JPH11212006A - マルチビーム光源装置 - Google Patents
マルチビーム光源装置Info
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- JPH11212006A JPH11212006A JP10659998A JP10659998A JPH11212006A JP H11212006 A JPH11212006 A JP H11212006A JP 10659998 A JP10659998 A JP 10659998A JP 10659998 A JP10659998 A JP 10659998A JP H11212006 A JPH11212006 A JP H11212006A
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Abstract
間隔)の調整を容易に行うことができ、確実な位置合わ
せが行えるマルチビーム光源装置を実現する。 【解決手段】本発明のマルチビーム光源装置は、偶数個
の半導体レーザ101,102と該半導体レーザと対で
設けられ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする
コリメートレンズ104,105と上記偶数個の半導体
レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸a1
に対象に配列しこれらを一体的に支持する支持部材10
3を有する第1の光源部LD1と、第1の光源部と同様
に構成した第2の光源部LD2と、第1、第2の光源部
の光ビームを副走査方向に近接させて射出するビーム合
成手段202とを備え、第1の光源部の射出軸a1と第
2の光源部の射出軸a2とが主走査方向に所定角度β隔
たるように配備した。
Description
レーザプリンタ、レーザファクシミリ等の記録装置の書
込系に用いられる光走査装置に係り、特に複数の光ビー
ムにより感光体等の被走査面上を同時に走査して記録速
度を著しく向上させたマルチビーム光走査装置において
光源として用いられるマルチビーム光源装置に関する。
ザファクシミリ等の記録装置の書込系に用いられる光走
査装置において記録速度を向上させる手段として、偏向
手段としての回転多面鏡(ポリゴンミラー)の回転速度
を上げる方法がある。しかし、この方法ではモータの耐
久性や騒音、振動、及び半導体レーザの変調スピード等
が問題となり記録速度に限界がある。そこで、一度に複
数の光ビームを走査して複数ラインを同時に記録するこ
とにより記録速度を向上したマルチビーム光走査装置が
提案されている。その一例として複数個の半導体レーザ
光源からの光束をビームスプリッタを用いて合成する方
法や、特開昭56−42248号公報に開示されている
ように複数の発光源がアレイ状に配列された半導体レー
ザアレイを用いた方法がある。
であるものの出力を検出するセンサは共通であるため、
通常の半導体レーザのように実時間での光出力のフィー
ドバックができないにもかかわらず、光源が近接してい
ることによりそのクロストークで光出力が変動しやすく
高精度な光量制御ができない。また、その特殊性から高
価であるという欠点をもつ。これらは光源数が多くなる
に従い不利となる。これに対し複数個の汎用の半導体レ
ーザを用い、該複数個の半導体レーザからの光ビームを
合成する方法は、上記した問題はないが環境安定性と組
み立て性の向上が必要である。
解決し、複数ビームを射出する新規のマルチビーム光源
装置の基本型を提案した(特願平9−178479
号)。この先願のマルチビーム光源装置の一例として
は、複数の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設け
られ各々の光ビームを平行光束にする複数のコリメート
レンズと、上記複数の半導体レーザとコリメートレンズ
とを主走査方向に配列してこれらを一体的に支持する支
持部材とを有する第1の光源部と、この第1の光源部と
同様に構成した第2の光源部と、上記第1、第2の光源
部の光ビームを近接させて射出するビーム合成手段とを
備えた構成となっている。
体レーザアレイは制御面での制約があり汎用の半導体レ
ーザと同様に扱うことができず、高精度な出力制御には
不向きである上、光源が複数であるにも係わらずコリメ
ートレンズは共通であるため、光源間の波長の差や発光
点位置の差が残り、結像位置がずれたり、コリメートレ
ンズから射出されるビームが各々離反する方向へ発散し
てしまう等、取り扱いが厄介である。一方、汎用の半導
体レーザ(LD)を2つ以上用いてビームスプリッタ
(BS)やプリズムを用いてビーム合成する場合、代表
的な例として図12(a)に示すように、複数段にビー
ムスプリッタやプリズムを重ねて複数の半導体レーザL
D−1〜LD−4からの光ビームを1ビームずつ合成し
ていく方法があるが、構造が複雑化する上、図12
(b)に示すように各半導体レーザに位置ずれが生じ易
く、各半導体レーザについて個別に射出方向を併せるた
めの作業が必要であり、経時的なずれが大きくビームス
ポット間隔を維持することが非常に困難であるという欠
点がある。また、ビームスプリッタ面(BS面)を通過
する毎に光量が1/2となってしまうので、第1の半導
体レーザLD−1の射出光量に対して、第2の半導体レ
ーザLD−2ではBS面を1つ多く通過するので1/2
の射出光量となり、第3の半導体レーザLD−3及び第
4の半導体レーザLD−4ではBS面を2つ多く通過す
るので1/4の射出光量となり、ビーム数が増えるに従
って光量ロスが大きくなり、光の利用効率が悪く、高い
出力の半導体レーザを用いなければならない。
ム光源装置では、複数の半導体レーザを主走査方向に配
列することで1つのビーム合成手段(例えばビームスプ
リッタ)での合成が可能となり、構成が簡単で、かつ経
時的なずれが少なく安定性に優れるマルチビーム光源ユ
ニットを実現することができる。また、光量の損失がな
く半導体レーザの出力は最低限ですむためコストも安
く、露光量に応じて幅広い用途に展開できる。
プリッタで合成したビームスポット間隔の位置合わせを
行うには、その前段階の光源部の光軸のアライメント調
整精度やプリズムのビームスプリッタ面、反射面の角度
精度に依るしかなく、量産性の面での改善が必要であっ
た。
って、請求項1,2,3,6の発明においては、先願に
開示されるマルチビーム光源装置を生産する上で、ビー
ムスポット間隔の調整(特に副走査方向の走査線間隔
(ビームピッチ)の設定)を単純作業で容易に行うこと
ができ、かつ確実な位置合わせが行えるようにすること
で、組み立て効率を向上させると共に、高品位な画像記
録を行うことができるマルチビーム光源装置を実現する
ことを目的とする。また、請求項4,5の発明では、い
かなる環境下においても副走査方向の走査線間隔を維持
し、経時においても安定した画像形成を行うことができ
るマルチビーム光源装置を実現することを目的とする。
個の汎用の半導体レーザを用い、いかなる環境下におい
ても、被走査面上での副走査の走査線間隔が等間隔に維
持され、経時においても安定した画像形成が行えるよう
にし、高品位な画像記録を行うことができるマルチビー
ム光源装置を実現することを目的とする。
め、請求項1に係る発明は、光源からの光ビームを走査
光学手段で被走査面上に集光してビームスポットを形成
し主走査方向に走査する光走査装置において上記光源と
して用いられ複数の光ビームを射出するマルチビーム光
源装置であって、偶数個の半導体レーザと該半導体レー
ザと対で設けられ半導体レーザからの光ビームを平行光
束にする偶数個のコリメートレンズと上記偶数個の半導
体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸に
対称に配列しこれらを一体的に支持する支持部材とを有
する第1の光源部と、上記第1の光源部と同様に構成し
た第2の光源部と、上記第1、第2の光源部の光ビーム
を副走査方向に近接させて射出するビーム合成手段とか
