JPH1147675A - 塗布装置及びその方法 - Google Patents

塗布装置及びその方法

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JPH1147675A
JPH1147675A JP22009797A JP22009797A JPH1147675A JP H1147675 A JPH1147675 A JP H1147675A JP 22009797 A JP22009797 A JP 22009797A JP 22009797 A JP22009797 A JP 22009797A JP H1147675 A JPH1147675 A JP H1147675A
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pressing
coating
holding member
rotating
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JP22009797A
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Noriyuki Anai
徳行 穴井
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Tokyo Electron Ltd
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 周縁領域への塗布膜の形成を抑えて、縁部の
塗布膜の除去処理を不要にすること。またスピンコ−テ
ィングを行うにあたり、基板を保持手段上に確実に保持
すること。 【解決手段】 保持部材2に基板Gを吸着保持するスピ
ンチャック21と基板Gの周縁領域を押圧する押え部材
3とを設ける。押え部材3は周縁領域においてレジスト
膜形成領域との境界近傍を、ほぼ全周に亘って押圧する
ように設けられている。スピンコ−ティングによりレジ
スト膜を形成する際、基板Gを押え部材3により押圧し
ながら行うと、レジスト液は押え部材3により周縁領域
への拡散が阻止されるので、周縁領域へのレジスト膜の
形成が抑えられ、この結果縁部に形成されたレジスト膜
の除去処理が不要となる。また押え部材3により周縁領
域が押圧されているので、基板Gを保持部材2上に確実
に保持できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶表示用
のガラス基板に例えばレジスト液を塗布する塗布装置及
びその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、液晶表示ディスプレイ(LC
D)装置の製造工程においては、LCD用のガラス基板
上に例えばITO(Indium Tin Oxid
e)の薄膜や電極パタ−ン等を形成するために、半導体
製造工程において用いられるものと同様なフォトリソグ
ラフィ技術を用いて回路パタ−ン等を縮小してフォトレ
ジストに転写し、これを現像処理する一連の処理が施さ
れる。
【0003】例えば矩形状のLCD基板を、洗浄装置に
て洗浄した後、LCD基板にアドヒ−ジョン処理装置に
て疎水化処理を施し、続いて冷却処理装置にて冷却した
後、レジスト塗布装置にてフォトレジスト膜即ち感光膜
を塗布形成する。そしてフォトレジストを加熱処理装置
にて加熱してベ−キング処理を施した後、露光装置にて
所定のパタ−ンを露光する。そして露光後のLCD基板
を、現像装置にて現像液を塗布して現像した後、リンス
液により現像液を洗い流し、現像処理を完了する。
【0004】上述のレジスト塗布を行う場合、LCD基
板の表面に例えばスピンコ−ティング法によってレジス
ト液を塗布する処理が行われる。図17はこのような塗
布処理を行う装置の従来例を示す図であり、例えばこの
装置は、LCD基板G(以下基板Gという)の表面にレ
ジスト液を供給してレジスト膜を塗布する塗布機構1A
と、LCD基板Gの周縁部の不要な塗布膜を除去する縁
部除去機構1Bとを同一雰囲気内に備えている。
【0005】上記塗布機構1Aについて図17、図18
を参照して説明すると、塗布機構1Aでは、基板Gを、
回転カップ11内に配設されるスピンチャック10上に
吸着保持させて、例えばこの基板上面の中心部に溶剤S
とレジスト液Rを夫々供給ノズル12a,12bより滴
下した後(図18(a))、回転カップ11の開口部を
蓋体13で閉止して、回転カップ11とスピンチャック
10とを回転させることにより(図18(b))、レジ
スト液を基板の回転力と遠心力とにより基板中心部から
周縁部に向けて放射状に拡散させて塗布するようにして
いる。
【0006】こうしてレジスト膜が塗布されたLCD基
