JPH115954A - 接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板 - Google Patents
接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板Info
- Publication number
- JPH115954A JPH115954A JP9159679A JP15967997A JPH115954A JP H115954 A JPH115954 A JP H115954A JP 9159679 A JP9159679 A JP 9159679A JP 15967997 A JP15967997 A JP 15967997A JP H115954 A JPH115954 A JP H115954A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive
- thickness
- polyimide film
- resin
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0313—Organic insulating material
- H05K1/032—Organic insulating material consisting of one material
- H05K1/0346—Organic insulating material consisting of one material containing N
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
- H05K3/386—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive
Landscapes
- Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光透過性が良好で、位置合わせが良好な接着
剤付きシ−ト、金属張基板および回路基板を提供する。 【解決手段】 寸法安定性が良好で、かつ厚みが10−
200μmで、可視領域(500nm、600nm)で
の吸光係数がそれぞれ15.0×10-3/μm以下、
5.O10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィル
ムをベ−スフィルムとする接着剤付きシ−ト、金属張基
板、回路板に関する。
剤付きシ−ト、金属張基板および回路基板を提供する。 【解決手段】 寸法安定性が良好で、かつ厚みが10−
200μmで、可視領域(500nm、600nm)で
の吸光係数がそれぞれ15.0×10-3/μm以下、
5.O10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィル
ムをベ−スフィルムとする接着剤付きシ−ト、金属張基
板、回路板に関する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば主要単位
としてビフェニルテトラカルボン酸二無水物および/ま
たはピロメリット酸二無水物またはその誘導体とパラフ
ェニレンジアミンおよび/またはジアミノジフェニルエ
−テルとを有しており、寸法安定性が良好でかつ厚みが
10〜200μmであって、波長500nmおよび波長
600nmで低吸光係数を示す芳香族ポリイミドフィル
ムをベ−スフィルムとして使用した接着剤付きテ−プ、
金属張積層板および回路板に関する。
としてビフェニルテトラカルボン酸二無水物および/ま
たはピロメリット酸二無水物またはその誘導体とパラフ
ェニレンジアミンおよび/またはジアミノジフェニルエ
−テルとを有しており、寸法安定性が良好でかつ厚みが
10〜200μmであって、波長500nmおよび波長
600nmで低吸光係数を示す芳香族ポリイミドフィル
ムをベ−スフィルムとして使用した接着剤付きテ−プ、
金属張積層板および回路板に関する。
【0002】さらに詳しくは、この発明はフレキシブル
プリント回路板(以下、単にFPCということもある)
やTAB(テ−プ・オ−トメィッテッド・ボンディン
グ)テ−プ等の電気・電子部品実装用の用途に好適に用
いられ、回路形成や実装時に回路パタ−ンの位置ずれが
小さく、位置合わせや検査が容易で、寸法安定性が良好
な接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路に関す
る。
プリント回路板(以下、単にFPCということもある)
やTAB(テ−プ・オ−トメィッテッド・ボンディン
グ)テ−プ等の電気・電子部品実装用の用途に好適に用
いられ、回路形成や実装時に回路パタ−ンの位置ずれが
小さく、位置合わせや検査が容易で、寸法安定性が良好
な接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路に関す
る。
【0003】
【従来の技術】従来、高耐熱性の電子部品として芳香族
ポリイミドフィルムの片面あるいは両面に接着剤を設け
た接着剤付きシ−トを使用して銅箔等の導電体層を設け
たものが一般的である。しかし、例えば、T−BGA
(テ−プ・ボ−ル・グリッド・アレイ)を基板に実装す
る時に、基板の回路パタ−ンとT−BGAのボ−ルバン
プの位置を正確に合わせる必要があり、ポリイミドテ−
プを透して基板の回路パタ−ンを見ながら位置合わせ接
合が行われているが、現在使用されている寸法安定性の
良好なポリイミドフィルム(例えば、宇部興産製のユ−
ピレックス−S)では光透過性が悪いので位置合わせが
難しい。また、フレキシブルプリント回路板の回路のな
い裏面から欠陥を検査する場合、光透過性が悪いと検査
に特別の装置が必要になる。
ポリイミドフィルムの片面あるいは両面に接着剤を設け
た接着剤付きシ−トを使用して銅箔等の導電体層を設け
たものが一般的である。しかし、例えば、T−BGA
(テ−プ・ボ−ル・グリッド・アレイ)を基板に実装す
る時に、基板の回路パタ−ンとT−BGAのボ−ルバン
プの位置を正確に合わせる必要があり、ポリイミドテ−
プを透して基板の回路パタ−ンを見ながら位置合わせ接
合が行われているが、現在使用されている寸法安定性の
良好なポリイミドフィルム(例えば、宇部興産製のユ−
ピレックス−S)では光透過性が悪いので位置合わせが
難しい。また、フレキシブルプリント回路板の回路のな
い裏面から欠陥を検査する場合、光透過性が悪いと検査
に特別の装置が必要になる。
【0004】この用途に使用される芳香族ポリイミドフ
ィルムは、耐熱性、耐寒性、電気絶縁性、機械的強度等
が要求されることから、ビフェニルテトラカルボン酸成
分とフェニレンジアミン成分とからなるポリイミドフィ
ルムが使用され、例えば特公昭60−42817号公報
に記載されている。しかし、このポリイミドフィルムが
使用される前記分野では、高精度の要求が益々厳しくな
り、また実装密度を上げる目的でポリイミドフィルムの
両面に回路を形成することが必要になってきている。こ
の場合には、裏面と表面との回路を精度高く位置合わせ
することが必須になり、芳香族ポリイミドフィルムの光
透過性が良いことが求められ、従来の芳香族ポリイミド
フィルムではこの要求を満足できなくなっている。
ィルムは、耐熱性、耐寒性、電気絶縁性、機械的強度等
が要求されることから、ビフェニルテトラカルボン酸成
分とフェニレンジアミン成分とからなるポリイミドフィ
ルムが使用され、例えば特公昭60−42817号公報
に記載されている。しかし、このポリイミドフィルムが
使用される前記分野では、高精度の要求が益々厳しくな
り、また実装密度を上げる目的でポリイミドフィルムの
両面に回路を形成することが必要になってきている。こ
の場合には、裏面と表面との回路を精度高く位置合わせ
することが必須になり、芳香族ポリイミドフィルムの光
透過性が良いことが求められ、従来の芳香族ポリイミド
フィルムではこの要求を満足できなくなっている。
【0005】このため、ポリイミドフィルムについて種
々の改良がなされた。例えば、特開昭61−26402
7号公報にはビフェニルテトラカルボン酸二無水物とp
−フェニレンジアミンとから得られるポリイミドフィル
ムを低張力下に再熱処理して寸法安定なポリイミドフィ
ルムを製造する方法が記載されている。また、特公平−
6213号公報には線膨張係数比(送り方向/直行方
法)および送り方向の線膨張係数が特定範囲内にあり寸
法安定性に優れたポリイミドフィルムが記載されてい
る。さらに、特公昭62−60416号公報、特公昭6
3−5421号公報、特公昭63−5422号公報に
は、流延法での製膜時の芳香族ポリアミック酸フィルム
の剥離性を改良する方法が記載されている。
々の改良がなされた。例えば、特開昭61−26402
7号公報にはビフェニルテトラカルボン酸二無水物とp
−フェニレンジアミンとから得られるポリイミドフィル
ムを低張力下に再熱処理して寸法安定なポリイミドフィ
ルムを製造する方法が記載されている。また、特公平−
6213号公報には線膨張係数比(送り方向/直行方
法)および送り方向の線膨張係数が特定範囲内にあり寸
法安定性に優れたポリイミドフィルムが記載されてい
る。さらに、特公昭62−60416号公報、特公昭6
3−5421号公報、特公昭63−5422号公報に
は、流延法での製膜時の芳香族ポリアミック酸フィルム
の剥離性を改良する方法が記載されている。
【0006】しかし、これらの公知技術では、線膨張や
寸法安定性などの熱特性や生産性の点では改良されるも
のの、光透過性の良好な芳香族ポリイミドフィルムを得
ることが出来なかったのである。従って、従来の技術で
は、寸法安定性および光透過性を併せて満足する芳香族
ポリイミドフィルムを得ることはできなかったのであ
る。また、従来の技術では、位置合わせや欠陥検査を容
易に行うことができなかった。
寸法安定性などの熱特性や生産性の点では改良されるも
のの、光透過性の良好な芳香族ポリイミドフィルムを得
ることが出来なかったのである。従って、従来の技術で
は、寸法安定性および光透過性を併せて満足する芳香族
ポリイミドフィルムを得ることはできなかったのであ
る。また、従来の技術では、位置合わせや欠陥検査を容
易に行うことができなかった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】この発明の目的は、F
