JPH11226477A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
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- JPH11226477A JPH11226477A JP3597498A JP3597498A JPH11226477A JP H11226477 A JPH11226477 A JP H11226477A JP 3597498 A JP3597498 A JP 3597498A JP 3597498 A JP3597498 A JP 3597498A JP H11226477 A JPH11226477 A JP H11226477A
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- processing
- substrate
- supply
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
不適切な処理が施されたことを知ることができる基板処
理装置を提供する。 【解決手段】 処理に先立って基準位置REF0を設定
するとともに供給検出領域130Aを設定し、位置関係
情報RPとともに記憶しておく。処理時には、基準位置
REF0に相当する処理時基準位置を抽出し、これと位
置関係情報RPとから処理時供給検出領域を設定する。
したがって、ある程度の位置ずれであれば処理時供給検
出領域を追従させることができ、位置ずれに起因する不
具合を防止できる。また、処理時基準位置や処理時供給
検出領域を設定できないほどのずれである場合には、警
報を発して不適切な処理の実施を知ることができる。
Description
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に、フォトレジスト液、SOG液(Spin On Glass:
シリカ系被膜形成材とも呼ばれる)、ポリイミド樹脂な
どの処理液を供給しつつ、基板に所定の処理を施す基板
処理装置に関する。
えば、基板表面の回転中心付近を含む処理液供給ノズル
の先端部付近を撮影可能な位置にCCDカメラを取り付
けておき、フォトレジスト液の供給を開始する命令であ
る供給開始命令が実行された時点から所定の周期でその
範囲を撮影し、撮影された各画像の濃淡変化に基づいて
フォトレジスト液が実際に供給されたと判断して、この
判断時点からそれ以降の命令(タイマースタート命令)
を実行するようにしたものが挙げられる。
時点から実際にフォトレジスト液が基板に対して供給さ
れた時点、例えば、処理液供給ノズルの先端部からフォ
トレジスト液が吐出された時点、または、処理液供給ノ
ズルの先端部から吐出されたフォトレジスト液が基板の
表面に到達した時点を画像の濃淡変化に基づき検出し、
この時点からタイマースタート命令を実行する。これに
より供給開始命令から後の命令の実行時点を、サックバ
ックバルブやエアシリンダの介在に起因して生じる、制
御部が供給開始命令を実行してから実際にフォトレジス
ト液が供給開始されるまでの遅れである開始遅れ時間の
大きさや変動に係わらず、実際にフォトレジスト液が吐
出された時点または実際にフォトレジスト液が基板に到
達した時点に依存させることができる。したがって、こ
のように構成された装置では、フォトレジスト液の供給
時間を一定化することができ、各ロット間や各ロット内
における処理を全て均一に施すことができる。
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、基板を高速に回転駆動することによっ
て生じる振動や、オペレータが装置内を洗浄する際など
にCCDカメラに触れたりすること等が原因となって、
その取り付け位置がずれる場合がある。このようにCC
Dカメラの取り付け位置がずれると、処理液供給ノズル
の先端部付近に設定されていた撮影範囲がずれることに
なるので、供給開始命令が実行されてからフォトレジス
ト液が実際に供給された時点(吐出や到達した時点)を
正確に検出することができない。したがって、上記のよ
うな構成の装置であっても各基板に処理を均一に施すこ
とができなくなる恐れがある。
像の濃淡変化に基づき実際の供給時点を検出している関
係上、その取り付け位置がずれたとしても基板の表面を
撮影できる程度のずれである場合には、基板の回転中心
付近に供給されてその周縁部に向かって拡がってゆくフ
ォトレジスト液により画像に濃淡変化が生じるので、そ
の時点が実際の供給時点として誤認されることになる。
このような場合には、フォトレジスト液の供給時間が意
図した時間より長くなって不適切な処理が施されてしま
うという問題がある。
