JPH11341302A - フィルムスキャナ - Google Patents
フィルムスキャナInfo
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- JPH11341302A JPH11341302A JP11096535A JP9653599A JPH11341302A JP H11341302 A JPH11341302 A JP H11341302A JP 11096535 A JP11096535 A JP 11096535A JP 9653599 A JP9653599 A JP 9653599A JP H11341302 A JPH11341302 A JP H11341302A
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- frame
- film
- sprocket hole
- film scanner
- evaluation circuit
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/222—Studio circuitry; Studio devices; Studio equipment
- H04N5/253—Picture signal generating by scanning motion picture films or slide opaques, e.g. for telecine
Abstract
(57)【要約】
【課題】 スプロケットホールが損傷または汚損してい
る場合でも確実にスプロケットホールの位置を求めるフ
ィルムスキャナを提供すること 【解決手段】 フィルムフレームを撮像するためのフレ
ームセンサ（４）と、フィルムフレームに所属するスプ
ロケットホールを少なくとも走査するための走査デバイ
ス（１３）とを有するフィルムスキャナにおいて、評価
デバイス（２５）が設けられており、所定の領域内で前
記走査デバイス（１３）によって供給された測定フレー
ムにおけるエッジ位置を求め、求められた該エッジ位置
から線を形成し、前記スプロケットホールの中心点の、
基準中心点位置からの偏差を求めることを特徴とするフ
ィルムスキャナを構成する。
る場合でも確実にスプロケットホールの位置を求めるフ
ィルムスキャナを提供すること 【解決手段】 フィルムフレームを撮像するためのフレ
ームセンサ（４）と、フィルムフレームに所属するスプ
ロケットホールを少なくとも走査するための走査デバイ
ス（１３）とを有するフィルムスキャナにおいて、評価
デバイス（２５）が設けられており、所定の領域内で前
記走査デバイス（１３）によって供給された測定フレー
ムにおけるエッジ位置を求め、求められた該エッジ位置
から線を形成し、前記スプロケットホールの中心点の、
基準中心点位置からの偏差を求めることを特徴とするフ
ィルムスキャナを構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムフレーム
を撮像するためのフレームセンサと、フィルムフレーム
に所属するスプロケットホールを少なくとも走査するた
めの走査デバイスとを有するフィルムスキャナに関す
る。
を撮像するためのフレームセンサと、フィルムフレーム
に所属するスプロケットホールを少なくとも走査するた
めの走査デバイスとを有するフィルムスキャナに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】映画フィルムデータを電子信号に変換す
るために、フィルムはフィルムスキャナ内の光学電子走
査デバイスに沿ってまたはこれを通して案内される。こ
のため連続的に走査されるフレームのフレーム位置を一
定に維持するという長年の問題がある。一部には周期的
であり、また一部には定常的なフィルム位置の変動は、
フィルム送りエラーまたは画像位置エラーと呼ばれてお
り、種々の原因がある。１つには撮像カメラにおける位
置決めエラーおよびネガティブ／ポジティブ複写装置に
おける位置決めエラーが考えられる。また別の１つには
フィルムスキャナのフレーム位置エラーおよびトラッキ
ングエラーが別の画像位置エラーを引き起こすこともあ
る。
るために、フィルムはフィルムスキャナ内の光学電子走
査デバイスに沿ってまたはこれを通して案内される。こ
のため連続的に走査されるフレームのフレーム位置を一
定に維持するという長年の問題がある。一部には周期的
であり、また一部には定常的なフィルム位置の変動は、
フィルム送りエラーまたは画像位置エラーと呼ばれてお
り、種々の原因がある。１つには撮像カメラにおける位
置決めエラーおよびネガティブ／ポジティブ複写装置に
おける位置決めエラーが考えられる。また別の１つには
フィルムスキャナのフレーム位置エラーおよびトラッキ
ングエラーが別の画像位置エラーを引き起こすこともあ
る。
【０００３】画像位置エラーを低減するためには種々の
解決手段がある。この手段に対しては例えばＤＥ３７３
６７８９Ｃ２から、走査されるそれぞれのフィルムフレ
ームに対する基準点としてフィルムフレームに所属する
スプロケットホールを走査することが公知である。走査
デバイス例えばラインセンサは、フィルム搬送方向に対
して所定の角度に傾けられて配置されており、パルス信
号を生成する。このパルス信号は、記憶された基準パタ
ーンと比較される。計算回路では、それぞれ走査された
スプロケットホールの水平オフセットおよび垂直オフセ
ットが、水平ベクトル信号および垂直ベクトル信号とし
て、記憶された基準パターンに対する瞬時に走査された
パルス信号の一時的なオフセットから求められる。これ
らのベクトル信号は補正回路に供給される。この補正回
路においては、走査されたフィルムフレームが、スプロ
ケットホールの測定された水平オフセットおよび垂直オ
