JPH11163713A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH11163713A
JPH11163713A JP9339432A JP33943297A JPH11163713A JP H11163713 A JPH11163713 A JP H11163713A JP 9339432 A JP9339432 A JP 9339432A JP 33943297 A JP33943297 A JP 33943297A JP H11163713 A JPH11163713 A JP H11163713A
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JP
Japan
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output
circuit
channel
mosfet
semiconductor integrated
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JP9339432A
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English (en)
Inventor
Yasutoshi Aihara
康敏 相原
Akio Koyama
明夫 小山
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低消費電力でレベル変換と負荷駆動能力の向
上を実現した出力回路を備えた半導体集積回路装置を提
供する。 【解決手段】 比較的低い電圧で動作する内部回路で形
成された低振幅信号を受けて比較的高い電圧に対応した
出力信号を形成する出力回路として、上記比較的高い電
圧と回路の接地電位間に設けられたPチャンネル型出力
MOSFET及びNチャンネル型出力MOSFETと、
上記内部回路で形成された低振幅信号を受け、上記比較
的高い電圧で動作しPチャンネル型MOSFETのコン
ダクタンスをNチャンネル型MOSFETに比べて小さ
く形成してなる第1のCMOS駆動回路により上記Pチ
ャンネル型出力MOSFETを駆動し、上記内部回路で
形成された低振幅の信号を受け、上記比較的低い電圧で
動作する第2のCMOS駆動回路により上記Nチャンネ
ル型出力MOSFETを駆動する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体集積回路
装置に関し、比較的高い電圧に対応して信号レベルが入
出力され、比較的低い電圧により内部回路が動作する特
定用途向のCMOS半導体集積回路装置における出力部
のレベル変換技術に利用して有効な技術に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】CMOSゲートアレイ等の特定用途向の
半導体集積回路装置では、単一の電源電圧で動作させる
のが一般的である。しかしながら、素子の微細化や低消
費電力化のために内部の論理部では、例えば2V程度の
低電圧で動作させ、入出力部は従来回路との整合性を確
保するために例えば3.3Vのような高い電圧で動作さ
せることが検討されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように内部回路
を低電圧で動作させ、出力回路では上記高電圧に対応し
た出力信号を形成するようにした場合、上記内部信号で
出力回路を駆動することが必要となり、上記低振幅の信
号で上記高電圧で動作する出力回路を駆動すると、ロウ
レベルの出力動作のときにPチャンネル型MOSFET
が完全にオフ状態に成りえないために出力回路に大きな
貫通電流を流してしまう。このため、上記低振幅信号を
レベル変換して上記出力回路を駆動することが必要にな
った。
【0004】この発明の目的は、低消費電力でレベル変
換と負荷駆動能力の向上を実現した出力回路を備えた半
導体集積回路装置を提供することにある。この発明の前
記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の
記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、比較的低い電圧で動作する
内部回路で形成された低振幅信号を受けて比較的高い電
圧に対応した出力信号を形成する出力回路として、上記