して不適切な処理が行われているにも係わらず、そのこ
とをオペレータは知ることができないので、その時点で
処理を停止したり、処理単位である1ロット分の基板に
対する処理を終えた時点で再処理を行うといった対策を
行うことができないという問題がある。
たものであって、撮影手段の大きなずれを検出すること
により不適切な処理が施されたことを知ることができる
基板処理装置を提供することを目的とする。
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板処理装置は、基板に処理液を
供給しつつ、基板に所定の処理を施す基板処理装置であ
って、基板を保持する基板保持手段と、前記基板保持手
段に保持された基板の上方にあたる供給位置と、前記基
板保持手段に保持された基板の側方に離れた待機位置と
にわたって移動可能であって、前記供給位置において基
板に処理液を供給する処理液供給手段と、前記供給位置
にある前記処理液供給手段から処理液が供給されたこと
を検出可能な撮影範囲を撮影する撮影手段と、前記撮影
範囲の中から基準位置を設定する基準位置設定手段と、
前記撮影範囲の中から前記基準位置に相当する位置を基
板を処理する際の処理時基準位置として抽出する抽出手
段と、前記抽出手段が前記処理時基準位置を抽出できな
い場合に、そのことを報知する報知手段と、を備えたこ
とを特徴とするものである。
請求項1に記載の基板処理装置において、さらに、前記
撮影範囲の中から前記処理液供給手段の先端部または前
記処理液供給手段から供給された処理液が基板に到達し
た時点を供給検出領域として設定する第1領域設定手段
と、前記撮影範囲の中から前記供給検出領域に相当する
位置を基板を処理する際の処理時供給検出領域として設
定する第2領域設定手段とを備え、前記報知手段は、前
記第2領域設定手段が前記処理時供給検出領域を設定で
きない場合に、そのことを報知することを特徴とするも
のである。
請求項2に記載の基板処理装置において、さらに、前記
基準位置と前記供給検出領域との相対的な位置関係を記
憶する記憶手段を備え、前記第2領域設定手段は、前記
抽出手段によって抽出された前記処理時基準位置と前記
記憶手段に記憶されている位置関係とに基づいて前記処
理時供給検出領域を設定することを特徴とするものであ
る。
る。基板の処理に先立ち、基板が基板保持手段に保持さ
れ、その基板の上方にあたる供給位置に処理液供給手段
がある状態で、処理液供給手段から処理液が供給された
ことを検出する撮影手段の撮影範囲の中から基準位置設
定手段が基準位置を設定する。
が行われ、抽出手段が撮影範囲の中から基準位置に相当
する位置を基板を処理する際の処理時基準位置として抽
出をする。そして、抽出手段が処理時基準位置を抽出で
きない場合には、報知手段がそのことを報知する。その
結果、オペレータは、報知手段の報知によって基板に不
適切な処理が施されることを知ることになる。
板の処理に先立ち、基板が基板保持手段に保持され、そ
の基板の上方にあたる供給位置に処理液供給手段がある
状態で、第1領域設定手段が、撮影範囲の中から処理液
供給手段の先端部または処理液供給手段から供給された
処理液が基板に到達した点を供給検出領域として設定す
る。基板の処理の際には、撮影手段による撮影が行わ
れ、第2領域設定手段が撮影範囲の中から供給検出領域
に相当する位置を基板を処理する際の処理時供給検出領
域として設定する。このとき、抽出手段が処理時基準位
置を抽出しているが、第2領域設定手段が処理時供給検
出領域を設定できない場合には、処理液の供給時点を正
確に検出できていないので、報知手段がそのことを報知
する。その結果、オペレータは、報知手段の報知によっ
て基板に不適切な処理が施されていることを知ることに
なる。
憶手段が基準位置と供給検出領域との相対的な位置関係
を記憶しており、第2領域設定手段は、抽出手段によっ
て抽出された処理時基準位置と記憶手段に記憶された位
置関係とに基づいて処理時供給検出領域として設定して
いるので、処理液供給手段と撮影手段とが相対的にずれ
ても、処理時基準位置と位置関係とから、そのずれ量に
対応した処理時供給検出領域が設定される。
実施例を説明する。図1は、本発明に係る基板処理装置
の一例である回転式基板塗布装置(スピンコータとも呼
ばれる)を示すブロック図である。
基板Wをほぼ水平姿勢で吸着保持するものである。この
スピンチャック1は、回転軸2を介して電動モータ3に
よって回転駆動されるようになっており、この回転によ
り基板Wが回転中心P周りに回転駆動される。なお、上
記の吸引式スピンチャック1と、回転軸2と、電動モー
タ3は、本発明における基板保持手段に相当する。
例であるフォトレジスト液や基板Wの裏面を洗浄する洗
