JPH11289254A - アナログ−デジタル変換器のテスト装置及びその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アナログ‐デジタル変換器の柔軟性に富んだ
テスト。 【解決手段】 デジタル‐アナログ変換装置２６を含む
アナログ- デジタル変換器のテスト装置及び方法１０を
提供する。アナログ‐デジタル変換装置３２は、デジタ
ル‐アナログ変換装置２６によって生成される内部アナ
ログ入力信号３０を用いてテストされる。デジタル‐ア
ナログ変換装置２６は、プログラム可能なデータ・ラン
プ・コントローラ１４によって生成される内部デジタル
入力信号２４から内部アナログ入力信号３０を生成す
る。プログラム可能なデータ・ランプ・コントローラ１
４は、プログラム可能な分周回路１８によって定められ
る一定の周波数上で繰返される所定の開始及び停止電圧
値１６で高精度の内部デジタル入力信号２４を生成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は全般的に電子装置の
分野に関連し、更に詳細には、改良されたアナログ‐デ
ジタル変換器テスト装置及びその方法に関連する。

【０００２】

【従来の技術及びその課題】アナログ‐デジタル変換装
置は、アナログ信号を受け、その信号がデジタル・ドメ
インで処理され得るように、アナログ信号をデジタルの
信号表現に変換する。アナログ‐デジタル変換装置は非
常に普及しており、音声、音楽、又は常に変化する特性
から成る他の任意の信号をデジタル表現に変換するため
に用いられ、そのデジタル信号をデジタル・ドメインで
分析、処理、転送、又は操作することが可能となる。変
換されたアナログ信号は、その後、コンピュータシステ
ムにデジタルに記録されるか、モデムを介して転送され
るか、又は種々のソフトウェアで操作され得る。デジタ
ル信号はその後、種々の用途のためにアナログ信号に逆
変換され得る。アナログ‐デジタル変換装置は設計が難
しく、そのため、設計中にアナログ‐デジタル変換装置
をテストすることが重要である。アナログ‐デジタル変
換が不正確であると、結果として、そのアナログ信号の
デジタル表現が不十分になり、後に、そのデジタル信号
をアナログ信号に逆変換するときのデジタル信号のアナ
ログ表現が不十分になる。アナログ‐デジタル変換装置
のテストも、高価で、時間がかかり、大規模なサポート
・ハードウェアを用いる複雑なテスト技術を必要とす
る。更に、現在のアナログ‐デジタル変換器のテスト装
置は、信号ソース、信号周波数、及び信号の正確さなど
のパラメータに関し、非常に柔軟性に乏しい。アナログ
‐デジタル変換装置のテスト装置は、継続的な信号テス
ト、及び一層複雑な信号を用いるテストを必要とする。
入力信号は参照値として用いられるため、正確でなくて
はならない。更に、変換されたアナログ信号の出力分析
器は、能力及び容量の点で甚だしく多様である。

【０００３】

【課題を達成するための手段及び作用】従って、外部サ
ポート・ハードウェアを少ししか持たないアナログ‐デ
ジタル変換装置の線形性及びダイナミック・テストを提
供するアナログ‐デジタル変換器のテスト装置及び方法
が必要とされている。本発明の説明に従って、先行技術
の装置及び方法に関連する欠点及び問題点を実質的にな
くすか又は減らす、アナログ‐デジタル変換器のテスト
装置及び方法を提供する。本発明の１つの実施例に従
い、デジタル・ランプ信号の開始及び停止電圧値を、プ
ログラム可能なデータ・ランプ・コントローラへ入力す
るアドレス・レンジ制御回路を含むテスト装置を提供す
る。プログラム可能な分周回路は、プログラム可能なデ
ータ・ランプ・コントローラによって生成されるデジタ
ル電圧ランプの周波数を制御する。その後、プログラム
可能なデータ・ランプ・コントローラは、デジタル電圧
ランプ信号をデジタル‐アナログ変換装置へ転送し、正
確なアナログ信号を生成する。この信号を用い、高分解
能変換のためアナログ‐デジタル変換装置がテスト及び
分析され得る。

