JPH11150038A - 薄形フィルムチップコンデンサ - Google Patents
薄形フィルムチップコンデンサInfo
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- JPH11150038A JPH11150038A JP33230497A JP33230497A JPH11150038A JP H11150038 A JPH11150038 A JP H11150038A JP 33230497 A JP33230497 A JP 33230497A JP 33230497 A JP33230497 A JP 33230497A JP H11150038 A JPH11150038 A JP H11150038A
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Abstract
来の技術では、製品寸法7mm/□以下、厚み0.2〜
0.3mmの範囲では外部電極部にて電気的な特性劣化
や、物理的な密着強度の低下との問題点があり、実用的
に使用不可能であったためこれらを解決することを目的
とする。 【解決手段】 従来の技術に係る薄形フィルムチップコ
ンデンサにおける電気的な特性劣化及び物理的な密着強
度低下等を解決する手段として、先ず、外部電極9とな
るメタリコン電極10部を金属材料TM−12SAによ
り構成して、第1層16を形成、その後に導電性ペース
ト14を用い第1層16を完全被ふく一体化形成して第
2層17を形成、しかる後にはんだ層15を用いて、第
2層17を完全にディッピングを行い第3層18なる外
部電極端子18Aを形成しようとするものである。
Description
ンデンサに係る外装のない薄形フィルムチップコンデン
サに関する。
進歩により電子部品においても小型化,可とう性及び多
機能化に対応可能な薄形フィルムチップコンデンサの要
求が上昇している。
脂含浸を施すことにより樹脂モールド,外包ケースを不
用として外部電極33にリード端子を有しないため、極
めて薄く小型であるとともに、2層以上のプリント配線
板にダイレクトに外部電極端子を半田付けにより装着で
きるために、表面実装型部品として、小スペース自由設
計とに最適なフィルムチップコンデンサ39である。こ
の従来のフィルムチップコンデンサ39について、以下
図5(a)〜(c),及び図6(d)〜(g)に基づき
製造工程を説明する。
ックフィルム21(ポリエチレンテレフタレート)に内
部電極23であるアルミニウム22を蒸着して、金属薄
膜を形成した金属化フィルム24を複数枚用い、これら
の金属化フィルム24を互いにずらし巻回し、最外装に
シール用フィルム25Aを巻き付けたコンデンサ素子2
5を形成する。
デンサ素子25をヒートプレス(上)27Aとヒートプ
レス(下)27Bとを使用し、所定厚みの小判形形状コ
ンデンサ素子27に加熱加圧を行い形成する。
形形状コンデンサ素子27の外周部を粘着マスキングテ
ープ26でテーピングを行い溶射金属が付着しないよう
に構成する。
ンとしては誘電体であるプラスチックフィルム21をメ
タリコンの溶射熱より保護し、特性の劣化を防止すると
ともに、物理的な強度を保持し、蒸着した金属であるア
ルミニウム22との密着をより一層強化するために、融
点が160〜260℃の範囲のハンダ系合金30Bや、
亜鉛30Aまたは鉛等の単一金属を用い、第1層の亜鉛
(Zn)メタリコン層30Aの上にハンダ系合金メタリ
コン層30Bの第2層より形成してなるメタリコン電極
付小判形形状コンデンサ素子31Bを形成する。
0〜260℃の合金であるはんだを用いた場合、ペーパ
ーフローやリフロー法によりプリント基板にはんだ付け
した場合、メタリコンが溶融し、特性の劣化や外部電極
33の物理的な強度保持が難しい問題があった。
は、周囲の大気中の水分と反応した亜鉛(Zn)が溶け
出し、誘電体であるプラスチックフィルム21の表面に
形成した蒸着薄膜との接続が不良となり特性劣化(tan
δの増加,絶縁の劣化,断線事故と)とともに物理的な
密着強度劣化を起すなどの難しい問題があった。
着金属であるアルミニウム22に対して接続性が悪く、