PCやTABテ−プ等の電気・電子部品実装用の基板用
途に好適に用いることができ、回路形成やICなどの電
気・電子実装時や基板への実装時に回路パタ−ンの位置
ずれが小さく、位置合わせや検査が容易な、寸法安定性
が良好な接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板
を提供することにある。
PCやTABテ−プ等の電気・電子部品実装用の基板用
途に好適に用いることができ、回路形成やICなどの電
気・電子実装時や基板への実装時に回路パタ−ンの位置
ずれが小さく、位置合わせや検査が容易な、寸法安定性
が良好な接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板
を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明者らは、前記の
課題を達成するために検討した結果、寸法安定性が良好
で光透過性の良い芳香族ポリイミドフィルムを工業的に
製造することが可能であることを見いだし、これを使用
することにより位置合わせや欠陥検査の容易な接着剤付
きテ−プ、金属張積層板および回路板が得られることを
見いだし、この発明の完成に至ったのである。すなわ
ち、この発明は、寸法安定性が良好でかつ厚みが10〜
200μmであって、吸光係数が波長500nmで1
5.0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0×
10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの少
なくとも片面に接着剤が設けられてなる接着剤付きシ−
トに関するものである。また、この発明は、寸法安定性
が良好でかつ厚みが10〜200μmであって、吸光係
数が波長500nmで15.0×10-3/μm以下、波
長600nmで5.0×10-3/μm以下である芳香族
ポリイミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介して
または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属
層が積層されてなる金属張積層板に関するものである。
さらに、この発明は、寸法安定性が良好でかつ厚みが1
0〜200μmであって、吸光係数が波長500nmで
15.0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0
×10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの
少なくとも片面に接着剤を介してまたは蒸着法、スパッ
タ法やメッキ法によって直接金属層を積層し、次いで回
路を形成してなる回路板に関するものである。
課題を達成するために検討した結果、寸法安定性が良好
で光透過性の良い芳香族ポリイミドフィルムを工業的に
製造することが可能であることを見いだし、これを使用
することにより位置合わせや欠陥検査の容易な接着剤付
きテ−プ、金属張積層板および回路板が得られることを
見いだし、この発明の完成に至ったのである。すなわ
ち、この発明は、寸法安定性が良好でかつ厚みが10〜
200μmであって、吸光係数が波長500nmで1
5.0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0×
10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの少
なくとも片面に接着剤が設けられてなる接着剤付きシ−
トに関するものである。また、この発明は、寸法安定性
が良好でかつ厚みが10〜200μmであって、吸光係
数が波長500nmで15.0×10-3/μm以下、波
長600nmで5.0×10-3/μm以下である芳香族
ポリイミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介して
または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属
層が積層されてなる金属張積層板に関するものである。
さらに、この発明は、寸法安定性が良好でかつ厚みが1
0〜200μmであって、吸光係数が波長500nmで
15.0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0
×10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの
少なくとも片面に接着剤を介してまたは蒸着法、スパッ
タ法やメッキ法によって直接金属層を積層し、次いで回
路を形成してなる回路板に関するものである。
【0009】この発明の接着剤付きシ−ト、金属張積層
板および回路板を、この発明の一実施例の一部断面概略
図である図1、図2および図3、さらにこの発明を応用
した実施例の一部断面概略図である図4および図5を用
いて説明する。図1において、接着剤付きシ−ト1は芳
香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片面に接着剤3
が設けられてなる。図2において、金属張積層板10は
芳香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片面に接着剤
3を介して、または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によ
って直接(図示せず)金属層4が積層されてなる。図3
において、回路板20は芳香族ポリイミドフィルム2の
少なくとも片面に接着剤3を介して、または蒸着法、ス
パッタ法やメッキ法によって直接(図示せず)金属層を
積層し、回路5を形成してなり、好適にはさらにその上
にコ−ト材6が設けられてなる。図4において、半導体
装置30は芳香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片
面に接着剤3を介して、または蒸着法、スパッタ法やメ
ッキ法によって直接(図示せず)金属層を積層し、形成
された回路5、さらにコ−ト材層6、金属が露出してい
る部分にハンダボ−ル7を形成した基板が金属箔8によ
ってIC9とボンディングされている。図5において、
多層基板40は芳香族ポリイミドフィルム2の少なくと
も片面に接着剤3を介して、または蒸着法、スパッタ法
やメッキ法によって直接(図示せず)金属層を積層し、
形成した回路5、その上にコ−ト材層6が設けられてな
る回路板と他の回路板とをボンディングシ−ト11によ
って積層してなり、上下の回路板が導電性を有するスル
ホ−ル12によって接続されてなる。
板および回路板を、この発明の一実施例の一部断面概略
図である図1、図2および図3、さらにこの発明を応用
した実施例の一部断面概略図である図4および図5を用
いて説明する。図1において、接着剤付きシ−ト1は芳
香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片面に接着剤3
が設けられてなる。図2において、金属張積層板10は
芳香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片面に接着剤
3を介して、または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によ
って直接(図示せず)金属層4が積層されてなる。図3
において、回路板20は芳香族ポリイミドフィルム2の
少なくとも片面に接着剤3を介して、または蒸着法、ス
パッタ法やメッキ法によって直接(図示せず)金属層を
積層し、回路5を形成してなり、好適にはさらにその上
にコ−ト材6が設けられてなる。図4において、半導体
装置30は芳香族ポリイミドフィルム2の少なくとも片
面に接着剤3を介して、または蒸着法、スパッタ法やメ
ッキ法によって直接(図示せず)金属層を積層し、形成
された回路5、さらにコ−ト材層6、金属が露出してい
る部分にハンダボ−ル7を形成した基板が金属箔8によ
ってIC9とボンディングされている。図5において、
多層基板40は芳香族ポリイミドフィルム2の少なくと
も片面に接着剤3を介して、または蒸着法、スパッタ法
やメッキ法によって直接(図示せず)金属層を積層し、
形成した回路5、その上にコ−ト材層6が設けられてな
る回路板と他の回路板とをボンディングシ−ト11によ
って積層してなり、上下の回路板が導電性を有するスル
ホ−ル12によって接続されてなる。
【0010】この発明においては、芳香族ポリイミドフ
ィルムは寸法安定性が良好であることが必要である。寸
法安定性が良好な芳香族ポリイミドフィルムは、好適に
は以下の2つのいずれかによって得られる。 (1) 芳香族ポリイミドフィルムを構成するポリマ−成分
が、テトラカルボン酸成分として3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸、その酸二無水物又はその
酸エステルを15モル%以上およびピロメリット酸二無
水物を0−85モル%含有し、芳香族ジアミン成分とし
てフェニレンジアミンを15モル%以上およびジアミノ
ジフェニルエ−テルを0〜85モル%含有するポリイミ
ド前駆体を使用し、流延製膜法によって膜形成・イミド
化するポリイミドフィルムが好適に使用される。 (2) 芳香族ポリイミドフィルムを構成するポリマ−成分
が、テトラカルボン酸成分として3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸、その酸二無水物又はその
酸エステルまたはピロメリット酸二無水物を主要成分と
し、芳香族ジアミン成分としてフェニレンジアミンまた
はジアミノジフェニルエ−テルをポリマ−の主要成分と
するポリイミド前駆体溶液を使用し、流延製膜法によっ
て自己支持性のフィルムを得、2方向に延伸した後、高
温加熱して延伸された自己支持性ポリイミド前駆体フィ
ルムをイミド化するポリイミドフィルムが好適に使用さ
れる。
ィルムは寸法安定性が良好であることが必要である。寸
法安定性が良好な芳香族ポリイミドフィルムは、好適に
は以下の2つのいずれかによって得られる。 (1) 芳香族ポリイミドフィルムを構成するポリマ−成分
が、テトラカルボン酸成分として3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸、その酸二無水物又はその