【０００４】

【実施例】本発明の利点は、添付の図面を参照すること
によって更によく理解され得る。図１は、プログラム可
能なデータ・ランプ・コントローラ１４に接続されるア
ドレス・レンジ制御回路１２を有する、アナログ‐デジ
タル変換器をテストする装置を示し、全体を１０で示
す。アドレス・レンジ制御回路１２は、デジタル電圧ラ
ンプの開始電圧及び停止電圧の２進値を割当てる。その
後、アドレス・レンジ制御回路１２は、これらの開始値
及び停止値１６を、プログラム可能なデータ・ランプ・
コントローラ１４へ送る。適するプログラム可能なデー
タ・ランプ・コントローラ１４は、パーツ・ナンバー７
４F１６３としてテキサス・インスツルメンツ社によっ
て製造されている。プログラム可能なデータ・ランプ・
コントローラ１４に同じく接続されるのは、プログラム
可能な分周回路１８である。プログラム可能な分周回路
１８は、分周クロック信号２０を、プログラム可能なデ
ータ・ランプ・コントローラ１４へ送ることによって、
電圧ランプが増加する際の周波数を制御する。プログラ
ム可能な分周回路１８は、オン・ボード・クロック２２
の周波数を所望の値で分周することによって、所望の分
周クロック信号２０を得る。適するプログラム可能な分
周回路は、パーツ・ナンバー７４ＨＣ４０４０としてテ
キサス・インスツルメンツ社によって製造されている。
このように、プログラム可能なデータ・ランプ・コント
ローラ１４によって生成されるデジタル電圧ランプのレ
ベル及び速度は、アドレス・レンジ制御回路１２から受
ける開始及び停止値１６と、プログラム可能な分周回路
１８から受ける分周クロック信号２０との関数である。

【０００５】その後、プログラム可能なデータ・ランプ
・コントローラ１４は、デジタル電圧ランプを内部デジ
タル入力信号２４の形式で、デジタル‐アナログ変換装
置２６へ送る。デジタル‐アナログ変換装置２６は、内
部デジタル入力信号２４を、デジタル入力の関数である
大きさを有するアナログ出力電圧に変換する。適するデ
ジタル‐アナログ変換装置は、パーツ・ナンバーＡＢ１
１３９としてアナログ・デバイセズ社によって製造され
ている。較正装置２８もデジタル‐アナログ変換装置２
６に接続され、デジタル- アナログ変換装置２６を較正
する。デジタル‐アナログ変換装置２６は、高分解能で
線形のデジタル電圧ランプから生成される、正確な内部
アナログ入力信号３０を提供することができる。内部ア
ナログ入力信号３０は、デジタル‐アナログ変換装置２
６から、テストされるアナログ‐デジタル変換装置３２
へ送られる。アナログ‐デジタル変換装置３２は、外部
又は内部クロック３４のいずれかの遷移毎に内部アナロ
グ入力信号３０を変換するように設定され得る。アナロ
グ‐デジタル変換装置３２は、内部アナログ入力信号３
０をデジタル形式に変換し、デジタル出力ワード３６を
先入れ先出しバッファ回路３８へ送る。デジタル出力ワ
ード３６は、テストされるアナログ‐デジタル変換装置
３２の分解能に従った幾つかのパラレル・データ・ビッ
トである。先入れ先出しバッファ回路３８は、デジタル
出力ワード３６を捕捉し蓄積する。先入れ先出しバッフ
ァ回路３８は、デジタル出力ワード４０を分析装置４２
へ送ることもできる。各クロック２２の入力に応答し
て、先入れ先出しバッファ回路３８の入力ポートでデジ
タル出力ワード３６が受け取られ蓄積される。受け取ら
れ蓄積された各デジタル出力ワード３６は、先入れ先出
しバッファ回路３８の出力ポートからデジタル出力ワー
ド３６が順に出力されるまで、各クロック２２に応答し
て、先入れ先出しバッファ回路３８内の隣接するメモリ
位置（ロケーション）に並列にシフトされる。従って、
先入れ先出しバッファ回路３８によって受け取られる第
１のデジタル出力ワード３６は、先入れ先出しバッファ
回路３８内の並列メモリ位置の全てがフルになると、分
析装置４２によって受け取られる最初のデジタル出力ワ
ード４０となり、分析装置４２はデジタル出力ワード４
０を受け、分析することが可能である。同じくアナログ
‐デジタル変換装置３２に接続されるのは、アナログ‐
デジタル変換アーキテクチャ選択回路４４である。アー
キテクチャ選択回路４４は、アナログ‐デジタル変換装
置３２から、アナログ‐デジタル変換をアナログ‐デジ
タル変換装置３２が完了したことを知らせる変換終了信
号４６を受ける。変換終了信号４６が受け取られる場
合、アーキテクチャ選択回路４４は、ロード・イネーブ
ル信号４８を先入れ先出しバッファ回路３８へ転送し、
デジタル出力ワード３６を捕捉し蓄積するよう先入れ先
出しバッファ回路３８に指示する。代わりに、変換終了
信号４６が供給されない場合、アーキテクチャ選択回路
４４は、外部クロック５０の遷移毎にロード・イネーブ
ル信号４８を先入れ先出しバッファ回路３８へ送るよう
に設定され得る。