らなるマルチビーム光源装置において、上記第1の光源
部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主走査方向に所
定角度隔たるように配備したことを特徴とするものであ
る。
ムを走査光学手段で被走査面上に集光してビームスポッ
トを形成し主走査方向に走査する光走査装置において上
記光源として用いられ複数の光ビームを射出するマルチ
ビーム光源装置であって、奇数個の半導体レーザと該半
導体レーザと対で設けられ半導体レーザからの光ビーム
を平行光束にする奇数個のコリメートレンズと上記奇数
個の半導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に
配列しその中央に位置する半導体レーザを射出軸上に配
置してこれらを一体的に支持する支持部材とを有する第
1の光源部と、偶数個の半導体レーザと該半導体レーザ
と対で設けられ半導体レーザからの光ビームを平行光束
にする偶数個のコリメートレンズと上記偶数個の半導体
レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸に対
称に配列しこれらを一体的に支持する支持部材とを有す
る第2の光源部と、上記第1、第2の光源部の光ビーム
を副走査方向に近接させて射出するビーム合成手段とか
らなるマルチビーム光源装置において、上記第1の光源
部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主走査方向に所
定角度隔たるように配備したことを特徴とするものであ
る。
に記載のマルチビーム光源装置において、上記第1、第
2の光源部、及びビーム合成手段を、実質一体的にモジ
ュール化して保持する保持部材を設け、該保持部材を
(マルチビーム光源装置からの複数の光ビームを被走査
面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に走
査する)走査光学手段に対して該走査光学手段の光軸
(回転基準)Cを回転中心として回動可能に支持してな
ると共に、上記第1の光源部の射出軸と第2の光源部の
射出軸とが上記光軸Cに対して主走査方向に対称となる
ように配備したことを特徴とするものである。
マルチビーム光源装置において、上記第1、第2の光源
部の支持部材の材質と、該支持部材が固定される上記保
持部材のベース部材の材質とを同一としたことを特徴と
するものである。
マルチビーム光源装置において、被走査面上での上記第
1、第2の光源部の射出軸間隔を各光源部からのビーム
スポットの隣接する間隔の1/4以下に設定したことを
特徴とするものである。
マルチビーム光源装置において、上記保持部材を、上記
光軸(回転基準)Cを回転中心として回動可能とする位
置決め手段と、第1、第2の光源部について上記保持部
材に対し射出軸を回転中心として回動可能とする位置決
め手段とを具備したことを特徴とするものである。
ムを走査光学手段で被走査面上に集光してビームスポッ
トを形成し主走査方向に走査する光走査装置において上
記光源として用いられ複数の光ビームを射出するマルチ
ビーム光源装置であって、偶数個の半導体レーザと該半
導体レーザと対で設けられ半導体レーザからの光ビーム
を平行光束にする偶数個のコリメートレンズと上記偶数
個の半導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に
射出軸に対称に配列しこれらを一体的に支持する支持部
材とを有する第1の光源部と、上記第1の光源部と同様
に構成した第2の光源部と、上記第1、第2の光源部の
光ビームを副走査方向に近接させて射出するビーム合成
手段とからなるマルチビーム光源装置において、上記第
1、第2の光源部の射出軸に対して対称な位置にある半
導体レーザとコリメートレンズの対について、半導体レ
ーザのコリメートレンズ光軸からのシフト量が同量であ
ることを特徴とするものである。
ムを走査光学手段で被走査面上に集光してビームスポッ
トを形成し主走査方向に走査する光走査装置において上
記光源として用いられ複数の光ビームを射出するマルチ
ビーム光源装置であって、奇数個の半導体レーザと該半
導体レーザと対で設けられ半導体レーザからの光ビーム
を平行光束にする奇数個のコリメートレンズと上記奇数
個の半導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に
配列しその中央に位置する半導体レーザを射出軸上に配
置してこれらを一体的に支持する支持部材とを有する第
1の光源部と、偶数個の半導体レーザと該半導体レーザ
と対で設けられ半導体レーザからの光ビームを平行光束
にする偶数個のコリメートレンズと上記偶数個の半導体
レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸に対
称に配列しこれらを一体的に支持する支持部材とを有す
る第2の光源部と、上記第1、第2の光源部の光ビーム
を副走査方向に近接させて射出するビーム合成手段とか
らなるマルチビーム光源装置において、上記第1、第2
の光源部の射出軸に対して対称な位置にある半導体レー
ザとコリメートレンズの対について、半導体レーザのコ
リメートレンズ光軸からのシフト量が同量であることを
特徴とするものである。
に記載のマルチビーム光源装置において、半導体レーザ
のコリメートレンズ光軸からのシフトが、第1の光源部
に支持された複数の半導体レーザから射出された主光線
が、光走査装置の回転多面鏡近傍で第1の光源部の射出
軸と主走査方向で交差し、第2の光源部に支持された複
数の半導体レーザから射出された主光線が、光走査装置
の回転多面鏡近傍で第2の光源部の射出軸と主走査方向
で交差するように設定されていることを特徴とするもの
である。
たは9に記載のマルチビーム光源装置において、上記第
1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主走査
方向に隔たるように配備したことを特徴とするものであ
る。
9または10に記載のマルチビーム光源装置において、
上記第1、第2の光源部、及びビーム合成手段を実質一
体的にモジュール化して保持する保持部材を設け、該保
持部材を(マルチビーム光源装置からの複数の光ビーム
を被走査面上に集光してビームスポットを形成し主走査
方向に走査する)走査光学手段に対して該走査光学手段
の光軸(回転基準)Cを回転中心として回動可能に支持
してなると共に、上記第1の光源部と第2の光源部は上
記保持部材に対して各々の射出軸を回転中心として独立
に回動可能であることを特徴とするものである。
の実施例に基づいて詳細に説明する。
ついて説明する。図1は本発明の一実施例を示す図であ
って、マルチビーム光源装置の概略構成を分解した状態
で示す斜視図であり、汎用の半導体レーザを合計4個用
いた4ビーム光源ユニットの構成例を示している。ま
た、図2は上記4ビーム光源ユニットの第1の光源部の
断面の様子と、4つの半導体レーザの配置位置を併せて
示す図であり、図3は上記4ビーム光源ユニットを搭載
した光走査装置の概要を示す図である。
2はアルミダイキャスト製の支持部材103の裏側に主
走査方向に8mm間隔で並列して形成された(図示しな
い)嵌合穴に各々圧入され支持される。また、コリメー
トレンズ104,105は各々の半導体レーザ101,
102の発散光束が平行光束となるようにX方向の位置
を合わせ、また所定のビーム射出方向となるようにY,
Z方向の位置を合わせて半導体レーザ101,102の
嵌合穴と対に形成したU字状の支持部103−1,10
3−2の隙間に接着剤(例えば紫外線(UV)硬化接着
剤)を充填し固定され、第1の光源部LD1を構成す
る。また、第2の光源部LD2も半導体レーザ111,
112、コリメートレンズ114,115、支持部材1
13からなり、第1の光源部LD1と同様の構成となっ
ている。
1、第2の光源部LD2、及びビーム合成プリズム20
2を、ベース部材201とホルダー203からなる保持