板Gは搬送ア−ム14により縁部除去機構2に搬送され
るが、この縁部除去機構2では、水平方向に回転可能な
載置台15上に基板Gを吸着保持させ、当該基板Gの対
向する2片の縁部に、一対の除去ノズル16(16a,
16b)によりレジスト除去液が噴射される。
【0007】上記除去ノズル16は例えば略コ字状に形
成されて、図18(c)に示すように、基板Gの上下か
らレジスト除去液を噴射するようになっており、溶解さ
れたレジストと溶剤とは外部に排出される。このような
除去ノズル16は基板Gの縁部に沿って移動するように
構成されており、例えば基板Gの長辺側に沿って不要な
レジストを除去した後、載置台15を回転させて基板G
の短辺側に除去ノズル16を合わせ、短辺側の不要なレ
ジスト膜を除去している。
【0008】このようにレジスト膜の塗布処理の後、基
板の周縁部の不要な塗布膜を除去する処理が行われるの
は、レジスト膜の塗布直後における膜厚は均一であって
も、時間が経つに従い表面張力の影響で基板周縁部でレ
ジスト液が盛り上がるように厚くなり、またレジスト液
が基板の下面周縁部にまで回り込んで不要な膜が形成さ
れる現象が発生する。このように基板の周縁部に不均一
な厚い膜が形成されていると、集積回路パタ−ン等の現
像時に周縁部のレジスト膜が完全には除去されずに残存
することになり、その後の基板の搬送工程中にその残存
したレジストが剥がれ、パーティクル発生の原因となる
からである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述のレ
ジスト塗布装置では、塗布機構1Aと縁部除去機構1B
とが必要であり、しかもLCD基板Gは大型であるた
め、レジスト塗布装置自体が大型化してしまうという問
題や、塗布機構1Aから縁部除去機構1Bへの搬送工程
を要するために、スル−プットの低下を招いてしまうと
いう問題があった。
【0010】本発明はこのような事情の下になされたも
のであり、その目的は、いわゆるスピンコ−ティングを
行うにあたり、周縁領域には塗布膜を形成しないように
して、縁部の塗布膜の除去処理を不要にすることができ
る塗布装置及びその方法を提供することにある。また本
発明の他の目的は、スピンコ−ティング時において基板
を保持手段上に確実に保持することができる塗布装置及
びその方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】このため本発明の塗布装
置は、基板を保持し、回転させる保持部材と、前記基板
に塗布液を供給する塗布液供給手段と、前記保持部材に
設けられ、基板の辺全体に亘って塗布膜形成領域の外側
の周縁領域を押圧すると共に、塗布液が前記周縁領域に
広がるのを阻止する押え部材と、を備えたことを特徴と
する。
【0012】前記押え部材は、例えば基板を押圧するた
めの押圧体と、前記押圧体を支持し、かつ回動軸によっ
て回動可能な回動ア−ムと、前記押圧体及び/又は回動
ア−ムに設けられた重りとを、備え、常時基板と反対の
方向に回転モ−メントが働くように構成されていて、回
動機構により回動ア−ムを押圧することにより、押圧体
が基板を押圧する位置と基板の外側の位置との間で垂直
方向に回動可能に構成されることが望ましく、さらに押
圧体は一端側で基板を押圧するように構成され、当該押
圧体が基板を押圧するときに、他端側が基板から離れる
方向に傾斜するように前記回動ア−ムに設けられること
が望ましい。
【0013】このような塗布装置では、前記保持部材に
載置された基板に対して位置合わせを行う位置合わせ機
構を備え、この位置合わせ機構により保持部材上の基板
の位置を合わせてから前記押え部材により基板の周縁領
域を押圧することが望ましい。
【0014】また本発明の塗布方法は、基板を保持部材
に保持させる工程と、この基板の塗布膜形成領域の外側
の周縁領域にて基板を被処理面側から覆う工程と、次い
で被処理面が覆われた基板の当該被処理面に塗布液を供
給する工程と、前記塗布液が供給された基板を回転させ
ることにより、塗布液が前記周縁領域に広がるのを阻止
しながら、前記基板の被処理面側に塗布膜を形成する工
程と、を含むことを特徴とする。前記基板を被処理面側
から覆う工程は、押圧部材を基板の外側の位置から基板
を押圧する位置まで回動させることにより、当該押圧部
材により基板の塗布膜形成領域の外側の周縁領域にて基
板を押圧することが望ましく、この場合には塗布膜を形
成する工程に続いて押圧部材による基板の押圧を解除す
る工程が行われる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に本発明に係る塗布装置の一
実施の形態について説明する。先ず本発明の塗布装置を
備えたLCD基板の塗布・現像処理装置の全体構成につ
