JP4539938B2 - 塗布装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display:LCD)に使われるガラス基板上にレジスト液を塗布する塗布装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
LCDの製造工程においては、被処理体であるLCD用のガラス基板上にITO(Indium Tin Oxide)の薄膜や電極パターンを形成するために、半導体デバイスの製造に用いられるものと同様のフォトリソグラフィ技術が利用される。フォトリソグラフィ技術では、フォトレジストをガラス基板に塗布し、これを露光し、さらに現像する。レジスト液の塗布方法としては、ガラス基板を回転させながらその中心にレジスト液を滴下し、遠心力を利用してレジスト液を拡散して塗布するスピンコーティング法と、基板を保持する保持部材を回転させずに、レジスト液の供給ノズルを縦横方向に、あるいは円周方向に移動するように走査し、レジスト液を細径の線状にしてガラス基板上に塗布していく手段(スピンレス法)とがある。
【0003】
スピンレス法の場合におけるレジストの塗布方法の1つとして、レジスト液の供給ノズルの吐出口を一定間隔で複数にして、その複数の吐出口から同時にレジストを吐出させる方式がある。この方式によれば、供給ノズルのガラス基板上を走査する回数を減らして塗布処理のタクトを短縮させることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながらこの複数の吐出口から吐出させる方式の場合、供給ノズルの吐出口は一定間隔で複数形成されているので、ガラス基板の周縁部におけるレジスト膜厚の微細な制御が困難となり、周縁部の塗膜厚の均一性が失われ、これにより塗布処理後の工程におけるパーティクル発生の原因ともなる。
【0005】
特に、レジスト液塗布処理工程において、転写跡の生起を防止するためにレジスト液塗布直後のガラス基板Gを減圧乾燥させる場合があるが、この場合基板G上のレジスト液は図14に示すように、塗膜厚が不均一な部分100aの近傍に窪み100bが生じ、基板周縁部における塗膜厚の不均一の問題が更に深刻なものとなる。
【0006】
本発明は上記した事情に鑑みてなされたもので、被処理体の周縁部領域における塗膜厚の制御を精細に行うことができ、塗膜厚の均一性を向上させることができる塗布装置を提供することを目的とする。
【0007】
上記目的を達成するため、本発明は、被処理体を保持する保持部材と、少なくとも1つの吐出口が形成された第1のノズル及び前記第1のノズルの吐出口の数より多い吐出口が形成された第2のノズルを有し、前記保持部材に対して前記第1及び第2のノズルが一体として相対的に縦横方向に移動しながら前記被処理体上に塗布液を供給する塗布液供給ノズルと、前記被処理体の周縁部領域に前記第1のノズルで前記塗布液を供給し、前記被処理体の周縁部領域以外の領域または前記被処理体の全面に前記第2のノズルで前記塗布液を供給するように、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを切り替えて前記塗布液の供給を制御する手段とを具備することを特徴とする。
【0008】
これにより、被処理体の周縁部領域における塗膜厚の制御を精細に行うことができるので、該周縁部領域で生じる窪みを防止して、塗布液の膜厚の均一性を向上させることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
【0010】
図1は、本発明が適用されるLCD基板のレジスト塗布・現像処理システムを示す平面図である。
【0011】
この塗布・現像処理システムは、複数の基板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーション1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部2と、露光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡しを行うためのインターフェイス部3とを備えており、処理部2の両端にそれぞれカセットステーション1およびインターフェイス部3が配置されている。
