JPH11163001A - 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置 - Google Patents
半導体デバイスの製造方法およびその製造装置Info
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- JPH11163001A JPH11163001A JP32980797A JP32980797A JPH11163001A JP H11163001 A JPH11163001 A JP H11163001A JP 32980797 A JP32980797 A JP 32980797A JP 32980797 A JP32980797 A JP 32980797A JP H11163001 A JPH11163001 A JP H11163001A
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- Japan
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- lead frame
- collet
- semiconductor chip
- recognition camera
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ダイボンディング部13の休みをなくし、構
造の簡素化ならびにコストダウンを図ることができる半
導体デバイスの製造方法およびその製造装置を得る。 【解決手段】 リードフレーム41のダイパッドに接合
材料を塗布するノズル25と、ウエハ35上の半導体チ
ップ37の位置ならびにリードフレーム41の位置を検
出する多目的認識用カメラ28と、半導体チップ37の
ダイボンディングを行うコレット29と、ノズル25と
多目的認識用カメラ28とコレット29とを取付けた水
平方向に移動可能な平面動作テーブル21,23とを備
えたものである。
造の簡素化ならびにコストダウンを図ることができる半
導体デバイスの製造方法およびその製造装置を得る。 【解決手段】 リードフレーム41のダイパッドに接合
材料を塗布するノズル25と、ウエハ35上の半導体チ
ップ37の位置ならびにリードフレーム41の位置を検
出する多目的認識用カメラ28と、半導体チップ37の
ダイボンディングを行うコレット29と、ノズル25と
多目的認識用カメラ28とコレット29とを取付けた水
平方向に移動可能な平面動作テーブル21,23とを備
えたものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ダイボンディン
グ,ワイヤボンディング,封止を連続して行う半導体デ
バイスの製造方法およびその製造装置に関するもので、
特にそのうちのダイボンディング部に関するものであ
る。
グ,ワイヤボンディング,封止を連続して行う半導体デ
バイスの製造方法およびその製造装置に関するもので、
特にそのうちのダイボンディング部に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】まず、図3を用いて、リードフレーム4
1について説明する。図3はリードフレーム41の斜視
図を示しており、42は中央部にあるダイパッド、43
は四方向に出たリードである。リードフレーム41は、
ダイパッド42とその周囲のリード43を基本単位Pと
して、これが多数連続して形成されている。
1について説明する。図3はリードフレーム41の斜視
図を示しており、42は中央部にあるダイパッド、43
は四方向に出たリードである。リードフレーム41は、
ダイパッド42とその周囲のリード43を基本単位Pと
して、これが多数連続して形成されている。
【0003】次に図4を用いて、ダイボンディング,ワ
イヤボンディング,封止の三つの工程を連続して行う半
導体デバイスの製造装置の構成について説明する。図4
は、従来のダイボンディング,ワイヤボンディング,封
止を行う複合機51の正面図を示している。図4におい
て、52は供給リールであり、複合機51に供給するリ
ードフレーム41をフープ状に巻回している。53はダ
イボンディング部、54はワイヤボンディング部、55
は封止部である。56は巻取リールであり、封止の工程
まで終了したリードフレーム41を巻取る。57はダイ
ボンディング部53に設けられた第1ヒータ、58はワ
イヤボンディング部54に設けられた第2ヒータであ
る。59,60,61はそれぞれ第1搬送機構,第2搬
送機構,第3搬送機構であり、各工程でリードフレーム
41を上下から把持して送る。62,63はそれぞれ第
1バッファ,第2バッファであり、それぞれ第1搬送機
構59と第2搬送機構60、第2搬送機構60と第3搬
送機構61との間で発生する送り量の差をリードフレー
ム41がたるむことで吸収できるようにしたものであ
る。第1バッファ62,第2バッファ63のたるみ量は
センサ(図示せず)が検出している。
イヤボンディング,封止の三つの工程を連続して行う半
導体デバイスの製造装置の構成について説明する。図4
は、従来のダイボンディング,ワイヤボンディング,封
止を行う複合機51の正面図を示している。図4におい
て、52は供給リールであり、複合機51に供給するリ
ードフレーム41をフープ状に巻回している。53はダ
イボンディング部、54はワイヤボンディング部、55
は封止部である。56は巻取リールであり、封止の工程
まで終了したリードフレーム41を巻取る。57はダイ
ボンディング部53に設けられた第1ヒータ、58はワ
イヤボンディング部54に設けられた第2ヒータであ
る。59,60,61はそれぞれ第1搬送機構,第2搬
送機構,第3搬送機構であり、各工程でリードフレーム