稼動初期に正常なtanδ特性が得られなく、また物理的
な密着強度の接続性が悪いため、急速充放電に極めて弱
いフィルムチップコンデンサ39となる問題があった。
は、小判形形状コンデンサ素子27のサイズが全長8mm
×8mm以上で、厚さ、0.35mm以上でしか外部電極3
3となるメタリコン電極30部の密着強度が0.1kg以
上確保することが難しい問題があった。
リコン電極付小判形形状コンデンサ素子31Bを電圧処
理後エポキシ樹脂31Aを用いフィルムの表面をぬら
し、かつ浸透充てんする真空含浸31を施し、余剰なエ
ポキシ樹脂31Aを除去し、仮硬化したる後に、150
℃〜170℃で15時間程本硬化しエポキシ樹脂入りメ
タリコン電極付小判形形状コンデンサ素子32Aを形成
する。
キシ樹脂入りメタリコン電極付小判形形状コンデンサ素
子32Aの第2層のハンダ系合金メタリコン電極30B
部の両端表面をエンドミルを使い切断研摩し平滑化に形
成する。
研摩処理を施したエポキシ樹脂メタリコン電極付小判形
形状コンデンサ素子32Aの両端部のハンダ系合金メタ
リコン電極30B部にニッケル電気メッキ33Aを施
し、しかる後に、上記の第2層の表面30Bにはんだ
(Sn9:pd1)電気めっき33Bを施し、外部電極
33の端子を形成する従来の技術に係るフィルムチップ
コンデンサ39の製造工程である。
チップコンデンサ39では、コンデンサ製品寸法が全長
8mm×8mm以下,厚さ0.35mm以下では、メタリコン
電極30の製造の溶射作業工程にて問題があり密着強度
の確保が難しく実用上使用不可能であった。
素子27の厚みが0.35mm以下では、この両端部の外
周面に1.5mm以上メタリコン電極33部を所定の40
μm以上の厚みに形成することが困難であった。
電極30部を構成する金属材料をハンダ合金30B,亜
鉛30A及び鉛等を用いていたために、電気的な特性劣
化(tanδ特性、絶縁の劣化)やメタリコン電極30部
物理的な密着強度が約0.1kg程以下しか得られなく、
実装固定使用する場合に断線事故を起す問題を有してい
たためにこのフィルムチップコンデンサ39を実用上使
用することは、不可能であった。
し、メタリコン電極10部の物理的な密着強度のより一
層の強化や電気的な特性により一層の高性能を有しま
た、高速化対応にも優れた薄形フィルムチップコンデン
サ19を提供することもある。
現するために、プラスチックフィルム1の表面にアルミ
ニウム2を蒸着して、内部電極3を形成した金属化プラ
スチックフィルム4を用い、前記金属化プラスチックフ
ィルム4を重ね合せ、巻回された円筒形コンデンサ素子
5からなり、この円筒形コンデンサ素子5を熱プレス5
B,5Cで小判形形状コンデンサ素子7とし、次に前記
小判形形状コンデンサ素子7を高分子材料からなるテー
プ6でマスキング保持された小判形形状コンデンサ素子
7の両端部に外部電極9の第1層16となるTM−12
SA材を用い、密着強度に優れたメタリコン電極10部
を設け、
小判形形状コンデンサ素子8Bをエポキシ樹脂8Aを真
空加圧含浸8を施し、その後に、前記小判形形状コンデ
ンサ素子7メタリコン電極10部の表面を平滑に研摩
し、表面の樹脂8Aを除去してなる電極形成11を行
い、前記小判形形状コンデンサ素子の第1層16のメタ
リコン電極10の両端部に金属微粉12に熱硬化性ポリ
マー13を添加した導電性ペースト14を塗布一体化形
成した外部電極9の導電層の第2層17を形成、さらに
この第2層17の表面を半田層にディッピングすること
により、被ふく一体化形成してなる外部電極9のはんだ
層15の第3層18を形成し得ることを特徴とする本発
明の薄形フィルムコンデンサ19を提供するものであ
る。
7mm以下、厚み0.2〜0.3mmの範囲からなる薄形フ
ィルムチップコンデンサ19の外部電極9となり得る第
1層16のメタリコン電極10部の材料として、アルミ
ニウム10A,75〜90%の範囲,シリカ10B,1
0〜25%の範囲からなる材料を用いることにより、蒸
着金属であるアルミニウム2の金属薄膜との電気的な接
続が好適で、しかもメタリコン電極10部の物理的な密
着強度が0.7kg〜3.0kgの範囲に確保でき、さら
に、外部電極9であるメタリコン電極10部の材料の固