【0012】
カセットステーション1は、カセットCと処理部2との間でLCD基板の搬送を行うための搬送機構10を備えている。そして、カセットステーション1においてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機構10はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路10a上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送アーム11によりカセットCと処理部2との間で基板Gの搬送が行われる。
【0013】
処理部2は、前段部2aと中段部2bと後段部2cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路12、13、14を有し、これら搬送路の両側に各処理ユニットが配設されている。そして、これらの間には中継部15、16が設けられている。
【0014】
前段部2aは、搬送路12に沿って移動可能な主搬送装置17を備えており、搬送路12の一方側には、2つの洗浄装置(SCR)21a、21bが配置されており、搬送路12の他方側には紫外線照射装置(UV)および冷却装置(COL)が上下に重ねられてなる紫外線照射/冷却ユニット25、2つの加熱処理装置(HP)が上下に重ねられてなる加熱処理ユニット26、および2つの冷却装置(COL)が上下に重ねられてなる冷却ユニット27が配置されている。
【0015】
また、中段部2bは、搬送路13に沿って移動可能な主搬送装置18を備えており、搬送路13の一方側には、レジスト塗布装置(CT)22、減圧乾燥装置(VD)40および基板Gの周縁部のレジストを除去するエッジリムーバ(ER)23が一体的に設けられて配置され、塗布系ユニット群50を構成している。この塗布系処理ユニット群50では、レジスト塗布装置(CT)22で基板Gにレジストが塗布された後、基板Gが減圧乾燥装置(VD)40に搬送されて乾燥処理され、その後、エッジリムーバ(ER)23により周縁部レジスト除去処理が行われるようになっている。搬送路13の他方側には、2つの加熱装置(HP)が上下に重ねられてなる加熱処理ユニット28、加熱処理装置(HP)と冷却処理装置(COL)が上下に重ねられてなる加熱処理/冷却ユニット29、およびアドヒージョン処理装置(AD)と冷却装置(COL)とが上下に積層されてなるアドヒージョン処理/冷却ユニット30が配置されている。
【0016】
さらに、後段部2cは、搬送路14に沿って移動可能な主搬送装置19を備えており、搬送路14の一方側には、3つの現像処理装置(DEV)24a、24b、24cが配置されており、搬送路14の他方側には2つの加熱処理装置(HP)が上下に重ねられてなる加熱処理ユニット31、および加熱処理装置(HP)と冷却装置(COL)が上下に積層されてなる2つの加熱処理/冷却ユニット32、33が配置されている。
【0017】
上記主搬送装置17,18,19は、それぞれ水平面内の2方向のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、および垂直方向のZ軸駆動機構を備えており、さらにZ軸を中心に回転する回転駆動機構を備えており、それぞれ基板Gを支持するアーム17a,18a,19aを有している。
【0018】
なお、処理部2は、搬送路を挟んで一方の側に洗浄処理装置21a、21b、レジスト塗布装置(CT)22、現像処理装置24a、24b、24c、のようなスピナー系ユニットのみを配置しており、他方の側に加熱処理ユニットや冷却処理ユニット等の熱系処理ユニットのみを配置する構造となっている。
【0019】
また、中継部15、16のスピナー系ユニット配置側の部分には、薬液供給装置34が配置されており、さらにメンテナンスが可能なスペース35が設けられている。
【0020】
インターフェイス部3は、処理部2との間で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエクステンション36と、さらにその両側に設けられた、バッファカセットを配置する2つのバッファステージ37と、これらと露光装置(図示せず)との間の基板Gの搬入出を行う搬送機構38とを備えている。搬送機構38はエクステンション36およびバッファステージ37の配列方向に沿って設けられた搬送路38a上を移動可能な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39により処理部2と露光装置との間で基板Gの搬送が行われる。
