JPH11271830A - ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラ - Google Patents
ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラInfo
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- JPH11271830A JPH11271830A JP10075133A JP7513398A JPH11271830A JP H11271830 A JPH11271830 A JP H11271830A JP 10075133 A JP10075133 A JP 10075133A JP 7513398 A JP7513398 A JP 7513398A JP H11271830 A JPH11271830 A JP H11271830A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ブレを正確に検出して補正することができる
ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラを提供
する。 【解決手段】 加速度センサ１は、例えば、ピエゾ抵抗
型半導体加速度センサであり、その検出可能な周波数領
域内に共振周波数が存在する。ＢＥＦ（帯域遮断フィル
タ）７は、加速度センサ１の共振周波数近傍の周波数領
域に、中心周波数が設定されている。ＢＥＦ７は、共振
周波数近傍の周波数領域を、加速度センサ１の出力信号
から除去する。その結果、ブレを正確に検出することが
できる。ＣＰＵ８は、共振周波数近傍の周波数領域を遮
断した後の信号に基づいて、ＶＣＭ（ボイスコイルモー
タ）を駆動制御する。その結果、ブレを正確に補正する
ことができる。
ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラを提供
する。 【解決手段】 加速度センサ１は、例えば、ピエゾ抵抗
型半導体加速度センサであり、その検出可能な周波数領
域内に共振周波数が存在する。ＢＥＦ（帯域遮断フィル
タ）７は、加速度センサ１の共振周波数近傍の周波数領
域に、中心周波数が設定されている。ＢＥＦ７は、共振
周波数近傍の周波数領域を、加速度センサ１の出力信号
から除去する。その結果、ブレを正確に検出することが
できる。ＣＰＵ８は、共振周波数近傍の周波数領域を遮
断した後の信号に基づいて、ＶＣＭ（ボイスコイルモー
タ）を駆動制御する。その結果、ブレを正確に補正する
ことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラなどの撮影
装置に生ずる手ブレなどのブレを検出して補正するブレ
検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラに関するも
のである。
装置に生ずる手ブレなどのブレを検出して補正するブレ
検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラに関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、ピエゾ抵抗式、静電容量式、
圧電式などの種々の半導体加速度センサが存在する。こ
れらの半導体加速度センサは、いずれも重りに加わる力
を加速度として認識して出力することで振動を検出して
いる。以下では、ピエゾ抵抗型半導体加速度センサを例
に挙げて説明する。
圧電式などの種々の半導体加速度センサが存在する。こ
れらの半導体加速度センサは、いずれも重りに加わる力
を加速度として認識して出力することで振動を検出して
いる。以下では、ピエゾ抵抗型半導体加速度センサを例
に挙げて説明する。
【０００３】図９は、ピエゾ型半導体加速度センサの構
造を概略的に示す図である。図１０は、ピエゾ型半導体
加速度センサのセンサ回路を示す回路図である。図１１
は、ピエゾ型半導体加速度センサに加速度が加わった状
態を示す図である。ここで、図９（Ａ）は、ピエゾ型半
導体加速度センサの平面図であり、図９（Ｂ）は、ピエ
ゾ型半導体加速度センサの断面図である。図１０（Ａ）
は、Ｘ軸方向又はＹ軸方向のセンサ回路を示し、図１０
（Ｂ）は、Ｚ軸方向のセンサ回路を示す。図１１（Ａ）
は、Ｘ軸方向又はＹ軸方向に加速度が印加した状態を示
す図であり、図１１（Ｂ）は、Ｚ軸方向に加速度が印加
した状態を示す図である。
造を概略的に示す図である。図１０は、ピエゾ型半導体
加速度センサのセンサ回路を示す回路図である。図１１
は、ピエゾ型半導体加速度センサに加速度が加わった状
態を示す図である。ここで、図９（Ａ）は、ピエゾ型半
導体加速度センサの平面図であり、図９（Ｂ）は、ピエ
ゾ型半導体加速度センサの断面図である。図１０（Ａ）
は、Ｘ軸方向又はＹ軸方向のセンサ回路を示し、図１０
（Ｂ）は、Ｚ軸方向のセンサ回路を示す。図１１（Ａ）
は、Ｘ軸方向又はＹ軸方向に加速度が印加した状態を示
す図であり、図１１（Ｂ）は、Ｚ軸方向に加速度が印加
した状態を示す図である。
【０００４】加速度センサ１００は、加速度を検出する
センサである。加速度センサ１００は、図９に示すよう
に、加速度を受けて移動する重り１０１と、台座となる
固定部１０２と、この重り１０１を一端で支持し、固定
部１０２に他端を固定して、重り１０１と固定部１０２
とをつなぐはり部１０３などからなるピエゾ型半導体加
速度センサである。はり部１０３は、ダイアフラムの薄
い膜からなり、このダイアフラムに、Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ
軸の計３軸分で合計１２個のピエゾ抵抗体を形成してい
る。
センサである。加速度センサ１００は、図９に示すよう
に、加速度を受けて移動する重り１０１と、台座となる
固定部１０２と、この重り１０１を一端で支持し、固定
部１０２に他端を固定して、重り１０１と固定部１０２
とをつなぐはり部１０３などからなるピエゾ型半導体加
速度センサである。はり部１０３は、ダイアフラムの薄
い膜からなり、このダイアフラムに、Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ
軸の計３軸分で合計１２個のピエゾ抵抗体を形成してい
る。
【０００５】ピエゾ抵抗体ＲX ，ＲY ，ＲZ は、重り１
０１が慣性力によって変位し、ダイアフラムが撓むこと
による機械的な変位を、ピエゾ抵抗体の抵抗値の変化と
いう電気的な変化に変換する機械−電気変換素子であ
る。ピエゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，ＲX4は、Ｘ軸方向
の加速度を検出するものであり、ピエゾ抵抗体ＲY1，Ｒ
Y2，ＲY3，ＲY4は、Ｙ軸方向の加速度を検出するもので
あり、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，ＲZ4は、Ｚ軸方
向の加速度を検出するものである。図１０に示すよう
に、加速度センサ１００のセンサ回路は、それぞれピエ
ゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，ＲX4、ピエゾ抵抗体ＲY1，
ＲY2，ＲY3，ＲY4、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，Ｒ
