JPH11101895A - 放射線検出装置の製造方法 - Google Patents
放射線検出装置の製造方法Info
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- JPH11101895A JPH11101895A JP25990797A JP25990797A JPH11101895A JP H11101895 A JPH11101895 A JP H11101895A JP 25990797 A JP25990797 A JP 25990797A JP 25990797 A JP25990797 A JP 25990797A JP H11101895 A JPH11101895 A JP H11101895A
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Abstract
又はそれらの界面で、光が、散乱吸収されることがな
く、厚くしても光の伝達効率が低下しない、高感度な蛍
光板を備えた放射線検出装置を得る。 【解決手段】 前記単結晶蛍光体102を第1の基板1
01に設ける工程と、前記単結晶蛍光体102を研磨す
る工程と、少なくとも光電変換素子、スイッチング素
子、容量素子、配線を作成した第2の基板上に前記第1
の基板上の単結晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、前記
貼り合わせた後、前記第1の基板を取り去る工程と、を
有することを特徴とする放射線検出装置の製造方法。
Description
製造方法に関し、特に、高感度大面積の放射線検出装置
を容易に製造しうる放射線検出装置の製造方法に関す
る。
めには、X線を可視光に変換するための蛍光体と、その
蛍光体から発した光を検出する画像読取装置の組み合わ
せからなる放射線検出装置が用いられる。このような放
射線検出装置は、医療でも用いられ、例えば胸部撮影用
のX線検出装置を作製する場合、2次元の画像読取装置
に蛍光板(蛍光体の粉体からなり、板状の蛍光体)を貼
り合わせる構成が知られている。X線胸部撮影では大面
積が必要であり、蛍光板は、その点、均一な厚さで大面
積のものが容易に手に入るため、利用し易い。
り合わせ、2次元放射線検出装置を作製する従来の例を
説明する。
リコンを用いた光電変換素子、薄膜トランジスタ等を2
次元に配置したものが大面積の画像読取装置として使わ
れる。
画素分の構造を示す図であり、(a)は平面図、(b)
は、平面図(a)のA−B断面図を示す。
部、T11は光電変換素子駆動用薄膜トランジスタ部で
ある。また、901はガラス基板、902は水素化非晶
質窒化シリコン層のゲート絶縁膜、903はイントリン
シック水素化非晶質シリコン層、904はN+ 型水素化
非晶質シリコン層、905はドレイン電極、906は保
護層、908はゲート電極、909はソース電極、91
0は接着剤、911は蛍光体粒子、912はバインダ
ー、913は基台である。
画像読取装置上に、蛍光板を接着剤で貼り合わせ、2次
元放射線検出装置を作製していた。
来例において、蛍光板は、図22に示されるように、蛍
光体の粉体911を樹脂のバインダー912で練り合わ
せ、これを基台913の上に塗布することで作成され
る。そのため、蛍光体911の充填率が低く、その分X
線の利用効率も低くなってしまうという欠点があった。
げようとすると蛍光板全体が脆くなり、取扱いが困難に
なる。
を吸収し発生した光が、バインダや粉体、あるいはそれ
らの界面で散乱吸収され、厚くしすぎると光の伝達効率
が低下するという欠点を持っていた。
ではX線の利用効率が低く、出力の光量が少ないので感
度が低くなってしまう。
使う場合、X線量を大幅に上げることはできないため、
その感度が低いということは問題であった。
光を利用する光電変換素子自体に非常な高感度が要求さ
れるなどの課題が発生していた。
うに、蛍光板中のバインダや粉体、又はそれらの界面
で、光が、散乱吸収されることがなく、厚くしても光の
伝達効率が低下しない、高感度な蛍光体を備えた放射線
検出装置を得ることにある。
を高め、それにより放射線の利用効率が高く、取り扱い
が容易で、感度を上げるべく厚くしても、光の伝達効率
が低下しない、高感度な蛍光板を備えた放射線検出装置
を得ることにある。
決するための手段として、単結晶蛍光体を第1の基板に
設ける工程と、前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、前