【0021】
図2および図3は、塗布系処理装置群50を示す概略平面図および概略側面図である。これらレジスト塗布装置(CT)22、減圧乾燥装置(VD)40、およびエッジリムーバ(ER)23は、図示するように同一のステージに一体的に並列されている。
【0022】
減圧乾燥装置(VD)40は、下部チャンバ61と、その上を覆うように設けられ、その内部の処理空間を気密に維持する上部チャンバ62とを有している。下部チャンバ61には、基板Gを載置するためのステージ63が設けられ、下部チャンバ61の各コーナー部には、4個の排気口64が設けられ、この排気口64に連通された排気管65がターボ分子排気ポンプ等の排気ポンプ(図示略)に接続されている。そして、下部チャンバ61と上部チャンバ62とが密着した状態でその中の処理空間を排気することにより、所定の真空度に減圧されるように構成されている。
【0023】
またエッジリムーバ(ER)23は、ガラス基板Gを載置させるためのステージ91が設けられ、ガラス基板Gの四辺には、それぞれ、ガラス基板Gの四辺のエッジから余分なレジストを除去するための四個のリムーバヘッド93が設けられている。各リムーバヘッド93は、内部からシンナを吐出するように断面略U字状を有し、基板Gの四辺に沿って挟み込むかたちで移動機構(図示略)によって移動されるようになっている。これにより、各リムーバヘッド93は、基板Gの各辺に沿って移動してシンナを吐出しながら、基板Gの四辺のエッジに付着した余分なレジストを取り除くことができる。
【0024】
次に本発明に係るレジスト塗布装置(CT)22について説明する。図4はレジスト塗布装置(CT)22の概略構成を示す一部断面図、図5はその平面図である。
【0025】
これらの図に示すように、レジスト塗布装置(CT)22のほぼ中央には、有底円筒状のフレーム71aが配置され、フレーム71a内にはガラス基板Gを固定保持するための保持部材である基板吸着テーブル58が配置されている。フレーム71aの上部には、ガラス基板Gを出し入れするための開口部71cが設けられている。
【0026】
また、基板吸着テーブル58の外周側下面には、シール部材77が取り付けられており、基板吸着テーブル58を下降させて、シール部材77をフレーム71aの底部に当接させると、気密な処理スペース78が形成されるようになっている。
【0027】
基板吸着テーブル58には、ガラス基板Gを真空吸着保持するための真空吸着装置72が接続されている。また、この基板吸着テーブル58は、ロッド75を介して昇降シリンダ73によって上下方向に昇降可能になっている。なお、この昇降シリンダ73は、CPU74によって、その動作が制御される。具体的には、ロッド75の下部側が図示しない筒体内に配設されており、この筒体内においてロッド75はバキュームシール部76を介して昇降シリンダ73の駆動によって上下方向に移動し得るようになっている。
【0028】
フレーム71aの両側には、搬送レール66、66が配置されており、搬送レール66、66間には、スキャン機構が設けられている。このスキャン機構は、搬送レール66、66間に掛け渡され、この搬送レール66、66に沿ってY方向に移動する第1のスライダ67と、この第1のスライダ67に付設され、第1のスライダ67の長手方向に沿ってX方向に移動可能で、塗布液供給ノズルとしてのレジスト供給ノズル46が固定された第2のスライダ43とを有して構成される。搬送レール66の一方の走行端付近には、CPU74の指令により、該搬送レール66に沿って第1のスライダ67を移動させると共に、第2のスライダ43を第1のスライダ67に沿って移動させる駆動部48が設けられている。
【0029】
図6は、図5においてガラス基板G側から(下方から)見たレジスト供給ノズル46の部分の斜視図である。このレジスト供給ノズル46は、1つの吐出口51aが形成された第1ノズル51、及び複数の吐出口52aが形成された第2ノズル52から成る。本実施形態においては、第1ノズルの吐出口51aの直径は50〜100μmとし、一方、第2ノズルの吐出口52aの直径は100〜150μmとして吐出口51aより大とし、吐出口52aの数は20個としている。