Z4からなる合計３組のホイートストンブリッジ回路を構
成している。
０１が慣性力によって変位し、ダイアフラムが撓むこと
による機械的な変位を、ピエゾ抵抗体の抵抗値の変化と
いう電気的な変化に変換する機械−電気変換素子であ
る。ピエゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，ＲX4は、Ｘ軸方向
の加速度を検出するものであり、ピエゾ抵抗体ＲY1，Ｒ
Y2，ＲY3，ＲY4は、Ｙ軸方向の加速度を検出するもので
あり、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，ＲZ4は、Ｚ軸方
向の加速度を検出するものである。図１０に示すよう
に、加速度センサ１００のセンサ回路は、それぞれピエ
ゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，ＲX4、ピエゾ抵抗体ＲY1，
ＲY2，ＲY3，ＲY4、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，Ｒ
Z4からなる合計３組のホイートストンブリッジ回路を構
成している。
【０００６】図１１（Ａ）に示すように、Ｙ軸方向の加
速度が重り１０１に加わると、重り１０１が移動して、
ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY2，ＲY3，ＲY4に引っ張り応力又
は圧縮応力が加わる。ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY3は、引っ
張り応力が加わるために、抵抗値が増加し、ピエゾ抵抗
体ＲY2，ＲY4は、圧縮応力が加わるために、抵抗値が減
少する。このように、抵抗値の変化量は、重り１０１に
加わった加速度に比例するために、図１０（Ａ）に示す
ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY2，ＲY3，ＲY4からなるホイート
ストンブリッジ回路の出力を読み取って、Ｙ軸方向の加
速度を演算することができる。Ｘ軸方向の加速度につい
ても、同様に演算することができる。なお、図１１
（Ｂ）に示すように、Ｚ軸方向の加速度が重り１０１に
加わったときには、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の加速度が重
り１０１に加わったときと重り１０１の動きが異なる。
このために、図１０（Ｂ）に示すように、ホイートスト
ンブリッジ回路は、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，Ｒ
Z4の配列が、図１０（Ａ）に示すホイートストンブリッ
ジ回路と異なる。また、Ｚ軸方向の動的な特性は、Ｘ軸
方向及びＹ軸方向の特性と異なる特性を示す。
速度が重り１０１に加わると、重り１０１が移動して、
ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY2，ＲY3，ＲY4に引っ張り応力又
は圧縮応力が加わる。ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY3は、引っ
張り応力が加わるために、抵抗値が増加し、ピエゾ抵抗
体ＲY2，ＲY4は、圧縮応力が加わるために、抵抗値が減
少する。このように、抵抗値の変化量は、重り１０１に
加わった加速度に比例するために、図１０（Ａ）に示す
ピエゾ抵抗体ＲY1，ＲY2，ＲY3，ＲY4からなるホイート
ストンブリッジ回路の出力を読み取って、Ｙ軸方向の加
速度を演算することができる。Ｘ軸方向の加速度につい
ても、同様に演算することができる。なお、図１１
（Ｂ）に示すように、Ｚ軸方向の加速度が重り１０１に
加わったときには、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の加速度が重
り１０１に加わったときと重り１０１の動きが異なる。
このために、図１０（Ｂ）に示すように、ホイートスト
ンブリッジ回路は、ピエゾ抵抗体ＲZ1，ＲZ2，ＲZ3，Ｒ
Z4の配列が、図１０（Ａ）に示すホイートストンブリッ
ジ回路と異なる。また、Ｚ軸方向の動的な特性は、Ｘ軸
方向及びＹ軸方向の特性と異なる特性を示す。
【０００７】図１２は、従来のブレ検出装置における検
出回路のブロック図である。以下では、加速度センサ１
００の１軸方向の検出回路について説明する。センサ駆
動回路２００は、加速度センサ１００を作動させるため
の回路である。センサ駆動回路２００は、センサドライ
ブ段によって加速度センサ１００を定電圧駆動又は定電
流駆動する。
出回路のブロック図である。以下では、加速度センサ１
００の１軸方向の検出回路について説明する。センサ駆
動回路２００は、加速度センサ１００を作動させるため
の回路である。センサ駆動回路２００は、センサドライ
ブ段によって加速度センサ１００を定電圧駆動又は定電
流駆動する。
【０００８】増幅部３００は、加速度センサ１００の出
力信号を増幅するものである。増幅部３００は、加速度
センサ１００の出力信号が、図１０に示すように、ホイ
ートストンブリッジ回路からの出力信号であるために、
差動増幅回路によってこの出力信号を増幅する。増幅部
３００は、重力成分による重り１０１の姿勢変化を検出
するために、ＤＣ結合回路である。増幅部３００は、増
幅した信号を低域通過フィルタ（以下、ＬＰＦという）
５００に出力する。
力信号を増幅するものである。増幅部３００は、加速度
センサ１００の出力信号が、図１０に示すように、ホイ
ートストンブリッジ回路からの出力信号であるために、
差動増幅回路によってこの出力信号を増幅する。増幅部
３００は、重力成分による重り１０１の姿勢変化を検出
するために、ＤＣ結合回路である。増幅部３００は、増
幅した信号を低域通過フィルタ（以下、ＬＰＦという）
５００に出力する。
【０００９】オフセット調整部４００は、増幅部３００
のオフセット電圧を調整するものである。オフセット調
整部４００は、増幅部３００が直流増幅回路であるため
に、オフセット調整機構によってオフセット調整を行
う。
のオフセット電圧を調整するものである。オフセット調
整部４００は、増幅部３００が直流増幅回路であるため
に、オフセット調整機構によってオフセット調整を行
う。
【００１０】ＬＰＦ５００は、Ａ／Ｄ変換時の折り返し
誤差を低減するためのアンチエリアスフィルタである。
ＬＰＦ５００は、高周波数成分を除去した後の信号を、
Ａ／Ｄ変換器６００に出力する。Ａ／Ｄ変換器６００
は、ＬＰＦ５００の出力信号（アナログ信号）をディジ
タル信号に変換する。
誤差を低減するためのアンチエリアスフィルタである。
ＬＰＦ５００は、高周波数成分を除去した後の信号を、
Ａ／Ｄ変換器６００に出力する。Ａ／Ｄ変換器６００
は、ＬＰＦ５００の出力信号（アナログ信号）をディジ
タル信号に変換する。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】図１３は、ピエゾ型半
導体加速度センサにＸ軸方向又はＹ軸方向の加速度が印
加したときの周波数特性及び位相特性を示す図である。
図１４は、ピエゾ型半導体加速度センサにＺ軸方向の加
速度が印加したときの周波数特性及び位相特性を示す図
である。図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）において、縦軸
