JPH1128591A - テクスチャ加工装置 - Google Patents

テクスチャ加工装置

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JPH1128591A
JPH1128591A JP9195200A JP19520097A JPH1128591A JP H1128591 A JPH1128591 A JP H1128591A JP 9195200 A JP9195200 A JP 9195200A JP 19520097 A JP19520097 A JP 19520097A JP H1128591 A JPH1128591 A JP H1128591A
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disk
laser
light
optical system
texture processing
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JP9195200A
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Noriya Wada
憲也 和田
Hisayoshi Ichikawa
久賀 市川
Kazuto Kinoshita
和人 木下
Shinji Sugizaki
真二 杉崎
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/8404Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers manufacturing base layers
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ガラス製等のディスク表面にレーザを用いた
テクスチャ加工を行う際に、このディスク表面に形成さ
れるバンプ径を所望に調整できるようにする。 【構成】 CO2 レーザからなるレーザ光源1からのレ
ーザビームはパルス化されると共にガラス製のディスク
2に対してバンプを形成するのに最適なパワーとなるよ
うに調整された上で、入射面20aが平面で、出射面2
0bが円錐面となった第1のコーンレンズ20と、第2
のコーンレンズ21は入射面21aが円錐面で、出射面
21bが平面となった第2のコーンレンズ21はとから
なる輪帯開口ビームエキスパンダ6により所定の外径及
び内径に拡大した円環状ビームに変換し、かつ平行光束
化させた上で、対物光学系7によりディスク2の所定の
位置に照射される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス製等の磁気
ディスク基板の表面に、磁気ヘッドの浮上特性を良好に
するために、所定幅の円環状の領域に微小凹凸を形成す
るためのテクスチャ加工装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ等の外部記憶装置等として
用いられる磁気ディスク装置は、駆動手段としてのスピ
ンドルに磁気ディスク(以下、単にディスクという)を
装架させて、このディスク表面に形成された磁気記録膜
に磁気ヘッドで情報を書き込んだり、読み出したりする
ものである。ドライブ時には、スピンドルでディスクを
回転駆動すると共に、磁気ヘッドをディスクに非接触状
態で対面させる。一方、ディスクが静止状態にある時に
は、磁気ヘッドはディスクとは非接触状態に保持される
のではなく、ディスク表面の所定の位置に当接させる。
従って、情報の書き込みや読み出しを行うために、ディ
スクを回転駆動すると、まず静止状態にある磁気ヘッド
をディスク表面から浮上させて、回転によりディスク表
面に形成される層流の作用で磁気ヘッドをディスク表面
に対して、一定のギャップを形成した状態で対面させる
ようにする。磁気ヘッドの起動及び停止をこのようにし
て行う方式は接触起動停止(CSS)方式と呼ばれるも
のである。
【0003】以上のように、磁気ディスクをこのCSS
方式で駆動する場合には、ディスクには、その静止時に
磁気ヘッドが当接する領域、即ちCSS領域が形成され
る。従って、ディスクにはこのCSS領域と情報が書き
込まれるデータ領域とが形成され、CSS領域は、通
常、データ領域の内側に位置しており、磁気ヘッドが当
接するのに必要な所定の幅を有する円環状に形成され
る。ディスクの回転開始時におけるCSS領域からの磁
気ヘッドの浮上動作及びディスクの回転停止時に磁気ヘ
ッドがCSS領域に当接する動作がCSS動作であり、
このCSS動作において要求されるのは、ディスクの回
転開始に追従して円滑かつ迅速に磁気ヘッドが浮上し、
この磁気ヘッドがディスク表面にスティックしないよう
になし、またディスクの回転が停止する際には磁気ヘッ
ドはディスク表面を円滑に接触し、かつ停止までの間の
摩擦を極力抑制しなければならないということである。
【0004】以上のCSS動作を良好ならしめるため
に、ディスク表面のCSS領域には微小凹凸を形成する
と共に、この部位には潤滑剤が塗布される。このよう
