DQ15は入力バッファ回
路41iを介してデータ制御部47に供給される。デー
タ制御部47はデータの書き込み時、前記DQマスク制
御部46の出力に応じて入力バッファ回路41iから供
給される入力データDQ0〜DQ15を前記メモリセル
ブロック48に供給し、データの読み出し時、メモリセ
ルブロック48から読み出されたデータを増幅し、オフ
チップ駆動部49に供給する。このオフチップ駆動部4
9はデータを図示せぬ外部接続ピンに出力する。
【0036】図1は、この発明の第1の実施の形態を示
すものであり、図2の要部を示している。図1におい
て、図2と同一部分には同一符号を付す。入力バッファ
回路11は、前記入力バッファ回路41aのうちの1つ
を示している。この入力バッファ回路11は、図10に
示す入力バッファ回路81と同一構成であり、クロック
信号CLKとパワーダウン信号/PDENTRが供給さ
れている。この入力バッファ回路11から出力される信
号CLKIN1はクロック駆動回路12に供給される。
このクロック駆動回路12は前記クロック駆動回路42
のうちの1つであり、このクロック駆動回路12は前記
信号CLKIN1に応じて内部クロック信号CP1を出
力する。このクロック駆動回路12は図11に示す回路
と同一である。
【0037】パワーダウン制御部45は、クロック制御
回路13、パワーダウン制御回路14、コマンド制御回
路15とから構成されている。前記パワーダウン制御回
路14には、前記入力バッファ回路41fから出力され
る信号CKEIN、入力バッファ回路11から出力され
る信号CLKIN1、及びバースト動作を示す信号BU
RSTが供給され、これらの信号に応じてパワーダウン
信号/PDENTRを生成する。このパワーダウン信号
/PDENTRは前述したように各部に供給されるとと
もに、前記クロック制御回路13、及びコマンド制御回
路15に供給される。
【0038】前記クロック制御回路13には前記入力バ
ッファ回路41fから出力される信号CKEIN、入力
バッファ回路11から出力される信号CLKIN1、及
びパワーダウン信号/PDENTRが供給され、これら
の信号よりクロック信号をマスクするためのマスク信号
/CLKMSKを生成する。このマスク信号/CLKM
SKは前記クロック駆動回路12に供給される。このマ
スク信号/CLKMSKは、バースト動作時にクロック
イネーブル信号CKEをローレベルとした場合、活性化
状態とされた入力バッファ回路から出力されるクロック
信号をマスクし、外部クロック信号を受け付けないクロ
ックサスペンド状態とする。
【0039】コマンド制御回路15は、パワーダウンモ
ードが解除される時、コマンドイネーブル信号COME
BLを生成し、前記コマンドデコーダ43に供給する。
このコマンドイネーブル信号COMEBLは、パワーダ
ウンモードが解除される時、前記クロック駆動回路12
から出力される内部クロック信号CP1がハイレベルと
なるまでコマンドのデコードを阻止する。
【0040】入力バッファ回路16は、前記入力バッフ
ァ回路41b〜41eを一括して示しており、信号CT
RLSIGは、前記チップセレクト信号/CS、ローア
ドレスストローブ信号/RAS、カラムアドレスストロ
ーブ信号/CAS、書き込みイネーブル信号/WEを総
称している。
【0041】前記コマンドデコーダ43の出力端には、
内部クロック信号CP1、/CP1により駆動されるク
ロックドインバータ回路17、19、及びインバータ回
路18が図示のように直列接続されたラッチ回路20が
接続されており、前記クロックドインバータ回路19の
出力端から、コマンドCOMLTCが出力される。
【0042】図3は、前記クロック制御回路13の回路
構成を示している。前記入力バッファ回路41fから出
力される信号CKEINは、内部クロック信号CP1、
/CP1により駆動されるクロックドインバータ回路1
3aの入力端に接続される。このクロックドインバータ
回路13aの出力端はインバータ回路13b、クロック
ドインバータ回路13cを介してナンド回路13dの一
方入力端に供給される。
【0043】前記パワーダウン信号/PDENTRはナ
ンド回路13eの一方入力端に接続されるとともに、例
えば3つのインバータ回路が直列接続された遅延回路1
3fを介してナンド回路13eの他方入力端に接続され
る。このナンド回路13eの出力端は前記ナンド回路1
3dの他方入力端に接続される。このナンド回路13d
の出力端と、その一方入力端の相互間には内部クロック
信号CP1、/CP1により駆動されるクロックドイン
バータ回路13gが接続されている。さらに、前記ナン
ド回路13dの出力端には、インバータ回路13h、内
部クロック信号CP1、/CP1により駆動されるクロ
ックドインバータ回路13i、及びインバータ回路13
jの直列回路が接続されている。前記インバータ回路1
3jの出力端からマスク信号/CLKMSKが出力され
る。
【0044】図4は、前記パワーダウン制御回路14の
回路構成を示している。信号BURST、及び信号CK
EINはノア回路14aに供給されている。このノア回
路14aの出力端は内部クロック信号CP1、/CP1
により駆動されるクロックドインバータ回路14b、イ
ンバータ回路14cを介してナンド回路14dの一方入
力端に接続されている。
【0045】前記信号CLKIN1はインバータ回路1
4e、14fを介して前記ナンド回路14dの他方入力
端に接続されている。ナンド回路14dの出力端はフリ
ップフロップ回路14gを構成するナンド回路14hの