【０００６】先入れ先出しバッファ回路３８に接続され
るのは、サンプル・レシオ選択回路５２である。サンプ
ル・レシオ選択回路５２は、サンプル・レシオ制御信号
５４を先入れ先出しバッファ回路３８へ送ることによっ
て、デジタル出力ワード３６が先入れ先出しバッファ回
路３８によって捕捉及び蓄積される速度を定める。サン
プル・レシオ選択回路５２は、分析装置４２がデジタル
出力ワード４０を受けて分析することが可能な速度を調
節するよう先入れ先出しバッファ回路３８の捕捉速度を
ユーザが設定できるようにする。このため、２５ MHzで
作動する分析装置４２、及び５０ MHzで生成されるデジ
タル出力ワード３６では、アナログ- デジタル変換装置
３２から１つおきのデジタル出力ワード３６を捕捉する
よう、サンプル・レシオ選択回路５２は２：１の値に設
定され得る。サンプル・レシオ選択回路５２及び先入れ
先出しバッファ回路３８の両方に接続されるのは、プロ
グラム可能な分周回路１８である。先入れ先出しバッフ
ァ回路３８がフルで、追加のデジタル出力ワード３６を
受けて蓄積することができないとき、先入れ先出しバッ
ファ回路３８からプログラム可能な分周回路１８へオー
バーフロー抑止信号５６が送られる。更に、分析回路４
２が追加のデジタル出力ワード４０を受けて蓄積するこ
とができない場合、先入れ先出しバッファ回路３８は、
分析回路４２から受ける分析装置抑止信号５８に応答し
て、プログラム可能な分周回路１８へオーバーフロー抑
止信号５６を送る。プログラム可能な分周回路１８は、
抑止信号６０をサンプル・レシオ選択回路５２へ、及び
抑止信号６２をプログラム可能なデータ・ランプ・コン
トローラ１４へ送ることによって応答する。抑止信号
は、分析装置４２が別のデジタル出力ワード４０を受け
て分析することができるまで、先入れ先出しバッファ回
路３８、及びプログラム可能なデータ・ランプ・コント
ローラ１４によってつくられる内部デジタル入力信号２
４を、保持パターンに配置するよう機能する。このよう
に、アナログ‐デジタル変換器テスト装置１０は、遅い
又は一定しない分析装置４２に応答して、同期して制御
され得る。

