JPH11111786A - ボンディングツール - Google Patents

ボンディングツール

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JPH11111786A
JPH11111786A JP28287497A JP28287497A JPH11111786A JP H11111786 A JPH11111786 A JP H11111786A JP 28287497 A JP28287497 A JP 28287497A JP 28287497 A JP28287497 A JP 28287497A JP H11111786 A JPH11111786 A JP H11111786A
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bonding tool
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thermocouple
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thermocouples
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Motoi Sasaki
基 佐々木
Yukio Kawasaki
幸雄 川崎
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Shibuya Corp
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Shibuya Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【解決課題】複数に分岐させた電力供給手段から直接電
力が供給され加熱されるボンディングツールへの熱電対
の取付手段に特徴を持たせて、電力供給手段の接触不
良、ひいては表面温度の不均一を判定して、熱圧着半導
体等の基板等への接合不良をも検知し、さらにはボンデ
ィングツール自体の損傷を未然に防ごうとする。 【解決手段】第1に、ボンディング対象チップを加熱及
び加圧して基板等に接合するボンディングツールであ
る。第2に、複数に分岐させた電力供給手段からボンデ
ィングツールに直接電力を供給してボンディングツール
自体を加熱する手段を有する。第3に、対になった熱電
対を用い、対の一方の熱電対をボンディングツールの所
望位置に取り付けると同時に他の熱電対をそれと反対側
に取り付けてなる温度検知手段を採用する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ボンディング対象
の半導体チップ等を加熱及び加圧して回路基板等に接合
するボンディング装置におけるボンディングツールの改
良に関するものであり、詳しくは複数に分岐させた電力
供給手段から直接電力が供給され加熱されるボンディン
グツールへの熱電対の取付手段に特徴を有するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来よりボンディングツールの温度制御
を行うため、熱電対をボンディングツールに取り付ける
ものが知られている。一般的にはボンディングツールに
一つの熱電対を使用するのが通常であるが、公開実用新
案公報(実開平1−58937号)記載のように複数の
ヒータを使用するものについては2つの熱電対を接続す
るものも知られている。
【0003】上記のように二つの熱電対を使用する場合
の熱電対21,22の接続位置は図9に示すように片側
に設定するのが一般的である。
【0004】ところで近年ボンディングツールの加熱手
段として別設のヒータを用いずボンディングツール自体
に直接電力を供給し、ボンディングツール自体を発熱さ
せるものが用いられるようになっている。熱圧着用セラ
ミックヒートツールと称されるものもかようなボンディ
ングツールである。このような加熱手段をとる場合にボ
ンディングツールの温度分布のばらつきを抑えるため電
力供給ケーブルを幾つかに分岐させることが考えられ
る。
【0005】例えば、電力供給ケーブルを二股に分岐さ
せた場合、各二線接続となり、第一及至第四の電極が存
在することになる。例えば図9のように接続された場
合、二つの熱電対21、22を第三の電極13と第四の
電極14側に取り付けてあると、第一の電極11又は第
二の電極12が接続不良を起こしたときに、2つの熱電
対21、22を利用していたとしても、加熱不良が検知
できない。逆に熱電対21、22を第一の電極11と第
二の電極12側に取り付けると第三の電極13又は第四
の電極14の接触不良による加熱不良が検知できないと
いう問題点が生じる。
