JP2004146778A - 光電変換装置及びその製造方法 - Google Patents

光電変換装置及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2004146778A
JP2004146778A JP2003140388A JP2003140388A JP2004146778A JP 2004146778 A JP2004146778 A JP 2004146778A JP 2003140388 A JP2003140388 A JP 2003140388A JP 2003140388 A JP2003140388 A JP 2003140388A JP 2004146778 A JP2004146778 A JP 2004146778A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
substrate
conversion device
conversion element
information reading
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003140388A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4364553B2 (ja
Inventor
Yoshihiro Izumi
和泉 良弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2003140388A priority Critical patent/JP4364553B2/ja
Priority to US10/516,091 priority patent/US7211880B2/en
Priority to AU2003298995A priority patent/AU2003298995A1/en
Priority to PCT/JP2003/008628 priority patent/WO2004027874A1/en
Priority to KR1020047020528A priority patent/KR100759644B1/ko
Priority to TW092119828A priority patent/TWI238527B/zh
Publication of JP2004146778A publication Critical patent/JP2004146778A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4364553B2 publication Critical patent/JP4364553B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14678Contact-type imagers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. phototransistors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/024Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
    • H04N1/028Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up

Abstract

【課題】保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くするとともに、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】画像読み取り装置10は、情報読取面の裏面に複数の光電変換素子2を形成した光電変換素子形成基板4と、光電変換素子形成基板4の複数の光電変換素子2に対向して接着樹脂5にて一体化するように貼り合わされた支持基板1とを備える。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、原稿、写真、名刺等の情報を読み取ることができる光電変換装置及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、基板上に光電変換手段(フォトダイオード、フォトトランジスタ等)とスイッチング素子(薄膜トランジスタ等)をライン状、又は2次元状に多数配列させた密着型の光電変換装置としてのイメージセンサが開発されている。
【0003】
この種のイメージセンサとして、例えば、特許文献1及び特許文献2に開示されているアクティブマトリクス型画像読取装置がある。
【0004】
上記アクティブマトリクス型画像読取装置は、図14に示すように、XYマトリクス状に画素が配列されたアクティブマトリクスアレイの各画素81…には、光電変換素子である光センサ用TFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)82とスイッチング素子であるスイッチング用TFT83とがそれぞれ備えられている。各画素81…の光センサ用TFT82は、原稿面等の被写体の白/黒(明/暗)によって電気特性が変化する仕組みになっている。
【0005】
具体的には、光センサ用TFT82として用いられているフォトトランジスタの抵抗値が光の明/暗によって変化するため、それに伴って、各フォトトランジスタに接続されている画素容量(蓄積容量)に蓄積される電荷量又は電圧が変化する。そして、その画素容量の電荷量分布又は電圧分布を、スイッチング用TFT83によって順次読み出すことにより、被写体の2次元情報を得ることができる。
【0006】
上記の密着型の光電変換装置では、例えば、特許文献3に開示しているように、1次元のラインセンサ用光電変換装置、2次元のエリアセンサ用光電変換装置にかかわらず、基板上に薄膜フォトトランジスタ又はフォトダイオード、フォトコンダクタ等からなる光電変換手段を形成した後、その上に透光性を有する保護層を形成する必要がある。
【0007】
この保護層は、半導体素子からなる光電変換手段の保護を目的として設けられる。
【0008】