フセットに応じて反対方向に移動される。スプロケット
ホールをフィルムフレームに対する基準点として使用す
ることの利点は、機械的な条件によるフィルムの位置決
めエラーが実質的に補正可能であることである。その理
由は、走査されたスプロケットホールの位置と、所属す
るフィルムフレームとは結合されており、一般的にはそ
の公差は極めて小さいからである。
解決手段がある。この手段に対しては例えばＤＥ３７３
６７８９Ｃ２から、走査されるそれぞれのフィルムフレ
ームに対する基準点としてフィルムフレームに所属する
スプロケットホールを走査することが公知である。走査
デバイス例えばラインセンサは、フィルム搬送方向に対
して所定の角度に傾けられて配置されており、パルス信
号を生成する。このパルス信号は、記憶された基準パタ
ーンと比較される。計算回路では、それぞれ走査された
スプロケットホールの水平オフセットおよび垂直オフセ
ットが、水平ベクトル信号および垂直ベクトル信号とし
て、記憶された基準パターンに対する瞬時に走査された
パルス信号の一時的なオフセットから求められる。これ
らのベクトル信号は補正回路に供給される。この補正回
路においては、走査されたフィルムフレームが、スプロ
ケットホールの測定された水平オフセットおよび垂直オ
フセットに応じて反対方向に移動される。スプロケット
ホールをフィルムフレームに対する基準点として使用す
ることの利点は、機械的な条件によるフィルムの位置決
めエラーが実質的に補正可能であることである。その理
由は、走査されたスプロケットホールの位置と、所属す
るフィルムフレームとは結合されており、一般的にはそ
の公差は極めて小さいからである。
【０００４】しかしながら、先行技術によるスプロケッ
トホールの位置検出は、走査されたスプロケットホール
の形状寸法が基準パターンと精確に一致することを前提
としている。スプロケットホールの損傷や汚れは平均化
されているだけであり、殊に不測のエラーの場合には、
当然誤ったフィルム送りエラー補正が行われることにな
る。
トホールの位置検出は、走査されたスプロケットホール
の形状寸法が基準パターンと精確に一致することを前提
としている。スプロケットホールの損傷や汚れは平均化
されているだけであり、殊に不測のエラーの場合には、
当然誤ったフィルム送りエラー補正が行われることにな
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、スプ
ロケットホールが損傷または汚損している場合でもスプ
ロケットホールの位置を確実に求める装置を提供するこ
とである。
ロケットホールが損傷または汚損している場合でもスプ
ロケットホールの位置を確実に求める装置を提供するこ
とである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によ
り、フィルムフレームを撮像するためのフレームセンサ
と、フィルムフレームに所属するスプロケットホールを
少なくとも走査するための走査デバイスとを有するフィ
ルムスキャナにおいて、評価デバイスが設けられてお
り、概評かデバイスは、 − 所定の領域内で前記走査デバイスによって供給され
た測定フレームにおけるエッジ位置を求め、 − 求められた該エッジ位置から線を形成し、 − 前記スプロケットホールの中心点の、基準中心点位
置からの偏差を求めることを特徴とするフィルムスキャ
ナを構成することによって解決される。
り、フィルムフレームを撮像するためのフレームセンサ
と、フィルムフレームに所属するスプロケットホールを
少なくとも走査するための走査デバイスとを有するフィ
ルムスキャナにおいて、評価デバイスが設けられてお
り、概評かデバイスは、 − 所定の領域内で前記走査デバイスによって供給され
た測定フレームにおけるエッジ位置を求め、 − 求められた該エッジ位置から線を形成し、 − 前記スプロケットホールの中心点の、基準中心点位
置からの偏差を求めることを特徴とするフィルムスキャ
ナを構成することによって解決される。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明では、エッジにおけるノイ
ズの影響または誤差は、エッジ検出の後に線を形成する
ことによって補正される。ここで線とは曲線または直線
である。走査するスプロケットホールの中心点は、求め
た線から得ることができる（請求項８参照）。また中心
点はエッジ検出の後、線を求めなくても直接計算するこ
ともできる。この場合には複数の対称軸が求められ、こ
れらの交点がこの中心点を成す（請求項９参照）。この
中心点は基準中心点と比較され、この比較結果からフレ
ーム位置を補正するためのオフセットデータを計算す
る。これは請求項２に記載されている。
ズの影響または誤差は、エッジ検出の後に線を形成する
ことによって補正される。ここで線とは曲線または直線
である。走査するスプロケットホールの中心点は、求め
た線から得ることができる（請求項８参照）。また中心
点はエッジ検出の後、線を求めなくても直接計算するこ
ともできる。この場合には複数の対称軸が求められ、こ
れらの交点がこの中心点を成す（請求項９参照）。この
中心点は基準中心点と比較され、この比較結果からフレ
ーム位置を補正するためのオフセットデータを計算す
る。これは請求項２に記載されている。
【０００８】走査デバイスとフレームセンサとの間の同
期は請求項３に記載されている。請求項４にはエッジを
検出するために、スプロケットホールだけでなくその周
辺部も走査することが記載されている。この走査によっ
て測定フレームが生成され、この測定フレームが評価回
路によって処理される。
期は請求項３に記載されている。請求項４にはエッジを
検出するために、スプロケットホールだけでなくその周
辺部も走査することが記載されている。この走査によっ
て測定フレームが生成され、この測定フレームが評価回