41を上下から把持して送る。62,63はそれぞれ第
1バッファ,第2バッファであり、それぞれ第1搬送機
構59と第2搬送機構60、第2搬送機構60と第3搬
送機構61との間で発生する送り量の差をリードフレー
ム41がたるむことで吸収できるようにしたものであ
る。第1バッファ62,第2バッファ63のたるみ量は
センサ(図示せず)が検出している。
【0004】次に図5を用いて、従来の複合機51のダ
イボンディング部53の構成の詳細について説明する。
図5は従来のダイボンディング部53の斜視図を示して
いる。図5において、64はノズルであり、半導体チッ
プ用の接合材料の一種である銀ペーストが中に入ったシ
リンジ65の先端に付いており、その吐出を制御するデ
ィスペンサ(図示せず)につながっていて、エアシリン
ダ等を駆動源として上下動する。66は複合機51に固
定されたリードフレーム認識用カメラである。67はウ
エハであり、シート68に貼付けられて移動回転テーブ
ル(図示せず)に載っている。ウエハ67はこの時点で
はダイシングされており、半導体チップ69を1個毎に
取扱うことができる。70はチップ認識用カメラであ
り、複合機51に固定されている。71はコレットであ
り、モータ等を駆動源として左右,前後,上下の3方向
に動作する。このコレット71は、半導体チップ69の
取上げ位置と押付け位置を往復するものであり、左右方
向にはわずかに動くだけである。
イボンディング部53の構成の詳細について説明する。
図5は従来のダイボンディング部53の斜視図を示して
いる。図5において、64はノズルであり、半導体チッ
プ用の接合材料の一種である銀ペーストが中に入ったシ
リンジ65の先端に付いており、その吐出を制御するデ
ィスペンサ(図示せず)につながっていて、エアシリン
ダ等を駆動源として上下動する。66は複合機51に固
定されたリードフレーム認識用カメラである。67はウ
エハであり、シート68に貼付けられて移動回転テーブ
ル(図示せず)に載っている。ウエハ67はこの時点で
はダイシングされており、半導体チップ69を1個毎に
取扱うことができる。70はチップ認識用カメラであ
り、複合機51に固定されている。71はコレットであ
り、モータ等を駆動源として左右,前後,上下の3方向
に動作する。このコレット71は、半導体チップ69の
取上げ位置と押付け位置を往復するものであり、左右方
向にはわずかに動くだけである。
【0005】次に、複合機51の動作について説明す
る。まず、リードフレーム41を巻回した供給リール5
2を複合機51に取付ける。供給リール52からリード
フレーム41を引出して行き、端部を最初は空の巻取リ
ール56に留める。このように複合機51にリードフレ
ーム41をセットしてから動作させる。最初に、ダイボ
ンディング部53の動作について説明する。ダイボンデ
ィング部53では、まずノズル64を下降させて銀ペー
ストのダイパッド42への塗布を行う。次に、リードフ
レーム認識用カメラ66がリードフレーム41の位置を
検出する。また、チップ認識用カメラ70が半導体チッ
プ69の位置を検出し、その情報によりコレット71が
半導体チップ69を取上げて、リードフレーム認識用カ
メラ66の下側にある銀ペーストの塗布されたダイパッ
ド42に押付ける。半導体チップ69は、リードフレー
ム認識用カメラ66とチップ認識用カメラ70の働きに
より、リードフレーム41の所定の位置に精度良く接合
されることになる。さらに、第1ヒータ57が半導体チ
ップ69とダイパッド42との接合に使用した銀ペース
トを加熱して硬化させる。ダイボンディング部53で
は、ダイボンディングの1サイクル毎に第1搬送機構5
9がリードフレーム41を基本単位ピッチ分送るととも
に、半導体チップ69を同じ位置で取上げることができ
るように、次に取上げる半導体チップ69がチップ認識
用カメラ70の真下に位置するようウエハ67の載った
移動回転テーブル(図示せず)を動かす。そして上述の
動作を繰返す。第1搬送機構59がリードフレーム41
を送ることにより、供給リール52からはリードフレー
ム41が引出され、ダイボンディング部53とワイヤボ
ンディング部54との間の第1バッファ62ではその分
たるみ量が増える。このとき第1バッファ62のたるみ
量が多過ぎることになるのであれば、第1搬送機構59
はたるみ量が適切になるまで動作待ちとなる。
る。まず、リードフレーム41を巻回した供給リール5
2を複合機51に取付ける。供給リール52からリード
フレーム41を引出して行き、端部を最初は空の巻取リ
ール56に留める。このように複合機51にリードフレ
ーム41をセットしてから動作させる。最初に、ダイボ
ンディング部53の動作について説明する。ダイボンデ
ィング部53では、まずノズル64を下降させて銀ペー
ストのダイパッド42への塗布を行う。次に、リードフ
レーム認識用カメラ66がリードフレーム41の位置を
検出する。また、チップ認識用カメラ70が半導体チッ
プ69の位置を検出し、その情報によりコレット71が
半導体チップ69を取上げて、リードフレーム認識用カ
メラ66の下側にある銀ペーストの塗布されたダイパッ
ド42に押付ける。半導体チップ69は、リードフレー
ム認識用カメラ66とチップ認識用カメラ70の働きに
より、リードフレーム41の所定の位置に精度良く接合
されることになる。さらに、第1ヒータ57が半導体チ
ップ69とダイパッド42との接合に使用した銀ペース
トを加熱して硬化させる。ダイボンディング部53で
は、ダイボンディングの1サイクル毎に第1搬送機構5
9がリードフレーム41を基本単位ピッチ分送るととも
に、半導体チップ69を同じ位置で取上げることができ
るように、次に取上げる半導体チップ69がチップ認識
用カメラ70の真下に位置するようウエハ67の載った