はゲインであり、横軸は加振周波数であり、図１３
（Ｂ）及び図１４（Ｂ）において、縦軸は位相であり、
横軸は加振周波数である。
導体加速度センサにＸ軸方向又はＹ軸方向の加速度が印
加したときの周波数特性及び位相特性を示す図である。
図１４は、ピエゾ型半導体加速度センサにＺ軸方向の加
速度が印加したときの周波数特性及び位相特性を示す図
である。図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）において、縦軸
はゲインであり、横軸は加振周波数であり、図１３
（Ｂ）及び図１４（Ｂ）において、縦軸は位相であり、
横軸は加振周波数である。
【００１２】カメラなどの手ブレは、１Ｈｚ〜数１０Ｈ
ｚ付近であり、加速度センサの共振周波数（共振点）
は、それよりも高い数１００Ｈｚ〜数ｋＨｚ付近に存在
する。図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）に示すように、一
般に、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の共振周波数は、Ｚ軸方向
の共振周波数よりも低い。また、通過帯域におけるゲイ
ン（感度）も、Ｘ軸方向及びＹ軸方向のほうがＺ軸方向
よりも大きい。加速度センサ１００は、図９及び図１１
に示すように、機械的な構造であるために、機械的な共
振周波数が存在し、図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）に示
すように、共振周波数近傍の周波数領域では、ゲインが
かなり大きくなっている。加速度センサの共振周波数
は、角速度を検出する角速度センサなどの共振周波数に
比べて、手ブレによる周波数領域側に近づいている。そ
して、この共振周波数近傍の周波数領域は、カメラのシ
ャッタ駆動などにより生ずる機械的な振動の周波数と重
なるために、共振が発生する可能性がある。このため
に、手ブレによる出力信号よりも、共振による出力信号
が大きいときには、加速度を正確に検出できない可能性
がある。
ｚ付近であり、加速度センサの共振周波数（共振点）
は、それよりも高い数１００Ｈｚ〜数ｋＨｚ付近に存在
する。図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）に示すように、一
般に、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の共振周波数は、Ｚ軸方向
の共振周波数よりも低い。また、通過帯域におけるゲイ
ン（感度）も、Ｘ軸方向及びＹ軸方向のほうがＺ軸方向
よりも大きい。加速度センサ１００は、図９及び図１１
に示すように、機械的な構造であるために、機械的な共
振周波数が存在し、図１３（Ａ）及び図１４（Ａ）に示
すように、共振周波数近傍の周波数領域では、ゲインが
かなり大きくなっている。加速度センサの共振周波数
は、角速度を検出する角速度センサなどの共振周波数に
比べて、手ブレによる周波数領域側に近づいている。そ
して、この共振周波数近傍の周波数領域は、カメラのシ
ャッタ駆動などにより生ずる機械的な振動の周波数と重
なるために、共振が発生する可能性がある。このため
に、手ブレによる出力信号よりも、共振による出力信号
が大きいときには、加速度を正確に検出できない可能性
がある。
【００１３】本発明の課題は、ブレを正確に検出して補
正することができるブレ検出装置、ブレ補正装置及びブ
レ補正カメラを提供することである。
正することができるブレ検出装置、ブレ補正装置及びブ
レ補正カメラを提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、以下のような
解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容
易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付
して説明するが、これに限定するものではない。すなわ
ち、請求項１の発明は、ブレを検出するブレ検出部
（１）と、前記ブレ検出部の出力信号を処理する信号処
理部（７）とを含み、前記ブレ検出部は、検出周波数帯
域内に少なくとも１つの共振周波数が存在し、前記信号
処理部は、前記ブレ検出部の出力信号の共振周波数成分
を抑えることを特徴とするブレ検出装置である。
解決手段により、前記課題を解決する。なお、理解を容
易にするために、本発明の実施形態に対応する符号を付
して説明するが、これに限定するものではない。すなわ
ち、請求項１の発明は、ブレを検出するブレ検出部
（１）と、前記ブレ検出部の出力信号を処理する信号処
理部（７）とを含み、前記ブレ検出部は、検出周波数帯
域内に少なくとも１つの共振周波数が存在し、前記信号
処理部は、前記ブレ検出部の出力信号の共振周波数成分
を抑えることを特徴とするブレ検出装置である。
【００１５】請求項２の発明は、請求項１に記載のブレ
検出装置において、前記ブレ検出部は、印加した加速度
によって移動する可動部（１０１）と、前記可動部を支
持し、この可動部の移動に応じて変位するはり部（１０
３）と、前記はり部を固定する固定部（１０２）と、前
記はり部の変位量を電気信号に変換して出力する機械−
電気変換素子（ＲX ，ＲY ，ＲZ ）とを含むことを特徴
とするブレ検出装置である。
検出装置において、前記ブレ検出部は、印加した加速度
によって移動する可動部（１０１）と、前記可動部を支
持し、この可動部の移動に応じて変位するはり部（１０
３）と、前記はり部を固定する固定部（１０２）と、前
記はり部の変位量を電気信号に変換して出力する機械−
電気変換素子（ＲX ，ＲY ，ＲZ ）とを含むことを特徴
とするブレ検出装置である。
【００１６】請求項３の発明は、請求項１又は請求項２
に記載のブレ検出装置において、前記ブレ検出部は、前
記共振周波数近傍の周波数帯域のゲインが大きく、前記
信号処理部は、前記共振周波数近傍の周波数帯域のゲイ
ンが小さいことを特徴とするブレ検出装置である。
に記載のブレ検出装置において、前記ブレ検出部は、前
記共振周波数近傍の周波数帯域のゲインが大きく、前記
信号処理部は、前記共振周波数近傍の周波数帯域のゲイ
ンが小さいことを特徴とするブレ検出装置である。
【００１７】請求項４の発明は、請求項１から請求項３
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置において、前
記ブレ検出部は、加速度を検出する加速度センサ（１）
であり、前記信号処理部は、前記加速度センサを作動さ
せる駆動回路（２）と、前記加速度センサの出力信号を
増幅する増幅回路（３）と、前記増幅部の出力信号から
前記共振周波数近傍の信号成分を除去する帯域遮断フィ
ルタ回路（７）とを含むことを特徴とするブレ検出装置
である。
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置において、前
記ブレ検出部は、加速度を検出する加速度センサ（１）
であり、前記信号処理部は、前記加速度センサを作動さ
せる駆動回路（２）と、前記加速度センサの出力信号を
増幅する増幅回路（３）と、前記増幅部の出力信号から
前記共振周波数近傍の信号成分を除去する帯域遮断フィ
ルタ回路（７）とを含むことを特徴とするブレ検出装置
である。
