JPH1116831A - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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JPH1116831A
JPH1116831A JP13096998A JP13096998A JPH1116831A JP H1116831 A JPH1116831 A JP H1116831A JP 13096998 A JP13096998 A JP 13096998A JP 13096998 A JP13096998 A JP 13096998A JP H1116831 A JPH1116831 A JP H1116831A
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Kiyohisa Tateyama
清久 立山
Yoshihiro Kawaguchi
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の周縁に反りが生起することがあって
も、溶剤を射出するノズル本体の凹部に、基板を容易に
挿入することができる処理装置を提供すること。 【解決手段】 処理剤が塗布された基板Gの周縁部に付
着した処理剤を除去する処理装置であって、基板Gの周
縁部が挿入される凹部91を有し、凹部91に挿入され
た基板周縁部に溶剤を供給するノズル45、46、4
7、48と、ノズル45、46、47、48を基板の周
縁部に沿って移動させる移動機構90、100と、基板
Gの周縁を凹部91の入口に案内するローラ101とを
具備し、基板周縁部に供給された溶剤により基板Gの周
縁部の処理剤が除去される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばLCD基板
や半導体ウェハのような基板の縁部から処理剤を除去す
る処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイ(LCD)や半導体な
どの製造においては、基板であるLCD基板や半導体ウ
ェハの上面にレジスト膜パターンを形成させるために、
いわゆるリソグラフィ処理が行われる。このリソグラフ
ィ処理は、基板の洗浄、基板の乾燥、基板の表面へのレ
ジストの塗布、感光膜の露光、現像など、種々の処理工
程を含んでいる。例えば、基板を洗浄した後、疎水過処
理を施し、さらに冷却した後、フォトレジストとしての
レジストを塗布して基板の表面に感光膜を塗布形成す
る。そして、加熱してベーキング処理を施した後、露光
装置にて感光膜に所定のパターンを露光し、露光後の基
板の表面に現像液を塗布して現像した後にリンス液によ
り現像液を洗い流し、現像処理を完了する。
【0003】以上のようなリソグラフィ処理において、
レジストを塗布する工程は、スピンコーティング法やス
プレー法等が採用されている。これらの方法によってレ
ジストを塗布した場合、塗布直後における膜厚は均一で
あるが、回転が停止して遠心力が働かなくなった後や時
間が経つに従い、表面張力の影響で基板周縁部でレジス
トが盛り上がるように厚くなってしまう。また、回転に
よって振り切ったレジストが基板の裏面に飛散して不要
な箇所にレジストが付着する場合もある。このように基
板の周縁部に形成された不均一な厚い膜や裏面に付着し
たレジストは、その後の基板の搬送過程などにおいて、
パーティクル発生の原因となる。また、基板の搬送する
機器を汚す原因にもなる。
【0004】従来、塗布装置により基板にレジストを塗
布した後、基板を除去装置に移送し、基板の周縁に付着
した不要なレジストを除去している。除去装置には、内
側から溶剤を射出する凹部を有するノズルヘッドが設け
てあり、この凹部に基板の周縁を隙間を介して挿入し、
凹部を基板の周縁に沿って移動しながら、凹部の内側か
ら基板の周縁の上面及び下面に溶剤を射出して不要なレ
ジストを溶解し、吸引除去するようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た基板は、その中央で載置台に真空吸着して保持するよ
うになっているが、基板の周縁は、自由端となっている
ため、熱処理等の後には、周縁に反りが生起し、その結
果、上述した除去装置のノズル本体の凹部の入口に、反
っている基板の周縁が当接して挿入できないといったこ
とがある。
【0006】このような場合、凹部の隙間を拡大して基
板の周縁の挿入を容易にすることも考えられるが、凹部
の隙間が拡大すると、凹部の内側から射出する溶剤がレ
ジストにかかり難くなり、レジスト除去の効率が低下す
るといったことがあるため、凹部の隙間の拡大は好まし
くない。
【0007】また、載置台上での基板の真空吸着を基板
の周縁まで行って基板の反りを矯正することも考えられ
るが、載置台に基板の周縁まで真空吸着してあると、種
々の処理装置に基板を受け渡すためのメインアームに、
載置台上の基板を受け渡す際、メインアームと載置台と
が干渉することがあるため、基板の周縁まで真空吸着す
ることは好ましくない。
【0008】一方、レジストの種類によっては、溶剤を