移動回転テーブル(図示せず)を動かす。そして上述の
動作を繰返す。第1搬送機構59がリードフレーム41
を送ることにより、供給リール52からはリードフレー
ム41が引出され、ダイボンディング部53とワイヤボ
ンディング部54との間の第1バッファ62ではその分
たるみ量が増える。このとき第1バッファ62のたるみ
量が多過ぎることになるのであれば、第1搬送機構59
はたるみ量が適切になるまで動作待ちとなる。
【0006】次に、ワイヤボンディング部54の動作に
ついて説明する。ワイヤボンディング部54では、第2
ヒータ58が、ダイボンディングの行われたリードフレ
ーム41をワイヤボンディングのために適した温度に加
熱する。そしてボンディングヘッド(図示せず)を動作
させて半導体チップ69上の電極パッドとリード43間
を金線を用いてつなぐ。このワイヤボンディングはリー
ド43の本数分、例えば64本分を行う。ワイヤボンデ
ィング部54では、ワイヤボンディングの1サイクル毎
に第2搬送機構60がリードフレーム41を基本単位ピ
ッチ分送る。そして上述の動作を繰返す。第2搬送機構
60がリードフレーム41を送ることにより、リードフ
レーム41のたるみ量は第1バッファ62で減り、第2
バッファ63では増える。このとき、第1バッファ62
のたるみがなくなってリードフレーム41を無理に引張
ることになったり、第2バッファ63のたるみ量が多過
ぎることになるのであれば、第2搬送機構60は第1バ
ッファ62,第2バッファ63のたるみ量が適切になる
まで動作待ちとなる。
ついて説明する。ワイヤボンディング部54では、第2
ヒータ58が、ダイボンディングの行われたリードフレ
ーム41をワイヤボンディングのために適した温度に加
熱する。そしてボンディングヘッド(図示せず)を動作
させて半導体チップ69上の電極パッドとリード43間
を金線を用いてつなぐ。このワイヤボンディングはリー
ド43の本数分、例えば64本分を行う。ワイヤボンデ
ィング部54では、ワイヤボンディングの1サイクル毎
に第2搬送機構60がリードフレーム41を基本単位ピ
ッチ分送る。そして上述の動作を繰返す。第2搬送機構
60がリードフレーム41を送ることにより、リードフ
レーム41のたるみ量は第1バッファ62で減り、第2
バッファ63では増える。このとき、第1バッファ62
のたるみがなくなってリードフレーム41を無理に引張
ることになったり、第2バッファ63のたるみ量が多過
ぎることになるのであれば、第2搬送機構60は第1バ
ッファ62,第2バッファ63のたるみ量が適切になる
まで動作待ちとなる。
【0007】さらに、封止部55の動作について説明す
る。封止部55では、ワイヤボンディングの行われたリ
ードフレーム41を成形金型(図示せず)で挟込み、樹
脂を注入して半導体チップ69の載ったダイパッド42
を上下から樹脂で覆う。この封止はまとまった個数、例
えば8個を同時に行う。封止部55では、封止の1サイ
クル毎に第3搬送機構61がリードフレーム41を封止
個数分送る。そして上述の動作を繰返す。第3搬送機構
61がリードフレーム41を送ることにより、リードフ
レーム41のたるみ量は第2バッファ63で減り、また
送りに同期して巻取リール56は巻取りを行う。このと
き第2バッファ63のたるみがなくなってリードフレー
ム41を無理に引張ることになるのであれば、第3搬送
機構61は第2バッファ63のたるみ量が適切になるま
で動作待ちとなる。
る。封止部55では、ワイヤボンディングの行われたリ
ードフレーム41を成形金型(図示せず)で挟込み、樹
脂を注入して半導体チップ69の載ったダイパッド42
を上下から樹脂で覆う。この封止はまとまった個数、例
えば8個を同時に行う。封止部55では、封止の1サイ
クル毎に第3搬送機構61がリードフレーム41を封止
個数分送る。そして上述の動作を繰返す。第3搬送機構
61がリードフレーム41を送ることにより、リードフ
レーム41のたるみ量は第2バッファ63で減り、また
送りに同期して巻取リール56は巻取りを行う。このと
き第2バッファ63のたるみがなくなってリードフレー
ム41を無理に引張ることになるのであれば、第3搬送
機構61は第2バッファ63のたるみ量が適切になるま
で動作待ちとなる。
【0008】なお、この従来例ではリードフレーム41
の搬送機構59,60,61をダイボンディング,ワイ
ヤボンディング,封止の工程毎に設けたが、ダイボンデ
ィング,ワイヤボンディングは一つにすることもでき
る。これはダイボンディング,ワイヤボンディングは、
共に1個毎に行うためである。これに対して、封止はま
とまった個数毎に行うために、別の搬送機構としなけれ
ばならない。この送り量が違うことや送るタイミングが
違うことにより工程間でリードフレーム41のバッファ
が必要となっている。また、所要時間に関して言えば、
例えばダイボンディングが1個当たり2秒、ワイヤボン
ディングが1個当たり10秒、封止が8個当たり80秒
である。
の搬送機構59,60,61をダイボンディング,ワイ
ヤボンディング,封止の工程毎に設けたが、ダイボンデ
ィング,ワイヤボンディングは一つにすることもでき
る。これはダイボンディング,ワイヤボンディングは、
共に1個毎に行うためである。これに対して、封止はま
とまった個数毎に行うために、別の搬送機構としなけれ
ばならない。この送り量が違うことや送るタイミングが
違うことにより工程間でリードフレーム41のバッファ
が必要となっている。また、所要時間に関して言えば、
例えばダイボンディングが1個当たり2秒、ワイヤボン
ディングが1個当たり10秒、封止が8個当たり80秒
である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の構成では、第1搬送機構59,第2搬送機構60は