具体的には、図15に示すように、光電変換素子91が形成された光電変換素子形成基板92と、マイクロガラスシート等の薄いガラス基板からなる保護層93が、接着樹脂94を介して貼り合わされている。
【0009】
この場合、光電変換素子91が形成された光電変換素子形成基板92の外側(同図において下側)にバックライトとなる光源95を設置し、保護層93側の外側に読み取り対象原稿が設置される。光源95から発せられた光は、光電変換装置の開口部(透光部)を通過し、原稿に照射される。原稿に照射された光は、原稿面で反射された後、光電変換素子91に入射する仕組みになっている。
【0010】
【特許文献1】
実開平2−8055号公報(1990年1月18日公開)
【0011】
【特許文献2】
特開平5−243547号公報(1993年9月21日公開)
【0012】
【特許文献3】
特開平6−350070号公報(1994年12月22日公開)
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の光電変換装置及びその製造方法では、以下のような問題が生じる。
(1)光電変換装置の高精細化が求められる場合、それに伴って保護層(マイクロガラスシート)の厚みを薄くしていく必要がある。例えば、300dpiの画素密度を有する光電変換装置の場合、画素ピッチが約85μmとなるが、保護層の厚みをそれ以下の50μm程度に設定してやらないと、原稿で反射された光の画素間のクロストークが激しくなってしまい画像がボケてしまう。500dpiの画素密度の場合は、画素ピッチが約50μmとなり、さらに薄い30μm程度の厚みの保護層が求められる。
【0014】
ところが、このような薄い保護層を従来のようにマイクロガラスシートにて形成しようとすると、マイクロガラスシートが破損し易く取り扱いが困難な上、ゆがみ易いため、光電変換素子が形成された基板上に接着樹脂を介して平坦に貼り付けることが難しくなる。したがって、マイクロガラスシートの貼り合せプロセスを無くした光電変換装置の構造や製法が求められる。
(2)また、光電変換素子が形成された基板には、光電変換素子の他にもスイッチング素子等がマトリクス状又はライン状に多数形成されており、基板の周辺部にはこれらのスイッチング素子を駆動する駆動LSI(Large Scale Integration )や、光電変換素子からの得られる電気情報を読み出す読出しLSIやフレキシブル基板(FPC)を実装する必要がある。
【0015】
なお、LSIを基板周辺に実装する際には、LSIチップを直接基板上に実装するCOG(Chip On Glass)方式や、予めLSIが実装されたテープを実装するTCP(Tape Carrier Package)方式がある。COG方式やTCP方式でLSIを実装する場合、又はFPC(Flexible Printed Circuit)を実装する場合、これらの実装部分を保護するカバーを設ける必要があるために、結果的に、撮像領域に設けられている保護層よりも、周辺の実装領域の方が表面に出っ張ることになる。
【0016】
密着型の光電変換素子の場合、原稿を上述の保護層に密着させて画像を読み取る必要があるが、原稿のサイズが大きい場合には、この実装部分の出っ張りが、原稿と保護層の密着を妨げることになり、入力画像が歪んだりボケたりし、問題である。したがって、原稿撮像面、つまり保護層が形成されている面に、LSIやFPCの実装部分が存在しない光電変換装置の構造や製法が求められる。
【0017】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くするとともに、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置及びその製造方法を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
本発明の光電変換装置は、上記課題を解決するために、情報読取面の裏面に複数の光電変換素子を形成した光電変換素子形成基板と、上記光電変換素子形成基板の複数の光電変換素子に対向して接着部材にて一体化するように貼り合わされた支持基板とを備えたことを特徴としている。
【0019】
上記の発明によれば、光電変換素子形成基板には複数の光電変換素子が形成されているとともに、この光電変換素子形成基板の複数の光電変換素子に対向して支持基板が接着部材にて一体化するように貼り合わされている。
【0020】
したがって、この構成では、光電変換素子を形成するための光電変換素子形成基板の裏面が情報読取面となっており、光電変換素子形成基板が原稿画像への接触に対する保護基板の役割を兼用している。
【0021】
このため、従来のように保護作用をもたらすマイクロガラスシートを別途準備して、光電変換素子形成基板に貼り合わせる必要がなくなる。
【0022】
この結果、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし得る光電変換装置を提供することができる。
【0023】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記支持基板は、前記光電変換素子形成基板よりも厚いことを特徴としている。
【0024】
上記の発明によれば、光電変換素子形成基板の厚みが薄い場合であっても、支持基板によって構造的に補強することが可能となる。
【0025】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子の駆動に必要な半導体集積回路(IC:Integrated Circuit)が、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されていることを特徴としている。
【0026】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子の駆動に必要なTCP(Tape Carrier Package)及び/又はFPC(Flexible Printed Circuit)が、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されていることを特徴としている。
【0027】
