JPH1170354A - 塗布装置 - Google Patents

塗布装置

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Publication number
JPH1170354A
JPH1170354A JP17054398A JP17054398A JPH1170354A JP H1170354 A JPH1170354 A JP H1170354A JP 17054398 A JP17054398 A JP 17054398A JP 17054398 A JP17054398 A JP 17054398A JP H1170354 A JPH1170354 A JP H1170354A
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JP
Japan
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cup
inner cup
coating
coated
semiconductor wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP17054398A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Konishi
信夫 小西
Kazutoshi Yoshioka
和敏 吉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH1170354A publication Critical patent/JPH1170354A/ja
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被塗布体の周辺部分において気流制御が可能
であり、ミスト等が被塗布体にはね返ることを防止する
ことができる塗布装置を提供すること、およびミストが
カップ外に飛散することを防止することができる塗布装
置を提供すること。 【解決手段】 塗布装置は、半導体ウエハWを回転可能
に支持するスピンチャック41と、スピンチャック41
を回転させる駆動機構44と、スピンチャック41に支
持されたウエハWにレジスト液または溶剤を供給するノ
ズルと、スピンチャック41に支持されたウエハWを囲
繞する外側カップ42と、リング状をなし、塗布の際
に、ウエハWの外周部に沿ってその外周部上方に近接し
て配される内側カップ43と、内側カップ43を着脱す
る着脱機構48とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウエ
ハやLCD基板等の被処理体に対してレジスト液等の塗
布を行う塗布装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造においては、被処
理体としての半導体ウエハにフォトレジストを塗布し、
回路パターンに対応してフォトレジストを露光し、これ
を現像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィー
技術により回路パターンが形成される。
【0003】これらの工程のうちフォトレジスト塗布工
程においては、半導体ウエハをスピンチャック上に保持
させて回転させながら、その上方に設けられたノズルか
らその表面中心部にレジスト液を供給し、遠心力によっ
てレジスト液を拡散させる。これにより、半導体ウエハ
の表面全体に均一にレジスト膜が塗布される。この場合
に、レジストや溶剤の飛散を防止するために、半導体ウ
エハを囲繞するようにカップを設け、カップの開口部か
らその内に温度湿度がコントロールされたエアーを供給
することにより、安定した塗布が行えるようにしてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
ウエハの搬入出の都合上、カップの内径は半導体ウエハ
の内径よりも小さくすることができず、したがってウエ
ハ周辺の風速を十分にとることができないし、またウエ
ハ外周部で乱流が原因と考えられる風切りという現象が
発生する。このため、均一な膜質の塗布膜を形成するこ
とができない。
【0005】また、レジストミストのはね返りによりウ
エハの周辺部が汚染され、パーティクルの原因となる。
そのため、シンナー等の溶剤によりウエハ周辺のミスト
除去を行っているが、周辺シンナーのはね返りによりそ
の効果が不十分である。さらに、レジストミストがカッ
プ外に飛散してカップ外を汚染させる。
【0006】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであって、被塗布体の周辺部分において気流制御が可
能であり、ミスト等が被塗布体にはね返ること、および
ミストがカップ外に飛散することを防止することができ
る塗布装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明によれば、被塗布体を回転可能に支持する支
持部材と、支持部材を回転させる駆動機構と、支持部材
に支持された被塗布体に塗布液を供給する塗布液供給機
構と、支持部材に支持された被塗布体を囲繞する外側カ
ップと、リング状をなし、塗布の際に、被塗布体の外周
部に沿ってその外周部上方に近接して配される内側カッ