【0030】
以上のように構成されるレジスト塗布・現像処理システムの作用を説明する。
【0031】
図1を参照して、カセットC内の基板Gが、処理部2に搬送され、処理部2では、まず、前段部2aの紫外線照射/冷却ユニット25の紫外線照射装置(UV)で表面改質・洗浄処理が行われ、その後そのユニットの冷却装置(COL)で冷却された後、洗浄ユニット(SCR)21a,21bでスクラバー洗浄が施され、前段部2aに配置された加熱処理装置(HP)の一つで加熱乾燥された後、冷却ユニット27のいずれかの冷却装置(COL)で冷却される。
【0032】
その後、基板Gは中段部2bに搬送され、レジストの定着性を高めるために、ユニット30の上段のアドヒージョン処理装置(AD)にて疎水化処理(HMDS処理)され、下段の冷却装置(COL)で冷却後、塗布系処理ユニット群50に搬入される。
【0033】
そしてこの塗布系処理ユニット群50では、まず、図3及び図4に示す基板吸着テーブル58がフレーム71aの開口部71cより上方に上昇している状態で、主搬送装置18によりこの基板吸着テーブル58上にガラス基板Gが移載され、真空吸着保持される。次に、昇降シリンダ73の駆動により基板吸着テーブル58が下降され、ガラス基板Gが開口部71cを通過してフレーム71a内に搬入される。
【0034】
ここで図7を参照して、このガラス基板Gの周縁部の領域をそれぞれG1、G2、G3、G4とし、これら周縁部以外の領域をG5とする。
【0035】
図5を参照して、ガラス基板Gの大きさに応じてCPU74の指令により、駆動部48が第1のスライダ67を搬送レール66に沿ってY方向に移動させるとともに、第2のスライダ43を第1のスライダ67に沿ってX方向に移動させる。これにより第2スライダ43に固定されているレジスト供給ノズル46が、図7に示すように所定の吐出開始点Sまで、すなわちガラス基板Gにおける周縁部領域G1、G2、G3、G4の1つである領域G1の外側まで移動する。
【0036】
次に第1のスライダ67をY方向に移動させることにより、吐出開始点Sからまず領域G1の長手方向に沿って領域G4に向かってレジストを吐出していくわけであるが、このときCPU74は、レジスト供給ノズル46が基板G上の外周縁部の領域G1上に位置していることを判断しており、この場合は図6に示す第1ノズル51の吐出口51aのみからレジストが塗布される。
【0037】
図8(A)を参照して、ノズル46が領域G4側まで達して更にガラス基板Gを越え外側まで達すると、第2のスライダ43を領域G3に向かってX方向に僅かに移動した後、第1のスライダを領域G2に向かってY方向に移動していく。ここで図8(A)においてレジストRの列間隔は模式的に示したが、実際には図10に示すように、ノズル46を領域G3に向かってX方向に僅かに移動させる際の距離dは、吐出口51aの直径よりも短い距離(通常は約半分程度)である。この領域G1における塗布処理の途中、図8(B)に示すように、塗布直後の減圧乾燥により本来窪みRc(一点鎖線で示す)が生ずると予測される予測領域Gc上(不均一性が生起しやすい部分Raの内側)にノズル46が位置しているときは、CPU74からの指令に基づき第2のスライダ43をX方向には移動させずにノズル46を往復させてレジストRを所定量上塗りする。すなわち予測領域Gcにおいてはレジストの塗布量を予測領域Gc以外の領域の塗布量よりも多くして、符号Rbに示すような状態にする。この予測領域Gcの所定量の塗布処理が終了し、次いで領域G1においてノズル46が領域G2側まで達して領域G1の塗布処理が終了すると、今度は第2のスライダ43をX方向に移動させることにより領域G2上を領域G3に向かって第1ノズル51のみにより塗布処理を行っていく。
【0038】