記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像読取装
置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の単結晶
蛍光体面を貼り合わせる工程と、前記貼り合わせた後、
前記第1の基板を取り去る工程と、を有することを特徴
とする放射線検出装置の製造方法を提供するものであ
る。
熱可塑性接着剤を用いた材料により貼り合わせる工程
と、前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、前記単結晶蛍
光体が発する光を電気に変換する画像読取装置を形成し
た第2の基板上に前記第1の基板上の単結晶蛍光体面を
貼り合わせる工程と、前記貼り合わせた後、熱を加える
ことにより前記熱可塑性接着剤を軟化し、前記第1の基
板を取り去る工程と、を有することを特徴とする放射線
検出装置の製造方法でもある。
粘着剤を有するウエハシートを介して貼り合わせる工程
と、前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、前記単結晶蛍
光体が発する光を電気に変換する画像読取装置を形成し
た第2の基板上に前記第1の基板上の単結晶蛍光体面を
貼り合わせる工程と、前記貼り合わせた後、前記第1の
基板及び前記ウエハシートを取り去る工程と、を有する
ことを特徴とする放射線検出装置の製造方法でもある。
板及び前記ウエハシートを取り去る工程、が、前記貼り
合わせた後、前記第1の基板を取り去り、前記ウエハシ
ートを前記単結晶蛍光体上に残す工程、であることを特
徴とする放射線検出装置の製造方法でもある。
少なくとも片面に金属膜を有する粘着シートを介して貼
り合わせる工程と、前記単結晶蛍光体を研磨する工程
と、前記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像
読取装置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の
単結晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、前記貼り合わせ
た後、前記第1の基板を取り去り、前記金属膜を有する
シートを前記単結晶蛍光体上に残す工程と、を有するこ
とを特徴とする放射線検出装置の製造方法でもある。
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の放射
線検出装置の製造方法でもある。
第一の電極層、第一導電型のキャリアおよび第一導電型
と異なる第二導電型のキャリアの通過を阻止する第一の
絶縁層、光電変換半導体層、第二の電極層、およびこの
第二の電極層と前記光電変換層との間にあって前記光電
変換層への第一導電型のキャリアの注入を阻止する注入
素子層を積層した光電変換素子と、スイッチ素子と、を
有し、前記光電変換素子を2次元的に複数個配置し、前
記光電変換素子毎に前記スイッチ素子を接続すると共
に、前記光電変換素子を複数のブロックに分割し、各ブ
ロック毎に前記スイッチ素子を動作させることにより光
信号を検出する画像読取装置であることを特徴とする放
射線検出装置の製造方法でもある。
動作では、前記第一導電型のキャリアを前記光電変換半
導体層から前記第二の電極層に導く方向に、前記光電変
換素子に電界を与え、光電変換動作では前記光電変換半
導体層に入射した光により発生した前記第一導電型のキ
ャリアを前記光電変換半導体層内に留まらせ、前記第二
導電型のキャリアを前記第二の電極層に導く方向に、前
記光電変換素子に電界を与え、前記光電変換動作により
前記光電変換半導体層に蓄積される前記第一のキャリア
もしくは前記第二の電極層に導かれた第二導電型のキャ
リアを光信号として検出するように制御されることを特
徴とする放射線検出装置の製造方法でもある。
さを持つ蛍光体として、大面積単結晶CsI等の単結晶
蛍光体を用いることにより、100%充填率となり、X
線の利用効率が向上し、放射線検出装置の高感度化がで
きる。
失が低く抑えられ、また非常に高い透過率を有するた
め、X線吸収により発生した可視光の利用効率が向上す
る。
結晶蛍光体の研磨工程を導入したため、単結晶CsI等
の蛍光体の厚さを自由に設定できるようになり、感度、
明細度を最適にする設計が容易になり、その結果、充分
な明細度で高感度な放射線検出装置を作製することがで
きるようになった。
で、作業性が向上する。
の保護層として使えるので、簡略な工程で、貼り合わせ
と保護膜作製を行うことができる。
が作り込まれているので、蛍光体中で発生した光の反射