一方入力端に接続されている。前記フリップフロップ回
路14gを構成するナンド回路14iの一方入力端には
インバータ回路14jを介して信号CKEINが供給さ
れている。前記ナンド回路14iの出力端にはインバー
タ回路14k、14lの直列回路が接続され、インバー
タ回路14lの出力端からパワーダウン信号/PDEN
TRが出力される。前記信号/PDENTRは、パワー
ダウンモード時ローレベルである。バースト信号BUR
STは、前記バースト長カウンタ44dから供給され、
バースト動作中ハイレベル、それ以外の時ローレベルと
される。
【0046】図5は、前記コマンド制御回路15の構成
を示している。前記パワーダウン制御回路14から出力
されるパワーダウン信号/PDENTRは、ナンド回路
15aの一方入力端に供給されるとともに、例えば4つ
のインバータ回路を直列接続して構成された遅延回路1
5bを介して前記ナンド回路15aの他方入力端に供給
される。このナンド回路15aの出力端には、インバー
タ回路15cが接続され、このインバータ回路15cの
出力端からコマンドイネーブル信号COMEBLが出力
される。コマンドイネーブル信号COMEBLはパワー
ダウン信号/PDENTRと同相の遅延信号であり、前
記遅延回路15に設定される遅延時間tdは、クロック
信号CLKがハイレベルの状態で、クロックイネーブル
信号CKEがハイレベルとなってから、コマンドデコー
ダ43よりデコード信号COMDECが出力される迄の
時間が、クロックイネーブル信号CKEがハイレベルと
なってから、内部クロック信号CP1が出力される迄の
時間より長くなるような関係に設定される。換言すれ
ば、この遅延時間tdは図6に示すように、パワーダウ
ン信号/PDENTRが立ち上がってから、内部クロッ
ク信号CP1が出力される迄、信号COMEBLの出力
を遅延させ、コマンドデコーダ43のデコード出力CO
MDECが遅延される時間であればよい。
【0047】上記構成において、図6を参照して動作に
ついて説明する。先ず、パワーダウンモードに入る場
合、クロックイネーブル信号CKEがローレベルとされ
る。すると、入力バッファ回路41fの出力信号CKE
INがローレベルとなる。パワーダウン制御回路14
は、入力バッファ回路11から出力される信号CLKI
N1に応じて、信号CKEINを取り込み、図4に示す
フリップフロップ回路14gのナンド回路14hをセッ
トする。このため、フリップフロップ回路14gの出力
端としてのナンド回路14iの出力端がローレベルとな
り、インバータ回路14lから出力されるパワーダウン
信号/PDENTRがローレベルとなる。このようにし
て、パワーダウンモードに入ると、入力バッファ回路1
1、16等の動作が停止され、消費電流が削減される。
【0048】また、パワーダウン信号/PDENTRが
ローレベルとなると、コマンド制御回路15から出力さ
れるコマンドイネーブル信号COMEBLがローレベル
となり、コマンドデコーダ43の動作が停止される。
【0049】一方、クロック制御回路13は、図3に示
すクロックドインバータ回路13a、インバータ回路1
3b、クロックドインバータ回路13cの経路で、信号
CLKIN1に応じて、信号CKEINを取り込み、イ
ンバータ回路13jからローレベルのマスク信号/CL
KMSKを出力する。クロック駆動回路12はこのマス
ク信号/CLKMSKに応じて、内部クロック信号CP
1をマスクする。このため、コマンドデコーダ43の出
力端に接続されたラッチ回路20が閉じた状態とされ、
コマンドの転送が阻止される。
【0050】次に、パワーダウンモードから出る場合に
ついて説明する。上記パワーダウンモードにおいて、ク
ロックイネーブル信号CKEがハイレベルとされると、
パワーダウン制御回路14は、クロック信号と非同期に
パワーダウン信号/PDENTRをハイレベルとする。
すなわち、図4に示すように、入力バッファ回路41f
から出力される信号CKEINは、インバータ回路14
jを介してフリップフロップ回路14gを構成するナン
ド回路14iに供給される。このため、このナンド回路
14iの出力信号が反転し、インバータ回路14lから
出力されるパワーダウン信号/PDENTRがハイレベ
ルとなる。
【0051】このように、パワーダウン信号/PDEN
TRがハイレベルとなると、入力バッファ回路11、1
6等が活性化される。これとともに、前記クロック制御
回路13は、パワーダウン信号/PDENTRに応じて
遅延回路13fとナンド回路13eとで生成される信号
PDEXITと信号CKEINにより、マスク信号/C
LKMSKをハイレベルとする。このため、このマスク
信号/CLKMSKが供給されるクロック駆動回路12
は内部クロック信号CP1のマスクを解除する。
【0052】一方、パワーダウン信号/PDENTRが
ハイレベルとなると、コマンド制御回路15から出力さ
れるコマンドイネーブル信号COMEBLがハイレベル
となる。このコマンドイネーブル信号COMEBLの立
ち上がりは、図5に示す遅延回路15bにより、パワー
ダウン信号/PDENTRの立ち上がりより遅延されて
いる。このため、コマンドラッチの誤動作を防止でき
る。すなわち、この実施の形態の場合、クロック信号と
非同期のクロックイネーブル信号CKEに応じてパワー
ダウンモードから出るため、パワーダウンモードから出
るタイミングによっては、不要な内部クロック信号が生
成されていることがあり、この不要な内部クロック信号
によりコマンドをラッチしてまう可能性がある。