浄液などの飛散を防止するための飛散防止カップ4aが
配設されている。また、この飛散防止カップ4aの上部
開口には、ダウンフローを取り込むための複数個の開口
を上部に形成された上部蓋部材4bが、この装置のフレ
ームに固定されて位置固定の状態で配設されている。ま
た、図示しない搬送機構が未処理の基板Wをスピンチャ
ック1に載置、または、スピンチャック1から処理済み
の基板Wを受け取る際には、図示しない昇降機構が飛散
防止カップ4aのみを下降させることによって、飛散防
止カップ4aと上部蓋部材4bとを分離し、スピンチャ
ック1を飛散防止カップ4aの上部開口から上方に突出
させる。なお、飛散防止カップ4aを位置固定とし、図
示しない昇降機構により、上部蓋部材4bと回転軸2と
を飛散防止カップ4aに対して上昇させるような構成と
してもよい。
対してフォトレジスト液を供給するための処理液供給ノ
ズル5が配備されている。この処理液供給ノズル5は、
図1に点線で示すように飛散防止カップ4aの側方にあ
たる待機位置(点線)と、基板Wの上方にあたる上方待
機位置(二点鎖線)と、基板Wの回転中心Pに近接した
上方にあたる供給位置(実線)とにわたってノズル移動
機構10により移動可能に構成されている。なお、処理
液供給ノズル5は、本発明における処理液供給手段に相
当するものである。
Wの表面から例えば、4mm程度だけ上方に位置するよ
うになっている。この距離は、フォトレジスト液の粘度
や基板Wのサイズ、その表面状態により基板Wの表面に
滴下されたフォトレジスト液がその表面全体にわたって
拡げられる際にムラが発生しないような距離に設定され
ていることが好ましい。また、飛散防止カップ4a内で
あって、基板Wの下方の回転中心P側には、フォトレジ
スト液が飛散して霧状のミストとなって基板W裏面に付
着したり、基板Wの表面周縁部から裏面に回り込んだ不
要なフォトレジスト液を除去するために、洗浄液を裏面
に向けて噴出させるバックリンスノズル11が設けられ
ている。
されており、この供給管12と、サックバックバルブ1
3と、ベローズポンプ14と、逆止弁15とを介してフ
ォトレジスト液を貯留している処理液タンク16に連通
接続されている。サックバックバルブ13は、クリーン
ルーム内に導入されているユーティリティの1つである
加圧空気源により加圧空気を送り込まれることにより動
作され、この動作により処理液供給ノズル5の先端内部
に貯留しているフォトレジスト液を僅かに引き戻して、
いわゆる「ぼた落ち」を防止したり、吐出孔5aから露
出しているフォトレジスト液の固化を防止するものであ
る。サックバックバルブ13は、送り込まれた加圧空気
を排出されることにより非動作、つまり、処理液供給ノ
ズル5内のフォトレジスト液の引き戻しを解除する。こ
のサックバックバルブ13の動作/非動作は、制御部2
0からの電気信号により行われるようになっている。な
お、サックバックバルブ13の動作/非動作は、その引
き戻し圧力などが調整可能になっている。したがって、
その調整度合いや加圧空気源の圧力により、電気信号を
入力されてからフォトレジスト液の引き戻し動作や解除
動作となるまでの動作速度が変動するものである。
ダ17に連動して動作し、処理液タンク16内のフォト
レジスト液を供給管12に送り込む。この送り込み動作
により生じるフォトレジスト液の処理液タンク16内へ
の逆流を防止するのが、逆止弁15である。複動式エア
シリンダ17は、速度制御弁18を介して加圧空気源に
よって動作するものであり、ピストン17aにより仕切
られた2つの空間にそれぞれ加圧空気が送り込まれたり
排出されたりすることによって動作する。速度制御弁1
8は、手動による調整によって、加圧空気源からの加圧
空気導入速度や複動式エアシリンダ17からの加圧空気
排出速度が調整されるようになっており、この調整度合
いや加圧空気源の圧力により、複動式エアシリンダ17
の動作速度が調整され、その結果、ベローズポンプ14
の動作、すなわち、処理液供給ノズル5からフォトレジ
スト液が供給/停止されるまでの速度が調整される。
信号により加圧空気源からの加圧空気を複動式エアシリ
ンダ17に送り込む動作状態とされ、同様に複動式エア
シリンダ17から加圧空気を排出する非動作状態とされ
る。制御部20は、図示しないクロックやタイマ、RA
Mを内蔵しており、RAMには予め作成された処理プロ
グラムなどが記憶されており、この処理プログラムはク
ロックやタイマを基準にして実行されるようになってい
る。但し、詳細は後述するが、処理プログラムに含まれ
ている、フォトレジスト液の供給を開始させる供給開始
命令が実行された以降は、後述する供給検出/位置ずれ
検出部70からの『供給検出信号』が入力されてから次
の命令の実行を行うようになっている。