プと、前記内側カップを着脱する着脱機構とを具備する
ことを特徴とする塗布装置が提供される。
【0008】このように、リング状をなし、塗布の際
に、被塗布体の外周部に沿ってその外周部上方に近接し
て設けられる内側カップを昇降可能に設けたので、塗布
処理中に、内側カップと被塗布体との間の狭い隙間を通
ってエアーが流れることとなり、被塗布体の周辺部分の
風速を大きくとることができ、しかも乱流を防止するこ
とができる。また、この内側カップにより塗布液のミス
トが被塗布体にはね返ることが防止される。さらに、被
塗布体の周辺洗浄の際に溶剤がはね返ることもないの
で、十分な洗浄効果を得ることができる。さらに、ミス
トがカップ外に飛散することも防止することができる。
【0009】この場合に、前記内側カップを、塗布の際
に、前記外側カップに載置されるようにすれば、内側カ
ップを装着する場合に、内側カップを外側カップに載せ
るだけでよいので、内側カップを簡単に装着することが
できる。
【0010】また、このように塗布の際に内側カップを
外側カップに載置する場合に、前記外側カップが、その
内側部分に、前記内側カップをセンタリングするための
落とし込み部と、前記内側カップを載置するフランジ部
とを有するようにすれば、内側カップの外周が落とし込
み部にガイドされてセンタリングされつつフランジ部に
載置されるので、着脱手段による内側カップの装着が極
めて容易となる。
【0011】さらに、前記内側カップを、リング状本体
と、その内側部分の全周に沿って下方へ突出した突出部
とを有する構造とし、塗布の際に、前記突出部の下端面
が、被塗布体の外周部に沿ってその外周部上方の近接し
た位置となるよう設ければ、内側カップの突出部によ
り、内側カップの上記機能を有効に発揮することができ
る。
【0012】さらにまた、内側カップを上のように構成
した場合に、前記被塗布体上の塗布液を除去する除去液
が吐出されるノズルを有し、該ノズルの吐出口を前記内
側カップの突出部の外側下端面上方に向けるようにすれ
ば、被処理体の周辺洗浄を行う際に除去液が被処理体に
はね返ることがないので十分な洗浄効果を得ることがで
きる。
【0013】さらにまた、前記着脱機構を、前記内側カ
ップを真空吸着により保持して着脱するようにすれば、
塗布の際に着脱手段が妨げになることはない。
【0014】さらにまた、前記内側カップを放射状に分
割し、各分割片を径方向に移動可能とすることにより、
ウエハ搬入の際には内側カップを外方へ退避させ、塗布
の際には所定位置へ進出させることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について詳細に説明する。図1は、本発
明の対象となる塗布装置が組み込まれた、半導体ウエハ
の塗布・現像処理システムを示す斜視図である。
【0016】この塗布・現像処理システムは、複数の半
導体ウエハWを収容するカセットCを載置するカセット
ステーション1と、半導体ウエハにレジスト塗布および
現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニット
を備えた処理部2と、カセットステーション1上のカセ
ットCと処理部2との間で半導体ウエハの搬送を行うた
めの搬送機構3とを備えている。そして、カセットステ
ーション1においてシステムへのカセットCの搬入およ
びシステムからのカセットCの搬出が行われる。また、
搬送機構3はカセットの配列方向に沿って設けられた搬
送路12上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬
送アーム11によりカセットCと処理部2との間で半導
体ウエハWの搬送が行われる。
【0017】処理部2は、前段部分2aと後段部分2b
とに分かれており、それぞれ中央に通路15、16を有
しており、これら通路の両側に各処理ユニットが配設さ
れている。そして、これらの間には中継部17が設けら
れている。
【0018】前段部2aは、通路15に沿って移動可能
なメインアーム18を備えており、通路15の一方側に
は、ブラシ洗浄ユニット21、水洗ユニット22、アド
ヒージョン処理ユニット23、および冷却ユニット24
が、他方側には本発明の対象となる2つのレジスト塗布
ユニット25が配置されている。一方、後段部2bは、
通路16に沿って移動可能なメインアーム19を備えて
おり、通路19の一方側には複数の加熱処理ユニット2
6および冷却ユニット27からなる熱系ユニット群28
が、他方側には2つの現像処理ユニット29が配置され
ている。熱系ユニット群28は、ユニットが4段積層さ
れてなる組が通路19に沿って3つ並んでおり、上2段
が加熱処理ユニット26であり、下段が冷却ユニット2
7である。加熱処理ユニット26は、レジストの安定化
のためのプリベーク、露光後のポストエクスポージャー
ベーク、および現像後のポストベーク処理を行うもので
ある。なお、後段部2bの後端には露光装置(図示せ
ず)との間で半導体ウエハWの受け渡しを行うためのイ
ンターフェース部30が設けられている。
【0019】上記メインアーム18は、搬送機構3のア
ーム11との間で半導体ウエハWの受け渡しを行うとと
もに、前段部2aの各処理ユニットに対するウエハWの
搬入・搬出、さらには中継部17との間でウエハwの受
け渡しを行う機能を有している。また、メインアーム1