路によって処理される。
【０００９】評価回路内での計算時間を最小化するため
に、評価回路が検証するのは測定フレーム全体ではなく
４つの領域だけである。この４つの領域においては（極
度の垂直方向および／または水平方向画像位置エラー
の）最悪の場合でもエッジ位置を検出可能である（請求
項５）。エッジ位置を求める場合には、閾値検査と補間
が実行される。これは請求項６に記載されている。また
択一的には、コントラスト特性の２次導関数を形成し、
引き続き補間を実行することができる（請求項７）。こ
れによってピクセル単位より細かにエッジ位置を求める
ことができる。
に、評価回路が検証するのは測定フレーム全体ではなく
４つの領域だけである。この４つの領域においては（極
度の垂直方向および／または水平方向画像位置エラー
の）最悪の場合でもエッジ位置を検出可能である（請求
項５）。エッジ位置を求める場合には、閾値検査と補間
が実行される。これは請求項６に記載されている。また
択一的には、コントラスト特性の２次導関数を形成し、
引き続き補間を実行することができる（請求項７）。こ
れによってピクセル単位より細かにエッジ位置を求める
ことができる。
【００１０】本発明の上記および他の特徴を実施例を参
照して以下に説明する。
照して以下に説明する。
【００１１】
【実施例】図１は、フィルム１を連続的に走査するフィ
ルムスキャナの構造図を概略的に示している。このため
に走査すべきフィルム１は、キャプスタン２によって搬
送され、フィルムフレーム照明用の照明光源３とフレー
ムセンサ４を通過する。このフレームセンサ４は、フレ
ームセンサ４内にある、照明されたフィルム１を走査す
るためのセンサ５を有する。照明光源３とフレームセン
サ４との間には、フィルム搬送装置６が配置されてい
る。このフィルム搬送装置６はフィルム１をガイドする
ためのたる形状のガイド素子７を有する。ガイド素子７
は、フィルム１がフィルムフレームの外側で支持され、
湾曲した路上を滑走するようにする。
ルムスキャナの構造図を概略的に示している。このため
に走査すべきフィルム１は、キャプスタン２によって搬
送され、フィルムフレーム照明用の照明光源３とフレー
ムセンサ４を通過する。このフレームセンサ４は、フレ
ームセンサ４内にある、照明されたフィルム１を走査す
るためのセンサ５を有する。照明光源３とフレームセン
サ４との間には、フィルム搬送装置６が配置されてい
る。このフィルム搬送装置６はフィルム１をガイドする
ためのたる形状のガイド素子７を有する。ガイド素子７
は、フィルム１がフィルムフレームの外側で支持され、
湾曲した路上を滑走するようにする。
【００１２】図１に示した実施例では、走査のために必
要な２つのスプロケットホールのうちの１つだけが走査
され、垂直および水平の画像位置エラーが補正される。
スプロケットホールを照明するために、この実施例では
赤外線ビームが使用されている。このビームはスプロケ
ットホールのエッジを高いコントラストで映像する。こ
の赤外線ビームは、赤外線ダイオード８によって生成さ
れる。この赤外線ダイオード８は光学ガイド器９と疎に
結合されている。この光学ガイド器９は、赤外線ダイオ
ードのビームを、たる形状のガイド素子７内の凹部１０
にガイドする。凹部１０は、光学的に透明なカバー１１
によって封止されており、凹部１０がフィルムの磨耗に
よって発生するほこりによって汚損しないようにしてい
る。
要な２つのスプロケットホールのうちの１つだけが走査
され、垂直および水平の画像位置エラーが補正される。
スプロケットホールを照明するために、この実施例では
赤外線ビームが使用されている。このビームはスプロケ
ットホールのエッジを高いコントラストで映像する。こ
の赤外線ビームは、赤外線ダイオード８によって生成さ
れる。この赤外線ダイオード８は光学ガイド器９と疎に
結合されている。この光学ガイド器９は、赤外線ダイオ
ードのビームを、たる形状のガイド素子７内の凹部１０
にガイドする。凹部１０は、光学的に透明なカバー１１
によって封止されており、凹部１０がフィルムの磨耗に
よって発生するほこりによって汚損しないようにしてい
る。
【００１３】赤外線ビームの出射面の上には光学的偏向
デバイス１２が配置されている。このデバイスはそれぞ
れのスプロケットホールの映像を、離れて配置されたラ
インカメラ１３に供給する。この実施例では、この光学
的偏向デバイス１２は調整可能な鏡を有する。
デバイス１２が配置されている。このデバイスはそれぞ
れのスプロケットホールの映像を、離れて配置されたラ
インカメラ１３に供給する。この実施例では、この光学
的偏向デバイス１２は調整可能な鏡を有する。
【００１４】フレームセンサ４によって撮像されたフィ
ルムフレームは、ビデオデータとして信号処理ユニット
１４（図２参照）に供給される。この信号処理ユニット
１４は、電子的に垂直および水平の画像位置エラーをプ
ロセッサ１５によって供給されたオフセットデータにし
たがって補正する。信号処理ユニット１４およびプロセ
ッサ１５は、図２に示した評価ユニット２５の一部であ
る。この評価ユニット２５はさらに、ラインカメラ１３
とプロセッサ１５との間にさらにバッファメモリ１６と
リングメモリ１７とを有する。信号処理ユニット１４は
同期のためにフィルム速度に依存する制御データをライ
ンカメラ１３に供給する。
ルムフレームは、ビデオデータとして信号処理ユニット
１４（図２参照）に供給される。この信号処理ユニット
１４は、電子的に垂直および水平の画像位置エラーをプ
ロセッサ１５によって供給されたオフセットデータにし
たがって補正する。信号処理ユニット１４およびプロセ
ッサ１５は、図２に示した評価ユニット２５の一部であ
る。この評価ユニット２５はさらに、ラインカメラ１３
とプロセッサ１５との間にさらにバッファメモリ１６と
