JPH11205632A - サンプルホールド回路及びクランプ回路 - Google Patents
サンプルホールド回路及びクランプ回路Info
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- JPH11205632A JPH11205632A JP10004801A JP480198A JPH11205632A JP H11205632 A JPH11205632 A JP H11205632A JP 10004801 A JP10004801 A JP 10004801A JP 480198 A JP480198 A JP 480198A JP H11205632 A JPH11205632 A JP H11205632A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高精度な温度補償が可能なサンプルホールド
回路及びクランプ回路を提供すること。 【解決手段】 サンプルホールド回路において、差動入
力端子を有する増幅回路１３と、サンプルホールド回路
１１、１２と、サンプルホールド回路と同じ温度変化特
性あるいはインピーダンスを有するように構成された疑
似サンプルホールド回路１４、１５とを備える。また、
該サンプルホールド回路を使用したフィードバッククラ
ンプ回路にも特徴がある。本発明によれば、疑似サンプ
ルホールド回路１４、１５の出力電圧を演算増幅器１３
の他端に入力することにより、サンプルホールド回路あ
るいは誤差電圧演算回路の温度ドリフトをキャンセルあ
るいは低減する。
回路及びクランプ回路を提供すること。 【解決手段】 サンプルホールド回路において、差動入
力端子を有する増幅回路１３と、サンプルホールド回路
１１、１２と、サンプルホールド回路と同じ温度変化特
性あるいはインピーダンスを有するように構成された疑
似サンプルホールド回路１４、１５とを備える。また、
該サンプルホールド回路を使用したフィードバッククラ
ンプ回路にも特徴がある。本発明によれば、疑似サンプ
ルホールド回路１４、１５の出力電圧を演算増幅器１３
の他端に入力することにより、サンプルホールド回路あ
るいは誤差電圧演算回路の温度ドリフトをキャンセルあ
るいは低減する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はサンプルホールド回
路及びクランプ回路に関し、特に、高精度な温度補償が
可能なサンプルホールド回路及びクランプ回路に関する
ものである。
路及びクランプ回路に関し、特に、高精度な温度補償が
可能なサンプルホールド回路及びクランプ回路に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、ビデオカメラ回路内等に使用され
るクランプ回路としては、高精度なクランプが可能なフ
ィードバッククランプ回路が採用されていた。図８は、
従来のフィードバッククランプ回路の構成を示す回路図
である。入力端子から入力された映像信号は演算増幅器
１０からなるバッファ増幅器によって増幅され、出力端
子に出力される。出力信号電圧は、アナログスイッチか
らなる電子スイッチ回路１１によって、サンプルすべき
時間位置において発生するクランプパルスと同期してサ
ンプリングされ、ホールド用のコンデンサ１２に保持さ
れる。コンデンサ１２の電圧は、演算増幅器１６からな
る積分回路の＋（プラス）端子に入力される。また、積
分回路の−（マイナス）端子には、基準クランプ電圧端
子から抵抗１８が接続され、更に演算増幅器１６の出力
端子からコンデンサ１７が接続されている。
るクランプ回路としては、高精度なクランプが可能なフ
ィードバッククランプ回路が採用されていた。図８は、
従来のフィードバッククランプ回路の構成を示す回路図
である。入力端子から入力された映像信号は演算増幅器
１０からなるバッファ増幅器によって増幅され、出力端
子に出力される。出力信号電圧は、アナログスイッチか
らなる電子スイッチ回路１１によって、サンプルすべき
時間位置において発生するクランプパルスと同期してサ
ンプリングされ、ホールド用のコンデンサ１２に保持さ
れる。コンデンサ１２の電圧は、演算増幅器１６からな
る積分回路の＋（プラス）端子に入力される。また、積
分回路の−（マイナス）端子には、基準クランプ電圧端
子から抵抗１８が接続され、更に演算増幅器１６の出力
端子からコンデンサ１７が接続されている。
【０００３】図８の回路において、演算増幅器１０から
なるバッファ増幅器および電子スイッチ１１とコンデン