それぞれダイボンディング,ワイヤボンディングの1サ
イクル毎にリードフレーム41を基本単位ピッチ分送る
が、1サイクルの時間がワイヤボンディングはダイボン
ディングの数倍であるというはなはだしいアンバランス
のために第1搬送機構59は動作待ちとなることが多
く、第1搬送機構59がリードフレーム41を送らない
ためにダイボンディング部53が休んでしまう問題があ
った。これはダイボンディングはそれほど高速で行わな
う必要がないのにもかかわらず、ダイボンディング部5
3が過剰な処理能力を持っているということであり、そ
のため構造が複雑で高価になるという問題があった。
来の構成では、第1搬送機構59,第2搬送機構60は
それぞれダイボンディング,ワイヤボンディングの1サ
イクル毎にリードフレーム41を基本単位ピッチ分送る
が、1サイクルの時間がワイヤボンディングはダイボン
ディングの数倍であるというはなはだしいアンバランス
のために第1搬送機構59は動作待ちとなることが多
く、第1搬送機構59がリードフレーム41を送らない
ためにダイボンディング部53が休んでしまう問題があ
った。これはダイボンディングはそれほど高速で行わな
う必要がないのにもかかわらず、ダイボンディング部5
3が過剰な処理能力を持っているということであり、そ
のため構造が複雑で高価になるという問題があった。
【0010】この発明は上記問題を解決するもので、ダ
イボンディング部の休みをなくし、構造の簡素化ならび
にコストダウンを図ることができる半導体デバイスの製
造方法およびその製造装置を提供することを目的とす
る。
イボンディング部の休みをなくし、構造の簡素化ならび
にコストダウンを図ることができる半導体デバイスの製
造方法およびその製造装置を提供することを目的とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の半導体デ
バイスの製造方法は、ノズルと多目的認識用カメラとコ
レットとを水平方向に移動可能な平面動作テーブルに取
付け、リードフレームのダイパッドにノズルにて接合材
料を塗布し、ウエハ上の半導体チップの位置ならびにリ
ードフレームの位置を多目的認識用カメラにて検出し、
この多目的認識用カメラによる検出値に基づいてコレッ
トにて半導体チップのダイボンディングを行うことを特
徴とするものである。
バイスの製造方法は、ノズルと多目的認識用カメラとコ
レットとを水平方向に移動可能な平面動作テーブルに取
付け、リードフレームのダイパッドにノズルにて接合材
料を塗布し、ウエハ上の半導体チップの位置ならびにリ
ードフレームの位置を多目的認識用カメラにて検出し、
この多目的認識用カメラによる検出値に基づいてコレッ
トにて半導体チップのダイボンディングを行うことを特
徴とするものである。
【0012】請求項2記載の半導体デバイスの製造装置
は、リードフレームのダイパッドに接合材料を塗布する
ノズルと、ウエハ上の半導体チップの位置ならびにリー
ドフレームの位置を検出する多目的認識用カメラと、半
導体チップのダイボンディングを行うコレットと、ノズ
ルと多目的認識用カメラとコレットとを取付けた水平方
向に移動可能な平面動作テーブルとを備えたものであ
る。
は、リードフレームのダイパッドに接合材料を塗布する
ノズルと、ウエハ上の半導体チップの位置ならびにリー
ドフレームの位置を検出する多目的認識用カメラと、半
導体チップのダイボンディングを行うコレットと、ノズ
ルと多目的認識用カメラとコレットとを取付けた水平方
向に移動可能な平面動作テーブルとを備えたものであ
る。
【0013】この発明の半導体デバイスの製造方法およ
びその製造装置によると、ノズルと多目的認識用カメラ
とコレットの平面駆動機構が共通となり、かつ1個の多
目的認識用カメラでウエハ上の半導体チップの位置とリ
ードフレームの位置の認識ができるようになり、ダイボ
ンディング部の処理能力を問題が生じない程度に低下さ
せることができる。
びその製造装置によると、ノズルと多目的認識用カメラ
とコレットの平面駆動機構が共通となり、かつ1個の多
目的認識用カメラでウエハ上の半導体チップの位置とリ
ードフレームの位置の認識ができるようになり、ダイボ
ンディング部の処理能力を問題が生じない程度に低下さ
せることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】この発明の一実施の形態について
図1ないし図3を用いて説明する。まず、図1を参照し
て、ダイボンディング,ワイヤボンディング,封止の三
つの工程を連続して行う半導体デバイスの製造装置の構
成について説明する。図1は、ダイボンディング,ワイ
ヤボンディング,封止を行う複合機11の正面図を示し
ている。図1において、12は供給リール、13はダイ
ボンディング部、14はワイヤボンディング部、15は
封止部、16は巻取リールである。17は結合ヒータで
あり、左側が銀ペーストの硬化に適した温度、右側がワ
イヤボンディングに適した温度にできるよう二つのヒー
タ部品を結合したものであり、ダイボンディング部13
とワイヤボンディング部14にまたがって設けられてい
る。18は前搬送機構、19は後搬送機構である。20
はバッファであり、前搬送機構18と後搬送機構19と
の間で発生する送り量の差をリードフレーム41がたる
むことで吸収できるようにしたものである。バッファ2
0のたるみ量はセンサ(図示せず)が検出している。こ
の複合機11では、従来例のものからダイボンディング
部13の構成を変更するとともにダイボンディング部1
3とワイヤボンディング部14の間のバッファをなくし
ている。
図1ないし図3を用いて説明する。まず、図1を参照し
て、ダイボンディング,ワイヤボンディング,封止の三
つの工程を連続して行う半導体デバイスの製造装置の構