【００１８】請求項５の発明は、請求項１から請求項４
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置と、ブレを補
正するブレ補正光学系（１２）と、前記ブレ補正光学系
を駆動する駆動部（１１）と、前記ブレ検出装置の出力
信号に基づいて、前記駆動部を駆動制御する制御部
（８）とを含むことを特徴とするブレ補正装置である。
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置と、ブレを補
正するブレ補正光学系（１２）と、前記ブレ補正光学系
を駆動する駆動部（１１）と、前記ブレ検出装置の出力
信号に基づいて、前記駆動部を駆動制御する制御部
（８）とを含むことを特徴とするブレ補正装置である。
【００１９】請求項６の発明は、請求項１から請求項４
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置と、ブレを補
正するブレ補正光学系（１２）と、前記ブレ補正光学系
を駆動する駆動部（１１）と、前記ブレ検出装置の出力
信号に基づいて、前記駆動部を駆動制御する制御部
（８）とを含むことを特徴としているブレ補正カメラで
ある。
までのいずれか１項に記載のブレ検出装置と、ブレを補
正するブレ補正光学系（１２）と、前記ブレ補正光学系
を駆動する駆動部（１１）と、前記ブレ検出装置の出力
信号に基づいて、前記駆動部を駆動制御する制御部
（８）とを含むことを特徴としているブレ補正カメラで
ある。
【００２０】
【発明の実施の形態】（第１実施形態）以下、図面を参
照して、本発明の第１実施形態について、さらに詳しく
説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係るブレ補
正カメラのブロック図である。以下では、本発明の第１
実施形態に係るブレ検出装置及びブレ補正装置をカメラ
に搭載した場合を例に挙げて説明する。また、図９〜図
１２に示す部材又はブロックと同一の部材又はブロック
は、対応する番号を付して説明し、詳細な説明を省略す
る。
照して、本発明の第１実施形態について、さらに詳しく
説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係るブレ補
正カメラのブロック図である。以下では、本発明の第１
実施形態に係るブレ検出装置及びブレ補正装置をカメラ
に搭載した場合を例に挙げて説明する。また、図９〜図
１２に示す部材又はブロックと同一の部材又はブロック
は、対応する番号を付して説明し、詳細な説明を省略す
る。
【００２１】本発明の第１実施形態では、図１に示すよ
うに、加速度センサ１の出力信号は、ＬＰＦ５に入力
し、ＬＰＦ５の出力信号は、増幅部３に入力する。
うに、加速度センサ１の出力信号は、ＬＰＦ５に入力
し、ＬＰＦ５の出力信号は、増幅部３に入力する。
【００２２】帯域遮断フィルタ（バンドエリミネイショ
ンフィルタ（以下、ＢＥＦという））７は、加速度セン
サ１の共振周波数近傍の信号成分を、増幅部３の出力信
号から除去するフィルタである。Ａ／Ｄ変換器６は、Ｂ
ＥＦ７の出力信号（アナログ信号）をディジタル信号に
変換して、ＣＰＵ８に出力する。
ンフィルタ（以下、ＢＥＦという））７は、加速度セン
サ１の共振周波数近傍の信号成分を、増幅部３の出力信
号から除去するフィルタである。Ａ／Ｄ変換器６は、Ｂ
ＥＦ７の出力信号（アナログ信号）をディジタル信号に
変換して、ＣＰＵ８に出力する。
【００２３】ＣＰＵ８は、Ａ／Ｄ変換器６及びＡ／Ｄ変
換器１４の出力信号に基づいて、ブレ補正量を演算した
り、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭという）１１を
駆動制御したりする中央処理部である。ＣＰＵ８は、演
算したブレ補正量に応じた駆動信号をＤ／Ａ変換器９に
出力する。Ｄ／Ａ変換器９は、この駆動信号（ディジタ
ル信号）をアナログ変換してドライバ１０に出力し、ド
ライバ１０は、ＶＣＭ１１に電力を供給する。
換器１４の出力信号に基づいて、ブレ補正量を演算した
り、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭという）１１を
駆動制御したりする中央処理部である。ＣＰＵ８は、演
算したブレ補正量に応じた駆動信号をＤ／Ａ変換器９に
出力する。Ｄ／Ａ変換器９は、この駆動信号（ディジタ
ル信号）をアナログ変換してドライバ１０に出力し、ド
ライバ１０は、ＶＣＭ１１に電力を供給する。
【００２４】ＶＣＭ１１は、ブレ補正レンズ１２を駆動
するためのモータである。ＶＣＭ１１は、例えば、ブレ
補正レンズ１２を電磁駆動方式により駆動する。
するためのモータである。ＶＣＭ１１は、例えば、ブレ
補正レンズ１２を電磁駆動方式により駆動する。
【００２５】ブレ補正レンズ１２は、撮影光路を変更し
てブレを補正するレンズである。ブレ補正レンズ１２
は、例えば、光軸に対して略直交する方向に駆動して、
ブレを補正する。
てブレを補正するレンズである。ブレ補正レンズ１２
は、例えば、光軸に対して略直交する方向に駆動して、
ブレを補正する。
【００２６】位置検出センサ１３は、ブレ補正レンズ１
２の位置を検出するセンサである。位置検出センサ１３
は、例えば、赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）と、位置
検出素子（ＰＳＤ）と、ブレ補正レンズ１３に取り付け
たスリット部材とからなる。位置検出センサ１３は、ブ
レ補正レンズ１３がスリット部材とともに移動すること
により、ＰＳＤ上で移動する光の位置を検出し、ブレ補
正レンズ１３の実際の位置を位置検出信号として出力す
る。Ａ／Ｄ変換器６は、この位置検出信号（アナログ信
号）をディジタル信号に変換して、ＣＰＵ８にフィード
バックする。
２の位置を検出するセンサである。位置検出センサ１３
は、例えば、赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）と、位置
検出素子（ＰＳＤ）と、ブレ補正レンズ１３に取り付け
たスリット部材とからなる。位置検出センサ１３は、ブ
レ補正レンズ１３がスリット部材とともに移動すること
により、ＰＳＤ上で移動する光の位置を検出し、ブレ補
正レンズ１３の実際の位置を位置検出信号として出力す
る。Ａ／Ｄ変換器６は、この位置検出信号（アナログ信
号）をディジタル信号に変換して、ＣＰＵ８にフィード
バックする。
【００２７】図２は、本発明の第１実施形態に係るブレ
検出装置における検出回路を示す回路図である。図３
は、本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置における
ＢＥＦの周波数特性を示す図である。以下では、加速度
センサ１の１軸方向の検出回路を説明する。
検出装置における検出回路を示す回路図である。図３
は、本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置における
ＢＥＦの周波数特性を示す図である。以下では、加速度
センサ１の１軸方向の検出回路を説明する。
【００２８】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置
における検出回路は、加速度センサ１の出力信号の共振
周波数成分を抑えるための回路である。この検出回路