板としても効果を発揮する。つまり光電変換素子と反対
方向へ進む光は、この金属膜で反射され、光電変換素子
の方向へ入射することになり、利用効率が向上する。
する。
装置の製造工程を示す。
径の単結晶を作製するには、一般にブリッジマン炉を利
用し、単結晶のインゴットとして作製する。インゴット
の大きさとして、本実施例では直径300mm、厚さ1
00mmの単結晶を作った。更にこれから、適当なスラ
イス装置で、厚さ1mmの単結晶CsIウエハーを切り
出した。
Iウエハー102を、厚さ5mmの第1の基板としての
ステンレス基板101に貼り合わせる。
方法があるが、その後の研磨時及び切断時の機械的な力
に耐えられる強度があり、かつ、第2の基板との貼り合
わせ後に、容易に剥すことが可能な貼り合わせ方法であ
れば良く、粘着剤による方法や、真空吸引力による方法
や、熱可塑性接着剤による方法等が可能である。
アクリル系、スチレン系、セルロース系、ポリアミド
系、アルキド系、モノマータイプのシアノアクリレート
系がある。
可塑性接着剤103として、アクリル系接着剤を粉霧装
置で着けて使用した。機械的強度がとれるのに充分な程
度の接着でよい。
ジ105に装着できる構造になっている。この研磨工程
では、単結晶CsIを後に述べるように500μmまで
研磨するので、研磨後の単結晶CsIウエハーを支持す
るために、この基板を用い、これ以後は、この基板ごと
次工程に使う。
表面精度を持っており、このステンレス基板に貼り合わ
せをする場合の樹脂層(接着剤層)の厚さの精度も同程
度に保つ必要がある。
ダーに設置し、厚さ500μmまで単結晶CsIの表面
を回転子104により研磨した。このスライスされた単
結晶CsIウエハーを研磨することにより、放射線検出
装置に最適な膜厚の蛍光体を作り上げることができる。
更に画像読取装置との接着での精度をあげるために平坦
化の研磨もかねる。
結晶CsIウエハーを200mm角の大きさに切り出し
た。このカット工程は研磨工程の前後どちらに入れても
かまわない。本実施例では研磨工程の後に入れた。この
ときステンレス基板はカット装置のステージ107にも
装着できるようになっている。
たまま用いているが、ここで、単結晶CsIのセンサと
反対面(X線側)、つまりステンレス基板側の単結晶C
sI表面に光反射用の金属層を設けることで、発生した
光を有効利用することもできる。この反射膜は、蒸着装
置を使い、金属膜をあらかじめ蒸着しておいてもよい。
あるいは、単結晶CsIを第2の基板との貼り合わせ、
しかる後、第1の基板を単結晶CsIから剥離した後、
この単結晶CsI上に、Al等の金属を含む反射シート
等を更に貼り合わせても良い。
スイッチング素子としての薄膜トランジスタ、容量、配
線を有する画像読取装置を作成した第2の基板としての
ガラス基板108を用意する。これは2次元の画像読取
装置となっている。
らなり、このガラス基板上の光電変換素子に、第1の基
板側の単結晶CsI面を貼り合わせる。この貼り合わせ
は、研磨した蛍光体面を光電変換素子面に相対するよう
に、樹脂系接着剤111で貼りあわせる。接着剤111
としては、本実施例では光電変換素子の保護層と同じ材
料であるポリイミド樹脂を用いた。ポリイミドは熱硬化
性であり、図4に示すように、一度熱を加えて接着硬化
させる。
くと、ここでX線を吸収してしまうので、この基板は取
り去る必要がある。研磨時のステンレス基板と研磨した
単結晶CsIウエハーを接着している熱可塑性接着剤は
熱を加えることで接着力を失うので、熱硬化性のポリイ
ミドが硬化した後、図4に示すように、再度熱を加えな
がら、図5に示すように、ステンレス基板を取り除くこ
とができる。
膜のみを2次元の画像読取装置上に貼り合わせることが
できた。取り除いたステンレス基板は、洗浄後再利用さ
れる。
略を説明する。図6は、2次元画像読取装置の1画素分
の構造を示す図であり、(a)は平面図、(b)は、平
面図(a)のA−B断面図を示す。この画像読取装置
は、図6に示すように、光電変換素子S11、及び薄膜
トランジスタT11で構成されている。SIGは信号配
線である。また、図6において、201はガラス基板、
202は水素化非晶質窒化シリコン層のゲート絶縁膜、
203はイントリンシック水素化非晶質シリコン層、2
04はN+ 型水素化非晶質シリコン層、205はドレイ
ン電極、206は保護層、208はゲート電極、209
はソース電極、210は熱硬化性ポリイミド樹脂系接着
剤、211は研磨後の単結晶CsIウエハ(単結晶蛍光
体)である。
電荷は、薄膜トランジスタT11を通して、蓄積容量に