比較的高い電圧と回路の接地電位間に設けられたPチャ
ンネル型出力MOSFET及びNチャンネル型出力MO
SFETと、上記内部回路で形成された低振幅信号を受
け、上記比較的高い電圧で動作しPチャンネル型MOS
FETのコンダクタンスをNチャンネル型MOSFET
に比べて小さく形成してなる第1のCMOS駆動回路に
より上記Pチャンネル型出力MOSFETを駆動し、上
記内部回路で形成された低振幅の信号を受け、上記比較
的低い電圧で動作する第2のCMOS駆動回路により上
記Nチャンネル型出力MOSFETを駆動する。
【0006】
【発明の実施の形態】図1には、この発明に係る出力回
路の一実施例の回路図が示されている。同図の各回路素
子は、図示しない内部回路や入力回路等を構成する他の
回路素子とともに公知のCMOS集積回路の製造技術に
よって、単結晶シリコンのような1個の半導体基板上に
形成される。同図において、Pチャンネル型MOSFE
Tは、そのゲート部分に○印を付することより、Nチャ
ンネル型MOSFETと区別される。また、MOSFE
Tは絶縁ゲート型電界効果トランジスタという意味であ
る。
【0007】この実施例の半導体集積回路装置は、2つ
の電源電圧VDHとVDLとを持つ。電源電圧VDH
は、特に制限されないが、3.3Vのような比較的高い
電圧とされる。電源電圧VDLは、特に制限されない
が、1.8Vのような比較的低い電圧にされる。上記電
源電圧VDLは、図示しない内部回路を構成する論理ゲ
ート回路等の動作電圧とされる。それ故、この発明に係
る出力回路の入力に供給される入力信号Vinは、上記内
部回路で形成され、その信号振幅は0V−VDLのよう
な低い信号振幅とされる。
【0008】この実施例の出力回路は、上記電源電圧V
DLに対応した低信号振幅の信号を受けて、上記電源電
圧VDHに対応した比較的大きな信号振幅にレベル変換
を行うレベル変換機能と、比較的大きな容量負荷CLを
高速駆動できるような出力信号Vout を形成する駆動機
能とを合わせ持つようにされる。上記負荷容量CLは、
上記出力端子の寄生容量の他、上記信号Vout が伝えら
れる配線及び半導体集積回路装置の入力回路の入力容量
を合わせたものである。
【0009】上記電源電圧VDHと回路の接地電位(0
V)との間には、上記比較的大きな容量性負荷CLを高
速に充放電できるような比較的大きなサイズに形成され
たPチャンネル型出力MOSFET(PMOS3)とN
チャンネル型出力MOSFET(NMOS3)とが設け
られる。上記Pチャンネル型出力MOSFET(PMO
S3)は、そのソースが上記3.3Vのような高い電源
電圧VDHに接続される。したがって、そのゲートに上
記1.8Vのような低い電源電圧VDLに対応したハイ
レベルを供給しても、ソースとゲート間に1.5Vのよ
うな大きな電圧が印加されるため、上記大きな駆動能力
を得るために大きなサイズにすると、上記VDLに対応
したハイレベルでオン状態にされるNチャンネル型出力
MOSFET(NMOS3)を通して大きな貫通電流が
流れるとともに、十分なロウレベルを得ることができな
くなってしまう。
【0010】上記のような貫通電流を低減させ、かつ十
分なロウレベルを得るためには上記Pチャンネル型出力
MOSFET(PMOS3)のサイズを小さく形成すれ
ばよい。しかし、このようにすると、入力信号がロウレ
ベルのときにPチャンネル型出力MOSFET(PMO
S3)がオン状態になって、上記負荷容量CLをチャー
ジアップするときの充電電流が小さくなり、負荷容量C
Lを電源電圧VDHにチャージアップするまでの時間が
長くなってしまう。つまり、動作速度が遅くなってしま
うという問題が生じる。
【0011】この実施例では、上記Pチャンネル型出力
MOSFET(PMOS3)を駆動する駆動回路とし
て、上記高い電源電圧VDHで動作させるPチャンネル
型MOSFET(PMOS1)とNチャンネル型MOS
FET(NMOS1)からなるCMOSインバータ回路
INV1を用いるようにするものである。この場合、こ
のインバータ回路INV1にてレベル変換し、上記Pチ
ャンネル型出力MOSFET(PMOS3)のゲートに
は、上記電源電圧VDHと0Vのようなレベル変換され
た駆動信号を供給することによって、上記出力MOSF
ETでの貫通電流を防止しつつ、上記大きな負荷容量C
Lを高速にチャージアップとディスチャージをさせるも
のである。
【0012】上記駆動回路としてのCMOSインバータ