サ１２からなるサンプルホールド回路は演算増幅器１６
のフィードバック回路を形成しており、抵抗１８および
コンデンサ１７によって決定される時定数で、コンデン
サ１２に保持される電圧が基準クランプ電圧となるよう
に信号の直流レベルがフィードバック制御される。
なるバッファ増幅器および電子スイッチ１１とコンデン
サ１２からなるサンプルホールド回路は演算増幅器１６
のフィードバック回路を形成しており、抵抗１８および
コンデンサ１７によって決定される時定数で、コンデン
サ１２に保持される電圧が基準クランプ電圧となるよう
に信号の直流レベルがフィードバック制御される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記したような従来の
フィードバッククランプ回路においては、演算増幅器１
０はフィードバックループ内にあるので、該増幅器１０
の温度ドリフトも含めてフィードバック制御される。但
し、積分回路を形成する演算増幅器１６の温度ドリフト
は抑圧できない。従って、積分回路に使用する演算増幅
器１６には低温度ドリフトの演算増幅器を使用するな
ど、設計には十分配慮が必要となる。また、サンプルホ
ールド回路の電子スイッチ１１としては例えばＣＭＯＳ
ＦＥＴを使用したアナログスイッチ素子を使用するが、
この素子のオン抵抗、オフ抵抗、寄生容量、スイッチン
グ時間等の温度変化特性も問題となる。
フィードバッククランプ回路においては、演算増幅器１
０はフィードバックループ内にあるので、該増幅器１０
の温度ドリフトも含めてフィードバック制御される。但
し、積分回路を形成する演算増幅器１６の温度ドリフト
は抑圧できない。従って、積分回路に使用する演算増幅
器１６には低温度ドリフトの演算増幅器を使用するな
ど、設計には十分配慮が必要となる。また、サンプルホ
ールド回路の電子スイッチ１１としては例えばＣＭＯＳ
ＦＥＴを使用したアナログスイッチ素子を使用するが、
この素子のオン抵抗、オフ抵抗、寄生容量、スイッチン
グ時間等の温度変化特性も問題となる。
【０００５】本発明の目的は、前記のような従来技術の
問題点を解決し、高精度な温度補償が可能なサンプルホ
ールド回路及びクランプ回路を提供することにある。
問題点を解決し、高精度な温度補償が可能なサンプルホ
ールド回路及びクランプ回路を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、サンプルホー
ルド回路において、差動入力端子を有する増幅手段と、
ホールド出力が差動入力端子の一端に接続されたサンプ
ルホールド手段と、出力が差動入力端子の他端に接続さ
れ、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性を有する
ように構成された疑似サンプルホールド手段とを含むこ
とを特徴とする。また、該サンプルホールド回路を使用
したフィードバッククランプ回路にも特徴がある。本発
明によれば、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性
やインピーダンスを有する疑似サンプルホールド手段を
設け、該手段の出力電圧を演算増幅器の他端に入力する
ことにより、演算増幅器の同相信号除去特性（CMRR）を
利用してサンプルホールド回路あるいは誤差電圧演算回
路の温度ドリフトをキャンセルするように作用する。
ルド回路において、差動入力端子を有する増幅手段と、
ホールド出力が差動入力端子の一端に接続されたサンプ
ルホールド手段と、出力が差動入力端子の他端に接続さ
れ、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性を有する
ように構成された疑似サンプルホールド手段とを含むこ
とを特徴とする。また、該サンプルホールド回路を使用
したフィードバッククランプ回路にも特徴がある。本発
明によれば、サンプルホールド手段と同じ温度変化特性
やインピーダンスを有する疑似サンプルホールド手段を
設け、該手段の出力電圧を演算増幅器の他端に入力する
ことにより、演算増幅器の同相信号除去特性（CMRR）を
利用してサンプルホールド回路あるいは誤差電圧演算回
路の温度ドリフトをキャンセルするように作用する。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。図２は、一般的なビデオカ
メラ装置の回路構成例を示すブロック図である。ＣＣＤ
２０から生成された映像信号はＣＤＳ（相関二重サンプ
リング）回路２１によって雑音が低減され、ＬＰＦ（ロ
ーパスフィルタ）回路２２を介して増幅器２３によって