成について説明する。図1は、ダイボンディング,ワイ
ヤボンディング,封止を行う複合機11の正面図を示し
ている。図1において、12は供給リール、13はダイ
ボンディング部、14はワイヤボンディング部、15は
封止部、16は巻取リールである。17は結合ヒータで
あり、左側が銀ペーストの硬化に適した温度、右側がワ
イヤボンディングに適した温度にできるよう二つのヒー
タ部品を結合したものであり、ダイボンディング部13
とワイヤボンディング部14にまたがって設けられてい
る。18は前搬送機構、19は後搬送機構である。20
はバッファであり、前搬送機構18と後搬送機構19と
の間で発生する送り量の差をリードフレーム41がたる
むことで吸収できるようにしたものである。バッファ2
0のたるみ量はセンサ(図示せず)が検出している。こ
の複合機11では、従来例のものからダイボンディング
部13の構成を変更するとともにダイボンディング部1
3とワイヤボンディング部14の間のバッファをなくし
ている。
【0015】このダイボンディング部13の構成の詳細
について説明する。図2は、ダイボンディング部13の
斜視図である。図2において、21はXテーブルであ
り、モータ22によりX軸方向(左右)に動く。23は
Yテーブルであり、Xテーブル21に載っており、モー
タ24によりY軸方向(前後)に動く。これらXテーブ
ル21およびYテーブル23にて平面動作テーブルを構
成している。25はノズルであり、銀ペーストが中に入
ったシリンジ26の先端に付いており、その吐出を制御
するディスペンサ(図示せず)につながっており、高圧
エアによりZ軸方向(上下)に動くエアテーブル27を
介してYテーブル23に取付けられている。28は多目
的認識用カメラであり、直接Yテーブル23に取付けら
れている。35はウエハであり、シート36に貼付けら
れて移動回転テーブル(図示せず)に載っている。ウエ
ハ35はこの時点ではダイシングされており、半導体チ
ップ37を1個毎に取扱うことができる。多目的認識用
カメラ28は、リードフレーム41の認識もできるし、
半導体チップ37の認識もできる。29はコレットであ
り、モータ30によりZ軸方向に動くZテーブル31を
介してYテーブル23に取付けられている。つまり、ノ
ズル25,多目的認識用カメラ28,コレット29は、
X軸方向とY軸方向には同一の駆動源により広い範囲を
動くことができる構成となっている。シート36に貼付
けられたウエハ35は、ここでは不動であるとする。
について説明する。図2は、ダイボンディング部13の
斜視図である。図2において、21はXテーブルであ
り、モータ22によりX軸方向(左右)に動く。23は
Yテーブルであり、Xテーブル21に載っており、モー
タ24によりY軸方向(前後)に動く。これらXテーブ
ル21およびYテーブル23にて平面動作テーブルを構
成している。25はノズルであり、銀ペーストが中に入
ったシリンジ26の先端に付いており、その吐出を制御
するディスペンサ(図示せず)につながっており、高圧
エアによりZ軸方向(上下)に動くエアテーブル27を
介してYテーブル23に取付けられている。28は多目
的認識用カメラであり、直接Yテーブル23に取付けら
れている。35はウエハであり、シート36に貼付けら
れて移動回転テーブル(図示せず)に載っている。ウエ
ハ35はこの時点ではダイシングされており、半導体チ
ップ37を1個毎に取扱うことができる。多目的認識用
カメラ28は、リードフレーム41の認識もできるし、
半導体チップ37の認識もできる。29はコレットであ
り、モータ30によりZ軸方向に動くZテーブル31を
介してYテーブル23に取付けられている。つまり、ノ
ズル25,多目的認識用カメラ28,コレット29は、
X軸方向とY軸方向には同一の駆動源により広い範囲を
動くことができる構成となっている。シート36に貼付
けられたウエハ35は、ここでは不動であるとする。
【0016】このように構成された複合機11の動作に
ついて説明する。まず、リードフレーム41を巻回した
供給リール12を複合機11に取付ける。供給リール1
2からリードフレーム41を引出して行き、端部を最初
は空の巻取リール16に留める。このように複合機11
にリードフレーム41をセットしてから動作させる。ダ
イボンディング部13ではXテーブル21、Yテーブル
23を動作させて、ノズル25をダイパッド42の上部
に位置させる。銀ペーストの塗布はそれほど位置精度を
必要としないので、このときには多目的認識用カメラ2
8による認識は行わず、ノズル25を設計の理論位置へ
移動させているだけである。その位置でエアテーブル2
7を動作させてノズル25を下降させて銀ペーストのダ
イパッド42への塗布を行う。次に、Xテーブル21,
Yテーブル23を動作させて、多目的認識用カメラ28
を半導体チップ37の上部に位置させて、半導体チップ
37の位置を検出する。その情報により、コレット29
を半導体チップ37の上部に位置させて、Zテーブル3
1によりコレット29を下降させて半導体チップ37を
取上げる。次に多目的認識用カメラ28をリードフレー
ム41の上部に位置させて、リードフレーム41の位置
を検出する。その情報によりコレット29をダイパッド
42の上部に位置させて、Zテーブル31によりコレッ
ト29を下降させて半導体チップ37をダイパッド42
に押付ける。このように、ノズル25,多目的認識用カ
メラ28,コレット29のX軸方向とY軸方向の駆動源
を同一とすることで、従来例のように動作を並列的に行
うことはできなくなり、より多くの時間を要するように
なる。しかし、ダイボンディングがワイヤボンディング
より時間を要するようになることはない。
ついて説明する。まず、リードフレーム41を巻回した
