JPH113247A - テストシステム - Google Patents
テストシステムInfo
- Publication number
- JPH113247A JPH113247A JP9151846A JP15184697A JPH113247A JP H113247 A JPH113247 A JP H113247A JP 9151846 A JP9151846 A JP 9151846A JP 15184697 A JP15184697 A JP 15184697A JP H113247 A JPH113247 A JP H113247A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- parameters
- list
- order
- program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、複数のテストプログラムにパラメ
タを設定して実行するテストシステムに関し、テストプ
ログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め準備し、
テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ値の変更
を簡易に行い、設定した順番にテストを実行することを
目的とする。 【解決手段】 画面上にテストの一覧を表示してその実
行順番を選択する手段と、選択されたテストを実行する
テストプログラムのパラメタを表示して変更あるいは追
加が必要なときに変更入力あるいは追加入力し、テスト
プログラムの実行順番にパラメタを設定、または変更入
力あるいは追加入力されたときは入力されたパラメタを
設定する手段と、設定された実行順番にテストプログラ
ムについて、設定されたパラメタをもとに順次実行する
手段とを備えるように構成する。
タを設定して実行するテストシステムに関し、テストプ
ログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め準備し、
テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ値の変更
を簡易に行い、設定した順番にテストを実行することを
目的とする。 【解決手段】 画面上にテストの一覧を表示してその実
行順番を選択する手段と、選択されたテストを実行する
テストプログラムのパラメタを表示して変更あるいは追
加が必要なときに変更入力あるいは追加入力し、テスト
プログラムの実行順番にパラメタを設定、または変更入
力あるいは追加入力されたときは入力されたパラメタを
設定する手段と、設定された実行順番にテストプログラ
ムについて、設定されたパラメタをもとに順次実行する
手段とを備えるように構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のテストプロ
グラムにパラメタを設定して実行するテストシステムに
関するものである。
グラムにパラメタを設定して実行するテストシステムに
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、計算機システムの各種テストをテ
ストプログラムを走行させて行う場合、オペレータが会
話形式でテストプログラムを実行させてテストするため
に必要な各種パラメタ（例えばメモリテスト時のアドレ
ス範囲、リード／ライトの指定などのパラメタ）を入力
し内部のパラメタ領域に設定した後、テストを実行する
ようにしていた。このため、複数のテストプログラムを
連続して実行する場合、例えば複数のテストプログラム
をＤＯＳ上で連続して実行する場合にはバッチファイル
内に連続して実行するテストプログラムを順番に記述し
ていた。
ストプログラムを走行させて行う場合、オペレータが会
話形式でテストプログラムを実行させてテストするため
に必要な各種パラメタ（例えばメモリテスト時のアドレ
ス範囲、リード／ライトの指定などのパラメタ）を入力
し内部のパラメタ領域に設定した後、テストを実行する
ようにしていた。このため、複数のテストプログラムを
連続して実行する場合、例えば複数のテストプログラム
をＤＯＳ上で連続して実行する場合にはバッチファイル
内に連続して実行するテストプログラムを順番に記述し
ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述したように複数の
テストプログラムを連続して実行させる場合には、上記
ＤＯＳのときはバッチファイルに連続して実行するテス