部材に組み込んで実質一体的にモジュール化したマルチ
ビーム光源ユニットの第1の光源部LD1部分のX,Y
方向に平行な断面の様子を示しており、図2(b)は第
1、第2の光源部の半導体レーザをX方向裏面側から見
た配置位置を示している。図2に示すように、第1の光
源部LD1の半導体レーザ101,102とコリメート
レンズ104,105とは、第1の光源部LD1の射出
軸a1(2つの半導体レーザ101,102の中点Oか
らビーム射出方向に延びる軸を射出軸と言う)に対して
対称に配置し、半導体レーザ101,102の間隔Dに
対しコリメートレンズ104,105の間隔dを小さく
設定する(つまり、コリメートレンズ104,105の
光軸をY方向に射出軸a1側に偏心させて配置する)。
これにより各半導体レーザ101,102からのレーザ
ビームは、コリメートレンズ104,105により各々
交差する方向に所定の角度を有して射出される。第2の
光源部LD2についても同様に構成され、半導体レーザ
111,112とコリメートレンズ114,115と
は、第2の光源部LD2の射出軸a2(図2(a)には
射出軸a2のみ破線で示してある)に対して対称に配置
され、半導体レーザ111,112の間隔に対しコリメ
ートレンズ114,115の間隔が小さく設定されてお
り、各半導体レーザ111,112からのレーザビーム
は、コリメートレンズ114,115により射出軸a2
に対して対称に各々交差する方向に所定の角度を有して
射出される。いずれの光源部もこの交差位置は図3に示
す光走査装置のポリゴンミラー(回転多面鏡)反射面近
傍となるようにビーム射出方向を設定している。
D2は、ベース部材201の嵌合穴201−1,201
−2にそれぞれ支持部材103,113の円筒部103
−3,113−3を嵌合し、ベース部材201の前面よ
り貫通したネジによりベース部材201の裏側に固定さ
れる。そして、ビーム合成プリズム202をベース部材
201の前面に接着固定した後、ビーム合成プリズム2
02をホルダー203の凹部に嵌め込んでベース部材2
01とホルダー203とを固定する。尚、環境温度変化
に伴い支持部材103,113の膨張率とベース部材2
01の膨張率とに差があると、いずれか膨張率が大きい
方が歪んで(撓んで)光ビームの射出方向(角度)が変
化し、後述するビームピッチの変動が増幅されてしまう
ので、第1、第2の光源部の支持部材103,113の
材質とベース部材201の材質は同一としている。
ームスプリッタ面202−3を備え、第2の光源部LD
2からの光ビームの入射面には1/2波長板(λ/2
板)202−1が設けられ、かつ第2の光源部LD2か
らの光ビームを反射する反射面202−2が設けられて
いる。そして、第1の光源部LD1からの光ビームはそ
のまま偏光ビームスプリッタ面202−3を透過して射
出するようになっており、また、第2の光源部LD2か
らの光ビームは、1/2波長板112により偏光方向を
90度回転されて斜面202−2で上方に反射し、さら
に偏光ビームスプリッタ面202−3で反射されて射出
されるようになっている。これにより、光量ロスを少な
くして、第1、第2の光源部からの光ビームを容易に合
成することができる。
の光源部LD2は、ベース部材201上では副走査方向
にRの間隔を隔てて配置されているが、上記のようにビ
ーム合成プリズム202により第2の光源部LD2から
の光ビームを第1の光源部LD1からの光ビームに合成
し、副走査方向に近接させて射出する。この際、各光源
部は射出軸a1,a2を主走査方向に一致させず所定の
間隔m(例えば1mm)隔たるように配列され、かつ各
射出軸a1,a2は平行ではなく、後述するホルダー2
03の回転基準C(図3に示す走査光学系の光軸が回転
基準となる)に対して対称になるように設定されると共
に各々交差する方向に所定の角度βを有しており(つま
り、第1の光源部LD1の射出軸a1と第2の光源部L
D2の射出軸a2とが主走査方向に所定角度β隔たるよ
うに配備している)、被走査面上においても所定間隔隔
たるようにしている。尚、後述する実施例の走査光学系
(図3)では、被走査面上での射出軸a1,a2の間隔
Mが例えば約1mmとなるようにしている(但し、走査
光学系によりこの倍率は異なる)。
調整は、各光源部LD1,LD2毎にベース部材201
に固定する際に、ベース部材201の嵌合穴201−
1,201−2を基準として(すなわち、図2(b)に
示すように射出軸a1,a2をそれぞれ基準として)第
1の光源部LD1の半導体レーザ101,102相互の
傾きθ1、及び第2の光源部LD2の半導体レーザ11
1,112相互の傾きθ2を各々調整することで行う
が、図5(a)に示すように、射出軸a1,a2の被走
査面上での到達点であるO,O’(第1の光源部LD1
における2つのビームスポットLD1−L、LD1−R
の中点がO、第2の光源部LD2における2つのビーム
スポットLD2−L、LD2−Rの中点がO’)はビー
ム合成プリズム等の部品精度により副走査方向に僅かの
ずれを生じるため一致せず、各光源部からのビームスポ
ット位置は副走査方向にΔZシフトした形となってい
る。そこで、図2、図5(a)に示す回転基準C(走査
光学系の光軸)を中心に保持部材(ホルダー203及び
ベース部材201)をα方向に回転することにより、図
5(b)に示すように被走査面上の射出軸到達点Oと
O’とを副走査(水平)方向に一致させた後に、O,
O’をそれぞれ回転中心として、第1の光源部LD1
と、第2の光源部LD2のθ1,θ2を調整して副走査
ピッチを合わせ、各光源部をベース部材201に固定す
る。
が収納される光学ハウジング(図示せず)へはホルダー
203を介して保持される。ホルダー203には前記し
た回転基準Cとなる円筒部203−1が設けられ、該円
筒部203−1の回転基準Cと走査光学系の光軸とを一
致させて円筒部203−1を図示しない光学ハウジング
の穴部に係合して位置決めを行い、光源ユニット301
として取り付けるわけであるが、走査光学系毎に例えば
トロイダルレンズ等の平行性の誤差があるため、実際の
走査線と光源ユニット301の水平線とは一致せず、図
5におけるビームスポットLD2−RとLD1−Rのピ
ッチP1、LD1−LとLD2−LのピッチP3は得ら
れるが、LD1−RとLD1−LのピッチP2が得られ
ないことがある。このときΔθ(=θ2−θ1)は所定
値を保っているので、実施例ではホルダー203を光学
ハウジングに対して円筒部203−1で回転可能に設け
ると共にホルダー203の側面にレバー203−2を設
け、該レバー203−2をモータ等により上下に動かす
ことにより、光学ハウジングに取り付けた状態で上記回
転基準Cを中心としてホルダー203を回転して傾きを
調節し、P2を補正するようにしている。
ト間隔Lに対して、光源部間の射出軸到達点O,O’の
間隔Mが大きいと、副走査方向のビームスポットのピッ
チP2の補正に伴ってP1,P3も変化してしまうた
め、この変化を画像品質に影響を与えない程度に収める
必要がある。一般的には副走査方向のピッチの変化はピ
ッチPの1/4程度であれば許容できるとされることか
ら、被走査面における射出軸到達点O,O’の間隔M
は、各光源部からのビームスポットの間隔Lの1/4以
下に設定することが望ましい。尚、本実施例では、各光
源部のビームスポット間隔Lを8mmとし、被走査面上
における射出軸到達点O,O’の間隔Mを1mmとし
て、副走査方向のピッチの変化を1/8としている。
実施例について説明する。図3において、図示しない光
学ハウジングに保持された光源ユニット301から射出
された4つの光ビームは、シリンダレンズ302を介し
て偏向手段としてのポリゴンミラー303の反射位置近
傍で交差した後、ポリゴンミラー303で偏向走査さ
れ、2枚構成のfθレンズ304を通過後、折り返しミ
ラー307で感光体309に向けて反射され、トロイダ
ルレンズ308により感光体309の被走査面309a
上に結像され、図5に示すように4つのビームスポット