増幅される。本発明が適用されるクランプ回路２４は、
後述するような構成および動作によって映像信号の直流
レベルを基準のレベルにクランプする。ブランキングク
リーン回路２５はＣＣＤ２０からの出力に含まれている
水平ブランキング期間中の不要な信号を取り除き、代わ
りにＲＥＦ信号発生回路２７によって発生されたＲＥＦ
パルスを加える。
を参照して詳細に説明する。図２は、一般的なビデオカ
メラ装置の回路構成例を示すブロック図である。ＣＣＤ
２０から生成された映像信号はＣＤＳ（相関二重サンプ
リング）回路２１によって雑音が低減され、ＬＰＦ（ロ
ーパスフィルタ）回路２２を介して増幅器２３によって
増幅される。本発明が適用されるクランプ回路２４は、
後述するような構成および動作によって映像信号の直流
レベルを基準のレベルにクランプする。ブランキングク
リーン回路２５はＣＣＤ２０からの出力に含まれている
水平ブランキング期間中の不要な信号を取り除き、代わ
りにＲＥＦ信号発生回路２７によって発生されたＲＥＦ
パルスを加える。
【０００８】図３は、ブランキングクリーン回路２５の
入出力信号波形を示す波形図である。図３（ａ）はクラ
ンプ回路２４からブランキングクリーン回路２５へ入力
される映像信号波形例であり、図３（ｂ）はＲＥＦ信号
発生回路２７からブランキングクリーン回路２５へ入力
されるＲＥＦ信号波形である。ブランキングクリーン回
路２５は水平ブランキング期間中はＲＥＦパルス信号が
出力されるようにスイッチングしている。従って、もし
クランプ回路２４の精度が悪いとスイッチング時にレベ
ルの段差が生じ、ペデスタルが狂ってしまったりゲイン
精度が悪化する原因となるので、クランプ回路２４には
高い精度が要求される。
入出力信号波形を示す波形図である。図３（ａ）はクラ
ンプ回路２４からブランキングクリーン回路２５へ入力
される映像信号波形例であり、図３（ｂ）はＲＥＦ信号
発生回路２７からブランキングクリーン回路２５へ入力
されるＲＥＦ信号波形である。ブランキングクリーン回
路２５は水平ブランキング期間中はＲＥＦパルス信号が
出力されるようにスイッチングしている。従って、もし
クランプ回路２４の精度が悪いとスイッチング時にレベ
ルの段差が生じ、ペデスタルが狂ってしまったりゲイン
精度が悪化する原因となるので、クランプ回路２４には
高い精度が要求される。
【０００９】図２に戻って、ＡＧＣ回路２８はＲＥＦパ
ルスを基に映像信号のゲインを制御し、ガンマ補正回路
２９、ホワイトクリップ回路３０、ドライバ回路３１を
経て映像信号が外部へ出力される。タイミング制御回路
２６はＣＣＤやその他の回路に必要なタイミングパルス
を供給する。
ルスを基に映像信号のゲインを制御し、ガンマ補正回路
２９、ホワイトクリップ回路３０、ドライバ回路３１を
経て映像信号が外部へ出力される。タイミング制御回路
２６はＣＣＤやその他の回路に必要なタイミングパルス
を供給する。
【００１０】図１は、本発明を適用したフィードバック
クランプ回路の第１の実施例の構成を示す回路図であ
る。図８に示す従来のフィードバッククランプ回路との
相違点は、サンプルホールド回路と積分回路との間に点
線で囲んだ補正回路を追加した点である。補正回路の演
算増幅器１３の＋端子はサンプルホールド回路の電子ス
イッチ１１とホールド用コンデンサ１２の接続点に接続
されており、−端子にはやはり電子スイッチ１５および
コンデンサ１４の並列接続回路の一端が接続されてい
る。電子スイッチ１５およびコンデンサ１４の並列接続
回路の他端は演算増幅器１３の出力に接続されており、
該出力は更に積分回路の演算増幅器１６の＋端子に接続
されている。
クランプ回路の第１の実施例の構成を示す回路図であ
る。図８に示す従来のフィードバッククランプ回路との
相違点は、サンプルホールド回路と積分回路との間に点
線で囲んだ補正回路を追加した点である。補正回路の演
算増幅器１３の＋端子はサンプルホールド回路の電子ス
イッチ１１とホールド用コンデンサ１２の接続点に接続
されており、−端子にはやはり電子スイッチ１５および
コンデンサ１４の並列接続回路の一端が接続されてい
る。電子スイッチ１５およびコンデンサ１４の並列接続
回路の他端は演算増幅器１３の出力に接続されており、
該出力は更に積分回路の演算増幅器１６の＋端子に接続
されている。
【００１１】コンデンサ１４は、サンプルホールド回路
のコンデンサ１２と同一の特性および容量のものを使用
し、また電子スイッチ１５もサンプルホールド回路の電
子スイッチ１１と同一のものを使用する。２つの電子ス