9は中継部17との間で半導体ウエハWの受け渡しを行
うとともに、後段部2bの各処理ユニットに対するウエ
ハWの搬入・搬出、さらにはインターフェース部30と
の間のウエハWの受け渡しを行う機能を有している。
【0020】このように各処理ユニットを集約して一体
化することにより、省スペース化および処理の効率化を
図ることができる。そして、これら処理ユニットを含む
処理部2全体がケーシング(図示せず)内に配置されて
いる。
【0021】このように構成される塗布・現像処理シス
テムにおいては、カセットC内の半導体ウエハWが、処
理部2に搬送され、まず、洗浄ユニット21および水洗
ユニット22により洗浄処理され、レジストの定着性を
高めるためにアドヒージョン処理ユニット23にて疎水
化処理され、冷却ユニット24で冷却後、レジスト塗布
ユニット25でレジストが塗布される。その後、半導体
ウエハWは、加熱処理ユニット26の一つでプリベーク
処理され、冷却ユニット27で冷却された後、インター
フェース部30を介して露光装置に搬送されてそこで所
定のパターンが露光される。そして、再びインターフェ
ース部30を介して搬入され、加熱処理ユニット26の
一つでポストエクスポージャーベーク処理が施される。
その後、冷却ユニット27で冷却された半導体ウエハW
は、現像処理ユニット29で現像処理され、所定の回路
パターンが形成される。現像処理された半導体ウエハW
は、加熱処理ユニット26の一つでポストベーク処理が
施され、冷却ユニット27で冷却された後、メインアー
ム19,18および搬送機構3によってカセットステー
ション1上の所定のカセットに収容される。
【0022】次に、本発明の対象である塗布装置の一実
施形態としてのレジスト塗布ユニット25について説明
する。図2に示すように、このレジスト塗布ユニット2
5は、ケーシング内に塗布部40を具備している。塗布
部40は、半導体ウエハWを真空吸着によって水平に支
持する支持部材としてのスピンチャック41を有してお
り、このスピンチャック41に支持された半導体ウエハ
Wを囲繞するように外側カップ42が設けられている。
外側カップ42は、内方へ向かうフランジ部42aを有
しており、そのフランジ部42aに載置可能にリング状
の内側カップ43が設けられている。
【0023】スピンチャック41は、外側カップ42の
下方に設けられたパルスモーターなどの駆動機構44に
よって回転可能となっており、その回転速度も任意に制
御可能となっている。外側カップ42内は、その底部中
心部から、図示しない排気手段によって排気される。ま
た、塗布処理にともなって飛散したレジスト液や溶剤
は、スピンチャック41の外方から、外側カップ42の
底部に設けられた排液口45から排液管46を通って、
外側カップ42の下方に設けられているドレインタンク
47へ排出される。ドレインタンク47にはドレインラ
イン48が接続されており、これによりドレインが装置
外に排出される。
【0024】図3に示すように、内側カップ43は、着
脱機構48により真空吸着されて着脱可能となってお
り、半導体ウエハWを搬入出する場合には、着脱機構4
8により取り外され、塗布処理を行う際に、外側カップ
42のフランジ部42aに載置される。外側カップ42
には、落とし込み部42bが形成されており、この落と
し込み部42bに案内されて内側カップ43がセンタリ
ングされる。着脱機構48は、半導体ウエハWの搬入出
の際には、その妨げにならない位置に待機している。
【0025】内側カップ43は、リング状本体の内側部
分の全周に沿って下方へ突出した突出部43aを有して
おり、外側カップ42のフランジ部42aに載置された
際には、図4に示すように、突出部43aの下端面が半
導体ウエハWの外周部の上方に位置し、かつ外周部と近
接した状態となる。この場合の突出部43aの下端面と
半導体ウエハWとの間の距離Dは、1〜5mm程度と狭
く設定する。これにより、後述するように、半導体ウエ
ハW周辺の風速を速くかつ安定させることができる。な
お、この距離Dはレジストの種類や回転数等に応じて変
えられるように、内側カップ43を複数種類用意するこ
とが好ましい。なお、半導体ウエハWの外方には、ウエ
ハWの周辺を洗浄するために、シンナー等の溶剤を吐出
する周辺洗浄ノズル49が設けられている。このノズル
49の吐出口は、内側カップ43の突出部43aの外側
下端面上方に向けられている。
【0026】図5に示すように、塗布ユニット25のケ
ーシング25aの側部には、4つのノズルホルダー5
1,52,53,54を保持可能な保持部25bが設け
られている。ノズルホルダー51,52,53,54に
は、それぞれ、レジスト液吐出ノズルN1,N2,N
3,N4が保持されており、これと組をなすように、そ
れぞれ溶剤ノズルS1,S2,S3,S4が保持されて
いる。保持部25bには各ノズルのノズル口を乾燥固化
させないように、各ノズルのノズル口を溶剤雰囲気に置
くための挿入部(図示せず)が設けられている。レジス
ト液吐出ノズルN1,N2,N3,N4には後述するよ
うに、独立したレジスト液配管が接続されており、した
がって4種類の異なったレジスト液を塗布することがで
きる。なお、各ノズルホルダーにレジスト液吐出ノズル
だけを保持させて、溶剤ノズルを共用タイプとして後述
するスキャンアーム57に取り付けるようにしてもよ
い。