いて図1に基づいて簡単に説明すると、この装置は被処
理基板例えば矩形状のLCD基板G(以下基板Gとい
う)を搬入・搬出するロ−ダ部100と、基板Gを処理
する第1処理部200及び第2処理部300とを備えて
いる。ロ−ダ部100はカセットステ−ジ110を備え
ており、このカセットステ−ジ110には処理前の基板
Gが複数枚収納されるカセットC1及び処理後の基板G
が収納されるカセットC2が載置されている。120は
搬出入ピンセットである。
【0016】第1処理部200には基板搬送用のメイン
ア−ム210の搬送路の両側に、ブラシ洗浄装置22
0、ジェット水洗浄装置230、アドヒ−ジョン処理装
置240、冷却処理装置250、本発明に係る2台の塗
布装置260が設けられている。また第2処理部2Cの
メインア−ム310の搬送路の両側には、複数の加熱処
理装置320及び2つの現像装置330が設けられてい
る。さらに塗布・現像装置の右端部側には搬出入ピンセ
ット410、受渡し台420を介して露光装置500が
連結されている。
【0017】このような塗布・現像処理装置にて行われ
る一連の処理について簡単に説明すると、先ずカセット
C1内に収容された未処理の基板Gは搬出入ピンセット
120によって取出された後、メインア−ム210に受
け渡され、ブラシ洗浄装置220内にてブラシ洗浄され
る。続いて必要に応じてジェット水洗浄装置230内に
て高圧ジェット水により洗浄され、この後アドヒ−ジョ
ン処理装置240にて疎水化処理が施される。次いで冷
却処理装置250にて冷却された後、塗布装置260に
てレジスト膜即ち感光膜が塗布形成される。次に加熱処
理装置320にてレジスト膜が加熱されてプリコ−トベ
−キング処理が施された後、露光装置500にて所定の
パタ−ンが露光される。そして露光後の基板Gは現像装
置330にて現像された後、リンス液により現像液が洗
い流され、こうして一連の処理が完了する。
【0018】続いて本発明に係る塗布装置260につい
て詳述する。図2は塗布装置260の一実施の形態を示
す、基板Gの短辺側から見た断面図であり、図3は塗布
装置260の平面図である。図中2は基板Gを保持する
ための長方形板状の保持部材であり、この保持部材2は
水平方向に回転自在、昇降自在に構成されている。
【0019】保持部材2の中央部には、図示しない真空
装置によって基板Gの裏面側を吸着して保持するスピン
チャック21が設けられている。このスピンチャック2
1は例えば円板状に形成されており(図5参照)、その
直径は基板Gの短辺よりも小さく設定されている。また
保持部材2の表面のスピンチャック21の外側には、保
持部材2の長辺に沿って凹部22が形成されている。こ
の凹部22は、塗布装置260への基板Gの搬出入を行
う既述のメインア−ム210の厚さより深く形成されて
おり、メインア−ム210が凹部22を水平方向に進退
できるようになっている。
【0020】また保持部材2には、図2、図4〜7に示
すように、基板Gの周縁領域を押圧するための押え部材
3が回動自在に設けられている。この押え部材3は、図
6、7に示すように、長辺の一方が押圧端となる細長い
長方形板状の押圧体31を、押え部材3が起立した状態
のときに(図6、7(c)参照)、前記押圧体31の押
圧端が他端側よりも低くなるように、傾いた状態で例え
ば2本の回動ア−ム32の上端に接合されて構成されて
いる。また押圧体31の押圧端の裏面側は、例えば基板
Gとの接触面積を大きくするように斜めに削られて押圧
面をなしている。
【0021】押え部材3は基板Gの辺全体に亘って設け
られており、例えば図5に示すように、図中一点鎖線で
示す基板Gの短辺の周縁領域を夫々押圧するための一対
の第1の押え部材3A,3Aと、長辺の周縁領域を夫々
押圧するための一対の第2の押え部材3B,3Bとを備
えている。この例では第1の押え部材3Aで基板Gの短
辺の周縁領域を押圧し、第2の押え部材3Bで残りの周
縁領域を押圧するようになっている。ここで周縁領域と
は基板Gのレジスト膜が形成されるレジスト膜形成領域
よりも外側の領域である。
【0022】各押え部材3の短辺の長さは例えば周縁領
域の幅よりも大きく設定されていて、各押え部材3は周
縁領域の最も内側に押圧端が位置し、当該周縁領域にお
いてレジスト膜形成領域との境界近傍を押圧するように
配置されている。なお前記押圧体31には、例えば他端
側の中央部付近であって基板Gの周縁領域の外側に、押
え部材3が倒れた状態にあるときに後述する位置合わせ
部材7が通過可能な切欠31aが形成されている。
【0023】前記保持部材2の各辺には、例えば図4〜
6に示すように、各押圧体31が基板Gの所定の領域を
押圧するときの回動ア−ム32と適合する位置に、溝2