は、図２に示すように、センサ駆動回路２と、加速度セ
ンサ１と、ＬＰＦ５と、増幅部３と、ＢＥＦ７とから構
成されている。
における検出回路は、加速度センサ１の出力信号の共振
周波数成分を抑えるための回路である。この検出回路
は、図２に示すように、センサ駆動回路２と、加速度セ
ンサ１と、ＬＰＦ５と、増幅部３と、ＢＥＦ７とから構
成されている。
【００２９】加速度センサ１は、センサ駆動回路２によ
ってバイアスされたピエゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，Ｒ
X4のブリッジで構成されている。加速度センサ１は、２
つの出力信号をそれぞれ１次のＬＰＦ５に出力する。
ってバイアスされたピエゾ抵抗体ＲX1，ＲX2，ＲX3，Ｒ
X4のブリッジで構成されている。加速度センサ１は、２
つの出力信号をそれぞれ１次のＬＰＦ５に出力する。
【００３０】ＬＰＦ５は、抵抗Ｒ５０，Ｒ５１，Ｒ５
２，Ｒ５３，Ｒ５４、コンデンサＣ５０，Ｃ５１、オペ
アンプＯＰ５０，ＯＰ５１及び基準電圧Ｖｒｅｆからな
る。ＬＰＦ５の出力信号は、それぞれ増幅部３に入力す
る。
２，Ｒ５３，Ｒ５４、コンデンサＣ５０，Ｃ５１、オペ
アンプＯＰ５０，ＯＰ５１及び基準電圧Ｖｒｅｆからな
る。ＬＰＦ５の出力信号は、それぞれ増幅部３に入力す
る。
【００３１】増幅部３は、抵抗Ｒ３０，Ｒ３１，Ｒ３
２，Ｒ３３、オペアンプＯＰ３０、基準電圧Ｖｒｅｆ及
び基準電源Ｖ３０からなる差動増幅回路である。増幅部
３は、ＦＥＴ入力であり、バイアス電流が小さいため
に、ＬＰＦ５の抵抗の影響を殆ど無視することができ
る。増幅部３の出力信号は、帯域遮断を行うＢＥＦ７に
入力する。
２，Ｒ３３、オペアンプＯＰ３０、基準電圧Ｖｒｅｆ及
び基準電源Ｖ３０からなる差動増幅回路である。増幅部
３は、ＦＥＴ入力であり、バイアス電流が小さいため
に、ＬＰＦ５の抵抗の影響を殆ど無視することができ
る。増幅部３の出力信号は、帯域遮断を行うＢＥＦ７に
入力する。
【００３２】ＢＥＦ７は、抵抗Ｒ７０，Ｒ７１，Ｒ７
２、フィルタ特性のシャープさを示すＱ値を調整し設定
するための抵抗Ｒ７３，Ｒ７４，Ｒ７５、コンデンサＣ
７０，Ｃ７１，Ｃ７２、オペアンプＯＰ７０，ＯＰ７１
及び基準電圧Ｖｒｅｆからなる。抵抗Ｒ７２の抵抗値
は、抵抗Ｒ７０，Ｒ７１の抵抗値の１／２に設定されて
おり、コンデンサＣ７２の容量は、コンデンサＣ７０，
Ｃ７１の容量の２倍に設定されている。ＢＥＦ７は、図
３に示すように、ｎｕｌｌ周波数（ヌル周波数）ｆｎ近
傍の周波数領域のゲインが小さいために、加速度センサ
１の機械的な共振周波数近傍における周波数領域のゲイ
ンを下げることができる。
２、フィルタ特性のシャープさを示すＱ値を調整し設定
するための抵抗Ｒ７３，Ｒ７４，Ｒ７５、コンデンサＣ
７０，Ｃ７１，Ｃ７２、オペアンプＯＰ７０，ＯＰ７１
及び基準電圧Ｖｒｅｆからなる。抵抗Ｒ７２の抵抗値
は、抵抗Ｒ７０，Ｒ７１の抵抗値の１／２に設定されて
おり、コンデンサＣ７２の容量は、コンデンサＣ７０，
Ｃ７１の容量の２倍に設定されている。ＢＥＦ７は、図
３に示すように、ｎｕｌｌ周波数（ヌル周波数）ｆｎ近
傍の周波数領域のゲインが小さいために、加速度センサ
１の機械的な共振周波数近傍における周波数領域のゲイ
ンを下げることができる。
【００３３】図４は、本発明の第１実施形態に係るブレ
検出装置における検出回路の具体例を示す回路図であ
る。以下では、加速度センサ１の共振周波数が５００
〔Ｈｚ〕であるときの検出回路の具体的な定数設定を説
明する。ＬＰＦ５は、抵抗Ｒ５０＝８２ｋ〔Ω〕、抵抗
Ｒ５１＝２０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ５２＝８２ｋ〔Ω〕、抵
抗Ｒ５３＝２０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ５４＝８０．２
〔Ω〕、コンデンサＣ５２＝０．１μ〔Ｆ〕に設定され
ている。ＬＰＦ５０は、そのカットオフ周波数が１ｋ
〔Ｈｚ〕近辺に設定されている。
検出装置における検出回路の具体例を示す回路図であ
る。以下では、加速度センサ１の共振周波数が５００
〔Ｈｚ〕であるときの検出回路の具体的な定数設定を説
明する。ＬＰＦ５は、抵抗Ｒ５０＝８２ｋ〔Ω〕、抵抗
Ｒ５１＝２０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ５２＝８２ｋ〔Ω〕、抵
抗Ｒ５３＝２０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ５４＝８０．２
〔Ω〕、コンデンサＣ５２＝０．１μ〔Ｆ〕に設定され
ている。ＬＰＦ５０は、そのカットオフ周波数が１ｋ
〔Ｈｚ〕近辺に設定されている。
【００３４】増幅部３は、抵抗Ｒ３０＝１０ｋ〔Ω〕、
抵抗Ｒ３１＝１０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ３２＝１０ｋ
〔Ω〕、抵抗Ｒ３３＝１０ｋ〔Ω〕に設定されている。
増幅部３は、ゲインが５００倍に設定されている。
抵抗Ｒ３１＝１０ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ３２＝１０ｋ
〔Ω〕、抵抗Ｒ３３＝１０ｋ〔Ω〕に設定されている。
増幅部３は、ゲインが５００倍に設定されている。
【００３５】ＢＥＦ７は、抵抗Ｒ７０＝３３ｋ〔Ω〕、
抵抗Ｒ７１＝３３ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ７２＝１６．５ｋ
〔Ω〕、抵抗Ｒ７３＝１ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ７４＝１０ｋ
〔Ω〕、コンデンサＣ７０＝０，０１μ〔Ｆ〕、コンデ
ンサＣ７１＝０，０１μ〔Ｆ〕、コンデンサＣ７２＝
０，０２μ〔Ｆ〕に設定されている。
抵抗Ｒ７１＝３３ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ７２＝１６．５ｋ
〔Ω〕、抵抗Ｒ７３＝１ｋ〔Ω〕、抵抗Ｒ７４＝１０ｋ
〔Ω〕、コンデンサＣ７０＝０，０１μ〔Ｆ〕、コンデ
ンサＣ７１＝０，０１μ〔Ｆ〕、コンデンサＣ７２＝
０，０２μ〔Ｆ〕に設定されている。
【００３６】図５は、本発明の第１実施形態に係るブレ
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例１）を示す図である。図５は、Ｑ値を２．７５近辺
に設定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を
示したものである。ここで、Ｑ値は、以下の数１により
求めることができる。
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例１）を示す図である。図５は、Ｑ値を２．７５近辺
に設定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を
示したものである。ここで、Ｑ値は、以下の数１により
求めることができる。
【００３７】
【数１】
【００３８】また、Ｇ（ｆ）は、周波数ｆにおけるゲイ
ンであり、以下の数２により求めることができる。
ンであり、以下の数２により求めることができる。
【００３９】
【数２】
【００４０】数２より、１０ＨｚにおけるゲインＧは、
０．９０９倍であり、５００ＨｚにおけるゲインＧは、