により、副走査方向に所定のピッチPで隣接した4ライ
ンが同時に主走査方向Sに走査され、画像記録が行われ
る。また、折り返しミラー307の画像領域外には同期
検知用のミラー305が配置されており、該ミラー30
5により反射された光ビームが同期検知センサー306
により検出される。同期検知センサー306は2個のセ
ンサー部、すなわち主走査方向Sに対して垂直に配置し
た第1のセンサー部306−1と約45度傾けた第2の
センサー部306−2とで構成されており、第1のセン
サー部306−1では順次到来する光ビームを時系列に
分離し、各々の光ビームの同期検知信号を発生し、第2
のセンサー部306−2では、いずれか2つの光ビーム
について副走査方向のビームピッチを第1のセンサー部
306−1からの時間間隔の差から検出する。そして、
ピッチ演算部311では同期検知センサー306で検出
したビームピッチからピッチ補正量を演算してモータ制
御部312に送り、モータ制御部312ではそのピッチ
補正量を基にホルダー203のレバー203−2に係合
したパルスモータ310を制御して、パルスモータ31
0でレバー203−2をZ方向に動かしてホルダー20
3を回転基準Cを中心に回転して傾きを調整することに
より、上述した取り付け時のビームスポット間隔、及び
環境変化等に伴うずれを自動的に補正し、常に所定のピ
ッチが維持されるようにしている。尚、本実施例では、
各光源部からのビームスポットが図5に示すような配置
の場合、第2の光源部LD2からの2つのビームLD2
−R,LD2−Lを同期検知センサー306で検出し、
その副走査方向のピッチが3Pとなるように補正を行っ
ている。これは計測ピッチが大きい方が誤差が少なくて
すむからである。
光源ユニットと、その光源ユニットを搭載した光走査装
置の実施例について説明したが、次に本発明の別の実施
例として、図4に示す3ビーム光源ユニットについて説
明する。図4に示す3ビーム光源ユニットは、図1と比
較すると明らかなように、4ビーム光源ユニットとの違
いは第1の光源部LD1の構成が異なるだけであり、そ
の他の構成は同様である。図4に示す第1の光源部LD
1では、半導体レーザ121及びコリメートレンズ12
2は1組であり、前述のa1に相当する射出軸上に半導
体レーザ121及びコリメートレンズ122が配置され
同様に支持部材123に支持されている。すなわち、図
2で言えば、第1の光源部LD1の射出軸a1上に1組
の半導体レーザ121及びコリメートレンズ122を配
置した構成に相当する。
トの配列を示す図であるが、被走査面上の第1の光源部
LD1による射出軸到達点Oと第2の光源部LD2によ
る射出軸到達点O’とは4ビームの場合と同様に主走査
方向に一致させず間隔M(例えば1mm)隔たるように
配列され、回転基準C(走査光学系の光軸)に対して対
称に各々交差する方向に所定の角度(図2のβに相当)
を有しているので、第1の光源部LD1からのビームス
ポットは射出軸上、つまり回転基準Cから0.5mm離
間した射出軸到達点Oに位置されることになる。
転基準Cを中心としてホルダー203を回転することに
より第2の光源部LD2の射出軸到達点O’を副走査方
向で第1の光源部LD1の射出軸到達点Oに合わせた
後、そのビームスポットLD2−R,LD2−Lの副走
査方向の間隔が2Pとなるように支持部材113の傾き
(すなわち2つのビームスポットLD2−R,LD2−
L間の傾き)θを合わせてベース部材201に固定すれ
ばよく、第1の光源部LD1を固定する際には調整が不
要である。
1,2に示した4ビーム光源ユニットと同じ構成で、一
方の光源部について片側の半導体レーザとコリメートレ
ンズを除いた形態としても良いが、この場合は1ビーム
構成にした光源部の半導体レーザとコリメートレンズが
射出軸上にないので、4ビーム光源ユニットと同様にい
ずれの光源部もベース部材に固定する際の調整が必要で
ある。
リメーレンズの数を増やし、3つ以上の半導体レーザ及
びコリメートレンズを配列して保持することも可能であ
り、その数が奇数個の場合には上記3ビーム光源ユニッ
トにおける第1の光源部と同様に、奇数個の半導体レー
ザとコリメートレンズとを主走査方向に配列しその中央
に位置する半導体レーザとコリメートレンズを射出軸上
に配置してこれらを支持部材で一体的に支持すればよい
し、偶数個であれば第2の光源部と同様に、偶数個の半
導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸
に対称に配列してこれらを支持部材で一体的に支持すれ
ばよい。また、各光源部について3つ以上の半導体レー
ザ及びコリメートレンズを配列して保持する場合にも、
第1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主走
査方向に所定角度隔たるように配備し、さらに、回転基
準Cを回転中心として回動可能とする位置決め手段と、
第1、第2の光源部についてベース部材に対して射出軸
を回転中心として回転可能とする位置決め手段とを具備
した構成として副走査方向のピッチ調整を行うことも前
記実施例と同様に実施することができる。
について説明する。本実施例に係るマルチビーム光源装
置の基本的な構成は、図1に示すような汎用の半導体レ
ーザを合計4個用いた4ビーム光源ユニット、あるいは
図4に示すような汎用の半導体レーザを合計3個用いた
3ビーム光源ユニットと同様の構成である。また、本実
施例に係る光走査装置の構成も、図3に示した光走査装
置と同様の構成である。
例に挙げて説明する。既に実施例1で説明したように、
図1に示す構成の4ビーム光源ユニットにおいては、半
導体レーザ101,102はアルミダイキャスト製の支
持部材103の裏側に主走査方向に8mm間隔で並列し
て形成された(図示しない)嵌合穴に各々圧入され支持
される。また、コリメートレンズ104,105は各々
の半導体レーザ101,102の発散光束が平行光束と
なるようにX方向の位置を合わせ、また所定のビーム射
出方向となるようにY,Z方向の位置を合わせて半導体
レーザ101,102の嵌合穴と対に形成したU字状の
支持部103−1,103−2の隙間に接着剤(例えば
紫外線(UV)硬化接着剤)を充填し固定され、第1の
光源部LD1を構成する。また、第2の光源部LD2も
半導体レーザ111,112、コリメートレンズ11
4,115、支持部材113からなり、第1の光源部L
D1と同様の構成となっている。
1、第2の光源部LD2、及びビーム合成プリズム20
2を、ベース部材201とホルダー203からなる保持
部材に組み込んで実質一体的にモジュール化したマルチ
ビーム光源ユニットの第1の光源部LD1部分のX,Y
方向に平行な断面の様子を示しており、図7(b)は第
1、第2の光源部の半導体レーザをX方向裏面側から見
た配置位置を示している。図7に示すように、第1の光
源部LD1の半導体レーザ101,102とコリメート
レンズ104,105とは、第1の光源部LD1の射出
軸a1(2つの半導体レーザ101,102の中点Oか
らビーム射出方向に延びる軸を射出軸と言う)に対して
対称に配置される。また、第2の光源部LD2について
も同様に構成され、半導体レーザ111,112とコリ
メートレンズ114,115とは、第2の光源部LD2
の射出軸a2に対して対称に配置される。
D2は、ベース部材201の嵌合穴201−1,201
−2にそれぞれ支持部材103,113の円筒部103
−3,113−3を嵌合し、ベース部材201の前面よ
り貫通したネジによりベース部材201の裏側に固定さ
れる。そして、ビーム合成プリズム202をベース部材
201の前面に接着固定した後、ビーム合成プリズム2
02をホルダー203の凹部に嵌め込んでベース部材2
01とホルダー203とを固定する。尚、環境温度変化
に伴い支持部材103,113の膨張率とベース部材2
01の膨張率とに差があると、いずれか膨張率が大きい
方が歪んで(撓んで)光ビームの射出方向(角度)が変
化し、後述するビームピッチの変動が増幅されてしまう