3が形成されている。この溝23は幅が回動ア−ム32
よりもわずかに大きくなるように設定されており、例え
ば各辺の縁端部から基板Gの載置領域付近まで至るよう
に形成されている。なお前記第1の押え部材3Aの回動
ア−ム32は保持部材2の凹部22の外側に位置するよ
うに設けられている。
【0024】さらに保持部材2と回動ア−ム32とに
は、回動軸33の挿入孔2a,32aが夫々適宜位置に
形成されており、回動ア−ム32を溝23に係合させ、
挿入孔2a,32aに回動軸33を貫通させて固定する
ことにより、押え部材3が保持部材2に固定される。ま
たこれにより回動ア−ム32が回動軸33を中心として
溝23内を前後に回動する。
【0025】前記押圧体31の他端側には、図6、7に
示すように、例えば切欠31aを除いた部分に重り34
aが取り付けられている。また回動ア−ム32の他端側
は、図7に示すように保持部材2の裏面側から突出して
おり、例えばこの下端部にも重り34bが取付けられて
いる。これらの重り34a,34bは押え部材3に常時
基板Gと反対の方向に回転モ−メントが働くように、夫
々の重さが調整されていて、これにより押圧体31は図
7(a)に示すように、常時は後ろ側に倒れた状態にな
っている。また重り34a,34bの重さを調整するこ
とにより、押え部材3が回動するときのスピ−ドも調整
することができる。
【0026】前記保持部材2の裏面側には、例えば各押
え部材3の回動ア−ム32の近傍の位置に合計8つの回
動機構をなすエアシリンダ35が設けられており、この
エアシリンダ35は例えば図示しないエア供給手段から
回転軸60を介して供給されるエアによりピストン35
aが伸び出して回動ア−ム32を押圧するように構成さ
れている。つまり押え部材3は常時は後ろ側に倒れてお
り、基板Gを押圧しようとするときには、エアシリンダ
35からピストン35aを突出させ、回動ア−ム32を
押圧してを前側に回動させ(図7(b))、こうして押
え部材3を起立させて基板Gを押圧するようになってい
る(図7(c))。なおこの例ではエアシリンダ35は
押え部材3が後ろ側に倒れたときの回動ア−ム32(重
り34b)のストッパの役割も果たしている。
【0027】このような保持部材2の外周囲には、保持
部材2と共に水平方向に回転自在な回転カップ4が設け
られている。この回転カップ4は保持部材2を間隙を介
して包囲するように、上方部が開口する有底開口円筒状
に形成されており、開口部41には蓋体42が着脱自在
に設けられている。ここで蓋体42は後述の回転処理時
には回転カップ4と一体に回転される必要があるので、
例えば回転カップ4の上部に突出する図示しない固定ピ
ンを、蓋体42に形成された図示しない凹部に嵌合させ
ることにより、両者を固定するようにしている。
【0028】前記回転カップ4の側壁は上側に向かって
縮径されるようにテ−パ面を形成しており、回転カップ
4内には、保持部材2の上部側の位置に保持部材2と対
向するように基板Gよりも大きい整流板43が設けられ
ている。また回転カップ4の底面はスピンチャック21
の下方側で上に屈曲しており、この屈曲部の上面とスピ
ンチャック21の裏面との間にはシ−ル用のOリング4
4が介在されていて、保持部材2が下降するとOリング
44と当接して気密が保持されるようになっている。
【0029】回転カップ4の外周囲には、回転カップ4
を包囲するように、上方部が開口する有底開口円筒状の
ドレンカップ5が設けられており、このドレンカップ5
の開口部51には蓋体52が着脱自在に設けられてい
る。前記整流板43、蓋体42、52はロボットア−ム
45にて支持される支持軸46により支持されていて、
ロボットア−ム45の昇降により蓋体42、52の閉止
位置と、閉止位置の上方側の待機位置との間で昇降され
るように構成されている。
【0030】回転カップ4用の蓋体42には支持軸46
の近傍に空気孔47aが形成されると共に、回転カップ
4の底面の周縁側には排気孔47bが形成されていて、
回転カップ4が回転することによって空気孔47aから
当該カップ4内に導入された空気が整流板43、側壁に
沿って流れ、排気孔47bから排気されるようになって
いる。これにより飛散したレジストのミストが空気と共
に回転カップ4から排出され、基板Gへの再付着が防止
されると共に、回転時にカップ4内が過剰な負圧になる
ことが防止される。
【0031】ドレンカップ5の底面の周縁側には複数の
排液口53aが設けられており、この排液口53aの内
周側には図示しない排気装置に接続された排気口53b
が設けられている。またドレンカップ5用の蓋体52の
支持軸46の近傍には空気孔52aが設けられており、
回転カップ4が回転したときに、空気孔52aからドレ
ンカップ5内に入り込んだ空気が回転カップ4の外周壁