イッチ１１、１５は共に、タイミング制御回路２６から
出力されるクランプパルスによってオン／オフ制御され
る。このコンデンサ１４および電子スイッチ回路１５
は、いわば疑似サンプルホールド回路を形成している。
のコンデンサ１２と同一の特性および容量のものを使用
し、また電子スイッチ１５もサンプルホールド回路の電
子スイッチ１１と同一のものを使用する。２つの電子ス
イッチ１１、１５は共に、タイミング制御回路２６から
出力されるクランプパルスによってオン／オフ制御され
る。このコンデンサ１４および電子スイッチ回路１５
は、いわば疑似サンプルホールド回路を形成している。
【００１２】図４は、電子スイッチ１１、１５として使
用される、市販されているアナログスイッチＩＣの構成
例を示す回路図である。スイッチング素子としてはＰＭ
ＯＳＦＥＴ（Ｑ３）およびＮＭＯＳＦＥＴ（Ｑ４）が並
列接続された回路を用い、ＭＯＳＦＥＴ、Ｑ１、Ｑ２か
らなるインバータ回路によって相補的に駆動する。ＦＥ
Ｔをスイッチング素子として使用しているために、オン
抵抗、オフ抵抗、各端子間の寄生容量、スイッチング速
度等が信号に影響を与える恐れがあり、また温度変化に
よってこれらのパラメータも変化する。
用される、市販されているアナログスイッチＩＣの構成
例を示す回路図である。スイッチング素子としてはＰＭ
ＯＳＦＥＴ（Ｑ３）およびＮＭＯＳＦＥＴ（Ｑ４）が並
列接続された回路を用い、ＭＯＳＦＥＴ、Ｑ１、Ｑ２か
らなるインバータ回路によって相補的に駆動する。ＦＥ
Ｔをスイッチング素子として使用しているために、オン
抵抗、オフ抵抗、各端子間の寄生容量、スイッチング速
度等が信号に影響を与える恐れがあり、また温度変化に
よってこれらのパラメータも変化する。
【００１３】発明者は、温度変化によるレベル変動を演
算増幅器の＋端子および−端子の双方に加えることによ
り変動をキャンセルするという基本的着想に基づき、各
種の回路構成について試作、測定を行った結果、図１に
示す回路が、従来の回路に比べて温度変化に対する直流
のドリフトが減少することを確認した。図１の補正回路
は基本的には増幅度１のバッファ増幅器として動作す
る。温度補償が行われる原因は、スイッチ１１およびコ
ンデンサ１２からなるサンプルホールド回路の出力電圧
の温度による変化が、スイッチ１５およびコンデンサ１
４からなる疑似サンプルホールド回路の出力電圧の温度
による変化と等しく、演算増幅器１３の同相信号除去特
性（CMRR）によってキャンセルされたものと考えられ
る。あるいは、演算増幅器１３の＋端子および−端子か
ら見たインピーダンスが等しくなるので、演算増幅器１
３の温度によるドリフトが減少したものと考えられる。
算増幅器の＋端子および−端子の双方に加えることによ
り変動をキャンセルするという基本的着想に基づき、各
種の回路構成について試作、測定を行った結果、図１に
示す回路が、従来の回路に比べて温度変化に対する直流
のドリフトが減少することを確認した。図１の補正回路
は基本的には増幅度１のバッファ増幅器として動作す
る。温度補償が行われる原因は、スイッチ１１およびコ
ンデンサ１２からなるサンプルホールド回路の出力電圧
の温度による変化が、スイッチ１５およびコンデンサ１
４からなる疑似サンプルホールド回路の出力電圧の温度
による変化と等しく、演算増幅器１３の同相信号除去特
性（CMRR）によってキャンセルされたものと考えられ
る。あるいは、演算増幅器１３の＋端子および−端子か
ら見たインピーダンスが等しくなるので、演算増幅器１
３の温度によるドリフトが減少したものと考えられる。
【００１４】図５は、フィードバッククランプ回路の第
２の実施例の構成を示す回路図である。図１に示す第１
の実施例においては、積分回路と補正回路とが別に構成
されていたが、第２の実施例は積分型のサンプルホール
ド回路がクランプおよび温度補償機能をも備えるように
構成した例である。図５の回路において、演算増幅器１
０および４０、電子スイッチ１１、コンデンサ４１によ
って積分型のサンプルホールド回路が形成されている。
２の実施例の構成を示す回路図である。図１に示す第１
の実施例においては、積分回路と補正回路とが別に構成
されていたが、第２の実施例は積分型のサンプルホール
ド回路がクランプおよび温度補償機能をも備えるように
構成した例である。図５の回路において、演算増幅器１
０および４０、電子スイッチ１１、コンデンサ４１によ
って積分型のサンプルホールド回路が形成されている。
【００１５】演算増幅器４０の−端子には、電子スイッ
チ４３およびコンデンサ４２の並列回路の一端が接続さ
れ、他端には基準クランプ電圧が印加されている。電子