【0006】第一及至第四の電極の中で、例えば第一の
電極11が接触不良の場合、ヒータ通電を行なうと第一
の電極11付近のヒータ面が、他の面と比べ、温度が低
くなりヒータ面全体の均一温度分布がくずれることにな
る。そしてこのまま使用を継続することはボンディング
ツールを損傷するおそれがあった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、如上のよう
な問題点を熱電対の取付位置により解決し、熱電対の起
電力差から表面温度の不均一を判定して、熱圧着半導体
等の基板等への接合不良をも検知し、さらにはボンディ
ングツール自体の損傷を未然に防ごうとするボンディン
グツールを提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、ボンディング対象チップを加熱及び加圧し
て基板等に接合するボンディングツールにおいて、複数
に分岐させた電力供給手段からボンディングツールに直
接電力を供給してボンディングツール自体を加熱する手
段と、対になった熱電対からなり、対の一方の熱電対を
ボンディングツールの所望位置に取り付けると同時に他
の熱電対をそれと反対側に取り付けてなる温度検知手段
とを採用した。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図示の実施例とともに本発
明の実施の形態について説明する。図1が、本発明に係
るボンディングツールを有するボンディング装置の概要
を示す斜視図であり、該ボンディング装置は、ボンディ
ング対象チップである半導体チップ3を、加熱及び加圧
して基板2に接合するボンディングツール1、ボンディ
ングツール1の先端に装着され、半導体チップ3を吸着
保持するツールヘッド4を有する。
【0010】ボンディングツール1は、図示されていな
いZ軸駆動機構及びΘ軸駆動機構により、基板2に対し
て上下方向の移動及び水平方向の角度調整可能とされて
いる。尚、基板2は、図示されていない基板ステージに
てXY軸方向に移動可能とされている。
【0011】本実施例において、ボンディングツール1
は、電気抵抗の大きい炭化珪素の熱圧着用セラミックか
らなるものを利用している。この素材は電気抵抗が非常
に大きく、小さな電圧で大きな熱量を得られるため選定
されているが、ボンディングツール1の素材は加熱に適
する素材であればよく、セラミック以外の材質のボンデ
ィングツールでもよい。尚、ツールヘッド4は半導体チ
ップ3に対応して交換可能なもので、従来より利用され
ているものである。
【0012】ボンディングツール1には、複数に分岐さ
せた電力供給手段であるケーブル5からボンディングツ
ール1に直接電力を供給してボンディングツール1自体
を加熱する。図1に従って説明すれば、ボンディングツ
ール1には、加熱電力供給用のケーブル5が、図1中左
右より接続されている。更に、ボンディングツール1に
は、図1中左右両側より熱電対21、22が接続されて
いる。
【0013】温度検知手段は、対になった熱電対からな
り、対の一方の熱電対をボンディングツール1の所望位
置に取り付けると同時に他の熱電対をそれと反対側に取
り付けてなる。第一の熱電対と第二の熱電対をともに温
度フィードバックとして制御に用い、第一の熱電対と第
二の熱電対の起電力の差に閾値を設けるような比較回路
を追加することにより加熱不良を検出する。
【0014】図2は、第一実施例に係るボンディングツ
ール1を下面より観察した状態の説明図であり、電源6
から図中左右に分かれたケーブル5は、ボンディングツ
ール1手前で二股に分岐し、ボンディングツール1の左
右の側面の端近くに設けられた四つの電極、すなわち第
1の電極11、第二の電極12、第三の電極13、及び
第四の電極14に接続されている。
【0015】図2では電極11,12,13,14は、
ボンディングツール1の側面(図1中左右の側面)に設
けられているが、図7に示す第六実施例のようにボンデ
ィングツール1の先端面に設けられていても良く、図示
されていないが、ボンディングツール1の前後側面に設
けられていても良い。
【0016】そして、図2の例では熱電対は二つ用いら
れており、第一の電極11と第二の電極12の中間位置
のボンディングツール1側面に第一の熱電対21が取り
付けられており、反対側の面となる第三の電極13と第
四の電極14との中間位置に第二の熱電対22が取り付
けられている。これにより第一の熱電対21により第一
の電極11と第二の電極12の接続不良が検出可能とな
り、第二の熱電対22により第三の電極13と第四の電
極14の接続不良が検出可能となる。
【0017】図3は、第二実施例に係るボンディングツ
ール1を下面より観察した状態の説明図であり、第一実
施例との差は、熱電対21、22の取付位置の相違であ