に、CSS領域ではディスク表面に凹凸が存在すること
が必要になるが、磁気ヘッドが浮上して、データ領域に
移行した時には、磁気ヘッドの安定性を図るように、デ
ータ領域は平滑で、何等の突起も存在しないようにしな
ければならない。とりわけ、近年においては、情報記録
の高密度化等の観点から磁気ヘッドを極微少量浮上させ
る場合には、ディスクにおけるデータ領域の平滑度はよ
り高精度に確保すると共に、CSS領域における凹凸は
極めて微小にして均等に形成されていなければならな
い。しかもCSS領域の幅が必要以上大きくなると、そ
れだけデータ領域が狭くなるから、この幅寸法の管理も
厳格に行う必要がある。
【0005】このように、CSS領域に微小凹凸を形成
する処理がテクスチャ加工である。このCSS領域にお
けるテクスチャ加工は、例えば研磨材を研磨テープでデ
ィスク表面に当接させてその表面を研磨したり、またエ
ッチング等の化学的処理によっても行うことができる。
ただし、CSS領域はディスク表面のうちの極めて限定
され、厳格に幅寸法が管理された範囲であり、かつ凹凸
は微小で均一とすることから、研磨テープや化学的処理
によって限られた領域に正確に加工を行うのは極めて困
難であり、十分なテクスチャ加工精度が得られない。
【0006】近年においては、CSS領域のテクスチャ
加工として、レーザパルスを用いて行う方式が実用化さ
れている。このレーザパルスによるテクスチャ加工は、
レーザパルスをディスク表面に照射して、そのエネルギ
で局部的な加熱を行うことによりディスク表面近傍を溶
融乃至軟化させることにより凹凸を形成するようになさ
れる。そして、レーザパルスの照射により生じる凹凸の
1単位はバンプと呼ばれるものである。従って、所定の
幅で、均一な密度で所定の形状のバンプを形成するよう
にしなければならない。
【0007】レーザテクスチャ加工装置としては、レー
ザ光源と、このレーザ光源からのレーザビームをディス
クに照射するためのレーザパルス照射光学系とから構成
される。レーザ光源からのレーザパルスをレーザパルス
照射光学系で、所定のパワーで、所定のビーム径となる
ように集光させるようにしてディスク表面に照射する
が、ディスクを回転駆動しながら、レーザパルスを所定
の時間間隔をもって照射し、かつレーザパルスを打ち込
む位置をディスクの半径方向に移動させることにより、
ディスク表面のうちの限られたCSS領域に正確に、し
かも微小で均一な凹凸を形成できる。また、レーザパル
スの照射間隔と、ディスクの回転速度及びレーザパルス
の打ち込み位置の移動速度とを適宜設定すれば、形成さ
れる凹凸の密度等を調整することもできる。
【0008】ところで、磁気ディスクを構成する素材と
しては、アルミニウム等の金属板が従来から用いられて
いるが、近年においては、電気絶縁性を有する無機物か
らなるガラス製のディスクが開発・実用化されるに至っ
ている。ガラス製のディスクにあっては、透明乃至半透
明なものであり、かつ脆弱な部材である。従って、レー
ザビームの波長によっては、照射されたレーザパルスは
ディスク中を透過してしまい、このディスクにレーザの
エネルギを吸収させることができないことから、テクス
チャ加工を施せないことになる。
【0009】特開平4−311814号公報には、ガラ
ス製のディスクに対するレーザテクスチャに関する一方
式が提案されている。この公知のテクスチャ方式は、デ
ィスクの下部にバックプレートを配設し、レーザビーム
はディスクを透過させて、バックプレートに照射し、こ
のバックプレートにおけるレーザビーム照射領域で微細
粒子を溶融飛散させて、ディスクのバックプレートへの
対向面に衝突させるようになされる。このように、微細
粒子を衝突させると、この衝突部位が凹凸状に軟化変形
することになり、加工すべき表面が粗面、即ち凹凸が形
成される。
【0010】しかしながら、この公知技術のテクスチャ
加工方式では、バックプレートから飛散する微細粒子の
方向制御を厳格に行えないことから、テクスチャゾーン
を厳格に設定するのは極めて困難であり、しかも微細粒
子の飛散方向を厳格に制御できないことから、ディスク
への衝突時の角度等によりディスク表面に形成される凹
凸にばらつきが生じ、高精度なテクスチャ加工を行うの
は著しく困難である等といった問題点が生じる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ディスクを構成するガ
ラスに対して垂直な方向から光を照射しても、その光の
波長が約5μm以上であれば、光は透過せず、一部は反
射し、また一部はガラスに吸収される。そこで、波長が
5μmより大きい遠赤外線領域である10.6μmの発
振波長を有する炭酸ガスレーザ(CO2 レーザ)を用い
れば、このレーザ光源からのレーザビームはガラスを透
過せず、一部はガラス内に吸収される。従って、このエ
ネルギの吸収作用によりガラス表面を局部的に溶融乃至
軟化させ行う微小突起の形成は可能である。そして、C
2 レーザ光源を用いてテクスチャ加工を行う方式は、
特開平7−182655号公報に提案されている。この
加工方式は、CO2 レーザ光源から出力されるレーザパ