スイッチ４３およびコンデンサ４２はそれぞれ電子スイ
ッチ１１およびコンデンサ４１と同一のものを使用す
る。電子スイッチ４３およびコンデンサ４２は、やはり
疑似サンプルホールド回路を形成しており、第１の実施
例と同様にサンプルホールド回路の温度ドリフトのキャ
ンセルあるいは両入力端子のインピーダンスを揃えるこ
とによる演算増幅器４０の温度ドリフトの減少により、
温度補償効果を奏するものと考えられる。
チ４３およびコンデンサ４２の並列回路の一端が接続さ
れ、他端には基準クランプ電圧が印加されている。電子
スイッチ４３およびコンデンサ４２はそれぞれ電子スイ
ッチ１１およびコンデンサ４１と同一のものを使用す
る。電子スイッチ４３およびコンデンサ４２は、やはり
疑似サンプルホールド回路を形成しており、第１の実施
例と同様にサンプルホールド回路の温度ドリフトのキャ
ンセルあるいは両入力端子のインピーダンスを揃えるこ
とによる演算増幅器４０の温度ドリフトの減少により、
温度補償効果を奏するものと考えられる。
【００１６】図６は、フィードバッククランプ回路の第
３の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
１に示す第１の実施例の変形例であり、第１の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図６の回
路において、電子スイッチ５１およびコンデンサ５０に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが、
この回路はサンプルホールド回路と全く同一の構成で実
際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしている。従
って、サンプルホールド回路の温度による特性変化のキ
ャンセルや両入力端子のインピーダンスを揃えることに
よる演算増幅器１３の温度ドリフトの減少の効果がより
期待できる。
３の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
１に示す第１の実施例の変形例であり、第１の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図６の回
路において、電子スイッチ５１およびコンデンサ５０に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが、
この回路はサンプルホールド回路と全く同一の構成で実
際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしている。従
って、サンプルホールド回路の温度による特性変化のキ
ャンセルや両入力端子のインピーダンスを揃えることに
よる演算増幅器１３の温度ドリフトの減少の効果がより
期待できる。
【００１７】図７は、フィードバッククランプ回路の第
４の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
５に示す第２の実施例の変形例であり、第２の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図７の回
路において、電子スイッチ４３およびコンデンサ４２に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが
が、コンデンサ４２の一端はグランドに接続されてお
り、実際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしてい
る。この実施例においても、第２実施例と同様に、サン
プルホールド回路の温度による特性変化のキャンセルや
両入力端子のインピーダンスを揃えることによる演算増
幅器１３の温度ドリフトの減少の効果が期待できる。
４の実施例の構成を示す回路図である。この実施例は図
５に示す第２の実施例の変形例であり、第２の実施例と
は疑似サンプルホールド回路の構成が異なる。図７の回
路において、電子スイッチ４３およびコンデンサ４２に
よって疑似サンプルホールド回路が形成されているが
が、コンデンサ４２の一端はグランドに接続されてお
り、実際に基準クランプ電圧をサンプルホールドしてい
る。この実施例においても、第２実施例と同様に、サン
プルホールド回路の温度による特性変化のキャンセルや
両入力端子のインピーダンスを揃えることによる演算増
幅器１３の温度ドリフトの減少の効果が期待できる。
【００１８】以上、本発明を映像信号のクランプ回路に