トプログラムの順番に記述して実行させていたため、実
行順序を変更する場合にはバッチファイル内のテストプ
ログラムをその都度、書き換えるという煩雑な手間が発
生してしまうという問題があった。また、各テストプロ
グラムの実行時に必要な各種パラメタの変更時にはテス
トプログラム毎に同様な操作が必要となってしまう問題
もあった。
テストプログラムを連続して実行させる場合には、上記
ＤＯＳのときはバッチファイルに連続して実行するテス
トプログラムの順番に記述して実行させていたため、実
行順序を変更する場合にはバッチファイル内のテストプ
ログラムをその都度、書き換えるという煩雑な手間が発
生してしまうという問題があった。また、各テストプロ
グラムの実行時に必要な各種パラメタの変更時にはテス
トプログラム毎に同様な操作が必要となってしまう問題
もあった。
【０００４】本発明は、これらの問題を解決するため、
テストプログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め
準備し、テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ
値の変更を簡易に行い、設定した順番にテストを実行す
ることを目的としている。
テストプログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め
準備し、テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ
値の変更を簡易に行い、設定した順番にテストを実行す
ることを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図１を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図１において、処理装置
１は、図示外の記憶媒体からプログラムを主記憶にロー
ディングして起動し、各種処理を行うものであって、こ
こでは、選択手段２、入力手段３、および実行手段４な
どから構成されるものである。
決するための手段を説明する。図１において、処理装置
１は、図示外の記憶媒体からプログラムを主記憶にロー
ディングして起動し、各種処理を行うものであって、こ
こでは、選択手段２、入力手段３、および実行手段４な
どから構成されるものである。
【０００６】選択手段２は、テストプログラムの実行順
序を選択するものである。入力手段３は、テストプログ
ラムの詳細情報などを入力して設定するものである。
序を選択するものである。入力手段３は、テストプログ
ラムの詳細情報などを入力して設定するものである。
【０００７】実行手段４は、テストプログラムの実行を
行うものである。カタログファイル５は、テストプログ
ラムの一覧などを格納するものである。表示装置６は、
画面を表示するものである。
行うものである。カタログファイル５は、テストプログ
ラムの一覧などを格納するものである。表示装置６は、
画面を表示するものである。
【０００８】入力装置７は、各種入力を行うキーボード
やマウスなどの入力を行うものである。次に、動作説明
する。
やマウスなどの入力を行うものである。次に、動作説明
する。
【０００９】選択手段２が画面上にテストの一覧を表示
してその実行順番を選択し、入力手段３が選択されたテ
ストを実行するテストプログラムのパラメタを表示して
変更あるいは追加が必要なときに変更入力あるいは追加
入力し、選択されたテストを実行するテストプログラム
の実行順番にパラメタを設定、または変更入力あるいは
追加入力されたときは入力されたパラメタを設定し、実
行手段４が設定された実行順番にテストプログラムにつ
いて、設定されたパラメタをもとに順次実行するように
している。
してその実行順番を選択し、入力手段３が選択されたテ
ストを実行するテストプログラムのパラメタを表示して
変更あるいは追加が必要なときに変更入力あるいは追加
入力し、選択されたテストを実行するテストプログラム
の実行順番にパラメタを設定、または変更入力あるいは
追加入力されたときは入力されたパラメタを設定し、実
行手段４が設定された実行順番にテストプログラムにつ
いて、設定されたパラメタをもとに順次実行するように
している。
【００１０】この際、テストの一覧として前回の順番あ
るいは過去の使用頻度の多い順番に表示するようにして
いる。また、テストの一覧から選択されたテストを実行
するテストプログラムの一覧を表示してその実行順番を
選択するようにしている。
るいは過去の使用頻度の多い順番に表示するようにして
いる。また、テストの一覧から選択されたテストを実行