回路INV1は、上記のように高電源電圧VDHで動作
し、しかもその入力端子には、上記低電源電圧VDLで
形成された低振幅信号Vinが供給されるものである。し
たがって、このインバータ回路INV1において入力信
号VinがVDLのようなハイレベルのとき、前記同様な
直流電流が発生してしまう。しかしながら、この駆動回
路INV1が駆動する負荷は、上記Pチャンネル型出力
MOSFET(PMOS3)のみであり、そのゲート容
量等のように負荷容量CLに比べてはるかに小さな容量
をチャージアップ及びディスチャージさせればよい。こ
のため、Pチャンネル型MOSFET(PMOS1)と
Nチャンネル型MOSFET(NMOS1)は、そもそ
もが比較的小さなサイズで形成される。
【0013】入力信号Vinがハイレベル(VDL)とき
には、Pチャンネル型出力MOSFET(PMOS3)
を駆動できる程度のロウレベルであればよく、Nチャン
ネル型出力MOSFET(NMOS3)をオフ状態にさ
せるよう、そのしきい値電圧以下にまで低くする必要は
ない。このため、上記入力信号Vinがハイレベル(VD
L)ときには、Pチャンネル型MOSFET(PMOS
1)とNチャンネル型MOSFET(NMOS1)に流
れる直流電流が半導体集積回路装置の消費電流に対して
無視できる程度に小さく、かつ、上記Pチャンネル型出
力MOSFET(PMOS3)をオン状態にし、上記負
荷容量CLを高速に充電できる程度にすればよい。この
ため、Pチャンネル型MOSFET(PMOS1)のサ
イズ(チャンネル幅)をWp1をNチャンネル型MOS
FETのサイズ(チャンネル幅)Wn1に対して小さく
形成される。
【0014】上記駆動回路INV1において、必要なロ
ウレベルの出力信号を得るとともに、そのときの直流電
流を小さくするために、上記のようにPチャンネル型M
OSFET(PMOS1)のサイズを小さくするととも
に、そのしきい値電圧を他の駆動回路INV2や出力回
路INV3のPチャンネル型MOSFET(PMOS
2)や(PMOS3)より大きく形成することが有効で
ある。上記しきい値電圧を大きく形成する方法として、
例えばPチャンネル型MOSFET(PMOS1)のチ
ャンネル部分にN型の不純物をイオン打ち込み技術を利
用して選択的に導入するもの、あるいはゲート絶縁膜を
2回積み重ねて形成してゲート絶縁膜の膜圧を厚く形成
してしきい値電圧を高くするようにするものであっても
よい。
【0015】Nチャンネル型出力MOSFET(NMO
S3)は、上記低電源電圧VDLで動作するPチャンネ
ル型MOSFET(PMOS2)とNチャンネル型MO
SFET(NMOS2)からなるCMOSインバータ回
路INV2からなる駆動回路で駆動される。これによ
り、Nチャンネル型出力MOSFET(NMOS3)
は、そのゲート電圧がVDLのようなハイレベルのとき
にオン状態にされ、ゲート電圧が0Vのときにオフ状態
にされる。
【0016】図2には、上記図1の出力回路の動作を説
明するための波形図が示されている。入力信号Vinが回
路の接地電位のような0Vのとき、上記高電源電圧VD
Hで動作するインバータ回路INV1は、上記入力信号
Vinのロウレベルに対応してPチャンネル型MOSFE
T(PMOS1)がオン状態に、Nチャンネル型MOS
FET(NMOS1)がオフ状態にされるため、Pチャ
ンネル型出力MOSFET(PMOS3)のゲート電圧
n2Aを上記高電源電圧VDHに対応したハイレベルに
する。他方、上記低電源電圧VDLで動作するインバー
タ回路INV2は、上記入力信号Vinのロウレベルに対
応してPチャンネル型MOSFET(PMOS2)がオ
ン状態に、Nチャンネル型MOSFET(NMOS2)
がオフ状態にされるため、Nチャンネル型出力MOSF
ET(NMOS3)のゲート電圧n2Bを上記低電源電
圧VDLに対応したハイレベルにする。
【0017】この結果、上記Pチャンネル型出力MOS
FET(PMOS3)はオフ状態にされ、Nチャンネル
型出力MOSFET(MNOS3)はオン状態にされ
て、出力信号Vout を回路の接地電位のような0Vにす
る。この状態では、上記出力MOSFET(PMOS
3)と(NMOS3)と、それを駆動するインバータ回
路INV1及びINV2において電源電圧VDHと接地
電位0V及び電源電圧VDLと接地電位0Vの間での貫
通電流を生じない。
【0018】入力信号Vinが回路の接地電位のような0