供給リール12を複合機11に取付ける。供給リール1
2からリードフレーム41を引出して行き、端部を最初
は空の巻取リール16に留める。このように複合機11
にリードフレーム41をセットしてから動作させる。ダ
イボンディング部13ではXテーブル21、Yテーブル
23を動作させて、ノズル25をダイパッド42の上部
に位置させる。銀ペーストの塗布はそれほど位置精度を
必要としないので、このときには多目的認識用カメラ2
8による認識は行わず、ノズル25を設計の理論位置へ
移動させているだけである。その位置でエアテーブル2
7を動作させてノズル25を下降させて銀ペーストのダ
イパッド42への塗布を行う。次に、Xテーブル21,
Yテーブル23を動作させて、多目的認識用カメラ28
を半導体チップ37の上部に位置させて、半導体チップ
37の位置を検出する。その情報により、コレット29
を半導体チップ37の上部に位置させて、Zテーブル3
1によりコレット29を下降させて半導体チップ37を
取上げる。次に多目的認識用カメラ28をリードフレー
ム41の上部に位置させて、リードフレーム41の位置
を検出する。その情報によりコレット29をダイパッド
42の上部に位置させて、Zテーブル31によりコレッ
ト29を下降させて半導体チップ37をダイパッド42
に押付ける。このように、ノズル25,多目的認識用カ
メラ28,コレット29のX軸方向とY軸方向の駆動源
を同一とすることで、従来例のように動作を並列的に行
うことはできなくなり、より多くの時間を要するように
なる。しかし、ダイボンディングがワイヤボンディング
より時間を要するようになることはない。
【0017】ダイボンディング部13とワイヤボンディ
ング部14にまたがる結合ヒータ17は、銀ペーストを
加熱して硬化させるとともにリードフレーム41をワイ
ヤボンディングのために適した温度に加熱する。ワイヤ
ボンディング部14では、ボンディングヘッド(図示せ
ず)を動作させて、半導体チップ37上の電極パッドと
リード43間を金線を用いてつなぐ。ダイボンディング
とワイヤボンディングがともに終了すると、前搬送機構
18がリードフレーム41を基本単位ピッチ分送る。そ
して上述の動作を繰返す。前搬送機構18がリードフレ
ーム41を送ることにより、供給リール12からはリー
ドフレーム41が引出され、ワイヤボンディング部14
と封止部15との間のバッファ20ではその分たるみ量
が増える。このとき、バッファ20のたるみ量が多過ぎ
ることになるのであれば、前搬送機構18はたるみ量が
適切になるまで動作待ちとなる。封止部15では、リー
ドフレーム41の複数の基本単位を成形金型(図示せ
ず)で挟込み、樹脂を注入して半導体チップ37の載っ
たダイパッド42を上下から樹脂で覆う。封止部15で
は、封止の1サイクル毎に後搬送機構19がリードフレ
ーム41を封止個数分送る。そして上述の動作を繰返
す。後搬送機構19がリードフレーム41を送ることに
より、リードフレーム41のたるみ量はバッファ20で
減り、また送りに同期して巻取リール16は巻取りを行
う。このときバッファ20のたるみがなくなってリード
フレーム41を無理に引張ることになるのであれば、後
搬送機構19はバッファ20のたるみ量が適切になるま
で動作待ちとなる。
ング部14にまたがる結合ヒータ17は、銀ペーストを
加熱して硬化させるとともにリードフレーム41をワイ
ヤボンディングのために適した温度に加熱する。ワイヤ
ボンディング部14では、ボンディングヘッド(図示せ
ず)を動作させて、半導体チップ37上の電極パッドと
リード43間を金線を用いてつなぐ。ダイボンディング
とワイヤボンディングがともに終了すると、前搬送機構
18がリードフレーム41を基本単位ピッチ分送る。そ
して上述の動作を繰返す。前搬送機構18がリードフレ
ーム41を送ることにより、供給リール12からはリー
ドフレーム41が引出され、ワイヤボンディング部14
と封止部15との間のバッファ20ではその分たるみ量
が増える。このとき、バッファ20のたるみ量が多過ぎ
ることになるのであれば、前搬送機構18はたるみ量が
適切になるまで動作待ちとなる。封止部15では、リー
ドフレーム41の複数の基本単位を成形金型(図示せ
ず)で挟込み、樹脂を注入して半導体チップ37の載っ
たダイパッド42を上下から樹脂で覆う。封止部15で
は、封止の1サイクル毎に後搬送機構19がリードフレ
ーム41を封止個数分送る。そして上述の動作を繰返
す。後搬送機構19がリードフレーム41を送ることに
より、リードフレーム41のたるみ量はバッファ20で
減り、また送りに同期して巻取リール16は巻取りを行
う。このときバッファ20のたるみがなくなってリード
フレーム41を無理に引張ることになるのであれば、後
搬送機構19はバッファ20のたるみ量が適切になるま
で動作待ちとなる。
【0018】この発明の半導体デバイスの製造方法およ
びその製造装置によると、ノズル25と多目的認識用カ
メラ28とコレット29の平面駆動機構が共通となり、
かつ1個の多目的認識用カメラ28でウエハ35上の半
導体チップ37の位置とリードフレーム41の位置の認
識ができるようになり、ダイボンディング部13の処理
能力を問題が生じない程度に低下させることができる。
よって、ダイボンディング部13の休みをなくし、構造
の簡素化ならびにコストダウンを図ることができる。
びその製造装置によると、ノズル25と多目的認識用カ
メラ28とコレット29の平面駆動機構が共通となり、
かつ1個の多目的認識用カメラ28でウエハ35上の半
導体チップ37の位置とリードフレーム41の位置の認
識ができるようになり、ダイボンディング部13の処理
能力を問題が生じない程度に低下させることができる。
よって、ダイボンディング部13の休みをなくし、構造