側にCCDカメラ30が、その右側にはストロボ40が
配設されている。撮影手段に相当するCCDカメラ30
は、固体撮像素子であるCCDと、電子シャッターと、
レンズなどから構成されており、その撮影範囲が後述す
るように処理液供給ノズル5の吐出孔5aを含む先端部
5bを含むように設定されている。なお、ストロボ40
は、フォトレジスト液が感光しないように装置自体が暗
室内に設置されているので、基板Wを撮影する際の照明
として用いる。ストロボ40は、例えば、キセノンラン
プと、500nm以上の波長を透過するバンドパスフィ
ルタBPFとを組み合わせて構成されている。これらの
CCDカメラ30およびストロボ40は、後述する供給
検出/位置ずれ検出部70に接続されている。
70について説明する。ストロボ40は、ストロボ電源
71から所要の電力を供給されて連続的に点灯されてい
る。CCDカメラ30は、その動作制御、例えば、撮影
タイミングを決定する電子シャッターの動作制御がカメ
ラ制御部72によって制御される。詳細は後述するがカ
メラ制御部72への撮影開始指示は、前処理時に予め制
御部20からI/O制御部73へ『基準位置画像撮影信
号』が出力された場合と、基板の処理時に制御部20に
より『位置ずれ確認命令』が実行された場合と、制御部
20からI/O制御部73へ『トリガ信号』が出力され
る場合とによって行われる。なお、ストロボ電源71
は、基板表面の撮影時を含む適宜の範囲においてのみス
トロボ40に電源を間欠的に供給するようにしてもよ
い。
号』がI/O制御部73へ入力された場合の動作につい
て簡単に説明する。CCDカメラ30は、その取り付け
位置によって種々の撮影範囲に調整可能であるが、上述
したようにその撮影範囲が処理液供給ノズル5の吐出孔
5aおよび先端部5bを含むように設定されている。こ
のような撮影範囲に設定しておくことにより、処理液供
給ノズル5の吐出孔5aからフォトレジスト液が供給さ
れたことを正常に検出することができる。
73へ入力されると、CCDカメラ30により上記の撮
影範囲が撮影され、その画像信号がI/O制御部73を
介してモニタ75に出力される。この画像を見ながらオ
ペレータが設定部77(マウスやキーボードにより構成
されている)を用いて『基準位置』および『供給検出領
域』を設定する。撮影範囲内における座標を示す基準位
置は基準位置記憶部79に記憶され、撮影範囲内におけ
る供給検出領域の大きさは供給検出領域記憶部81に記
憶され、さらにこれらの相対的な位置関係が『位置関係
情報』として相対位置記憶部83に格納される。なお、
設定部77は基準位置設定手段および第1領域設定手段
に相当し、相対位置記憶部83は記憶手段に相当する。
が実行された場合には、CCDカメラ30による撮影を
行い、これを対象にして基準位置に相当する『処理時基
準位置』を画像処理部85(抽出手段および第2領域設
定手段)が抽出し、これと位置関係情報とから『処理時
供給検出領域』を設定して処理時供給検出領域記憶部8
7に記憶する。処理時基準位置が抽出できない場合や処
理時供給検出領域が設定できない場合、CCDカメラ3
0または処理液供給ノズル5の相対的な位置ずれが生じ
ていることを示しているので、モニタ75(報知手段)
にそのことを表示してオペレータに報知する。また、モ
ニタ75に『位置ずれ発生』などの文字列を表示して警
報を発するとともに、装置の処理を停止するようにして
もよい。
を判断する基準となる基準静止画像を撮影するための基
準トリガ信号と、所定の周期で順次撮影を行うための通
常トリガ信号とがある。基準トリガ信号が入力された場
合には、その時点でCCDカメラ30によって基板表面
の撮影を行うが、通常トリガ信号が入力された場合に
は、その時点から所定の周期で順次にCCDカメラ30
による撮影を行う。CCDカメラ30を介して撮影され
た、基準トリガ信号に基づく基板表面の画像信号は、カ
メラ制御部72およびI/O制御部73を介して画像処
理部85に伝送される。画像処理部85は、処理時供給
検出領域記憶部87を参照し、『処理時供給検出領域』
に対応する部分のみを2値化処理して静止画像(基準静
止画像)として供給検出用画像記憶部89に格納する。
また、通常トリガ信号に基づき順次に得られた基板表面
の画像信号は、同様にして画像処理部85に伝送され
る。この場合も『処理時供給検出領域』の部分のみを2
値化処理して静止画像として供給検出用画像記憶部89
に格納する。制御部20は、これらの基準静止画像と静
止画像とを比較してフォトレジスト液が供給されたこと
を判断する。
参照して、基板Wの処理に先立って『基準位置画像撮影
信号』が出力された場合の動作について説明する。な
お、スピンチャック1にはダミー基板Wが吸着支持され
ているものとする。