ので、第1、第2の光源部の支持部材103,113の
材質とベース部材201の材質は同一としている。
ームスプリッタ面202−3を備え、第2の光源部LD
2からの光ビームの入射面には1/2波長板(λ/2
板)202−1が設けられ、かつ第2の光源部LD2か
らの光ビームを反射する反射面202−2が設けられて
いる。そして、第1の光源部LD1からの光ビームはそ
のまま偏光ビームスプリッタ面202−3を透過して射
出するようになっており、また、第2の光源部LD2か
らの光ビームは、1/2波長板112により偏光方向を
90度回転されて斜面202−2で上方に反射し、さら
に偏光ビームスプリッタ面202−3で反射されて射出
されるようになっている。これにより、光量ロスを少な
くして、第1、第2の光源部からの光ビームを容易に合
成することができる。
の光源部LD2は、ベース部材201上では副走査方向
にRの間隔を隔てて配置されているが、上記のようにビ
ーム合成プリズム202により第2の光源部LD2から
の光ビームを第1の光源部LD1からの光ビームに合成
し、副走査方向に近接させて射出する。この際、各光源
部は射出軸a1,a2を主走査方向に一致させず所定の
間隔m(例えば1mm)隔たるように配列されている。
示す構成の光走査装置に搭載した場合、被走査面上にお
ける副走査方向のピッチの調整は、各光源部LD1,L
D2毎に支持部材103,113をベース部材201に
固定する際に、ベース部材201の嵌合穴201−1,
201−2を基準として(すなわち、図7(b)に示す
ように射出軸a1,a2をそれぞれ基準として)支持部
材103,113を回転させ、第1の光源部LD1の半
導体レーザ101,102相互の傾きθ1、及び第2の
光源部LD2の半導体レーザ111,112相互の傾き
θ2を各々調整することで行う。
LD1の半導体レーザ101,102とコリメートレン
ズ104,105は、第1の光源部LD1の射出軸a1
に対して対称に配置され、半導体レーザ101,102
の間隔Dに対しコリメートレンズ104,105の間隔
dを小さく設定している(言い替えると、コリメートレ
ンズ光軸に対して半導体レーザを主走査方向にシフトし
て配置している)。これにより各半導体レーザ101,
102からの光ビームは、コリメートレンズ104,1
05により各々交差する方向に所定の角度を有して射出
される。第2の光源部LD2についても同様に構成さ
れ、半導体レーザ111,112とコリメートレンズ1
14,115とは、第2の光源部LD2の射出軸a2に
対して対称に配置され、半導体レーザ111,112の
間隔に対しコリメートレンズ114,115の間隔が小
さく設定されており、各半導体レーザ111,112か
らの光ビームは、コリメートレンズ114,115によ
り射出軸a2に対して対称に各々交差する方向に所定の
角度を有して射出される。いずれの光源部もこの交差位
置は図3に示す光走査装置のポリゴンミラー(回転多面
鏡)の反射面近傍となるようにビーム射出方向を設定し
ている。
対になっているコリメートレンズの光軸からのシフト量
(図7に示すように、各半導体レーザ101,102,
111,112のシフト量をδ101,δ102,δ111,δ
112とし、また、シフト量の副走査方向成分をε101,ε
102,ε111,ε112とする)を個別に調整することで、
全ての半導体レーザから射出される光ビームをポリゴン
ミラー反射面近傍に主走査方向について交差させること
が可能である。また、このように調整することにより、
被走査面上で各光源部LD1,LD2からの光ビームに
よるビームスポットの中心点O,O’を光軸Cに一致さ
せることも可能となる。しかし、このように調整する
と、2つの光源部LD1,LD2の射出軸a1,a2に
対して対称な位置に支持された半導体レーザのコリメー
トレンズ光軸からのシフト量は異なることになる。
リメートレンズ104,105,114,115の光軸
から各半導体レーザ101,102,111,112を
シフトさせることで、ポリゴンミラー反射面近傍で主走
査方向について光軸Cと交差するように、シフト量を設
定することができるが、このとき第1の光源部LD1に
支持されている半導体レーザ101のシフト量δ
101と、この半導体レーザ101と射出軸a1について
対称な位置に支持された半導体レーザ102のシフト量
δ102は、射出軸a1と光軸Cが主走査方向に0.5m
mだけずれを生じているために、 δ101:δ102=(4+0.5):(4−0.5)=1.
3:1 のようにシフト量に差異が生じる。この現象は第2の光
源部LD2についての半導体レーザ111,112(こ
れらは射出軸a2について対称である)についても同様
である(シフト量の比はδ111:δ112=1:1.3であ
る)。
所望のピッチを得るために、2つの光源部LD1,LD
2の支持部材103,113をベース部材201の嵌合
穴201−1,201−2を基準として回転させること
により、図8に示すようにLD1−RとLD1−LでP
2を出し、LD2−RとLD2−LでピッチP1+P2
+P3を出す。しかしここで問題となるのは、P1とP
3は所望のピッチとはならず、非対称となることであ
る。なぜなら、光源側での各半導体レーザのシフト量が
異なるために、各光源部LD1,LD2の回転によって
生じるシフト量の副走査方向成分が異なり(すなわち、
図7でε101≠ε102及びε111≠ε112)、P2及びP1
+P2+P3というピッチは得られているものの、LD
1−RとLD1−Lの中心O、及びLD2−RとLD2
−Lの中心O’が図8(a)に示すように副走査方向に
ずれているからである。このずれ量を図8(b)のよう
に主・副走査方向で0にし、光軸CにO,O’を一致さ
せればP1=P2=P3となるが、光源側の回転調整だ
けでは、ずれ量を0とすることはできない。
は、光源側でのシフト量が、δ101≠δ102及びδ111≠
δ112のように異なっていることにより生じている。そ
こで、δ101=δ102及びδ111=δ112のようにすること
でこの問題を改善することができる。このようにシフト
量を設定すると、ポリゴンミラー反射面近傍で全ての光
ビームを主走査方向に交差させることはできなくなる
が、少なくとも第1の光源部LD1に支持された半導体
レーザ101,102とコリメートレンズ104,10
5の対についてはδ101=δ102という関係を保ちつつa
1と交差させることができるし、第2の光源部LD2に
支持された半導体レーザ111,112とコリメートレ
ンズ114,115の対についてはδ111=δ112という
関係を保ちつつa2と交差させることができる。このよ
うにすることで、ポリゴンミラー反射面に入射する光ビ
ームの主走査方向のばらつきを最小限に抑えながら副走
査ビームピッチの非対称の問題を改善することができ、
ポリゴンミラーの内径を小さくすることができる。
査方向にシフトさせて、各光源部LD1、LD2の回転
により被走査面上でピッチP1,P2,P3を得る場合
であったが、例えば第1、第2の光源部LD1、LD2
の支持部材103,113の回転量θ1,θ2を何らか
の事情により小さく抑えたい、または回転させないなど
の理由により、先に主走査方向だけでなく、副走査方向
にもシフトさせて被走査面上でピッチを得る場合も同様
に適用される。また、この調整方法は、第1の光源部L
D1、第2の光源部LD2ともに2以上の偶数個の半導
体レーザ及びコリメートレンズを配列して保持するマル
チビーム光源装置の場合に有効である。
源部に支持され、射出軸a1について対称に配置された
半導体レーザのシフト量をδ11=δ12、δ13=δ14、δ
15=δ16、・・・・・・、第2の光源部に支持され、射出軸a
1について対称に配置された半導体レーザのシフト量を
δ21=δ22、δ23=δ24、δ25=δ26、・・・・・・、となる
ようにしておけば、主走査方向については、ポリゴンミ
ラー反射面近傍で第1の光源部に支持された半導体レー
ザから射出される光ビームが射出軸a1と交差するよう