リングメモリ１７とを有する。信号処理ユニット１４は
同期のためにフィルム速度に依存する制御データをライ
ンカメラ１３に供給する。
【００１５】図３は、フィルム１の３つのフレーム１
８，１９および２０を有するフィルム１の部分を示して
いる。それぞれのフレームは、４つのスプロケットホー
ルを外側の側面部に有する。フレーム１９は、例えば４
つのスプロケットホール２１，２２，２３および２４を
外側の１つの側面部に有する。ラインカメラ１３はフレ
ームの外側の側面部にあるそれぞれのスプロケットホー
ルを走査する。ラインカメラ１３によって走査されたス
プロケットホールのデータを以降は測定データと称し、
スプロケットホールに所属する測定データ全体を測定フ
レームと称する。測定フレームの測定データは、スプロ
ケットホールだけを含むのではなく、スプロケットホー
ルの周囲部も含む。
８，１９および２０を有するフィルム１の部分を示して
いる。それぞれのフレームは、４つのスプロケットホー
ルを外側の側面部に有する。フレーム１９は、例えば４
つのスプロケットホール２１，２２，２３および２４を
外側の１つの側面部に有する。ラインカメラ１３はフレ
ームの外側の側面部にあるそれぞれのスプロケットホー
ルを走査する。ラインカメラ１３によって走査されたス
プロケットホールのデータを以降は測定データと称し、
スプロケットホールに所属する測定データ全体を測定フ
レームと称する。測定フレームの測定データは、スプロ
ケットホールだけを含むのではなく、スプロケットホー
ルの周囲部も含む。
【００１６】ラインカメラ１３によって撮像された測定
フレームは、バッファメモリ１６にバッファリングさ
れ、信号処理ユニット１４の制御によってリングメモリ
１７に書き込まれる。リングメモリ１７は、連続する４
つの測定フレームを少なくとも含む。オフセットデータ
を計算するためにプロセッサ１５が必要とするのは、４
つの連続する測定フレームのうちの１つだけである。例
えば図３の部分図のフレーム１９のスプロケットホール
２４の測定データを使用する。
フレームは、バッファメモリ１６にバッファリングさ
れ、信号処理ユニット１４の制御によってリングメモリ
１７に書き込まれる。リングメモリ１７は、連続する４
つの測定フレームを少なくとも含む。オフセットデータ
を計算するためにプロセッサ１５が必要とするのは、４
つの連続する測定フレームのうちの１つだけである。例
えば図３の部分図のフレーム１９のスプロケットホール
２４の測定データを使用する。
【００１７】プロセッサ１５ではまず、測定フレームが
供給された後エッジ検出が実行される。グレイレベルフ
レームである測定フレームのエッジ位置は、所定の領域
において検出される。基本的には図４および図５に示し
たように、２つの種類のスプロケットホールを区別する
ことができる。図４に示した第１の種類のスプロケット
ホールはＮホールと称され、上端部および下端部は直線
であり、側方端部は円である。図５に示したスプロケッ
トホールはＰホールと称され、上端部および下端部は直
線であり、側方端部も直線である。しかしこのＰホール
のコーナーは丸形である。プロセッサ１５の計算時間を
必要以上に長くしないために、測定フレームの４つの領
域に限ってエッジを検出する。これらの領域は矩形であ
り、上端部、下端部および側方端部の中央部分を覆って
いる。これらの矩形領域は、図４および５の破線の矩形
として示されている。検出した、測定フレームのエッジ
位置についてのデータから、線すなわち直線または曲線
をプロセッサ１５によって計算する。その理由は、検出
されたエッジ位置は通例、スプロケットホールのエッジ
におけるノイズの影響またはエラーにより線を構成しな
いからである。引き続いてプロセッサ１５は、測定フレ
ームの中心点すなわちスプロケットホールの中心点を求
め、この中心点位置を、記憶されている基準中心点の記
憶データと比較する。基準中心点は、スプロケットホー
ルの理想的位置を示しており、ひいてはフレームセンサ
４によって撮像される相応のビデオ画像の理想位置を示
している。測定フレームの中心点と基準中心点との偏差
を計算した後には、この計算データはオフセットデータ
として信号処理ユニット１５に供給される。
供給された後エッジ検出が実行される。グレイレベルフ
レームである測定フレームのエッジ位置は、所定の領域
において検出される。基本的には図４および図５に示し
たように、２つの種類のスプロケットホールを区別する
ことができる。図４に示した第１の種類のスプロケット
ホールはＮホールと称され、上端部および下端部は直線
であり、側方端部は円である。図５に示したスプロケッ
トホールはＰホールと称され、上端部および下端部は直
線であり、側方端部も直線である。しかしこのＰホール
のコーナーは丸形である。プロセッサ１５の計算時間を
必要以上に長くしないために、測定フレームの４つの領
域に限ってエッジを検出する。これらの領域は矩形であ
り、上端部、下端部および側方端部の中央部分を覆って
いる。これらの矩形領域は、図４および５の破線の矩形
として示されている。検出した、測定フレームのエッジ
位置についてのデータから、線すなわち直線または曲線
をプロセッサ１５によって計算する。その理由は、検出
されたエッジ位置は通例、スプロケットホールのエッジ
におけるノイズの影響またはエラーにより線を構成しな
いからである。引き続いてプロセッサ１５は、測定フレ
ームの中心点すなわちスプロケットホールの中心点を求
め、この中心点位置を、記憶されている基準中心点の記
憶データと比較する。基準中心点は、スプロケットホー
ルの理想的位置を示しており、ひいてはフレームセンサ
４によって撮像される相応のビデオ画像の理想位置を示
している。測定フレームの中心点と基準中心点との偏差
を計算した後には、この計算データはオフセットデータ
として信号処理ユニット１５に供給される。