に沿って流れ、排気口53bから排気されるようになっ
ている。これにより回転カップ4の回転時に排気孔47
bを介してドレンカップ5内に流れ込んだミストは回転
カップ4の上部側に舞い上らずに、排気口53bから速
やかに排出される。
【0032】続いて前記保持部材2と回転カップ4の回
転機構について説明する。前記保持部材2は、基板下方
に配置した駆動モ−タMの駆動によって回転されると共
に、昇降シリンダ62の駆動によって昇降する回転軸6
0の頂部に設けられている。なお昇降シリンダ62は回
転軸60の下端側にバキュ−ムシ−ル部61を介して連
結されている。こうして保持部材2は水平方向に回転
(自転)自在に構成されると共に、保持部材2の表面が
ドレンカップ5の側壁よりも上方側に位置する基板Gの
移載位置と、基板Gに回転処理を行う処理位置との間を
昇降自在に構成される。また前記スピンチャック21は
回転軸60の内部、バキュ−ムシ−ル部61を介して図
示しない真空装置により吸引されるようになっている。
【0033】この場合回転軸60は、回転内筒62aに
嵌着されたスプライン軸受け63に組み合わせられてお
り、これにより回転軸60はスプライン軸受け63と共
に回動し、またスプライン軸受け63に対して昇降でき
るようになっている。前記回転内筒62aの外側には固
定カラ−64を介して回転外筒62bが設けられてお
り、回転内筒62aと回転外筒62bとは、固定カラ−
64に対して夫々軸受け65a、65bを介して回転で
きるようになっている。また前記回転カップ4の底面は
回転外筒62bと連結筒66を介して連結されている。
【0034】スプライン軸受け63及び回転外筒62b
の外周には夫々同一径の従動プ−リ67a,67bが設
けられ、これらには共通の駆動モ−タMに設けられた駆
動プ−リPにより駆動されるベルト68a,68bが夫
々掛け渡されている。従って保持部材2と回転カップ4
とは前記駆動モ−タMにより同速度で回転することにな
る。
【0035】前記連結筒66の内部には、図示しないベ
アリングを介してスピンチャック21と共に昇降可能な
取付部材54が取り付けられており、この取付部材54
には回転カップ4の洗浄ノズル55と、不活性ガス例え
ば窒素(N2 )ガスの供給ノズル56とが設けられてい
る。
【0036】洗浄ノズル55は、図示しない複数のノズ
ル体、例えば回転カップ4の底面、内側面、蓋体42の
裏面側を夫々洗浄するための底面洗浄ノズル体、側面洗
浄ノズル体、蓋体洗浄体を組み合わせて構成されてお
り、固定カラ−64を貫通する図示しない洗浄液供給管
を介して図示しない洗浄液供給源に接続されている。
【0037】窒素ガスの供給ノズル56は、例えば中空
円環状のパイプの外周面に多数の小孔を穿設してなる環
状ノズルよりなり、固定カラ−64を貫通する図示しな
い不活性ガス供給管を介して図示しない不活性ガス供給
源に接続されている。ここで窒素ガスは、後述する保持
部材2の回転終了後に、保持部材2をわずかに上昇さ
せ、供給ノズル56を回転カップ4の内部空間に露呈さ
せた状態で供給され、この窒素ガスの供給により、回転
カップ4内がN2 パ−ジされると共に、回転カップ4内
の負圧状態が解除されるので蓋体42の開放が容易にな
る。
【0038】前記回転カップ4の上方側には、図8に示
すように、保持部材2が移載位置にあるときに、保持部
材2上での基板Gの位置合わせを行うための位置合わせ
機構7が設けられている。この位置合わせ機構7は、水
平方向に移動可能に設けられた位置合わせア−ム71の
先端に基板押圧体72を取り付けたものを、4つ組み合
わせて構成されている。これらの基板押圧体72は、図
9に示すように、4つの基板押圧体72の先端面が基板
Gの各辺の側面を夫々同時に押圧できるように、各先端
面が基板の各辺と対向するように配置されている。
【0039】即ち各位置合わせ部材72は、保持部材2
が移載位置にあるときに、先端面が基板Gの側面を押圧
できる高さであって、図10に示すように、押え部材3
が倒れた状態のときに切欠31aを通過できるように、
切欠31aと対応する位置に配置されると共に、切欠3
1aを通過できるような大きさに設定されている。
【0040】このような基板押圧体72は、位置合わせ
ア−ム71により水平方向に移動可能に構成されてお
り、常時はドレンカップ5の外周囲の外側に位置してい
る。そして基板Gが保持部材2に移載された後、位置を
合わせる際には基板Gに向けて移動する。なお位置合わ
せア−ム71は例えば図3に示す塗布装置の基台261
に設けられる図示しない駆動部により駆動されるように
構成されている。
【0041】また塗布装置260には、図3に示すよう
に、ドレンカップ5の外側方に塗布液供給手段8が設け
られている。この塗布液供給手段8は、塗布液例えばレ