するテストプログラムの一覧を表示してその実行順番を
選択するようにしている。
【００１１】また、テストプログラムの一覧として前回
の順番あるいは過去の使用頻度の多い順番に表示するよ
うにしている。従って、テストプログラムおよびデフォ
ルトのパラメタ値を予め準備し、テスト一覧上で実行順
序を設定およびパラメタ値の変更を行うことにより、容
易にテスト順番を設定およびパラメタを設定したテスト
を実行することが可能となる。
の順番あるいは過去の使用頻度の多い順番に表示するよ
うにしている。従って、テストプログラムおよびデフォ
ルトのパラメタ値を予め準備し、テスト一覧上で実行順
序を設定およびパラメタ値の変更を行うことにより、容
易にテスト順番を設定およびパラメタを設定したテスト
を実行することが可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に、図２から図５を用いて本発
明の実施の形態および動作を順次詳細に説明する。
明の実施の形態および動作を順次詳細に説明する。
【００１３】図２は、本発明の一覧登録フローチャート
を示す。これは、図示のテストプログラムカタログファ
イル５に登録するテストを実行するテストプログラムお
よびそのデフォルトのパラメタを予め登録する手順であ
る。
を示す。これは、図示のテストプログラムカタログファ
イル５に登録するテストを実行するテストプログラムお
よびそのデフォルトのパラメタを予め登録する手順であ
る。
【００１４】図２において、Ｓ１は、テストプログラム
の作成を行う。ここでは、テストを実行するテストプロ
グラムおよびパラメタのデフォルト値を作成する。Ｓ２
は、カタログファイルへのテストプログラムの登録を行
う。
の作成を行う。ここでは、テストを実行するテストプロ
グラムおよびパラメタのデフォルト値を作成する。Ｓ２
は、カタログファイルへのテストプログラムの登録を行
う。
【００１５】以上によって、テスト毎に当該テストを１
つあるいは複数のテストプログラムおよびそのパラメタ
のデフォルト値が設定されて登録されたこととなる。例
えば後述する図４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すよう
に、メモリテストに対して２つのファイルＡ（メモリラ
イトテスト）およびファイルＢ（メモリリードテスト）
とそのパラメタのデフォルト値を設定して登録する。
つあるいは複数のテストプログラムおよびそのパラメタ
のデフォルト値が設定されて登録されたこととなる。例
えば後述する図４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すよう
に、メモリテストに対して２つのファイルＡ（メモリラ
イトテスト）およびファイルＢ（メモリリードテスト）
とそのパラメタのデフォルト値を設定して登録する。
【００１６】図３は、本発明の動作説明フローチャート
を示す。これは、図１の構成のもとで、図示外の記憶媒
体からプログラムを読み出して図１の処理装置１の主記
憶にローディングして起動し、選択手段２、入力手段
３、実行手段４がそれぞれの処理を実行するときのフロ
ーチャートである。
を示す。これは、図１の構成のもとで、図示外の記憶媒
体からプログラムを読み出して図１の処理装置１の主記
憶にローディングして起動し、選択手段２、入力手段
３、実行手段４がそれぞれの処理を実行するときのフロ
ーチャートである。
【００１７】図３において、Ｓ１１は、テスト一覧を表
示する。これは、既述した図２で登録したテストプログ
ラムカタログファイル５からテスト一覧を、例えば後述
する図４の（ａ）に示す下記のように表示する。
示する。これは、既述した図２で登録したテストプログ
ラムカタログファイル５からテスト一覧を、例えば後述
する図４の（ａ）に示す下記のように表示する。
【００１８】 Ｓ１２は、画面上で実行順序を入力する。これは、Ｓ１
１で画面上に表示されたテスト一覧およびデフォルトの
実行順序について、実行順序を入力（デフォルトの実行
順序でよければそのまま、変更が必要なときは変更入
力、追加が必要なときは追加するテストプログラムとそ
の実行順序を入力）する。
１で画面上に表示されたテスト一覧およびデフォルトの
実行順序について、実行順序を入力（デフォルトの実行
順序でよければそのまま、変更が必要なときは変更入
力、追加が必要なときは追加するテストプログラムとそ
の実行順序を入力）する。
【００１９】Ｓ１３は、テスト詳細情報を表示する。こ
れは、テストの詳細情報、後述する図４の（ｃ）に示す
ように、例えばメモリテストの詳細情報として、テスト