【０００７】従って、先入れ先出しバッファ回路３８
が、分析装置抑止信号５８に応答してオーバーフロー抑
止信号５６を送るとき、プログラム可能なデータ・ラン
プ・コントローラ１４は、デジタル電圧ランプを生成す
るために必要とされるデジタル電圧値を増加させない。
このため、プログラム可能なデータ・ランプ・コントロ
ーラ１４によってつくられる内部デジタル入力信号２４
は一定値のままである。内部デジタル入力信号２４がこ
の一定値のままである間、先入れ先出しバッファ回路３
８は、アナログ‐デジタル変換装置３２によって生成さ
れる全てのデジタル出力ワード３６を無視する。従っ
て、分析装置４２は、プログラム可能なデータ・ランプ
・コントローラ１４によって生成される、継続的に増加
することが認められかつ中断されないデジタル電圧ラン
プに対応するデジタル出力ワード４０を受ける。このよ
うに、分析装置４２は、内部デジタル信号２４が一定値
に保持された期間に対応するデジタル出力ワード４０を
受けないため、増加する内部デジタル入力信号２４に対
応する分析データの損失はない。本発明の別の実施例
は、アナログ- デジタル変換装置３２のダイナミック・
テストのための外部アナログ入力装置６４を提供する。
外部アナログ入力装置６４は、外部アナログ入力信号６
６をアナログ‐デジタル変換装置３２へ送る。アナログ
- デジタル変換装置３２は、外部アナログ入力信号６６
をデジタル形式に変換し、デジタル出力ワード３６を先
入れ先出しバッファ回路３８へ送る。その後、先入れ先
出しバッファ回路３８は、デジタル出力ワード４０を分
析装置４２へ送る。

【０００８】このように、上述の実施例に従って、アナ
ログ- デジタル変換器テスト装置１０は、アナログ‐デ
ジタル変換装置３２をテストするための代替の外部アナ
ログ入力信号６６を用いる柔軟性を提供する。本発明の
別の代替実施例において、外部デジタル入力装置６８が
提供される。外部デジタル入力装置６８は、デジタル・
データ・ワード生成器７０を含み、クロック７２によっ
て駆動される。外部デジタル入力装置６８は、外部デジ
タル入力信号７４をデジタル- アナログ変換装置２６へ
送る。デジタル‐アナログ変換装置２６は、外部デジタ
ル入力信号７４を、デジタル入力の関数である大きさを
有するアナログ出力電圧に変換し、内部アナログ入力信
号３０をアナログ‐デジタル変換装置３２へ送る。アナ
ログ‐デジタル変換装置３２は、内部アナログ入力信号
３０をデジタル形式に変換し、デジタル出力ワード３６
を先入れ先出しバッファ回路３８へ送る。その後、先入
れ先出しバッファ回路３８は、デジタル出力ワード４０
を分析装置４２へ送る。更にデータ・ワード生成器７０
に接続されているのは、プログラム可能な分周回路１８
である。上述のように、先入れ先出しバッファ回路３８
からのオーバーフロー抑止信号５６に応答して、プログ
ラム可能な分周回路１８は、抑止信号７６をデータ・ワ
ード生成器７０へ、抑止信号６０をサンプル・レシオ選
択回路５２へ送る。抑止信号は、分析装置４２が別のデ
ジタル出力ワード４０を受けて分析することができるま
で、先入れ先出しバッファ回路３８、及び外部デジタル
入力装置６８によってつくられる外部デジタル入力信号
７４を、保持パターンに配置するよう機能する。このよ
うに、アナログ‐デジタル変換器テスト装置１０は、遅
い又は一定しない分析装置４２に応答して同期制御され
る外部デジタル入力装置６８を用いることができる。従
って、本発明の装置及び方法は、柔軟性のあるアナログ
‐デジタル・テスト方法と少ない外部サポート・ハード
ウェアとの組合せを提供する。本発明は、３つの付加的
なテスト入力ソース；（１）外部アナログ入力装置６４
によってつくられる外部アナログ入力信号６６、（２）
外部デジタル入力装置６８によってつくられる外部デジ
タル入力信号７４、又は（３）内部デジタル入力信号２
４、を提供することによって、アナログ- デジタル変換
装置３２のテストに柔軟性を与える。