０．１７７倍であり、１０００ＨｚにおけるゲインＧ
は、０．８８６倍であり、２０００Ｈｚにおけるゲイン
は、０．９０５倍である。図４に示す検出回路は、５０
０倍の差動増幅段の後に、０．９倍程度のゲインがかか
っているために、総合的なゲインは、（５００×０．９
０９＝４５４．５）４５５倍程度になる。また、θ
（ｆ）は、周波数ｆにおける位相であり、以下の数３に
より求めることができる。
０．９０９倍であり、５００ＨｚにおけるゲインＧは、
０．１７７倍であり、１０００ＨｚにおけるゲインＧ
は、０．８８６倍であり、２０００Ｈｚにおけるゲイン
は、０．９０５倍である。図４に示す検出回路は、５０
０倍の差動増幅段の後に、０．９倍程度のゲインがかか
っているために、総合的なゲインは、（５００×０．９
０９＝４５４．５）４５５倍程度になる。また、θ
（ｆ）は、周波数ｆにおける位相であり、以下の数３に
より求めることができる。
【００４１】
【数３】
【００４２】ｔ（ｆ）は、周波数ｆにおける遅れであ
り、以下の数４により求めることができる。
り、以下の数４により求めることができる。
【００４３】
【数４】
【００４４】数４より、１０Ｈｚにおける遅れｔは、
０．１２ｍ〔ｓ〕である。ヌル周波数（中心周波数）ｆ
ｎは、以下の数５により求めることができる。
０．１２ｍ〔ｓ〕である。ヌル周波数（中心周波数）ｆ
ｎは、以下の数５により求めることができる。
【００４５】
【数５】
【００４６】ヌル周波数ｆｎは、４８２．２８８〔Ｈ
ｚ〕であり、５００〔Ｈｚ〕近辺であるために、加速度
センサ１の共振周波数近傍の信号を除去することができ
る。
ｚ〕であり、５００〔Ｈｚ〕近辺であるために、加速度
センサ１の共振周波数近傍の信号を除去することができ
る。
【００４７】図６は、本発明の第１実施形態に係るブレ
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例２）を示す図である。図６は、図４に示す抵抗Ｒ７
４を４．７ｋ〔Ω〕に設定して、Ｑ値を１．４２５近辺
に設定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を
示したものである。ヌル周波数ｆｎは、具体例１と同様
に４８２．２８８〔Ｈｚ〕であるが、１０Ｈｚにおける
遅れｔは、０．２３２ｍ〔ｓ〕である。また、１０Ｈｚ
におけるゲインＧは、０．８２４倍であり、５００Ｈｚ
におけるゲインＧは、０．０８４倍であり、１０００Ｈ
ｚにおけるゲインＧは、０．７５４倍であり、２０００
ＨｚにおけるゲインＧは、０．８１２倍である。
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例２）を示す図である。図６は、図４に示す抵抗Ｒ７
４を４．７ｋ〔Ω〕に設定して、Ｑ値を１．４２５近辺
に設定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を
示したものである。ヌル周波数ｆｎは、具体例１と同様
に４８２．２８８〔Ｈｚ〕であるが、１０Ｈｚにおける
遅れｔは、０．２３２ｍ〔ｓ〕である。また、１０Ｈｚ
におけるゲインＧは、０．８２４倍であり、５００Ｈｚ
におけるゲインＧは、０．０８４倍であり、１０００Ｈ
ｚにおけるゲインＧは、０．７５４倍であり、２０００
ＨｚにおけるゲインＧは、０．８１２倍である。
【００４８】図７は、本発明の第１実施形態に係るブレ
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例３）を示す図である。図７は、図４に示す抵抗Ｒ７
４を２２ｋ〔Ω〕に設定して、Ｑ値を５．７５近辺に設
定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を示し
たものである。ヌル周波数ｆｎは、具体例１及び具体例
２と同様に４８２．２８８〔Ｈｚ〕であるが、１０Ｈｚ
における遅れｔは、０．０５７ｍ〔ｓ〕である。また、
１０ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５７倍であり、５
００ＨｚにおけるゲインＧは、０．３６７倍であり、１
０００ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５１倍であり、
２０００ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５６倍であ
る。
検出装置におけるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具
体例３）を示す図である。図７は、図４に示す抵抗Ｒ７
４を２２ｋ〔Ω〕に設定して、Ｑ値を５．７５近辺に設
定したときのＢＥＦ７の周波数特性及び位相特性を示し
たものである。ヌル周波数ｆｎは、具体例１及び具体例
２と同様に４８２．２８８〔Ｈｚ〕であるが、１０Ｈｚ
における遅れｔは、０．０５７ｍ〔ｓ〕である。また、
１０ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５７倍であり、５
００ＨｚにおけるゲインＧは、０．３６７倍であり、１
０００ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５１倍であり、
２０００ＨｚにおけるゲインＧは、０．９５６倍であ
る。
【００４９】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置
は、以下に記載するような効果を有する。 （１） 本発明の第１実施形態は、加速度センサ１の共
振周波数近傍の信号を、加速度センサ１の出力信号から
除去するＢＥＦ７を備えている。そして、このＢＥＦ７
は、加速度センサ１の共振周波数近傍における周波数領
域（ヌル周波数ｆｎ近傍の周波数領域）のゲインを小さ
く設定している。このために、共振周波数近傍における
周波数領域のゲインを、加速度センサ１の出力信号を処
理する外付け回路（ＢＥＦ７）によって、確実に下げる
ことができる。その結果、カメラのミラー駆動、撮影光
学系のズーミングやフォーカシングなどによる機械的な
振動の周波数、撮影者の声などによる振動の周波数が、
加速度センサ１の共振周波数と重なって、この加速度セ
ンサ１が共振するのを抑えることができる。
は、以下に記載するような効果を有する。 （１） 本発明の第１実施形態は、加速度センサ１の共
振周波数近傍の信号を、加速度センサ１の出力信号から
除去するＢＥＦ７を備えている。そして、このＢＥＦ７
は、加速度センサ１の共振周波数近傍における周波数領
域（ヌル周波数ｆｎ近傍の周波数領域）のゲインを小さ
く設定している。このために、共振周波数近傍における
周波数領域のゲインを、加速度センサ１の出力信号を処
理する外付け回路（ＢＥＦ７）によって、確実に下げる
ことができる。その結果、カメラのミラー駆動、撮影光
学系のズーミングやフォーカシングなどによる機械的な
振動の周波数、撮影者の声などによる振動の周波数が、
加速度センサ１の共振周波数と重なって、この加速度セ
ンサ１が共振するのを抑えることができる。
【００５０】また、加速度センサ１の共振を、機械的な
構成ではなく電気的な処理によって抑えることができる
ために、このブレ検出装置を搭載したブレ補正装置やカ
メラを安価に製造することができる。さらに、加速度セ
ンサ１の機械的な共振の影響を抑えることができるため