【0053】図7は、コマンド制御回路15を設けない
場合の動作を示している。この場合、パワーダウン信号
/PDENTRがハイレベルとなり、パワーダウンモー
ドから出た状態で、コマンドデコーダ43から出力され
る信号COMDECがハイレベルとなった時、内部クロ
ック信号CP1はローレベルである。このため、クロッ
クドインバータ回路17は動作状態であり、この出力信
号#1はローレベルとなる。この後、内部クロック信号
CP1が出力されると、クロックドインバータ回路19
は信号#1を反転して出力するため、コマンド信号CO
MLTCはハイレベルとなる。
【0054】これに対して、図8に示すように、コマン
ド制御回路15を設けた場合、コマンド制御回路15の
出力信号COMEBLにより、信号COMDECがコマ
ンドデコーダ43から出力されるタイミングは、内部ク
ロック信号CP1が発生されるタイミングより遅らされ
る。このため、ラッチ回路20は内部クロック信号CP
1に応じて、コマンドデコーダ43から出力される信号
COMDECを確実に転送できる。
【0055】上記実施の形態によれば、パワーダウン制
御回路14において、パワーダウンモードから出ると
き、クロック信号とは非同期のクロックイネーブル信号
CKEによりパワーダウン信号/PDENTRをハイレ
ベルとしている。このため、従来必要であったパワーダ
ウンモードの解除から、各回路を活性化するための1ク
ロックが不要となるため、パワーダウンモードを解除し
てからコマンドをラッチし、転送可能となる迄の時間を
短縮でき、高速動作が可能となる。
【0056】また、従来はパワーダウンモード時に活性
化状態とされ、貫通電流が流れる入力バッファ回路を2
つ必要としたが、この実施の形態の場合、パワーダウン
モード時に活性化状態とされているのは、クロックイネ
ーブル信号CKEを受ける入力バッファ回路41fだけ
であるため、消費電流を削減できる。
【0057】さらに、コマンド制御回路15により、パ
ワーダウンモードから出る際、内部クロック信号の立ち
上がりより、コマンドデコーダ45のデコードタイミン
グを遅らせている。したがって、誤動作を防止できる。
尚、この発明は、上記実施例に限定されるものではな
く、発明の要旨を変えない範囲において種々変形実施可
能なことは勿論である。
【0058】
【発明の効果】以上、詳述したようにこの発明によれ
ば、パワーダウンモードの解除からコマンド入力までの
時間を短縮できるとともに、回路構成を簡単化でき消費
電流を削減可能な半導体記憶装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す回路構成図。
【図2】本発明が適用される半導体記憶装置の一例を示
す構成図。
【図3】図1に示す回路で使用される信号を生成する回
路の一例を示す回路図。
【図4】図1に示す回路で使用される信号を生成する回
路の一例を示す回路図。
【図5】図1に示す回路で使用される信号を生成する回
路の一例を示す回路図。
【図6】図1に示す回路の動作を示すタイミングチャー
ト。
【図7】図1に示す回路の動作を示すタイミングチャー
ト。
【図8】図1に示す回路の動作を示すタイミングチャー
ト。
【図9】従来のパワーダウン制御部を示す構成図。
【図10】図9に示す入力バッファ回路の例を示す回路
図。
【図11】図9に示すクロック駆動回路の例を示す回路
図。
【図12】図9に示す入力バッファ回路の例を示す回路
図。
【図13】図9に示すクロック駆動回路の例を示す回路
図。
【図14】図9に示す入力バッファ回路の例を示す回路
図。
【図15】図9に示す入力バッファ回路の例を示す回路
図。
【図16】図9に示すクロック制御回路の例を示す回路
図。
【図17】図9に示す回路の動作を示すタイミングチャ
ート。
【符号の説明】
11、16、41a〜41f、41h、41i…入力バ
ッファ回路、 12…クロック駆動回路、 13…クロック制御回路、 14…パワーダウン制御回路、 15…コマンド制御回路、 20…ラッチ回路、 41g…アドレスバッファ回路、 43…コマンドデコーダ、 44…制御信号発生部、 45…パワーダウン制御部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック信号の入力を許容するクロック
    イネーブル信号の第1の論理レベルに応じてパワーダウ
    ンモードを設定する第1の論理レベルのパワーダウン信
    号を生成し、前記クロックイネーブル信号の第2の論理
    レベルに応じて、前記パワーダウンモードを解除する第
    2の論理レベルのパワーダウン信号を生成するパワーダ
    ウン制御回路と、 前記パワーダウン制御回路から出力される前記第1の論
    理レベルのパワーダウン信号に応じて内部クロック信号
    を非活性とし、前記第2の論理レベルのパワーダウン信
    号に応じて内部クロック信号を活性化するクロック制御
    部と、 入力信号をデコードするデコーダと、 前記クロック制御部により活性化された内部クロック信
    号に応じて前記デコーダの出力信号をラッチするラッチ
    回路とを具備することを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記パワーダウン制御回路と前記デコー
    ダの相互間に配置され、前記パワーダウン制御回路から
    出力される前記第2の論理レベルのパワーダウン信号に
    応じて、前記デコーダが入力信号をデコードするタイミ
