JPH11238783A - 基板処理装置および方法 - Google Patents
基板処理装置および方法Info
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- JPH11238783A JPH11238783A JP3904598A JP3904598A JPH11238783A JP H11238783 A JPH11238783 A JP H11238783A JP 3904598 A JP3904598 A JP 3904598A JP 3904598 A JP3904598 A JP 3904598A JP H11238783 A JPH11238783 A JP H11238783A
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- pitch
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ピッチ変換を行うための専用の装置を用いる
ことなく、異なるピッチにて配列された基板を搬送する
ことができる基板処理装置を提供する。 【解決手段】 基板処理装置に組み込まれた基板搬送ロ
ボットに一対の保持柱36が設けられている。保持柱3
6は、基板搬送ロボットの本体部によって矢印33Sに
示すようにX方向に開閉運動されることと、軸34を中
心に矢印33Rに示すように回転運動されることとが可
能に構成されている。また、保持柱36は、正六角柱の
形状であり、各稜線部には第1ピッチP1の溝361が
刻設されている。基板搬送を行うときには、搬送すべき
基板の配列状態および処理状態に応じて、保持柱36を
回転、移動させることにより、第1ピッチP1または第
1ピッチP1の2倍の第2ピッチP2にて配列された基
板を搬送することが可能となる。
ことなく、異なるピッチにて配列された基板を搬送する
ことができる基板処理装置を提供する。 【解決手段】 基板処理装置に組み込まれた基板搬送ロ
ボットに一対の保持柱36が設けられている。保持柱3
6は、基板搬送ロボットの本体部によって矢印33Sに
示すようにX方向に開閉運動されることと、軸34を中
心に矢印33Rに示すように回転運動されることとが可
能に構成されている。また、保持柱36は、正六角柱の
形状であり、各稜線部には第1ピッチP1の溝361が
刻設されている。基板搬送を行うときには、搬送すべき
基板の配列状態および処理状態に応じて、保持柱36を
回転、移動させることにより、第1ピッチP1または第
1ピッチP1の2倍の第2ピッチP2にて配列された基
板を搬送することが可能となる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置製造
用基板や液晶表示器などの製造に用いられる基板(以
下、単に「基板」という)に所定の処理を施す基板処理
装置であって、複数の基板を収容可能なカセットと基板
に所定の処理を施す処理手段との間で複数の基板を搬送
して前記複数の基板の処理を行う基板処理装置および方
法に関する。
用基板や液晶表示器などの製造に用いられる基板(以
下、単に「基板」という)に所定の処理を施す基板処理
装置であって、複数の基板を収容可能なカセットと基板
に所定の処理を施す処理手段との間で複数の基板を搬送
して前記複数の基板の処理を行う基板処理装置および方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板処理装置に基板が搬出入される際に
は、通常、複数の基板を平行配置して収納するカセット
が用いられる。従来において、カセットから複数の基板
を一括して取り出して基板を取り扱う基板処理装置の場
合、カセットに収容されている基板のピッチ(基板が配
列される間隔)のまま基板処理装置の基板搬送ロボット
が複数の基板を1つの基板群として把持・搬送する。
は、通常、複数の基板を平行配置して収納するカセット
が用いられる。従来において、カセットから複数の基板
を一括して取り出して基板を取り扱う基板処理装置の場
合、カセットに収容されている基板のピッチ(基板が配
列される間隔)のまま基板処理装置の基板搬送ロボット
が複数の基板を1つの基板群として把持・搬送する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ここで、被処理基板の
種類・枚数などに応じて通常とは異なるピッチを有する
カセットを使用したい場合もある。ところが、基板搬送
ロボットが把持できる基板のピッチは、基板搬送ロボッ
トの把持ハンドに刻設された溝のピッチに応じて予め定
められているため、異なるピッチのカセットを使用する
場合には、ピッチ変換を行うための専用の装置を用いな
ければならなかった。この場合、基板処理装置全体が大
型化するとともに、そのコストも上昇することとなる。
種類・枚数などに応じて通常とは異なるピッチを有する
カセットを使用したい場合もある。ところが、基板搬送
ロボットが把持できる基板のピッチは、基板搬送ロボッ
トの把持ハンドに刻設された溝のピッチに応じて予め定
められているため、異なるピッチのカセットを使用する
場合には、ピッチ変換を行うための専用の装置を用いな
ければならなかった。この場合、基板処理装置全体が大
型化するとともに、そのコストも上昇することとなる。
【0004】また、基板処理が所定の洗浄液を用いた洗
浄処理である場合には、洗浄前、洗浄中および洗浄後の
基板を同一の把持ハンドによって保持するため、洗浄前
の基板が持ち込んだパーティクルなどの汚染や洗浄中の
基板に付着した洗浄液が洗浄後の清浄な基板に転写・再
付着し、その清浄度を損なうこともあった。この場合、
洗浄処理における基板の歩留まりが低下するという問題
が生じる。
浄処理である場合には、洗浄前、洗浄中および洗浄後の
基板を同一の把持ハンドによって保持するため、洗浄前
の基板が持ち込んだパーティクルなどの汚染や洗浄中の
基板に付着した洗浄液が洗浄後の清浄な基板に転写・再
付着し、その清浄度を損なうこともあった。この場合、
洗浄処理における基板の歩留まりが低下するという問題
が生じる。
【0005】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、ピッチ変換を行うための専用の装置を用いるこ
となく、異なるピッチにて配列された基板を搬送するこ
とができる基板処理装置を提供することを目的とする。
であり、ピッチ変換を行うための専用の装置を用いるこ
となく、異なるピッチにて配列された基板を搬送するこ
とができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0006】また、所定の処理後の基板の清浄度を容易
に維持することができる基板処理装置および方法を提供
することを目的とする。
に維持することができる基板処理装置および方法を提供
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、複数の基板を第1ピッチにて収
容可能なカセットと、複数の基板を前記第1ピッチとは
異なる第2ピッチにて収容可能なカセットのうち、いず
れのカセットに対しても、基板に所定の処理を施す処理
手段との間で前記複数の基板を搬送して前記複数の基板
の処理を行う基板処理装置であって、(a)前記複数の基
板のそれぞれの外縁部を側方より保持する複数の保持領
域を有する2つの保持柱と、(b)前記2つの保持柱に保
持動作を行わせる保持駆動源と、を備え、前記複数の保
持領域を、前記保持柱の側面を前記保持柱の軸を中心と
する周方向に分割した領域とし、前記複数の保持領域
に、前記第1ピッチと前記第2ピッチとの最大公約数で
ある第3ピッチの溝を形成した領域を含ませている。
め、請求項1の発明は、複数の基板を第1ピッチにて収
容可能なカセットと、複数の基板を前記第1ピッチとは
異なる第2ピッチにて収容可能なカセットのうち、いず
れのカセットに対しても、基板に所定の処理を施す処理