酸エステルを15モル%以上およびピロメリット酸二無
水物を0−85モル%含有し、芳香族ジアミン成分とし
てフェニレンジアミンを15モル%以上およびジアミノ
ジフェニルエ−テルを0〜85モル%含有するポリイミ
ド前駆体を使用し、流延製膜法によって膜形成・イミド
化するポリイミドフィルムが好適に使用される。 (2) 芳香族ポリイミドフィルムを構成するポリマ−成分
が、テトラカルボン酸成分として3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸、その酸二無水物又はその
酸エステルまたはピロメリット酸二無水物を主要成分と
し、芳香族ジアミン成分としてフェニレンジアミンまた
はジアミノジフェニルエ−テルをポリマ−の主要成分と
するポリイミド前駆体溶液を使用し、流延製膜法によっ
て自己支持性のフィルムを得、2方向に延伸した後、高
温加熱して延伸された自己支持性ポリイミド前駆体フィ
ルムをイミド化するポリイミドフィルムが好適に使用さ
れる。
【0011】さらに、上記のテトラカルボン酸成分およ
びジアミン成分の他に、その他の芳香族テトラカルボン
酸成分および/または芳香族ジアミン成分を発明の効果
を損なわない範囲で1種あるいは多種含ませてもよい。
併用可能な芳香族テトラカルボン酸成分としては、3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−
ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、ビス(3,
4−ジカルボキシフェニル)エ−テル二無水物、ビス
(2,3−ジカルボキシフェニル)エ−テル二無水物、
2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水
物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無
水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)
−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン二
無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニ
ル)1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン
二無水物等が挙げられる。
びジアミン成分の他に、その他の芳香族テトラカルボン
酸成分および/または芳香族ジアミン成分を発明の効果
を損なわない範囲で1種あるいは多種含ませてもよい。
併用可能な芳香族テトラカルボン酸成分としては、3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−
ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、ビス(3,
4−ジカルボキシフェニル)エ−テル二無水物、ビス
(2,3−ジカルボキシフェニル)エ−テル二無水物、
2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水
物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無
水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)
−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン二
無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニ
ル)1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン
二無水物等が挙げられる。
【0012】併用可能な芳香族ジアミン成分としては、
4,4’−ジアミノジフェニルプロパン、4,4’−ジ
アミノジフェニルエタン、4,4’−ジアミノジフェニ
ルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕メタ
ン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−(アミノフェノキ
シ)フェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフル
オロプロパン、ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニル〕エ−テルなどが挙げられる。
4,4’−ジアミノジフェニルプロパン、4,4’−ジ
アミノジフェニルエタン、4,4’−ジアミノジフェニ
ルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、
ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕メタ
ン、2,2−ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェ
ニル〕プロパン、2,2−ビス〔4−(アミノフェノキ
シ)フェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフル
オロプロパン、ビス〔4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニル〕エ−テルなどが挙げられる。
【0013】この発明において、芳香族ポリイミドフィ
ルムは、厚みが10〜200μm、好ましくは25〜1
50μm、特に好ましくは50〜125μmであって、
吸光係数が波長500nmで15.0×10-3/μm以
下、好ましくは14.0×10-3/μm以下、特に好ま
しくは5.0×10-3/μm〜14.0×10-3/μm
であって、波長600nmで5.0×10-3/μm以
下、好ましくは4.5×10-3/μm以下、特に好まし
くは2.0×10-3/μm〜4.5×10-3/μである
ことが必要である。この吸光係数は、下記式: 吸光係数=吸光度/フィルム厚み(μm) より求められる。この発明における芳香族ポリイミドフ
ィルムとしては、さらに好ましくは下記の条件: (1) 線膨張係数(50〜200℃)が0.5×10-5〜
2.5×10-5cm/cm/℃以下であり、 (2) 吸水率が2.5%以下であり、 (3) 引張弾性率が450kg/mm2 以上である を満足することが好ましい。
ルムは、厚みが10〜200μm、好ましくは25〜1
50μm、特に好ましくは50〜125μmであって、
吸光係数が波長500nmで15.0×10-3/μm以
下、好ましくは14.0×10-3/μm以下、特に好ま
しくは5.0×10-3/μm〜14.0×10-3/μm
であって、波長600nmで5.0×10-3/μm以
下、好ましくは4.5×10-3/μm以下、特に好まし
くは2.0×10-3/μm〜4.5×10-3/μである
ことが必要である。この吸光係数は、下記式: 吸光係数=吸光度/フィルム厚み(μm) より求められる。この発明における芳香族ポリイミドフ
ィルムとしては、さらに好ましくは下記の条件: (1) 線膨張係数(50〜200℃)が0.5×10-5〜
2.5×10-5cm/cm/℃以下であり、 (2) 吸水率が2.5%以下であり、 (3) 引張弾性率が450kg/mm2 以上である を満足することが好ましい。
【0014】芳香族ポリイミドフィルムの吸光係数が前
記範囲外であると、この発明の目的を達成することがで
きない。また、(1) 線膨張係数(50〜200℃)、
(2) 吸水率および(3) 引張弾性率が前記範囲内である
と、種々の環境下(高温、エッチィング工程等)におい
た場合に寸法変化が少なく、特にFPC、TABなどの
用途として好適である。
記範囲外であると、この発明の目的を達成することがで
きない。また、(1) 線膨張係数(50〜200℃)、
(2) 吸水率および(3) 引張弾性率が前記範囲内である
と、種々の環境下(高温、エッチィング工程等)におい
た場合に寸法変化が少なく、特にFPC、TABなどの
用途として好適である。
【0015】この発明における芳香族ポリイミドフィル
ムは、例えば以下のようにして製造することができる。
好適には先ず前記テトラカルボン酸二無水物、好適には
ビフェニルテトラカルボン酸類とフェニレンジアミン、
好適にはパラフェニレンジアミンとをN,N−ジメチル
アセトアミドやN−メチル−2−ピロリドンなどのポリ
イミドの製造に通常使用される有機極性溶媒中で、好ま
しくは10〜80℃で1〜30時間重合して、ポリマ−
の対数粘度(測定温度:30℃、濃度:0.5g/10
0ml溶媒、溶媒:N,N−ジメチルアセトアミド)が
0.1〜5 、ポリマ−濃度が15〜25重量%であ
り、回転粘度(30℃)が500〜4500ポイズであ
る基材層A用のポリアミック酸溶液を得る。
ムは、例えば以下のようにして製造することができる。
好適には先ず前記テトラカルボン酸二無水物、好適には
ビフェニルテトラカルボン酸類とフェニレンジアミン、
好適にはパラフェニレンジアミンとをN,N−ジメチル
アセトアミドやN−メチル−2−ピロリドンなどのポリ
イミドの製造に通常使用される有機極性溶媒中で、好ま
しくは10〜80℃で1〜30時間重合して、ポリマ−
の対数粘度(測定温度:30℃、濃度:0.5g/10
0ml溶媒、溶媒:N,N−ジメチルアセトアミド)が
0.1〜5 、ポリマ−濃度が15〜25重量%であ
り、回転粘度(30℃)が500〜4500ポイズであ
る基材層A用のポリアミック酸溶液を得る。
【0016】上記で製造したポリアミック酸溶液の一部
をとり、このポリアミック酸100重量部に対して0.
01〜1重量部の(ポリ)リン酸エステルおよび/また
はリン酸エステルのアミン塩などの有機リン含有化合物
あるいは無機リン化合物および、ポリアミック酸100
重量部に対して0.1〜3重量部のコロイダルシリカ、
窒化珪素、タルク、酸化チタン、燐酸カルシウムなどの
無機フィラ−(好適には平均粒径0.005〜5μm、
特に0.005〜2μm)を添加して薄層B用のポリア
ミック酸溶液組成物を調製する。
をとり、このポリアミック酸100重量部に対して0.