相線が380℃以上あるため、薄形フィルムチップコン
デンサ19を2層以上のプリント配線板に実装固定する
場合のベーパーフローやリフロー時に溶融する現象が起
きえることがなく、また前記材料は、空気中の水分に安
定している、しかも、溶出現象が発生しないTM−12
SA材料である。
16のメタリコン電極10部のアルミニウム10Aの成
分は、75〜90%の範囲が好適であり、75%未満に
なると硬度が不足となり、また90%を超えるとメタリ
コン電極10部の密着強度が阻害されることがありいず
れも適していない。
6のメタリコン電極10部のシリカ10B成分は、10
〜25%の範囲が好適であり、シリカ10Bが10%未
満になると融点が最適温度659.8℃迄あがり、前記
内部電極3であるアルミニウム2金属薄膜を損傷し、特
性劣化を引き起こす要因となり得る、また、25%を超
えるとメタリコン電極10部の形成において阻害される
場合があり得る。
を強化するために、小判形形状コンデンサ素子7の両端
部の外周面に端面より長手方向に1.0〜2.0mmの範
囲に厚み40〜60μmの範囲にメタリコン電極10部
を形成実現でき、
電極付小判形形状コンデンサ素子11Aの両端部に導電
性ペースト14の塗布厚み50〜150μmの範囲第2
層17を形成しかる後に、はんだ層15からなる厚み1
〜50μmの範囲の第3層18の外部電極端子18Aを
形成し得る本発明の薄形フィルムチップコンデンサ19
である。
2(a)〜(b),図3(c)〜(e),図4(f)〜
(g)及び図1に基づいて、説明する。
に、厚み1.5〜2.5μmの範囲のプラスチックフィ
ルム1に内部電極3であるアルミニウム2を蒸着して、
金属薄膜を形成した金属化フィルム4を2枚用い、これ
らの金属化フィルム4を互いにずらし自動捲取機(日立
エーアイシー製)を使い、所定の段数(巻数)巻回し、
最外装にシール用フィルム5Aを巻き付けた円筒形コン
デンサ素子5を形成する。このプラスチックフィルム1
としては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィル
ム1A,ポリプロピレンフィルム1B及びポリフェニレ
ンスルフィドフィルム1Cを用いることができる。
デンサ素子5をヒートプレス(上)5Bとヒートプレス
(下)5Cを用い、加熱温度100〜120℃の範囲で
時間2.5分〜3.5分間で、加圧圧力90〜110kg
/cm2の範囲で加工を行い、厚さ0.2〜0.3mmの小
判形形状コンデンサ素子7を形成する。
判形形状コンデンサ素子7の外周部を高分子材料からな
る感熱接着剤付きテープ6でテーピング保持し、溶射金
属微粒子が付着しないように構成する。
3(c)で構成された小判形形状コンデンサ素子7の端
面及び外周部の端面より長手方向に1.0〜2.0mmの
範囲にアルミニウム10A,75〜90%の範囲,シリ
カ10B,10〜25%の範囲からなる材料(TM−1
2SA),直径1.2mmの線を用い、電気アーク溶射方
法により厚み40〜60μmの範囲の第1層16のメタ
リコン電極(TM−12SA)10部を形成するが好適
な厚みは50μmであるが厚みが40μm未満になると
物理的な密着強度の劣化及び電気的な特性劣化が生ずる
ので好ましくなく、また厚みが60μmを超えると電気
アーク溶射の熱量によりアルミニウム2の金属薄膜が劣
化し電気的な接続性が阻害されることがあるので好まし
くない。
は、印加電圧が18〜22V.D.C,吹付圧空力は
4.5〜5.5kg/cm2,圧空流量が1.5〜1.7m3
/分で、線の送り量を40〜60mm/秒,溶射距離を1
50〜250mm,溶射速度を45〜55mm/秒として外
部電極9となるメタリコン電極10部を形成した結果、
従来の技術の物理的な密着強度で、約0.1kg以下であ
ったが本実施例においては0.7〜3kgの範囲の密着強
度を得ることが実現可能となり電気的な接続特性劣化も
起きないので、従来の問題点を解決できた。
(d)で形成したメタリコン電極付小判形形状コンデン
サ素子8Bに電圧処理後、エポキシ樹脂8Aを用い、真
空温度160〜180℃の範囲,真空度0.25〜0.
35mmHg,圧力5.5〜7.5kg/cm2,2.5〜3.