の簡素化ならびにコストダウンを図ることができる。
【0019】また、ノズル25,多目的認識用カメラ2
8,コレット29を一体的に動かすために、これらは広
い範囲を動くことができてダイボンディングの工法に柔
軟性を持たせることができる。例えば、従来は半導体チ
ップをコレットの動作範囲内に移動させるためにウエハ
を動かしていたのが、ウエハ35を動かさなくてもコレ
ット29が全ての半導体チップ37の位置まで移動して
取上げることが可能となり、また銀ペーストの塗布や半
導体チップ37の押付けが複数位置でできたり、銀ペー
ストの塗布と半導体チップ37の押付けを1個毎に行わ
なくても複数箇所に銀ペーストを塗布した後でまとめて
半導体チップ37を押付けるといったこともできるよう
になる。
8,コレット29を一体的に動かすために、これらは広
い範囲を動くことができてダイボンディングの工法に柔
軟性を持たせることができる。例えば、従来は半導体チ
ップをコレットの動作範囲内に移動させるためにウエハ
を動かしていたのが、ウエハ35を動かさなくてもコレ
ット29が全ての半導体チップ37の位置まで移動して
取上げることが可能となり、また銀ペーストの塗布や半
導体チップ37の押付けが複数位置でできたり、銀ペー
ストの塗布と半導体チップ37の押付けを1個毎に行わ
なくても複数箇所に銀ペーストを塗布した後でまとめて
半導体チップ37を押付けるといったこともできるよう
になる。
【0020】なお、前記実施の形態では、接合材料の塗
布を行うノズル25は接合材料の容器であるシリンジ2
6の先端に付いており、両者は一体的に動くものである
が、ノズル25さえ動けばよく、シリンジ26の代わり
に接合材料を充填した容器を別の場所に設け、当該容器
とノズル25の間をチューブ等でつないだものであって
もよい。
布を行うノズル25は接合材料の容器であるシリンジ2
6の先端に付いており、両者は一体的に動くものである
が、ノズル25さえ動けばよく、シリンジ26の代わり
に接合材料を充填した容器を別の場所に設け、当該容器
とノズル25の間をチューブ等でつないだものであって
もよい。
【0021】また、多目的認識用カメラ28,コレット
29,ノズル25をこの順序で直線的に配置したが、こ
れら3つの配置関係は種々変更可能である。また、ノズ
ル25,多目的認識用カメラ28,コレット29をXテ
ーブル21とYテーブル23により互いに直交するX軸
方向とY軸方向の水平面内で移動可能としたが、この駆
動方式は、平面内の任意の2軸方向に駆動をする駆動源
により行えばよいので種々変形可能である。
29,ノズル25をこの順序で直線的に配置したが、こ
れら3つの配置関係は種々変更可能である。また、ノズ
ル25,多目的認識用カメラ28,コレット29をXテ
ーブル21とYテーブル23により互いに直交するX軸
方向とY軸方向の水平面内で移動可能としたが、この駆
動方式は、平面内の任意の2軸方向に駆動をする駆動源
により行えばよいので種々変形可能である。
【0022】また、ノズル25とコレット29のZ軸方
向の駆動をそれぞれエアテーブル27とZテーブル31
で行うとしたが、駆動源の種類は種々変形可能であり、
また同一の駆動源で行ってもよい。また、多目的認識用
カメラ28はZ軸方向には移動しないとしたが、移動し
なければ被認識物によって焦点が合わなければ移動させ
てもよい。その場合の駆動源はノズル25,コレット2
9とは別にしてもよく、あるいは同じにしてもよい。
向の駆動をそれぞれエアテーブル27とZテーブル31
で行うとしたが、駆動源の種類は種々変形可能であり、
また同一の駆動源で行ってもよい。また、多目的認識用
カメラ28はZ軸方向には移動しないとしたが、移動し
なければ被認識物によって焦点が合わなければ移動させ
てもよい。その場合の駆動源はノズル25,コレット2
9とは別にしてもよく、あるいは同じにしてもよい。
【0023】また、駆動方向はZ軸方向でなくてもよ
く、ノズル25,多目的認識用カメラ28,コレット2
9が一体的に動くX軸方向とY軸方向の水平面に対して
ある角度を持つ任意の方向であってもよい。さらに、ダ
イボンディング,ワイヤボンディング,封止の三つの工
程を連続して行う半導体デバイスの製造装置のダイボン
ディング部に関するものであったが、単独のダイボンダ
においても同様の構成としてもよい。
く、ノズル25,多目的認識用カメラ28,コレット2
9が一体的に動くX軸方向とY軸方向の水平面に対して
ある角度を持つ任意の方向であってもよい。さらに、ダ
イボンディング,ワイヤボンディング,封止の三つの工
程を連続して行う半導体デバイスの製造装置のダイボン
ディング部に関するものであったが、単独のダイボンダ
においても同様の構成としてもよい。
【0024】
【発明の効果】この発明の半導体デバイスの製造方法お
よびその製造装置によると、ノズルと多目的認識用カメ
ラとコレットの平面駆動機構が共通となり、かつ1個の
多目的認識用カメラでウエハ上の半導体チップの位置と
リードフレームの位置の認識ができるようになり、ダイ
ボンディング部の処理能力を問題が生じない程度に低下
させることができる。よって、ダイボンディング部の休
みをなくし、構造の簡素化ならびにコストダウンを図る
ことができる。
よびその製造装置によると、ノズルと多目的認識用カメ
ラとコレットの平面駆動機構が共通となり、かつ1個の
多目的認識用カメラでウエハ上の半導体チップの位置と
リードフレームの位置の認識ができるようになり、ダイ
ボンディング部の処理能力を問題が生じない程度に低下
させることができる。よって、ダイボンディング部の休
みをなくし、構造の簡素化ならびにコストダウンを図る
ことができる。
【図1】この発明の一実施の形態におけるダイボンディ
ング,ワイヤボンディング,封止を行う複合機の正面図
である。