そしてノズル46が領域G3まで達して更にガラス基板Gを越えると、第1のスライダ67をY方向に領域G4に向かって僅かに移動した後、第2のスライダ43を領域G1に向かってX方向に移動していく。この領域G2における塗布処理の途中、領域G1と同様に、塗布直後の減圧乾燥により本来窪みRcが生ずると予測される予測領域Gc上にノズル46が位置しているときは、CPU74からの指令に基づき第1のスライダ67をY方向には移動させずにノズル46を往復させ、レジストの塗布量を予測領域Gc以外の領域の塗布量よりも多くする。この予測領域Gcの所定量の塗布処理が終了し、次いで領域G2においてノズル46が領域G3側まで達して領域G2の塗布処理が終了すると、第1のスライダ67をY方向に移動させることにより領域G3上を領域G4に向かって第1ノズル51のみにより塗布処理を行っていく。
【0039】
領域G3及び領域G4においても以上のような領域G1及び領域G2における塗布処理と同様な動作で、第1ノズルのみの吐出により塗布処理が行われる。
【0040】
領域G4の塗布処理が終了すると、続いて図9(A)に示すように、ノズル46が領域G5上に位置しているときは、CPU74からの指令に基づき、第2ノズル52のみにより複数の吐出口52aからレジストが塗布される。この領域G5はまず第1のスライダ67をY方向に領域G2に向かって移動させて塗布し、ノズル46が領域G5と領域G2との境界まで達するとレジストの供給を中止して、そのままノズルはY方向に僅かに移動する。次いで第2のスライダ43を領域G3に向かってX方向にノズル46の幅Lの分だけ移動させ、第1のスライダ67を領域G4に向かってY方向に移動させながら再び領域G5から第2ノズル52により塗布処理をする。
【0041】
領域G5全面の塗布処理が終了すると、レジストRは図9(B)に示すような状態に塗布されることになり、その後、減圧乾燥装置(DP)40(図3)により乾燥処理された場合、図11に示すように予測領域Gcに所定量上塗りされたレジストRbが減圧乾燥によりへこみ、残った不均一性が生起しやすい部分Raを図2に示すエッジリムーバ(ER)23により鎖線81の位置で除去する。これにより、レジスト液膜厚をガラス基板Gの全面に亘って均一にすることができる。
【0042】
その後、基板Gは、中段部2bに配置された加熱処理装置(HP)の一つでプリベーク処理され、ユニット29または30の下段の冷却装置(COL)で冷却され、中継部16から主搬送装置19によりインターフェイス部3を介して図示しない露光装置に搬送されてそこで所定のパターンが露光される。そして、基板Gは再びインターフェイス部3を介して搬入され、必要に応じて後段部2cのいずれかの加熱処理装置(HP)でポストエクスポージャベーク処理を行った後、現像処理ユニット(DEV)24a,24b,24cのいずれかで現像処理される。現像処理が行われた後、処理された基板Gは、後段部2cのいずれかの加熱処理装置(HP)にてポストベーク処理が施された後に冷却装置(COL)にて冷却され、主搬送装置19,18,17及び搬送機構10によってカセットステーション1上の所定のカセットに収容される。
【0043】
以上説明したように、塗膜厚の均一性を保つ制御が困難なガラス基板Gの周縁部の領域G1〜G4においては、1つの吐出口51aを有する第1ノズル51により塗布処理を行うこととしたので、特に予測領域Gcのような微細な領域における塗膜厚の制御を容易かつ精密に行うことができる。
【0044】
また不均一性が生起しやすい部分Raは、特にガラス基板Gの周縁部においてレジスト液が表面張力により盛り上がる現象による場合もあり、この場合も盛り上がる部分の内側の、窪みが生じる可能性が高い領域において1つの吐出口51aを有する第1ノズル51により塗布処理を行うこととしたので、塗膜厚の制御を容易かつ精密に行うことができる。
【0045】
また、吐出口51aの径を第2ノズル52の吐出口52aの径よりも小としたことにより、領域G1〜G4においては領域G5における塗布処理よりも更に精密な膜厚制御が可能となる。
【0046】
図12(A)、(B)は本発明の第2の実施形態を示しており、この第2の実施形態において第1の実施形態における構成要素と同一の部分については同一の符号を付すものとする。
【0047】
図12(A)を参照して、第1の実施形態と同様にCPU74の制御により、第1スライダ67及び第2スライダ43によりノズル46を領域G1の外側(所定の吐出開始点S´)まで移動させる。そして第2ノズル52のみにより吐出開始点S´から領域G4に向かってレジストRを吐出していき、領域G4に達して更に基板Gを越えると、ノズル46の幅LだけX方向に移動し、続いてG2に向かってY方向に移動しながら塗布処理を行っていく。この場合、周縁部の領域G1〜G4と周縁部以外の領域G5との区別は判断せずに基板G全面に塗布を行う。