手段との間で前記複数の基板を搬送して前記複数の基板
の処理を行う基板処理装置であって、(a)前記複数の基
板のそれぞれの外縁部を側方より保持する複数の保持領
域を有する2つの保持柱と、(b)前記2つの保持柱に保
持動作を行わせる保持駆動源と、を備え、前記複数の保
持領域を、前記保持柱の側面を前記保持柱の軸を中心と
する周方向に分割した領域とし、前記複数の保持領域
に、前記第1ピッチと前記第2ピッチとの最大公約数で
ある第3ピッチの溝を形成した領域を含ませている。
【0008】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る基板処理装置において、前記複数の保持領域に、
前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理を施す前
の前記複数の基板を保持する第1領域と、前記第3ピッ
チの溝を形成し、前記所定の処理を施した後の前記複数
の基板を保持する第2領域と、を含ませている。
に係る基板処理装置において、前記複数の保持領域に、
前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理を施す前
の前記複数の基板を保持する第1領域と、前記第3ピッ
チの溝を形成し、前記所定の処理を施した後の前記複数
の基板を保持する第2領域と、を含ませている。
【0009】また、請求項3の発明は、請求項2の発明
に係る基板処理装置において、前記複数の保持領域に、
前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理中の前記
複数の基板を保持する第3領域、をさらに含ませてい
る。
に係る基板処理装置において、前記複数の保持領域に、
前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理中の前記
複数の基板を保持する第3領域、をさらに含ませてい
る。
【0010】また、請求項4の発明は、請求項1から請
求項3のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記2つの保持柱を、多角柱とし、前記複数の保持領域
を、前記多角柱の稜線部に形成している。
求項3のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記2つの保持柱を、多角柱とし、前記複数の保持領域
を、前記多角柱の稜線部に形成している。
【0011】また、請求項5の発明は、請求項1から請
求項3のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記2つの保持柱を、多角柱とし、前記複数の保持領域
を、前記多角柱の面に形成している。
求項3のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記2つの保持柱を、多角柱とし、前記複数の保持領域
を、前記多角柱の面に形成している。
【0012】また、請求項6の発明は、請求項1から請
求項5のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記第2ピッチは前記第1ピッチの整数倍としている。
求項5のいずれかの発明に係る基板処理装置において、
前記第2ピッチは前記第1ピッチの整数倍としている。
【0013】また、請求項7の発明は、複数の基板をカ
セットと基板処理手段との間で搬送して前記複数の基板
を処理する基板処理方法において、前記複数の基板をそ
れぞれ保持可能な複数の保持領域を有する2つの保持柱
であって、前記保持柱の側面を前記保持柱の軸を中心と
する周方向に分割して得られる領域が前記複数の保持領
域として利用され、かつ前記複数の領域のそれぞれに複
数の溝が所定のピッチで形成されたものを備えるととも
に、前記2つの保持柱によって前記複数の基板を保持し
て搬送することが可能な基板搬送手段を設置しておき、
前記基板搬送手段の前記2つの保持柱で前記複数の基板
を保持する際には、前記カセットにおける前記複数の基
板の収容ピッチに応じて、前記複数の溝から間欠的に選
択された一部または前記複数の溝の全部によって前記複
数の基板のそれぞれの外縁部を保持している。
セットと基板処理手段との間で搬送して前記複数の基板
を処理する基板処理方法において、前記複数の基板をそ
れぞれ保持可能な複数の保持領域を有する2つの保持柱
であって、前記保持柱の側面を前記保持柱の軸を中心と
する周方向に分割して得られる領域が前記複数の保持領
域として利用され、かつ前記複数の領域のそれぞれに複
数の溝が所定のピッチで形成されたものを備えるととも
に、前記2つの保持柱によって前記複数の基板を保持し
て搬送することが可能な基板搬送手段を設置しておき、
前記基板搬送手段の前記2つの保持柱で前記複数の基板
を保持する際には、前記カセットにおける前記複数の基
板の収容ピッチに応じて、前記複数の溝から間欠的に選
択された一部または前記複数の溝の全部によって前記複
数の基板のそれぞれの外縁部を保持している。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
実施の形態について詳細に説明する。
【0015】<A.基板処理装置の全体構成および動作
>図1は、本発明に係る基板処理装置1の全体を示す斜
視図である。基板処理装置1は基板Wに洗浄処理を施す
装置であり、大きく分けてカセットCに収容された基板
Wの搬出入が行われるカセット載置ユニット2U、基板
Wに洗浄処理を施す洗浄処理ユニット4U、および、カ
セット載置ユニット2Uと洗浄処理ユニット4Uとの間
で基板Wの搬送を行う基板搬送ロボット3を有してい
る。
>図1は、本発明に係る基板処理装置1の全体を示す斜
視図である。基板処理装置1は基板Wに洗浄処理を施す
装置であり、大きく分けてカセットCに収容された基板
Wの搬出入が行われるカセット載置ユニット2U、基板
Wに洗浄処理を施す洗浄処理ユニット4U、および、カ
セット載置ユニット2Uと洗浄処理ユニット4Uとの間
で基板Wの搬送を行う基板搬送ロボット3を有してい
る。
【0016】カセット載置ユニット2Uは、装置外部か
らカセットCが搬入され載置されるカセット載置部2
1、カセットCの移載を行うカセット移載ロボット2
2、カセット移載ロボット22によりカセットCが載置
される突上部23、および、カセットCを洗浄するカセ
ット洗浄部24を有しており、基板処理装置1に搬入さ
れた基板Wは突上部23より基板搬送ロボット3に渡さ
れるようになっている。また、逆に、基板搬送ロボット
3から受け取った基板WをカセットCに収容してカセッ
ト載置部21へと導くことも可能とされている。
らカセットCが搬入され載置されるカセット載置部2
1、カセットCの移載を行うカセット移載ロボット2
2、カセット移載ロボット22によりカセットCが載置
される突上部23、および、カセットCを洗浄するカセ
ット洗浄部24を有しており、基板処理装置1に搬入さ
れた基板Wは突上部23より基板搬送ロボット3に渡さ
れるようになっている。また、逆に、基板搬送ロボット
3から受け取った基板WをカセットCに収容してカセッ
ト載置部21へと導くことも可能とされている。
【0017】洗浄処理ユニット4Uは、前工程の洗浄処
理を行う前洗浄部4a、後工程の洗浄処理を行う2つの
後洗浄部4b、および、洗浄後の基板Wを乾燥する乾燥
部4cを有しており、基板搬送ロボット3との受渡によ
り、基板Wは前洗浄部4a、いずれか一方の後洗浄部4
b、乾燥部4cをそれぞれ順に経由してカセット載置ユ
ニット2Uへと搬送されるようになっている。
理を行う前洗浄部4a、後工程の洗浄処理を行う2つの
後洗浄部4b、および、洗浄後の基板Wを乾燥する乾燥
部4cを有しており、基板搬送ロボット3との受渡によ
り、基板Wは前洗浄部4a、いずれか一方の後洗浄部4
b、乾燥部4cをそれぞれ順に経由してカセット載置ユ
ニット2Uへと搬送されるようになっている。
【0018】以上が基板処理装置1の構成の概要である