位置から供給位置へと移動する。
号をモニタ75に出力する。オペレータはCCDカメラ
30の取り付け位置を微調整し、例えば、図4に示すよ
うに、先端部5bを含む範囲100がモニタ75に出力
された時点でCCDカメラ30の取り付け位置を固定す
る。次いでこの状態で、設定部77を介して撮影の指示
を行う。この指示によって『基準位置画像撮影信号』が
出力され、I/O制御部73がカメラ制御部72を介し
てCCDカメラ30による撮影範囲100の撮影を行
う。
てモニタ75に撮影画像として出力される。オペレータ
は、この撮影画像(撮影範囲100)を見て適切か否か
を判断することができる。もし仮に不適切である場合に
は、ステップS2からやり直せばよい。
見ながら設定部77を介して『基準位置』を設定する。
この『基準位置』は、CCDカメラ30の相対位置がず
れているか否かを判断するものである。例えば、設定部
77によりX座標を抽出するためのXカーソルCXを垂
直方向に移動し、Y座標を抽出するためのYカーソルC
Yを水平方向に移動し、それぞれのカーソル上で右/下
方向から画素が白から黒に変わる座標を抽出し、それぞ
れのX,Yから基準位置REF0を設定する。このよう
にして設定された『基準位置』REF0を、カーソルC
X,CYで表して基準位置記憶部79に格納する。
る撮影画像を見ながら設定部77を介して『供給検出領
域』を設定する。この『供給検出領域』は、処理液供給
ノズル5の先端部である吐出孔5aからフォトレジスト
液が『吐出』した時点、あるいは吐出孔5aから吐出し
たフォトレジスト液が基板Wの表面に『到達』した時点
を検出するための領域である。したがって、吐出孔5a
付近か基板Wの表面の回転中心P付近を含むように設定
すればよい。なお、この例では、フォトレジスト液が吐
出孔5aから吐出した時点を検出するように設定する。
つまり、処理液供給ノズル5の吐出孔5a付近を『供給
検出領域』として設定する。一例を示せば、図4中に一
点鎖線で示した領域130Aを『供給検出領域』として
設定する。この設定された『供給検出領域』130A
は、その領域の大きさが供給検出領域記憶部81に格納
される。
領域』との相対的な位置関係を表す位置関係情報RP
(図4中の二点鎖線)を求め、これを相対位置記憶部8
3に格納しておく。
を参照して、上述したように構成された装置による基板
Wへのフォトレジスト液の塗布処理の一例について説明
する。
的な流れは次のとおりである。まず、時間t1 において
CCDカメラ30の取り付け位置にずれが生じていない
かを確認するための『位置ずれ確認命令』が実行され
る。次に時間t2 の回転開始命令によって時間t3 にお
いて基板Wが回転数R1(例えば、1,000rpm)
に達するような加速度で回転駆動され、時間TS におい
て供給開始命令が実行されてフォトレジスト液が一定流
量で供給開始され、フォトレジスト液が処理液供給ノズ
ル5の吐出孔5aから吐出したことを検出した時点t4
にて、この時点t4 からの経過時間を計数するタイマス
タート命令が実行され、その時間が供給時間TSUとなっ
た時点(時間TE )において供給停止命令が実行されて
フォトレジスト液の供給が停止され、時間t6 において
回転上昇命令が実行されることにより、時間t8 の時点
で基板Wが回転数R2(例えば、3,000rpm)と
なるように加速され、時間t10において回転停止命令が
実行されて時間t11には塗布処理が終了するように作成
されている。
動した後であって基板Wを回転駆動する前の時点t1 に
おいて、制御部20は『位置ずれ確認命令』を実行す
る。この命令が実行されると、供給検出/位置ずれ確認
部70は図6のフローチャートのように動作する。な
お、図7に示すように、処理液供給ノズル5とCCDカ
メラ30とが僅かに水平方向へ相対的に位置ずれし、図
4に示した前処理時に比較して処理液供給ノズル5が右
側へ移動したようになっているものとする。
なされ、I/O制御部73は、カメラ制御部72を介し
てCCDカメラ30による撮影を行う。この撮影画像
は、画像処理部85に転送される。
囲100を対象とし、基準位置記憶部79に記憶されて
いるXカーソルCX,YカーソルCYを画像処理部85
が設定する。そして、これらの一対のカーソルCX,C
Yを用いて上述した手法で求められる座標を『処理時基
準位置』REF1として抽出する。
を分岐する。具体的には、ステップS11において処理
時基準位置REF1が抽出できない場合には、処理液供
給ノズル5とCCDカメラ30とが大きく位置ずれして
いることを示し、抽出できる場合には位置ずれしていな
いか又は僅かな位置ずれしか生じていないことを示す。
後に設定するフォトレジスト液の供給検出を行うための
領域設定が正確にできない恐れがあるので、モニタ75