【0027】これらノズルホルダー51〜54は、それ
ぞれ取り付け部51a,52a,53a,54aにより
スキャンアーム57の先端部に取り付け可能となってお
り、これらのうち選択された一つがスキャンアーム57
に取り付けられた状態で保持部25bから取り出され
る。スキャンアーム57はスキャン機構58により三次
元移動、すなわちX、Y、Z方向への移動が可能であ
り、保持部25bから取り出されたノズルホルダー(図
2,3ではノズルホルダー51)は、半導体ウエハWの
上方の所定位置まで移動され、ノズルから溶剤およびレ
ジスト液が吐出されて塗布処理が行われる。
【0028】このような塗布ユニット25において塗布
処理を行う際には、まず、内側カップ43を取り付けな
い状態で、半導体ウエハWを支持部材としてのスピンチ
ャック41上に搬入し、真空吸着する。次いで、待機し
ていた昇降機構48が内側カップ43を吸着した状態
で、半導体ウエハWの上方位置へ移動し、次に内側カッ
プ43を下降させる。この際に、内側カップ43の外周
部が外側カップ42の落とし込み部42bにガイドさ
れ、内側カップ43が、センタリングされた状態で外側
カップ42のフランジ部42a上に載置される。このと
き、内側カップ43の突出部43aの下端面が半導体ウ
エハWの外周部の上方に位置し、かつ外周部と近接した
状態となる。この場合に、突出部43aの下端面と半導
体ウエハWとの間の距離Dは、1〜5mm程度となるよ
うにする。
【0029】この状態で、駆動機構44によりスピンチ
ャック41とともに半導体ウエハWを例えば1500〜
3000rpmの範囲の所定の回転数で回転させなが
ら、ノズルS1,N1から溶剤およびレジスト液を吐出
し、レジスト膜の塗布を行う。この場合に、外カップ4
2内には、温度・湿度が制御されたエアーがその開口部
から垂直層流の状態で導入され、このエアーが半導体ウ
エハWに沿って外方に流れる。
【0030】従来は、カップの内径を半導体ウエハWの
内径よりも小さくできなかったため、半導体ウエハの外
周部のエアーの風速が小さく、かつ乱流が原因と考えら
れる風切りという現象が発生していたが、このように外
側カップ42の内側に内側カップ43を着脱自在に設
け、塗布の際に、内側カップ43の突出部43aの下端
面が半導体ウエハWの外周部の上方の近接した位置にな
るように内側カップ43を設けることにより、エアーが
それらの間の隙間を通過する際の風速が大きくなるとと
もに、ウエハ外周部分の乱流を抑制することができる。
この場合に、このような効果は、レジストの種類、半導
体ウエハWの回転数、上記Dの値により大きく変化する
ので、予め最適な組合せを把握しておき条件設定する必
要がある。
【0031】また、この内側カップ43の存在により、
レジスト液のミストが半導体ウエハWにはね返ることが
防止される。さらに、ノズル49からシンナー等の溶剤
を吐出して半導体ウエハWの周辺洗浄を行う際に溶剤が
はね返ることもないので、十分な洗浄効果を得ることが
できる。さらに、内側カップの存在により、レジストミ
ストがカップ外に飛散することも防止される。
【0032】さらにまた、内側カップ43を装着する際
に、内側カップ43を外側カップ42に載せるだけでよ
いので、簡単である。この場合に、外側カップ42は落
とし込み部42bとフランジ部42aとを有しているの
で、内側カップ43の外周が落とし込み部42bにガイ
ドされてセンタリングされつつフランジ部42aに載置
されるので、着脱機構48による内側カップ43の装着
が極めて容易である。さらにまた、着脱機構48は真空
吸着により内側カップ43を保持して昇降するので塗布
の際に妨げにならない。
【0033】このようにして、塗布処理が終了した後
は、スピンチャック41の回転を停止し、着脱機構48
により内側カップ43を吸着して上昇させ、内側カップ
43を外側カップ42から取り外し、半導体ウエハWを
塗布ユニット25から搬出する。
【0034】以上は、内側カップを着脱機構48により
昇降させた場合について示したが、内側カップを分割タ
イプにして径方向にスライドさせてもよい。以下にその
例を示す。図6はその一例を示す断面図であり、図2と
同じものには同じ符号を付している。ここでは、フラン
ジ部や落とし込み部が存在しない外側カップ42’を用
いている。この外側カップ42’には分割タイプの内側
カップ43’が配置されている。内側カップ43’は上
記内側カップ43と同様に気流制御のための突出部4
3’aを有している。図7に示すように、内側カップ4
3’は、放射状に分割された4つの部材43’b、4
3’c、43’d、43’eからなっており、これらは
シリンダ機構等の適宜の駆動機構(図示せず)により図
の矢印で示すようにカップ42’の半径方向に沿って水
平にスライド可能となっている。したがって、部材4
3’b、43’c、43’d、43’eを外方へスライ
ドさせることにより、外側カップ42’の上部開口部の
面積が大きくなって半導体ウエハWの搬入が可能とな
り、ウエハの搬入終了後、塗布処理の際には部材43’
b、43’c、43’d、43’eを中心に向けて図示
の位置までスライドさせることにより、半導体ウエハW
近傍の気流制御が可能であり、かつミスト等が半導体ウ
エハWにはね返ること、およびミストが外側カップ4
2’外に飛散することを防止することができる。