ジスト液の供給ノズル81aと塗布液の溶剤の供給ノズ
ル81bとを近接させて一体に取り付けたノズル部81
を移動ア−ム82の先端に装着することにより構成され
ている。
【0042】移動ア−ム82は駆動部83により水平方
向に回転自在、昇降自在に構成されており、こうしてノ
ズル部81は移動ア−ム82により、ドレンカップ5の
外側方の待機位置と、基板Gの上方側の供給位置との間
で移動される。前記レジスト液の供給ノズル81aは図
示しないレジスト液供給管を介して図示しないレジスト
液供給槽に接続されており、溶剤の供給ノズル81bは
図示しない溶剤供給管を介して図示しない溶剤槽に接続
されている。
【0043】続いて上述の塗布装置の作用について図1
1に基づいて説明する。先ず回転カップ4の蓋体42、
整流板43、ドレンカップ5の蓋体52を待機位置にて
待機させている状態で、図11(a)に示すように、保
持部材2を回転軸60により移載位置まで上昇させる。
この際押え部材3は倒れた状態にある。そして前工程の
冷却処理装置250にて処理された基板Gをメインア−
ム210により保持部材2上に載置する。
【0044】次いで図11(b)に示すように、保持部
材2上の基板Gの位置合わせを行う。この位置合わせ
は、例えば4つの基板押圧体72により基板Gの各辺の
側面を同時に押圧して、各辺を保持部材2上の正確な位
置に合わせることにより行う。こうして位置合わせを行
った後、基板Gをスピンチャック21により吸着保持す
る。
【0045】次に図11(c)に示すように、押え部材
3により基板Gの周縁部を押圧する。つまりエアシリン
ダ35からピストン35aを突出させて回動ア−ム32
を押圧し、こうして回動ア−ム32を回動させて押え部
材3を起立させる。これにより押圧体31は押圧面が基
板Gの周縁部に押し付けられ、こうして押え部材3が基
板Gの周縁領域を押圧する。ここで押え部材3が基板G
を押圧している間、エアシリンダ35のピストン35a
は回動ア−ム32を押圧したままである。
【0046】この後図11(d)に示すように、基板G
上にレジスト膜をスピンコ−ティングにより形成する。
この処理においては、先ず回転軸60により保持部材2
を処理位置まで移動し、次いで保持部材2と回転カップ
4とを例えば200〜800rpmの回転数で回転させ
る。この回転中に塗布液供給手段8のノズル部81を移
動ア−ム82により供給位置に移動し、溶剤の供給ノズ
ル81bから溶剤として例えばエチルセロソルブアセテ
−ト(ECA)を例えば20秒間供給して、当該溶剤を
基板G上に拡散させて塗布する。
【0047】続いて保持部材2を500〜1500rp
mの回転数で回転させながら、レジスト液の供給ノズル
81aからレジスト液Rを例えば5秒間供給した後、保
持部材2及び回転カップ4の回転を停止する。この状態
ではレジスト液Rは基板Gの角部を残した略同心円内に
塗布されている。そしてノズル部81を待機位置に移動
した後、回転カップ4の蓋体42とドレンカップ5の蓋
体52とを閉止位置に移動し、基板Gを回転カップ4内
に封入した状態で、保持部材2と回転カップ4とを10
00〜3000rpmの回転数で回転させる。これによ
りレジスト液Rを基板Gの全面に行き渡り、レジスト膜
の膜厚が整えられる。
【0048】こうして塗布処理が終了した後、図11
(e)に示すように、保持部材2を移載位置まで上昇さ
せ、スピンチャック21の吸着を解除すると共に、押え
部材3による押圧を解除する。つまりエアシリンダ35
のピストン35aを戻して、回動ア−ム32を時計方向
に回動させ押え部材3を起立状態から倒れた状態にす
る。そして図示しないメインア−ム210によりレジス
ト膜Rが形成された基板Gを搬出し、次工程が行われる
加熱処理装置320に持ち運ぶ。
【0049】このような塗布装置では、基板Gの周縁領
域を押え部材3により押圧した状態でレジスト膜Rの塗
布を行なっているので、図12に示すように、当該基板
G周縁領域へのレジスト膜Rの形成を防止することがで
きる。つまり押え部材3は周縁領域においてレジスト膜
形成領域との境界近傍を押圧しているので、レジスト膜
を塗布する際、レジスト液Rの拡散が押え部材3により
前記境界で阻止される。これにより当該レジスト液Rは
周縁領域には入り込めないので、この領域へのレジスト
膜Rの形成が防止される。
【0050】また位置合わせ機構7により保持部材2上
において基板Gを正確な位置に合わせてから、押え部材
3により基板Gを押圧するようにしているので、基板G
の予め設定された周縁領域を正確に押圧することができ
る。このため基板G上のレジスト膜形成領域にはレジス
ト膜が確実に塗布され、周縁領域のみレジスト膜の形成
が抑えられる。
【0051】さらに押圧体31は押圧端から他端側に向