レジストに供給しただけでは、基板周縁部のレジストを
完全に除去することができない場合があり、このような
場合の対策が求められている。
【0009】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であって、基板の周縁に反りが生起することがあって
も、溶剤を射出するノズル本体の凹部に、基板を容易に
挿入することができる処理装置を提供することを目的と
する。また、基板周縁部のレジストを十分に除去するこ
とができる処理装置を提供することを目的とする。
【00010】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の観点によ
れば、処理剤が塗布された基板の周縁部に付着した処理
剤を除去する処理装置であって、基板の周縁部が挿入さ
れる凹部を有し、凹部に挿入された基板周縁部に溶剤を
供給するノズルと、前記ノズルを基板の周縁部に沿って
移動させる移動機構と、基板の周縁部をノズルの凹部の
入口に案内する案内手段とを具備し、基板周縁部に供給
された溶剤により基板の周縁部の処理剤が除去されるこ
とを特徴とする処理装置が提供される。
【0011】このように、基板の周縁部をノズルの凹部
の入口に案内する案内手段を設けているため、基板の周
縁に反りが生起することがあっても、基板周縁部に溶剤
を供給するノズル手段の凹部に、基板を容易に挿入する
ことができる。
【0012】この場合に、前記案内手段は、凹部の入口
に配置した回転体を有するものとすることができる。処
理剤を塗布した後の基板は、一般的に不要なものに接触
することは好ましくないが、このように案内手段として
回転体、例えばローラを用いることにより、基板への不
要な接触を回避することができる。
【0013】また、前記回転体に溶剤を射出する洗浄用
吹出孔を前記回転体の近傍に配置することができる。こ
れにより、溶解した処理剤がローラに付着することを防
止することができ、基板に悪影響を与えることがない。
【0014】本発明の第2の観点によれば、処理剤が塗
布された基板の周縁部に付着した処理剤を除去する処理
装置であって、基板の周縁部が挿入される凹部を有し、
凹部に挿入された基板周縁部に溶剤を供給するノズル
と、前記ノズルを基板の周縁部に沿って移動させる移動
機構と、前記ノズルの凹部内に設けられ、基板の端面に
当接して、基板端面およびその近傍に付着した処理剤を
こすり取る除去部材とを具備することを特徴とする処理
装置が提供される。
【0015】このように、ノズルの凹部内に、基板の端
面に当接して、基板端面およびその近傍に付着した処理
剤をこすり取る除去部材を設けたので、溶剤を供給して
も基板周縁部に付着している処理剤をも十分に除去する
ことができる。
【0016】この場合に、前記除去部材として、前記基
板端面が当接した際に付勢力を及ぼす板ばねを有するも
のを用いることができ、これにより除去部材が常に基板
の端面を押圧するようにすることができる。したがっ
て、除去部材により基板の周縁部に付着した処理剤を確
実に除去することができる。また、そのばね効果によ
り、基板に対して必要以上の力が働かず、除去部材は、
基板の位置をずらすことなく、基板端部に均一に接触す
ることができる。また、板ばねの面に多数の孔を形成す
ることにより、孔形成部分で効率良く処理剤を除去する
ことができ、かつ、孔を通して溶剤と処理剤を吸引する
ことで、板ばね等に処理剤が堆積することを防止するこ
とができる。さらに前記除去部材として、金属線材の集
合体を用いることにより、線材の凸部により基板周縁部
に付着している処理剤を効率良くこすり取ることができ
る。また、この場合にも基板の周縁部をノズルの凹部の
入口に案内する案内手段を設けることが有効である。
【0017】さらに、上記いずれの処理装置において
も、溶剤供給手段は、前記ノズルに設けられ、溶剤を基
板の上下面に射出する溶剤射出孔を有するものとするこ
とができる。また、溶剤によって溶解した基板の周縁部
近傍の処理剤を吸引する吸引手段を設けるようにするこ
ともできる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明が適用
されるLCD基板の塗布・現像処理システムを示す平面
図である。
【0019】この塗布・現像処理システムは、複数の基
板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーシ
ョン1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連
の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部
2と、露光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡し
を行うためのインターフェース部3とを備えており、処
理部2の両端にそれぞれカセットステーション2および
インターフェース3が配置されている。
【0020】カセットステーション1は、カセットCと
処理部2との間でLCD基板の搬送を行うための搬送機
構10を備えている。そして、カセットステーション1
においてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機
構10はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路
10a上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送
アーム11によりカセットCと処理部2との間で基板G
の搬送が行われる。
【0021】処理部2は、前段部2aと中段部2bと後
段部2cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路1
2、13、14を有し、これら搬送路の両側に各処理ユ
ニットが配設されている。そして、これらの間には中継
部15、16が設けられている。
【0022】前段部2aは、搬送路12に沿って移動可
能な主搬送装置17を備えており、搬送路12の一方側
には、2つの洗浄ユニット(SCR)21a、21bが
配置されており、搬送路12の他方側には紫外線照射・
冷却ユニット(UV/COL)25、それぞれ上下2段
に積層されてなる加熱処理ユニット(HP)26および
冷却ユニット(COL)27が配置されている。
【0023】また、中段部2bは、搬送路13に沿って
移動可能な主搬送装置18を備えており、搬送路13の
一方側には、レジスト塗布処理ユニット(CT)22お
よび基板Gの周縁部のレジストを除去する周縁レジスト
除去ユニット(ER)23が設けられており、搬送路1
3の他方側には、二段積層されてなる加熱処理ユニット
(HP)28、加熱処理ユニットと冷却処理ユニットが
上下に積層されてなる加熱処理・冷却ユニット(HP/
COL)29、およびアドヒージョン処理ユニットと冷
却ユニットとが上下に積層されてなるアドヒージョン処
理・冷却ユニット(AD/COL)30が配置されてい
る。
【0024】さらに、後段部2cは、搬送路14に沿っ
て移動可能な主搬送装置19を備えており、搬送路14
の一方側には、3つの現像処理ユニット24a、24
b、24cが配置されており、搬送路14の他方側には
上下2段に積層されてなる加熱処理ユニット31、およ
び加熱処理ユニットと冷却処理ユニットが上下に積層さ
れてなる2つの加熱処理・冷却ユニット(HP/CO
L)32、33が配置されている。
【0025】なお、処理部2は、搬送路を挟んで一方の
側に洗浄処理ユニット21a、レジスト処理ユニット2
2、現像処理ユニット24aのようなスピナー系ユニッ
トのみを配置しており、他方の側に加熱処理ユニットや
冷却処理ユニット等の熱系処理ユニットのみを配置する
構造となっている。
【0026】また、中継部15、16のスピナー系ユニ
ット配置側の部分には、薬液供給ユニット34が配置さ
れており、さらに主搬送装置の出し入れが可能なスペー
ス35が設けられている。
【0027】上記主搬送装置17,18,19は、それ
ぞれ水平面内の2方向のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、
および垂直方向のZ軸駆動機構を備えており、さらにZ
軸を中心に回転する回転駆動機構を備えている。
【0028】上記主搬送装置17は、搬送機構10のア
ーム11との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、前
段部2aの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬
出、さらには中継部15との間で基板Gの受け渡しを行
う機能を有している。また、主搬送装置18は中継部1
5との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、中段部2
bの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さら
には中継部16との間の基板Gの受け渡しを行う機能を
有している。さらに、主搬送装置19は中継部16との
間で基板Gの受け渡しを行うとともに、後段部2cの各
処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらにはイ
ンターフェース部3との間の基板Gの受け渡しを行う機
能を有している。なお、中継部15、16は冷却プレー
トとしても機能する。
【0029】インターフェース部3は、処理部2との間
で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエク
ステンション36と、さらにその両側に設けられた、バ
ッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ
37と、これらと露光装置(図示せず)との間の基板G
の搬入出を行う搬送機構38とを備えている。搬送機構
38はエクステンション36およびバッファステージ3
7の配列方向に沿って設けられた搬送路38a上を移動
可能な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39によ