【0035】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ることなく、種々変形が可能である。例えば、上記実施
の形態ではレジスト液の塗布の場合について示したが、
現像液等の他の塗布液であっても適用可能である。ま
た、着脱手段として真空吸着によりものを用いたが、こ
れに限るものではない。さらに、被塗布体として半導体
ウエハを用いた場合について示したが、これに限らず、
例えばLCD用ガラス基板であってもよい。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る塗布
装置によれば、塗布処理中に、内側カップと被塗布体と
の間の狭い隙間を通ってエアーが流れることとなり、被
塗布体の周辺部分の風速を大きくとることができ、しか
も乱流を防止することができる。また、この内側カップ
により塗布液のミストが被塗布体にはね返ることが防止
される。さらに、被塗布体の周辺洗浄の際に溶剤がはね
返ることもないので、十分な洗浄効果を得ることができ
る。
【0037】この場合に、前記内側カップを、塗布の際
に、前記外側カップに載置されるようにすれば、内側カ
ップを装着する場合に、内側カップを外側カップに載せ
るだけでよいので、内側カップを簡単に装着することが
できる。
【0038】また、このように塗布の際に内側カップを
外側カップに載置する場合に、前記外側カップが、その
内側部分に、前記内側カップをセンタリングするための
落とし込み部と、前記内側カップを載置するフランジ部
とを有するようにすれば、内側カップの外周が落とし込
み部にガイドされてセンタリングされつつフランジ部に
載置されるので、着脱手段による内側カップの装着が極
めて容易となる。
【0039】さらに、前記内側カップを、リング状本体
と、その内側部分の全周に沿って下方へ突出した突出部
とを有する構造とし、塗布の際に、前記突出部の下端面
が、被塗布体の外周部に沿ってその外周部上方の近接し
た位置となるよう設ければ、内側カップの突出部によ
り、内側カップの上記機能を有効に発揮することができ
る。
【0040】さらにまた、内側カップを上のように構成
した場合に、前記被塗布体上の塗布液を除去する除去液
が吐出されるノズルを有し、該ノズルの吐出口を前記内
側カップの突出部の外側下端面上方に向けるようにすれ
ば、被処理体の周辺洗浄を行う際に除去液が被処理体に
はね返ることがないので十分な洗浄効果を得ることがで
きる。
【0041】さらにまた、前記着脱機構を、前記内側カ
ップを真空吸着により保持して着脱するようにすれば、
塗布の際に着脱手段が妨げになることはない。
【0042】さらにまた、前記内側カップを放射状に分
割し、各分割片を径方向に移動可能とすることにより、
ウエハ搬入の際には内側カップを外方へ退避させ、塗布
の際には所定位置へ進出させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の対象となるレジスト塗布装置が組み込
まれたレジスト塗布・現像システムを示す斜視図。
【図2】本発明の一実施形態に係るレジスト液塗布ユニ
ットの塗布部を示す概略断面図。
【図3】図2の塗布部において内側カップを取り外した
状態を示す断面図。
【図4】図2の塗布部の要部を拡大して示す概略断面
図。
【図5】本発明の一実施形態に係るレジスト液塗布ユニ
ットの塗布部を示す平面図。
【図6】本発明の他の実施形態に係るレジスト液塗布ユ
ニットの塗布部の一例を示す概略断面図。
【図7】図6の塗布部の平面図。
【符号の説明】
25……レジスト塗布ユニット 25a……ケーシング 40……塗布部 41……スピンチャック 42,42’……外側カップ 42a……フランジ部 42b……落とし込み部 43,43’……内側カップ 43a4,43’a……突出部 44……駆動機構 48……着脱機構 W……半導体ウエハ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被塗布体を回転可能に支持する支持部材
    と、 支持部材を回転させる駆動機構と、 支持部材に支持された被塗布体に塗布液を供給する塗布
    液供給機構と、 支持部材に支持された被塗布体を囲繞するように配置さ
    れる外側カップと、 リング状をなし、塗布の際に、被塗布体の外周部に沿っ
    てその外周部上方に近接して配される内側カップと、 前記内側カップを着脱する着脱機構とを具備することを
    特徴とする塗布装置。
  2. 【請求項2】 前記内側カップは、塗布の際に、前記外
    側カップに載置されることを特徴とする請求項1に記載
    の塗布装置。
  3. 【請求項3】 前記外側カップは、その内側部分に、前
    記内側カップをセンタリングするための落とし込み部
    と、前記内側カップを載置するフランジ部とを有してい
    ることを特徴とする請求項2に記載の塗布装置。
  4. 【請求項4】 前記内側カップは、リング状本体と、そ
    の内側部分の全周に沿って下方へ突出した突出部とを有
    しており、塗布の際に、前記突出部の下端面が、被塗布
    体の外周部に沿ってその外周部上方の近接した位置とな
    るよう設けられることを特徴とする請求項1ないし請求
    項3のいずれか1項に記載の塗布装置。
  5. 【請求項5】 前記被塗布体上の塗布液を除去する除去