に、また第2の光源部に支持された半導体レーザから射
出される光ビームが射出軸a2と交差するようにするこ
とができ、かつ、副走査方向については被走査面上で所
望のピッチで等間隔の走査線を得ることが可能となる。
各半導体レーザとコリメートレンズは射出軸a1につい
て対称に、第2の光源部についてみると、各半導体レー
ザとコリメートレンズは射出軸a2について対称に配列
されているので、各射出軸a1,a2に関して対称な位
置にある半導体レーザのコリメートレンズ光軸からのシ
フト量のY方向成分(主走査方向成分)が同量であれば
(すなわち、ζ11=ζ12、ζ13=ζ14、ζ15=ζ16、・・
・・・・、ζ21=ζ22、ζ23=ζ24、ζ25=ζ26、・・・・
・)、ポリゴンミラー反射面近傍で、第1の光源部に支
持された各半導体レーザの光ビームが射出軸a1と、第
2の光源部に支持された各半導体レーザの光ビームが射
出軸a2と交差する。
ズ光軸からのシフト量のδ11=δ12、δ13=δ14、δ15
=δ16、・・・・・・、δ21=δ22、δ23=δ24、δ25=
δ26、・・・・・・と、シフト量の主走査方向成分のζ11=ζ
12、ζ13=ζ14、ζ15=ζ16、・・・・・・、ζ21=ζ22、ζ
23=ζ24、ζ25=ζ26、・・・・・が成立しているので、お
のずとシフト量のZ方向成分(副走査方向成分)におい
てもε11=ε12、ε13=ε14、ε15=ε16、・・・・・・、ε
21=ε22、ε23=ε24、ε25=ε26、・・・・・が成立す
る。従って、シフト量のZ方向成分(副走査方向成分)
が各射出軸a1,a2に関して対称に位置する半導体レ
ーザとコリメートレンズの対について同量となり、被走
査面上で所望のピッチが非対称になることを防ぐことが
できる。尚、この関係はこの状態でさらに各光源部に回
転を与えても崩れることがない。
ットの場合、図4で判るように4ビーム光源ユニットと
の違いは第1の光源部の構成が異なることだけである。
第1の光源部LD1では射出軸上に半導体レーザ12
1、コリメートレンズ122が配置され支持部材123
に支持される。また、第2の光源部LD2は射出軸に対
称に2つの半導体レーザ111,112と2つのコリメ
ートレンズ114,115が配置され支持部材113に
支持される。
示す構成の光走査装置に搭載した場合の被走査面上にお
ける各ビームスポットの配列を示している。副走査ビー
ムピッチPの調整は、第2の光源部LD2からの光ビー
ムによるLD2−RとLD2−Lのビームスポット間隔
が2Pとなるように第2の光源部LD2の支持部材11
3の傾きを合わせてベース部材201に固定すればよ
く、第1の光源部LD1を固定する際には調整が不要で
ある。尚、この例の場合も当然ながら、第2の光源部L
D2の各半導体レーザ111,112のコリメートレン
ズ光軸に対するシフト量δ111,δ112は同量(δ111=
δ112)に調整されている。
リメーレンズの数を増やし、3つ以上の半導体レーザ及
びコリメートレンズを配列して保持することも可能であ
り、その数が奇数個の場合には上記3ビーム光源ユニッ
トにおける第1の光源部と同様に、奇数個の半導体レー
ザとコリメートレンズとを主走査方向に配列しその中央
に位置する半導体レーザとコリメートレンズを射出軸上
に配置してこれらを支持部材で一体的に支持すればよい
し、偶数個であれば第2の光源部と同様に、偶数個の半
導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向に射出軸
に対称に配列してこれらを支持部材で一体的に支持すれ
ばよい。また、各光源部について3つ以上の半導体レー
ザ及びコリメートレンズを配列して保持する場合にも、
射出軸に対して対称な位置にある半導体レーザとコリメ
ートレンズの対については、半導体レーザのコリメート
レンズ光軸からのシフト量が同量となるように調整する
とよい。
は図3に示す構成のマルチビーム光走査装置の光源とし
て搭載されるが、マルチビーム光走査装置の構成、動
作、及び副走査方向のビームピッチの検出、補正方法等
に関しては既に実施例1で説明しているので、ここでは
説明を省略する。
明では、偶数個の半導体レーザと該半導体レーザと対で
設けられ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする
偶数個のコリメートレンズと上記偶数個の半導体レーザ
とコリメートレンズとを主走査方向に射出軸に対称に配
列しこれらを一体的に支持する支持部材とを有する第1
の光源部と、上記第1の光源部と同様に構成した第2の
光源部と、上記第1、第2の光源部の光ビームを副走査
方向に近接させて射出するビーム合成手段とからなるマ
ルチビーム光源装置において、上記第1の光源部の射出
軸と第2の光源部の射出軸とが主走査方向に所定角度隔
たるように配備したことにより、光源部間の配置精度や
ビーム合成プリズムの角度誤差等によるビーム合成後の
射出軸のずれを調整により吸収できるので、部品精度や
コリメートレンズを固定する際の調整精度が緩和でき、
生産性のよいマルチビーム光源ユニットを提供すること
ができる。
レーザと該半導体レーザと対で設けられ半導体レーザか
らの光ビームを平行光束にする奇数個のコリメートレン
ズと上記奇数個の半導体レーザとコリメートレンズとを
主走査方向に配列しその中央に位置する半導体レーザを
射出軸上に配置してこれらを一体的に支持する支持部材
とを有する第1の光源部と、偶数個の半導体レーザと該
半導体レーザと対で設けられ半導体レーザからの光ビー
ムを平行光束にする偶数個のコリメートレンズと上記偶
数個の半導体レーザとコリメートレンズとを主走査方向
に射出軸に対称に配列しこれらを一体的に支持する支持
部材とを有する第2の光源部と、上記第1、第2の光源
部の光ビームを副走査方向に近接させて射出するビーム
合成手段とからなるマルチビーム光源装置において、上
記第1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主
走査方向に所定角度隔たるように配備したことにより、
光源部間の配置精度やビーム合成プリズムの角度誤差等
によるビーム合成後の射出軸のずれを調整により吸収で
きるので、部品精度やコリメートレンズを固定する際の
調整精度が緩和でき、生産性のよいマルチビーム光源ユ
ニットを提供することができる。
2に記載のマルチビーム光源装置において、上記第1、
第2の光源部、及びビーム合成手段を、実質一体的にモ
ジュール化して保持する保持部材を設け、該保持部材を
(マルチビーム光源装置からの複数の光ビームを被走査
面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に走
査する)走査光学手段に対して該走査光学手段の光軸
(回転基準)Cを回転中心として回動可能に支持してな
ると共に、上記第1の光源部の射出軸と第2の光源部の
射出軸とが上記光軸Cに対して主走査方向に対称となる
ように配備したことにより、光源ユニットを組み付けた
後に光走査装置の光学ユニットに取り付けても、所定の
ビームピッチに補正できるので、組み立て効率が向上
し、光源ユニットのみでの交換が可能となり、修理コス
トを低減することができる。
ては、環境温度変化に伴い支持部材の膨張率とベース部
材の膨張率とに差があると、いずれか膨張率が大きい方
が歪んで(撓んで)ビームの射出方向(角度)が変化し
ビームピッチの変動が増幅されてしまうことがあるが、
請求項4に係る発明では、第1、第2の光源部の支持部
材の材質と、該支持部材が固定される保持部材のベース
部材の材質とを同一としたことにより、環境温度変化に
よる膨張率が同じで歪み(撓み)が生じないので、比較
的ビームピッチへの影響が小さい平行移動分のみです
み、経時においても安定した画像形成を行うことができ
る。
のマルチビーム光源装置において、被走査面上での第
1、第2の光源部の射出軸間隔を各光源部からのビーム
スポットの隣接する間隔の1/4以下に設定したことに
より、走査光学手段での例えばトロイダルレンズの配置