【０００９】従って、本発明の装置及び方法は、アナロ
グ‐デジタル変換装置３２をテストするため、分解能の
高い内部デジタル入力信号を用いることを提供する。デ
ジタル電圧ランプの開始及び停止電圧値を制御するため
にアドレス・レンジ制御回路１２を用いることによっ
て、正確なデジタル電圧ランプをつくることができる。
デジタル電圧ランプが開始電圧から停止電圧まで増加す
る際の周波数を制御するために、プログラム可能な分周
回路１８が用いられる。このため、プログラム可能なデ
ータ・ランプ・コントローラ１４は、電圧及び周波数制
御されたデジタル電圧ランプから、高い分解能の内部デ
ジタル入力信号２４を生成する。更に、本発明の装置及
び方法は、デジタル‐アナログ変換装置２６によって受
け取られるデジタル入力信号と、先入れ先出しバッファ
回路３８を制御することによって、遅い又は一定しない
分析装置４２に応答することを可能にする。デジタル‐
アナログ変換装置２６によって受け取られるデジタル入
力信号は、一定のデジタル電圧値のままであるように制
御され得、先入れ先出しバッファ回路３８は、分析装置
４２が追加のデータを受けて分析するまで、デジタル入
力信号がこの一定のデジタル電圧値にある間アナログ-
デジタル変換装置３２によってつくられる全てのデジタ
ル出力ワード３６を無視するように制御され得る。この
ように、分析装置４２は、デジタル入力信号が一定のデ
ジタル電圧値に保持される期間に対応するデジタル出力
ワード４０を受けないため、増加するデジタル入力信号
に対応する分析データの損失はない。本発明が詳細に説
明されたが、添付の特許請求の範囲によって定義される
本発明の範囲を逸脱することなく、本発明に開示した説
明に種々の変更、変形、及び代替が成され得ることを理
解されたい。

【００１０】以上の説明に関して更に次の項を開示す
る。 （１） アナログ‐デジタル変換器テスト装置であっ
て、テストされるアナログ‐デジタル変換器を受けるよ
う作動し得る入力と、アナログ‐デジタル変換器をテス
トするために用いられ得る内部アナログ信号を生成する
よう作動し得る内部アナログ信号生成器であって、内部
アナログ信号を生成するよう作動し得るデジタル‐アナ
ログ変換器、デジタル‐アナログ変換器に結合される内
部デジタル信号生成器、及びデジタル‐アナログ変換器
による変換のための外部デジタル信号を受けるよう作動
し得る入力を含む内部アナログ信号生成器と、アナログ
‐デジタル変換器を直接テストするために用いられ得る
外部アナログ信号を受けるよう作動し得る入力と、テス
トされるアナログ‐デジタル変換器からデジタル・ワー
ドを受けて蓄積するバッファと、バッファから分析装置
へデジタル・ワードを送る出力とを含むアナログ‐デジ
タル変換器テスト装置。 （２） 第１項に記載の装置であって、バッファに結合
され、テストされるアナログ‐デジタル変換器からデジ
タル・ワードをバッファが受けて蓄積する速度を定める
よう作動し得るサンプル・レシオ・コントローラと、バ
ッファ、サンプル・レシオ・コントローラ、及び内部デ
ジタル信号生成器に結合される分周コントローラとを更
に含み、分周コントローラは、内部デジタル信号生成器
によって生成される内部デジタル信号を一定のデジタル
電圧値に保つことができ、分周コントローラは更に、内
部デジタル信号が一定のデジタル電圧値に保たれる間、
テストされるアナログ‐デジタル変換器からデジタル・
ワードをバッファが受けて蓄積することを抑止するよう
作動し得る装置。 （３） 第２項に記載の装置であって、分周コントロー
ラは、外部デジタル信号を生成するよう作動し得る外部
デジタル信号生成器に更に結合され、分周コントローラ
は、外部デジタル信号を一定のデジタル電圧値に保つこ
とができ、分周コントローラは更に、外部デジタル信号
が一定のデジタル電圧値に保たれる間、テストされるア
ナログ‐デジタル変換器からデジタル・ワードをバッフ
ァが受けて蓄積することを抑止するよう作動し得る装
置。 （４） 第１項に記載の装置であって、内部デジタル信
号生成器は、内部デジタル信号を生成するよう作動し得
るデータ・ランプ・コントローラと、データ・ランプ・
コントローラに結合され、内部デジタル信号の一層高い
及び一層低いデジタル電圧値を指定するよう作動し得る
アドレス・コントローラと、データ・ランプ・コントロ
ーラに結合され、内部デジタル信号の周波数を指定する
よう作動し得る分周コントローラとを含む装置。