Vから低電源電圧VDLのようなハイレベルに変化する
と、上記高電源電圧VDHで動作するインバータ回路I
NV1では、上記入力信号Vinのハイレベルに対応して
前記のように小さなサイズにされること、及びそれに加
えてしきい値電圧が高くされることからPチャンネル型
MOSFET(PMOS1)とNチャンネル型MOSF
ET(NMOS1)とのコンダクタンス比に対応してP
チャンネル型出力MOSFET(PMOS3)のゲート
電圧n2Aを接地電位0Vに近いロウレベルににする。
他方、上記低電源電圧VDLで動作するインバータ回路
INV2は、上記入力信号Vinのハイレベルに対応して
Pチャンネル型MOSFET(PMOS2)がオフ状態
に、Nチャンネル型MOSFET(NMOS2)がオン
状態にされるため、Nチャンネル型出力MOSFET
(NMOS3)のゲート電圧n2Bを回路の接地電位0
Vのようなロウレベルににする。
【0019】この結果、上記Pチャンネル型出力MOS
FET(PMOS3)はオン状態にされ、Nチャンネル
型出力MOSFET(MNOS3)はオフ状態にされ
て、出力信号Vout を高電源電圧VDHのようなハイレ
ベルにする。この状態では、上記出力MOSFET(P
MOS3)と(NMOS3)と、それを駆動する一方の
インバータ回路INV2において電源電圧VDHと接地
電位0V及び電源電圧VDLと接地電位0Vの間での貫
通電流を生じない。上記他方のインバータ回路INV1
では、上記Pチャンネル型MOSFET(PMOS1)
もオン状態にされているためMOSFET(PMOS
1)と(NMOS1)との間で直流電流が流れる。しか
し、上記のようにPチャンネル型MOSFET(PMO
S1)のサイズ(Wp1)が小さく形成されているの
で、そこに流れる電流は小さくなるように設計されてお
り、上記Pチャンネル型出力MOSFET(PMOS
3)を駆動できるのに十分なロウレベルの出力信号を形
成することができる。
【0020】図3には、この発明に係る出力回路の他の
一実施例の回路図が示されている。この実施例では、出
力ハイインピーダンス状態を含む3状態出力機能を持た
せるようにするものである。つまり、出力回路の出力端
子が接続される外部端子を入出力端子I/Oとして用い
るようにするものである。
【0021】上記のような出力ハイインピーダンス状態
を形成するために、上記駆動回路は単なるインバータ回
路INV1,INV2に代えて論理ゲート回路G1とG
2を用いるようにする。特に制限されないが、Pチャン
ネル型出力MOSFET(PMOS3)を駆動するゲー
ト回路G1は、ハイレベルを論理1とした場合の正論理
を採るときにナンド(NAND)ゲート回路とされる。
つまり、Pチャンネル型MOSFET(PMOS1とP
MOS1’)を並列接続し、Nチャンネル型MOSFE
T(NMOS1とNMOS1’)を直列接続し、MOS
FET(PNMOS1)と(NMOS1)のゲートには
前記同様に入力信号Vinを供給する。他方のMOSFE
T(PMOS1’)と(NMOS1’)のゲートには非
反転の出力制御信号DOCを供給する。
【0022】上記Nチャンネル型出力MOSFET(N
MOS3)を駆動するゲート回路G2は、上記同様な正
論理を採るときにノア(NOR)ゲート回路とされる。
つまり、Pチャンネル型MOSFET(PMOS2とP
MOS2’)を直列接続し、Nチャンネル型MOSFE
T(NMOS2とNMOS2’)を並列接続し、MOS
FET(PNMOS2)と(NMOS2)のゲートには
前記同様に入力信号Vinを供給する。他方のMOSFE
T(PMOS2’)と(NMOS2’)のゲートには反
転の出力制御信号/DOCを供給する。
【0023】上記Pチャンネル型出力MOSFET(P
MOS3)を駆動するゲート回路G1は、前記同様に高
電源電圧VDHで動作させ、上記Nチャンネル型出力M
OSFET(NMOS3)を駆動するゲート回路G2
は、前記同様に低電源電圧VDLで動作させる。上記出
力MOSFET(PMOS3)と(NMOS3)の共通
接続されたドレインから得られる出力信号Vout は、外
部端子I/Oを通して出力される。この外部端子I/O
は、上記出力回路が出力ハイインピーダンス状態にされ
たときに入力される入力信号を取り込む入力バッファD
IBの入力端子に接続される。特に制限されないが、こ
の入力バッファDIBは、低電源電圧VDLで動作させ
られることによって、上記高電圧VDHに対応した信号
振幅を低電源電圧VDLに対応した低振幅信号にレベル