ルスをZnSe集光レンズでガラス面に集光させること
により、このガラス面に凹凸を形成するように構成して
いる。
【0012】ところで、テクスチャ加工により形成され
るバンプの形状は、CSS動作に極めて大きな影響を与
える。バンプは所定の直径と高さを有し、直径はバンプ
径、高さはバンプ高さと呼ばれるものであり、特にバン
プ径の制御は重要である。同じバンプ高さにおいて、バ
ンプ径が異なると、バンプの頂点部分の曲率が変化す
る。バンプの頂点部分は磁気ヘッドが直接接触する部位
であるから、その曲率によっては、CSS動作を円滑に
行われない場合もある。従って、所望のバンプ径を得る
ように制御できることは、テクスチャ加工の精度の向上
にとって極めて重要である。ところが、特開平7−18
2655号公報に提案されているテクスチャ加工装置に
あっては、バンプ径を制御する機構は備えておらず、発
振波長が10.6μmであるCO2 レーザを光源として
用いていることから、対物光学系で絞ったり、さらに絞
りを加えたりしても、せいぜい15〜20μm程度にし
かバンプ径を絞ることができない。このために、ディス
クと磁気ヘッドとの関係で、円滑なCSS動作を行わせ
るのに十分な程度、例えば10μm乃至それ以下にまで
バンプ径を絞ることができない場合もある。
【0013】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、ガラス製等のディス
ク表面にレーザを用いたテクスチャ加工を行う際に、こ
のディスク表面に形成されるバンプ径を所望に調整でき
るようにすることにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前述の目的を達成するた
めに、本発明は、ディスクを回転駆動する間に、レーザ
ビームパルスを半径方向に相対移動させながら照射する
ことにより、このディスク表面に所定の幅にわたってテ
クスチャ加工を行うために、レーザ光源と、このレーザ
光源から前記ディスクの表面にレーザパルスを照射する
レーザパルス照射用光学系とを備え、そのレーザパルス
照射用光学系は、レーザビームを所定の内径及び外径を
有する円環状ビームとした上で、この円環状ビームを平
行光束化するための輪帯開口ビームエキスパンダと、こ
の輪帯開口ビームエキスパンダにより平行光束化された
円環状ビームを前記ディスクの表面に集光させるための
対物光学系とを備える構成としたことをその特徴とする
ものである。
【0015】ここで、レーザ光源としては、ガラス製の
ディスクを用いる場合には、このガラスを透過しない波
長のレーザビームを出射するもの、例えばCO2 レーザ
を用いることができる。また、輪帯開口ビームエキスパ
ンダは、入射面側が平面で、出射面側が円錐面となった
第1のコーンレンズと、この第1のコーンレンズの円錐
面に対面し、入射面側が円錐面で、出射面側が平面とな
った第2のコーンレンズとから構成することができる。
そして、第1,第2のコーンレンズは、相互に近接・離
間する方向に位置調整可能とすると、対物光学系で集光
させた時のビーム径の調整を行うことができる。ディス
クには、所定の領域にテクスチャ加工を行うが、このた
めには対物光学系を輪帯開口ビームエキスパンダに対し
て光軸方向に移動可能な構成とするのが好ましい。特
に、対物光学系は、輪帯開口ビームエキスパンダから平
行光束化された円環状ビームの光路を90°曲げるミラ
ーと共にディスクの半径方向に移動可能な構成とする
と、光学系とディスクとの干渉を防ぎ、また種々の光学
部品をコンパクトに配置する上で有利である。輪帯開口
ビームエキスパンダでは、集光位置でのビーム径を制御
できるが、さらにビームパワーの制御も行うには、輪帯
開口ビームエキスパンダの入射側には、レーザ光源から
出射されたレーザビームのパワーを調整する調光手段を
設ける構成とすれば良い。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の一形態につ
いて、図面を参照して詳細に説明する。まず、図1にレ
ーザビームを用いたテクスチャ加工装置の基本的な光学
構成についての一例を示す。なお、本発明はこの図1に
示した光学構成に限定されるものではないことは言うま
でもない。
【0017】而して、図中において、1はレーザ光源、
2はこのレーザ光源1からのレーザビームによりテクス
チャ加工されるディスクである。ここで、ディスク2は
強化ガラス等のガラスで形成されており、円環状薄板か
らなるものである。このレーザ光源1はCO2 レーザか
らなり、パルス発振するものもあるが、連続発振するも
のであっても良い。ここで、CO2 レーザの発振波長は
遠赤外領域の10.6μmである。このレーザ光源1か
らレーザビームはレーザパルス照射用光学系を介してデ
ィスク2に照射される。まず、レーザビームはNDフィ
ルタ3を透過するようになっており、これによりレーザ
光量の調整が行われる。レーザ光源1からの連続波レー
ザビームは、パルス光発生器4によりパルス波に変換さ
れる。このパルス光発生器3は、通常は、AOM(音響
光学素子)や、EOM(電気光学素子)等の変調素子で