が、次に、基板処理装置1の動作の説明を各構成の説明
とともに行う。
が、次に、基板処理装置1の動作の説明を各構成の説明
とともに行う。
【0019】基板処理装置1への基板Wの搬入はカセッ
トCを介して行われる。カセットCは複数の基板Wを起
立姿勢に平行配置して収納可能とされている。カセット
Cは搬送車(図示省略)などにより基板処理装置1まで
搬送され、カセット載置部21上に図1中に示すY方向
に配列配置される。カセットCがカセット載置部21に
載置されると、当該カセットCはカセット移載ロボット
22により突上部23に載置される。
トCを介して行われる。カセットCは複数の基板Wを起
立姿勢に平行配置して収納可能とされている。カセット
Cは搬送車(図示省略)などにより基板処理装置1まで
搬送され、カセット載置部21上に図1中に示すY方向
に配列配置される。カセットCがカセット載置部21に
載置されると、当該カセットCはカセット移載ロボット
22により突上部23に載置される。
【0020】突上部23は、2つのカセットCがY方向
に配列配置可能なように2つの突上機構23aおよび2
3bを有しており、これらの突上機構23a、23bは
図示しない移動駆動源により移動する移動台231上に
設けられている。これにより、2つの突上機構23a、
23bは図1中矢印23Sにて示すようにY方向に移動
可能とされている。2つの突上機構23a、23bはそ
れぞれ図2(突上機構23aのみについて例示)に示す
ように回転台232と突上台233とを有しており、回
転台232がZ方向を向く軸を中心に回転するとカセッ
トCも回転するようになっている。また、突上台233
がカセットCの下部の開口部Caを通り抜けて基板Wを
突き上げるように昇降するようになっている。
に配列配置可能なように2つの突上機構23aおよび2
3bを有しており、これらの突上機構23a、23bは
図示しない移動駆動源により移動する移動台231上に
設けられている。これにより、2つの突上機構23a、
23bは図1中矢印23Sにて示すようにY方向に移動
可能とされている。2つの突上機構23a、23bはそ
れぞれ図2(突上機構23aのみについて例示)に示す
ように回転台232と突上台233とを有しており、回
転台232がZ方向を向く軸を中心に回転するとカセッ
トCも回転するようになっている。また、突上台233
がカセットCの下部の開口部Caを通り抜けて基板Wを
突き上げるように昇降するようになっている。
【0021】カセットCが突上部23に載置されると、
移動台231の移動により当該カセットCが載置された
突上機構23aまたは突上機構23bが基板搬送ロボッ
ト3の下方に移動し、回転台232が90゜回転するこ
とによりカセットCに収容された所定数の基板Wの主面
の法線がX方向からY方向へと向きを変える。
移動台231の移動により当該カセットCが載置された
突上機構23aまたは突上機構23bが基板搬送ロボッ
ト3の下方に移動し、回転台232が90゜回転するこ
とによりカセットCに収容された所定数の基板Wの主面
の法線がX方向からY方向へと向きを変える。
【0022】次に、突上台233が上昇して基板Wが基
板搬送ロボット3に渡され、突上台233が下降する。
なお、突上部23と基板搬送ロボット3との基板Wの受
渡動作の詳細は後述する。
板搬送ロボット3に渡され、突上台233が下降する。
なお、突上部23と基板搬送ロボット3との基板Wの受
渡動作の詳細は後述する。
【0023】突上部23より基板Wを受け取った基板搬
送ロボット3は、基板Wを前洗浄部4aへと搬送する。
前洗浄部4aは硫酸と過酸化水素水との混合溶液である
洗浄液を貯留する貯留槽41と昇降台42aを昇降する
昇降ロボット42(図1にて後洗浄部4bに例示)とを
有しており、基板搬送ロボット3が昇降台42aに基板
Wを渡し、昇降ロボット42が昇降台42aを下降させ
て基板Wを洗浄液に浸漬させることにより基板Wに前工
程の洗浄処理が施される。
送ロボット3は、基板Wを前洗浄部4aへと搬送する。
前洗浄部4aは硫酸と過酸化水素水との混合溶液である
洗浄液を貯留する貯留槽41と昇降台42aを昇降する
昇降ロボット42(図1にて後洗浄部4bに例示)とを
有しており、基板搬送ロボット3が昇降台42aに基板
Wを渡し、昇降ロボット42が昇降台42aを下降させ
て基板Wを洗浄液に浸漬させることにより基板Wに前工
程の洗浄処理が施される。
【0024】基板Wの前工程の洗浄処理が完了すると昇
降ロボット42は昇降台42aを上昇させ、貯留槽41
から基板Wを取り出すとともに基板搬送ロボット3へと
基板Wを渡す。
降ロボット42は昇降台42aを上昇させ、貯留槽41
から基板Wを取り出すとともに基板搬送ロボット3へと
基板Wを渡す。
【0025】前洗浄部4aより基板Wを受け取った基板
搬送ロボット3は、基板Wを一方の後洗浄部4bへと搬
送する。後洗浄部4bはアンモニア水と過酸化水素水と
の混合溶液である洗浄液を貯留する貯留槽41と昇降台
42aを昇降する昇降ロボット42とを有しており、前
洗浄部4aと同様に基板搬送ロボット3が昇降台42a
に基板Wを渡し、昇降ロボット42が昇降台42aを下
降させて基板Wを洗浄液に浸漬させることにより基板W
に後工程の洗浄処理が施される。
搬送ロボット3は、基板Wを一方の後洗浄部4bへと搬
送する。後洗浄部4bはアンモニア水と過酸化水素水と
の混合溶液である洗浄液を貯留する貯留槽41と昇降台
42aを昇降する昇降ロボット42とを有しており、前
洗浄部4aと同様に基板搬送ロボット3が昇降台42a
に基板Wを渡し、昇降ロボット42が昇降台42aを下
降させて基板Wを洗浄液に浸漬させることにより基板W
に後工程の洗浄処理が施される。
【0026】基板Wの後工程の洗浄処理が完了すると昇
降ロボット42は昇降台42aを上昇させ、基板Wを基
板搬送ロボット3に渡し、基板搬送ロボット3は基板W
を乾燥部4cへと搬送する。
降ロボット42は昇降台42aを上昇させ、基板Wを基
板搬送ロボット3に渡し、基板搬送ロボット3は基板W
を乾燥部4cへと搬送する。
【0027】乾燥部4cには前洗浄部4aと同様の役割
を果たす昇降ロボット(図示省略)と乾燥室41cとを
有しており、基板Wを基板搬送ロボット3から受け取っ
て乾燥室41cにて基板Wを乾燥し、再び基板搬送ロボ
ット3へと乾燥後の基板Wを渡す。なお、前洗浄部4
a、後洗浄部4bおよび乾燥部4cにおける処理が終了
した基板Wを基板搬送ロボット3が受け取る動作につい
ては、さらに後述する。
を果たす昇降ロボット(図示省略)と乾燥室41cとを
有しており、基板Wを基板搬送ロボット3から受け取っ
て乾燥室41cにて基板Wを乾燥し、再び基板搬送ロボ
ット3へと乾燥後の基板Wを渡す。なお、前洗浄部4
a、後洗浄部4bおよび乾燥部4cにおける処理が終了
した基板Wを基板搬送ロボット3が受け取る動作につい
ては、さらに後述する。
【0028】乾燥した基板Wを受け取った基板搬送ロボ
ット3は基板Wを突上部23の上方へと搬送し、突上部
23が基板Wを受け取る。このときの突上部23および
基板搬送ロボット3の動作は、突上部23から基板搬送
ロボット3へと基板Wを渡す際の動作の逆の動作であ
る。その後、カセットCはカセット移載ロボット22に
よりカセット載置部21へと移載される。なお、基板W
が洗浄されている間に突上部23上の空のカセットCは
カセット移載ロボット22により搬送されてカセット洗
浄部24にて洗浄処理が施され、再び突上部23に載置
されている。したがって、洗浄後の基板Wは洗浄された
清浄なカセットCに収容されることとなる。
ット3は基板Wを突上部23の上方へと搬送し、突上部
23が基板Wを受け取る。このときの突上部23および
基板搬送ロボット3の動作は、突上部23から基板搬送
ロボット3へと基板Wを渡す際の動作の逆の動作であ
る。その後、カセットCはカセット移載ロボット22に
よりカセット載置部21へと移載される。なお、基板W
が洗浄されている間に突上部23上の空のカセットCは