変換する機能も併せ持つようにされる。
【0024】上記出力回路は、上記非反転の出力制御信
号DOCがロウレベルの非活性レベルにされると、上記
ゲート回路G1のNチャンネル型MOSFET(NMO
S1’)がオフ状態に、Pチャンネル型MOSFET
(PMOS1’)がオン状態になりPチャンネル型出力
MOSFET(PMOS3)のゲート電圧n2Aを高電
源電圧VDHに対応したハイレベルにする。この結果、
Pチャンネル型出力MOSFET(PMOS3)はオフ
状態にされる。上記反転の出力制御信号/DOCがハイ
レベルの非活性レベルにされると、上記ゲート回路G2
のNチャンネル型MOSFET(NMOS2’)がオン
状態に、Pチャンネル型MOSFET(PMOS2’)
がオフ状態になりNチャンネル型出力MOSFET(N
MOS3)のゲート電圧n2Bを回路の接地電位0Vの
ようなロウレベルにする。この結果、Nチャンネル型出
力MOSFET(NMOS3)はオフ状態にされる。つ
まり、出力MOSFET(PMOS3)と(NMOS
3)とが共にオフ状態にされて出力ハイインピーダンス
状態となる。このような出力ハイインピーダンス状態で
は、上記外部端子I/Oからの入力信号の供給が可能に
される。
【0025】なお、上記非反転の出力制御信号DOCが
ハイレベルの活性レベルにされると、上記ゲート回路G
1のNチャンネル型MOSFET(NMOS1’)がオ
ン状態となり、Pチャンネル型MOSFET(PMOS
1’)がオフ状態になるため、ゲート回路G1は入力信
号Vinを受けるNチャンネル型MOSFET(NMOS
1)とPチャンネル型MOSFET(PMOS1)のオ
ン/オフ状態に対応した出力信号を形成する。
【0026】つまり、前記インバータ回路INV1と同
様な動作を行う。上記反転の出力制御信号/DOCがロ
ウレベルの活性レベルにされると、上記ゲート回路G2
のNチャンネル型MOSFET(NMOS2’)がオフ
状態に、Pチャンネル型MOSFET(PMOS2’)
がオン状態になるため、ゲート回路G2は入力信号Vin
を受けるNチャンネル型MOSFET(NMOS2)と
Pチャンネル型MOSFET(PMOS2)のオン/オ
フ状態に対応した出力信号を形成する。つまり、前記イ
ンバータ回路INV2と同様な動作を行う。
【0027】図4には、この発明に係る半導体集積回路
装置の一実施例のブロック図が示されている。同図の各
回路ブロックは、実際の半導体基板上における幾何学的
な配置にあわせて描かれている。同図の各回路ブロック
は、公知の半導体集積回路の製造技術により、単結晶シ
リコンのような半導体基板上において形成される。
【0028】同図において、9は半導体チップであり、
10は内部回路であり、11は内部降圧電源回路(VD
LG)であり、12及び13からなるオンチップRAM
と、それ以外の論理回路部とにより構成される。上記内
部降圧電源回路11は、外部端子から供給された高電源
電圧VDHを内部で降圧して、前記のような内部の低電
源電圧VDLを発生させる。また、上記オンチップRA
M12〜13は、RAMマクロにより構成される。上記
内部回路10が形成される領域のうちRAMブロック以
外は敷き詰めゲート領域となっており、その結線の設計
によりそれぞれの機能が実現される。この領域の拡大パ
ターン16のようにMOSFETが敷き詰められてい
る。上記半導体チップ9の周辺部にはボンディングパッ
ド15が設けられ、かかるボンディングパッド15と内
部回路10との間には入出力回路部14が設けられる。
論理回路部は、それぞれの用途に応じた機能を実現する
ための回路が形成される。
【0029】上記内部回路は、上記オンチップRAM1
2〜13を含めて内部降圧電源VDLで動作させられ
る。上記入出力回路部14には、前記図1のような出力
回路、図3のような入出力回路の他、入力専用回路が配
置される。上記オンチップRAM12〜13を含めた内
部回路に供給する電流を上記1箇所の内部降圧電源回路
11で形成することが困難なら、回路を複数のブロック
に分けて、それぞれに内部降圧電源回路11を設けるよ
うにすればよい。あるいは、電源端子として上記高電源
電圧VDHと、上記低電源電圧VDLとの両方を設けて
両電圧を外部の電源装置から供給するようにするもので
あってもよい。
【0030】上記の実施例から得られる作用効果は、下
記の通りである。 (1) 比較的低い電圧で動作する内部回路で形成され