構成することができる。なお、レーザ光源1として、パ
ルス発振するタイプのものを使用することもでき、この
場合には、パルス発生器4を設ける必要はない。また、
レーザ光源1の光量等によってはNDフィルタ3も設け
なくとも良い。
【0018】パルス光発生器4で生成されたレーザパル
スは調光手段5により、そのパワーの調整が行われる。
ここで、ディスク2は脆弱部材であるガラスからなるも
のであるから、レーザ光源1から出射されるレーザパル
スのパワーをそのままの状態でディスクに照射すると、
その出力レベルによっては、脆弱なガラスが破損するお
それがあるから、このガラスが破損しないように保護す
るために、レーザパルスのパワーを減衰させる。また、
ディスク2に照射されるレーザのパワーはバンプ高さに
影響を与えることから、バンプ高さの制御するために
も、レーザパワーを適切な値となるまで減衰させる。さ
らに、出力パワーのレベルの一定化を図る必要もある。
調光手段5は以上の制御を行うためのものである。
【0019】そこで、図2に調光手段5の具体的な構成
を示す。なお、調光手段としては、これ以外にも、例え
ばAOMやEOM等の変調素子を用いて形成することも
できる。而して、図2から明らかなように、調光手段5
は、前後の両端面に入射口10a,出射口10bを形成
したハウジング10を有し、このハウジング10内に複
数枚の透光板11a〜11d(透光板を総称する場合に
は、符号11を用いる)が設けられている。透光板11
としては、10.6μmの波長を透過させるものからな
り、ゲルマニウム(Ge)の単結晶板やKCl板、Zn
Se(ジンクセレン)板等を用いることができ、特にZ
nSe板が好適に用いられる。
【0020】透光板11は2組用いられ、各組は1また
は2枚で構成される。透光板11を光軸に対して傾ける
と、入射光の一部が反射することになる結果、出力光の
パワーは反射した分だけ減衰させることができる。そし
て、透光板11に反射した光は、ハウジング10の内面
で吸収させるようにしており、このためにハウジング1
0の内面は反射防止措置、たとえば反射防止コーティン
グを施すか、表面そのものを粗面にする等の加工が施さ
れている。
【0021】図2では、2組それぞれ2枚の透光板11
が設けられており、これら4枚の透光板11は、入射口
10a側から順にそれぞれ11a,11b,11c,1
1dの符号が付されている。透光板11aと透光板11
bとは所定の間隔を置いて配置されており、同時に同じ
方向に傾けられるように、傾動軸12aに一体的に連結
されている。また、透光板11bと透光板11cとは、
透光板11aと透光板11bとの組の間隔と同じ間隔を
隔てて配置されており、傾動軸12bにより一体的に回
動されるものである。これら傾動軸12a,12bは同
期して反対方向に同じ角度だけ回動するものであり、そ
の回動駆動は、マニュアル操作で行うこともできるが、
駆動手段により自動的に回動させるように構成すること
もできる。特に、出力パワーの安定化を図るには、ステ
ッピングモータ等のように微細な調整が可能な駆動手段
で構成するのが好ましい。
【0022】以上のように、透光板11a,11bの組
と、透光板11c,11dの組と傾けることにより、入
射口10aから入射された光は、これら4枚の透光板1
1a〜11dを透過する間に一部が反射し、この反射比
率を制御することにより透過光量の制御を行うことがで
きる。また、2組を反対方向に同じ角度だけ傾けること
により、入射光の光路と出射光の光路との光軸が正確に
一致することになる。しかも、各透光板11a〜11d
からの2次反射光が出力光と干渉しないようにするため
に、これらの1面、例えば出射口10b側の面は所定角
度の傾斜を持たせた非平行平面板を用いている。
【0023】ここで、レーザ光源1から出射されるレー
ザ光は直線偏光成分の光であって、しかもその偏光方向
は一方向である。そして、調光手段5を構成する4枚の
透光板11a〜11dは、その傾き方向とレーザ光の偏
光面との関係で、図3に示した減衰特性が得られる。こ
の図の実線は、図4に示したレーザ光源1からのレーザ
ビームの偏向面Pと直交する回動軸A1 回りに透光板1
1を傾けた時の傾き角θに対する光の減衰率特性を示
し、また点線は、偏向面Pと平行な回動軸A2 回りに透
光板11を傾けた時における傾き角θに対する減衰率特
性を示す。従って、この減衰率特性を利用して、レーザ
光源1から出射されるレーザビームのパワーを大きく減
衰させたい時には、2組各2枚の透光板11a〜11d
を回動軸A1 を中心として傾けるように構成すれば良
く、またパワーを微細に制御するには、回動軸A2 を中
心として傾けるように構成すれば良い。
【0024】以上のことから、レーザ光源1から出射さ
れるレーザビームのパワーを大きく減衰させ、かつその
出力を微細に制御する場合には、調光手段5を2つ用
い、レーザ光源1側に位置させた第1段では透光板11
を回動軸A1 を中心として傾けるようになし、次いで第
2段で回動軸A2 を中心として透光板11を傾けるよう
にして調光する構成とするのが好ましい。また、第1段
の調光手段は、透光板に所定の傾き角を持たせた状態で