5時間真空加圧含浸8した後、余剰なエポキシ樹脂8A
を除去する。しかる後に温度110〜140℃の範囲,
2〜5時間の範囲仮硬化し、さらに、温度140〜18
0℃の範囲で14〜18時間の範囲で本硬化しエポキシ
樹脂入りメタリコン電極付小判形形状コンデンサ素子1
1Aを形成する。
3(e)で形成したエポキシ樹脂入りメタリコン電極付
小判形形状コンデンサ素子11Aの両端部のメタリコン
電極10部の側面をエンドミルを使い、切削研摩し平滑
なる電極形成11を行う。
部電極9となるメタリコン電極10部を物理的に密着強
度を強化するために、前記第1層16のメタリコン電極
10部の両端部に金属微粉12に熱硬化性ポリマー13
を添加した導電性ペースト14を厚み50〜150μm
の範囲に塗布一体化形成して、導電層の第2層17を形
成し得るが、好適厚みは100μmが好ましく、また、
厚み50μm未満、150μmを超えるといずれも電気
的接続信頼性や物理的な密着強度が阻害される要因とな
り得、いずれも好ましくない。
ば、銅粉,ニッケル粉,白金粉,銀粉,錫粉及びこれら
の合金粉から選ばれる少なくとも一つの金属微粒子粉1
2でよいが好適は、銅粉である。また、この平均微粒子
径は、0.15〜25μmの範囲で、好適は5.0〜1
5μmの範囲がよく、この金属微粒子粉12の形状は、
球状形状やフレーク状形状でよい。また、この金属微粒
子粉12の径が0.15μm未満,25μm超える場合
には、ペースト状に形成できず密着性が悪く、しかもざ
らつきが発生し、均一な塗膜形成を行うのに阻害される
ため、いずれも適していない。
は、例えばエポキシ樹脂,フェノール樹脂,変性エポキ
シ樹脂及び変性フェノール系樹脂とであるが酸化防止作
用がある変性フェノール系樹脂が好適である。
粒子粉12の存在量は、60〜96重量%の範囲で残部
4〜40%の範囲が熱硬化性ポリマー13で形成されて
いる。この金属微粉12の存在量が60重量%未満の場
合には、導電性が阻害され、また96重量%を超える場
合には、導電性は増すが一方抵抗値が大きくなり高速化
対応とに問題が起きるためにいずれも適していない。
0℃の半田槽にディッピングすることにより厚み10〜
50μmの範囲に被ふく一体化形成してなる外部電極9
のはんだ層15を形成し、外部電極端子18Aとなり得
るものであり、このはんだ層15の金属材の存在量は、
80〜95重量%の範囲で、残部5〜20重量%の範囲
がロジン系樹脂及び添加剤より形成されているが、好適
な存在量は85〜90重量%の範囲がよい。
80重量%未満,95重量%超える場合には、第2層1
7表面との密着強度,突起及び不均一な膜厚が生ずる原
因となり、いずれも適していない。
が本発明の薄形フィルムチップコンデンサ19は、容
量、100PF〜0.03μFの範囲で、端子間電圧
(R.V),1.6〜6.3V.D.Cの範囲の低圧用
で製品寸法が7mm/□以下、厚みが0.2〜0.3mmの
範囲のチップコンデンサ19が得られるものである。
の模式断面図であり、コンデンサ19の容量が100P
F〜0.03μFの範囲で、端子間電圧(R.V),
1.6〜63V.D.Cの範囲の低圧用で製品寸法が7
mm/□以下で厚みが0.2〜0.3mmの範囲であり、ま
た、前記メタリコン電極10部の密着強度が0.7〜3
kgの範囲に実現できた得、さらに第1層16の表面に導
電性ペースト14を塗布一体化形成し第2層17を形
成、しかる後に、前記第2層17の表面にはんだ層15
を形成して、外部電極端子18Aを形成し得た本発明の
薄形フィルムチップコンデンサ19である。
デンサ19によれば、外部電極9になるメタリコン電極
10部の形成の金属材料にTM−12SAを用い、さら
にこの第1層16に導電性ペースト14を塗布一体化形
成し第2層17を設け、この第2層17の表面部にはん
だ層15からなる第3層18を形成でき外部電極端子1
8Aを実現可能にしたことにより製品寸法7mm/□以
下,厚み0.20〜0.3mmの範囲,容量100PF〜
0.03μFの範囲,端子間接圧1.6〜63V.D.