実行アドレス、テスト範囲などの詳細情報を表示する。
れは、テストの詳細情報、後述する図４の（ｃ）に示す
ように、例えばメモリテストの詳細情報として、テスト
実行アドレス、テスト範囲などの詳細情報を表示する。
【００２０】Ｓ１４は、テストプログラムのパラメタを
変更する。これは、Ｓ１３で表示された詳細情報を参照
し、利用者が画面上でデフォルトのパタメタ値を変更、
追加などしてテスト目的に合致したパラメタ値にすると
共に、エラー発生時のロギング方法の指定（画面上に全
体のエラー状態の表示、テスト毎にエラー状態の表示、
あるいはテストプログラム毎にエラー状態の表示を行う
かの指定）を行う。
変更する。これは、Ｓ１３で表示された詳細情報を参照
し、利用者が画面上でデフォルトのパタメタ値を変更、
追加などしてテスト目的に合致したパラメタ値にすると
共に、エラー発生時のロギング方法の指定（画面上に全
体のエラー状態の表示、テスト毎にエラー状態の表示、
あるいはテストプログラム毎にエラー状態の表示を行う
かの指定）を行う。
【００２１】Ｓ１５は、テストを実行する。これは、Ｓ
１２、Ｓ１３、Ｓ１４で設定された順番に設定されたパ
ラメタに従い、テストプログラムを順次実行する。Ｓ１
６は、エラー発生か判別する。これは、Ｓ１５でテスト
プログラムを順次実行しエラー発生か判別する。ＹＥＳ
の場合には、Ｓ１７でエラー内容の表示、即ちＳ１４で
設定されたエラー発生時のロギング方法に従い、エラー
ロギング画面の表示を行い、Ｓ１８に進む。一方、ＮＯ
の場合には、Ｓ１８に進む。
１２、Ｓ１３、Ｓ１４で設定された順番に設定されたパ
ラメタに従い、テストプログラムを順次実行する。Ｓ１
６は、エラー発生か判別する。これは、Ｓ１５でテスト
プログラムを順次実行しエラー発生か判別する。ＹＥＳ
の場合には、Ｓ１７でエラー内容の表示、即ちＳ１４で
設定されたエラー発生時のロギング方法に従い、エラー
ロギング画面の表示を行い、Ｓ１８に進む。一方、ＮＯ
の場合には、Ｓ１８に進む。
【００２２】Ｓ１８は、終了か判別する。これは、設定
された順番の全てのテストプログラムの実行を終了か判
別する。ＹＥＳの場合には、終了する。ＮＯの場合に
は、次のテストプログラムについてＳ１５以下を繰り返
す。
された順番の全てのテストプログラムの実行を終了か判
別する。ＹＥＳの場合には、終了する。ＮＯの場合に
は、次のテストプログラムについてＳ１５以下を繰り返
す。
【００２３】以上によって、テスト一覧からテスト順番
を選択およびテストプログラムのパラメタ値の変更／追
加を行った後、実行し、そのテスト結果を表示すること
により、テスト一覧から簡易にテスト順番を指定および
パラメタの変更／追加が必要なときに変更／追加を行っ
てテストを実行することが可能となる。
を選択およびテストプログラムのパラメタ値の変更／追
加を行った後、実行し、そのテスト結果を表示すること
により、テスト一覧から簡易にテスト順番を指定および
パラメタの変更／追加が必要なときに変更／追加を行っ
てテストを実行することが可能となる。
【００２４】図４は、本発明の画面例を示す。図４の
（ａ）は、テスト一覧画面の例を示す。このテスト一覧
画面では、図示の下記の項目を表示したものである。
（ａ）は、テスト一覧画面の例を示す。このテスト一覧
画面では、図示の下記の項目を表示したものである。
【００２５】 テスト項目 実行順序 処理装置構成情報 １．メモリテスト １ メモリ ：４８ＭＢ ２．ＣＰＵテスト ２ シリアルポート：２ ３．ディスプレイテスト ３ パラレルポート：３ ４．プリンタテスト ４ マウス ：アリ フロッピー０ ：１．４４ＭＢ フロッピー１ ：−−−− ハードディスク０：１０１９ＭＢ ハードディスク１：１０１９ＭＢ 以上のようにテスト項目およびその実行順序（直前ある
いは過去に最も使用頻度の高い実行順序）がデフォルト
として表示されるので、このテスト一覧のままでよけれ
ばそのまま、あるいは変更／追加が必要なときは変更／
追加を行い、テストの実行順序を簡易に設定することが
可能となる。
いは過去に最も使用頻度の高い実行順序）がデフォルト
として表示されるので、このテスト一覧のままでよけれ
ばそのまま、あるいは変更／追加が必要なときは変更／
追加を行い、テストの実行順序を簡易に設定することが
可能となる。
【００２６】図４の（ｂ）は、テスト別一覧表示画面
（例、メモリテスト）を示す。このテスト別一覧表示画
面は、図示の下記の項目を表示したものである。 テストプログラム名 実行順序 処理装置構成情報 １．ファイル名Ａ（メモリライトテスト） １ 図４の（ａ）と ２．ファイル名Ｂ（メモリリードテスト） ２ 同一 以上のように、テストプログラム項目およびその実行順