上記の発明によれば、光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面には、複数の光電変換素子の駆動に必要な半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPCが実装されている。
【0028】
したがって、半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPCが情報読取面の裏面側に形成されることになる。このため、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面への半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0029】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置を提供することができる。
【0030】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子は半導体層を含み、前記光電変換素子形成基板と前記半導体層との間に透光部が存在することを特徴としている。
【0031】
上記の発明によれば、半導体層を含み、前記光電変換素子形成基板と前記半導体層との間に透光部が存在する。このため、原稿画像の読み取りに際して、金属電極が読み取りの障害とならない。
【0032】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記光電変換素子形成基板の情報読取面に、X線を光に変換するX線光変換膜が設けられていることを特徴としている。
【0033】
上記の発明によれば、光電変換素子形成基板の情報読取面に、X線を光に変換するX線光変換膜が設けられている。したがって、光電変換装置をいわゆる間接変換方式のX線の撮像装置として使用することができる。
【0034】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記光電変換素子形成基板と前記支持基板との間に表示媒体を備えるとともに、上記光電変換素子形成基板の光電変換素子形成面に、上記表示媒体を駆動するためのアクティブ素子を備えていることを特徴としている。
【0035】
上記の発明によれば、光電変換素子形成基板と前記支持基板との間に表示媒体を備えるとともに、この表示媒体をアクティブ素子にて駆動するので、一つの画面で画像の読み取り(入力)と表示(出力)を行なうことができる光電変換装置を実現することができる。
【0036】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体は、液晶であることを特徴としている。
【0037】
上記の発明によれば、液晶を光電変換素子形成基板と支持基板との間に封入することが可能であり、支持基板を、液晶を駆動するための共通電極を備えた対向基板として有効に利用することができる。
【0038】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体である液晶の表示モードは、偏光子不要の表示モードであることを特徴としている。なお、上記偏光子を使用しない液晶表示モードとして、例えば、ゲストホスト(GH)モード、動的散乱(DS)モード、相転移(PC)モード、高分子分散型液晶(PDLC)モード等が有る。
【0039】
上記の発明によれば、光電変換素子形成面から原稿等の読み取り対象物までの間に偏光子の設置が必要ないので、光電変換素子と読み取り対象物との隙間を最小限に短くすることができ、画像のボケの少ない光電変換装置を実現することができる。
【0040】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記支持基板の、光電変換素子形成基板とは反対側に光源を備えるとともに、上記光源は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用されることを特徴としている。
【0041】
上記の発明によれば、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用される光源を設けることによって、バックライトとしての光源が一組しか必要なく、部材コストを削減することが可能になる。
【0042】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体は、EL(Electro Luminescence)素子であることを特徴としている。
【0043】
上記の発明によれば、EL素子を用いた表示(出力)を行なうことができる。また、EL素子が光電変換素子形成基板と支持基板との間に封入される構造になるため、支持基板をEL素子のバリア層、つまりEL素子の信頼性に悪影響を与える外気や水分の流入を遮断する層(膜)として有効に利用することが可能になる。
【0044】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記EL素子は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の発光素子との両用途に兼用されることを特徴としている。
【0045】
上記の発明によれば、EL素子は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の発光素子との両用途に兼用されるので、別途に光源を設ける必要がなく、これによって、部材コストを削減することが可能になる。
【0046】
本発明の光電変換装置の製造方法は、上記課題を解決するために、情報を読み取る光電変換装置の製造方法において、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC:Integrated Circuit)を実装する実装工程と、上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含むことを特徴としている。
【0047】
上記の発明によれば、まず、実装工程において、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC)を実装する。次いで、貼合工程において、上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる。その後、加工工程において、第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する。