に、ブレを正確に検出することができるとともに、この
ブレ検出装置を搭載したブレ補正装置やカメラによって
ブレを正確に補正することができる。
構成ではなく電気的な処理によって抑えることができる
ために、このブレ検出装置を搭載したブレ補正装置やカ
メラを安価に製造することができる。さらに、加速度セ
ンサ１の機械的な共振の影響を抑えることができるため
に、ブレを正確に検出することができるとともに、この
ブレ検出装置を搭載したブレ補正装置やカメラによって
ブレを正確に補正することができる。
【００５１】（２） 本発明の第１実施形態は、コンデ
ンサの容量や抵抗値を可変することによって、図５〜図
７に示すように、ＢＥＦ７のヌル周波数ｆｎを最適値に
することができる。このために、加速度センサ１個々の
共振周波数がばらついたり、加速度センサ１の種類や取
付方法によって共振周波数が変わっても、加速度センサ
１の構造を変えずに、ヌル周波数ｆｎを最適値に調整し
て、共振の影響を軽減することができる。
ンサの容量や抵抗値を可変することによって、図５〜図
７に示すように、ＢＥＦ７のヌル周波数ｆｎを最適値に
することができる。このために、加速度センサ１個々の
共振周波数がばらついたり、加速度センサ１の種類や取
付方法によって共振周波数が変わっても、加速度センサ
１の構造を変えずに、ヌル周波数ｆｎを最適値に調整し
て、共振の影響を軽減することができる。
【００５２】（３） 本発明の第１実施形態は、ＢＥＦ
７における抵抗Ｒ７３，Ｒ７４の抵抗値を可変すること
によって、図５〜図７に示すように、Ｑ値を変更するこ
とができる。このために、共振周波数近傍における周波
数領域の広狭に応じて、ヌル周波数ｆｎ近傍の周波数領
域におけるゲインを調整することができる。
７における抵抗Ｒ７３，Ｒ７４の抵抗値を可変すること
によって、図５〜図７に示すように、Ｑ値を変更するこ
とができる。このために、共振周波数近傍における周波
数領域の広狭に応じて、ヌル周波数ｆｎ近傍の周波数領
域におけるゲインを調整することができる。
【００５３】（第２実施形態）図８は、本発明の第２実
施形態に係るブレ補正カメラのブロック図である。以下
では、図１に示すブロックと同一のブロックは、対応す
る番号を付して説明し、詳細な説明を省略する。本発明
の第２実施形態に係るブレ補正カメラは、第１実施形態
と異なり、ＢＥＦ７の後段にＬＰＦ５を設けた他の実施
形態である。ＬＰＦ５は、ＢＥＦ７の出力信号から高域
周波数成分を除去した後の信号を、Ａ／Ｄ変換器６に出
力している。本発明の第２実施形態に係るブレ補正カメ
ラは、第１実施形態の効果に加えて、増幅部３の出力信
号が含む高周波ノイズ成分を除去することができる。
施形態に係るブレ補正カメラのブロック図である。以下
では、図１に示すブロックと同一のブロックは、対応す
る番号を付して説明し、詳細な説明を省略する。本発明
の第２実施形態に係るブレ補正カメラは、第１実施形態
と異なり、ＢＥＦ７の後段にＬＰＦ５を設けた他の実施
形態である。ＬＰＦ５は、ＢＥＦ７の出力信号から高域
周波数成分を除去した後の信号を、Ａ／Ｄ変換器６に出
力している。本発明の第２実施形態に係るブレ補正カメ
ラは、第１実施形態の効果に加えて、増幅部３の出力信
号が含む高周波ノイズ成分を除去することができる。
【００５４】本発明は、以上説明した実施形態に限定す
るものではなく、以下に記載するように、種々の変形又
は変更が可能であって、これらも本発明の均等の範囲内
である。 （１） 本発明の実施形態は、加速度センサ１としてピ
エゾ抵抗型半導体加速度センサを例に挙げて説明した
が、これに限定するものではない。例えば、静電容量型
半導体加速度センサは、重り側に設けた電極と、この電
極と対向する固定部側に設けた電極との間隔が、印加し
た加速度に応じて変化し、この間隔の変化を静電容量の
変化として検出するセンサである。このために、ピエゾ
抵抗型半導体加速度センサと同様に、機械的な共振周波
数が存在する。また、圧電式加速度センサやサーボ型加
速度センサは、機械的な変位を電気信号の変化として検
出するセンサであり、重りとばね部材などを備えるため
に、機械的な共振周波数が存在する。本発明は、これら
の加速度センサなどの共振を抑える場合にも、適用する
ことができる。
るものではなく、以下に記載するように、種々の変形又
は変更が可能であって、これらも本発明の均等の範囲内
である。 （１） 本発明の実施形態は、加速度センサ１としてピ
エゾ抵抗型半導体加速度センサを例に挙げて説明した
が、これに限定するものではない。例えば、静電容量型
半導体加速度センサは、重り側に設けた電極と、この電
極と対向する固定部側に設けた電極との間隔が、印加し
た加速度に応じて変化し、この間隔の変化を静電容量の
変化として検出するセンサである。このために、ピエゾ
抵抗型半導体加速度センサと同様に、機械的な共振周波
数が存在する。また、圧電式加速度センサやサーボ型加
速度センサは、機械的な変位を電気信号の変化として検
出するセンサであり、重りとばね部材などを備えるため
に、機械的な共振周波数が存在する。本発明は、これら
の加速度センサなどの共振を抑える場合にも、適用する
ことができる。
【００５５】（２） 本発明の実施形態は、加速度セン
サ１が検出可能な周波数領域内に、１つの共振周波数が
存在する場合を例に挙げて説明したが、複数の共振周波
数が存在する加速度センサについても、本発明を適用す
ることができる。
サ１が検出可能な周波数領域内に、１つの共振周波数が
存在する場合を例に挙げて説明したが、複数の共振周波
数が存在する加速度センサについても、本発明を適用す
ることができる。
【００５６】（３） 本発明の実施形態は、３軸を同時
に検知するピエゾ抵抗型半導体加速度センサを例に挙げ
て説明したが、２軸を同時に検知するピエゾ抵抗型半導
体加速度センサについても、本発明を適用することがで
きる。
に検知するピエゾ抵抗型半導体加速度センサを例に挙げ
て説明したが、２軸を同時に検知するピエゾ抵抗型半導
体加速度センサについても、本発明を適用することがで
きる。
【００５７】（４） 本発明の実施形態は、レンズ一体
型のカメラを例に挙げて説明したが、一眼レフカメラシ
ステム、その交換レンズや中間アダプタなどにも本発明
を適用することができる。また、スチルカメラに限らず
ディジタルスチルカメラやビデオカメラなどの撮影装置
や、双眼鏡、望遠鏡などの光学装置などにも本発明を適
用することができる。
型のカメラを例に挙げて説明したが、一眼レフカメラシ
ステム、その交換レンズや中間アダプタなどにも本発明
を適用することができる。また、スチルカメラに限らず
ディジタルスチルカメラやビデオカメラなどの撮影装置
や、双眼鏡、望遠鏡などの光学装置などにも本発明を適
用することができる。
【００５８】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、本発明によ
れば、信号処理部は、ブレ検出部の出力信号の共振周波
数成分を抑えるので、ブレを正確に検出することができ
るとともに、ブレを正確に補正することができる。
れば、信号処理部は、ブレ検出部の出力信号の共振周波
数成分を抑えるので、ブレを正確に検出することができ
るとともに、ブレを正確に補正することができる。
【図１】本発明の第１実施形態に係るブレ補正カメラの
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