蓄えられたのち、不図示の読み出し回路で、この電荷を
読み出す。図中MIS型光電変換素子上の212は、N
+ 型水素化非晶質シリコン層であり、窓層として機能し
ている。後述するように、このN+ 型水素化非晶質シリ
コン層は注入阻止層(ブロッキング層)、電極層として
も機能している。
路を示す。MIS型光電変換素子S11、信号転送用と
しての薄膜トランジスタT11で構成されている。さら
にSignは信号配線である。gnは薄膜トランジスタ
のゲート線、D,GはそれぞれMIS型光電変換素子の
上電極、下電極を示す。Cgs,Cgdは薄膜トランジ
スタのゲート電極とソース電極、ドレイン電極との重な
りによる容量である。
電荷は、薄膜トランジスタT11を通して、Cgs,C
gdに蓄えられたのち、不図示の読み出し回路で、この
電荷を読み出す。ここでは1ビットについての場合であ
るが、実際にはこのCgs,Cgdは、このゲート線に
つながった他の薄膜トランジスタのものとの合計であ
る。
は、特願平5−331690号公報において開示された
光電変換素子と同じ原理によるものである。また薄膜ト
ランジスタと光電変換素子はともに同一のプロセスによ
り作成され、ともにMIS型の構造を持っている。
られている光電変換素子の動作について簡単な説明をす
る。
シュモード、光電変換モードの動作を示す光電変換素子
のエネルギーバンド図である。図中の1〜5は各層の厚
さ方向の状態を示している。
極はG電極に対して負の電位が与えられているために、
イントリンシック水素化非晶質シリコン層3内の黒丸で
示されたホールは電界によりD電極に導かれる。同時に
白丸で示された電子はイントリンシック水素化非晶質シ
リコン層3に注入される。このとき一部のホールと電子
はN+ 型水素化非晶質シリコン層2、イントリンシック
水素化非晶質シリコン層3中において再結合して消滅す
る。充分に長い時間この状態が続けば、イントリンシッ
ク水素化非晶質シリコン層3内のホールはイントリンシ
ック水素化非晶質シリコン層3から掃き出される。
と、D電極はG電極に対して正の電位が与えられるため
に、イントリンシック水素化非晶質シリコン層3中の電
子は瞬時にD電極に導かれる。しかし、ホールはN+ 型
水素化非晶質シリコン層2が注入阻止層として働くため
に、イントリンシック水素化非晶質シリコン層3中に導
かれることはない。
質シリコン層3内に光が入射すると、光は吸収され、電
子、ホール対が発生する。この電子は電界により電極に
導かれ、ホールはイントリンシック水素化非晶質シリコ
ン層3内を移動し水素化非晶質窒化シリコン層4の界面
に達するが、ここで阻止されイントリンシック水素化非
晶質シリコン層3内に留まることになる。このとき電子
はD電極に移動し、ホールはイントリンシック水素化非
晶質シリコン層3内の水素化非晶質窒化シリコン層4界
面に移動するため、素子内の電気的中性を保つために、
電流がG電極から流れる。この電流は光により発生した
電子、ホール対に対応するので、入射した光に比例す
る。
す。光電変換素子、駆動用薄膜トランジスタ、配線等は
同一のプロセスにより、同一基板上に形成することがで
きる。回路図中、S11〜S33は光電変換素子を表
し、T11〜T33は光電変換素子駆動用薄膜トランジ
スタである。Vsは読み出し用電源、Vgはリフレッシ
ュ用電源であり、それぞれスイッチSWs,SWgを介
して全光電変換素子S11〜S33の下電極Gに接続さ
れている。スイッチSWsはインバータを介して、スイ
ッチSWgは、直接に、リフレッシュ制御回路RFに接
続されており、リフレッシュ期間はスイッチSWgがO
N、その他の期間はスイッチSWsがONするように制
御されている。信号出力は信号配線SIGにより検出用
集積回路ICに接続されている。
分け、1ブロックあたり3画素の出力を同時に転送し、
この信号は、検出用集積回路によって順次出力に変換さ
れ出力される。説明しやすいように9画素の2次元画像
入力部としたが、実際にはさらに高密度の画素構成とな
っている。たとえば画素サイズを150μm角の大きさ
で、20cm角の画像読取装置を作成した場合、画素数
はおよそ200万画素となる。
光体として単結晶CsIを用いているため、従来の蛍光
板に比べ、充填効率が増え(100%)、また、光の透
過率が高いため、光の散乱がない。そのため、X線の吸
収効率、利用効率が上がり、さらにX線の吸収により発
生した可視光の利用効率も向上するため、充分高感度な
2次元放射線検出装置を提供することができた。
製造方法を示す。
製法は、実施例1と共通なので省略する。この単結晶C