カセット移載ロボット22により搬送されてカセット洗
浄部24にて洗浄処理が施され、再び突上部23に載置
されている。したがって、洗浄後の基板Wは洗浄された
清浄なカセットCに収容されることとなる。
【0029】<B.基板搬送ロボットの構成および動作
>以上、この発明に係る基板処理装置1の全体の構成お
よび動作の概略について説明してきたが、次に、基板搬
送ロボット3の構成および動作について説明する。図3
はこの発明に係る基板処理装置における基板搬送ロボッ
ト3の基板Wを保持する部位の斜視図である。
>以上、この発明に係る基板処理装置1の全体の構成お
よび動作の概略について説明してきたが、次に、基板搬
送ロボット3の構成および動作について説明する。図3
はこの発明に係る基板処理装置における基板搬送ロボッ
ト3の基板Wを保持する部位の斜視図である。
【0030】基板搬送ロボット3は、図1中に示すX方
向に移動可能とされるとともに、Y方向を向く六角柱形
状の保持柱36を2つ有しており、これらの保持柱36
で基板Wの外縁部を保持することにより、基板Wが起立
姿勢にて保持されるようになっている。
向に移動可能とされるとともに、Y方向を向く六角柱形
状の保持柱36を2つ有しており、これらの保持柱36
で基板Wの外縁部を保持することにより、基板Wが起立
姿勢にて保持されるようになっている。
【0031】保持柱36は、図3に示すように、その長
手方向をY方向とする正六角柱によって構成されてい
る。また、2つの保持柱36のそれぞれはY方向を向く
軸34を介して基板搬送ロボット3の本体部3a(保持
駆動源)と接続されており、本体部3aによって矢印3
3Sに示すようにX方向に開閉運動されることと、軸3
4を中心に矢印33Rに示すように回転運動されること
とが可能に構成されている。
手方向をY方向とする正六角柱によって構成されてい
る。また、2つの保持柱36のそれぞれはY方向を向く
軸34を介して基板搬送ロボット3の本体部3a(保持
駆動源)と接続されており、本体部3aによって矢印3
3Sに示すようにX方向に開閉運動されることと、軸3
4を中心に矢印33Rに示すように回転運動されること
とが可能に構成されている。
【0032】2つの保持柱36は、相互に同一の形状で
あり、それぞれの保持柱36には基板Wを起立姿勢にて
保持するための溝が形成されている。ここで、本実施形
態における保持柱36には、カセットCが50枚の基板
を収容することが可能な基板配列間隔である第1ピッチ
P1の溝361が形成されている。
あり、それぞれの保持柱36には基板Wを起立姿勢にて
保持するための溝が形成されている。ここで、本実施形
態における保持柱36には、カセットCが50枚の基板
を収容することが可能な基板配列間隔である第1ピッチ
P1の溝361が形成されている。
【0033】図4は保持柱36の形状を示す図であり、
図3における矢印Aにて示す方向からみた図である。な
お、図4は、第1ピッチP1の溝361の位置における
保持柱36のXZ断面を示す図である。
図3における矢印Aにて示す方向からみた図である。な
お、図4は、第1ピッチP1の溝361の位置における
保持柱36のXZ断面を示す図である。
【0034】保持柱36の側面は、保持柱36の軸(Y
方向軸)を中心とする周方向に6つの領域AR1、AR
2、AR3、AR4、AR5、AR6に分割されてい
る。具体的には、保持柱36の側面に存在する6つの稜
線部(図4では、六角形の頂角部分が対応)のそれぞれ
を1つの領域としている。そして、6つの領域には溝3
61が第1ピッチP1の間隔にてすべて等しい深さで形
成されている。本実施形態において、これら6つの領域
のそれぞれの用途は定められているが、これについては
後述する。
方向軸)を中心とする周方向に6つの領域AR1、AR
2、AR3、AR4、AR5、AR6に分割されてい
る。具体的には、保持柱36の側面に存在する6つの稜
線部(図4では、六角形の頂角部分が対応)のそれぞれ
を1つの領域としている。そして、6つの領域には溝3
61が第1ピッチP1の間隔にてすべて等しい深さで形
成されている。本実施形態において、これら6つの領域
のそれぞれの用途は定められているが、これについては
後述する。
【0035】次に、以上説明してきた形状の保持柱36
を有する基板搬送ロボット3が基板Wを保持する態様に
ついて図5および図6を用いつつ説明する。
を有する基板搬送ロボット3が基板Wを保持する態様に
ついて図5および図6を用いつつ説明する。
【0036】図5および図6は、1対の保持柱36が基
板Wを保持する様子を示す図であり、基板Wに関しては
正面からみたものと上方からみたものとを中心線で結ん
で示している。
板Wを保持する様子を示す図であり、基板Wに関しては
正面からみたものと上方からみたものとを中心線で結ん
で示している。
【0037】保持柱36を有する基板搬送ロボット3へ
の突上部23からの基板受渡動作では、まず、カセット
Cが移載された突上機構23aが基板搬送ロボット3の
下方に配置される。なお、ここでのカセットCには、第
1ピッチP1の間隔にて50枚の基板が収納されている
ものとする。
の突上部23からの基板受渡動作では、まず、カセット
Cが移載された突上機構23aが基板搬送ロボット3の
下方に配置される。なお、ここでのカセットCには、第
1ピッチP1の間隔にて50枚の基板が収納されている
ものとする。
【0038】突上機構23aの突上台233の上面には
基板Wを起立姿勢にて保持できるように基板Wの外縁部
がはまり込む溝が形成されており、突上台233が上昇
すると基板Wを基板搬送ロボット3に向けて起立姿勢の
状態のまま突き上げる(図2(b)参照)。そして、基
板Wが所定の高さまで突き上げられると一対の保持柱3
6がその間隔を狭くするようにX方向に移動するととも
に、回転動作を行う。その後、突上台233が下降し、
基板Wの外縁部が保持柱36の溝361にはまり込んで
基板Wを保持する。このときの様子を示したのが図5で
ある。この段階においては、図5に示すように、保持柱
36の領域AR1が処理前基板を保持する未処理基板保
持領域として使用され、基板Wの外縁部は未処理基板保
持領域AR1の溝361にはまり込むようにして第1ピ
ッチP1の間隔にて保持される。
基板Wを起立姿勢にて保持できるように基板Wの外縁部
がはまり込む溝が形成されており、突上台233が上昇
すると基板Wを基板搬送ロボット3に向けて起立姿勢の
状態のまま突き上げる(図2(b)参照)。そして、基
板Wが所定の高さまで突き上げられると一対の保持柱3
6がその間隔を狭くするようにX方向に移動するととも
に、回転動作を行う。その後、突上台233が下降し、
基板Wの外縁部が保持柱36の溝361にはまり込んで
基板Wを保持する。このときの様子を示したのが図5で
ある。この段階においては、図5に示すように、保持柱
36の領域AR1が処理前基板を保持する未処理基板保
持領域として使用され、基板Wの外縁部は未処理基板保
持領域AR1の溝361にはまり込むようにして第1ピ
ッチP1の間隔にて保持される。
【0039】基板搬送ロボット3と突上部23との基板
Wの受渡が完了すると、基板Wは図5に示す状態で前洗
浄部4aへと搬送される。本実施形態においては、基板
Wがすべて未処理基板保持領域AR1の同一形状の溝3
61に保持されることとなるため、基板Wの高さ位置は
同じとなる。その結果、基板搬送ロボット3が搬送を開
始した後も、搬送時の振動による隣接する基板の接触を
防止することができ、基板Wに損傷を与えることがな
い。
Wの受渡が完了すると、基板Wは図5に示す状態で前洗
浄部4aへと搬送される。本実施形態においては、基板
Wがすべて未処理基板保持領域AR1の同一形状の溝3
61に保持されることとなるため、基板Wの高さ位置は
同じとなる。その結果、基板搬送ロボット3が搬送を開
始した後も、搬送時の振動による隣接する基板の接触を
防止することができ、基板Wに損傷を与えることがな
い。
【0040】基板搬送ロボット3と前洗浄部4aとの基