Cの範囲の低圧用の薄形フィルムチップコンデンサ19
を発明でき産業上寄与する効果は極めて大きい。
式説明図である。
式説明図である。
式説明図である。
を示す模式説明図である。
を示す模式説明図である。
タレートフィルム 1B…ポリプロピレンフィルム 1C…ポリフェニレン
スルフィドフィルム 2…アルミニウム 3…内部電極 4…金属化プラスチックフィルム(金属化フィルム) 5…円筒形コンデンサ素子 5A…シール用フィルム 5B…ヒートプレス(上) 5C…ヒートプレス(下) 6…高分子材料からなるテープ 7…小判形形状コンデ
ンサ素子 8…含浸 8A…エポキシ樹脂 8B…メタリコン電極付小判形形状コンデンサ素子 9
…外部電極 10…メタリコン電極(TM−12SA) 10A…ア
ルミニウム 10B…シリカ 11…電極形成 11A…エポキシ樹脂入りメタリコン電極付小判形形状
コンデンサ素子 12…金属微粉 13…熱硬化性ポリマー 14…導電
性ペースト 15…はんだ層 16…第1層 17…第2層 18…
第3層 18A…外部電極端子 19…本発明の薄形フィルムチ
ップコンデンサ 21…プラスチックフィルム(ポリエチレンテレフタレ
ートフィルム) 22…アルミニウム 23…内部電極 24…金属化フ
ィルム 25…コンデンサ素子 25A…シール用フィルム 2
6…マスキングテープ 27…小判形形状コンデンサ素子 27A…ヒートプレ
ス(上) 27B…ヒートプレス(下) 30…メタリコン電極 30A…Znメタリコン電極 30B…ハンダ系合金メ
タリコン電極 31…含浸 31A…エポキシ樹脂 31B…メタリコン電極付小判形形状コンデンサ素子
32…電極形成 32A…エポキシ樹脂入りメタリコン電極付小判形形状
コンデンサ素子 33…外部電極 33A…ニッケル電気めっき 33B…ハンダ(Sn9:Pd1)電気めっき 39…従来の技術に係るフィルムチップコンデンサ
キシ樹脂入りメタリコン電極付小判形形状コンデンサ素
子32Aの第2層のハンダ系合金メタリコン電極30B
部の両端表面をエンドミルを使い切削研摩し平滑化に形
成する。
研摩処理を施したエポキシ樹脂メタリコン電極付小判形
形状コンデンサ素子32Aの両端部のハンダ系合金メタ
リコン電極30B部にニッケル電気メッキ33Aを施
し、しかる後に、上記の第2層の表面30Bにはんだ
(Sn9:pd1)電気めっき33Bを施し、外部電極
33の端子を形成する従来の技術に係るフィルムチップ
コンデンサ39の製造工程である。
し、メタリコン電極10部の物理的な密着強度のより一
層の強化や電気的な特性により一層の高性能を有しま
た、高速化対応にも優れた薄形フィルムチップコンデン
サ19を提供することにある。
が本発明の薄形フィルムチップコンデンサ19は、容
量、100PF〜0.03μFの範囲で、端子間電圧
(R.V),1.6〜63.0 V.D.Cの範囲の低
圧用で製品寸法が7mm/口以下、厚みが0.2〜0.
3mmの範囲のチップコンデンサ19が得られるもので
ある。
デンサ19によれば、外部電極9になるメタリコン電極
10部の形成の金属材料にTM−12SAを用い、さら
にこの第1層16に導電性ペースト14を塗布一体化形
成し第2層17を設け、この第2層17の表面部にはん
だ層15からなる第3層18を形成でき外部電極端子1
8Aを実現可能にしたことにより製品寸法7mm/口以
下,厚み0.20〜0.3mmの範囲,容量100PF
〜0.03μFの範囲,端子間電圧1.6〜63V.