【００１８】評価ユニット２５は例えばコンピュータと
して実現することもできる。このコンピュータは、フレ
ームセンサ４およびラインカメラ１３からのデータを受
信し、回路素子１４，１５，１６および１７によって実
行される機能を実行する。
して実現することもできる。このコンピュータは、フレ
ームセンサ４およびラインカメラ１３からのデータを受
信し、回路素子１４，１５，１６および１７によって実
行される機能を実行する。
【００１９】プロセッサ１５によって実行されるエッジ
検出、線形成および中心点計算を以下詳しく説明する。
上記のようにエッジ検出中に測定フレームの４つの領域
が検査される。エッジは測定フレームにおいて、場所に
依存するグレイレベル値Ｇの不連続な変化を示す。
検出、線形成および中心点計算を以下詳しく説明する。
上記のようにエッジ検出中に測定フレームの４つの領域
が検査される。エッジは測定フレームにおいて、場所に
依存するグレイレベル値Ｇの不連続な変化を示す。
【００２０】図６は、エッジの側面図を水平方向ｘで示
す。エッジにおいては、グレイ値Ｇは最大グレイ値に達
するまで増加する。エッジ検出の単純なモードにおいて
は、明から暗への移行または逆の移行が検出される。こ
のために閾値ＧSを固定し、この閾値ＧSによってグレイ
レベルが明であるか暗であるかを決定する。この閾値を
上回ったまたは下回った場合には、明と暗との間の変
化、すなわちエッジが点ｘpに存在する。図６はグレイ
値レンジＧの移行を示している。
す。エッジにおいては、グレイ値Ｇは最大グレイ値に達
するまで増加する。エッジ検出の単純なモードにおいて
は、明から暗への移行または逆の移行が検出される。こ
のために閾値ＧSを固定し、この閾値ＧSによってグレイ
レベルが明であるか暗であるかを決定する。この閾値を
上回ったまたは下回った場合には、明と暗との間の変
化、すなわちエッジが点ｘpに存在する。図６はグレイ
値レンジＧの移行を示している。
【００２１】別のエッジ検出モードは、例えばフレーム
における明るさの変動を考慮する（図７参照）。この場
合には、相対的な閾値ＧRSが使用される。この閾値ＧRS
はグレイレベルレンジを測定することによって求められ
る。
における明るさの変動を考慮する（図７参照）。この場
合には、相対的な閾値ＧRSが使用される。この閾値ＧRS
はグレイレベルレンジを測定することによって求められ
る。
【００２２】閾値ＧSまたはＧRSに対応するエッジ位置
Ｘpを求める際に、ｘpがピクセルの位置と一致すること
はまれである。通例は、エッジは２つのピクセルの間に
存在する。エッジ位置ｘpを求めるために、本発明では
補間が実行される。１つの手法は線形補間法である。求
める点（ｘp，ＧS）は、点（ｘi、Ｇi）と点（ｘi+1，
Ｇi+1）の対によって構成される直線上にある。点
（ｘi、Ｇi）と点（ｘi+1，Ｇi+1）の対は、図８に示し
たように２つのピクセルの座標である。エッジ位置はつ
ぎの式によって得られる。
Ｘpを求める際に、ｘpがピクセルの位置と一致すること
はまれである。通例は、エッジは２つのピクセルの間に
存在する。エッジ位置ｘpを求めるために、本発明では
補間が実行される。１つの手法は線形補間法である。求
める点（ｘp，ＧS）は、点（ｘi、Ｇi）と点（ｘi+1，
Ｇi+1）の対によって構成される直線上にある。点
（ｘi、Ｇi）と点（ｘi+1，Ｇi+1）の対は、図８に示し
たように２つのピクセルの座標である。エッジ位置はつ
ぎの式によって得られる。
【００２３】 ｘp ＝ （ＧS−Ｇi）／（Ｇi+1−Ｇi）＋ｘi ピクセル単位より細かなエッジ位置は上の式によって求
められる。
められる。
【００２４】図６に示したグレイ値曲線は、エッジにお
いて傾きを有する。この傾きは逆向きであることもあ
る。このようなグレイ値曲線の第１導関数はエッジにお
いて極値を有し、したがって元のグレイ値曲線は変曲点
を有する。したがってエッジの検出は数学的には「変曲
点の検出」である。このような「変曲点の検出」の利点
は、例えば明るさの変動が導関数にまったく影響を与え
ないことである。離散値のなす数列の導関数はつぎの差
分によって形成される。
いて傾きを有する。この傾きは逆向きであることもあ
る。このようなグレイ値曲線の第１導関数はエッジにお
いて極値を有し、したがって元のグレイ値曲線は変曲点
を有する。したがってエッジの検出は数学的には「変曲
点の検出」である。このような「変曲点の検出」の利点
は、例えば明るさの変動が導関数にまったく影響を与え
ないことである。離散値のなす数列の導関数はつぎの差
分によって形成される。
【００２５】Ｇ’(ｘi)＝（Ｇ(ｘi＋１)−Ｇ(ｘi)）／
（ｘi+1−ｘi）＝Ｇi+1−Ｇi この場合には、エッジ位置は１ピクセルの精度で決定さ
れる。中間の値に対しては、２次補間が使用される。エ
ッジ位置はつぎの式から得られる。
（ｘi+1−ｘi）＝Ｇi+1−Ｇi この場合には、エッジ位置は１ピクセルの精度で決定さ
れる。中間の値に対しては、２次補間が使用される。エ
ッジ位置はつぎの式から得られる。
【００２６】ｘp ＝ （Ｇi-1−Ｇi）／（Ｇi-1−２Ｇ
i＋Ｇi+1）＋ｘi ここでｘi-1＝ｘi−１およびｘi+1＝ｘi＋１である。
i＋Ｇi+1）＋ｘi ここでｘi-1＝ｘi−１およびｘi+1＝ｘi＋１である。
【００２７】エッジ検出の際に求められたエッジ位置
は、つぎに説明するステップにおいて結ばれて１本の線
になる。求められたエッジ位置の点列は通例は線上（直
線または曲線）にはない。これはエッジにおけるノイズ
の影響またはエラーによるものである。したがって次の
ステップでは、エッジ検出器により供給された値から線
を形成する必要がある。直線は線形回帰法によって求め
ることができる。また直線および／または曲線を、求め
られたエッジ位置からハフ(Hough)変換によって計算す