【0048】
したがって、従来存在した、保護基板としてマイクロガラスシートの貼り合せせるプロセスを無くすことができるので、光電変換装置を簡単に製造することができる。
【0049】
また、従来では、薄く形成したマイクロガラスシートを保護基板として貼り合わせていたので、その薄く形成したマイクロガラスシートを取り扱うときに、マイクロガラスシートの破損等を招いていた。
【0050】
しかし、本発明では、先に光電変換素子を形成した光電変換素子形成基板の裏面を削って薄くするので、光電変換素子形成基板の破損が防止される。したがって、製品の歩留まりの低減を防止することができる。
【0051】
したがって、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができる。
【0052】
また、本発明では、実装工程において、複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC)までも実装する。このため、半導体集積回路(IC)が情報読取面の裏面側に形成されることになる。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面への半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0053】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置の製造方法を提供することができる。
【0054】
本発明の光電変換装置の製造方法は、上記課題を解決するために、情報を読み取る光電変換装置の製造方法において、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要なTCP(TapeCarrier Package)及び/又はFPC(Flexible Printed Circuit)を実装する実装工程と、上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含むことを特徴としている。
【0055】
上記の発明によれば、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができる。
【0056】
また、本発明では、実装工程においては、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要なTCP及び/又はFPCまで実装される。
【0057】
このため、TCP及び/又はFPCが情報読取面の裏面側に形成されることになる。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのTCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0058】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置の製造方法を提供することができる。
【0059】
本発明の光電変換装置の製造方法は、上記記載の光電変換装置の製造方法において、前記第1基板がガラス材からなり、前記加工工程における第1基板の研磨工程が、化学研磨加工であることを特徴としている。
【0060】
上記の発明によれば、第1基板がガラス材からなっている。そして、加工工程における第1基板の研磨工程は化学研磨加工である。すなわち、第1基板をガラス材としている場合には、第1基板の裏面を薄く加工するときに化学研磨加工を適用することができる。この化学研磨加工は、液に第1基板を浸漬することにより、化学的にガラス材を侵食して薄くするので、加工を静的に行うことができる。したがって、物理的な研磨等に比べて、加工時の製品の破損が少ない。
【0061】
この結果、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができる。
【0062】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態1〕
本発明の実施の一形態について図1ないし図4に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0063】
本実施の形態の光電変換装置としての画像読み取り装置10は、図1に示すように、支持基板1と、光電変換素子2及びスイッチング素子3が形成された光電変換素子形成基板4が接着部材としての接着樹脂5にて貼り合わされた構造をなしており、この光電変換素子形成基板4の厚みが支持基板1の厚みより薄い点に特徴がある。
【0064】
具体的には、光電変換素子形成基板4は、50μm程度の厚みの基板から構成されているのに対し、支持基板1は、0.5〜2mm程度の厚みの基板から構成されている。このため、光電変換素子形成基板4を原稿と接する面の保護基板として使用することが可能となる。すなわち、従来の図11に示した光電変換装置と比べると、保護基板としてマイクロガラスシートの代わりに光電変換素子形成基板4を用いた構造になっている。そして、バックライトからなる光源6側には、薄い光電変換素子形成基板4を支える支持基板1を設置している。なお、光電変換素子2の画素アレイは、1次元でも2次元でも良い。
【0065】
上記構成を有する画像読み取り装置10の形成プロセスを、図2(a)〜(d)に基いて説明する。
【0066】
図2(a)に示すように、先ず、通常通りに、例えば0.7mm厚のガラス基板からなる第1基板21上に、光電変換素子2を含む画素アレイを形成する。各画素には、例えば、フォトダイオード、フォトトランジスタ、又はフォトコンダクタ等の光電変換素子2の他に、この光電変換素子2に接続されたTFT等のスイッチング素子3や、図示しない蓄積容量等が形成されている。光電変換素子2には、可視光を受光する場合、アモルファスシリコン膜を半導体膜つまり光導電膜として用いることが好ましい。また、スイッチング素子3には、アモルファスシリコンやポリシリコンを用いたTFTが好ましい。
【0067】