D.Cの範囲の低圧用の薄形プィルムチップコンデンサ
19を発明でき産業上寄与する効果は極めて大きい。
Claims (5)
- 【請求項1】 プラスチックフィルム(1)の表面にア
ルミニウム(2)を蒸着して、内部電極(3)を形成し
た金属化プラスチックフィルム(4)を用い、前記金属
化プラスチックフィルム(4)を重ね合せ、巻回された
円筒形コンデンサ素子(5)からなり、この円筒形コン
デンサ素子(5)を熱プレス(5B.5C)で小判形形
状コンデンサ素子(7)とし、次に前記小判形形状コン
デンサ素子(7)を高分子材料からなるテープ(6)で
マスキング保持された小判形形状コンデンサ素子(7)
の両端部に外部電極(9)の第1層(16)となるTM
−12SA材を用い、メタリコン電極(10)部を形
成、しかる後に前記メタリコン電極(10)付き小判形
形状コンデンサ素子(8B)をエポキシ樹脂(8A)を
真空加圧含浸(8)を施し、その後に、前記小判形形状
コンデンサ素子(7)メタリコン電極(10)部の表面
を平滑に研摩し、表面の樹脂(8A)を除去してなる電
極形成(11)を行い、前記小判形形状コンデンサ素子
の第1層(16)のメタリコン電極(10)部の両端部
に金属微粉(12)に熱硬化性ポリマー(13)を添加
した導電性ペースト(14)を塗布一体化形成した外部
電極(9)の導電層の第2層(17)を形成、さらにこ
の第2層(17)の表面を半田層にディッピングするこ
とにより、被ふく一体化形成してなる外部電極(9)の
はんだ層(15)の第3層(18)を形成し得ることを
特徴とする本発明の薄形フィルムチップコンデンサ(1
9)。 - 【請求項2】 請求項1において、プラスチックフィル
ム(1)の厚みは、1.5〜2.5μmでそのフィルム
はポリエチレンテレフタレート(1A),ポリプロピレ
ン(1B)及びポリフェニレンスルフィド(1C)から
選ばれる少なくとも一つのプラスチックフィルム(1)
よりなる本発明の薄形フィルムチップコンデンサ(1
9)。 - 【請求項3】 請求項1において、前記外部電極(9)
の第1層(16)の両端面に形成されたメタリコン電極
(10)部の厚みを40〜60μmの範囲であり、ま
た、両端部外周面に端面より長手方向に1.0〜2.0
mmの範囲にメタリコン電極(10)部を設け、前記メタ
リコン電極(10)部の引張強度を0.7〜3.0kgの
範囲に構成することを特徴とする本発明の薄形フィルム
チップコンデンサ(19)。 - 【請求項4】 請求項1において、前記外部電極(9)
が第1層(16)のメタリコン電極(10)部、第2層
(17)の導電性ペースト(14)及び第3層(18)
のはんだ層(15)の構成からなり、前記第1層(1
6)のメタリコン電極(10)部はアルミニウム(10
A)75〜90%の範囲で、残部がシリカ(10B)の
材料で構成され得、前記、第2層(17)の導電性ペー
スト(14)は、金属微粉(12)に熱硬化性ポリマー
(13)を添加した材料で構成され、前記金属微粉(1
2)の存在量は60〜90重量%の範囲で、残部が熱硬
化性ポリマー(13)で形成され得、前記金属微粉(1
2)は、銅粉,ニッケル粉,白金粉,銀粉,錫粉及びこ
れらの合金粉から選ばれる少なくとも一つの金属微粒子
であればよく、またこの平均微粒子直径は、0.15〜
25μmの範囲で、前記金属微粉(12)の粒径形状
は、球形形状またはフレーク形形状であればよく、前記
熱硬化性ポリマー(13)としては、エポキシ樹脂,変
性フェノール系樹脂,フェノール樹脂及び変性エポキシ
樹脂から選ばれる少なくとも一つであればよく、さらに
前記第3層(18)のはんだ層(15)は、溶融半田層
に浸漬一体化形成されこのはんだ金属材(原子番号50
錫9;原子番号82鉛1)の存在量は、80〜95重量
%の範囲で、残部がロジン系樹脂及び添加剤で形成し得
ることを特徴とする本発明の薄形フィルムチップコンデ
ンサ(19)。 - 【請求項5】 請求項1において、前記第2層(17)
の導電性ペースト(14)の塗布厚みは、50〜150
μmの範囲に形成され、前記第3層(18)のはんだ層
(15)厚みは、1〜50μmの範囲に形成し得ること
を特徴とする本発明の薄形フィルムチップコンデンサ
(19)。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP33230497A JP3414226B2 (ja) | 1997-11-18 | 1997-11-18 | 薄形フィルムチップコンデンサ |
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JP33230497A JP3414226B2 (ja) | 1997-11-18 | 1997-11-18 | 薄形フィルムチップコンデンサ |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH11150038A true JPH11150038A (ja) | 1999-06-02 |
JP3414226B2 JP3414226B2 (ja) | 2003-06-09 |
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JP (1) | JP3414226B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014096498A (ja) * | 2012-11-09 | 2014-05-22 | Rubycon Corp | 積層コンデンサの製造方法、積層コンデンサ、回路基板および電子機器 |
-
1997
- 1997-11-18 JP JP33230497A patent/JP3414226B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2014096498A (ja) * | 2012-11-09 | 2014-05-22 | Rubycon Corp | 積層コンデンサの製造方法、積層コンデンサ、回路基板および電子機器 |
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JP3414226B2 (ja) | 2003-06-09 |
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