板Wの受渡においては、まず、基板搬送ロボット3が基
板Wを保持した状態で前洗浄部4aなどの上方に位置
し、その後、昇降台42aが保持柱36に保持されてい
る全ての基板Wを接触して保持するまで上昇する。その
後、基板搬送ロボット3が一対の保持柱36をその間隔
が拡がるようにX方向移動させ、昇降台42aが基板W
を保持したまま貯留槽41へと下降して基板Wを洗浄液
に浸漬させる。
板Wの受渡においては、まず、基板搬送ロボット3が基
板Wを保持した状態で前洗浄部4aなどの上方に位置
し、その後、昇降台42aが保持柱36に保持されてい
る全ての基板Wを接触して保持するまで上昇する。その
後、基板搬送ロボット3が一対の保持柱36をその間隔
が拡がるようにX方向移動させ、昇降台42aが基板W
を保持したまま貯留槽41へと下降して基板Wを洗浄液
に浸漬させる。
【0041】前洗浄部4aにおける洗浄処理が終了する
と、基板搬送ロボット3が前洗浄部4aから基板Wを受
け取る。このときには、まず、一対の保持柱36の間隔
を拡げたまま、洗浄処理後の基板Wを保持した昇降台4
2aが十分に上昇する。そして、一対の保持柱36がそ
の間隔を狭くするようにX方向に移動するとともに、回
転動作を行う。その後、昇降台42aが下降することに
より、基板Wはそれらの側方外縁部が保持柱36に当接
し、第1ピッチP1の間隔にて再び保持される。この段
階では、保持柱36の領域AR3が洗浄処理中の基板
W、すなわち洗浄液が付着した基板Wを保持する処理中
基板保持領域として使用され、基板Wの外縁部は処理中
基板保持領域AR3の溝361にはまり込むようにして
第1ピッチP1の間隔にて保持される。
と、基板搬送ロボット3が前洗浄部4aから基板Wを受
け取る。このときには、まず、一対の保持柱36の間隔
を拡げたまま、洗浄処理後の基板Wを保持した昇降台4
2aが十分に上昇する。そして、一対の保持柱36がそ
の間隔を狭くするようにX方向に移動するとともに、回
転動作を行う。その後、昇降台42aが下降することに
より、基板Wはそれらの側方外縁部が保持柱36に当接
し、第1ピッチP1の間隔にて再び保持される。この段
階では、保持柱36の領域AR3が洗浄処理中の基板
W、すなわち洗浄液が付着した基板Wを保持する処理中
基板保持領域として使用され、基板Wの外縁部は処理中
基板保持領域AR3の溝361にはまり込むようにして
第1ピッチP1の間隔にて保持される。
【0042】その後、基板Wは基板搬送ロボット3によ
って後洗浄部4bへと搬送される。基板搬送ロボット3
と後洗浄部4bとの基板Wの受渡は、上述した前洗浄部
4aとの基板Wの受渡と同じ手順となる。また、後洗浄
部4bから受け取った基板Wにも洗浄液が付着している
ため、それら基板Wは保持柱36の処理中基板保持領域
AR3によって保持される。
って後洗浄部4bへと搬送される。基板搬送ロボット3
と後洗浄部4bとの基板Wの受渡は、上述した前洗浄部
4aとの基板Wの受渡と同じ手順となる。また、後洗浄
部4bから受け取った基板Wにも洗浄液が付着している
ため、それら基板Wは保持柱36の処理中基板保持領域
AR3によって保持される。
【0043】洗浄処理が終了すると、基板Wは基板搬送
ロボット3によって乾燥部4cへと搬送される。基板搬
送ロボット3と乾燥部4cとの基板Wの受渡の手順も上
述と同様となる。但し、基板搬送ロボット3が乾燥部4
cから受け取った基板Wは、保持柱36の領域AR5に
よって保持される。すなわち、領域AR5は、洗浄処理
および乾燥処理が終了した基板Wを保持する処理後基板
保持領域として使用され、基板Wの外縁部は処理後基板
保持領域AR5の溝361にはまり込むようにして第1
ピッチP1の間隔にて保持される。
ロボット3によって乾燥部4cへと搬送される。基板搬
送ロボット3と乾燥部4cとの基板Wの受渡の手順も上
述と同様となる。但し、基板搬送ロボット3が乾燥部4
cから受け取った基板Wは、保持柱36の領域AR5に
よって保持される。すなわち、領域AR5は、洗浄処理
および乾燥処理が終了した基板Wを保持する処理後基板
保持領域として使用され、基板Wの外縁部は処理後基板
保持領域AR5の溝361にはまり込むようにして第1
ピッチP1の間隔にて保持される。
【0044】その後、処理が完了した基板Wは基板搬送
ロボット3により突上部23の上方へと搬送され、突上
部23から基板Wを受け取ったときの動作と逆の動作を
して、カセットCに第1ピッチP1にて収容される。
ロボット3により突上部23の上方へと搬送され、突上
部23から基板Wを受け取ったときの動作と逆の動作を
して、カセットCに第1ピッチP1にて収容される。
【0045】一方、被処理基板の種類等によっては、カ
セットCに25枚の基板Wを収容した状態で基板処理装
置1に基板搬入が行われる場合もある。このような場合
は、カセットCに、第1ピッチP1の2倍の基板配列間
隔である第2ピッチP2の間隔にて25枚の基板Wが収
容されている。
セットCに25枚の基板Wを収容した状態で基板処理装
置1に基板搬入が行われる場合もある。このような場合
は、カセットCに、第1ピッチP1の2倍の基板配列間
隔である第2ピッチP2の間隔にて25枚の基板Wが収
容されている。
【0046】この場合、まず、第2ピッチP2の間隔に
て基板Wを収容したカセットCが移載された突上機構2
3bが基板搬送ロボット3の下方に配置される。突上機
構23bの突上台233の上面にも基板Wを起立姿勢に
て保持できるように基板Wの外縁部がはまり込む溝が形
成されており、突上台233が上昇すると基板Wを基板
搬送ロボット3に向けて起立姿勢の状態のまま突き上げ
る。そして、基板Wが所定の高さまで突き上げられると
一対の保持柱36がその間隔を狭くするようにX方向に
移動するとともに、回転動作を行う。その後、突上台2
33が下降し、基板Wの外縁部が保持柱36の溝361
にはまり込んで基板Wを保持する。このときの様子を示
したのが図6である。この段階においては、図6に示す
ように、保持柱36の領域AR2が処理前基板を保持す
る未処理基板保持領域として使用され、基板Wの外縁部
は未処理基板保持領域AR2の溝361にはまり込むよ
うにして第2ピッチP2の間隔にて保持される。
て基板Wを収容したカセットCが移載された突上機構2
3bが基板搬送ロボット3の下方に配置される。突上機
構23bの突上台233の上面にも基板Wを起立姿勢に
て保持できるように基板Wの外縁部がはまり込む溝が形
成されており、突上台233が上昇すると基板Wを基板
搬送ロボット3に向けて起立姿勢の状態のまま突き上げ
る。そして、基板Wが所定の高さまで突き上げられると
一対の保持柱36がその間隔を狭くするようにX方向に
移動するとともに、回転動作を行う。その後、突上台2
33が下降し、基板Wの外縁部が保持柱36の溝361
にはまり込んで基板Wを保持する。このときの様子を示
したのが図6である。この段階においては、図6に示す
ように、保持柱36の領域AR2が処理前基板を保持す
る未処理基板保持領域として使用され、基板Wの外縁部
は未処理基板保持領域AR2の溝361にはまり込むよ
うにして第2ピッチP2の間隔にて保持される。
【0047】未処理基板保持領域AR2には、未処理基
板保持領域AR1と同様に、カセットCが50枚の基板
を収容することが可能な基板配列間隔である第1ピッチ
P1にて溝361が形成されているのであるが、第2ピ
ッチP2は第1ピッチP1の整数倍(ここでは2倍)の
間隔であるため、第2ピッチP2で配列された基板Wを
保持することができるのである。したがって、未処理基
板保持領域AR2においては、全ての溝361が使用さ
れているのではなく、使用されている溝361と未使用
の溝361とが交互に繰り返されて配列された状態とな
る。換言すれば、未処理基板保持領域AR2に形成され
た第1ピッチP1の溝361から間欠的に選択された一
部の溝361によって第2ピッチP2の間隔の25枚の
基板Wが保持される。
板保持領域AR1と同様に、カセットCが50枚の基板
を収容することが可能な基板配列間隔である第1ピッチ