固定し、第2段の調光手段においては、より微細に出力
パワーを制御すると共に、出力の変動を防止するため
に、この第2段の調光手段の出力をサンプリングして、
フィードバック制御により第2段の調光手段における透
光板の傾き角を微調整するように構成することも可能に
なる。
【0025】図1の構成においては、調光手段5により
レーザビームのパワーを制御するようにしているが、こ
の出力パワーを微細に、しかも安定した状態に正確に制
御するために、ビームサンプラ13と、フォトディテク
タ14とからなる出力パワー検出機構を設けている。そ
して、この出力パワー検出機構からの信号に基づいて、
駆動手段により透光板11a〜11dをステッピングモ
ータ等の駆動手段で傾動駆動するようになし、もって出
力パワーを一定化させる制御部15とを設ける構成とし
ている。これによって、調光手段5からの出力パワーの
安定化が図られて、常に一定のパワーのレーザビームが
得られる。
【0026】以上のようにして、レーザ光源1からのレ
ーザビームはパルス化されると共にガラス製のディスク
2に対してバンプを形成するのに最適なパワーとなるよ
うに調整される。そして、このレーザビームはさらに輪
帯開口ビームエキスパンダ6により円環状ビームに変換
し、かつ平行光束化させた上で、対物光学系7によりデ
ィスク2の所定の位置に照射されることになる。
【0027】そこで、輪帯開口ビームエキスパンダ6の
構成を、図5に示す。この図から明らかなように、輪帯
開口ビームエキスパンダ6は2つのコーンレンズ20,
21から構成される。第1のコーンレンズ20は、その
入射面20aが平面で、出射面20bが円錐面となって
おり、これに対して第2のコーンレンズ21は入射面2
1aが円錐面であり、出射面21bが平面となってい
る。レーザビームの光路において、第1のコーンレンズ
20は第2のコーンレンズ21の前方側に配置される。
また、第2のコーンレンズ21の口径は、第1のコーン
レンズ20の口径より大きくなっている。このように構
成することによって、第1のコーンレンズ20の入射面
20aに平行光が入射されると、円錐面からなる出射面
20bから出射される際に円環状ビームとなり、この第
1のコーンレンズ20と第2のコーンレンズ21との間
の距離Dに応じて、この円環状ビームの内径及び外径が
拡大して行く。そして、第2のコーンレンズ21を透過
させることによって、平行光束化することになる。ここ
で、これら第1,第2のコーンレンズ20,21は、1
0.6μmの波長光を透過させる関係から、調光手段5
の透光板11と同様、ZnSeで形成する。また、対物
光学系7を構成するレンズも同様である。
【0028】以上のように、2枚のコーンレンズ20,
21からなる輪帯開口ビームエキスパンダ6を用い、か
つ図5に矢印で示したように、第2のコーンレンズ21
を第1のコーンレンズ20に対して近接・離間させる
等、2枚のコーンレンズ20,21間の距離Dを変化さ
せることによって、対物光学系7によりディスク2の表
面に集光させた時に、そのビーム径を任意に制御できる
ようになる。また、2枚のコーンレンズ20,21の頂
角を変えることによっても、同様に円環状ビームの内径
及び外径を変化させることができる。
【0029】対物光学系7を用いてレーザビームを所定
の位置に集光させるに当っては、対物光学系7への入射
光が図6(a)のようにガウシアンな光と、図6(b)
のように平行光束化した光とするのが一般的である。こ
れに対して、輪帯開口ビームエキスパンダ6を介する
と、図6(c)に示した円環状ビームとなって対物光学
系7に入射される。入射光が図6(a),(b),
(c)である場合において、対物光学系7により集光さ
せた光のビームパターンをそれぞれ図7(a),
(b),(c)に示す。図7(a)及び(b)のビーム
パターンと同図(c)のビームパターンとを比較する
と、ビーム径は図7(c)のものが最も小さくなること
が解る。ただし、図7(c)のビームパターンでは回折
光がかなり顕著に現れることになる。
【0030】一般に、レンズに光を入射した時に、中央
部に対して周辺部を通る光は空間周波数が高いことか
ら、従って空間周波数の高い成分のみを透過させるよう
に、輪帯開口ビームエキスパンダ6により対物光学系7
への入射光を円環状ビームとした時には、それだけビー
ム径を絞ることができる。特に、ビームエキスパンダで
ビームを拡径させた時に、一般のビームエキスパンダで
円形のビームとなるように拡径させた場合と、輪帯開口
ビームエキスパンダ6を用いて同じ外径の平行光束とな
るように拡径させた時に、内径を大きくすればするほど
空間周波数が高くなるから、対物光学系7で集光させた
時のビーム径はより小さくなる。
【0031】そこで、本発明者等は、一般的なビームエ
キスパンダを用いてビーム径を拡大すると共に平行光束
化させた光と、輪帯開口ビームエキスパンダ6を用いて
円環状ビームとした場合において、対物光学系の焦点付
近の光の振幅分布を確認した。その結果を図8に示す。
図8(a)は一般的なビームエキスパンダを用いた断面
が円形となったビームの場合を示し、同図(b)は円環
状ビームとなし、この円環状ビームの外径α′は(a)
と同じで、内径αの外径α′に対する比、α/α′=
0.6とした。同図(a),(b)における中心の位置
は幾何学的な焦点位置であり、上側に示した波形は光軸
と直角な面における光の振幅であり、右側に示したのは
光軸上での光の振幅である。これらの波形のうち、上側
の波形の振幅は焦点深度を表し、また右側の波形は集光
スポットの半径を表す。図8の(a)と(b)とを比較
すると明らかなように、(b)の方が(a)より焦点深
度が深く、またスポット径が小さいことが解る。
【0032】ただし、(b)の波形にあっては、回折に
よる影響が(a)より大きいが、レーザビームをガラス
に照射した時に、バンプを形成するのに寄与するのは、
レーザパワーのピーク近傍であるから、この回折はバン
プ形成に対して影響を及ぼすことはない。従って、バン
プ径は(b)の方が(a)より実質的に小さくなる。し
かも、バンプ径を決定する集光スポット径は、輪帯開口
ビームエキスパンダ6を構成する第1,第2のコーンレ
ンズ20,21間の距離Dを変化させることにより制御
できるから、ディスク2に形成されるバンプ径はこの輪
帯開口ビームエキスパンダ6により微細に制御できるこ
とになる。また、輪帯開口ビームエキスパンダ6を用い
ると、焦点深度も深くなることから、レーザパルス照射
用の光学系全体の組み付けも容易になる。
【0033】そこで、図9にレーザ光を用いたテクスチ
ャ加工装置の全体構成の一例を示す。図中において、3
0はレーザ光源、31は加工対象となるガラス製のディ
スクである。レーザ光源30は連続発振するCO2 レー
ザからなり、電磁シャッタ付きのものである。この電磁
シャッタを備えることによって、レーザ光源30からの
レーザビームの出射開始及び停止の制御を行えるように
なっている。
【0034】32はレーザ光源30からのレーザビーム
のパワーを調整するための第1の調光手段である。この
第1の調光手段32は、図2に示した調光手段5と同一
の構成である。レーザ光源30からのレーザビームは、
図4に示したレーザ光源1からのレーザビームの偏向面
Pと直交する回動軸A1 回りに透光板を傾けるようにし
たものであり、これによって図3の実線の制御特性が得
られる。従って、レーザビームのパワーをおおまかに制
御することができることになる。
【0035】第1の調光手段32によりパワーをほぼ所
望の値にまで減衰させたレーザビームは次にアイソレー
ション用ミラー33で反射させて、その光路を90°下
方に曲げるようにする。ここで、アイソレーション用ミ
ラー33はレーザ光源30から出射されたレーザビーム
の偏光方向に対してはほぼ100%反射させるが、この
偏光方向に対する90°の角度を持った偏光成分の光は
ほぼ完全に吸収するもので構成されている。従って、デ
ィスク31の表面から反射した戻り光の偏光方向を、後
述するように、偏光ミラー40で入射ビームに対して9
0°変えることによって、アイソレーション用ミラー3
3に入射された時に、ほぼ完全に吸収されて、レーザ光
源30側に戻るのを防止することができる。この結果、
レーザ光源30の出力が戻り光により変動するのを抑制
できるようになる。
【0036】アイソレーション用ミラー33で反射した
連続波レーザビームは、パルス波発生器34で所定のパ
ルス幅とパルス間隔を有するパルスに変換される。パル
ス波発生器34は、例えばAOM素子等で形成すること
ができ、このパルス波発生器34で変換されたパルス間
隔を適宜設定することにより、所定密度のバンプをディ
スク31の表面に形成することができる。
【0037】次に、35は第2の調光手段であって、こ
の第2の調光手段35は、第1の調光手段32と同様の
構成であるが、透光板の傾き方向は90°異なってい
る。これによって、図3の点線で示した減衰特性を発揮
させることができる。この図3の点線で示した減衰特性
は、なだらかな曲線であるから、制御性がより向上し、
レーザパワーを微細に制御できるようになる。前述した
第1の調光手段32は、その減衰特性を予め設定した固
定側のパワー制御手段であるのに対して、第2の調光手
段35は可変のパワー制御手段として構成される。ま
た、この第2の調光手段35による制御は、この第2の
調光手段35の出力パワーを検出して、出力パワーに変
動があると、透光板の角度を調整することにより出力パ
ワーを一定化させるためのものでもある。このために、
第2の調光手段35の出力側にはビームサンプラ36が
設けられており、このビームサンプラ36により出力レ
ーザビームを約8%程度反射させることによりサンプリ
ングを行い、この反射光をハイパワーディテクタ37で
検出するようにしている。このハイパワーディテクタ3
7で検出レベルが変動するとその偏差分に応じて第2の
調光手段35の透光板の傾斜角が図示しないステッピン
グモータ等の駆動手段で制御されるようになっている。
【0038】以上のようにして、所定のパワーとなるよ
うに調整されたレーザパルスは輪帯開口ビームエキスパ
ンダ38により円環状ビームに変換すると共に平行光束
化される。この輪帯開口ビームエキスパンダ38の具体
的な構成及び機能については、既に説明したので割愛す