01〜1重量部の(ポリ)リン酸エステルおよび/また
はリン酸エステルのアミン塩などの有機リン含有化合物
あるいは無機リン化合物および、ポリアミック酸100
重量部に対して0.1〜3重量部のコロイダルシリカ、
窒化珪素、タルク、酸化チタン、燐酸カルシウムなどの
無機フィラ−(好適には平均粒径0.005〜5μm、
特に0.005〜2μm)を添加して薄層B用のポリア
ミック酸溶液組成物を調製する。
【0017】得られた基材層A用と薄層B用のポリアミ
ック酸溶液を用いて多層押出ポリイミドフィルムを得る
方法、例えば、この出願人がすでに特許出願している特
開平3−180343号公報に記載されている方法を応
用することによって好適に製造することができる。すな
わち、基材層A用ポリアミック酸溶液と、薄層B用ポリ
アミック酸溶液とを、2層以上の押出し成形用ダイスを
有する押出成形機へ同時に供給して、前記ダイスの吐出
口から両溶液を少なくとも2層の薄膜状体として、薄層
B用のポリアミック酸溶液が平滑な支持体(金属製支持
体)と接するように支持体上に連続的に押出し、そし
て、前記支持体上の多層の薄膜状体を乾燥し溶媒をかな
り蒸発して除去して自己支持性の多層フィルム(溶媒を
一部含有している)を形成し、次いで、支持体上から該
多層フィルムを剥離し、次いで、該多層フィルムを高温
(200−500℃)で充分に加熱処理することによっ
て溶媒を実質的に除去すると共にポリイミド前駆体であ
るポリアミック酸をイミド化して、連続的に製造するこ
とができる。この発明における芳香族ポリイミドフィル
ムは、基材層Aと薄層Bとからなる2層構造のフィルム
であってもよく、また、基材層Aとその両面の薄層Bお
よびB’とからなる3層構造のフィルムであってもよ
い。2層、3層構造のフィルムの薄層の厚みは、フィル
ムの厚みの50%以下、特に0.1〜10μm、好まし
くは0.1〜8μm、さらに好ましくは0.3〜6μm
である。厚みが薄いと剥離性が悪くなり、厚くなると光
透過性が悪くなる。なお、基材層Aと薄層Bのポリアミ
ック酸溶液(特にポリアミック酸)の組成は同じである
ことが芳香族フィルムのカ−ル等の点で好ましいが、必
ずしも同じである必要はない。例えば、B層とB’層と
でフィラ−の種類や量を変えてもよいし、B’層にはリ
ン系化合物を添加しなくてもよい。
ック酸溶液を用いて多層押出ポリイミドフィルムを得る
方法、例えば、この出願人がすでに特許出願している特
開平3−180343号公報に記載されている方法を応
用することによって好適に製造することができる。すな
わち、基材層A用ポリアミック酸溶液と、薄層B用ポリ
アミック酸溶液とを、2層以上の押出し成形用ダイスを
有する押出成形機へ同時に供給して、前記ダイスの吐出
口から両溶液を少なくとも2層の薄膜状体として、薄層
B用のポリアミック酸溶液が平滑な支持体(金属製支持
体)と接するように支持体上に連続的に押出し、そし
て、前記支持体上の多層の薄膜状体を乾燥し溶媒をかな
り蒸発して除去して自己支持性の多層フィルム(溶媒を
一部含有している)を形成し、次いで、支持体上から該
多層フィルムを剥離し、次いで、該多層フィルムを高温
(200−500℃)で充分に加熱処理することによっ
て溶媒を実質的に除去すると共にポリイミド前駆体であ
るポリアミック酸をイミド化して、連続的に製造するこ
とができる。この発明における芳香族ポリイミドフィル
ムは、基材層Aと薄層Bとからなる2層構造のフィルム
であってもよく、また、基材層Aとその両面の薄層Bお
よびB’とからなる3層構造のフィルムであってもよ
い。2層、3層構造のフィルムの薄層の厚みは、フィル
ムの厚みの50%以下、特に0.1〜10μm、好まし
くは0.1〜8μm、さらに好ましくは0.3〜6μm
である。厚みが薄いと剥離性が悪くなり、厚くなると光
透過性が悪くなる。なお、基材層Aと薄層Bのポリアミ
ック酸溶液(特にポリアミック酸)の組成は同じである
ことが芳香族フィルムのカ−ル等の点で好ましいが、必
ずしも同じである必要はない。例えば、B層とB’層と
でフィラ−の種類や量を変えてもよいし、B’層にはリ
ン系化合物を添加しなくてもよい。
【0018】この発明における芳香族ポリイミドフィル
ムにおいて、好適にはテトラカルボン酸二無水物として
3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物と芳香族ジアミンとしてパラフェニレンジアミンと
を重合する方法によって容易に得ることができるが、ポ
リアミック酸としては、前記フィルムの物性値を満足す
る範囲内であれば、3,3’,4,4’−ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物とパラフェニレンジアミンとと
もに他の成分を重合してもよく、また、結合の種類はラ
ンダム重合、ブロック重合のいずれであってもよい。ま
た、最終的に得られるポリイミドフィルム中の各成分の
合計量が前記の範囲内であれば3,3’,4,4’−ビ
フェニルテトラカルボン酸二無水物を含むポリアミック
酸とパラフェニレンジアミンを含むポリアミック酸に他
の成分からなるポリアミック酸成分を混合して使用して
もよい。いずれの場合も前記と同様にして目的とする芳
香族ポリイミドフィルムを得ることができる。また、こ
の発明における芳香族ポリイミドフィルムは、上述の熱
イミド化に限定されず、前記条件の範囲内であれば化学
イミド化によっても同様に得ることができる。
ムにおいて、好適にはテトラカルボン酸二無水物として
3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物と芳香族ジアミンとしてパラフェニレンジアミンと
を重合する方法によって容易に得ることができるが、ポ
リアミック酸としては、前記フィルムの物性値を満足す
る範囲内であれば、3,3’,4,4’−ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物とパラフェニレンジアミンとと
もに他の成分を重合してもよく、また、結合の種類はラ
ンダム重合、ブロック重合のいずれであってもよい。ま
た、最終的に得られるポリイミドフィルム中の各成分の
合計量が前記の範囲内であれば3,3’,4,4’−ビ
フェニルテトラカルボン酸二無水物を含むポリアミック
酸とパラフェニレンジアミンを含むポリアミック酸に他
の成分からなるポリアミック酸成分を混合して使用して
もよい。いずれの場合も前記と同様にして目的とする芳
香族ポリイミドフィルムを得ることができる。また、こ
の発明における芳香族ポリイミドフィルムは、上述の熱
イミド化に限定されず、前記条件の範囲内であれば化学
イミド化によっても同様に得ることができる。
【0019】この発明における芳香族ポリイミドフィル
ムは、そのままあるいはその表面をコロナ放電処理、火
炎処理、紫外線照射処理、低温あるいは常圧プラズマ放
電処理、表面処理剤塗布処理のいずれか1つの表面処理
を施した後、接着剤を塗布あるいはこれら接着剤のフィ
ルムを積層して接着剤層を設けることができる。
ムは、そのままあるいはその表面をコロナ放電処理、火
炎処理、紫外線照射処理、低温あるいは常圧プラズマ放
電処理、表面処理剤塗布処理のいずれか1つの表面処理
を施した後、接着剤を塗布あるいはこれら接着剤のフィ
ルムを積層して接着剤層を設けることができる。
【0020】この発明の金属張積層板は、前記の芳香族
ポリイミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介して
または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属
層を積層して得られる。上記芳香族ポリイミドフィル
ム、好適にはフィルムの表面処理面に金属層を積層する
方法としては、蒸着法、スパッタ法、メッキ法で導電体
層を直接積層してもよく、あるいは接着剤を介して金属
層を積層してもよい。直接金属層層を積層する方法は、
それ自体公知の方法で行うことができる。接着剤を介し
て金属層を積層する場合の接着剤は、熱硬化性でも熱可
塑性でもよく、例えばエポキシ樹脂、NBR−フェノ−
ル系樹脂、フェノ−ル−ブチラ−ル系樹脂、エポキシ−
NBR系樹脂、エポキシ−フェノ−ル系樹脂、エポキシ
−ナイロン系樹脂、エポキシ−ポリエステル系樹脂、エ
ポキシ−アクリル系樹脂、アクリル系樹脂、ポリアミド
−エポキシ−フェノ−ル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポ
リイミドシロキサン−エポキシ樹脂などの熱硬化性接着
剤、またはポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポ
リイミド系接着剤、ポリイミドシロキサン系接着剤など
の熱可塑性接着剤が挙げられる。特に、ポリイミド接着
剤、ポリイミドシロキサン−エポキシ接着剤、エポキシ
樹脂接着剤が好適に使用される。
ポリイミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介して
または蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属
層を積層して得られる。上記芳香族ポリイミドフィル
ム、好適にはフィルムの表面処理面に金属層を積層する
方法としては、蒸着法、スパッタ法、メッキ法で導電体
層を直接積層してもよく、あるいは接着剤を介して金属
層を積層してもよい。直接金属層層を積層する方法は、
それ自体公知の方法で行うことができる。接着剤を介し
て金属層を積層する場合の接着剤は、熱硬化性でも熱可
塑性でもよく、例えばエポキシ樹脂、NBR−フェノ−
ル系樹脂、フェノ−ル−ブチラ−ル系樹脂、エポキシ−
NBR系樹脂、エポキシ−フェノ−ル系樹脂、エポキシ
−ナイロン系樹脂、エポキシ−ポリエステル系樹脂、エ
ポキシ−アクリル系樹脂、アクリル系樹脂、ポリアミド
−エポキシ−フェノ−ル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポ
リイミドシロキサン−エポキシ樹脂などの熱硬化性接着
剤、またはポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポ
リイミド系接着剤、ポリイミドシロキサン系接着剤など
の熱可塑性接着剤が挙げられる。特に、ポリイミド接着
剤、ポリイミドシロキサン−エポキシ接着剤、エポキシ
樹脂接着剤が好適に使用される。
【0021】この発明における金属は、例えばアルミニ
ウム、銅、銅合金などが挙げられ、銅箔が一般的に使用
される。銅箔としては、電解銅箔、圧延銅箔が挙げら
れ、その引張強度が17kg/mm2 以上であるものが
好ましい。また、その厚みは8〜50μmであることが
好ましい。特に、この発明において、厚み3〜30μm
のポリイミド系接着剤と表面粗度の少ない厚み8〜40
μmの圧延または電解銅箔を組み合わせて使用すること
が好ましい。
ウム、銅、銅合金などが挙げられ、銅箔が一般的に使用
される。銅箔としては、電解銅箔、圧延銅箔が挙げら
れ、その引張強度が17kg/mm2 以上であるものが
好ましい。また、その厚みは8〜50μmであることが
好ましい。特に、この発明において、厚み3〜30μm
のポリイミド系接着剤と表面粗度の少ない厚み8〜40
μmの圧延または電解銅箔を組み合わせて使用すること
が好ましい。
【0022】この発明の回路板は、前記の芳香族ポリイ
ミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介してまたは
蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属層を積
層し、次いでエッチィング処理して回路を形成して得ら
れる。金属層に回路を形成する方法としては、前記の芳
香族ポリイミドフィルムに直接あるいは接着剤を介して
金属層を積層して金属張基板を製造した後、その金属表
面に例えばエッチィングレジストを回路パタ−ン状(配
線パタ−ン状)に印刷して、配線パタ−ンが形成される
部分の金属表面を保護するエッチィングレジストの配線
パタ−ンを形成した後、それ自体公知の方法でエッチィ
ング液を使用して配線が形成されない部分の金属をエッ
チィングにより除去し、エッチィングレジストを除去す
る方法が挙げられる。
ミドフィルムの少なくとも片面に接着剤を介してまたは
蒸着法、スパッタ法やメッキ法によって直接金属層を積
層し、次いでエッチィング処理して回路を形成して得ら
れる。金属層に回路を形成する方法としては、前記の芳
香族ポリイミドフィルムに直接あるいは接着剤を介して
金属層を積層して金属張基板を製造した後、その金属表
面に例えばエッチィングレジストを回路パタ−ン状(配
線パタ−ン状)に印刷して、配線パタ−ンが形成される
部分の金属表面を保護するエッチィングレジストの配線
パタ−ンを形成した後、それ自体公知の方法でエッチィ
ング液を使用して配線が形成されない部分の金属をエッ
チィングにより除去し、エッチィングレジストを除去す
る方法が挙げられる。
【0023】このようにして形成した回路板の回路パタ
−ン(配線パタ−ン)上面に、通常は絶縁性のコ−ト材
を塗布し、加熱乾燥してコ−ト層を形成する。コ−ト層
の形成は、コ−ト材(液状物)を回転塗布機械、ディス
ペンサ−または印刷機などを使用する塗布法で均一な厚
さに塗布し、加熱乾燥する。コ−ト材は一般的に無機フ
ィラ−が多量に添加されており、不透明であり、塗布面
から下の回路を明瞭に見ることは困難である。
−ン(配線パタ−ン)上面に、通常は絶縁性のコ−ト材
を塗布し、加熱乾燥してコ−ト層を形成する。コ−ト層
の形成は、コ−ト材(液状物)を回転塗布機械、ディス
ペンサ−または印刷機などを使用する塗布法で均一な厚
さに塗布し、加熱乾燥する。コ−ト材は一般的に無機フ
ィラ−が多量に添加されており、不透明であり、塗布面
から下の回路を明瞭に見ることは困難である。
【0024】さらに、この発明の応用例であるT−BG
Aは、例えば以下のようにして得られる。スリットした
芳香族ポリイミドフィルムのテ−プの上に接着剤テ−プ
をラミネ−トし、接着剤付きポリイミドテ−プを得る。
得られたテ−プにスプロケット穴やデバイスホ−ルを打
ち抜き、その上に金属箔を張り合わせる。金属箔を張り
合わせたテ−プを加熱し、接着剤を硬化させる。次い
で、上で述べたように回路パタ−ンを形成し、その上に
パタ−ンの一部を残してコ−ト材をスクリ−ン印刷す
る。次いで、パタ−ン上の銅箔が露出している部分にハ
ンダのボ−ルを形成してT−BGAを作製する。そして
この基板(T−BGA)にICをボンディングし、IC
の部分を封止材で保護する。次いでこのICをボンディ
ングしたT−BGAをプリント基板の所定の位置にボ−
ルを形成した面を下にして、プリント基板のパタ−ン位
置を上から確認しながら位置を合わせ、リフロ−炉で加
熱し実装する。
Aは、例えば以下のようにして得られる。スリットした
芳香族ポリイミドフィルムのテ−プの上に接着剤テ−プ
をラミネ−トし、接着剤付きポリイミドテ−プを得る。
得られたテ−プにスプロケット穴やデバイスホ−ルを打
ち抜き、その上に金属箔を張り合わせる。金属箔を張り
合わせたテ−プを加熱し、接着剤を硬化させる。次い
で、上で述べたように回路パタ−ンを形成し、その上に
パタ−ンの一部を残してコ−ト材をスクリ−ン印刷す
る。次いで、パタ−ン上の銅箔が露出している部分にハ
ンダのボ−ルを形成してT−BGAを作製する。そして
この基板(T−BGA)にICをボンディングし、IC
の部分を封止材で保護する。次いでこのICをボンディ
ングしたT−BGAをプリント基板の所定の位置にボ−
ルを形成した面を下にして、プリント基板のパタ−ン位
置を上から確認しながら位置を合わせ、リフロ−炉で加
熱し実装する。
【0025】
【実施例】以下にこの発明の実施例を示す。以下の各例
において、ポリイミドフィルムの物性測定は以下の方法
によって行った。
において、ポリイミドフィルムの物性測定は以下の方法
によって行った。
【0026】吸光度:下式に従い算出した。 吸光度=−log(光透過率) 光透過率:大塚電子製の瞬間マルチ測光システム MC
PD−1000にて測定 線膨張係数(50〜200℃)測定:300℃で30分
加熱して応力緩和したサンプルをTMA装置(引張りモ
−ド、2g荷重、試料長10mm、20℃/分)で測定 吸水率:ASTM D570−63に従って測定(23
℃×24時間) 引張弾性率測定:ASTM D882−64Tに従って
測定(MD) 絶縁破壊電圧:ASTM D149−64に従って測定
(25℃) 体積抵抗率:ASTM D257−61に従って測定
(25℃) 誘電率:ASTM D150−64Tに従って測定(2
5℃、1KHz)
PD−1000にて測定 線膨張係数(50〜200℃)測定:300℃で30分
加熱して応力緩和したサンプルをTMA装置(引張りモ
−ド、2g荷重、試料長10mm、20℃/分)で測定 吸水率:ASTM D570−63に従って測定(23
℃×24時間) 引張弾性率測定:ASTM D882−64Tに従って
測定(MD) 絶縁破壊電圧:ASTM D149−64に従って測定
(25℃) 体積抵抗率:ASTM D257−61に従って測定
(25℃) 誘電率:ASTM D150−64Tに従って測定(2
5℃、1KHz)
【0027】透過性の評価は、フィルム自体の透過率を
測定すると共に、TABテ−プとT−BGAを試作し、
評価した。TABテ−プは、回路面の反対側から光を当
て、回路パタ−ンが充分見分けられるものを良、見分け
が困難なものを不良とした。また、T−BGAは、ボ−
ル面を下にして、基板の回路パタ−ンが見分けられるも
のを良とし、見分けが困難なものを不良と判断した。
測定すると共に、TABテ−プとT−BGAを試作し、
評価した。TABテ−プは、回路面の反対側から光を当
て、回路パタ−ンが充分見分けられるものを良、見分け
が困難なものを不良とした。また、T−BGAは、ボ−
ル面を下にして、基板の回路パタ−ンが見分けられるも
のを良とし、見分けが困難なものを不良と判断した。
【0028】参考例1 内容積100リットルの重合槽に、N,N−ジメチルア
セトアミド54.6kgを加え、次いで3,3’,4,
4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物8.826
kgとパラフェニレンジアミン3.243kgとを加
え、30℃で10時間重合反応させてポリマ−の対数粘
度(測定温度:30℃、濃度:0.5g/100ml溶
媒、溶媒:N,N−ジメチルアセトアミド)が1.6
0、ポリマ−濃度が18重量%であるポリアミック酸
(イミド化率:5%以下)溶液を得た。
セトアミド54.6kgを加え、次いで3,3’,4,
4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物8.826
kgとパラフェニレンジアミン3.243kgとを加
え、30℃で10時間重合反応させてポリマ−の対数粘
度(測定温度:30℃、濃度:0.5g/100ml溶
媒、溶媒:N,N−ジメチルアセトアミド)が1.6
0、ポリマ−濃度が18重量%であるポリアミック酸
(イミド化率:5%以下)溶液を得た。
【0029】参考例2 参考例1で製造したポリアミック酸溶液に、ポリアミッ
ク酸100重量部に対して0.1重量部の割合でモノス
テアリルリン酸エステルトリエタノ−ルアミン塩および
0.5重量部の割合(固形分基準)で平均粒径0.08
μmのコロイダルシリカを添加して均一に混合してポリ
アミック酸溶液組成物を得た。
ク酸100重量部に対して0.1重量部の割合でモノス
テアリルリン酸エステルトリエタノ−ルアミン塩および
0.5重量部の割合(固形分基準)で平均粒径0.08
μmのコロイダルシリカを添加して均一に混合してポリ
アミック酸溶液組成物を得た。
【0030】参考例3 N,N−ジメチルアセトアミド53.6kg、パラフェ
ニレンジアミン2.27kg、4,4’−ジアミノジフ
ェニルエ−テル1.802kg、3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸二無水物4.413kgと
ピロメリット酸二無水物3.272kg加えた他は参考
例1と同様に重合し、ポリアミック酸の溶液(回転粘
度:1400ポイズ、18重量%)を得た。
ニレンジアミン2.27kg、4,4’−ジアミノジフ
ェニルエ−テル1.802kg、3,3’,4,4’−
ビフェニルテトラカルボン酸二無水物4.413kgと
ピロメリット酸二無水物3.272kg加えた他は参考
例1と同様に重合し、ポリアミック酸の溶液(回転粘
度:1400ポイズ、18重量%)を得た。
【0031】参考例4 参考例3で製造したポリアミック酸溶液に、ポリアミッ
ク酸100重量部に対して0.1重量部の割合でモノス
テアリルリン酸エステルトリエタノ−ルアミン塩および
0.5重量部の割合(固形分基準)で平均粒径0.08
μmのコロイダルシリカを添加して均一に混合してポリ
アミック酸溶液組成物を得た。
ク酸100重量部に対して0.1重量部の割合でモノス
テアリルリン酸エステルトリエタノ−ルアミン塩および
0.5重量部の割合(固形分基準)で平均粒径0.08
μmのコロイダルシリカを添加して均一に混合してポリ
アミック酸溶液組成物を得た。
【0032】実施例1 参考例1で製造したポリアミック酸溶液と参考例2で製
造したポリアミック酸溶液を使用して、2層押出ダイス
から、参考例2のポリアミック酸溶液層が支持体面と接
するように、平滑な金属支持体面の上に押出し、140
℃の熱風で連続的に乾燥し、自己支持性フィルムを形成
し、その自己支持性フィルムを支持体から剥離した。フ
ィルムは問題なく剥離した。次いで、加熱炉で、200
℃から480℃まで徐々に昇温して、溶媒を除去すると
共にポリマ−をイミド化した。得られたフィルムの厚み
は75μmで、参考例2のポリアミック酸に対応するポ
リイミドの層が5μmである。このフィルムの物性を表
1に示す。このフィルムを使用し、以下のようにして接
着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板を作製し、
評価した。評価結果を表1に示す。
造したポリアミック酸溶液を使用して、2層押出ダイス
から、参考例2のポリアミック酸溶液層が支持体面と接
するように、平滑な金属支持体面の上に押出し、140
℃の熱風で連続的に乾燥し、自己支持性フィルムを形成
し、その自己支持性フィルムを支持体から剥離した。フ
ィルムは問題なく剥離した。次いで、加熱炉で、200
℃から480℃まで徐々に昇温して、溶媒を除去すると
共にポリマ−をイミド化した。得られたフィルムの厚み
は75μmで、参考例2のポリアミック酸に対応するポ
リイミドの層が5μmである。このフィルムの物性を表
1に示す。このフィルムを使用し、以下のようにして接
着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板を作製し、
評価した。評価結果を表1に示す。
【0033】TABテ−プを以下のように作製した。3
5mm幅にスリットした芳香族ポリイミドフィルムのテ
−プの上に幅29.6mmで厚み10μmの接着剤付き
PET(ポリエチレンテレフタレ−ト)のテ−プを35
mm幅のポリイミドテ−プの中央に接着剤をポリイミド
面と合わせるようにラミネ−トし、接着剤付きポリイミ
ドテ−プを得る。得られたテ−プにスプロケット穴やデ
バイスホ−ルを打ち抜き、その上に約31mm幅の35
μm厚みの電解銅箔を張り合わせる。銅箔を張り合わせ
たテ−プを加熱し、接着剤を硬化させる。次いで、回路
パタ−ンを形成し、その上にコ−ト材をスクリ−ン印刷
した。このTABテ−プの回路面と反対側から検査し
た。T−BGAを以下のように作製した。35mm幅に
スリットした芳香族ポリイミドフィルムのテ−プの上に
幅29.6mmで厚み10μmの接着剤付きPET(ポ
リエチレンテレフタレ−ト)のテ−プを35mm幅のポ
リイミドテ−プの中央に接着剤をポリイミド面と合わせ
るようにラミネ−トし、接着剤付きポリイミドテ−プを
得る。得られたテ−プにスプロケット穴やデバイスホ−
ルを打ち抜き、その上に約31mm幅の35μm厚みの
電解銅箔を張り合わせる。銅箔を張り合わせたテ−プを
加熱し、接着剤を硬化させる。次いで、回路パタ−ンを
形成し、その上にコ−ト材をスクリ−ン印刷する。次い
で、パタ−ン上の銅箔が露出している部分にハンダのボ
−ルを形成してT−BGAを作製し、検査した。この基
板にICをボンディングし、ICの部分を封止材で保護
し、次いで、このICをボンディングしたT−BGAを
プリント基板の所定の位置にボ−ルを形成した面を下に
して、プリント基板のパタ−ン位置を上から確認しなが
ら位置合わせを行う。この際位置合わせは良好であっ
た。
5mm幅にスリットした芳香族ポリイミドフィルムのテ
−プの上に幅29.6mmで厚み10μmの接着剤付き
PET(ポリエチレンテレフタレ−ト)のテ−プを35
mm幅のポリイミドテ−プの中央に接着剤をポリイミド
面と合わせるようにラミネ−トし、接着剤付きポリイミ
ドテ−プを得る。得られたテ−プにスプロケット穴やデ
バイスホ−ルを打ち抜き、その上に約31mm幅の35
μm厚みの電解銅箔を張り合わせる。銅箔を張り合わせ
たテ−プを加熱し、接着剤を硬化させる。次いで、回路
パタ−ンを形成し、その上にコ−ト材をスクリ−ン印刷
した。このTABテ−プの回路面と反対側から検査し
た。T−BGAを以下のように作製した。35mm幅に
スリットした芳香族ポリイミドフィルムのテ−プの上に
幅29.6mmで厚み10μmの接着剤付きPET(ポ
リエチレンテレフタレ−ト)のテ−プを35mm幅のポ
リイミドテ−プの中央に接着剤をポリイミド面と合わせ
るようにラミネ−トし、接着剤付きポリイミドテ−プを
得る。得られたテ−プにスプロケット穴やデバイスホ−
ルを打ち抜き、その上に約31mm幅の35μm厚みの
電解銅箔を張り合わせる。銅箔を張り合わせたテ−プを
加熱し、接着剤を硬化させる。次いで、回路パタ−ンを
形成し、その上にコ−ト材をスクリ−ン印刷する。次い
で、パタ−ン上の銅箔が露出している部分にハンダのボ
−ルを形成してT−BGAを作製し、検査した。この基
板にICをボンディングし、ICの部分を封止材で保護
し、次いで、このICをボンディングしたT−BGAを
プリント基板の所定の位置にボ−ルを形成した面を下に
して、プリント基板のパタ−ン位置を上から確認しなが
ら位置合わせを行う。この際位置合わせは良好であっ
た。
【0034】実施例2 ポリアミック酸溶液の供給量を変えた他は実施例1と同
様にして、参考例1のポリアミック酸に対応するポリイ
ミドの層の厚みを73μm、参考例2のポリアミック酸
に対応するポリイミドの層の厚みを2μmにした以外は
実施例1と同様にして75μmのポリイミドフィルムを
得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフィルム
を使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−プ、金
属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1に示
す。
様にして、参考例1のポリアミック酸に対応するポリイ
ミドの層の厚みを73μm、参考例2のポリアミック酸
に対応するポリイミドの層の厚みを2μmにした以外は
実施例1と同様にして75μmのポリイミドフィルムを
得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフィルム
を使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−プ、金
属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1に示
す。
【0035】実施例3 ポリアミック酸溶液の供給量を変えた他は実施例1と同
様にして、参考例1のポリアミック酸に対応するポリイ
ミドの層の厚みを48μm、参考例2のポリアミック酸
に対応するポリイミドの層の厚みを2μmにした以外は
実施例1と同様にして50μmのポリイミドフィルムを
得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフィルム
を使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−プ、金
属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1に示
す。
様にして、参考例1のポリアミック酸に対応するポリイ
ミドの層の厚みを48μm、参考例2のポリアミック酸
に対応するポリイミドの層の厚みを2μmにした以外は
実施例1と同様にして50μmのポリイミドフィルムを
得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフィルム
を使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−プ、金
属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1に示
す。
【0036】実施例4 ポリアミック酸溶液の種類および供給量を変えた他は実
施例1と同様にして、参考例3のポリアミック酸に対応
するポリイミドの層の厚みを48μm、参考例4のポリ
アミック酸に対応するポリイミドの層の厚みを2μmに
した以外は実施例1と同様にして50μmのポリイミド
フィルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。こ
のフィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付き
テ−プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を
表1に示す。
施例1と同様にして、参考例3のポリアミック酸に対応
するポリイミドの層の厚みを48μm、参考例4のポリ
アミック酸に対応するポリイミドの層の厚みを2μmに
した以外は実施例1と同様にして50μmのポリイミド
フィルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。こ
のフィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付き
テ−プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を
表1に示す。
【0037】比較例1 参考例2で製造したポリアミック酸溶液を使用して、1
層押出ダイスから、平滑な金属支持体面の上に押出した
以外は実施例1と同様にして75μmのポリイミドフィ
ルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
層押出ダイスから、平滑な金属支持体面の上に押出した
以外は実施例1と同様にして75μmのポリイミドフィ
ルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
【0038】比較例2 参考例4で製造したポリアミック酸溶液を使用して、1
層押出ダイスから、平滑な金属支持体面の上に押出した
以外は実施例1と同様にして50μmのポリイミドフィ
ルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
層押出ダイスから、平滑な金属支持体面の上に押出した
以外は実施例1と同様にして50μmのポリイミドフィ
ルムを得た。このフィルムの物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
【0039】比較例3 市販の芳香族ポリイミドフィルム(宇部興産製、ユ−ピ
レックス−S、50μm)の物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
レックス−S、50μm)の物性を表1に示す。このフ
ィルムを使用し、実施例1と同様にして接着剤付きテ−
プ、金属張積層板および回路板を得た。評価結果を表1
に示す。
【0040】比較例4 市販の芳香族ポリイミドフィルム(東レ・デュポン社
製、カプトン200H、50μm)の物性を表1に示
す。このフィルムを使用し、実施例1と同様にして接着
剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板を得た。評価
結果を表1に示す。
製、カプトン200H、50μm)の物性を表1に示
す。このフィルムを使用し、実施例1と同様にして接着
剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板を得た。評価
結果を表1に示す。
【0041】
【表1】
【0042】
【発明の効果】この発明は以上説明したように構成され
ているので、以下に記載のような効果を奏する。この発
明の接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板は、
芳香族ポリイミドフィルムの光透過性が良いので、位置
合わせや欠陥検査が容易になり、生産性向上、不良率低
減に有益である。
ているので、以下に記載のような効果を奏する。この発
明の接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板は、
芳香族ポリイミドフィルムの光透過性が良いので、位置
合わせや欠陥検査が容易になり、生産性向上、不良率低
減に有益である。
【図1】図1は、この発明の接着剤付きシ−トの一例を
示す断面概略図である。
示す断面概略図である。
【図2】図2は、この発明の金属張積層板の一例を示す
断面概略図である。
断面概略図である。
【図3】図3は、この発明の回路板の一例を示す断面概
略図である。
略図である。
【図4】図4は、この発明の他の実施例の一部断面概略
図である。
図である。
【図5】図5は、この発明の他の実施例の一部断面概略
図である。 1 接着剤付きシ−ト 2 芳香族ポリイミドフィルム 3 接着剤 4 金属層 5 回路 6 コ−ト材層 7 ハンダボ−ル 8 金属箔 9 IC 10 金属張積層板 11 ボンディングシ−ト 12 スルホ−ル 20 回路板 30 半導体装置 40 多層基板
図である。 1 接着剤付きシ−ト 2 芳香族ポリイミドフィルム 3 接着剤 4 金属層 5 回路 6 コ−ト材層 7 ハンダボ−ル 8 金属箔 9 IC 10 金属張積層板 11 ボンディングシ−ト 12 スルホ−ル 20 回路板 30 半導体装置 40 多層基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI C09J 179/08 C09J 179/08 C23C 14/20 C23C 14/20 B (72)発明者 山本 智彦 山口県宇部市大字小串1978番地の10 宇部 興産株式会社宇部ケミカル工場内 (72)発明者 細馬 敏徳 山口県宇部市大字小串1978番地の10 宇部 興産株式会社宇部ケミカル工場内
Claims (10)
- 【請求項1】 寸法安定性が良好でかつ厚みが10〜2
00μmであって、吸光係数が波長500nmで15.
0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0×10
-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの少なく
とも片面に接着剤が設けられてなる接着剤付きシ−ト。 - 【請求項2】 芳香族ポリイミドフィルムが、さらに下
記の条件 (1) 線膨張係数(50−200℃)が0.5×10-5〜
2.5×10-5cm/cm/℃以下であり、 (2) 吸水率が2.5%以下であり、 (3) 引張弾性率が450kg/mm2 以上である を満足する請求項1記載の接着剤付きシ−ト。 - 【請求項3】 芳香族ポリイミドフィルムが、最終的に
得られるポリイミドの成分割合換算で、テトラカルボン
酸成分としてビフェニルテトラカルボン酸、その酸二無
水物又はその酸エステルを15モル%以上およびピロメ
リット酸、その酸二無水物又はその酸エステルを0〜8
5モル%含有し、芳香族ジアミン成分としてフェニレン
ジアミンを15モル%以上およびジアミノジフェニルエ
−テルを0〜85モル%含有するポリアミック酸の溶液
を使用して溶液流延法で製造されたものである請求項1
記載の接着剤付きシ−ト。 - 【請求項4】 芳香族ポリイミドフィルムが、基体層
(フィルム全体の厚みの50%以上)の片面に薄層(フ
ィルム全体の厚みの50%以下)を形成してなり該薄層
表面に流延製膜法による成形時に金属支持体との剥離性
が与えられ、基体層に透明性向上性が与えられてなる請
求項1記載の接着剤付きシ−ト。 - 【請求項5】 芳香族ポリイミドフィルムが、その表面
をコロナ放電処理、火炎処理、紫外線照射処理、低温あ
るいは常圧プラズマ放電処理、表面処理剤塗布処理のい
ずれか1つの表面処理がされている請求項1記載の接着
剤付きシ−ト。 - 【請求項6】 芳香族ポリイミドフィルムが、0.1K
V/μm以上の絶縁破壊電圧、1×1015Ω・cm以上
の体積抵抗率(25℃)を有する請求項1記載の接着剤
付きシ−ト。 - 【請求項7】 接着剤が、エポキシ樹脂、NBR−フェ
ノ−ル系樹脂、フェノ−ル−ブチラ−ル系樹脂、エポキ
シ−NBR系樹脂、エポキシ−フェノ−ル系樹脂、エポ
キシ−ナイロン系樹脂、エポキシ−ポリエステル系樹
脂、エポキシ−アクリル系樹脂、アクリル系樹脂、ポリ
アミド−エポキシ−フェノ−ル系樹脂、ポリイミド系樹
脂、ポリイミドシロキサン−エポキシ樹脂などの熱硬化
性接着剤、またはポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹
脂、ポリイミド系接着剤、ポリイミドシロキサン系接着
剤などの熱可塑性接着剤である請求項1記載の接着剤付
きシ−ト。 - 【請求項8】 寸法安定性が良好でかつ厚みが10〜2
00μmであって、吸光係数が波長500nmで15.