けて上に向かって傾斜するように設けられているので、
レジスト膜Rの塗布の際保持部材2を回転させると、レ
ジスト液Rは同心円上に拡散して押圧体31の表面まで
至り、押圧体31では回転の遠心力により傾斜面に沿っ
て飛散していく。このように押圧体31にはレジストR
が溜まりにくいので、押圧体31と基板Gとの接触部分
付近において両者に跨がってレジスト膜Rが形成されて
しまうことが起こりにくい。このため塗布処理終了後に
押え部材3を解除する際、押圧体31と基板Gとに亘っ
て形成されたレジスト膜Rにより押圧体31が解除しに
くく(倒れにくく)なったり、前記レジスト膜Rが剥が
れてしまうようなことが抑えられる。
【0052】このように本実施の形態の塗布装置では、
従来行っていた縁部除去処理を行う必要がないので、当
該処理に要する装置が不要になり、塗布装置自体を小型
化することができると共に、スペ−ス的にも有利にな
る。また当該処理自体や塗布装置から縁部除去処理を行
う装置への基板Gの搬送も不要となるので、処理時間と
搬送時間とを合わせた時間分短縮され、スル−プットが
向上する。
【0053】また基板Gはスピンチャック21で中央部
を吸着保持され、押え部材3で周縁部を押圧保持されて
いるので、全体の保持力が大きい。このため既述のスピ
ンコ−ティングにおいて、保持部材2に基板Gを確実に
保持することができる。このことは基板Gが大型化して
いる現状にあっては特に有効である。つまりスピンコ−
ティングの際、回転により基板Gの遠心力が大きくなっ
たとしても、保持部材2上での基板Gの位置ずれが起こ
りにくいし、仮に基板Gが保持部材2上で位置ずれを起
こしたとしても、図13に示すように、基板Gは押え部
材3の可動ア−ム32に衝突して水平方向の移動が阻止
されるので、基板Gが保持部材2から落下するといった
事故の発生を防ぐことができるからである。
【0054】以上において本発明では、例えば図14に
示すように、手動で押え部材9を取り付ける構成として
もよい。この場合基板Gの保持部材2上での位置合わせ
を行った後、押圧体91と挿入ピン92により構成され
た押え部材9を、保持部材2の支持ア−ム92と対応す
る位置に形成された差し込み孔93に挿入ピン92を挿
入することにより取り付け、こうして押え部材9により
基板Gの周縁部を押圧する。押え部材9は回動ア−ム3
2を挿入ピン92に変えた点、重り34a,34bが不
要な点を除いては、上述の押え部材3と同様に構成され
ている。
【0055】この際図15に示すように、保持部材2の
挿入ピン92と対応する位置に、挿入ピン92と係合す
る差し込み溝94を形成し、先ず挿入ピン92を差し込
み溝94の奥まで係合させてから、挿入ピン92の外側
(溝の手前側)に安全ピン95を差し込むようにしても
よい。ここで96は安全ピン95の差し込み孔である。
この例では押え部材9を装着又は離脱するときには挿入
ピン92を差し込み溝94に沿って水平移動させればよ
いので脱着が容易になる。また塗布処理時には安全ピン
95により挿入ピン92の水平方向の移動が阻止され
る。
【0056】以上において、本発明は例えばLCD基板
等の矩形状の基板のみならず、半導体ウエハW等に対し
ても適用できる。また押え部材は、周縁領域において少
なくともレジスト膜形成領域との境界近傍をほぼ全周に
亘って押圧し、周縁領域へのレジスト液の拡散を防止で
きれば、個数や大きさは適宜設定可能である。例えば図
16に示すように押圧体97を構成し、当該押圧体97
を、押圧面97aの内端がレジスト膜形成領域と周縁領
域との境界に位置するように設ける構成としてもよい。
【0057】さらに保持部材はスピンチャックと押え部
材とを組み合わせる構成としたが、押え部材のみで基被
処理基板を押圧保持するようにしてもよい。またスピン
チャックで被処理基板を保持して、押え部材の代わりに
被処理基板の周縁領域を例えばテ−プ状の被覆材で被覆
するようにしてもよいし、周縁領域へのレジスト液の拡
散を防止するために厚さのあるテ−プ状の被覆材でレジ
スト膜形成領域と周縁領域との境界を覆うようにしても
よい。
【0058】
【発明の効果】本発明によれば、周縁領域への塗布膜の
形成が抑えられるので、縁部の塗布膜の除去処理を不要
にすることができる。またスピンコ−ティングを行うに
あたり、基板を保持手段上に確実に保持することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の塗布装置を備えた塗布・現像装置の一
実施の形態を示す斜視図である。
【図2】本発明の塗布装置の一実施の形態を示す断面図
である。
【図3】本発明の塗布装置の一実施の形態を示す平面図
である。
【図4】塗布装置に設けられた押え部材の一例を示す斜