適用する例を開示したが、本発明のサンプルホールド回
路およびクランプ回路は任意の信号のサンプルホールド
回路およびクランプ回路に適用可能である。
適用する例を開示したが、本発明のサンプルホールド回
路およびクランプ回路は任意の信号のサンプルホールド
回路およびクランプ回路に適用可能である。
【００１９】
【発明の効果】以上述べたように、本発明においては、
サンプルホールド手段と同じ温度変化特性やインピーダ
ンスを有する疑似サンプルホールド手段を設け、該手段
の出力電圧を演算増幅器の他端に入力することにより、
演算増幅器の同相信号除去特性（CMRR）を利用してサン
プルホールド回路あるいは誤差電圧演算回路の温度ドリ
フトをキャンセルするようにしたので、サンプルホール
ド回路及び該回路を使用したクランプ回路において、簡
単な回路で高精度な温度補償が可能となるという効果が
ある。
サンプルホールド手段と同じ温度変化特性やインピーダ
ンスを有する疑似サンプルホールド手段を設け、該手段
の出力電圧を演算増幅器の他端に入力することにより、
演算増幅器の同相信号除去特性（CMRR）を利用してサン
プルホールド回路あるいは誤差電圧演算回路の温度ドリ
フトをキャンセルするようにしたので、サンプルホール
ド回路及び該回路を使用したクランプ回路において、簡
単な回路で高精度な温度補償が可能となるという効果が
ある。
【図１】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第１の実施例の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図２】一般的なビデオカメラ装置の回路構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】フ゛ランキンク゛クリーン回路の入出力信号波形を示す波形
図である。
図である。
【図４】アナログスイッチＩＣの構成例を示す回路図で
ある。
ある。
【図５】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第２の実施例の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図６】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第３の実施例の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図７】フィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の第４の実施例の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図８】従来のフィート゛ハ゛ッククランフ゜回路の構成を示す回路図
である。
である。
１０、１３、１６…演算増幅器、１１、１５…電子スイ
ッチ素子、１２、１４、１７…コンデンサ、１８…抵抗
ッチ素子、１２、１４、１７…コンデンサ、１８…抵抗
Claims (4)
- 【請求項１】 差動入力端子を有する増幅手段と、 ホールド出力が前記差動入力端子の一端に接続されたサ
ンプルホールド手段と、 出力が前記差動入力端子の他端に接続され、温度変化に
対する出力電圧の変化が前記サンプルホールド手段と同
じ特性を有するように構成された疑似サンプルホールド
手段とを含むことを特徴とするサンプルホールド回路。 - 【請求項２】 差動入力端子を有する増幅手段と、ホー
ルド出力が前記差動入力端子の一端に接続されたサンプ
ルホールド手段と、出力が前記差動入力端子の他端に接
続され、温度変化に対する出力電圧の変化が前記サンプ
ルホールド手段と同じ特性を有するように構成された疑
似サンプルホールド手段とを含むサンプルホールド回路
を有することを特徴とするフィードバッククランプ回
路。 - 【請求項３】 前記疑似サンプルホールド手段は、前記
サンプルホールド手段に使用される素子と同一の電子ス
イッチ素子およびコンデンサの並列接続回路であり、該
並列接続回路の一端は前記増幅手段のマイナス端子に接
続され、他端は前記増幅手段の出力端に接続されてお
り、 前記増幅手段の出力は積分回路に入力されており、 前記積分回路の出力は抵抗を介して、入力信号を増幅す
るバッファ増幅手段のマイナス端子に接続されており、 バッファ増幅手段の出力がサンプルホールド回路に接続
されていることを特徴とする請求項２に記載のフィード
バッククランプ回路。 - 【請求項４】 前記サンプルホールド回路の電子スイッ