sIウエハーを厚さ5mmの第1のステンレス基板に設
置する。そのために以下の方法をとる。
ウエハー602をウエハーシート603上に貼り合わせ
る。ウエハーシート603は、一般にシリコンウエハー
をスライスする時に使う、粘着剤つきのシートである。
これより同等の働きをするシートをウエハーシートと呼
ぶことにする。本実施例でのウエハーシートは、両面が
ポリアミド系の熱可塑性粘着剤を塗布した形態のものを
用いる。熱可塑性粘着剤に関しては、実施例1で述べた
ようなものが使用できる。引き続きウエハーシートに貼
り合わせた単結晶CsIウエハーを厚さ5mmのステン
レス基板601に貼り合わせる。
ダーに設置し、厚さ500μmまで単結晶CsI602
の表面を研磨する。研磨後グラインダーから基板ごと取
り出し、乾燥させる。
単結晶CsIウエハーを200mm角の大きさに切り出
した。このカット工程は研磨工程の前後どちらに入れて
もかまわない。本実施例では研磨工程の後に入れた。こ
のときステンレス基板はカット装置のステージ607に
も装着できるようになっている。
子、スイッチング素子としての薄膜トランジスタ、容
量、配線を有する画像読取装置を作成した第2の基板と
してのガラス基板608を用意する。
からなる。本実施例で用いられる画像読取装置は実施例
1で用いたものと同じものを用いた。
するように、接着剤611で貼りあわせる。接着剤61
1としては、本実施例では光電変換素子の保護層と同じ
材料のポリイミド樹脂を用いた。ポリイミドは熱硬化性
であり、図13に示すように、一度熱を加え接着硬化さ
せる。
くと、ここでX線を吸収してしまうので、この基板は取
り去る必要がある。研磨時のステンレス基板と研磨した
単結晶CsIウエハーを接着しているウエハーシートの
熱可塑性粘着剤は熱を加えることで接着力を失うので、
熱硬化性接着剤であるポリイミドが硬化した後、再度熱
を加えながら、図14に示すように、ステンレス基板を
取り除くことができる。
る。
膜のみを2次元の画像読取装置上に貼り合わせることが
できた。取り除いたステンレス基板は、洗浄後再利用さ
れる。本実施例ではステンレス基板を剥した後、ウエハ
ーシート603を剥したが、この順番は工程上、適宜変
更してもかまわない。
まま用いているが、ここで、単結晶CsIのセンサと反
対面(X線側)、つまりウエハーシート側に光反射用の
金属層を設けることで、発生した光を有効利用すること
もできる。この反射膜は、蒸着装置を使い、金属膜をあ
らかじめ蒸着してもよい。また単結晶CsIの貼り合わ
せた後にAl等の金属を含む反射シート等を更に貼り合
わせても良い。
光体として単結晶CsIを用いているため、従来の蛍光
板に比べ、充填効率が増え(100%)、また、光の透
過率が高いため、光の散乱がない。そのため、X線の吸
収効率、利用効率が上がり、さらにX線の吸収により発
生した可視光の利用効率も向上し、充分高感度な2次元
放射線検出装置を提供することができた。
作業性が向上した。
製造方法を示す。スライスした単結晶CsIウエハーま
での製法は実施例1と共通なので省略する。
ステンレス基板に設置する。
ウエハー702をウエハーシート703上に貼り合わせ
る。本実施例でのウエハーシート703は、片面にポリ
アミド系熱可塑性粘着剤が塗布されたものを使う。この
粘着剤で単結晶CsIウエハーとウエハーシートを貼り
合わせる。粘着剤としては熱可塑性のものであればかま
わず、実施例1のようなものが使用できる。
わせた単結晶CsIウエハー702を厚さ5mmのステ
ンレス基板701に装着する。装着の方法としては、機
械的に固定してもよいし、真空引きの機構を考えてもよ
い。研磨時に充分な強度でウエハーを保持できればよ
い。
に設置し、厚さ500μmまで単結晶CsIウエハーの
表面を研磨した。研磨後グラインダーから基板ごと取り
出し、乾燥させた。
単結晶CsIウエハーを200mm角の大きさに切り出
した。このカット工程は研磨工程の前後どちらに入れて
もかまわない。本実施例では研磨工程の後に入れた。こ
のときステンレス基板はカット装置のステージにも装着
できるようになっている。
子、スイッチング素子として薄膜トランジスタ、容量、
配線を有する画像読取装置を作成した第2の基板として
ガラス基板708を用意する。
からなる。本実施例で用いた画像読取装置は実施例1で
用いたものと同じものを用いた。
CsIの研磨面が相対するように、樹脂系接着剤711
で貼り合わせた。
くと、ここでX線を吸収してしまうので、この基板は取
り去る必要がある。接着剤硬化後、単結晶CsIウエハ
ーを支持していたステンレス基板を、図18のように加