    ングを前記クロック制御部が前記内部クロック信号を活
    性化するまで遅延する遅延手段とを具備することを特徴
    とする請求項1記載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記クロック制御部は、 前記パワーダウン制御回路から出力される前記第1の論
    理レベルのパワーダウン信号に応じて前記内部クロック
    信号をマスクする第1の論理レベルのマスク信号を生成
    し、前記第2の論理レベルのパワーダウン信号に応じて
    前記マスクを解除する第2の論理レベルのマスク信号を
    生成するクロック制御回路と、 外部から供給されるクロック信号を受け、前記パワーダ
    ウン制御回路から出力される前記第1の論理レベルのパ
    ワーダウン信号に応じて非活性とされる入力バッファ回
    路と、 前記入力バッファ回路の出力信号が供給され、前記第1
    の論理レベルのマスク信号に応じて前記内部クロック信
    号をマスクし、前記第2の論理レベルのマスク信号に応
    じて前記内部クロック信号を出力するクロック駆動回路
    とを具備することを特徴とする請求項1記載の半導体記
    憶装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6240048B1 (en) 1999-06-29 2001-05-29 Nec Corporation Synchronous type semiconductor memory system with less power consumption
WO2001043139A3 (en) * 1999-12-13 2002-01-17 Intel Corp Method and apparatus for synchronizing dynamic random access memory exiting from a low power state
US7856633B1 (en) 2000-03-24 2010-12-21 Intel Corporation LRU cache replacement for a partitioned set associative cache

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3092557B2 (ja) * 1997-09-16 2000-09-25 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JP4156721B2 (ja) * 1998-09-18 2008-09-24 富士通株式会社 半導体集積回路装置
JP3549751B2 (ja) * 1998-11-30 2004-08-04 富士通株式会社 半導体集積回路装置
US6166991A (en) 1999-11-03 2000-12-26 Cypress Semiconductor Corp. Circuit, architecture and method for reducing power consumption in a synchronous integrated circuit
US6898683B2 (en) * 2000-12-19 2005-05-24 Fujitsu Limited Clock synchronized dynamic memory and clock synchronized integrated circuit
KR100406543B1 (ko) * 2001-12-24 2003-11-20 주식회사 하이닉스반도체 동기식 메모리의 파이프 래치 제어회로
KR100415092B1 (ko) * 2002-05-13 2004-01-13 주식회사 하이닉스반도체 모드 레지스터를 갖는 반도체 메모리 장치 및 상기 반도체메모리 장치에서의 디프 파워 다운 모드의 제어 방법
JP4386706B2 (ja) * 2003-11-06 2009-12-16 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
KR100571651B1 (ko) * 2003-12-29 2006-04-17 주식회사 하이닉스반도체 파워다운 모드의 안정적인 탈출을 위한 제어회로
KR100571646B1 (ko) 2005-03-31 2006-04-17 주식회사 하이닉스반도체 파워 다운 모드 반도체 소자
KR100738579B1 (ko) * 2005-06-09 2007-07-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
US8111566B1 (en) 2007-11-16 2012-02-07 Google, Inc. Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface
US8796830B1 (en) 2006-09-01 2014-08-05 Google Inc. Stackable low-profile lead frame package
US9171585B2 (en) 2005-06-24 2015-10-27 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8244971B2 (en) 2006-07-31 2012-08-14 Google Inc. Memory circuit system and method