ング,ワイヤボンディング,封止を行う複合機の正面図
である。
【図2】この発明の一実施の形態におけるダイボンディ
ング部の斜視図である。
ング部の斜視図である。
【図3】リードフレームの斜視図である。
【図4】従来例のダイボンディング,ワイヤボンディン
グ,封止を行う複合機の正面図である。
グ,封止を行う複合機の正面図である。
【図5】従来例のダイボンディング部の斜視図である。
13 ダイボンディング部 21 Xテーブル(平面動作テーブル) 23 Yテーブル(平面動作テーブル) 25 ノズル 28 多目的認識用カメラ 29 コレット 35 ウエハ 37 半導体チップ 41 リードフレーム 42 ダイパッド
フロントページの続き (72)発明者 田中 彰一 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 田渕 善一郎 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 村山 次雄 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 ノズルと多目的認識用カメラとコレット
とを水平方向に移動可能な平面動作テーブルに取付け、
リードフレームのダイパッドに前記ノズルにて接合材料
を塗布し、ウエハ上の半導体チップの位置ならびに前記
リードフレームの位置を前記多目的認識用カメラにて検
出し、この多目的認識用カメラによる検出値に基づいて
前記コレットにて前記半導体チップのダイボンディング
を行うことを特徴とする半導体デバイスの製造方法。 - 【請求項2】 リードフレームのダイパッドに接合材料
を塗布するノズルと、ウエハ上の半導体チップの位置な
らびに前記リードフレームの位置を検出する多目的認識
用カメラと、前記半導体チップのダイボンディングを行
うコレットと、前記ノズルと前記多目的認識用カメラと
前記コレットとを取付けた水平方向に移動可能な平面動
作テーブルとを備えた半導体デバイスの製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32980797A JP3241649B2 (ja) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32980797A JP3241649B2 (ja) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11163001A true JPH11163001A (ja) | 1999-06-18 |
JP3241649B2 JP3241649B2 (ja) | 2001-12-25 |
Family
ID=18225473
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32980797A Expired - Fee Related JP3241649B2 (ja) | 1997-12-01 | 1997-12-01 | 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3241649B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003015489A2 (en) * | 2001-08-08 | 2003-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus and method for mounting electronic parts |
CN103608909A (zh) * | 2012-06-13 | 2014-02-26 | 佳能机械株式会社 | 基板搬运方法及基板搬运装置 |
-
1997
- 1997-12-01 JP JP32980797A patent/JP3241649B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003015489A2 (en) * | 2001-08-08 | 2003-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus and method for mounting electronic parts |
WO2003015489A3 (en) * | 2001-08-08 | 2003-10-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Apparatus and method for mounting electronic parts |
US6792676B2 (en) | 2001-08-08 | 2004-09-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus and method for mounting electronic parts |
US7137195B2 (en) | 2001-08-08 | 2006-11-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for mounting electronic parts onto a board |
CN103608909A (zh) * | 2012-06-13 | 2014-02-26 | 佳能机械株式会社 | 基板搬运方法及基板搬运装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3241649B2 (ja) | 2001-12-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |