JPH115029A - 集積マイクロセラミック化学プラント - Google Patents
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- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24058—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including grain, strips, or filamentary elements in respective layers or components in angular relation
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 平均的な産業用化学プラントの大きさの数千
分の一より小さい集積マイクロセラミック化学プラント
を提供する。 【解決手段】 混合室と、2以上の流体が流体内の化学
物質を混合、又は反応させるために該混合室に供給され
るよう混合室と連通させるための通路手段とを画成する
単一セラミック体と;混合された化学物質を単一セラミ
ック体から放出する配送手段を含む単一セラミック体と
からなる未焼結状態の複数のセラミック層を共に焼結し
て形成された一体化セラミック体を有する集積マイクロ
セラミック化学プラント。
分の一より小さい集積マイクロセラミック化学プラント
を提供する。 【解決手段】 混合室と、2以上の流体が流体内の化学
物質を混合、又は反応させるために該混合室に供給され
るよう混合室と連通させるための通路手段とを画成する
単一セラミック体と;混合された化学物質を単一セラミ
ック体から放出する配送手段を含む単一セラミック体と
からなる未焼結状態の複数のセラミック層を共に焼結し
て形成された一体化セラミック体を有する集積マイクロ
セラミック化学プラント。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は化学物質の混合、反
応、又は解析に用いられる集積セラミックマイクロ化学
プラントに関する。
応、又は解析に用いられる集積セラミックマイクロ化学
プラントに関する。
【0002】
【従来の技術】マイクロエンジニアリングは今後にわた
り多くの応用に衝撃を与えうる急速に成長している分野
である。シリコンプレーナー技術を含む三次元マイクロ
エンジニアリングのデバイス及びシステムはミクロン又
はミクロン以下のレベルの公差を有する1から数百ミク
ロンのものが製造可能である。現在のマイクロエンジニ
アリング技術のほとんどは酸化シリコン、二酸化シリコ
ン、チッ化シリコン及び同様の薄膜が堆積され、エッチ
ングされ、その後にプレーナー構造が得られるシリコン
ウエーハに通常適用される薄膜、フォトリソグラフィ
ー、エッチング技術の応用から進化している。
り多くの応用に衝撃を与えうる急速に成長している分野
である。シリコンプレーナー技術を含む三次元マイクロ
エンジニアリングのデバイス及びシステムはミクロン又
はミクロン以下のレベルの公差を有する1から数百ミク
ロンのものが製造可能である。現在のマイクロエンジニ
アリング技術のほとんどは酸化シリコン、二酸化シリコ
ン、チッ化シリコン及び同様の薄膜が堆積され、エッチ
ングされ、その後にプレーナー構造が得られるシリコン
ウエーハに通常適用される薄膜、フォトリソグラフィ
ー、エッチング技術の応用から進化している。
【0003】シリコンチップ上にプレーナー構造を用い
るミクロな流体学システムの技術に基づく化学的処理の
研究は進展してきた。予測的流れモデリングはまたミク
ロ流体技術からの恩恵を実現するよう発展してきた。化
学的処理の性能はシステムの質量の輸送及びある場合に
は熱輸送性能により制限される。故に化学的処理への影
響を最小化する方法を理解することが重要である。チュ
ーブ又はチャンネル内の理想液体の層流はうまく特徴づ
けられる。Pfahler等はシリコンウエーハ上で種
々のジオメトリーのチャンネルを用いた実験で従来のハ
ーゲン−ポアズイユの式が数ミクロンのスケールにまで
適用可能なことを結論づける実験と理論との間の一致が
存在することをを示した。円形の管内の理想流体の単位
時間当たりの層体積流Qfはハーゲン−ポアズイユの式
により以下のように表される:
るミクロな流体学システムの技術に基づく化学的処理の
研究は進展してきた。予測的流れモデリングはまたミク
ロ流体技術からの恩恵を実現するよう発展してきた。化
学的処理の性能はシステムの質量の輸送及びある場合に
は熱輸送性能により制限される。故に化学的処理への影
響を最小化する方法を理解することが重要である。チュ
ーブ又はチャンネル内の理想液体の層流はうまく特徴づ
けられる。Pfahler等はシリコンウエーハ上で種
々のジオメトリーのチャンネルを用いた実験で従来のハ
ーゲン−ポアズイユの式が数ミクロンのスケールにまで
適用可能なことを結論づける実験と理論との間の一致が
存在することをを示した。円形の管内の理想流体の単位
時間当たりの層体積流Qfはハーゲン−ポアズイユの式
により以下のように表される:
【0004】
【数1】
【0005】ここでμf及びrはそれぞれ流体の粘度及
びチューブの半径であり、dP/dXは流れのx方向に
沿った圧力勾配である。チャンネル幅が減少するにつれ
て流体の流れは材料の分布にわたる制御を提供し、液体
の混合が乱流よるよりもむしろ拡散又は他の分子的な移
動プロセスにより達成される層流により近くなる。混合
のこの問題は流体力学の計算の市販のソフトウエアパッ
ケージにより解決される。混合の度合いの尺度FはF=
Dt/l 2から推定され、ここでDは反応物の拡散定
数、tは混合に対して許容される接触時間、lは反応物
の流れの幅である。量的には混合は0.1から1までの
Fの値に対して実質的にほぼ完全に決定される。1秒
で、2つの液体の典型的な完全に近い混合は100ミク
ロンのチャンネル幅に対応する。
びチューブの半径であり、dP/dXは流れのx方向に
沿った圧力勾配である。チャンネル幅が減少するにつれ
て流体の流れは材料の分布にわたる制御を提供し、液体
の混合が乱流よるよりもむしろ拡散又は他の分子的な移
動プロセスにより達成される層流により近くなる。混合
のこの問題は流体力学の計算の市販のソフトウエアパッ
ケージにより解決される。混合の度合いの尺度FはF=
Dt/l 2から推定され、ここでDは反応物の拡散定
数、tは混合に対して許容される接触時間、lは反応物
の流れの幅である。量的には混合は0.1から1までの
Fの値に対して実質的にほぼ完全に決定される。1秒
で、2つの液体の典型的な完全に近い混合は100ミク
ロンのチャンネル幅に対応する。
【0006】類似のことは層流の条件下にあるマイクロ
チャンネルでの熱転送に当てはまる。この熱の層流プロ
セスの理解は微小熱交換及び化学的マイクロ反応を設計
し、製作するのに有用である。現在のプレーナーシリコ
ン技術は埋込構造及び一体化構造を有する集積された組
み込み式マイクロ化学プラントの製造に対して適切では
ない。
チャンネルでの熱転送に当てはまる。この熱の層流プロ
セスの理解は微小熱交換及び化学的マイクロ反応を設計
し、製作するのに有用である。現在のプレーナーシリコ
ン技術は埋込構造及び一体化構造を有する集積された組
み込み式マイクロ化学プラントの製造に対して適切では
ない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は集積マ
イクロセラミック化学プラントを提供することにある。
本発明の他の目的は平均的な産業用化学プラントの大き
さの数千分の一より小さい集積マイクロセラミック化学
プラントを提供することにある。
イクロセラミック化学プラントを提供することにある。
本発明の他の目的は平均的な産業用化学プラントの大き
さの数千分の一より小さい集積マイクロセラミック化学
プラントを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】これらの目的は (a) 混合室と、2以上の流体が流体内の化学物質を
混合、又は反応させるために該混合室に供給されるよう
混合室と連通させるための通路手段とを画成する単一セ
ラミック体と; (b) 混合された化学物質を単一セラミック体から放
出する配送手段を含む単一セラミック体とからなる未焼
結状態の複数のセラミック層を共に焼結して形成された
一体化セラミック体を有する集積マイクロセラミック化
学プラントにより達成される。
混合、又は反応させるために該混合室に供給されるよう
混合室と連通させるための通路手段とを画成する単一セ
ラミック体と; (b) 混合された化学物質を単一セラミック体から放
出する配送手段を含む単一セラミック体とからなる未焼
結状態の複数のセラミック層を共に焼結して形成された
一体化セラミック体を有する集積マイクロセラミック化
学プラントにより達成される。
【0009】
【発明の実施の形態】図1を参照するに、5つの異なる
セラミック層を含む一体化セラミック体10の斜視図が
示される。それぞれのセラミック層は最初は未焼結状態
であるが一体化セラミック体10を形成するために共に
焼結される。一体化セラミック体10の上部セラミック
層20は一体化セラミック体10の反対側に通路12、
14を有する(図2を参照)。通路12、14は本発明
により混合され、反応され、分析される化学物質を含む
流体を受けるように適合される。上部セラミック層20
は2以上の通路12、14を有しうる。通路12は混合
室31及び混合チャンネル26を含む第二のセラミック
層30に直接導かれる。あるいは通路14が混合室31
をバイパスするために第三のセラミック層40に直接導
かれる。第三のセラミック層40は反応室44、46、
48を画成する(図5を参照)。図1を参照するに、第
四のセラミック層100は化学処理を分析する分析チャ
ンネル72を含む。底又は五番目のセラミック層200
は反応生成物を放出する放出チャンネル80を含む。埋
込加熱コイル84が一体化セラミック体10を加熱する
ために第五のセラミック層200に形成される。埋込加
熱コイル84はそれが一体化セラミック体10全体を加
熱する限り第五のセラミック層200に配置される必要
はない。
セラミック層を含む一体化セラミック体10の斜視図が
示される。それぞれのセラミック層は最初は未焼結状態
であるが一体化セラミック体10を形成するために共に
焼結される。一体化セラミック体10の上部セラミック
層20は一体化セラミック体10の反対側に通路12、
14を有する(図2を参照)。通路12、14は本発明
により混合され、反応され、分析される化学物質を含む
流体を受けるように適合される。上部セラミック層20
は2以上の通路12、14を有しうる。通路12は混合
室31及び混合チャンネル26を含む第二のセラミック
層30に直接導かれる。あるいは通路14が混合室31
をバイパスするために第三のセラミック層40に直接導
かれる。第三のセラミック層40は反応室44、46、
48を画成する(図5を参照)。図1を参照するに、第
四のセラミック層100は化学処理を分析する分析チャ
ンネル72を含む。底又は五番目のセラミック層200
は反応生成物を放出する放出チャンネル80を含む。埋
込加熱コイル84が一体化セラミック体10を加熱する
ために第五のセラミック層200に形成される。埋込加
熱コイル84はそれが一体化セラミック体10全体を加
熱する限り第五のセラミック層200に配置される必要
はない。
【0010】本発明は集積マイクロセラミック化学プラ
ントを含む。「マイクロ」という用語が用いられるとき
それは化学プラント内の構造は約100ミクロン以下の
寸法であることを意味する。一体化セラミック体10は
共に焼結される未焼結状態の複数のセラミック層により
形成される。これらの層は典型的には10から100m
m幅、10から100mmの長さ、1から10mmの厚
さを有する。
ントを含む。「マイクロ」という用語が用いられるとき
それは化学プラント内の構造は約100ミクロン以下の
寸法であることを意味する。一体化セラミック体10は
共に焼結される未焼結状態の複数のセラミック層により
形成される。これらの層は典型的には10から100m
m幅、10から100mmの長さ、1から10mmの厚
さを有する。
【0011】「未焼結」という用語の使用は好ましくは
有機物バインダーと混合された特定のセラミック粉が均
一な密度を有する焼結されない予備的形成物を供給する
ために均一な形成力を受けることを意味する。特に有用
な材料の一つは射出成形、ゲルキャスティング、テープ
キャスティング、乾燥プレス、又は均衡プレスのような
標準的な方法により層を形成するためにマイクロモール
ド形成されうる正方晶系のジルコニアセラミック粉であ
る。用いられる他のセラミック材料はAl2O3,ZrO
2,AlN,BN,MgO,Al2O3−ZrO2,Si
C,Si3N4及び他の酸化物及び酸化物でないセラミッ
ク及びそれらの複合物のようなセラミックである。
有機物バインダーと混合された特定のセラミック粉が均
一な密度を有する焼結されない予備的形成物を供給する
ために均一な形成力を受けることを意味する。特に有用
な材料の一つは射出成形、ゲルキャスティング、テープ
キャスティング、乾燥プレス、又は均衡プレスのような
標準的な方法により層を形成するためにマイクロモール
ド形成されうる正方晶系のジルコニアセラミック粉であ
る。用いられる他のセラミック材料はAl2O3,ZrO
2,AlN,BN,MgO,Al2O3−ZrO2,Si
C,Si3N4及び他の酸化物及び酸化物でないセラミッ
ク及びそれらの複合物のようなセラミックである。
【0012】室、チャンネル、通路のような各層内の構
造は以下のように形成される: (a) フィードスルー、通孔、混合室、反応室のよう
な構造はモールド内にこれらの構造を組み込むことによ
り未焼結段階で各層に形成されうる。構造は焼結中の収
縮を考慮して約20%から50%より大きく作られなけ
ればならない。収縮の量はセラミック混合物内の有機バ
インダーの量による。典型的には2から5重量%の有機
バインダーが常温等方性プレス及び乾燥プレスのような
形成プロセスに対して加えられる。他方で10から40
重量%の有機バインダーがゲルキャスティング、テープ
キャスティング、射出成形のような形成プロセスに対し
て加えられる。
造は以下のように形成される: (a) フィードスルー、通孔、混合室、反応室のよう
な構造はモールド内にこれらの構造を組み込むことによ
り未焼結段階で各層に形成されうる。構造は焼結中の収
縮を考慮して約20%から50%より大きく作られなけ
ればならない。収縮の量はセラミック混合物内の有機バ
インダーの量による。典型的には2から5重量%の有機
バインダーが常温等方性プレス及び乾燥プレスのような
形成プロセスに対して加えられる。他方で10から40
重量%の有機バインダーがゲルキャスティング、テープ
キャスティング、射出成形のような形成プロセスに対し
て加えられる。
【0013】(b) 埋込螺旋コイル及び加熱コイルの
ような構造は焼結プロセス中に燃え尽きる有機ポリマー
からなる犠牲部材を置くことにより形成可能である。埋
込微小構造の形成の詳細はChatterjee等によ
り1997年1月2日に出願された米国特許出願08/
775523、”Miniature MoldedC
eramic Devices Having Emb
edded Spiral Coils”及び1997
年1月2日に出願された米国特許出願08/77552
4、”Method for Forming Mol
ded Ceramic Devices Havin
g Embedded SpiralCoils”に記
載され、これらをここに参考として引用する。
ような構造は焼結プロセス中に燃え尽きる有機ポリマー
からなる犠牲部材を置くことにより形成可能である。埋
込微小構造の形成の詳細はChatterjee等によ
り1997年1月2日に出願された米国特許出願08/
775523、”Miniature MoldedC
eramic Devices Having Emb
edded Spiral Coils”及び1997
年1月2日に出願された米国特許出願08/77552
4、”Method for Forming Mol
ded Ceramic Devices Havin
g Embedded SpiralCoils”に記
載され、これらをここに参考として引用する。
【0014】(c) マイクロチャンネルのような構造
は焼結中に燃え尽きる犠牲部材を埋め込むことにより形
成され、又はモールド形成ツールに設けられる。焼結プ
ロセス中に未焼結セラミック層は収縮する。この収縮に
対する補正をするための対策がとられなければならな
い。図2を参照するに、2つの異なる列に配置される通
路12、14を含む上部セラミック層20の斜視図であ
る。一つの列を形成する複数の通路12は通孔13に直
接配置され、別の列を形成する複数の通路14は通孔1
5に直接配置される。通孔の列(図を明確にするために
2つのみが示される)は混合室(第二のセラミック層3
0)の通孔29へ接続され反応室44、46、48に接
続された分配マニフォールド48aに接続される分配室
43に供給する。通路12、14は有機バインダーと複
合されたセラミック粉を押し出し成形することにより形
成される。通孔13、15を含む上部セラミック層20
はセラミック粉を乾燥プレスすることにより製造され
る。上部セラミック層20及び通路12、14は別々に
又は同時に焼結され、これにより通路12、14は焼結
中に上部セラミック層20上に結合される。構造を形成
する上部セラミック層20及び通路12、14が別々に
焼結される場合にはそれらは後で鑞付け又はエポキシ接
着される。
は焼結中に燃え尽きる犠牲部材を埋め込むことにより形
成され、又はモールド形成ツールに設けられる。焼結プ
ロセス中に未焼結セラミック層は収縮する。この収縮に
対する補正をするための対策がとられなければならな
い。図2を参照するに、2つの異なる列に配置される通
路12、14を含む上部セラミック層20の斜視図であ
る。一つの列を形成する複数の通路12は通孔13に直
接配置され、別の列を形成する複数の通路14は通孔1
5に直接配置される。通孔の列(図を明確にするために
2つのみが示される)は混合室(第二のセラミック層3
0)の通孔29へ接続され反応室44、46、48に接
続された分配マニフォールド48aに接続される分配室
43に供給する。通路12、14は有機バインダーと複
合されたセラミック粉を押し出し成形することにより形
成される。通孔13、15を含む上部セラミック層20
はセラミック粉を乾燥プレスすることにより製造され
る。上部セラミック層20及び通路12、14は別々に
又は同時に焼結され、これにより通路12、14は焼結
中に上部セラミック層20上に結合される。構造を形成
する上部セラミック層20及び通路12、14が別々に
焼結される場合にはそれらは後で鑞付け又はエポキシ接
着される。
【0015】図3は上部セラミック層20からの化学物
質を含む流体を受ける混合室31を含む第二のセラミッ
ク層30を示す斜視図である。混合室31から出る複数
のチャンネル24は集合し直線、曲がりくねり、複合、
波形及び角度をなす形又は形状を有する単一の混合チャ
ンネル26を形成する。通孔29(2つのみ示される)
の列は上部セラミック層20の通路14と連通させるよ
う第二のセラミック層30に配置される。混合チャンネ
ル26は第三のセラミック層40に併合される通孔28
に通じる。図4は混合チャンネル26が円形に構成され
た第二のセラミック層30の断面図を示す。混合室31
は長方形、楕円形、円形、又はいかなる従来の形でもあ
りうる。通孔28は第三のセラミック層40で分配室4
2に直接連結される。
質を含む流体を受ける混合室31を含む第二のセラミッ
ク層30を示す斜視図である。混合室31から出る複数
のチャンネル24は集合し直線、曲がりくねり、複合、
波形及び角度をなす形又は形状を有する単一の混合チャ
ンネル26を形成する。通孔29(2つのみ示される)
の列は上部セラミック層20の通路14と連通させるよ
う第二のセラミック層30に配置される。混合チャンネ
ル26は第三のセラミック層40に併合される通孔28
に通じる。図4は混合チャンネル26が円形に構成され
た第二のセラミック層30の断面図を示す。混合室31
は長方形、楕円形、円形、又はいかなる従来の形でもあ
りうる。通孔28は第三のセラミック層40で分配室4
2に直接連結される。
【0016】図5を参照するに、一体化セラミック体1
0の反応室44、46、48を示す斜視図である。第三
のセラミック層40は複数の連通流体チャンネル45、
47及び分配マニフォールド48aを含む。通孔28は
反応室44、46、48に分配されたところから化学物
質を含む流体を分配室42に供給する。混合チャンネル
27で混合される必要のない化学物質を含む付加的な流
体は分配室43に直接供給される。反応室44、46、
48は以下に説明するようにヒーター、攪拌器、又はフ
ィルタをそれぞれ設ける。分配室43からの化学物質は
反応室44、46、48にそれぞれ分配され、又は分配
マニフォールド48aを通して結合される。化学物質は
処理の必要により別々に又は順次に反応室44、46、
48に分配される。反応室44、46、48への別々の
分配に対して、一又は二方向バルブがチャンネル45に
組み込まれる。あるいは化学物質は反応室44、46、
48をバイパスして、チャンネル47を介して一時保存
タンクに直接供給される。反応室44、46、48は熱
電対と攪拌器を挿入する供給通孔52、54をそれぞれ
含む。保存タンク50は熱電対が挿入される供給通孔5
6を含む。あるいは流れの断続器がまた流体をその室内
に保存するよう孔57を通して挿入される。図6、7は
それぞれ図5の線4A−4A,4B−4Bに沿った断面
図である。保存タンク50と連通する第四のセラミック
層100は次の室に対して完全に又は部分的に開かれ
る。図7に示されるように保存タンク50の底には望ま
しいときに手動又は自動で開閉される通孔57が設けら
れる。
0の反応室44、46、48を示す斜視図である。第三
のセラミック層40は複数の連通流体チャンネル45、
47及び分配マニフォールド48aを含む。通孔28は
反応室44、46、48に分配されたところから化学物
質を含む流体を分配室42に供給する。混合チャンネル
27で混合される必要のない化学物質を含む付加的な流
体は分配室43に直接供給される。反応室44、46、
48は以下に説明するようにヒーター、攪拌器、又はフ
ィルタをそれぞれ設ける。分配室43からの化学物質は
反応室44、46、48にそれぞれ分配され、又は分配
マニフォールド48aを通して結合される。化学物質は
処理の必要により別々に又は順次に反応室44、46、
48に分配される。反応室44、46、48への別々の
分配に対して、一又は二方向バルブがチャンネル45に
組み込まれる。あるいは化学物質は反応室44、46、
48をバイパスして、チャンネル47を介して一時保存
タンクに直接供給される。反応室44、46、48は熱
電対と攪拌器を挿入する供給通孔52、54をそれぞれ
含む。保存タンク50は熱電対が挿入される供給通孔5
6を含む。あるいは流れの断続器がまた流体をその室内
に保存するよう孔57を通して挿入される。図6、7は
それぞれ図5の線4A−4A,4B−4Bに沿った断面
図である。保存タンク50と連通する第四のセラミック
層100は次の室に対して完全に又は部分的に開かれ
る。図7に示されるように保存タンク50の底には望ま
しいときに手動又は自動で開閉される通孔57が設けら
れる。
【0017】図8を参照するに、反応室の斜視図が示さ
れる。反応室44、46、48は正方形、長方形、楕円
形、円形、又はいかなる所望の幾何的な形をとりうる。
供給通孔は反応物を乱流で混合する電気的に作動される
攪拌器を挿入するために反応室48の一側に設けられ
る。攪拌器61はプラスチック又はステンレススチール
で作られた折り畳み可能なブレード59を有し、ステン
レススチールで作られる。
れる。反応室44、46、48は正方形、長方形、楕円
形、円形、又はいかなる所望の幾何的な形をとりうる。
供給通孔は反応物を乱流で混合する電気的に作動される
攪拌器を挿入するために反応室48の一側に設けられ
る。攪拌器61はプラスチック又はステンレススチール
で作られた折り畳み可能なブレード59を有し、ステン
レススチールで作られる。
【0018】図9を参照するに、反応室44を加熱する
導電性パッド60を通して外部電源(図示せず)に接続
された埋込螺旋コイル構造63を有する反応室44の斜
視図を示す。化学反応プロセスをモニタする分析装置を
挿入する供給通孔52がまた設けられる。埋込螺旋コイ
ル構造63の構成はW,Ta,Moのような耐熱性金属
でできた犠牲プラスチックコイルで未焼結セラミックを
モールド形成することにより達成される。プラスチック
の犠牲コイルは空気中での焼結中に燃え尽きる。耐熱性
金属の犠牲コイルはセラミックプラントが焼結された後
にNaOH又は水酸化アンモニウムでのエッチングによ
り除去される。セラミック体に埋め込みコイルを設ける
手順はChatterjee等により1997年1月2
日に出願された米国特許出願08/775523、”M
iniature MoldedCeramic De
vices Having Embedded Spi
ral Coils”及びChatterjee等によ
り1997年1月2日に出願された米国特許出願08/
775524、”Method for Formin
g Molded Ceramic Devices
Having Embedded Spiral Co
ils”に記載され、これらをここに参考として引用す
る。
導電性パッド60を通して外部電源(図示せず)に接続
された埋込螺旋コイル構造63を有する反応室44の斜
視図を示す。化学反応プロセスをモニタする分析装置を
挿入する供給通孔52がまた設けられる。埋込螺旋コイ
ル構造63の構成はW,Ta,Moのような耐熱性金属
でできた犠牲プラスチックコイルで未焼結セラミックを
モールド形成することにより達成される。プラスチック
の犠牲コイルは空気中での焼結中に燃え尽きる。耐熱性
金属の犠牲コイルはセラミックプラントが焼結された後
にNaOH又は水酸化アンモニウムでのエッチングによ
り除去される。セラミック体に埋め込みコイルを設ける
手順はChatterjee等により1997年1月2
日に出願された米国特許出願08/775523、”M
iniature MoldedCeramic De
vices Having Embedded Spi
ral Coils”及びChatterjee等によ
り1997年1月2日に出願された米国特許出願08/
775524、”Method for Formin
g Molded Ceramic Devices
Having Embedded Spiral Co
ils”に記載され、これらをここに参考として引用す
る。
【0019】図10を参照するに、反応室46が選択さ
れたセラミックで作られ、一体化セラミック体10の統
合された部分として形成されるフィルタ62からなる区
画として形成されるのが示される。通孔64は固体の沈
殿物を回収するために反応室46の底に設けられる。通
孔64は連続する層を通って第五のセラミック層200
へ続く。他の適合された通孔66は熱電対及びその接続
線を挿入するために室に設けられる。各反応容器44、
46、48は一体化セラミック体10の統合された部分
として一以上のフィルタからなる部品で形成される。
れたセラミックで作られ、一体化セラミック体10の統
合された部分として形成されるフィルタ62からなる区
画として形成されるのが示される。通孔64は固体の沈
殿物を回収するために反応室46の底に設けられる。通
孔64は連続する層を通って第五のセラミック層200
へ続く。他の適合された通孔66は熱電対及びその接続
線を挿入するために室に設けられる。各反応容器44、
46、48は一体化セラミック体10の統合された部分
として一以上のフィルタからなる部品で形成される。
【0020】図11を参照するに、一体化セラミック体
10の分析室100の斜視図が示される。保存タンク7
0が第三のセラミック層40の保存タンク50(図5)
の下に配置される。保存タンク50は第四のセラミック
層100の両側の供給通孔74、76が設けられた分析
チャンネル72に供給する。質量及び光学的スペクトロ
スコピーが設けられ、ファイバー光学転送を介して一体
化セラミック体10の外と連通する。保存タンク70か
ら離れたチャンネルの他端は第五のセラミック層200
に化学物質を供給するために通孔78が設けられる。
10の分析室100の斜視図が示される。保存タンク7
0が第三のセラミック層40の保存タンク50(図5)
の下に配置される。保存タンク50は第四のセラミック
層100の両側の供給通孔74、76が設けられた分析
チャンネル72に供給する。質量及び光学的スペクトロ
スコピーが設けられ、ファイバー光学転送を介して一体
化セラミック体10の外と連通する。保存タンク70か
ら離れたチャンネルの他端は第五のセラミック層200
に化学物質を供給するために通孔78が設けられる。
【0021】図12を参照するに、孔78を通して化学
物質を受け、通路82を通して最終的に分配容器への放
出チャンネル80を含む第五のセラミック層200の斜
視図が示される。第五のセラミック層200はまた一体
化セラミック体10を加熱するために埋め込み加熱コイ
ル84を有する一体化加熱素子を設ける。埋込加熱コイ
ル84はMOSi2 ,TiB2 ,ZrB2 のようなセラ
ミック材料で作られる。埋込加熱コイル84用の電気的
リード86は第五のセラミック層200の側面に配置さ
れ、その一体化された部品である。温度をモニタし、制
御するために供給通孔90は外側から第五のセラミック
層200の表面へ角度をなして貫通している。
物質を受け、通路82を通して最終的に分配容器への放
出チャンネル80を含む第五のセラミック層200の斜
視図が示される。第五のセラミック層200はまた一体
化セラミック体10を加熱するために埋め込み加熱コイ
ル84を有する一体化加熱素子を設ける。埋込加熱コイ
ル84はMOSi2 ,TiB2 ,ZrB2 のようなセラ
ミック材料で作られる。埋込加熱コイル84用の電気的
リード86は第五のセラミック層200の側面に配置さ
れ、その一体化された部品である。温度をモニタし、制
御するために供給通孔90は外側から第五のセラミック
層200の表面へ角度をなして貫通している。
【0022】本発明はその特定の実施例を特に参照して
詳細に説明されてきたが、変更及び改善は本発明の精神
及び範囲内でなされうる。
詳細に説明されてきたが、変更及び改善は本発明の精神
及び範囲内でなされうる。
【0023】
【発明の効果】本発明の一体化マイクロセラミック化学
プラントは以下のような利点を有する: 1. プラントの寸法を減少することにより乱流を導入
する必要なしに短時間で良好な混合を確実にすることが
可能である。 2. 大きな表面積対体積比の故により効率的な熱制御
が可能である。比較的少量の化学物質がいかなる所定の
時間においてもマイクロチャンネル内で用いられ得る故
に化学爆発の危険はまた減少する。プロセスを非常に迅
速にシャットダウンすることがまた可能である。 3. 触媒表面に反応物質を導入することにより大きな
表面積対体積比を提供することにより触媒反応は増強さ
れる。付加的にマイクロセラミック室又はチャンネルの
正確な幾何形状は接触時間及び化学反応プロセスを制御
するために用いられ得る。 4. 集積マイクロセラミック化学プラントはプロセス
パラメータ変化を容易にする現位置でのプロセスの正確
なモニタを助ける。 5. 生産プロセスのスケールアップは非常にしばしば
プロセスのパラメータを変更する必要のある反応容器の
体積を増加するよりもむしろ集積マイクロセラミック化
学プラントの配列を設けることにより可能である。 6. 集積マイクロセラミック化学の良好に画成された
幾何形状及びセラミック材料の選択により化学プロセス
を研究するための理想的な研究手段を提供する。 7. 集積マイクロセラミック化学プラントは大きさが
小さい故に、ある場所から他の場所へ容易かつ低コスト
で輸送可能である。 8. 集積マイクロセラミック化学プラントは従来のシ
リコン技術を用いて作られたものよりも苛酷な化学環境
及び高い動作温度に耐えうる。 9. 従来のシリコン技術と異なり、三次元に埋め込ま
れたチャンネル及び他の複雑な特徴はマイクロモールデ
ィング技術を用いてセラミック体内で形成される。 10. 集積マイクロセラミック化学プラントの最大の
特質の一つは排出されるガスの発生及び毒性の化学的副
産物の放出は集積マイクロセラミック化学プラントが環
境に適応されうるよう効果的に制御されることである。
プラントは以下のような利点を有する: 1. プラントの寸法を減少することにより乱流を導入
する必要なしに短時間で良好な混合を確実にすることが
可能である。 2. 大きな表面積対体積比の故により効率的な熱制御
が可能である。比較的少量の化学物質がいかなる所定の
時間においてもマイクロチャンネル内で用いられ得る故
に化学爆発の危険はまた減少する。プロセスを非常に迅
速にシャットダウンすることがまた可能である。 3. 触媒表面に反応物質を導入することにより大きな
表面積対体積比を提供することにより触媒反応は増強さ
れる。付加的にマイクロセラミック室又はチャンネルの
正確な幾何形状は接触時間及び化学反応プロセスを制御
するために用いられ得る。 4. 集積マイクロセラミック化学プラントはプロセス
パラメータ変化を容易にする現位置でのプロセスの正確
なモニタを助ける。 5. 生産プロセスのスケールアップは非常にしばしば
プロセスのパラメータを変更する必要のある反応容器の
体積を増加するよりもむしろ集積マイクロセラミック化
学プラントの配列を設けることにより可能である。 6. 集積マイクロセラミック化学の良好に画成された
幾何形状及びセラミック材料の選択により化学プロセス
を研究するための理想的な研究手段を提供する。 7. 集積マイクロセラミック化学プラントは大きさが
小さい故に、ある場所から他の場所へ容易かつ低コスト
で輸送可能である。 8. 集積マイクロセラミック化学プラントは従来のシ
リコン技術を用いて作られたものよりも苛酷な化学環境
及び高い動作温度に耐えうる。 9. 従来のシリコン技術と異なり、三次元に埋め込ま
れたチャンネル及び他の複雑な特徴はマイクロモールデ
ィング技術を用いてセラミック体内で形成される。 10. 集積マイクロセラミック化学プラントの最大の
特質の一つは排出されるガスの発生及び毒性の化学的副
産物の放出は集積マイクロセラミック化学プラントが環
境に適応されうるよう効果的に制御されることである。
【図1】本発明による集積マイクロセラミック化学プラ
ントの分解図である。
ントの分解図である。
【図2】図1に示された一体化セラミック体の上から一
番目のセラミック層の斜視図である。
番目のセラミック層の斜視図である。
【図3】混合チャンネルを示す一体化セラミック体の上
から二番目のセラミック層の斜視図である。
から二番目のセラミック層の斜視図である。
【図4】図3の断面図である。
【図5】反応室を示す一体化セラミック体の上から三番
目のセラミック層の斜視図である。
目のセラミック層の斜視図である。
【図6】図5の4A−4Aに沿った断面である。
【図7】図5の4B−4Bに沿った断面である。
【図8】電気攪拌器を設けられた図5の反応室の斜視図
である。
である。
【図9】加熱用の埋込螺旋コイルを有する図5の反応室
の斜視図である。
の斜視図である。
【図10】セラミックフィルタが示される図5の反応室
の斜視図である。
の斜視図である。
【図11】化学反応処理を分析する室を示された一体化
セラミック体の上から四番目のセラミック層の斜視図で
ある。
セラミック体の上から四番目のセラミック層の斜視図で
ある。
【図12】生成物を回収する室及びセラミック体を加熱
する加熱ユニットを示した一体化セラミック体の底にあ
る五番目のセラミック層の斜視図である。
する加熱ユニットを示した一体化セラミック体の底にあ
る五番目のセラミック層の斜視図である。
10 一体化セラミック体 12、14、82 通路 13、15、28、29、57、64 通孔 20 上部セラミック層 24、45、47、チャンネル 26 混合チャンネル 30 第二のセラミック層 31 混合室 40 第三のセラミック層 42、43 分配室 44、46、48 反応室 48a 分配マニフォールド 50、70 保存タンク 52、54、56、66、74、76 供給通孔 59 折り畳みブレード 60 導電性パッド 61 攪拌器 62 フィルタ 72 分析チャンネル 80 放出チャンネル 84 埋込加熱コイル 86 電気的リード 100 第四のセラミック層 200 第五のセラミック層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 エドワード ピー ファーラニ アメリカ合衆国,ニューヨーク 14086, ランカスター,ヒルサイド・パークウェイ 12
Claims (3)
- 【請求項1】(a) 混合室と、2以上の流体が流体内
の化学物質を混合、又は反応させるために該混合室に供
給されるよう混合室と連通させるための通路手段とを画
成する単一セラミック体と; (b) 混合された化学物質を単一セラミック体から放
出する配送手段を含む単一セラミック体とからなる未焼
結状態の複数のセラミック層を共に焼結して形成された
一体化セラミック体を有する集積マイクロセラミック化
学プラント。 - 【請求項2】(a) 反応室と、2以上の流体が流体内
の化学物質を反応させるためにそのような反応室に供給
されるよう反応室と連通させるための通路手段とを画成
する単一セラミック体と; (b) 反応した化学物質を単一セラミック体から放出
する配送手段を含む単一セラミック体とからなる未焼結
状態の複数のセラミック層を共に焼結して形成された一
体化セラミック体を有する集積マイクロセラミック化学
プラント。 - 【請求項3】(a) 化学物質を含む少なくとも2つの
流体を供給する通路が形成された第一のセラミック層
と; (b) 化学物質を含む流体を混合する通路と連通する
第二の層の混合室を含む第二のセラミック層と; (c) 流体内の化学物質を反応させる第三の層の反応
室を含む第三のセラミック層と; (d) 化学反応の結果を分析するために用いられる第
四層の分析室を含む第四のセラミック層とからなる少な
くとも4つの未焼結状態のセラミック層を共に焼結して
形成された多層の一体化セラミック体を有する集積マイ
クロセラミック化学プラント。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/835,979 US5993750A (en) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | Integrated ceramic micro-chemical plant |
US835979 | 1997-04-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH115029A true JPH115029A (ja) | 1999-01-12 |
Family
ID=25270935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10094957A Pending JPH115029A (ja) | 1997-04-11 | 1998-04-07 | 集積マイクロセラミック化学プラント |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5993750A (ja) |
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