序（直前あるいは過去の最も使用頻度の高い実行順序）
がデフォルトとして表示されるので、このテスト別一覧
のままでよければそのまま、あるいは変更／追加が必要
なときは変更／追加を行い、テストプログラムの実行順
序を簡易に設定することが可能となる。
（例、メモリテスト）を示す。このテスト別一覧表示画
面は、図示の下記の項目を表示したものである。 テストプログラム名 実行順序 処理装置構成情報 １．ファイル名Ａ（メモリライトテスト） １ 図４の（ａ）と ２．ファイル名Ｂ（メモリリードテスト） ２ 同一 以上のように、テストプログラム項目およびその実行順
序（直前あるいは過去の最も使用頻度の高い実行順序）
がデフォルトとして表示されるので、このテスト別一覧
のままでよければそのまま、あるいは変更／追加が必要
なときは変更／追加を行い、テストプログラムの実行順
序を簡易に設定することが可能となる。
【００２７】図４の（ｃ）は、テスト詳細情報表示画面
（例、メモリライトテスト）を示す。このテスト詳細情
報表示画面（例、メモリライトテスト）は、図示の下記
の項目を表示したものである。
（例、メモリライトテスト）を示す。このテスト詳細情
報表示画面（例、メモリライトテスト）は、図示の下記
の項目を表示したものである。
【００２８】テスト詳細情報 ・対象装置 ：メモリ ・プログラム名称 ：メモリライトテスト ・テスト実行アドレス：××××（テスト開始アドレ
ス） ・テスト範囲 ：××××〜○○○○（テスト終
了アドレス） ・その他 以上のように、テストプログラムの詳細情報のデフォル
トが表示されるので、このままでよければそのまま、あ
るいは変更／追加が必要なときは変更／追加を行い、テ
ストプログラムの実行時の詳細情報（パラメタ）を簡易
に設定することが可能となる。
ス） ・テスト範囲 ：××××〜○○○○（テスト終
了アドレス） ・その他 以上のように、テストプログラムの詳細情報のデフォル
トが表示されるので、このままでよければそのまま、あ
るいは変更／追加が必要なときは変更／追加を行い、テ
ストプログラムの実行時の詳細情報（パラメタ）を簡易
に設定することが可能となる。
【００２９】図５は、本発明のエラー画面例を示す。こ
こでは、エラー内容の表示画面（例、メモリライトテス
ト）であって、図示の下記の項目を表示する。 テスト詳細情報 ・対象装置 ：メモリ ・プログラム名称 ：メモリライトテスト ・テスト項目名称 ：ライトテスト ・プログラム実行回数：３／１００ ・テスト項目実行回数：１／１０ ・エラー情報 ・エラー番号：×××× エラーメッセージ（例、デー
タ比較エラー） ・発生アドレス：ｘｘｘｘｘｘ ・期待値 ：ｙｙｙｙ ・実際値 ：ｚｚｚｚ 以上のように、エラー画面として、指定されたテスト項
目毎にそのテスト結果を表示し、テスト対象の装置のテ
ストを簡易に実行してその結果を指定（図３のＳ１３で
指定したロギング方法）した通りに表示させることが可
能となる。
こでは、エラー内容の表示画面（例、メモリライトテス
ト）であって、図示の下記の項目を表示する。 テスト詳細情報 ・対象装置 ：メモリ ・プログラム名称 ：メモリライトテスト ・テスト項目名称 ：ライトテスト ・プログラム実行回数：３／１００ ・テスト項目実行回数：１／１０ ・エラー情報 ・エラー番号：×××× エラーメッセージ（例、デー
タ比較エラー） ・発生アドレス：ｘｘｘｘｘｘ ・期待値 ：ｙｙｙｙ ・実際値 ：ｚｚｚｚ 以上のように、エラー画面として、指定されたテスト項
目毎にそのテスト結果を表示し、テスト対象の装置のテ
ストを簡易に実行してその結果を指定（図３のＳ１３で
指定したロギング方法）した通りに表示させることが可
能となる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
テストプログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め
準備し、テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ
値の変更を行う構成を採用しているため、容易にテスト
順番を設定およびパラメタを設定して、テスト対象の装
置のテストを実行することができる。これにより、テス
ト対象の装置について、簡易に所望のテスト項目につい
て所望のテスト項目の順番かつテストを実行するテスト
プログラムの順番で所望のパラメタ値に従い実行させ、
そのテスト結果を所望の指定した方法で表示させること
が可能となる。