り処理部2と露光装置との間で基板Gの搬送が行われ
る。
【0030】このように各処理ユニットを集約して一体
化することにより、省スペース化および処理の効率化を
図ることができる。
【0031】このように構成される塗布・現像処理シス
テムにおいては、カセットC内の基板Gが、処理部2に
搬送され、処理部2では、まず、前段部2aの紫外線照
射・冷却ユニット(UV/COL)25で表面改質・洗
浄処理およびその後の冷却された後、洗浄ユニット(S
CR)21a,21bでスクラバー洗浄が施され、加熱
処理ユニット(HP)26の一つで加熱乾燥された後、
冷却ユニット(COL)27の一つで冷却される。
【0032】その後、基板Gは中段部2bに搬送され、
レジストの定着性を高めるために、ユニット30の上段
のアドヒージョン処理ユニット(AD)にて疎水化処理
(HMDS処理)され、冷却ユニット(COL)で冷却
後、レジスト塗布ユニット(CT)22でレジストが塗
布され、周縁レジスト除去ユニット(ER)23で基板
Gの周縁の余分なレジストが除去される。その後、基板
Gは、中段部2bの中の加熱処理ユニット(HP)の一
つでプリベーク処理され、ユニット29または30の下
段の冷却ユニット(COL)で冷却される。
【0033】その後、基板Gは中継部16から主搬送装
置19にてインターフェース部3を介して露光装置に搬
送されてそこで所定のパターンが露光される。そして、
基板Gは再びインターフェース部3を介して搬入され、
現像処理ユニット(DEV)24a,24b,24cの
いずれかで現像処理され、所定の回路パターンが形成さ
れる。現像処理された基板Gは、後段部2cのいずれか
の加熱処理ユニット(HP)にてポストベーク処理が施
された後、冷却ユニット(COL)にて冷却され、主搬
送装置19,18,17および搬送機構10によってカ
セットステーション1上の所定のカセットに収容され
る。
【0034】次に、周縁レジスト除去ユニット(ER)
23について詳細に説明する。図2、3に示すように、
周縁レジスト除去ユニット(ER)23の中央には、支
柱40の上端にて支持された載置台41が配置されてい
る。載置台41の上面には複数の吸着部材42が装着さ
れており、この吸着部材42で基板Sの下面を吸着する
ことによって、基板Gを載置台41の上面に保持してい
る。
【0035】支柱40の下端は、装置フレーム43に固
定された軸受44を貫通しており、この軸受44内を支
柱40が摺動することにより、載置台41は昇降自在に
支持されている。ただし、支柱40の途中に取り付けら
れているカバー体45には装置フレーム43に固定され
たシリンダ46のピストンロッド47が接続されている
ので、このピストン47の進出退入に従って載置台41
が昇降動作を行うように構成されている。
【0036】周縁レジスト除去ユニット(ER)23へ
の基板Gの搬入時には、図4に示すように、基板Gは主
搬送装置18のアーム18aによって周縁レジスト除去
ユニット(ER)23の内部に搬入される。そして、ピ
ストンロッド47を進出させることによって載置台41
を上昇させ、基板Gを受け取り、吸着部材42で基板G
の下面を吸着する。その後、ピストンロッド47を退入
させることによって載置台41を下降させ、周縁レジス
ト除去ユニット(ER)23内に基板Gを搬入する。
【0037】また逆に、周縁レジスト除去ユニット(E
R)23から基板Gを搬出する場合は、ピストンロッド
47を進出させ、図2において一点鎖線で表した符号4
1’およびG’の位置まで載置台41および基板Gを上
昇させる。このように基板Gを上昇させた後、空のアー
ム18aが周縁レジスト除去ユニット(ER)23の内
部に進入すると、ピストンロッド47の退入により載置
台21が下降し、これによって基板Gがアーム18aに
受け渡される。その後、アーム18aが周縁レジスト除
去ユニット(ER)23内から退出することによって、
基板Gが搬出される。
【0038】載置台41に載置された基板Gの下方に
は、基板Gの周縁のレジストを除去する際に使用した溶
剤やレジストなどが下方に落下したのを受け取るための
ドレインパン50が配置されている。このドレインパン
50の底面49には、ドレインパン50に溜まった溶剤
を排液するためのドレイン管51と周縁レジスト除去ユ
ニット(ER)23内の雰囲気を排気するための排気管
52が接続されている。また、載置台41に載置された
基板Gと排気管52の間に二枚の吸引板60、61が上
下に配置されている。これら吸引板60、61は、何れ
もパンチングメタルで構成されており、多数の通気孔6
2、63がそれぞれ穿設されている。
【0039】図3に示すように、載置台41に載置され
た基板Gの周囲には、長方形をなす基板Gの四辺のそれ
ぞれに沿って移動するノズル65、66、67、68が
配置されている(図2ではノズル65、67のみ図
示)。この実施の形態では、ノズル65、67を基板G
の短辺L1、L3に沿ってそれぞれ移動するように対向し
て配置し、ノズル66、68を基板Gの長辺L2、L4に
沿ってそれぞれ移動するように対向して配置している。
これらノズル65、66、67、68は、L字型をなす
移動部材70、71、72、73の先端にそれぞれ取り