ることもできる。ハフ変換は、例えばPeter Haberaecke
r著"Digitale Bildverarbeitung"１９８９年第３版の第
３４４〜３４８頁に記載されている。
は、つぎに説明するステップにおいて結ばれて１本の線
になる。求められたエッジ位置の点列は通例は線上（直
線または曲線）にはない。これはエッジにおけるノイズ
の影響またはエラーによるものである。したがって次の
ステップでは、エッジ検出器により供給された値から線
を形成する必要がある。直線は線形回帰法によって求め
ることができる。また直線および／または曲線を、求め
られたエッジ位置からハフ(Hough)変換によって計算す
ることもできる。ハフ変換は、例えばPeter Haberaecke
r著"Digitale Bildverarbeitung"１９８９年第３版の第
３４４〜３４８頁に記載されている。
【００２８】第３番目のステップでは、プロセッサ１５
が測定フレームの中心点を、求めた線から計算する。こ
れは例えば２つ異なる計算手段によって行うことができ
る。第１の手段では、水平線と垂直線から２本の対称軸
が形成される。これらの対称軸の交点が、スプロケット
ホールの中心点である。この方法は図９に示されてい
る。これらの対称軸は、相応する水平線と垂直線の中点
を計算することよって得られる。
が測定フレームの中心点を、求めた線から計算する。こ
れは例えば２つ異なる計算手段によって行うことができ
る。第１の手段では、水平線と垂直線から２本の対称軸
が形成される。これらの対称軸の交点が、スプロケット
ホールの中心点である。この方法は図９に示されてい
る。これらの対称軸は、相応する水平線と垂直線の中点
を計算することよって得られる。
【００２９】第２の手段では、計算されたエッジ位置か
らエッジを求めず、対称軸を表す線を直接計算する（図
１０）。線形回帰法またはハフ変換により、個々の点か
ら１本の直線を形成することができる。この手段は丸形
のエッジ対して、また相互に平行であれば直線のエッジ
に対して使用することができる。スプロケットホールの
中心点は、対称軸の交点によって示される。最初に記載
した手段と比べて、この第２の手法は、スプロケットホ
ールの２つのエッジに対する線形回帰法またはハフ変換
だけが必要であるという利点を有する。これにより計算
が節約でき、ひいては時間が節約できる。
らエッジを求めず、対称軸を表す線を直接計算する（図
１０）。線形回帰法またはハフ変換により、個々の点か
ら１本の直線を形成することができる。この手段は丸形
のエッジ対して、また相互に平行であれば直線のエッジ
に対して使用することができる。スプロケットホールの
中心点は、対称軸の交点によって示される。最初に記載
した手段と比べて、この第２の手法は、スプロケットホ
ールの２つのエッジに対する線形回帰法またはハフ変換
だけが必要であるという利点を有する。これにより計算
が節約でき、ひいては時間が節約できる。
【図１】フィルムスキャナの概略図である。
【図２】フィルムスキャナ内で生成されたビデオと測定
データとを処理するための評価ユニットの図である。
データとを処理するための評価ユニットの図である。
【図３】フィルムスキャナによって走査されるフィルム
の部分を示す図である。
の部分を示す図である。
【図４】スプロケットホールの図である。
【図５】図４のスプロケットホールとは別種のスプロケ
ットホールの図である。
ットホールの図である。
【図６】エッジにおけるグレイ値レベルの例を示す線図
である。
である。
【図７】エッジにおけるグレイ値レベルの例を示す別の
線図である。
線図である。
【図８】線形補間を説明する線図である。
【図９】スプロケットホールの中心点を求める方法を説
明する図である。
明する図である。
【図１０】スプロケットホールの中心点を求める別の方
法を説明する図である。
法を説明する図である。
１ フィルム ２ キャプスタン ３ 照明光源 ４ フレームセンサ ５ センサ ６ フィルム搬送装置 ７ ガイド素子 ８ 赤外線ダイオード ９ 光学ガイド器 １０ 凹部 １１ カバー １２ 光学的偏光デバイス １３ ラインカメラ １４ 信号処理ユニット １５ プロセッサ １６ バッファメモリ １７ リングメモリ １８−２０ フレーム ２１−２４ スプロケットホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Ｇｒｏｅｎｅｗｏｕｄｓｅｗｅｇ １, 5621 ＢＡ Ｅｉｎｄｈｏｖｅｎ， Ｔｈ ｅ Ｎｅｔｈｅｒｌａｎｄｓ (72)発明者 ギド コールマイヤー ドイツ連邦共和国 ドルトムント マイロ ー 34 (72)発明者 トーマス レーオナルト ドイツ連邦共和国 シュヴェルテ アウフ デア ヘーエ 12
Claims (9)
- 【請求項１】 フィルムフレームを撮像するためのフレ
ームセンサ（４）と、フィルムフレームに所属するスプ
ロケットホールを少なくとも走査するための走査デバイ
ス（１３）とを有するフィルムスキャナにおいて、 評価デバイス（２５）が設けられており、 該評価デバイス（２５）は、 − 前記走査デバイス（１３）から供給された測定フレ
ーム内の所定の領域内でエッジ位置を求め、 − 求められた該エッジ位置から線を形成し、 − 前記スプロケットホールの中心点と、基準中心点と
の偏差を求めることを特徴とするフィルムスキャナ。 - 【請求項２】 前記評価回路（２５）は、前記の測定さ
れたスプロケットホールの中心点と前記基準中心点との
間の前記の偏差を求めた後、前記フレームセンサ（４）
によって撮像された前記フィルムフレームの画像垂直位
置エラーおよび画像水平位置エラーを補正する請求項１
に記載のフィルムスキャナ。 - 【請求項３】 前記評価回路（２５）は、フィルム速度
に依存する制御データを、ラインカメラとして構成され
た前記走査デバイス（１３）に供給する請求項１に記載