チの一端とホールド用のコンデンサの接続点は前記増幅
手段のマイナス端子に接続され、前記ホールド用のコン
デンサの他端は増幅手段の出力端子に接続され、 前記疑似サンプルホールド手段は、前記サンプルホール
ド手段に使用される素子と同一の電子スイッチ素子およ
びコンデンサの並列接続回路であり、該並列接続回路の
一端は前記増幅手段のプラス端子に接続され、他端はク
ランプすべき基準電圧に接続されており、 前記増幅手段の出力は抵抗を介して、入力信号を増幅す
るバッファ増幅手段のプラス端子に接続されており、 バッファ増幅手段の出力がサンプルホールド回路に接続
されており、 全体としてクランプ機能を有する積分型のサンプルホー
ルド回路が形成されていることを特徴とする請求項２に
記載のフィードバッククランプ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10004801A JPH11205632A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | サンプルホールド回路及びクランプ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10004801A JPH11205632A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | サンプルホールド回路及びクランプ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11205632A true JPH11205632A (ja) | 1999-07-30 |
Family
ID=11593880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10004801A Pending JPH11205632A (ja) | 1998-01-13 | 1998-01-13 | サンプルホールド回路及びクランプ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11205632A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010034770A (ja) * | 2008-07-28 | 2010-02-12 | Nec Engineering Ltd | ビデオ信号クランプ回路 |
| CN101807922A (zh) * | 2010-03-19 | 2010-08-18 | 北京时代民芯科技有限公司 | 采用补偿方式提高性能的采样保持电路 |
| JP2013038764A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 信号処理装置 |
| CN105814640A (zh) * | 2013-12-16 | 2016-07-27 | 桑德克斯有线有限公司 | 宽温度范围峰值保持电路 |
-
1998
- 1998-01-13 JP JP10004801A patent/JPH11205632A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010034770A (ja) * | 2008-07-28 | 2010-02-12 | Nec Engineering Ltd | ビデオ信号クランプ回路 |
| CN101807922A (zh) * | 2010-03-19 | 2010-08-18 | 北京时代民芯科技有限公司 | 采用补偿方式提高性能的采样保持电路 |
| JP2013038764A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 信号処理装置 |
| US9407217B2 (en) | 2011-06-17 | 2016-08-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Amplifier and signal processing device |
| CN105814640A (zh) * | 2013-12-16 | 2016-07-27 | 桑德克斯有线有限公司 | 宽温度范围峰值保持电路 |
| CN105814640B (zh) * | 2013-12-16 | 2019-12-10 | 桑德克斯有线有限公司 | 宽温度范围峰值保持电路 |
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