た低振幅信号を受けて比較的高い電圧に対応した出力信
号を形成する出力回路として、上記比較的高い電圧と回
路の接地電位間に設けられたPチャンネル型出力MOS
FET及びNチャンネル型出力MOSFETと、上記内
部回路で形成された低振幅信号を受け、上記比較的高い
電圧で動作しPチャンネル型MOSFETのコンダクタ
ンスをNチャンネル型MOSFETに比べて小さく形成
してなる第1のCMOS駆動回路により上記Pチャンネ
ル型出力MOSFETを駆動し、上記内部回路で形成さ
れた低振幅の信号を受け、上記比較的低い電圧で動作す
る第2のCMOS駆動回路により上記Nチャンネル型出
力MOSFETを駆動することにより、直流電流を低減
させることによる低消費電力を図りつつ、レベル変換と
負荷駆動能力の向上を実現した出力回路を得ることがで
きるという効果が得られる。
【0031】(2) 上記第1のCMOS駆動回路を構
成するPチャンネル型MOSFETは、そのチャンネル
領域にN型不純物を選択的に導入して他のPチャンネル
型MOSFETに比べて高いしきい値電圧を持つように
することよって、ロウレベル出力時の貫通電流を効果的
に低減させることができるという効果が得られる。
【0032】(3) 上記第1のCMOS駆動回路を構
成するPチャンネル型MOSFETは、そのゲート絶縁
膜が厚く形成されて他のPチャンネル型MOSFETに
比べて高いしきい値電圧を持つようにされることによっ
て、ロウレベル出力時の貫通電流を効果的に低減させる
ことができるという効果が得られる。
【0033】(4) 上記第1と第2のCMOS駆動回
路をCMOSインバータ回路で構成することにより、簡
単な構成で低消費電力でレベル変換機能を持たせつつ負
荷駆動能力の向上を実現した出力回路を得ることができ
るという効果が得られる。
【0034】(5) 上記第1と第2のCMOS駆動回
路を2入力のCMOSゲート回路で構成し、一方の入力
に上記内部回路で形成された出力信号を供給して他方の
入力には出力制御信号を供給し、かかる出力制御信号が
一方のレベルにあるときには上記一方の入力信号を反転
させて伝え、他方のレベルにあるといには上記Pチャン
ネル型出力MOSFETとNチャンネル型出力MOSF
ETとを共にオフ状態の出力ハイインピーダンス状態に
する機能を持たせつつ、レベル変換機能と負荷駆動能力
の向上を実現した出力回路を得ることができるという効
果が得られる。
【0035】以上本発明者よりなされた発明を実施例に
基づき具体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種
々変更可能であることはいうまでもない。例えば、半導
体集積回路装置は、前記のようなゲートアレイの他、内
部回路が低電源電圧で動作し、その出力信号を高電源電
圧に対応した出力信号を形成する出力回路を備えたRA
MやROM等の半導体記憶装置を含む各種半導体集積回
路装置に広く利用することができる。
【0036】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、比較的低い電圧で動作する
内部回路で形成された低振幅信号を受けて比較的高い電
圧に対応した出力信号を形成する出力回路として、上記
比較的高い電圧と回路の接地電位間に設けられたPチャ
ンネル型出力MOSFET及びNチャンネル型出力MO
SFETと、上記内部回路で形成された低振幅信号を受
け、上記比較的高い電圧で動作しPチャンネル型MOS
FETのコダンクタンスをNチャンネル型MOSFET
に比べて小さく形成してなる第1のCMOS駆動回路に
より上記Pチャンネル型出力MOSFETを駆動し、上
記内部回路で形成された低振幅の信号を受け、上記比較
的低い電圧で動作する第2のCMOS駆動回路により上
記Nチャンネル型出力MOSFETを駆動することによ
り、直流電流を低減させることによる低消費電力を図り
つつ、レベル変換と負荷駆動能力の向上を実現した出力
回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る出力回路の一実施例を示す回路
図である。
【図2】図1の出力回路の動作を説明するための波形図
である。
【図3】この発明に係る出力回路の他の一実施例を示す
回路図である。
【図4】この発明に係る半導体集積回路装置の一実施例
を示すブロック図である。
【符号の説明】
PMOS1〜PMOS3…Pチャンネル型MOSFE
T、NMOS1〜NMOS3…Nチャンネル型MOSF