なお、第1基板21の裏面、つまり光電変換素子2が形成されている面とは反対の面から入射する光を検知できるように、図3に示すように、光電変換素子2の構造つまり向きを最適化しておく必要がある。すなわち、例えば、光電変換素子2として、透明電極22と金属電極23との間に半導体層24が挟まれた構造の積層型ダイオードを用いる場合、第1基板21上に、透明電極22が下層で金属電極23が上層となるようにダイオードを設計し、第1基板21の裏面から入射された光が透明電極22を通して半導体層24に入射するような構造にする必要がある。
【0068】
また、光電変換素子2としてフォトトランジスタ(光検知TFT)を用いる場合には、第1基板21の裏面から入射された光が半導体層24(TFTのチャネル領域)に入射する際、図4に示すように、ゲート電極26が邪魔にならないように、トップゲート構造のTFTを形成する必要がある。ここでトップゲート構造のTFTとは、チャネル層(a−Si又はpoly−Si)27の上側にゲート電極26を備えたTFT構造を指す。
【0069】
これら光電変換素子2やスイッチング素子3は、窒化珪素膜からなるパッシベーション膜で覆っておくことが好ましい。
【0070】
次に、図2(b)に示すように、支持基板1として機能する例えば0.7mm厚のガラス基板からなる第2基板31を準備し、第1基板21における光電変換素子2の形成面上に接着樹脂5を介して貼り合わせる。ここで、光電変換素子2及びスイッチング素子3は、完全に外気から密封された状態となる。接着樹脂5としては、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂等の各種材料を用いることができるが、光源6からの光を効率良く透過させる必要があるので、透明な樹脂材料を用いる必要がある。
【0071】
次に、図2(c)に示すように、第1基板21の外側面を、研磨やエッチングにより所定の厚みまで削る。具体的には、0.7mm厚のガラス基板からなる第1基板21を100μm以下の厚みになるように薄くする。
【0072】
このとき、研磨の方法としては、メカニカルな研磨(物理研磨)と化学的な研磨(化学研磨)を使用することができる。メカニカルな研磨としては、セラミック砥粒を吹き付けて研削するサンドブラスト方法、ラッピングシートや砥石を用いた研磨、砥粒と化学溶媒を併用したCMP(Chemical Mechanical Polishing)法等を用いることができる。
【0073】
一方、化学研磨(ウェットエッチングと呼ぶこともある)としては、薬液を建浴し所定の温度に昇温した後、その浴に対象となるガラス基板を浸漬する方法を用いることができる。この方法においては、例えば、ガラスの加工に弗酸系薬液を用いると、弗酸とガラス表面との反応により、ガラス表面に細かいピッチのムラが形成される場合がある。この場合、薬液への添加剤の付与や温度制御により、これらの反応を極力均等にすることができ、ガラス基板表面が平行移動するかのごとくガラス基板を薄くすることができる。
【0074】
本実施の形態の場合、大面積のガラス基板を簡単に均一に研磨する必要があるので、バッチ処理が容易な化学研磨法を用いることが好ましい。
【0075】
ところで、化学研磨工程において、支持基板1が同時に研磨されてしまうと、支持基板1も薄くなってしまい、支持基板1としての役割が果たせなくなる。このため、これを防止するために、化学研磨薬液に耐性を有する樹脂シート等で、化学研磨を行う工程期間には、支持基板1の表面を保護するのが良い。
【0076】
或いは、支持基板1として、当初からガラスの化学研磨薬液に耐性を有するプラスチック基板を使用しておく方法でも良い。
【0077】
なお、ガラスを薄くする方法としては、上述のような研磨以外に、例えば、真空チャンバー内に基板をセットし、チャンバー内にガスを導入してガラスを分解するドライエッチングや、さらにバイアスで加速させたイオンの衝突効果を併用するRIE(Reactive Ion Etching)法といったエッチング方法を利用することも可能である。
【0078】
次に、図2(d)に示すように、できあがった光電変換装置本体に対して、支持基板1の外側に光源6を設置し、第1基板21つまり光電変換素子形成基板4の外側に原稿Pを密着させることによって、従来と同様に原稿Pを読み取ることが可能になる。
【0079】
このような光電変換装置及びその製造方法では、従来と異なり、非常に薄いマイクロガラスシートを光電変換素子形成基板4に貼り合わせるプロセスが不要となる。
【0080】
すなわち、従来は、上述したようにマイクロガラスシートを貼り合わせるプロセスを必要であったが、マイクロガラスシートが破損し易く取り扱いが困難な上、歪み易いため、光電変換素子2が形成された基板上に接着樹脂5を介して平坦に貼り付けることが難しいといった問題を有していた。
【0081】
これに対し、本実施の形態では、マイクロガラスシートの貼り合せプロセスを必要としないため、作業性向上や良品率向上を実現することが可能となる。
【0082】
このように、本実施の形態の画像読み取り装置10では、光電変換素子形成基板4には複数の光電変換素子2が形成されているとともに、この光電変換素子形成基板4の複数の光電変換素子2に対向して支持基板1が接着樹脂5にて一体化するように貼り合わされている。
【0083】
したがって、この構成では、光電変換素子2を形成するための光電変換素子形成基板4の裏面が情報読取面となっており、光電変換素子形成基板4が原稿画像への接触に対する保護基板の役割を兼用している。
【0084】
このため、従来のように保護作用をもたらすマイクロガラスシートを別途準備して、光電変換素子形成基板4に貼り合わせる必要がなくなる。
【0085】
この結果、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし得る画像読み取り装置10を提供することができる。
【0086】
また、本実施の形態の画像読み取り装置10では、第2基板31は第1基板21よりも厚いので、第1基板21の厚みが薄い場合であっても、第2基板31によって構造的に補強することが可能となる。
【0087】