    液が吐出されるノズルを有し、該ノズルの吐出口は、前
    記内側カップの突出部の外側下端面上方に向けられてい
    ることを特徴とする請求項4に記載の塗布装置。
  6. 【請求項6】 前記着脱手段は、前記内側カップを真空
    吸着により保持して着脱することを特徴とする請求項1
    ないし請求項5のいずれか1項に記載の塗布装置。
  7. 【請求項7】 前記内側カップは放射状に分割されてお
    り、各分割片は径方向に移動可能であることを特徴とす
    る請求項1に記載の塗布装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6527860B1 (en) 1999-10-19 2003-03-04 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus
US7553374B2 (en) 2004-02-18 2009-06-30 Tokyo Electron Limited Coating treatment apparatus and coating treatment method
JP2010051899A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 塗布装置
JP2012084801A (ja) * 2010-10-14 2012-04-26 Tokyo Electron Ltd 液処理装置
US8919756B2 (en) 2008-08-28 2014-12-30 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Substrate processing system, carrying device, and coating device
US9214372B2 (en) 2008-08-28 2015-12-15 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Substrate processing system, carrying device and coating device
KR20180122670A (ko) * 2016-04-13 2018-11-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US10811287B2 (en) 2017-11-17 2020-10-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Spin coater and substrate treating apparatus having the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6527860B1 (en) 1999-10-19 2003-03-04 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus
US6673151B2 (en) 1999-10-19 2004-01-06 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus
US7553374B2 (en) 2004-02-18 2009-06-30 Tokyo Electron Limited Coating treatment apparatus and coating treatment method
JP2010051899A (ja) * 2008-08-28 2010-03-11 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd 塗布装置
US8919756B2 (en) 2008-08-28 2014-12-30 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Substrate processing system, carrying device, and coating device
US9214372B2 (en) 2008-08-28 2015-12-15 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Substrate processing system, carrying device and coating device
JP2012084801A (ja) * 2010-10-14 2012-04-26 Tokyo Electron Ltd 液処理装置
KR20180122670A (ko) * 2016-04-13 2018-11-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US10811287B2 (en) 2017-11-17 2020-10-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Spin coater and substrate treating apparatus having the same

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