付けられている。
【0040】図示のように、基板Gの周囲を囲むように
してガイドレール75、76、77、78が配置されて
おり、これらガイドレール75、76、77、78は、
装置フレーム43に固定された支持部材80、81、8
2、83、84、85、86、87によってそれぞれ支
持されている。そして、移動部材70、71、72、7
3の基端側をこれらガイドレール75、76、77、7
8のそれぞれにスライド自在に装着することにより、ノ
ズル65、66、67、68が基板Gの四辺L1、L2、
L3、L4のそれぞれに沿って移動できるように構成され
ている。
【0041】次に、図2、3および図5に基づいて、基
板Gの短辺L1、L3に沿って移動するノズル45、47
について説明する。支持部材81の外側にモータ90が
取り付けてあり、その駆動軸91が支持部材81と対向
して配置されている支持部材84にまで延長されてい
る。また、この駆動軸91には、支持部材81の内側近
傍に駆動プーリ92が取り付けられており、支持部材8
4の内側近傍に駆動プーリ93が取り付けられている。
一方、支持部材80の内側近傍には従動プーリ94が取
り付けられており、同様に支持部材85の内側近傍にも
従動プーリ95が取り付けられている。そして、駆動プ
ーリ92と従動プーリ94には無端ベルト96が巻回さ
れており、駆動プーリ93と従動プーリ95には無端ベ
ルト97が巻回されている。したがって、モータ90の
稼働によってこれら二本の無端ベルト96、97が同じ
方向に周動される。
【0042】また、ノズル65を支持している移動部材
70がブラケット98を介して無端ベルト96の上側に
接続されており、ノズル67を支持している移動部材7
2がブラケット99を介して無端ベルト97の下側に接
続されている。このように、一方の移動部材70の無端
ベルト96の上側に連動させ、他方の移動部材72を無
端ベルト97の下側に連動させることによって、モータ
90の稼働でノズル65、66を互いに反対の方向に平
行移動させるように構成している。すなわち、図5にお
いて、モータ90の稼働によって駆動軸91を例えば時
計回転方向aに回転駆動した場合は、ノズル65は基板
Gの左方の短辺L1に沿って奥側に移動し、ノズル67
が基板Gの右方の短辺L3に沿って手前側に移動する。
また、図5において、モータ90の稼働によって駆動軸
91を例えば反時計回転方向bに回転駆動した場合は、
ノズル65は基板Gの左方の短辺L1に沿って手前側に
移動し、ノズル67が基板Gの右方の短辺L3に沿って
奥側に移動する。
【0043】以上は基板Sの短辺L1、L3に沿って移動
するノズル65、67について説明したが、ノズル6
6、68も、ノズル65、67と全く同様の構成によっ
て、基板Gの長辺L2、L4に沿って移動するようになっ
ている。すなわち、図3に示すように、支持部材87の
外側にモータ100が取り付けてあり、その駆動軸10
1が支持部材87と対向して配置されている支持部材8
2にまで延長されている。また、この駆動軸101に
は、支持部材87の内側近傍に駆動プーリ102が取り
付けており、支持部材82の内側近傍に駆動プーリ10
3が取り付けている。一方、支持部材86の内側近傍に
は従動プーリ104が取り付けており、同様に支持部材
83の内側近傍にも従動プーリ105が取り付けられて
いる。そして、駆動プーリ102と従動プーリ104に
は無端ベルト106が巻回してあり、駆動プーリ103
と従動プーリ105には無端ベルト107が巻回してあ
る。そして、先に説明したノズル65、67と全く同様
にして、これらノズル66、68は、モータ100の稼
働により、基板Gの長辺L2、L4に沿って互いに反対の
方向に平行移動するように構成されている。
【0044】なお、前述したように載置台41の昇降に
よって周縁レジスト除去ユニット23内に基板Gを搬入
する際や周縁レジスト除去ユニット23内から基板Gを
搬出する際には、図3に示すように、ノズル65、6
6、67、68は基板Gの周囲から離れた位置に退避し
ているので、基板Gの搬入・搬出がノズル65、66、
67、68の存在によって妨げられる心配がない。
【0045】次に、図6ないし図9を参照してノズル6
5、66、67、68の構造について説明する。ただ
し、これらは何れも同様の構成を備えているため、代表
して基板Gの短辺L1に沿って移動するノズル65につ
いて説明する。
【0046】図6に示すように、ノズル65は本体11
0を有しており、その側面に凹部111が形成されてい
る。そして、載置台41に吸着保持された基板Gの周縁
部がが非接触状態で凹部111に挿入されるようになっ
ている。すなわち、基板Gの周縁部の上下両面をノズル
本体110で覆うような状態となる。また、ノズル本体
110には凹部111に挿入された基板Gの周縁上面に
向かってレジストの溶剤を吹き付けるための上吹出孔1
12と、基板Gの周縁下面に向かってレジストの溶剤を
吹き付けるための下吹出孔113、114が夫々設けら
れている。さらに、ノズル本体110のほぼ中央には、
凹部111内における基板Gの周縁近傍部分の気体成分
および溶剤に溶解した状態のレジスト等を外側に吸引し