【0048】
続いて図12(B)に示すように領域G1において、不均一部分Raの内側における窪み生起の予測領域Gc上に、第1ノズル51のみにより上塗りし、所定量の塗布Rbを行う。この所定量の塗布Rbを各領域G2〜G4についても同様に行う。
【0049】
これにより本実施形態においては第1の実施形態と同様に、予測領域Gcのような微細な領域における塗膜厚の制御を容易かつ精密に行うことができる。また、最初に基板Gの全面に第2ノズル52により塗布処理を行ってから、予測領域Gcのみに第1ノズル51により塗布処理を行うこととしたので、塗布処理のタクトを短縮させることができる。
【0050】
図13は本発明の第3の実施形態を示しており、上記第1及び第2の実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付すものとする。
【0051】
まず窪み生起の予測領域Gc上に、第1ノズル51(図示せず)により所定量の塗布Rbを行い、その後第2ノズル52(図示せず)のみにより図12Aで示した第2の実施形態と同様な塗布処理を行う。これにより予測領域GcにおけるレジストRの表面は、上記所定量の塗布Rbの塗布量に応じて盛り上がりRb´が形成されるので、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0052】
なお本実施形態においては、図13に示す塗布処理の終了状態から更に第1ノズル51のみにより周縁部の領域G1〜G4に塗布処理を行って、精密かつ念入りに塗膜厚の制御を行うようにしてもよい。
【0053】
なお、本発明は以上説明した各実施形態には限定されない。
【0054】
例えば、第1、第2、第3の各実施形態においては、ガラス基板Gの周縁部で盛り上がる場合について述べたが、レジストの種類によってはガラス基板Gの周縁部において盛り上がることはなく、逆にその周縁部の塗膜厚が周縁部分以外(G5)よりも薄くなる場合があるので、この場合についても周縁部領域が均一になるように、その塗膜厚に応じて各第1〜第3の実施形態における第1ノズル51により塗布量を制御してもよい。
【0055】
また、第1、第2、第3の各実施形態において、レジスト供給ノズル46の移動速度を可変として、CPU74の制御により周縁部の領域G1〜G4に塗布するときのノズル46の移動速度を領域G5に塗布するときの移動速度よりも遅くし、塗膜厚の均一性を保つ制御が困難な領域G1〜G4にはより精密かつ念入りに塗布処理を行うようにしてもよい。
【0056】
また、減圧乾燥による生ずる窪みがかなり微細なものであるときは、予測領域Gc上の上記移動速度を比較的速くして塗布量を少なく制御する、というように予測される窪みの大きさに応じて塗布処理を制御するようにしてもよい。
【0057】
更に、上記の移動速度制御に加えて各第1ノズル51及び第2ノズル52からのレジストの吐出量を更に制御できるようにして、各領域G1〜G5に応じて単位時間当たりの吐出量を変化させて、より精密な塗膜厚の制御を行うようにしてもよい。
【0058】
【発明の効果】
以上説明したように、基板の周縁部領域における塗膜厚を精細に制御することができ、塗布液の膜厚の均一性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明が適用されるLCD基板の塗布・現像処理システムを示す平面図である。
【図2】 図1に示したレジスト塗布装置(CT)、減圧乾燥装置(VD)、及びエッジリムーバ(ER)からなる塗布系処理ユニット群の概略平面図である。
【図3】 図2に示す塗布系処理ユニット群の概略側面図である。
【図4】 図3に示した本発明の一実施形態であるレジスト塗布装置(CT)の概略構成を示す一部断面図である。
【図5】 図4に示したレジスト塗布装置(CT)の平面図である。
【図6】 図5に示したレジスト供給ノズル部分における下方からの拡大斜視図である。
【図7】 レジスト塗布処理前のガラス基板を示す斜視図である。
【図8】 本発明の第1の実施形態に係るガラス基板の周縁部領域の塗布処理工程を示す図で、(A)はその斜視図、(B)はその拡大断面図である。