P1にて溝361が形成されているのであるが、第2ピ
ッチP2は第1ピッチP1の整数倍(ここでは2倍)の
間隔であるため、第2ピッチP2で配列された基板Wを
保持することができるのである。したがって、未処理基
板保持領域AR2においては、全ての溝361が使用さ
れているのではなく、使用されている溝361と未使用
の溝361とが交互に繰り返されて配列された状態とな
る。換言すれば、未処理基板保持領域AR2に形成され
た第1ピッチP1の溝361から間欠的に選択された一
部の溝361によって第2ピッチP2の間隔の25枚の
基板Wが保持される。
【0048】その後の基板搬送ロボット3の動作は、上
述した第1ピッチP1の配列を有する基板の搬送と同じ
である。但し、第2ピッチP2の配列を有する基板の搬
送を行うときは、洗浄処理中の基板Wを保持する処理中
基板保持領域として使用されるのは領域AR4であり、
また洗浄処理および乾燥処理が終了した基板Wを保持す
る処理後基板保持領域として使用されるのは領域AR6
である。なお、処理中基板保持領域AR4および処理後
基板保持領域AR6においても、未処理基板保持領域A
R2と同様に、使用されている溝361と未使用の溝3
61とが交互に繰り返されて配列された状態となる。
述した第1ピッチP1の配列を有する基板の搬送と同じ
である。但し、第2ピッチP2の配列を有する基板の搬
送を行うときは、洗浄処理中の基板Wを保持する処理中
基板保持領域として使用されるのは領域AR4であり、
また洗浄処理および乾燥処理が終了した基板Wを保持す
る処理後基板保持領域として使用されるのは領域AR6
である。なお、処理中基板保持領域AR4および処理後
基板保持領域AR6においても、未処理基板保持領域A
R2と同様に、使用されている溝361と未使用の溝3
61とが交互に繰り返されて配列された状態となる。
【0049】以上のように、基板処理装置1に第1ピッ
チP1の間隔にて配列された基板Wおよび第2ピッチP
2の間隔にて配列された基板Wの双方が搬入される可能
性がある場合において、保持柱36の側面に存在する6
つの領域のそれぞれに第1ピッチP1と第2ピッチP2
との最大公約数のピッチ、すなわち本実施形態では第1
ピッチP1の溝361が形成されているため、第1ピッ
チP1または第2ピッチP2のいずれの間隔にて配列さ
れた基板Wをも保持することが可能となる。すなわち、
ピッチ変換を行うための専用の装置を用いなくても、異
なるピッチにて配列された基板を搬送することができ、
異なるピッチのカセットを使用することができる。
チP1の間隔にて配列された基板Wおよび第2ピッチP
2の間隔にて配列された基板Wの双方が搬入される可能
性がある場合において、保持柱36の側面に存在する6
つの領域のそれぞれに第1ピッチP1と第2ピッチP2
との最大公約数のピッチ、すなわち本実施形態では第1
ピッチP1の溝361が形成されているため、第1ピッ
チP1または第2ピッチP2のいずれの間隔にて配列さ
れた基板Wをも保持することが可能となる。すなわち、
ピッチ変換を行うための専用の装置を用いなくても、異
なるピッチにて配列された基板を搬送することができ、
異なるピッチのカセットを使用することができる。
【0050】また、保持柱36の側面に存在する6つの
領域は、搬送すべき基板の配列状態(第1ピッチP1ま
たは第2ピッチP2)および処理状態(処理の前中後)
に応じて使い分けられている。その内容を整理すると、 領域AR1:第1ピッチP1にて配列された未処理基板を保持する領域 領域AR2:第2ピッチP2にて配列された未処理基板を保持する領域 領域AR3:第1ピッチP1にて配列された処理中基板を保持する領域 領域AR4:第2ピッチP2にて配列された処理中基板を保持する領域 領域AR5:第1ピッチP1にて配列された処理後基板を保持する領域 領域AR6:第2ピッチP2にて配列された処理後基板を保持する領域 となる。
領域は、搬送すべき基板の配列状態(第1ピッチP1ま
たは第2ピッチP2)および処理状態(処理の前中後)
に応じて使い分けられている。その内容を整理すると、 領域AR1:第1ピッチP1にて配列された未処理基板を保持する領域 領域AR2:第2ピッチP2にて配列された未処理基板を保持する領域 領域AR3:第1ピッチP1にて配列された処理中基板を保持する領域 領域AR4:第2ピッチP2にて配列された処理中基板を保持する領域 領域AR5:第1ピッチP1にて配列された処理後基板を保持する領域 領域AR6:第2ピッチP2にて配列された処理後基板を保持する領域 となる。
【0051】従って、例えば、装置に搬入された基板が
パーティクルなどによって汚染されていたとしても、そ
の汚染は未処理基板保持領域AR1、AR2に留まる。
一方、洗浄処理中の基板に付着した洗浄液の液滴は処理
中基板保持領域AR3、AR4に留まる。換言すれば、
処理後基板保持領域AR5、AR6が処理前または洗浄
処理中の基板Wを保持することはないため、洗浄処理お
よび乾燥処理が終了した基板Wに未処理基板の汚染が転
写したり洗浄処理中基板の洗浄液が付着するのを防止す
ることができる。そして、その結果、本発明に係る基板
処理装置における洗浄後の基板の清浄度を容易に維持す
ることができる。
パーティクルなどによって汚染されていたとしても、そ
の汚染は未処理基板保持領域AR1、AR2に留まる。
一方、洗浄処理中の基板に付着した洗浄液の液滴は処理
中基板保持領域AR3、AR4に留まる。換言すれば、
処理後基板保持領域AR5、AR6が処理前または洗浄
処理中の基板Wを保持することはないため、洗浄処理お
よび乾燥処理が終了した基板Wに未処理基板の汚染が転
写したり洗浄処理中基板の洗浄液が付着するのを防止す
ることができる。そして、その結果、本発明に係る基板
処理装置における洗浄後の基板の清浄度を容易に維持す
ることができる。
【0052】<C.変形例>以上、この発明の実施形態
について説明したが、この発明は上記の例に限定される
ものではない。
について説明したが、この発明は上記の例に限定される
ものではない。
【0053】例えば、上記実施形態では基板搬送ロボッ
ト3の保持柱36の側面を6つの領域に分割していた
が、これに限定されるものではなく分割する領域の数は
基板処理の工程に応じて任意に定めることができる。
ト3の保持柱36の側面を6つの領域に分割していた
が、これに限定されるものではなく分割する領域の数は
基板処理の工程に応じて任意に定めることができる。
【0054】また、保持柱36の形状も正六角柱の形状
に限定されず、柱状のものであればよく、例えば、他の
多角柱や円柱としてもよい。すなわち、柱状形状の軸を
中心とする周方向に複数の領域に分割し、その分割した
領域ごとに用途を定めるものであればよい。
に限定されず、柱状のものであればよく、例えば、他の
多角柱や円柱としてもよい。すなわち、柱状形状の軸を
中心とする周方向に複数の領域に分割し、その分割した
領域ごとに用途を定めるものであればよい。
【0055】また、上記実施形態においては、第1ピッ
チP1をカセットCに50枚の基板を収容することが可
能な基板配列間隔とし、第2ピッチP2をカセットCに
25枚の基板を収容することが可能な基板配列間隔とし
ていたが、これに限定されるものではなく、第1ピッチ
P1および第2ピッチP2の組み合わせは任意の組み合
わせが可能であり、さらに第2ピッチP2が第1ピッチ
P1の整数倍である必要もない。すなわち、保持柱36
に第1ピッチP1と第2ピッチP2との最大公約数のピ
ッチの溝361を形成しておけば、第1ピッチP1また
は第2ピッチP2のいずれの間隔にて配列された基板W
をも保持・搬送することが可能となる。もっとも、第2
ピッチP2を第1ピッチP1の整数倍としておけば、保
持柱36には第1ピッチP1の溝361を形成するだけ
でよいので、製作が容易となる。
チP1をカセットCに50枚の基板を収容することが可
能な基板配列間隔とし、第2ピッチP2をカセットCに
25枚の基板を収容することが可能な基板配列間隔とし