ET、CL…負荷容量、INV1〜INV3…CMOS
インバータ回路、G1,G2…ゲート回路、9…半導体
チップ、10…内部回路、11…クロック発生回路、1
2〜13…RAMマクロセル(オンチップRAM)、1
4…入出力回路、15…ボンディングパッド、16…内
部回路(拡大パターン)。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 比較的高い電圧で動作する内部回路と、 上記内部回路で形成された信号を受け、比較的高い電圧
    に対応した出力信号を形成する出力回路とを備えて半導
    体集積回路装置であって、 上記出力回路は、上記比較的高い電圧と回路の接地電位
    間に設けられたPチャンネル型出力MOSFET及びN
    チャンネル型出力MOSFETからなり、 上記Pチャンネル型MOSFETのゲートには、上記比
    較的高い電圧で動作しPチャンネル型MOSFETのコ
    ダンクタンスをNチャンネル型MOSFETに比べて小
    さく形成してなる第1のCMOS駆動回路を通して上記
    内部回路の出力信号が伝えられ、 上記Nチャンネル型MOSFETのゲートには、上記比
    較的低い電圧で動作する第2のCMOS駆動回路を通し
    て上記内部回路の出力信号が伝えられるようにしてなる
    ことを特徴とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 上記第1のCMOS駆動回路を構成する
    Pチャンネル型MOSFETは、そのチャンネル領域に
    N型不純物が選択的に導入されることよって他のPチャ
    ンネル型MOSFETに比べて高いしきい値電圧を持つ
    ようにされることを特徴とする請求項1の半導体集積回
    路装置。
  3. 【請求項3】 上記第1のCMOS駆動回路を構成する
    Pチャンネル型MOSFETは、そのゲート絶縁膜が他
    のPチャンネル型MOSFETのゲート絶縁膜に比べて
    厚く形成されることによって高いしきい値電圧を持つよ
    うにされることを特徴とする請求項1の半導体集積回路
    装置。
  4. 【請求項4】 上記第1と第2のCMOS駆動回路は、
    CMOSインバータ回路であることを特徴とする請求項
    1、請求項2又は請求項3の半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 上記第1と第2のCMOS駆動回路は、
    2入力のCMOSゲート回路からなり、一方の入力に上
    記内部回路で形成された出力信号が供給され、他方の入
    力には出力制御信号が供給されて、かかる出力制御信号
    が一方のレベルにあるときには上記一方の入力信号を反
    転させて伝えて入力信号に対応した出力信号を形成し、
    他方のレベルにあるといには上記Pチャンネル型出力M
    OSFETとNチャンネル型出力MOSFETとを共に
    オフ状態の出力ハイインピーダンス状態とさせることを
    特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3の半導体集
    積回路装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004055987A1 (ja) * 2002-12-13 2004-07-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. 半導体装置およびこれを用いた表示装置
CN100392980C (zh) * 2002-11-20 2008-06-04 株式会社半导体能源研究所 半导体装置及其驱动方法
DE102004036892B4 (de) * 2003-07-22 2009-10-22 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon Pegelabwärtswandler und Schnittstellenschaltkreis
JP2012105277A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Samsung Electronics Co Ltd レベル変換器、それを含むシステムオンチップ、及びそれを含むマルチメディア装置