テストプログラムおよびデフォルトのパラメタ値を予め
準備し、テスト一覧上で実行順序を設定およびパラメタ
値の変更を行う構成を採用しているため、容易にテスト
順番を設定およびパラメタを設定して、テスト対象の装
置のテストを実行することができる。これにより、テス
ト対象の装置について、簡易に所望のテスト項目につい
て所望のテスト項目の順番かつテストを実行するテスト
プログラムの順番で所望のパラメタ値に従い実行させ、
そのテスト結果を所望の指定した方法で表示させること
が可能となる。
【図１】本発明のシステム構成図である。
【図２】本発明の一覧登録フローチャートである。
【図３】本発明の動作説明フローチャートである。
【図４】本発明の画面例である。
【図５】本発明のエラー画面例である。
１：処理装置 ２：テストプログラムの実行順序の選択手段 ３：テストプログラムの詳細情報の入力手段 ４：テストプログラムの実行手段 ５：テストプログラムカタログファイル ６：表示装置 ７：入力装置
Claims (6)
- 【請求項１】複数のテストプログラムにパラメタを設定
して実行するテストシステムにおいて、 画面上にテストの一覧を表示してその実行順番を選択す
る手段と、 選択されたテストを実行するテストプログラムのパラメ
タを表示して変更あるいは追加が必要なときに変更入力
あるいは追加入力し、テストプログラムの実行順番にパ
ラメタを設定、または変更入力あるいは追加入力された
ときは入力されたパラメタを設定する手段と、 設定された実行順番にテストプログラムについて、設定
されたパラメタをもとに順次実行する手段とを備えたこ
とを特徴とするテストシステム。 - 【請求項２】上記テストの一覧として前回の順番あるい
は過去の使用頻度の多い順番に表示したことを特徴とす
る請求項１記載のテストシステム。 - 【請求項３】上記テストの一覧から選択されたテストを
実行するテストプログラムの一覧を表示してその実行順
番を選択する手段を備えたことを特徴とする請求項１あ
るいは請求項２記載のテストシステム。 - 【請求項４】上記テストプログラムの一覧として前回の
順番あるいは過去の使用頻度の多い順番に表示したこと
を特徴とする請求項３記載のテストシステム。 - 【請求項５】上記設定された実行順番にテストプログラ
ムについて、設定されたパラメタをもとに順次実行した
実行結果について、全体、テスト、あるいはテストプロ
グラム毎に表示あるいは非表示を設定し、この設定に従
いテスト結果を表示あるいは非表示する手段を備えたこ
とを特徴とする請求項１ないし請求項４記載のいずれか
のテストシステム。 - 【請求項６】複数のテストプログラムにパラメタを設定
して実行させるプログラムを格納した記憶媒体におい
て、 画面上にテストの一覧を表示してその実行順番を選択す
る手段と、 選択されたテストを実行するテストプログラムのパラメ
タを表示して変更あるいは追加が必要なときに変更入力
あるいは追加入力し、テストプログラムの実行順番にパ
ラメタを設定、または変更入力あるいは追加入力された
ときは入力されたパラメタを設定する手段と、 設定された実行順番にテストプログラムについて、設定
されたパラメタをもとに順次実行する手段として機能す
るプログラムを格納した記憶媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9151846A JPH113247A (ja) | 1997-06-10 | 1997-06-10 | テストシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9151846A JPH113247A (ja) | 1997-06-10 | 1997-06-10 | テストシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH113247A true JPH113247A (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=15527564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9151846A Pending JPH113247A (ja) | 1997-06-10 | 1997-06-10 | テストシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH113247A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003022196A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Nec Corp | 携帯端末におけるテストプログラムの自動実行方法 |