て排出するための吸引孔118が設けられている。
【0047】図7に示すように、凹部111の上面に
は、全部で4カ所の上吹出孔112が設けられており、
これら上吹出孔112は、基板Gの周縁近傍に沿って短
辺L1と平行となっている。これら上吹出孔112に
は、ノズル本体110の内部上方を通る通液孔115を
介して溶剤が供給され、その溶剤が上吹出孔112から
下方に噴出して基板Gの周縁上面に吹き付けられるよう
になっている。
【0048】また、図8に示すように、凹部111の下
面には、二カ所の下吹出孔113と四カ所の下吹出孔1
14とが設けられている。下吹出孔113は、基板Gの
周縁近傍に沿って短辺L1と平行に配置されている一
方、下吹出孔114は、基板Gの周縁近傍から基板Gの
内方に向かうように短辺L1と直交されている。これら
下吹出孔113、114には、ノズル本体110の内部
下方を通る通液孔116、117を介して夫々溶剤が供
給され、その溶剤が下吹出孔113、114から上方に
噴出して基板Gの周縁下面に吹き付けられるようになっ
ている。
【0049】本実施の形態では、図6ないし図9に示す
ように、凹部111の入口の上下のコーナー部に、4カ
所の凹陥部120が形成されており、これらの凹陥部1
20の夫々に、4個のローラ121が回転自在に設けら
れている。これらのローラ121は、基板Gの周縁に反
りが生起されているような場合であっても、基板G周縁
が凹部111の入口にさしかかった時、基板Gの周縁を
凹部111に案内し、基板Gの凹部111への挿入を容
易にする機能を有している。なお、ローラ121の周縁
の先端は、基板Gへの接触面積をできるだけ小さくする
ように、鋭利に形成する方が好ましい。これは、レジス
トを塗布した後の基板Gは、一般的に不要なものに接触
することは好ましくなく、基板Gへの不必要な接触をで
きるだけ回避するためである。
【0050】また、ローラ121の近傍には、ローラ1
21に溶剤を噴出してローラ121を洗浄するためのロ
ーラ洗浄用吹出孔122、123が設けられている。こ
のようにローラ121を洗浄することにより、溶解した
レジストがローラ121に付着することを防止すること
ができ、基板Gに影響を与えることがない。ノズル本体
110の上側では、このローラ洗浄用吹出孔122は、
図7に示すように、溶剤を供給するための通液孔115
から分岐しており、ノズル本体110の下側では、ロー
ラ洗浄用吹出孔123は、図8に示すように、通液孔1
16、117から夫々分岐している。これらローラ洗浄
用吹出孔122、123は、レジストを溶解するための
上下吹出孔112、113、114よりも、基板Gの短
辺L1の近くに配置してある方が好ましい。これによ
り、ローラ121を洗浄した溶剤が基板Gに影響を与え
ることを防止できる。
【0051】次に、このような周縁レジスト除去ユニッ
ト(ER)23における処理工程について説明する。上
述したようにレジスト塗布処理ユニット(CT)22に
てレジストが塗布された基板Gは、周縁レジスト除去ユ
ニット(ER)23に搬入される。この搬入に際して
は、図3に示したように、ノズル65、66、67、6
8は何れも基板Sの周囲から離れた位置に退避した状態
になっている。図4に示すように、主搬送装置18のア
ーム18aによって周縁レジスト除去ユニット(ER)
23内に搬入された基板Gを、まず上述した手順で載置
台41上面に受け取る。この受け取り後、空のアーム1
8aが周縁レジスト除去ユニット23外に退出すると、
載置台41が下降され、周縁レジスト除去ユニット23
内に基板Gが搬入される。
【0052】次いで、モータ90、100の稼働によっ
て各ノズル65、66、67、68が基板Gの四辺L
1、L2、L3、L4の夫々に沿って移動を開始する。この
際、本実施の形態では、図6ないし図9に示すように、
ノズル本体110の凹部111の入口における上下のコ
ーナー部の夫々に、4個のローラ121が回転自在に設
けられているため、基板Gの周縁に反りが生起されてい
るような場合であっても、基板G周縁が凹部111の入
口にさしかかった時、これらローラ121が基板Gの周
縁部を凹部111に案内するため、基板Gの周縁を凹部
111に容易に挿入することができる。例えば、550
×650mmの基板では幅が5mm程度の反りが生じる
場合があるが、凹部111の間口は3.5〜4.5mm
程度であるから、ローラ121がない場合には基板Gの
周縁部が凹部111に挿入されない場合が生じるが、ロ
ーラ121を設けることにより、基板Gの周縁部が間口
から外れてもローラ121によって凹部111に案内さ
れる。
【0053】基板Gの周縁が各ノズル65、66、6
7、68の凹部111に非接触の状態で挿入された状態
となると、上下吹出孔112、113、114およびロ
ーラ洗浄用吹出孔122、123から溶剤を吹出し、吸
引孔118から吸引排気する。これにより、基板Gの周
縁に付着している不要なレジストを溶剤を用いて溶解
し、除去することができる。
【0054】このようにして基板Gに付着している不要
なレジストが除去された後、載置台41が上昇され、主
搬送装置18のアーム18aが基板Gを受け取ることに