US8264254B2 (en) 2002-09-25 2012-09-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Clocked inverter, NAND, NOR and shift register
KR20190065137A (ko) 2017-12-01 2019-06-11 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 구동 회로, 그것을 구비한 반도체 장치, 및, 구동 회로의 제어 방법
CN113643640A (zh) * 2021-08-03 2021-11-12 武汉华星光电技术有限公司 栅极驱动电路及显示面板

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8264254B2 (en) 2002-09-25 2012-09-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Clocked inverter, NAND, NOR and shift register
US8432385B2 (en) 2002-09-25 2013-04-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Clocked inverter, NAND, NOR and shift register
CN100392980C (zh) * 2002-11-20 2008-06-04 株式会社半导体能源研究所 半导体装置及其驱动方法
WO2004055987A1 (ja) * 2002-12-13 2004-07-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. 半導体装置およびこれを用いた表示装置
US7355445B2 (en) 2002-12-13 2008-04-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Digital circuit with smaller amplitude of input signal voltage than amplitude of power source voltage of the digital circuit
CN100380811C (zh) * 2002-12-13 2008-04-09 株式会社半导体能源研究所 半导体器件和使用该半导体器件的显示器件
US7714616B2 (en) 2002-12-13 2010-05-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and display appliance using the semiconductor device
DE102004036892B4 (de) * 2003-07-22 2009-10-22 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon Pegelabwärtswandler und Schnittstellenschaltkreis
JP2012105277A (ja) * 2010-11-12 2012-05-31 Samsung Electronics Co Ltd レベル変換器、それを含むシステムオンチップ、及びそれを含むマルチメディア装置
KR20190065137A (ko) 2017-12-01 2019-06-11 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 구동 회로, 그것을 구비한 반도체 장치, 및, 구동 회로의 제어 방법
US10665271B2 (en) 2017-12-01 2020-05-26 Renesas Electronics Corporation Driving circuit, semiconductor device including the same, and control method of the driving circuit
CN113643640A (zh) * 2021-08-03 2021-11-12 武汉华星光电技术有限公司 栅极驱动电路及显示面板

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