熱する。ウエハーシートの熱可塑性粘着剤は、熱を加え
ることで、その接着力を失うので、図19のようにステ
ンレス基板のみを取り外すことができる。
ート703を単結晶CsIウエハー上に残すことにな
る。しかる後、このウエハーシート703を単結晶Cs
Iウエハーの表面保護シートとして利用するため、ウエ
ハーの外周部を封止剤712で封止する。
たまま用いているが、ここで、単結晶CsIのセンサと
反対面、つまりウエハーシート側に光反射用の金属層を
設けることで、発生した光を有効に利用することもでき
る。この反射膜は蒸着装置を使い、直接単結晶CsI上
に金属膜をつけてもよいし、また、単結晶CsIを貼り
合わせた後に、ウエハーシート上にアルミシートなどの
反射層を更に加えるなどしても良い。
蛍光体として単結晶CsIを用いているため、従来の蛍
光板に比べ、充填効率が増え(100%)、また、光の
透過率が高いため、光の散乱がない。そのためX線の吸
収効率が上がり、さらにX線の吸収により発生した可視
光の利用効率も向上し、充分高感度な2次元放射線検出
装置を作製することができた。
で、作業性が向上した。
光体の保護層として使えるので、簡略な工程で、貼り合
わせと保護膜作製を行うことができた。
いて説明する。
製法は実施例1と共通なので省略する。
mのステンレス基板に設置する。
ト上に貼り合わせる。本実施例でのウエハーシートは、
片面に熱可塑性粘着剤が塗布されたものを使う。この粘
着剤で単結晶CsIウエハーとウエハーシートを貼り合
わせる。粘着剤としては熱可塑性のものであればかまわ
ず、実施例1のようなものが使用できる。さらにこのウ
エハーシートには金属膜が作り込まれている。どちらの
面に作り込んでもよい。あるいはラミネート構造で金属
膜を挟み込んでもよい。
単結晶CsIウエハーを厚さ5mmのステンレス基板に
装着する。この基板ごとグラインダーに設置し、厚さ5
00μmまで単結晶CsIの表面を研磨した。研磨後グ
ラインダーから基板ごと取り出し、乾燥させた。
を200mm角の大きさに切り出した。このカット工程
は研磨工程の前後どちらに入れてもかまわない。本実施
例では研磨工程の後に入れた。このときステンレス基板
はカット装置のステージにも装着できるようになってい
る。
ての薄膜トランジスタ、容量、配線を有する画像読取装
置を作成したガラス基板を用意する。画像読取装置の部
分は実施例1と同じものを用いた。
CsI研磨面が相対するように、樹脂系接着剤で貼り合
わせる。
くと、ここでX線を吸収してしまうので、この基板は取
り去る必要がある。接着剤硬化後、単結晶CsIウエハ
ーを支持していたステンレス基板を取り外す。
エハー上に残すことになる。しかる後、このウエハーシ
ートを単結晶CsIウエハーの表面保護シートとして利
用するため、ウエハーの外周部を封止剤で封止する。
反射膜(金属膜804)付き保護シート(ウエハーシー
ト805)を、単結晶CsIの上に付けた形で放射線検
出装置を作製することができた。
蛍光体として単結晶CsIを用いているため、従来の蛍
光板に比べ、充填効率が増え(100%)、また、光の
透過率が高いため、光の散乱がない。そのため、X線の
吸収効率が上がり、さらにX線の吸収により発生した可
視光の利用効率も向上し、充分高感度な2次元放射線検
出装置を作製することができた。
で、作業性が向上した。
の保護層として使えるので、簡略な工程で、貼り合わせ
と保護膜作製を行うことができた。
が作り込まれているので、蛍光体中で発生した光の反射
板としても効果を発揮する。つまり光電変換素子と反対
方向へ進む光は、この金属膜で反射され、光電変換素子
の方向へ入射することになり、利用効率が向上した。
した。
最適化された厚さを持つ蛍光体として、大面積単結晶C
sIを用いるので、100%充填率となり、X線の利用
効率が向上し、放射線検出装置の高感度化ができる。
失が低く抑えられ、また非常に高い透過率を有するた
め、X線吸収により発生した可視光の利用効率が向上す
る。
磨工程を導入したため、単結晶CsIの厚さを自由に設
定できるようになり、感度、明細度を最適にする設計が
容易になり、その結果、充分な明細度で高感度な放射線
検出装置を作製することができるようになった。
り、作業性が向上する。
の保護層として使えるので、簡略な工程で、貼り合わせ
と保護膜作製を行うことができる。
を用いることにより、蛍光体中で発生した光の反射板と
しても効果を発揮する。つまり光電変換素子と反対方向
へ進む光は、この金属膜で反射され、光電変換素子の方
向へ入射することになり、利用効率が向上する。
する。