る。すなわち、熱電対は二つ用いられており、第一の電
極11と第三の電極13との中間位置のボンディングツ
ール1側面に第一の熱電対21が取り付けられており、
反対側の面となる第二の電極12と第三の電極13との
中間位置に第二の熱電対22が取り付けられている。こ
れにより第一の熱電対21により第一の電極11と第三
の電極13の接続不良が検出可能となり、第二の熱電対
22により第二の電極12と第四の電極14の接続不良
が検出可能となる
【0018】図4は、第三実施例を示す説明図であり、
この実施例では4つの熱電対21,22,23,24が
用いられており、第一の熱電対21は、第一の電極11
の近くに、第二の熱電対22は第二の電極12の近く
に、第三の熱電対23は第三の電極13の近くに、第四
の熱電対24は第四の電極14の近くに取り付けられて
いる。各電極11、12、13、14に対応した熱電対
21、22、23、24が、それらの接続不良を検出す
る。
【0019】図5は、第四実施例に係るボンディングツ
ール1を下面より観察した状態の説明図であり、熱電対
は4つ用いられており、第一の電極11と第二の電極1
2の中間位置のボンディングツール1側面に第一の熱電
対21が取り付けられており、反対側の面となる第三の
電極13と第四の電極14との中間位置に第二の熱電対
22が取り付けられている。更に、第一の電極11と第
三の電極13との中間位置のボンディングツール1側面
に第三の熱電対23が取り付けられており、反対側の面
となる第二の電極12と第三の電極13との中間位置に
第四の熱電対24が取り付けられている。
【0020】図6は第五実施例を示す説明図であり、図
4に示される第三実施例の変形である。この実施例では
4つの熱電対21,22,23,24が、4つの電極1
1,12,13,14の近くに取り付けられている点は
図4の例と同じであるが、図4の実施例が、電極11,
12,13,14と熱電対21、22,23,24が、
同一側面に存在するが、図6の実施例では、これらが異
なる側面に存在する点で異なっている。各電極11、1
2、13、14に対応した熱電対21、22、23、2
4が、それらの接続不良を検出する。
【0021】
【発明の効果】本発明は、ボンディング対象チップを加
熱及び加圧して基板等に接合するボンディングツールに
おいて、複数に分岐させた電力供給手段からボンディン
グツールに直接電力を供給してボンディングツール自体
を加熱する手段を採用したとしても、一方の熱電対をボ
ンディングツールの所望位置に取り付けると同時に他の
熱電対をそれと反対側に取り付けてなるので、熱電対の
起電力の差より表面温度の不均一を判定可能となった。
【0022】その結果、熱圧着半導体チップの接合不良
が検知でき、更に、直接加熱されるボンディングツール
の損傷を未然に防止できるものとなった。
【0023】尚、実施例の効果ではあるが、第三の熱電
対、第四の熱電対を追加し、平衡回路を組むことにより
温度分布の不均一場所を推定することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ボンディング装置の概要を示す斜視図
【図2】第一実施例を下面より観察した状態の説明図
【図3】第二実施例を下面より観察した状態の説明図
【図4】第三実施例を下面より観察した状態の説明図
【図5】第四実施例を下面より観察した状態の説明図
【図6】第五実施例を下面より観察した状態の説明図
【図7】第六実施例を下面より観察した状態の説明図
【図8】従来のボンディング装置の概要を示す斜視図
【図9】従来のボンディングツールを下面より観察した
状態の説明図
【符号の説明】
1....ボンディングツール 2....基板 3....半導体チップ 4....ツールヘッド 5....ケーブル 6....電源 11....第一の電極 12....第二の電極 13....第三の電極 14....第四の電極 21....第一の熱電対 22....第二の熱電対 23....第三の熱電対 24....第四の熱電対

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボンディング対象チップを加熱及び加圧し
    て基板等に接合するボンディングツールにおいて、複数
    に分岐させた電力供給手段からボンディングツールに直
    接電力を供給してボンディングツール自体を加熱する手
    段と、対になった熱電対からなり、対の一方の熱電対を
    ボンディングツールの所望位置に取り付けると同時に他
    の熱電対をそれと反対側に取り付けてなる温度検知手段
    を有することを特徴とするボンディングツール。
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