に警報を表示する。なお、処理に与える悪影響の度合い
によっては、警報を発するだけでなく処理を停止して、
基板に不適切な処理が施されることを未然に防止するよ
うにしてもよい。
定) 処理時基準位置REF1が抽出できた場合には、相対位
置記憶部83に予め記憶されている位置関係情報RPを
参照し、これと処理時基準位置REF1、および供給検
出領域記憶部81から処理時供給検出領域130Bを設
定する(図7を参照)。なお、このようにして設定され
た処理時供給検出領域130Bは、処理時供給検出領域
記憶部87に記憶される。
て処理を分岐するが、設定できた場合には処理を終え
る。なお、相対的な位置ずれの生じ方によっては、処理
時基準位置REF1が設定可能であっても、相対的な位
置関係から設定した処理時供給検出領域130Bが撮影
範囲100の外にあたる場合もあり、このような場合に
はやはり正確にフォトレジスト液の供給を検出すること
はできない恐れがあるため警報を発するようにしてい
る。
は、モニタ75に警報を発する。なお、処理に与える悪
影響の度合いによっては、警報を発するだけでなく処理
を停止するようにしてもよい。
基準位置REF1と相対位置関係とから処理時供給検出
領域130Bを設定するようにしているので、処理液供
給ノズル5とCCDカメラ30との相対的位置ずれがわ
ずかな場合には、処理時基準位置REF1を位置ずれに
応じて移動させてことができ、警報を発したり処理を停
止することなく処理時供給検出領域130Bをそのずれ
に追従させて正確にフォトレジスト液の供給タイミング
を検出することができる。また、位置ずれが大きな場合
には、警報を発することにより不適切な処理が施された
ことを知ることができ、基板に対して再処理を行うなど
の対策を講じることができる。
って、供給開始命令が実行される前に、基準トリガ信号
出力命令が実行されて撮影が行われ、上記のようにして
設定された処理時供給検出領域130Bの画像が2値化
処理される。この2値化された画像は基準静止画像とし
て供給検出用画像記憶部89に格納され、供給開始命令
とともに実行される通常トリガ信号出力命令の実行によ
り所定周期で撮影される静止画像と比較される。そし
て、これらの間に濃淡変化が生じた時点で、フォトレジ
スト液が吐出されたものと判断して、その後の命令の実
行を行う。したがって、供給開始命令の実行から実際に
フォトレジスト液が供給されるまでの開始遅れ時間T
DS1 (TDS2 )を吸収することができ、供給時間TSUを
一定化できる。したがって、各基板に対して処理を均一
に施すことができ、各ロット間や各ロット内における処
理を全て均一に施すことができる。
X,CYにより基準位置REF0を設定したが、図8に
示すように、撮影範囲100内にある処理液供給ノズル
5の先端部5b付近の特徴的な部分を含むように基準領
域150を設定し、この内部にある先端部5bを基準パ
ターン170として設定する。そして、基準パターン1
70の一部位を基準位置REF0として設定するように
してもよい。そして、上述した<前処理>では、撮影範
囲100内において基準パターン170をパターンマッ
チングなどの手法により検索し、同パターンが存在する
か否かにより処理を分岐するようにしてもよい。そし
て、存在する場合には、そのパターン上で処理時基準位
置を抽出して処理時供給検出領域を設定するようにして
もよい。
供給ノズルを備えた装置を例に採って説明したが、本発
明は複数本の処理液供給ノズルを配備した装置にも適用
可能である。
1に記載の発明によれば、基板の処理の際には、撮影手
段による撮影が行われ、抽出手段が撮影範囲の中から基
準位置に相当する位置を基板を処理する際の処理時基準
位置として抽出できない場合には、報知手段がそのこと
を報知するので、オペレータは、報知手段の報知によっ
て基板に不適切な処理が行われていることを知ることが
できる。したがって、その時点で処理を中止するなどの
対策を講じることにより、基板に不適切な処理が継続し
て施されることを防止できる。
板の処理の際には、撮影手段による撮影が行われ、抽出
手段が処理時基準位置を抽出した後、第2領域設定手段
が撮影範囲の中から供給検出領域に相当する位置を基板
を処理する際の処理時供給検出領域として設定できない
場合には、処理液の供給時点を正確に検出できていない
結果、報知手段がそのことを報知するので、オペレータ
は、報知手段の報知によって基板に不適切な処理が施さ
れていることを知ることができる。したがって、その時
点で処理を中止するなどの対策を講じることにより、基
板に不適切な処理が継続して施されることを防止でき
る。
2領域設定手段は、抽出手段によって抽出された処理時
基準位置と記憶手段に記憶された位置関係とに基づいて