大面積放射線検出装置を、簡易なプロセスで容易に提供
することができた。
工程を示す斜視図である。
工程を示す斜視図である。
工程を示す斜視図である。
工程を示す斜視図である。
工程を示す斜視図である。
素の平面図(a)、及びそのA−B断面図(b)であ
る。
ド図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造工程を示す斜視図である。
造方法を示す斜視図である。
断面図(b)である。
ガラス基板 101,601,701 ステンレス基板 102,602,702 単結晶CsIウエハ 110,211,610,710,803 研磨後の
単結晶CsIウエハ 103 熱可塑性樹脂(熱可塑性接着剤) 603,703,805 ウエハシート 105,605,705 グラインダステージ 106,606,706 カッティングブレード 107,607,707 カッティング装置ステージ 111,611,711,910 接着剤 H 加熱 109,609,709,802 光電変換素子等の
層 712 封止剤 804 金属層 208,908 ゲート電極 202,902 水素化非晶質窒化シリコン層のゲー
ト絶縁膜 203,903 イントリンシック水素化非晶質シリ
コン層 204,904 N+ 型水素化非晶質シリコン層 209,909 ソース電極 205,905 ドレイン電極 206,906 保護層 911 蛍光体粒子 912 バインダー 913 基台
Claims (8)
- 【請求項1】 単結晶蛍光体を第1の基板に設ける工程
と、 前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、 前記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像読取
装置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の単結
晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、 前記貼り合わせた後、前記第1の基板を取り去る工程
と、を有することを特徴とする放射線検出装置の製造方
法。 - 【請求項2】 単結晶蛍光体を、第1の基板上に、熱可
塑性接着剤を用いた材料により貼り合わせる工程と、 前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、 前記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像読取
装置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の単結
晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、 前記貼り合わせた後、熱を加えることにより前記熱可塑
性接着剤を軟化し、前記第1の基板を取り去る工程と、
を有することを特徴とする放射線検出装置の製造方法。 - 【請求項3】 単結晶蛍光体を、第1の基板上に、粘着
剤を有するウエハシートを介して貼り合わせる工程と、 前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、 前記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像読取
装置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の単結
晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、 前記貼り合わせた後、前記第1の基板及び前記ウエハシ
ートを取り去る工程と、 を有することを特徴とする放射線検出装置の製造方法。 - 【請求項4】 前記貼り合わせた後、前記第1の基板及
び前記ウエハシートを取り去る工程、が、 前記貼り合わせた後、前記第1の基板を取り去り、前記
ウエハシートを前記単結晶蛍光体上に残す工程、である
ことを特徴とする請求項3記載の放射線検出装置の製造
方法。 - 【請求項5】 単結晶蛍光体を、第1の基板上に、少な
くとも片面に金属膜を有する粘着シートを介して貼り合
わせる工程と、 前記単結晶蛍光体を研磨する工程と、 前記単結晶蛍光体が発する光を電気に変換する画像読取
装置を形成した第2の基板上に前記第1の基板上の単結
晶蛍光体面を貼り合わせる工程と、 前記貼り合わせた後、前記第1の基板を取り去り、前記
金属膜を有するシートを前記単結晶蛍光体上に残す工程