US8386722B1 (en) 2008-06-23 2013-02-26 Google Inc. Stacked DIMM memory interface
US7386656B2 (en) 2006-07-31 2008-06-10 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit
US8438328B2 (en) 2008-02-21 2013-05-07 Google Inc. Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs
US8397013B1 (en) 2006-10-05 2013-03-12 Google Inc. Hybrid memory module
US8359187B2 (en) 2005-06-24 2013-01-22 Google Inc. Simulating a different number of memory circuit devices
US8077535B2 (en) 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US7392338B2 (en) 2006-07-31 2008-06-24 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for autonomously performing power management operations in conjunction with a plurality of memory circuits
US9542352B2 (en) 2006-02-09 2017-01-10 Google Inc. System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits
US8327104B2 (en) 2006-07-31 2012-12-04 Google Inc. Adjusting the timing of signals associated with a memory system
US8055833B2 (en) 2006-10-05 2011-11-08 Google Inc. System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage
US7472220B2 (en) 2006-07-31 2008-12-30 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations utilizing power management signals
US8081474B1 (en) 2007-12-18 2011-12-20 Google Inc. Embossed heat spreader
US20080028136A1 (en) 2006-07-31 2008-01-31 Schakel Keith R Method and apparatus for refresh management of memory modules
US8041881B2 (en) 2006-07-31 2011-10-18 Google Inc. Memory device with emulated characteristics
US8090897B2 (en) 2006-07-31 2012-01-03 Google Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US8130560B1 (en) 2006-11-13 2012-03-06 Google Inc. Multi-rank partial width memory modules
US8089795B2 (en) 2006-02-09 2012-01-03 Google Inc. Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities
US10013371B2 (en) 2005-06-24 2018-07-03 Google Llc Configurable memory circuit system and method
US9507739B2 (en) 2005-06-24 2016-11-29 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US20080082763A1 (en) 2006-10-02 2008-04-03 Metaram, Inc. Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof
US8060774B2 (en) 2005-06-24 2011-11-15 Google Inc. Memory systems and memory modules
US8335894B1 (en) 2008-07-25 2012-12-18 Google Inc. Configurable memory system with interface circuit
JP5242397B2 (ja) 2005-09-02 2013-07-24 メタラム インコーポレイテッド Dramをスタックする方法及び装置