誤差や環境温度変動等に伴う走査線の傾きがあっても、
光源ユニットの水平方向をそれに合わせて所定のビーム
ピッチに補正できるので、組み立て効率が向上し、経時
においても安定した画像形成を行うことができる。
のマルチビーム光源装置において、保持部材を、光軸
(回転基準)Cを回転中心として回動可能とする位置決
め手段と、第1、第2の光源部について上記保持部材に
対し射出軸を回転中心として回動可能とする位置決め手
段とを具備したことにより、上記した3軸の回転調整の
みで副走査方向のビームピッチが設定できるので、作業
が簡素化でき組み立て効率を向上することができる。
レーザと、該半導体レーザと対で設けられ半導体レーザ
からの光ビームを平行光束にする偶数個のコリメートレ
ンズと、上記偶数個の半導体レーザとコリメートレンズ
とを主走査方向に射出軸に対称に配列しこれらを一体的
に支持する支持部材とを有する第1の光源部と、上記第
1の光源部と同様に構成した第2の光源部と、上記第
1、第2の光源部の光ビームを副走査方向に近接させて
射出するビーム合成手段とからなるマルチビーム光源装
置において、上記第1、第2の光源部の射出軸に対して
対称な位置にある半導体レーザとコリメートレンズの対
について、半導体レーザのコリメートレンズ光軸からの
シフト量が同量であることにより、副走査ビームピッチ
の非対称が軽減された走査線を得ることができるので、
被走査面上での副走査の走査線間隔が等間隔に維持さ
れ、経時においても安定した画像形成が行えるようにし
た、高品位な画像記録を行うことができるマルチビーム
光源装置を提供することができる。
レーザと、該半導体レーザと対で設けられ半導体レーザ
からの光ビームを平行光束にする奇数個のコリメートレ
ンズと、上記奇数個の半導体レーザとコリメートレンズ
とを主走査方向に配列しその中央に位置する半導体レー
ザを射出軸上に配置してこれらを一体的に支持する支持
部材とを有する第1の光源部と、偶数個の半導体レーザ
と、該半導体レーザと対で設けられ半導体レーザからの
光ビームを平行光束にする偶数個のコリメートレンズ
と、上記偶数個の半導体レーザとコリメートレンズとを
主走査方向に射出軸に対称に配列しこれらを一体的に支
持する支持部材とを有する第2の光源部と、上記第1、
第2の光源部の光ビームを副走査方向に近接させて射出
するビーム合成手段とからなるマルチビーム光源装置に
おいて、上記第1、第2の光源部の射出軸に対して対称
な位置にある半導体レーザとコリメートレンズの対につ
いて、半導体レーザのコリメートレンズ光軸からのシフ
ト量が同量であることにより、副走査ビームピッチの非
対称が軽減された走査線を得ることができるので、被走
査面上での副走査の走査線間隔が等間隔に維持され、経
時においても安定した画像形成が行えるようにした、高
品位な画像記録を行うことができるマルチビーム光源装
置を提供することができる。
8に記載のマルチビーム光源装置において、半導体レー
ザのコリメートレンズ光軸からのシフトが、第1の光源
部に支持された複数の半導体レーザから射出された主光
線が、光走査装置の回転多面鏡近傍で第1の光源部の射
出軸と主走査方向で交差し、第2の光源部に支持された
複数の半導体レーザから射出された主光線が、光走査装
置の回転多面鏡近傍で第2の光源部の射出軸と主走査方
向で交差するように設定されていることにより、回転多
面鏡の反射面に入射する光ビームの主走査方向のばらつ
きを最小限に抑えながら副走査ビームピッチの非対称の
問題を改善することができ、回転多面鏡の内径を最小に
抑えることができる。
または9に記載のマルチビーム光源装置において、上記
第1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが主走
査方向に隔たるように配備したことにより、光源部間の
配置精度やプリズムの角度誤差等によるビーム合成後の
射出軸のずれを調整により吸収し、部品精度やコリメー
トレンズを固定する際の調整精度が緩和でき、生産性の
良い光源ユニットを提供できる。
8,9または10に記載のマルチビーム光源装置におい
て、上記第1、第2の光源部、及びビーム合成手段を実
質一体的にモジュール化して保持する保持部材を設け、
(マルチビーム光源装置からの複数の光ビームを被走査
面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に走
査する)走査光学手段に対して該走査光学手段の光軸
(回転基準)Cを回転中心として回動可能に支持してな
ると共に、上記第1の光源部と第2の光源部は上記保持
部材に対して各々の射出軸を回転中心として独立に回動
可能であることにより、回転調整のみで副走査ビームピ
ッチの調整ができるので、作業が簡素化でき組み立て効
率を向上することができる。
のマルチビーム光源装置の概略構成を分解した状態で示
す斜視図である。
要部構成の説明図であって、(a)はマルチビーム光源
装置の第1の光源部のX,Y方向に平行な断面の様子を
示す図、(b)はマルチビーム光源装置の4つの半導体
レーザをX方向裏面側から見たときの配置位置を示す図
である。
トとして搭載した光走査装置の概要を示す構成説明図で
ある。
ムのマルチビーム光源装置の概略構成を分解した状態で
示す斜視図である。
置を用いた場合の被走査面上のビームスポットの配列例
と、副走査方向のビームピッチ調整方法の一例を示す図
である。
用いた場合の被走査面上のビームスポットの配列例と、
副走査方向のビームピッチ調整方法の一例を示す図であ
る。
要部構成の別の説明図であって、(a)はマルチビーム
光源装置の第1の光源部のX,Y方向に平行な断面の様
子を示す図、(b)はマルチビーム光源装置の4つの半
導体レーザをX方向裏面側から見たときの配置位置を示
す図である。
置を用いた場合の被走査面上のビームスポットの配列例
と、副走査方向のビームピッチ調整方法の一例を示す図
である。
用いた場合の被走査面上のビームスポットの配列例と、
副走査方向のビームピッチ調整方法の別の例を示す図で
ある。
1、第2の光源部の各半導体レーザのコリメートレンズ
光軸からのシフト量の説明図である。
半導体レーザ及びコリメートレンズを配列して保持する
マルチビーム光源装置における第1、第2の光源部の各
半導体レーザのコリメートレンズ光軸からのシフト量の
説明図である。
る。
ザ 103,113,123:支持部材 104,105,114,115,122:コリメート
レンズ 201:ベース部材(保持部材) 202:ビーム合成プリズム(ビーム合成手段) 203:ホルダー(保持部材) 301:マルチビーム光源ユニット 302:シリンダレンズ 303:ポリゴンミラー 304:fθレンズ 305:同期検知用ミラー 306:同期検知センサー 307:折り返しミラー 308:トロイダルレンズ 309:感光体 309a:被走査面 310:パルスモータ 311:ピッチ演算部 312:モータ制御部 LD1:第1の光源部 LD2:第2の光源部
Claims (11)
- 【請求項1】光源からの光ビームを走査光学手段で被走
査面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に
走査する光走査装置において上記光源として用いられ複
数の光ビームを射出するマルチビーム光源装置であっ
て、 偶数個の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けら
れ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする偶数個
のコリメートレンズと、上記偶数個の半導体レーザとコ
リメートレンズとを主走査方向に射出軸に対称に配列し
これらを一体的に支持する支持部材とを有する第1の光
源部と、上記第1の光源部と同様に構成した第2の光源
部と、上記第1、第2の光源部の光ビームを副走査方向
に近接させて射出するビーム合成手段とからなるマルチ
ビーム光源装置において、 上記第1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが
主走査方向に所定角度隔たるように配備したことを特徴
とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項2】光源からの光ビームを走査光学手段で被走
査面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に
走査する光走査装置において上記光源として用いられ複
数の光ビームを射出するマルチビーム光源装置であっ
て、 奇数個の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けら
れ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする奇数個
のコリメートレンズと、上記奇数個の半導体レーザとコ
リメートレンズとを主走査方向に配列しその中央に位置
する半導体レーザを射出軸上に配置してこれらを一体的
に支持する支持部材とを有する第1の光源部と、偶数個
の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けられ半導
体レーザからの光ビームを平行光束にする偶数個のコリ
メートレンズと、上記偶数個の半導体レーザとコリメー
トレンズとを主走査方向に射出軸に対称に配列しこれら
を一体的に支持する支持部材とを有する第2の光源部
と、上記第1、第2の光源部の光ビームを副走査方向に
近接させて射出するビーム合成手段とからなるマルチビ
ーム光源装置において、 上記第1の光源部の射出軸と第2の光源部の射出軸とが
主走査方向に所定角度隔たるように配備したことを特徴
とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項3】請求項1または2に記載のマルチビーム光
源装置において、上記第1、第2の光源部、及びビーム
合成手段を、実質一体的にモジュール化して保持する保
持部材を設け、該保持部材を(マルチビーム光源装置か
らの複数の光ビームを被走査面上に集光してビームスポ
ットを形成し主走査方向に走査する)走査光学手段に対
して該走査光学手段の光軸(回転基準)Cを回転中心と
して回動可能に支持してなると共に、上記第1の光源部
の射出軸と第2の光源部の射出軸とが上記光軸Cに対し
て主走査方向に対称となるように配備したことを特徴と
するマルチビーム光源装置。 - 【請求項4】請求項3に記載のマルチビーム光源装置に
おいて、上記第1、第2の光源部の支持部材の材質と、
該支持部材が固定される上記保持部材のベース部材の材
質とを同一としたことを特徴とするマルチビーム光源装
置。 - 【請求項5】請求項3に記載のマルチビーム光源装置に
おいて、被走査面上での上記第1、第2の光源部の射出
軸間隔を各光源部からのビームスポットの隣接する間隔
の1/4以下に設定したことを特徴とするマルチビーム
光源装置。 - 【請求項6】請求項3に記載のマルチビーム光源装置に
おいて、上記保持部材を、上記光軸(回転基準)Cを回
転中心として回動可能とする位置決め手段と、第1、第
2の光源部について上記保持部材に対し射出軸を回転中
心として回動可能とする位置決め手段とを具備したこと
を特徴とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項7】光源からの光ビームを走査光学手段で被走
査面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に
走査する光走査装置において上記光源として用いられ複
数の光ビームを射出するマルチビーム光源装置であっ
て、 偶数個の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けら
れ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする偶数個
のコリメートレンズと、上記偶数個の半導体レーザとコ
リメートレンズとを主走査方向に射出軸に対称に配列し
これらを一体的に支持する支持部材とを有する第1の光
源部と、上記第1の光源部と同様に構成した第2の光源
部と、上記第1、第2の光源部の光ビームを副走査方向
に近接させて射出するビーム合成手段とからなるマルチ
ビーム光源装置において、 上記第1、第2の光源部の射出軸に対して対称な位置に
ある半導体レーザとコリメートレンズの対について、半
導体レーザのコリメートレンズ光軸からのシフト量が同
量であることを特徴とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項8】光源からの光ビームを走査光学手段で被走
査面上に集光してビームスポットを形成し主走査方向に
走査する光走査装置において上記光源として用いられ複
数の光ビームを射出するマルチビーム光源装置であっ
て、 奇数個の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けら
れ半導体レーザからの光ビームを平行光束にする奇数個
のコリメートレンズと、上記奇数個の半導体レーザとコ
リメートレンズとを主走査方向に配列しその中央に位置
する半導体レーザを射出軸上に配置してこれらを一体的
に支持する支持部材とを有する第1の光源部と、偶数個
の半導体レーザと、該半導体レーザと対で設けられ半導
体レーザからの光ビームを平行光束にする偶数個のコリ
メートレンズと、上記偶数個の半導体レーザとコリメー
トレンズとを主走査方向に射出軸に対称に配列しこれら
を一体的に支持する支持部材とを有する第2の光源部
と、上記第1、第2の光源部の光ビームを副走査方向に
近接させて射出するビーム合成手段とからなるマルチビ
ーム光源装置において、 上記第1、第2の光源部の射出軸に対して対称な位置に
ある半導体レーザとコリメートレンズの対について、半
導体レーザのコリメートレンズ光軸からのシフト量が同
量であることを特徴とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項9】請求項7または8に記載のマルチビーム光
源装置において、半導体レーザのコリメートレンズ光軸
からのシフトが、第1の光源部に支持された複数の半導
体レーザから射出された主光線が、光走査装置の回転多
面鏡近傍で第1の光源部の射出軸と主走査方向で交差
し、第2の光源部に支持された複数の半導体レーザから
射出された主光線が、光走査装置の回転多面鏡近傍で第
2の光源部の射出軸と主走査方向で交差するように設定
されていることを特徴とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項10】請求項7,8または9に記載のマルチビ
ーム光源装置において、上記第1の光源部の射出軸と第
2の光源部の射出軸とが主走査方向に隔たるように配備
したことを特徴とするマルチビーム光源装置。 - 【請求項11】請求項7,8,9または10に記載のマ
ルチビーム光源装置において、上記第1、第2の光源
部、及びビーム合成手段を実質一体的にモジュール化し
て保持する保持部材を設け、該保持部材を(マルチビー
ム光源装置からの複数の光ビームを被走査面上に集光し
てビームスポットを形成し主走査方向に走査する)走査
光学手段に対して該走査光学手段の光軸(回転基準)C
を回転中心として回動可能に支持してなると共に、上記
第1の光源部と第2の光源部は上記保持部材に対して各
々の射出軸を回転中心として独立に回動可能であること
を特徴とするマルチビーム光源装置。
Priority Applications (2)
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1998
- 1998-04-16 JP JP10659998A patent/JP3526400B2/ja not_active Expired - Fee Related
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