0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0×10
-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの少なく
とも片面に接着剤を介してまたは蒸着法、スパッタ法や
メッキ法によって直接金属層が積層されてなる金属張積
層板。 - 【請求項9】 接着剤が厚み3〜30μmのポリイミド
系接着剤であり、金属層が表面粗度の少ない厚み8〜5
0μmの圧延または電解銅箔である請求項8記載の金属
張積層板。 - 【請求項10】 寸法安定性が良好でかつ厚みが10〜
200μmであって、吸光係数が波長500nmで1
5.0×10-3/μm以下、波長600nmで5.0×
10-3/μm以下である芳香族ポリイミドフィルムの少
なくとも片面に接着剤を介してまたは蒸着法、スパッタ
法やメッキ法によって直接金属層を積層し、次いで回路
を形成してなる回路板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9159679A JPH115954A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9159679A JPH115954A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH115954A true JPH115954A (ja) | 1999-01-12 |
Family
ID=15698965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9159679A Pending JPH115954A (ja) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | 接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH115954A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100344820B1 (ko) * | 1999-09-29 | 2002-07-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 코로나 처리를 이용한 본딩 테이프의 제조 방법 |
JP2003082306A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-19 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体用接着フィルム及びその用途 |
JP2003118054A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 積層体並びに多層プリント配線板 |
JP2004323621A (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Hitachi Chem Co Ltd | 接着材テープ |
JP2005161858A (ja) * | 2000-10-02 | 2005-06-23 | Ube Ind Ltd | 線膨張係数を制御したポリイミドフィルムの製造法 |
JP2007216688A (ja) * | 2002-07-19 | 2007-08-30 | Ube Ind Ltd | 銅張積層板及びその製造方法 |
JP2009083498A (ja) * | 2002-07-19 | 2009-04-23 | Ube Ind Ltd | 銅張積層板及びその製造方法 |
JP2012057109A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物、接着フィルム、半導体装置、多層回路基板および電子部品 |
KR101452574B1 (ko) * | 2011-06-14 | 2014-10-22 | 가부시끼가이샤 마끼신꼬 | 차동 기어형 감속기 |
JP2015025106A (ja) * | 2013-07-25 | 2015-02-05 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 基材、金属箔または金属板、及び積層板、プリント配線板、電子機器、並びに、プリント配線板の製造方法 |
KR20150067060A (ko) * | 2013-12-09 | 2015-06-17 | 주식회사 전영 | 전도성 접착 조성물 및 이를 이용한 접착 필름 |
TWI494407B (zh) * | 2004-05-13 | 2015-08-01 | Kaneka Corp | 接著膜、撓性金屬接合積層板及彼等之製造方法 |
WO2023243693A1 (ja) * | 2022-06-16 | 2023-12-21 | 東洋紡株式会社 | 積層体 |
-
1997
- 1997-06-17 JP JP9159679A patent/JPH115954A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100344820B1 (ko) * | 1999-09-29 | 2002-07-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 코로나 처리를 이용한 본딩 테이프의 제조 방법 |
JP2005161858A (ja) * | 2000-10-02 | 2005-06-23 | Ube Ind Ltd | 線膨張係数を制御したポリイミドフィルムの製造法 |
JP2003082306A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-19 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体用接着フィルム及びその用途 |
JP2003118054A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 積層体並びに多層プリント配線板 |
JP2009083498A (ja) * | 2002-07-19 | 2009-04-23 | Ube Ind Ltd | 銅張積層板及びその製造方法 |
JP2007216688A (ja) * | 2002-07-19 | 2007-08-30 | Ube Ind Ltd | 銅張積層板及びその製造方法 |
JP2004323621A (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Hitachi Chem Co Ltd | 接着材テープ |
TWI494407B (zh) * | 2004-05-13 | 2015-08-01 | Kaneka Corp | 接著膜、撓性金屬接合積層板及彼等之製造方法 |
TWI494406B (zh) * | 2004-05-13 | 2015-08-01 | Kaneka Corp | 接著膜、撓性金屬接合積層板及彼等之製造方法 |
JP2012057109A (ja) * | 2010-09-10 | 2012-03-22 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物、接着フィルム、半導体装置、多層回路基板および電子部品 |
KR101452574B1 (ko) * | 2011-06-14 | 2014-10-22 | 가부시끼가이샤 마끼신꼬 | 차동 기어형 감속기 |
JP2015025106A (ja) * | 2013-07-25 | 2015-02-05 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 基材、金属箔または金属板、及び積層板、プリント配線板、電子機器、並びに、プリント配線板の製造方法 |
KR20150067060A (ko) * | 2013-12-09 | 2015-06-17 | 주식회사 전영 | 전도성 접착 조성물 및 이를 이용한 접착 필름 |
WO2023243693A1 (ja) * | 2022-06-16 | 2023-12-21 | 東洋紡株式会社 | 積層体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7998553B2 (en) | Copper-clad laminate | |
JP5648630B2 (ja) | 多層ポリイミドフィルム | |
TWI425037B (zh) | 接著性優異之聚醯亞胺膜、其製造方法及積層體 | |
KR100818483B1 (ko) | 폴리이미드 필름의 표면 처리 방법 및 금속 박막을 갖는폴리이미드 필름 | |
US20100230142A1 (en) | Method for manufacturing printed wiring board | |
EP0499986B1 (en) | Multilayer wiring structure and method for forming multilayer construction | |
KR20080109040A (ko) | 메탈라이징용 폴리이미드 필름 및 금속적층 폴리이미드 필름 | |
KR101702128B1 (ko) | 금속화 폴리이미드 필름, 및 그것을 이용한 플렉서블 배선판 | |
EP0786928A1 (en) | Novel flexible copper-coated laminate and flexible printed circuit board | |
JPH115954A (ja) | 接着剤付きテ−プ、金属張積層板および回路板 | |
US5849397A (en) | Aromatic polyimide film and polyimide/copper foil composite sheet | |
JP4130003B2 (ja) | 芳香族ポリイミドフィルムの製造方法 | |
JP3355986B2 (ja) | 芳香族ポリイミドフィルム及び積層体 | |
JP2008135759A (ja) | ポリイミドベンゾオキサゾールフィルムを絶縁層として用いたプリント配線基板用ベース基板、多層プリント配線板 | |
JP2007062274A (ja) | フレキシブル片面銅張積層板及びその製造方法 | |
JP2006130925A (ja) | 金属張積層板および回路板 | |
JPH114055A (ja) | フレキシブル回路基板 | |
JP2007266615A (ja) | 半導体パッケ−ジ内部絶縁用ポリイミドフィルムおよび積層基板 | |
JP2007106839A (ja) | ポリイミドフィルムおよびプリント配線基板用ベース基板 | |
JPH11177195A (ja) | フレキシブルプリント回路基板およびその製造方法 | |
JP4721657B2 (ja) | ポリイミドベンゾオキサゾールフィルム | |
US6979497B2 (en) | Electro-conductive metal plated polyimide substrate | |
JP2005051262A (ja) | 金属張積層板 | |
JP2004006735A (ja) | 半導体パッケ−ジ内部絶縁用ポリイミドフィルムおよび積層基板 | |
KR20070065237A (ko) | 플렉시블 프린트 배선판 및 그 제조 방법 |