より、周縁レジスト除去ユニット23から基板Gが搬出
される。なお、この搬出の際には、図3に示したよう
に、ノズル65、66、67、68は何れも基板Gの周
囲から離れた位置に退避した状態になっている。
【0055】このように、周縁レジスト除去ユニット2
3での処理が終了した後、上述したように、露光装置
(図示せず)で基板Gのレジスト膜が露光処理され、そ
の後現像処理ユニット(DEV)24a,24b,24
cのいずれかで現像処理される。
【0056】次に、本発明の他の実施の形態について説
明する。ここでは、ノズル65、66、67、68に基
板Gの周縁に付着したレジストをこすり取る除去部材が
設けられている点が異なるのみが従前の実施の形態とは
異なっている。すなわち、凹部91の上面を示す横断面
図である図10に示すように、基板Gの端面に当接する
板ばねからなる除去部材130がノズル本体90に固定
されており、これにより溶剤を供給してもなお基板Gの
周縁部に付着しているレジストをこすり取ることができ
る。この除去部材130は、基板G側に突出した弓状を
なし、基板Gの端面に付勢力を及ぼすようになってお
り、これにより除去部材130が常に基板Gの端部を押
圧するようにすることができ、したがって、除去部材1
30により基板Gの周縁部に付着したレジストを確実に
除去することができる。また、そのばね効果により、基
板に対して必要以上の力が働かず、除去部材は130、
位置決め保持されている基板Gの位置をずらすことな
く、基板端部に均一に接触することができる。
【0057】また、板ばねからなる除去部材130は単
なる板材であってもよいが、その面に多数の孔が形成さ
れたものが好ましい。例えば、図11の(a)に示すよ
うな多数の円形の孔131を有するもの、図11の
(b)のように多数の細長い孔131’を有するもので
あってもよいし、図11の(c)のようにメッシュ構造
の除去部材130’であってもよい。このような構造に
することにより、孔形成部分で効率良くレジストを除去
することができ、かつ、孔を通して溶剤とレジストを吸
引することで、板ばね等にレジストが堆積することを防
止することができる。
【0058】さらに、図12に示すように、金属線材の
集合体を用いた除去部材132を設けることもできる。
この場合には、金属線材の集合体が金たわし状となり、
線材の凸部により基板Gの周縁部に付着しているレジス
ト液を効率よくこすり取ることができる。
【0059】さらにまた、図13に示すように、板ばね
からなる除去部材133を、その長手方向が基板Gの端
面に対して垂直になるように支持部材134で固定し、
除去部材133の端部で基板Gの周縁部に付着している
レジストを除去するようにしてもよい。この場合には、
矢印方向に沿った基板Gの移動に際して、除去部材13
3はそのばね効果により、図示するように変形するの
で、基板に対して必要以上の力が働かず、除去部材13
3は位置決め保持されている基板Gの位置をずらすこと
なく、基板端部に均一に接触することができる。
【0060】なお、本発明は、上述した実施の形態に限
定されず、本発明の範囲を逸脱しない範囲において種々
変形可能である。例えば、図14に示すように、レジス
ト塗布ユニット(CT)22’と周縁レジスト除去ユニ
ット(ER)23’とを同一ユニット200内に隣接さ
せて配置し、これらレジスト塗布ユニット22’と周縁
レジスト除去ユニット23’との間で基板Gを搬送する
ようにしてもよい。ここで示したレジスト塗布ユニット
22’は、カップ142内にてスピンチャック143に
よって吸着保持した基板Gの中央上方にレジストノズル
144を移動させてレジストを供給し、基板Gを回転さ
せることによってその遠心力でレジストを基板Gの表面
全体にレジストを塗布する。塗布が終了した基板Gはア
ーム141により挟持され、アーム141をレール14
5に沿って移動させることにより、基板Gが周縁レジス
ト除去ユニット23’に搬送される。そして、この周縁
レジスト除去ユニット23’により上記周縁レジスト除
去ユニット23と同様にして基板Gの周縁部のレジスト
が除去される。
【0061】このようにレジスト塗布ユニット22’と
周縁レジスト除去ユニット23’を隣接させて同一ユニ
ット200内に配置し、その中の搬送アーム141によ
り両者間で基板Gを搬送するように構成することによ
り、主搬送機構18の搬送動作を簡略化することがで
き、スループットの向上を図ることができる。
【0062】また、案内手段としてローラを用いた例を
示したが、これに限定されるものではなく、球等の他の
回転体も好適に用いることができるし、また回転体に限
定されるものでもない。さらに、除去部材としては基板
の端面に当接してレジスト等の処理剤をこすり取ること
ができるものであればよく、その構造および配置は限定
されない。さらにまた、上記実施の形態では基板周縁部
に付着したレジストを除去する場合について示したが、
レジストに限らず、他の処理剤を除去する場合にも適用
することができる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板の周縁部をノズルの凹部の入口に案内する案内手段