ていたが、これに限定されるものではなく、第1ピッチ
P1および第2ピッチP2の組み合わせは任意の組み合
わせが可能であり、さらに第2ピッチP2が第1ピッチ
P1の整数倍である必要もない。すなわち、保持柱36
に第1ピッチP1と第2ピッチP2との最大公約数のピ
ッチの溝361を形成しておけば、第1ピッチP1また
は第2ピッチP2のいずれの間隔にて配列された基板W
をも保持・搬送することが可能となる。もっとも、第2
ピッチP2を第1ピッチP1の整数倍としておけば、保
持柱36には第1ピッチP1の溝361を形成するだけ
でよいので、製作が容易となる。
【0056】また、上記実施形態では、第1ピッチP1
にて配列された基板Wを保持する領域(領域AR1、A
R3、AR5)と第2ピッチP2にて配列された基板W
を保持する領域(領域AR2、AR4、AR6)とを分
離していたが、これらを同じ領域で保持するようにして
もよい。但し、この場合であっても、処理の前中後に応
じて領域を分離する方が好ましい。すなわち、基板の配
列状態に関しては領域を分離する必要は必ずしもない
が、基板の処理状態に関しては領域を分離する必要があ
る。
にて配列された基板Wを保持する領域(領域AR1、A
R3、AR5)と第2ピッチP2にて配列された基板W
を保持する領域(領域AR2、AR4、AR6)とを分
離していたが、これらを同じ領域で保持するようにして
もよい。但し、この場合であっても、処理の前中後に応
じて領域を分離する方が好ましい。すなわち、基板の配
列状態に関しては領域を分離する必要は必ずしもない
が、基板の処理状態に関しては領域を分離する必要があ
る。
【0057】また、上記実施形態においては、保持柱3
6の稜線部に領域を設け溝を刻設していたが、これを保
持柱36の面を領域とし、そこに溝を形成するようにし
ても良い。もっとも、稜線部に溝を形成する方が加工が
容易である。
6の稜線部に領域を設け溝を刻設していたが、これを保
持柱36の面を領域とし、そこに溝を形成するようにし
ても良い。もっとも、稜線部に溝を形成する方が加工が
容易である。
【0058】さらに、本発明に係る基板処置装置に組み
込む処理ユニットの種類や数は任意に定めることができ
る。例えば、上記実施形態において、前洗浄部4aや後
洗浄部4bの数をさらに増加させても良いし、異なる種
類の新たな洗浄部を設けるようにしても良い。そして、
このような場合は、処理の種類に応じて保持柱36に設
ける領域の数を決定するのが好ましい。
込む処理ユニットの種類や数は任意に定めることができ
る。例えば、上記実施形態において、前洗浄部4aや後
洗浄部4bの数をさらに増加させても良いし、異なる種
類の新たな洗浄部を設けるようにしても良い。そして、
このような場合は、処理の種類に応じて保持柱36に設
ける領域の数を決定するのが好ましい。
【0059】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、複数の基板のそれぞれの外縁部を側方より保
持する複数の保持領域を有する2つの保持柱と、それら
2つの保持柱に保持動作を行わせる保持駆動源とを備え
るとともに、複数の保持領域に第1ピッチと第2ピッチ
との最大公約数である第3ピッチの溝を形成した領域を
含ませているため、ピッチ変換を行うための専用の装置
を用いなくても、異なるピッチにて配列された基板を搬
送することができる。
によれば、複数の基板のそれぞれの外縁部を側方より保
持する複数の保持領域を有する2つの保持柱と、それら
2つの保持柱に保持動作を行わせる保持駆動源とを備え
るとともに、複数の保持領域に第1ピッチと第2ピッチ
との最大公約数である第3ピッチの溝を形成した領域を
含ませているため、ピッチ変換を行うための専用の装置
を用いなくても、異なるピッチにて配列された基板を搬
送することができる。
【0060】また、請求項2の発明によれば、複数の保
持領域に、所定の処理を施す前の複数の基板を保持する
第1領域と、所定の処理を施した後の複数の基板を保持
する第2領域とを含ませているため、装置に搬入された
所定の処理前の基板が汚染されていたとしても、その汚
染が所定の処理後の基板に転写することを防止でき、所
定の処理後の基板の清浄度を容易に維持することができ
る。
持領域に、所定の処理を施す前の複数の基板を保持する
第1領域と、所定の処理を施した後の複数の基板を保持
する第2領域とを含ませているため、装置に搬入された
所定の処理前の基板が汚染されていたとしても、その汚
染が所定の処理後の基板に転写することを防止でき、所
定の処理後の基板の清浄度を容易に維持することができ
る。
【0061】また、請求項3の発明によれば、複数の保
持領域に、所定の処理中の複数の基板を保持する第3領
域をさらに含ませているため、当該所定の処理が洗浄処
理であったとしても、洗浄処理後の基板に洗浄処理中基
板の洗浄液が付着するのを防止することができ、その結
果、洗浄処理後の基板の清浄度を容易に維持することが
できる。
持領域に、所定の処理中の複数の基板を保持する第3領
域をさらに含ませているため、当該所定の処理が洗浄処
理であったとしても、洗浄処理後の基板に洗浄処理中基
板の洗浄液が付着するのを防止することができ、その結
果、洗浄処理後の基板の清浄度を容易に維持することが
できる。
【0062】また、請求項4の発明によれば、2つの保
持柱を多角柱とし、複数の保持領域を多角柱の稜線部に
形成しているため、容易に保持柱を加工して製作するこ
とができる。
持柱を多角柱とし、複数の保持領域を多角柱の稜線部に
形成しているため、容易に保持柱を加工して製作するこ
とができる。
【0063】また、請求項5の発明によれば、2つの保
持柱を多角柱とし、複数の保持領域を多角柱の面に形成
しているため、容易に保持柱を加工して製作することが
できる。
持柱を多角柱とし、複数の保持領域を多角柱の面に形成
しているため、容易に保持柱を加工して製作することが
できる。
【0064】また、請求項6の発明によれば、第2ピッ
チを第1ピッチの整数倍としているため、保持領域に第
1ピッチの溝のみを形成すればよく、保持柱の製作が容
易となる。
チを第1ピッチの整数倍としているため、保持領域に第
1ピッチの溝のみを形成すればよく、保持柱の製作が容
易となる。
【0065】また、請求項7の発明によれば、複数の基
板を保持する際には、カセットにおける複数の基板の収
容ピッチに応じて、複数の溝から間欠的に選択された一
部または複数の溝の全部によって複数の基板のそれぞれ
の外縁部を保持しているため、ピッチ変換を行うための
専用の装置を用いなくても、異なるピッチにて配列され
た基板を搬送することができる。
板を保持する際には、カセットにおける複数の基板の収
容ピッチに応じて、複数の溝から間欠的に選択された一
部または複数の溝の全部によって複数の基板のそれぞれ
の外縁部を保持しているため、ピッチ変換を行うための
専用の装置を用いなくても、異なるピッチにて配列され
た基板を搬送することができる。
【図1】本発明に係る基板処理装置の全体を示す斜視図
である。
である。
【図2】(a)および(b)は突上機構と基板搬送ロボットと
の基板の受渡動作を示す図である。
の基板の受渡動作を示す図である。
【図3】図1の基板処理装置における基板搬送ロボット
の基板を保持する部位の斜視図である。
の基板を保持する部位の斜視図である。
【図4】図1の基板処理装置における基板搬送ロボット
の保持柱の形状を示す図である。
の保持柱の形状を示す図である。
【図5】図4の保持柱が基板を保持する様子を示す図で
ある。
ある。
【図6】図4の保持柱が基板を保持する様子を示す図で
ある。
ある。
1 基板処理装置 3 基板搬送ロボット 3a 本体部 4a 前洗浄部 4b 後洗浄部 4c 乾燥部 36 保持柱 361A 溝 AR1、AR2 未処理基板保持領域 AR3、AR4 処理中基板保持領域 AR5、AR6 処理後基板保持領域 C カセット W 基板