るが、この輪帯開口ビームエキスパンダ38は、加工対
象となるディスク31に形成されるバンプ径を制御する
ためのものであるから、必要なバンプ径が得られるよう
に、2枚からなるコーンレンズの円錐の頂角及び間隔を
設定しておくようにする。
【0039】輪帯開口ビームエキスパンダ38からの円
環状ビームは対物光学系ユニット39に取り込まれる。
ここで、対物光学系ユニット39は、偏光ミラー40と
対物光学系41とから構成されるが、この対物光学系ユ
ニット39は光軸方向に移動可能となっている。このよ
うに、対物光学系ユニット39を矢印で示したように、
光軸方向に移動させることによって、レーザパルスのデ
ィスク31への照射位置を半径方向に変えることがで
き、ディスク31の内周側に所定の幅を有するCSS領
域が円環状に形成されることになる。そして、輪帯開口
ビームエキスパンダ38からの出力光は平行光束化され
ていることから、対物光学系41と輪帯開口ビームエキ
スパンダ38との間隔が変化しても、前側焦点位置がず
れるおそれはない。
【0040】対物光学系ユニット39に設けた偏光ミラ
ー40は、光路を90°折り返すようになっており、こ
れにより光学構成をコンパクトに配置できるようにな
る。しかも、偏光ミラー40は、ディスク31の表面で
反射した戻り光の偏光方向を入射光の偏光方向に対して
90°の角度となるように偏光するようになっており、
これにより戻り光をアイソレーションミラー33に吸収
させることができることになる。
【0041】対物光学系41はオートフォーカス機構付
きのものである。ここで、輪帯開口ビームエキスパンダ
38により円環状ビームとすることによって、焦点深度
が深くなることから、対物光学系41によるディスク3
1へのレーザパルスの集光をより正確に行えることにな
る。また、たとえ、テクスチャ加工開始時や加工中で対
物光学系ユニット41とディスク31との間隔が多少ず
れても、このオートフォーカス機構により補正できるこ
とから、レーザパルスをディスク31の表面上に最も小
さいスポット径となるように確実に集光できるようにな
る。
【0042】以上の構成を有するテクスチャ加工装置を
用いることによって、レーザ光源30からのレーザビー
ムを、パルス波に変換すると共に、そのパワーを調整
し、かつビームパターンを制御した上で、対物光学系4
1でディスク31に集光させることによって、このディ
スク31のCSS領域に所望の微小凹凸を形成するテク
スチャ加工が行われる。ここで、ディスク31はスピン
ドルに装架させて、このスピンドルによりディスク31
を回転駆動し、かつ対物光学系ユニット39をディスク
31の半径方向に移動させる間にレーザパルスを順次デ
ィスク31の表面に照射することにより、所望の密度と
なるようにテクスチャ加工を行うことができる。そし
て、レーザ光源30における電磁シャッタの開閉による
テクスチャ開始位置及び終了位置を制御できることか
ら、限定されたCSS領域の幅寸法を正確に制御でき、
高精度で正確なテクスチャ加工を行うことができる。
【0043】ここで、テクスチャ加工による微小凹凸の
1単位であるバンプは、用いられるレーザ光源やレーザ
パルス照射光学系、さらにはディスクの材質等により形
状が異なる。ここで、テクスチャ加工の精度としては、
均一なバンプ形状が得られることと、バンプの密度が均
一になること等により決定される。磁気ヘッドの構造や
材質等との関係で、そのCSS動作の円滑性,迅速性を
確保する上で、突起の頂点の曲率が極めて重要な要素と
なる。この曲率を制御するには、対物光学系41による
集光位置でのレーザパルスのビーム径の制御が必要にな
るが、輪帯開口ビームエキスパンダ38を用いることに
よって、レーザ光源の発振波長に制約を受けずにビーム
径が制御できるということは、磁気ディスク装置にディ
スク31を組み込んでドライブする際に、当該の磁気デ
ィスク装置の磁気ヘッドにとって最適のCSS動作特性
を発揮できるバンプ形状のテクスチャ加工を施すことが
できるようになる。
【0044】而して、本実施の形態におけるテクスチャ
加工装置にあっては、所定の出力特性を有するレーザ光
源30を用いるが、2つの調光手段32,35によりレ
ーザパワーを微細に調整することができ、またパルス波
発生器34により所望のパルスを生成できるだけでな
く、さらに対物光学系41による集光位置でのビーム径
は輪帯開口ビームエキスパンダ38により微細に調整で
きることは、極めて精度の高いテクスチャ加工を行える
ことになる。
【0045】なお、前述した実施の形態において、ディ
スクの片面にテクスチャ加工を行うように構成したもの
を示したが、例えばアイソレーション用ミラー33に代
えてビームスプリッタを設けるか、またはレーザパルス
の光路のいずれかの位置、例えばビームサンプラ36と
輪帯開口ビームエキスパンダ38との間の位置等にビー
ムスプリッタを設けて、レーザビームを2つに分割して
ディスク31の表裏両面に対物光学系ユニットを配置す
るように構成すれば、表裏両面を同時にテクスチャ加工
することができる。また、ディスク31は水平状態に保
持しても良いが、ディスク31を垂直状態に配置した状