を設けているため、基板の周縁に反りが生起することが
あっても、基板周縁部に溶剤を供給するノズル手段の凹
部に、基板を容易に挿入することができる。
【0064】また、ノズルの凹部内に、基板の端面に当
接して、基板端面およびその近傍に付着した処理剤をこ
すり取る除去部材を設けたので、溶剤を供給しても基板
周縁部に付着している処理剤をも十分に除去することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の処理装置が適用されるレジスト塗布・
現像処理システムの平面図。
【図2】本発明の処理装置の一実施形態に係る周縁レジ
スト除去ユニットを示す正面図。
【図3】図2の周縁レジスト除去ユニットの平面図。
【図4】周縁レジスト除去ユニットにおける基板の搬入
・搬出を説明する斜視図。
【図5】周縁レジスト除去ユニットにおけるノズルの移
動機構の斜視図。
【図6】周縁レジスト除去ユニットにおけるノズルの縦
断面図。
【図7】周縁レジスト除去ユニットにおけるノズルに形
成された凹部の上面を示すノズルの横断面図。
【図8】周縁レジスト除去ユニットにおけるノズルに形
成された凹部の凹部の下面を示すノズルの横断面図。
【図9】周縁レジスト除去ユニットにおけるノズルノズ
ルを基板側から視た縦断面図。
【図10】本発明の処理装置の他の実施形態に係る周縁
レジスト除去ユニットにおけるノズルに形成された凹部
の上面を示すノズルの横断面図。
【図11】図10のノズルに用いられる除去部材を示す
模式図。
【図12】他の除去部材を用いた周縁レジスト除去ユニ
ットにおけるノズルに形成された凹部の上面を示すノズ
ルの横断面図。
【図13】さらに他の除去部材を用いた周縁レジスト除
去ユニットにおけるノズルに形成された凹部の上面を示
すノズルの横断面図。
【図14】レジスト塗布ユニットと周縁レジスト除去ユ
ニットとを一体化したユニットを示す平面図。
【符号の説明】
23 周縁レジスト除去ユニット 41 載置台 65、66、67、68 ノズル 90、100 モータ(移動機構) 110 ノズル本体 111 凹部 121 ローラ(案内手段) 122、123 ローラ洗浄用吹出孔 130、130’、132、133 除去部材

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理剤が塗布された基板の周縁部に付着
    した処理剤を除去する処理装置であって、 基板の周縁部が挿入される凹部を有し、凹部に挿入され
    た基板周縁部に溶剤を供給するノズルと、 前記ノズルを基板の周縁部に沿って移動させる移動機構
    と、 基板の周縁部をノズルの凹部の入口に案内する案内手段
    とを具備し、基板周縁部に供給された溶剤により基板の
    周縁部の処理剤が除去されることを特徴とする処理装
    置。
  2. 【請求項2】 前記案内手段は、凹部の入口に配置した
    回転体を有することを特徴とする請求項1に記載の処理
    装置。
  3. 【請求項3】 前記回転体の近傍に設けられ、前記回転
    体に溶剤を供給して洗浄する洗浄手段を有することを特
    徴とする請求項2に記載の処理装置。
  4. 【請求項4】 前記回転体はローラであることを特徴と
    する請求項2または請求項3に記載の処理装置。
  5. 【請求項5】 処理剤が塗布された基板の周縁部に付着
    した処理剤を除去する処理装置であって、 基板の周縁部が挿入される凹部を有し、凹部に挿入され
    た基板周縁部に溶剤を供給するノズルと、 前記ノズルを基板の周縁部に沿って移動させる移動機構
    と、 前記ノズルの凹部内に設けられ、基板の端面に当接し
    て、基板端面およびその近傍に付着した処理剤をこすり
    取る除去部材とを具備することを特徴とする処理装置。
  6. 【請求項6】 前記除去部材は、前記基板端面が当接し
    た際に付勢力を及ぼす板ばねを有していることを特徴と
    する請求項5に記載の処理装置。
  7. 【請求項7】 前記板ばねは、その面に多数の孔が形成
    されていることを特徴とする請求項6に記載の処理装
    置。
  8. 【請求項8】 前記除去部材は、金属線材の集合体であ
    ることを特徴とする請求項5に記載の処理装置。
  9. 【請求項9】 さらに、基板の周縁部をノズルの凹部の
    入口に案内する案内手段を具備することを特徴とする請
    求項5ないし請求項8のいずれか1項に記載の処理装
    置。
  10. 【請求項10】 前記ノズルは、溶剤を基板の上下面に
    射出する溶剤射出孔を有していることを特徴とする請求
    項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の処理装置。
  11. 【請求項11】 さらに、溶剤によって溶解した基板の
    周縁部近傍の処理剤を吸引する吸引手段を有することを
    特徴とする請求項1ないし請求項10のいずれか1項に
    記載の処理装置。
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