視図である。
【図5】前記押え部材の一例を示す平面図である。
【図6】前記押え部材の一例を示す斜視図である。
【図7】前記押え部材の作用を説明するための側面図で
ある。
【図8】塗布装置に設けられた位置合わせ機構の一例を
示す側面図である。
【図9】前記位置合わせ機構の一例を示す平面図であ
る。
【図10】前記位置合わせ機構の作用を説明するための
側面図と背面図である。
【図11】前記塗布装置の作用を説明するための工程図
である。
【図12】前記塗布装置の作用を説明するための側面図
である。
【図13】前記塗布装置の作用を説明するための側面図
である。
【図14】本発明の塗布装置に設けられた押え部材の他
の例を示す斜視図である。
【図15】本発明の塗布装置に設けられた押え部材のさ
らに他の例を示す斜視図である。
【図16】本発明の塗布装置に設けられた押え部材のさ
らに他の例を示す斜視図である。
【図17】従来の塗布装置を示す平面図である。
【図18】従来の塗布装置の作用を示す工程図である。
【符号の説明】
2 保持部材 21 スピンチャック 3、9 押え部材 31、97 押圧体 32 回動ア−ム 33 回動軸 4 回転カップ 5 ドレンカップ 60 回転軸 7 位置合わせ機構

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持し、回転させる保持部材と、 前記基板に塗布液を供給する塗布液供給手段と、 前記保持部材に設けられ、基板の辺全体に亘って塗布膜
    形成領域の外側の周縁領域を押圧すると共に、塗布液が
    前記周縁領域に広がるのを阻止する押え部材と、を備え
    たことを特徴とする塗布装置。
  2. 【請求項2】 前記押え部材は、前記保持部材に、基板
    を押圧する位置と基板の外側の位置との間で垂直方向に
    回動可能に設けられていることを特徴とする請求項1記
    載の塗布装置。
  3. 【請求項3】 前記押え部材は、基板を押圧するための
    押圧体と、前記押圧体を支持し、かつ回動軸によって回
    動可能な回動ア−ムと、前記押圧体及び/又は回動ア−
    ムに設けられた重りとを、備え、 前記押え部材は、常時基板と反対の方向に回転モ−メン
    トが働くように構成されていることを特徴とする請求項
    1又は2記載の塗布装置。
  4. 【請求項4】 前記押え部材は、前記回動ア−ムを押圧
    することにより、押圧体を基板の外側の位置から基板を
    押圧する位置まで回動させる回動機構を備えていること
    を特徴とする請求項3記載の塗布装置。
  5. 【請求項5】 前記押圧体は一端側で基板を押圧するよ
    うに構成され、当該押圧体が基板を押圧するときに、他
    端側が基板から離れる方向に傾斜するように前記回動ア
    −ムに設けられていることを特徴とする請求項3記載の
    塗布装置。
  6. 【請求項6】 前記保持部材に載置された基板に対して
    位置合わせを行う位置合わせ機構を備え、この位置合わ
    せ機構により保持部材上の基板の位置を合わせてから前
    記押え部材により基板の周縁領域を押圧することを特徴
    とする請求項1記載の塗布装置。
  7. 【請求項7】 基板を保持部材に保持させる工程と、 この基板の塗布膜形成領域の外側の周縁領域にて基板を
    被処理面側から覆う工程と、 次いで被処理面が覆われた基板の当該被処理面に塗布液
    を供給する工程と、 前記塗布液が供給された基板を回転させることにより、
    塗布液が前記周縁領域に広がるのを阻止しながら、前記
    基板の被処理面側に塗布膜を形成する工程と、を含むこ
    とを特徴とする塗布方法。
  8. 【請求項8】 前記基板を被処理面側から覆う工程は、
    押圧部材を基板の外側の位置から基板を押圧する位置ま
    で回動させることにより、当該押圧部材により基板の塗
    布膜形成領域の外側の周縁領域にて基板を押圧すること
    により行われることを特徴とする請求項7記載の塗布方
    法。
  9. 【請求項9】 基板を保持部材に保持させる工程と、 押圧部材により基板の塗布膜形成領域の外側の周縁領域
    にて基板を被処理面側から押圧する工程と、 次いで被処理面が押圧された基板の当該被処理面に塗布
    液を供給する工程と、 前記塗布液が供給された基板を回転させることにより、
    塗布液が前記周縁領域に広がるのを阻止しながら、前記
    基板の被処理面側に塗布膜を形成する工程と、 続いて押圧部材による基板の押圧を解除する工程と、を
    含むことを特徴とする塗布方法。
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