ける検出回路を示す回路図である。
ける検出回路を示す回路図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
けるＢＥＦの周波数特性を示す図である。
けるＢＥＦの周波数特性を示す図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
ける検出回路の具体例を示す回路図である。
ける検出回路の具体例を示す回路図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例１）を示
す図である。
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例１）を示
す図である。
【図６】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例２）を示
す図である。
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例２）を示
す図である。
【図７】本発明の第１実施形態に係るブレ検出装置にお
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例３）を示
す図である。
けるＢＥＦの周波数特性及び位相特性（具体例３）を示
す図である。
【図８】本発明の第２実施形態に係るブレ補正カメラの
ブロック図である。
ブロック図である。
【図９】ピエゾ型半導体加速度センサの構造を概略的に
示す図である。
示す図である。
【図１０】ピエゾ型半導体加速度センサのセンサ回路を
示す回路図である。
示す回路図である。
【図１１】ピエゾ型半導体加速度センサに加速度が加わ
った状態を示す図である。
った状態を示す図である。
【図１２】従来のブレ検出装置における検出回路のブロ
ック図である。
ック図である。
【図１３】ピエゾ型半導体加速度センサにＸ軸方向又は
Ｙ軸方向の加速度が印加したときの周波数特性及び位相
特性を示す図である。
Ｙ軸方向の加速度が印加したときの周波数特性及び位相
特性を示す図である。
【図１４】ピエゾ型半導体加速度センサにＺ軸方向の加
速度が印加したときの周波数特性及び位相特性を示す図
である。
速度が印加したときの周波数特性及び位相特性を示す図
である。
１，１００ 加速度センサ ２，２００ センサ駆動回路 ３，３００ 増幅部 ５，５００ ＬＰＦ（低域通過フィルタ） ７ ＢＥＦ（帯域遮断フィルタ） ８ ＣＰＵ １１ ＶＣＭ（ボイスコイルモータ） １２ ブレ補正レンズ １０１ 重り １０２ 固定部 １０３ はり部 ＲX ，ＲY ，ＲZ ピエゾ抵抗体
Claims (6)
- 【請求項１】 ブレを検出するブレ検出部と、 前記ブレ検出部の出力信号を処理する信号処理部とを含
み、 前記ブレ検出部は、検出周波数帯域内に少なくとも１つ
の共振周波数が存在し、 前記信号処理部は、前記ブレ検出部の出力信号の共振周
波数成分を抑えること、 を特徴とするブレ検出装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のブレ検出装置におい
て、 前記ブレ検出部は、 印加した加速度によって移動する可動部と、 前記可動部を支持し、この可動部の移動に応じて変位す
るはり部と、 前記はり部を固定する固定部と、 前記はり部の変位量を電気信号に変換して出力する機械
−電気変換素子と、 を含むことを特徴とするブレ検出装置。 - 【請求項３】 請求項１又は請求項２に記載のブレ検出
装置において、 前記ブレ検出部は、前記共振周波数近傍の周波数帯域の
ゲインが大きく、 前記信号処理部は、前記共振周波数近傍の周波数帯域の
ゲインが小さいこと、 を特徴とするブレ検出装置。 - 【請求項４】 請求項１から請求項３までのいずれか１
項に記載のブレ検出装置において、 前記ブレ検出部は、加速度を検出する加速度センサであ
り、 前記信号処理部は、 前記加速度センサを作動させる駆動回路と、 前記加速度センサの出力信号を増幅する増幅回路と、 前記増幅部の出力信号から前記共振周波数近傍の信号成
分を除去する帯域遮断フィルタ回路と、 を含むことを特徴とするブレ検出装置。 - 【請求項５】 請求項１から請求項４までのいずれか１
項に記載のブレ検出装置と、 ブレを補正するブレ補正光学系と、 前記ブレ補正光学系を駆動する駆動部と、 前記ブレ検出装置の出力信号に基づいて、前記駆動部を
駆動制御する制御部と、 を含むことを特徴とするブレ補正装置。 - 【請求項６】 請求項１から請求項４までのいずれか１
項に記載のブレ検出装置と、 ブレを補正するブレ補正光学系と、 前記ブレ補正光学系を駆動する駆動部と、 前記ブレ検出装置の出力信号に基づいて、前記駆動部を
駆動制御する制御部と、 を含むことを特徴とするブレ補正カメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10075133A JPH11271830A (ja) | 1998-03-24 | 1998-03-24 | ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10075133A JPH11271830A (ja) | 1998-03-24 | 1998-03-24 | ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271830A true JPH11271830A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=13567398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10075133A Pending JPH11271830A (ja) | 1998-03-24 | 1998-03-24 | ブレ検出装置、ブレ補正装置及びブレ補正カメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271830A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007501939A (ja) * | 2003-08-13 | 2007-02-01 | セルセル | 改良復帰移動式外来振動抑制形加速度計 |
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| JP2015034904A (ja) * | 2013-08-09 | 2015-02-19 | 株式会社ニコン | レンズユニット、撮像装置および電子機器の制御プログラム |
| JP2018143006A (ja) * | 2018-06-07 | 2018-09-13 | 株式会社ニコン | レンズユニット |
| JP2018180341A (ja) * | 2017-04-14 | 2018-11-15 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像装置の駆動機構、およびそれらの制御方法 |
-
1998
- 1998-03-24 JP JP10075133A patent/JPH11271830A/ja active Pending
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