処理時供給検出領域として設定しているので、処理液供
給手段と撮影手段とが相対的にずれても、撮影範囲内に
ある限り処理時基準位置を抽出でき、処理時基準位置と
位置関係とから、そのずれ量に対応した。処理時供給検
出領域を設定することができる。したがって、ある程度
の位置ずれが生じても正確に処理液の供給時点を検出で
きる。
示すブロック図である。
ク図である。
を示すフローチャートである。
すフローチャートである。
図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 基板に処理液を供給しつつ、基板に所定
の処理を施す基板処理装置であって、 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板の上方にあたる供給
位置と、前記基板保持手段に保持された基板の側方に離
れた待機位置とにわたって移動可能であって、前記供給
位置において基板に処理液を供給する処理液供給手段
と、 前記供給位置にある前記処理液供給手段から処理液が供
給されたことを検出可能な撮影範囲を撮影する撮影手段
と、 前記撮影範囲の中から基準位置を設定する基準位置設定
手段と、 前記撮影範囲の中から前記基準位置に相当する位置を基
板を処理する際の処理時基準位置として抽出する抽出手
段と、 前記抽出手段が前記処理時基準位置を抽出できない場合
に、そのことを報知する報知手段と、 を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置におい
て、さらに、 前記撮影範囲の中から前記処理液供給手段の先端部また
は前記処理液供給手段から供給された処理液が基板に到
達した時点を供給検出領域として設定する第1領域設定
手段と、 前記撮影範囲の中から前記供給検出領域に相当する位置
を基板を処理する際の処理時供給検出領域として設定す
る第2領域設定手段とを備え、 前記報知手段は、前記第2領域設定手段が前記処理時供
給検出領域を設定できない場合に、そのことを報知する
ことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置におい
て、さらに、 前記基準位置と前記供給検出領域との相対的な位置関係
を記憶する記憶手段を備え、 前記第2領域設定手段は、前記抽出手段によって抽出さ
れた前記処理時基準位置と前記記憶手段に記憶されてい
る位置関係とに基づいて前記処理時供給検出領域を設定
することを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03597498A JP3680904B2 (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03597498A JP3680904B2 (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11226477A true JPH11226477A (ja) | 1999-08-24 |
JP3680904B2 JP3680904B2 (ja) | 2005-08-10 |
Family
ID=12456894
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03597498A Expired - Fee Related JP3680904B2 (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3680904B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012104732A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Tokyo Electron Ltd | ノズルの位置調整方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び塗布処理装置 |
-
1998
- 1998-02-18 JP JP03597498A patent/JP3680904B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012104732A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Tokyo Electron Ltd | ノズルの位置調整方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び塗布処理装置 |
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