と、を有することを特徴とする放射線検出装置の製造方
法。 - 【請求項6】 前記単結晶蛍光体がCsIからなること
を特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の放射線検
出装置の製造方法。 - 【請求項7】 前記画像読取装置は、 絶縁基板上に第一の電極層、第一導電型のキャリアおよ
び第一導電型と異なる第二導電型のキャリアの通過を阻
止する第一の絶縁層、光電変換半導体層、第二の電極
層、およびこの第二の電極層と前記光電変換層との間に
あって前記光電変換層への第一導電型のキャリアの注入
を阻止する注入素子層を積層した光電変換素子と、スイ
ッチ素子と、を有し、 前記光電変換素子を2次元的に複数個配置し、前記光電
変換素子毎に前記スイッチ素子を接続すると共に、前記
光電変換素子を複数のブロックに分割し、各ブロック毎
に前記スイッチ素子を動作させることにより光信号を検
出する画像読取装置であることを特徴とする請求項1〜
6のいずれかに記載の放射線検出装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記スイッチ素子は、リフレッシュ動作
では、前記第一導電型のキャリアを前記光電変換半導体
層から前記第二の電極層に導く方向に、前記光電変換素
子に電界を与え、光電変換動作では前記光電変換半導体
層に入射した光により発生した前記第一導電型のキャリ
アを前記光電変換半導体層内に留まらせ、前記第二導電
型のキャリアを前記第二の電極層に導く方向に、前記光
電変換素子に電界を与え、前記光電変換動作により前記
光電変換半導体層に蓄積される前記第一のキャリアもし
くは前記第二の電極層に導かれた第二導電型のキャリア
を光信号として検出するように制御されることを特徴と
する請求項7記載の放射線検出装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25990797A JP4444380B2 (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線検出装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25990797A JP4444380B2 (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線検出装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11101895A true JPH11101895A (ja) | 1999-04-13 |
JP4444380B2 JP4444380B2 (ja) | 2010-03-31 |
Family
ID=17340597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25990797A Expired - Fee Related JP4444380B2 (ja) | 1997-09-25 | 1997-09-25 | 放射線検出装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4444380B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001311779A (ja) * | 2000-03-07 | 2001-11-09 | Marconi Medical Systems Inc | X線検出器 |
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-
1997
- 1997-09-25 JP JP25990797A patent/JP4444380B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4593806B2 (ja) * | 2001-02-09 | 2010-12-08 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置の製造方法、蛍光板の製造方法及び放射線検出装置の製造装置 |
WO2007023670A1 (ja) * | 2005-08-23 | 2007-03-01 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 放射線画像変換パネル及びその製造方法 |
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