また、本実施の形態の画像読み取り装置10の製造方法では、第1基板21がガラス材からなっている。そして、加工工程における第1基板21の研磨工程は化学研磨加工である。すなわち、第1基板21をガラス材としている場合には、第1基板の裏面を薄く加工するときに化学研磨加工を適用することができる。この化学研磨加工は、液に第1基板21を浸漬することにより、化学的にガラス材を侵食して薄くするので、加工を静的に行うことができる。したがって、物理的な研磨等に比べて、加工時の製品の破損が少ない。
【0088】
この結果、製品の歩留まりの低減を防止し得る画像読み取り装置10の製造方法を提供することができる。
【0089】
また、本実施の形態の画像読み取り装置10では、複数の光電変換素子2は半導体層を含み、光電変換素子形成基板と半導体層の間に金属電極が無く、透光部が存在する構造となっている。このため、原稿画像の読み取りに際して、金属電極23やゲート電極26が読み取りの障害とならない。
【0090】
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施の形態について図5及び図6に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態1の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0091】
本実施の形態の光電変換装置としての画像読み取り装置40は、図5に示すように、第1基板21上に光電変換素子2及びスイッチング素子3を含む画素アレイを形成した後、これら光電変換素子2及びスイッチング素子3を駆動するための駆動IC(LSI)や、光電変換素子2からの電気信号を読み出す読み出しIC(LSI)等の半導体集積回路(IC:Integrated Circuit)としてのIC41を第1基板21である光電変換素子形成基板4の周辺に実装した構造を有している。
【0092】
IC41は異方性導電接着剤42を介して光電変換素子形成基板4上に形成された配線パターンと電気的に接続するようにしてもよいし、または、光電変換素子形成基板4上に直接IC41をモノリシック形成してもよい。
【0093】
ここで、駆動IC又は読み出しIC等のIC41をモノリシック形成する方法とは、a−Siよりも移動度が高いpoly−SiからなるTFTを用いて、上述のスイッチング素子3の形成時に、第1基板21の周辺部に駆動回路を一体形成する方法である。詳しくは、「液晶ディスプレイ技術−アクティブマトリクスLCD−」(編著者:松本正一、発行:産業図書株式会社(1996年))の第3章等に記載されている。その他の構成は、実施の形態1と同様である。
【0094】
上記構成を有する画像読み取り装置40の形成プロセスを、図6(a)〜(d)に基いて説明する。なお、画像読み取り装置40の形成プロセスは、前記実施の形態1で述べた画像読み取り装置10の形成プロセスと略同じであるため、共通部分については、概略説明に留める。
【0095】
図6(a)に示すように、先ず、第1基板21上に、光電変換素子2を含む画素アレイを形成する。各画素には光電変換素子2の他に、この光電変換素子2に接続されたTFT等のスイッチング素子3や、図示しない蓄積容量等が形成されている。その後、第1基板21の周辺部に、例えば異方導電接着材42にて駆動IC又は読み出しIC等のIC41を接着する。
【0096】
次いで、図6(b)に示すように、支持基板1として機能するための第2基板31を第1基板21に貼り合わせる。この貼り合わせの構造及び製造方法は、実施の形態1の図2(b)にて示したと同様である。ただし、このとき、両者を接続する接着樹脂5にて、駆動IC又は読み出しIC等のIC41の実装部分も同時に封止してしまうと良い。
【0097】
次いで、図6(c)に示すように、第1基板21の外側面を、エッチング又は研磨により所定の厚みまで削る。このエッチング又は研磨により所定の厚みまで削る工程は、前記実施の形態1の図2(c)と同様である。
【0098】
次いで、図6(d)に示すように、できあがった光電変換装置本体に対して、支持基板1の外側に光源6を設置し、光電変換素子形成基板4として機能する第1基板21の外側に原稿Pを密着させることによって、従来と同様に原稿Pを読み取ることが可能になる。
【0099】
上述の画像読み取り装置40及びその製造方法では、実施の形態1で説明した画像読み取り装置10の特徴に加えて、以下の特徴を有する。
【0100】
画像読み取り装置40の周辺部に、駆動IC又は読み出しIC等のIC41の実装部分を有する場合でも、実装部分は完全にモールドされた構造になっている。このため、実装部分が、原稿Pに露出又は突出することが無い。したがって、従来のように、実装部分に保護カバーを設ける必要もない。この結果、画像読み取り装置40の原稿密着面を完全にフラットにすることが可能になり、原稿Pのサイズが画像読み取り装置40の撮像面より大きい場合でも、原稿PがIC41近傍で撓まず原稿読取面に密着し、原稿Pを読み取る際に画像がボケる現象を回避することが可能になる。
【0101】
このように、本実施の形態の画像読み取り装置40では、複数の光電変換素子2の駆動に必要なIC41が、光電変換素子形成基板4の周辺部における情報読取面の裏面に実装されている。
【0102】
したがって、IC41が情報読取面の裏面側に形成されることになる。このため、情報読取面は光電変換素子形成基板4の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのIC41等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0103】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る画像読み取り装置40を提供することができる。
【0104】
また、本実施の形態の画像読み取り装置40の製造方法では、まず、実装工程において、第1基板21における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子2及び該複数の光電変換素子2を駆動するのに必要なIC41を実装する。次いで、貼合工程において、第1基板21における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子2及びIC41を覆うように接着樹脂5を用いて第2基板31を貼り合せる。その後、加工工程において、第1基板21における情報読取面をエッチング又は研磨してこの第1基板21の厚みを薄く加工する。
【0105】
したがって、従来存在した、保護基板としてマイクロガラスシートの貼り合せせるプロセスを無くすことができるので、画像読み取り装置40を簡単に製造することができる。
【0106】
また、従来では、薄く形成したマイクロガラスシートを保護基板として貼り合わせていたので、その薄く形成したマイクロガラスシートを取り扱うときに、マイクロガラスシートの破損等を招いていた。
【0107】
しかし、本実施の形態では、先に光電変換素子2を形成した光電変換素子形成基板4の裏面を削って薄くするので、光電変換素子形成基板4の破損が防止される。したがって、製品の歩留まりの低減を防止することができる。
【0108】
したがって、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る画像読み取り装置40の製造方法を提供することができる。
【0109】
また、本実施の形態では、実装工程において、複数の光電変換素子を駆動するのに必要なIC41までも実装する。このため、IC41が情報読取面の裏面側に形成されることになる。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板4の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのIC41等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0110】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る画像読み取り装置40の製造方法を提供することができる。
【0111】
〔実施の形態3〕
本発明の他の実施の形態について図7ないし図9に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態1及び実施の形態2の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0112】
前記実施の形態2では、第1基板21の周辺領域に駆動IC又は読み出しIC等のIC41を設けていたが、必ずしもこれに限らず、図7(d)に示すように、第1基板21の周辺領域にCOG方式にて直接実装しても良いし、FPC又はTCP51を利用して外部に設ける方式を採用した光電変換装置としての画像読み取り装置50とすることができる。なお、FPC及びTCP51は、両方設けることも可能である。さらに、駆動IC又は読み出しIC等のIC41をモノリシック形成しておき、FPCにて外部から駆動IC又は読み出しIC等のIC41用の電源のみ供給する方式でも構わない。
【0113】
上記構成を有する画像読み取り装置50の形成プロセスを、図7(a)〜(d)に基いて説明する。なお、画像読み取り装置50の形成プロセスは、前記実施の形態1及び実施の形態2で述べた画像読み取り装置10・40の形成プロセスと略同じであるため、共通部分については概略説明に留める。
【0114】
図7(a)に示すように、先ず、第1基板21上に、光電変換素子2を含む画素アレイを形成する。各画素には光電変換素子2の他に、この光電変換素子2に接続されたTFT等のスイッチング素子3や、図示しない蓄積容量等が形成されている。その後、第1基板21の周辺部に、例えば異方導電接着材52にてFPC又はTCP51を接着する。
【0115】
次いで、図7(b)に示すように、支持基板1として機能する第2基板31を第1基板21に貼り合わせる。この貼り合わせの構造及び製造方法は、実施の形態1の図2(b)及び実施の形態2の図6(b)にて示したと同様である。このとき、両者を接続する接着樹脂5にて、FPC又はTCP51の実装部分も同時に封止してしまうと良い。
【0116】
次いで、図7(c)に示すように、第1基板21の外側面を、エッチング又は研磨により所定の厚みまで削る。このエッチング又は研磨により所定の厚みまで削る工程は、前記実施の形態1の図2(c)及び実施の形態2の図6(c)と同様である。ただし、このとき、端部からはみ出しているFPC又はTCP51が、化学研磨薬液に触れないように樹脂等でモールドしておくと良い。
【0117】
次いで、図7(d)に示すように、できあがった光電変換装置本体に対して、支持基板1の外側に光源6を設置し、光電変換素子形成基板4として機能する第1基板21の外側に原稿Pを密着させることによって、従来と同様に原稿Pを読み取ることが可能になる。
【0118】
上述の画像読み取り装置50及びその製造方法では、実施の形態1で説明した画像読み取り装置10及び実施の形態2で説明した画像読み取り装置40の特徴に加えて、以下の特徴を有する。
【0119】
画像読み取り装置50の周辺部に、FPC又はTCP51の実装部分を有する場合でも、実装部分は完全にモールドされた構造になっている。このため、実装部分が、原稿Pに露出又は突出することが無い。したがって、従来のように、実装部分に保護カバーを設ける必要もない。この結果、画像読み取り装置50の原稿密着面を完全にフラットにすることが可能になり、原稿Pのサイズが画像読み取り装置50の撮像面より大きい場合でも、原稿Pを読み取る際に画像がボケる現象を回避することが可能になる。
【0120】
このように、本実施の形態の画像読み取り装置50では、光電変換素子形成基板4の周辺部における情報読取面の裏面には、複数の光電変換素子2の駆動に必要なFPC又はTCP51が実装されている。
【0121】
したがって、TCP及び/又はFPCが情報読取面の裏面側に形成されることになる。このため、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのFPC又はTCP51等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0122】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る画像読み取り装置50を提供することができる。
【0123】