【００１１】（５） アナログ‐デジタル変換器テスト
装置であって、テストされるアナログ‐デジタル変換器
を受けるよう作動し得る入力と、アナログ‐デジタル変
換器をテストするために用いられ得る内部アナログ信号
を生成するよう作動し得る内部アナログ信号生成器であ
って、内部アナログ信号を生成するよう作動し得るデジ
タル‐アナログ変換器、及びデジタル‐アナログ変換器
に結合される内部デジタル信号生成器を含む内部アナロ
グ信号生成器と、テストされるアナログ‐デジタル変換
器からデジタル・ワードを受けて蓄積するバッファと、
バッファに結合され、テストされるアナログ‐デジタル
変換器からデジタル・ワードをバッファが受けて蓄積す
る速度を定めるよう作動し得るサンプル・レシオ・コン
トローラと、バッファ、サンプル・レシオ・コントロー
ラ、及び内部デジタル信号生成器に結合される分周コン
トローラであって、分周コントローラは、内部デジタル
信号生成器によって生成される内部デジタル信号を一定
値に保つことができ、分周コントローラは更に、内部デ
ジタル信号が一定値に保たれる間、テストされるアナロ
グ‐デジタル変換器からデジタル・ワードをバッファが
受けて蓄積することを抑止するよう作動し得る分周コン
トローラとを含むアナログ‐デジタル変換器テスト装
置。 （６） 第５項に記載の装置であって、内部アナログ信
号生成器は更に、デジタル‐アナログ変換器による変換
のための外部デジタル信号を受けるよう作動し得る入力
を含む装置。 （７） 第６項に記載の装置であって、内部デジタル信
号生成器は、内部デジタル信号を生成するよう作動し得
るデータ・ランプ・コントローラと、データ・ランプ・
コントローラに結合され、内部デジタル信号の一層高い
及び一層低いデジタル電圧値を指定するよう作動し得る
アドレス・コントローラとを含み、分周コントローラは
更に、データ・ランプ・コントローラに結合され、内部
デジタル信号の周波数を指定するよう作動し得る装置。

【００１２】（８） アナログ‐デジタル変換器テスト
装置であって、テストされるアナログ‐デジタル変換器
を受けるよう作動し得る入力と、アナログ‐デジタル変
換器をテストするために用いられ得る内部アナログ信号
を生成するよう作動し得る内部アナログ信号生成器であ
って、内部アナログ信号を生成するよう作動し得るデジ
タル‐アナログ変換器、デジタル‐アナログ変換器に結
合され、内部デジタル信号を生成するよう作動し得るデ
ータ・ランプ・コントローラ、データ・ランプ・コント
ローラに結合され、内部デジタル信号の一層高い及び一
層低いデジタル電圧値を指定するよう作動し得るアドレ
ス・コントローラ、データ・ランプ・コントローラに結
合され、内部デジタル信号の周波数を指定するよう作動
し得るデジタル・コントローラを含む内部アナログ信号
生成器と、テストされるアナログ‐デジタル変換器から
デジタル・ワードを受けて蓄積するバッファと、バッフ
ァから分析装置へデジタル・ワードを送る出力とを含む
アナログ‐デジタル変換器テスト装置。 （９） 第８項に記載の装置であって、バッファに結合
され、テストされるアナログ‐デジタル変換器からデジ
タル・ワードをバッファが受けて蓄積する速度を定める
よう作動し得るサンプル・レシオ・コントローラを更に
含み、分周コントローラは、バッファ及びサンプル・レ
シオ・コントローラに結合される分周コントローラに更
に結合され、分周コントローラは、内部デジタル信号生
成器によって生成される内部デジタル信号を一定値に保
つことができ、分周コントローラは更に、内部デジタル
信号が一定値に保たれる間、テストされるアナログ‐デ
ジタル変換器からデジタル・ワードをバッファが受けて
蓄積することを抑止するよう作動し得る装置。