のフィルムスキャナ。 - 【請求項４】 前記評価回路（２５）は、測定フレーム
をバッファリングするためのバッファメモリ（１６）を
有し、 前記測定フレームは、スプロケットホールおよび該スプ
ロケットホールの周囲部を前記走査デバイス（１３）を
使用して走査することによって生成した測定データから
構成されている請求項１に記載のフィルムスキャナ。 - 【請求項５】 前記評価回路（２５）は、エッジ位置を
検出する際には前記測定フレームの４つの領域をサーチ
し、 該４つの領域は、前記測定フレームの一部だけを覆い、 前記測定フレームは、画像垂直位置エラーおよび／また
は画像水平位置エラーが多い場合にも、前記スプロケッ
トホールの４つのエッジのエッジ位置が検出されるよう
に選択されている請求項１に記載のフィルムスキャナ。 - 【請求項６】 前記評価回路（２５）は、前記測定フレ
ーム内でグレイレベルの変化または明るさの変化の閾値
検査を実行し、引き続き補間を実行することによって前
記エッジ位置を求める請求項１に記載のフィルムスキャ
ナ。 - 【請求項７】 前記評価回路（２５）は、前記測定フレ
ーム内でグレイレベルの変化または明るさの変化の２次
導関数を形成し、引き続き補間を実行することによって
前記エッジ位置を求める請求項１に記載のフィルムスキ
ャナ。 - 【請求項８】 前記評価回路（２５）は、曲線または直
線である線を形成する際には、エッジに関連して求めら
れた前記エッジ位置の成す点列に対して線形回帰法また
はハフ変換を実行する請求項１に記載のフィルムスキャ
ナ。 - 【請求項９】 前記評価回路（２５）は、線形回帰法ま
たはハフ変換を使用して、対向する２つのエッジに関連
して求められた前記エッジ位置の成す点列から対称軸を
形成するために、対向する２つのエッジの、求められた
前記エッジ位置を使用する請求項１に記載のフィルムス
キャナ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19815066.0 | 1998-04-03 | ||
| DE19815066A DE19815066B4 (de) | 1998-04-03 | 1998-04-03 | Filmabtaster mit Bildstandsfehlerkorrektur |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11341302A true JPH11341302A (ja) | 1999-12-10 |
Family
ID=7863552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11096535A Pending JPH11341302A (ja) | 1998-04-03 | 1999-04-02 | フィルムスキャナ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7099055B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11341302A (ja) |
| DE (1) | DE19815066B4 (ja) |
| GB (1) | GB2336060B (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001326233A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Magnegraph:Kk | 帯状部品の処理タイミングの決定 |
| US7129972B2 (en) | 2000-09-25 | 2006-10-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing device for transmitting images |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10261801B4 (de) * | 2002-12-20 | 2008-08-14 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Vorrichtung zur Digitalisierung von Filmmaterial |
| US7468819B2 (en) * | 2003-06-04 | 2008-12-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Image reading apparatus and transmitting original illuminating apparatus |
| DE102005042136A1 (de) * | 2005-09-05 | 2007-03-08 | Arnold & Richter Cine Technik Gmbh & Co. Betriebs Kg | Filmscanner |
| US7953288B2 (en) * | 2008-03-18 | 2011-05-31 | Xerox Corporation | Edge transition detection in a high-addressable error diffusion environment |
| DE102008062664A1 (de) * | 2008-12-17 | 2010-06-24 | Arnold & Richter Cine Technik Gmbh & Co. Betriebs Kg | Filmscanner |