KR100680975B1 (ko) * 2006-01-13 2007-02-09 주식회사 하이닉스반도체 파워다운 모드 제어 회로
US9632929B2 (en) 2006-02-09 2017-04-25 Google Inc. Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits
JP4267006B2 (ja) * 2006-07-24 2009-05-27 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置
US7724589B2 (en) 2006-07-31 2010-05-25 Google Inc. System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits
US20080228950A1 (en) * 2007-03-14 2008-09-18 Qimonda North America Corp. Memory power down mode exit method and system
US8209479B2 (en) 2007-07-18 2012-06-26 Google Inc. Memory circuit system and method
US8080874B1 (en) 2007-09-14 2011-12-20 Google Inc. Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween
WO2010144624A1 (en) 2009-06-09 2010-12-16 Google Inc. Programming of dimm termination resistance values
KR101218606B1 (ko) * 2011-02-28 2013-01-04 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
KR20150000228A (ko) * 2013-06-24 2015-01-02 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 집적 회로
US9042196B2 (en) * 2013-07-19 2015-05-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory system and method of controlling memory system
EP3901952B1 (en) 2016-10-31 2023-06-07 Intel Corporation Applying chip select for memory device identification and power management control

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5719812A (en) * 1988-11-16 1998-02-17 Fujitsu Limited Semiconductor memory including bit line reset circuitry and a pulse generator having output delay time dependent on type of transition in an input signal
US5337285A (en) * 1993-05-21 1994-08-09 Rambus, Inc. Method and apparatus for power control in devices
JP3272914B2 (ja) * 1995-08-31 2002-04-08 富士通株式会社 同期型半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6240048B1 (en) 1999-06-29 2001-05-29 Nec Corporation Synchronous type semiconductor memory system with less power consumption
WO2001043139A3 (en) * 1999-12-13 2002-01-17 Intel Corp Method and apparatus for synchronizing dynamic random access memory exiting from a low power state
US6457095B1 (en) 1999-12-13 2002-09-24 Intel Corporation Method and apparatus for synchronizing dynamic random access memory exiting from a low power state
US7856633B1 (en) 2000-03-24 2010-12-21 Intel Corporation LRU cache replacement for a partitioned set associative cache

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Publication number Publication date
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