フロントページの続き (72)発明者 長谷川 公二 滋賀県野洲郡野洲町大字三上字口ノ川原 2426番1 大日本スクリーン製造株式会社 野洲事業所内
Claims (7)
- 【請求項1】 複数の基板を第1ピッチにて収容可能な
カセットと、複数の基板を前記第1ピッチとは異なる第
2ピッチにて収容可能なカセットのうち、いずれのカセ
ットに対しても、基板に所定の処理を施す処理手段との
間で前記複数の基板を搬送して前記複数の基板の処理を
行う基板処理装置であって、 (a) 前記複数の基板のそれぞれの外縁部を側方より保持
する複数の保持領域を有する2つの保持柱と、 (b) 前記2つの保持柱に保持動作を行わせる保持駆動源
と、を備え、 前記複数の保持領域は、前記保持柱の側面を前記保持柱
の軸を中心とする周方向に分割した領域であり、 前記複数の保持領域は、前記第1ピッチと前記第2ピッ
チとの最大公約数である第3ピッチの溝を形成した領域
を含むことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 前記複数の保持領域は、 前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理を施す前
の前記複数の基板を保持する第1領域と、 前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理を施した
後の前記複数の基板を保持する第2領域と、 を含むことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の基板処理装置において、 前記複数の保持領域は、 前記第3ピッチの溝を形成し、前記所定の処理中の前記
複数の基板を保持する第3領域、 をさらに含むことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
の基板処理装置において、 前記2つの保持柱は、多角柱であり、 前記複数の保持領域は、前記多角柱の稜線部に形成され
ていることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項5】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
の基板処理装置において、 前記2つの保持柱は、多角柱であり、 前記複数の保持領域は、前記多角柱の面に形成されてい
ることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項6】 請求項1から請求項5のいずれかに記載
の基板処理装置において、 前記第2ピッチは前記第1ピッチの整数倍であることを
特徴とする基板処理装置。 - 【請求項7】 複数の基板をカセットと基板処理手段と
の間で搬送して前記複数の基板を処理する基板処理方法
において、 前記複数の基板をそれぞれ保持可能な複数の保持領域を
有する2つの保持柱であって、前記保持柱の側面を前記
保持柱の軸を中心とする周方向に分割して得られる領域
が前記複数の保持領域として利用され、かつ前記複数の
領域のそれぞれに複数の溝が所定のピッチで形成された
ものを備えるとともに、前記2つの保持柱によって前記
複数の基板を保持して搬送することが可能な基板搬送手
段を設置しておき、 前記基板搬送手段の前記2つの保持柱で前記複数の基板
を保持する際には、前記カセットにおける前記複数の基
板の収容ピッチに応じて、前記複数の溝から間欠的に選
択された一部または前記複数の溝の全部によって前記複
数の基板のそれぞれの外縁部を保持することを特徴とす
る基板処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3904598A JPH11238783A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 基板処理装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3904598A JPH11238783A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 基板処理装置および方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11238783A true JPH11238783A (ja) | 1999-08-31 |
Family
ID=12542161
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3904598A Pending JPH11238783A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 基板処理装置および方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11238783A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008133149A1 (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Ulvac, Inc. | 支持部材およびキャリアと支持方法 |
KR100978261B1 (ko) | 2005-12-29 | 2010-08-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시소자의 카세트 |
CN103538774A (zh) * | 2013-10-29 | 2014-01-29 | 南昌欧菲光学技术有限公司 | 玻璃定位齿条及应用该玻璃定位齿条的玻璃固定装置 |
CN111243987A (zh) * | 2018-11-28 | 2020-06-05 | 东京毅力科创株式会社 | 检查装置、维护方法和记录有程序的记录介质 |
-
1998
- 1998-02-20 JP JP3904598A patent/JPH11238783A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100978261B1 (ko) | 2005-12-29 | 2010-08-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시소자의 카세트 |
WO2008133149A1 (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Ulvac, Inc. | 支持部材およびキャリアと支持方法 |
US20100117280A1 (en) * | 2007-04-23 | 2010-05-13 | Ulvac, Inc. | Supporting member and carrier, and method of supporting |
KR101246310B1 (ko) | 2007-04-23 | 2013-03-21 | 가부시키가이샤 아루박 | 지지부재 및 캐리어와 지지방법 |
US8550441B2 (en) | 2007-04-23 | 2013-10-08 | Ulvac, Inc. | Supporting member and carrier, and method of supporting |
CN103538774A (zh) * | 2013-10-29 | 2014-01-29 | 南昌欧菲光学技术有限公司 | 玻璃定位齿条及应用该玻璃定位齿条的玻璃固定装置 |
CN111243987A (zh) * | 2018-11-28 | 2020-06-05 | 东京毅力科创株式会社 | 检查装置、维护方法和记录有程序的记录介质 |
CN111243987B (zh) * | 2018-11-28 | 2023-06-09 | 东京毅力科创株式会社 | 检查装置、维护方法和记录有程序的记录介质 |
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