【００１３】（１０） アナログ‐デジタル変換器をテ
ストする方法であって、テストされるアナログ‐デジタ
ル変換器を受けるよう作動し得る入力を提供し、アナロ
グ‐デジタル変換器をテストするために用いられ得る内
部アナログ信号を生成するよう作動し得る内部アナログ
信号生成器を提供し、内部アナログ信号生成器を提供す
る工程は、内部アナログ信号を生成するよう作動し得る
デジタル‐アナログ変換器を提供し、デジタル‐アナロ
グ変換器に結合される内部デジタル信号生成器を提供
し、更にデジタル‐アナログ変換器による変換のための
外部デジタル信号を受けるよう作動し得る入力を提供す
る工程を含み、アナログ‐デジタル変換器を直接テスト
するため用いられ得る外部アナログ信号を受けるよう作
動し得る入力を提供し、テストされるアナログ‐デジタ
ル変換器からデジタル・ワードを受けて蓄積するバッフ
ァを提供し、バッファから分析装置へデジタル・ワード
を送る出力を提供する工程を含む方法。

【００１４】（１１） デジタル‐アナログ変換装置２
６を含むアナログ‐デジタル変換器のテスト装置及び方
法１０を提供する。アナログ‐デジタル変換装置３２
は、デジタル- アナログ変換装置２６によって生成され
る内部アナログ入力信号３０を用いてテストされる。デ
ジタル‐アナログ変換装置２６は、プログラム可能なデ
ータ・ランプ・コントローラ１４によって生成される内
部デジタル入力信号２４から内部アナログ入力信号３０
を生成する。プログラム可能なデータ・ランプ・コント
ローラ１４は、プログラム可能な分周回路１８によって
定められる一定の周波数上で繰返される所定の開始及び
停止電圧値１６で高精度の内部デジタル入力信号２４を
生成する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の説明に従って構成されるテスト装置の
略ブロック図。

【符号の説明】

１４ プログラム可能なデータ・ランプ・コントローラ １６ 開始及び停止電圧値 １８ プログラム可能な分周回路 ２４ 内部デジタル入力信号 ２６ デジタル‐アナログ変換装置 ３０ 内部アナログ入力信号 ３２ アナログ‐デジタル変換装置

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 アナログ‐デジタル変換器テスト装置で
   あって、 テストされるアナログ‐デジタル変換器を受けるよう作
   動し得る入力と、 アナログ‐デジタル変換器をテストするために用いられ
   得る内部アナログ信号を生成するよう作動し得る内部ア
   ナログ信号生成器であって、 内部アナログ信号を生成するよう作動し得るデジタル‐
   アナログ変換器、 デジタル‐アナログ変換器に結合される内部デジタル信
   号生成器、及びデジタル‐アナログ変換器による変換の
   ための外部デジタル信号を受けるよう作動し得る入力を
   含む内部アナログ信号生成器と、 アナログ‐デジタル変換器を直接テストするために用い
   られ得る外部アナログ信号を受けるよう作動し得る入力
   と、 テストされるアナログ‐デジタル変換器からデジタル・
   ワードを受けて蓄積するバッファと、 バッファから分析装置へデジタル・ワードを送る出力と
   を含むアナログ‐デジタル変換器テスト装置。
2. 【請求項２】 アナログ‐デジタル変換器をテストする
   方法であって、 テストされるアナログ‐デジタル変換器を受けるよう作
   動し得る入力を提供し、 アナログ‐デジタル変換器をテストするために用いられ
   得る内部アナログ信号を生成するよう作動し得る内部ア
   ナログ信号生成器を提供し、内部アナログ信号生成器を
   提供する工程は、 内部アナログ信号を生成するよう作動し得るデジタル‐
   アナログ変換器を提供し、 デジタル‐アナログ変換器に結合される内部デジタル信
   号生成器を提供し、更にデジタル‐アナログ変換器によ
   る変換のための外部デジタル信号を受けるよう作動し得
   る入力を提供する工程を含み、 アナログ‐デジタル変換器を直接テストするため用いら
   れ得る外部アナログ信号を受けるよう作動し得る入力を
   提供し、 テストされるアナログ‐デジタル変換器からデジタル・
   ワードを受けて蓄積するバッファを提供し、 バッファから分析装置へデジタル・ワードを送る出力を
   提供する工程を含む方法。