| JP2004225694A (ja) * | 2003-01-18 | 2004-08-12 | Andreas Stihl Ag & Co Kg | ２サイクルエンジンおよびその作動方法 |
| JP2010157108A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Canon Inc | ソフトウエア評価方法及びそれを実現する情報処理装置 |
-
1997
- 1997-06-10 JP JP9151846A patent/JPH113247A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003022196A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Nec Corp | 携帯端末におけるテストプログラムの自動実行方法 |
| JP2004225694A (ja) * | 2003-01-18 | 2004-08-12 | Andreas Stihl Ag & Co Kg | ２サイクルエンジンおよびその作動方法 |
| JP4516760B2 (ja) * | 2003-01-18 | 2010-08-04 | アンドレアス シュティール アクチエンゲゼルシャフト ウント コンパニー コマンディートゲゼルシャフト | ２サイクルエンジンおよびその作動方法 |
| JP2010157108A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Canon Inc | ソフトウエア評価方法及びそれを実現する情報処理装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6275226B1 (en) | Application window development supporting system and method storage | |
| US5964872A (en) | Method and system for tailoring common environments | |
| JP3755165B2 (ja) | 並列処理手続き選定装置及び方法 | |
| JPH113247A (ja) | テストシステム | |
| JP2002149701A (ja) | データベース管理システム、データベース管理方法、記憶媒体およびプログラム | |
| JP3594471B2 (ja) | シナリオ表示装置および方法 | |
| JPH04230517A (ja) | 階層メニュー処理装置 | |
| JP2877075B2 (ja) | 計測器制御装置および方法 | |
| JP3814308B2 (ja) | 文書ファイル管理システムおよび文書ファイル管理方法 | |
| JPH07219739A (ja) | データ解析装置のウインドウ管理方式 | |
| JP2760755B2 (ja) | コンピュータ処理用操作ボタン履歴を記憶し再表示する方法 | |
| JPH11161604A (ja) | クライアント装置 | |
| JP2995248B2 (ja) | ファイル制御装置 | |
| JPH1021191A (ja) | 情報処理装置のコマンド履歴管理装置 | |
| JPH05128182A (ja) | 作図装置および同装置を用いた作図方法 | |
| JP2004046834A (ja) | 文書処理装置 | |
| JPH07296179A (ja) | 表示データ処理装置及び方法 | |
| JPH0219936A (ja) | 参照・使用日付・時刻によるプログラム使用状況把握方式 | |
| JPH024288A (ja) | イメージ処理装置及びそのフォントファイル管理方法 | |
| JPH10261022A (ja) | 複数業務処理装置、複数業務処理方法及び複数業務処理用記憶媒体 | |
| JP2006201940A (ja) | 電子ファイリングシステム、制御方法 | |
| JP2007249596A (ja) | 一括起動方法および一括起動プログラム | |
| JPH0736655A (ja) | 画像情報処理装置 | |
| JPH064332A (ja) | 計算機システムの試験方法 | |
| JPH04253230A (ja) | 電子機器診断装置 |