| DE102009022316B3 (de) * | 2009-05-22 | 2010-08-19 | Eastman Kodak Company | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung einer Substratkante in einer Druckmaschine |
| DE102013110996A1 (de) * | 2013-10-02 | 2015-04-02 | Reiner Meyer | Filmscanner und Verfahren zum optischen Abtasten eines Films |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB663309A (en) | 1948-05-01 | 1951-12-19 | British Thomson Houston Co Ltd | Improvements relating to the production of quartz-to-metal seals |
| NL8503117A (nl) | 1985-11-13 | 1987-06-01 | Philips Nv | Hogedrukontladingslamp. |
| DE3736789C2 (de) * | 1987-10-30 | 1996-03-14 | Broadcast Television Syst | Verfahren zur Ermittlung und elektronischen Kompensation von Bildstandsfehlern bei der fernsehmäßigen Filmabtastung |
| DE3736790A1 (de) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Broadcast Television Syst | Verfahren zur automatischen korrektur von bildstandsfehlern bei der filmabtastung |
| WO1991006181A1 (en) * | 1989-10-20 | 1991-05-02 | Walker Digital Audio Video Systems, Inc. | Real time registration weave correction system |
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| GB2247586B (en) * | 1990-08-31 | 1994-10-12 | Sony Corp | Movie film to video conversion |
| US5264756A (en) | 1991-12-26 | 1993-11-23 | Gte Products Corporation | Small volume, high wattage press sealed lamp |
| KR100247669B1 (ko) | 1992-07-14 | 2000-03-15 | 요트.게.아. 롤페즈 | 전기 램프 |
| DE19535338A1 (de) | 1995-09-22 | 1997-03-27 | Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | Hochdruckentladungslampe |
| DE19731530B4 (de) * | 1997-07-23 | 2007-01-11 | Bts Holding International Bv | Optische Präzisionsabtastung von Filmperforationslöchern |
-
1998
- 1998-04-03 DE DE19815066A patent/DE19815066B4/de not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-03-18 GB GB9906275A patent/GB2336060B/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-04-02 JP JP11096535A patent/JPH11341302A/ja active Pending
- 1999-04-02 US US09/286,117 patent/US7099055B1/en not_active Expired - Fee Related
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| JP4526653B2 (ja) * | 2000-05-12 | 2010-08-18 | 日本高圧電気株式会社 | 帯状部品の処理タイミングの決定 |
| US7129972B2 (en) | 2000-09-25 | 2006-10-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensing device for transmitting images |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2336060B (en) | 2002-11-06 |
| US7099055B1 (en) | 2006-08-29 |
| DE19815066A1 (de) | 1999-10-07 |
| GB9906275D0 (en) | 1999-05-12 |
| GB2336060A (en) | 1999-10-06 |
| DE19815066B4 (de) | 2006-11-23 |
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