【図9】 図8において、ガラス基板の周縁部領域以外の塗布処理工程を示す図である。
【図10】 図8において、塗布処理の実際の列間隔を示す断面図である。
【図11】 本発明の第1の実施形態に係る塗布処理工程が終了した後、ガラス基板を減圧乾燥させた場合の状態を示す断面図である。
【図12】 本発明の第2の実施形態に係る塗布処理工程を示す図で、(A)はその斜視図、(B)はその断面図である
【図13】 本発明の第3の実施形態に係る塗布処理工程を示す断面図である。
【図14】 従来の塗布処理における問題点を示すための断面図である。
【符号の説明】
G…ガラス基板
S…吐出開始点
R…レジスト
Gc…予測領域
G1、G2、G3、G4…周縁部の領域
Rb…所定量の塗布
22…レジスト塗布装置(CT)
51…第1ノズル
52…第2ノズル
51a、52a…吐出口
58…基板吸着テーブル
74…CPU
Claims (9)
- 被処理体を保持する保持部材と、
少なくとも1つの吐出口が形成された第1のノズル及び前記第1のノズルの吐出口の数より多い吐出口が形成された第2のノズルを有し、前記保持部材に対して前記第1及び第2のノズルが一体として相対的に縦横方向に移動しながら前記被処理体上に塗布液を供給する塗布液供給ノズルと、
前記被処理体の周縁部領域に前記第1のノズルで前記塗布液を供給し、前記被処理体の周縁部領域以外の領域または前記被処理体の全面に前記第2のノズルで前記塗布液を供給するように、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを切り替えて前記塗布液の供給を制御する手段と
を具備することを特徴とする塗布装置。 - 請求項1に記載の塗布装置であって、
前記制御手段は前記第1のノズルにより前記被処理体の周縁部領域に塗布液を供給し、前記第2のノズルにより前記周縁部領域以外の領域に塗布液を供給するように、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを切り替えて前記塗布液の供給をするものであることを特徴とする塗布装置。 - 請求項1に記載の塗布装置であって、
前記制御手段は前記第2のノズルにより前記被処理体の全面に塗布液を供給した後に、前記第1のノズルにより前記被処理体の周縁部領域に塗布液を供給するように、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを切り替えて前記塗布液の供給をするものであることを特徴とする塗布装置。 - 請求項1に記載の塗布装置であって、
前記制御手段は前記第1のノズルにより前記周縁部領域に塗布液を供給した後に、前記第2のノズルにより前記被処理体の全面に塗布液を供給するように、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを切り替えて前記塗布液の供給をするものであることを特徴とする塗布装置。 - 請求項1から請求項4のうちいずれか一項に記載の塗布装置であって、
前記第1のノズルによる前記周縁部領域への塗布液の供給は塗布後の減圧乾燥により当該周縁部領域内で窪みができると予測される領域に前記第1のノズルにより塗布液を供給して前記塗布液の塗布量が前記予測される領域以外の領域より多くなるようにするものであることを特徴とする塗布装置。 - 請求項1から請求項5のうちいずれか一項に記載の塗布装置であって、
前記第1のノズルの吐出口の径を前記第2のノズルの吐出口の径より小としたことを特徴とする塗布装置。 - 請求項1から請求項6のうちいずれか一項に記載の塗布装置であって、
前記塗布液供給ノズルの移動速度を可変に制御する手段を更に具備することを特徴とする塗布装置。 - 請求項1から請求項7のうちいずれか一項に記載の塗布装置であって、
前記被処理体の周縁部領域における前記塗布液供給ノズルの移動速度を、前記周縁部領域以外における前記塗布液供給ノズルの移動速度よりも小さく制御する手段を更に具備することを特徴とする塗布装置。 - 請求項7又は請求項8に記載の塗布装置であって、
前記塗布液の吐出量を前記被処理体上の領域に応じて可変に制御する手段を更に具備することを特徴とする塗布装置。
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