態でテクスチャ加工を行えば、このディスク31の表面
に異物等が付着するおそれはない。特に、ディスク31
をクリーンエアのダウンフロー中に配置すれば、加工中
におけるディスク31への異物の付着はほぼ完全に防ぐ
ことができる。また、テクスチャ加工はディスクを枚葉
処理するものであるから、このテクスチャ加工の後段に
例えばスクラブ洗浄等を行う洗浄装置を付設すれば、テ
クスチャ加工から加工後の洗浄まで一貫して行うことが
できるようになる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ガラス
製等のディスクの限られた領域にレーザ光を用いたテク
スチャ加工を行うに当って、対物光学系によりディスク
表面にレーザビームを集光させる際に、輪帯開口ビーム
スプリッタで円環状ビームとする構成としたので、ディ
スク表面に形成されるバンプ径を所望に調整できる等の
効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のテクスチャ加工装置について、その実
施の一形態の光学構成を示す構成説明図である。
【図2】調光手段の構成説明図である。
【図3】調光手段における透光板の傾き方向におけるレ
ーザパワーの減衰特性を示す線図である。
【図4】透光板とレーザパワーの減衰特性との関係を示
す説明図である。
【図5】輪帯開口ビームエキスパンダの構成説明図であ
る。
【図6】対物光学系への入射光の種々のビームパターン
を示す説明図である。
【図7】図6の各ビームパターンを対物光学系に入射し
た時における集光位置でのビームパターンを示す説明図
である。
【図8】通常のビームエキスパンダを用いた場合と、輪
帯開口ビームエキスパンダを用いた場合とでの、対物光
学系による集光位置及びその近傍での光の振幅分布を示
す説明図である。
【図9】本発明の実施の形態によるテクスチャ加工装置
の具体的な光学構成を示す構成説明図である。
【符号の説明】
1,30 レーザ光源 2,31
ディスク 4,34 パルス波発生器 5,32,
35 調光手段 6,38 輪帯開口ビームエキスパンダ 7,41
対物光学系 10 ハウジング 11,11
a〜11d 透光板 13,36 ビームサンプラ 14 フォ
トディテクタ 20,21 コーンレンズ 33 アイ
ソレーション用ミラー 39 対物光学系ユニット 40 偏光
ミラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉崎 真二 東京都渋谷区東3丁目16番3号 日立電子 エンジニアリング株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスクを回転駆動する間に、レーザビ
    ームパルスを半径方向に相対移動させながら照射するこ
    とにより、このディスク表面に所定の幅にわたってテク
    スチャ加工を行うために、レーザ光源と、このレーザ光
    源から前記ディスクの表面にレーザパルスを照射するレ
    ーザパルス照射用光学系とを備えたものにおいて、 前記レーザパルス照射用光学系は、 レーザビームを所定の内径及び外径を有する円環状ビー
    ムとした上で、この円環状ビームを平行光束化するため
    の輪帯開口ビームエキスパンダと、 この輪帯開口ビームエキスパンダにより平行光束化され
    た円環状ビームを前記ディスクの表面に集光させるため
    の対物光学系とを備える構成としたことを特徴とするテ
    クスチャ加工装置。
  2. 【請求項2】 前記レーザ光源はCO2 レーザであるこ
    とを特徴とする請求項1記載のテクスチャ加工装置。
  3. 【請求項3】 前記輪帯開口ビームエキスパンダは、入
    射面側が平面で、出射面側が円錐面となった第1のコー
    ンレンズと、この第1のコーンレンズの円錐面に対面
    し、入射面側が円錐面で、出射面側が平面となった第2
    のコーンレンズとから構成したことを特徴とする請求項
    1記載のテクスチャ加工装置。
  4. 【請求項4】 前記第1,第2のコーンレンズは、相互
    に近接・離間する方向に位置調整可能なものであること
    を特徴とする請求項3記載のテクスチャ加工装置。
  5. 【請求項5】 前記対物光学系は、前記輪帯開口ビーム
    エキスパンダに対して光軸方向に移動可能な構成とした
    ことを特徴とする請求項1記載のテクスチャ加工装置。
  6. 【請求項6】 前記対物光学系は、前記輪帯開口ビーム
    エキスパンダから平行光束化された円環状ビームの光路
    を90°曲げるミラーと共に前記ディスクの半径方向に
    移動可能な構成としたことを特徴とする請求項5記載の
    テクスチャ加工装置。
  7. 【請求項7】 前記輪帯開口ビームエキスパンダの入射
    側には、前記レーザ光源から出射されたレーザビームの
    パワーを調整する調光手段を設ける構成としたことを特
    徴とする請求項1記載のテクスチャ加工装置。
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