また、本実施の形態の画像読み取り装置50の製造方法では、第1基板21における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子2及び該複数の光電変換素子2を駆動するのに必要なFPC又はTCP51を実装する実装工程と、第1基板21における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子2を覆うように接着樹脂5を用いて第2基板31を貼り合せる貼合工程と、第1基板21における情報読取面をエッチング又は研磨して第1基板21の厚みを薄く加工する加工工程とを含んでいる。
【0124】
このため、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る画像読み取り装置50の製造方法を提供することができる。
【0125】
また、本実施の形態では、実装工程においては、第1基板21における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子2及び該複数の光電変換素子2を駆動するのに必要なFPC又はTCP51まで実装される。
【0126】
このため、FPC又はTCP51が情報読取面の裏面側に形成されることになる。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板4の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのFPC又はTCP51等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0127】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る画像読み取り装置50の製造方法を提供することができる。
【0128】
なお、本発明は、上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、上述の実施の形態1〜3では、光電変換装置の画素に、光電変換素子2とスイッチング素子3とが別々に形成された構成について説明してきた。しかし、必ずしもこれに限らず、例えば、図8に示すように、光電変換素子2としてのフォトトランジスタと、スイッチング素子3としてのトランジスタとを、1つのTFTにて兼用したタイプの光電変換装置にも適用可能である。
【0129】
また、本実施の形態の光電変換装置は、例えば、図9に示すように、保護基板の外側面に、X線を光に変換する「X線−光変換膜」(シンチレーター、増感紙と呼ぶこともある)を形成することによって、いわゆる間接変換方式のX線の撮像装置としても使用することができる。
【0130】
この場合、「X線−光変換膜」の材料としては、CsI:TlやGdS:Tb等を用いると良い。人体や披検体を透過したX線は、上述の「X線−光変換膜」にて可視光像に変換される。その可視光像を光電変換装置で受像することによって、X線の画像を得ることができる。
【0131】
〔実施の形態4〕
本発明のさらに他の実施の形態について図10ないし図12に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態1ないし実施の形態3の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0132】
前記実施の形態1〜実施の形態3では、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合わせるプロセスを無くするとともに、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置とその製造方法について説明してきたが、本発明の構造は、表示機能を備えた光電変換装置についても適用することが可能である。以下、表示機能一体型の光電変換装置について詳しく説明する。
【0133】
本実施の形態の画像読み取り装置60は、図10に示すように、表示媒体として液晶を用いた表示機能一体型の光電変換装置である。
【0134】
上記画像読み取り装置60は、光電変換素子形成基板としての第1基板21上には、実施の形態1と同様に、画素毎に、光電変換素子2が形成されている。また、これら光電変換素子2の形成面と同じ面に、後述する表示媒体(液晶7)を駆動するための表示用画素電極8が画素毎に形成されている。また、上記光電変換素子2や表示用画素電極8への信号のやり取りを制御するアクティブ素子としてのスイッチング素子3が設けられている。このスイッチング素子3にはTFTが好適に用いられる。このTFTは、光電変換素子2と表示用画素電極8とに対し、別々に、すなわち、各画素に複数個設けても良いし、1個のTFTで、光電変換素子2と表示用画素電極8との両方の駆動用に兼用しても良い。
【0135】
一方、支持基板及びCF基板としての第2基板31上には、カラーフィルター(CF)11や表示用共通電極(ITO等)9が形成されている。そして、これら両基板はシール部材によって接着固定されており、これら両基板の間には液晶7が封入されている。
【0136】
光源6であるバックライトは、画像読み取りの際は、被写体を照射するための光源として作用し、表示の際には液晶表示用の背面光源として作用する。
【0137】
ここで、実施の形態1でも説明したように、被写体の読み取り像がボケないように、第1基板21はできるだけ薄く加工する必要がある。一方、液晶層を介して対向する第2基板31は、本パネルの機械的強度を向上させるために、第1基板21よりも厚くなるように設定している。
【0138】
この結果、画像のボケを最小限に抑えながら、パネルの機械的強度を確保することが可能になる。もちろん、実施の形態1と同様に、光電変換素子2の駆動に必要な電気部材(IC、TCP、FPC等)の実装部分が情報読み取り面に出っ張ることもなく、被写体と情報読み取り面との密着性を向上させることも可能である。
【0139】
なお、図11に示す画像読み取り装置61のように、第1基板21とその対向基板としてカラーフィルター(CF)11を備えたカラーフィルター(CF)基板12を、第1基板21を薄板化するプロセスで同時に薄板化しておき、別途、支持基板としての第2基板31を準備し、それをカラーフィルター(CF)基板12の外側に設置しても良い。
【0140】
この場合、偏光板13はカラーフィルター(CF)基板12と第2基板31との間に配置しても良いし、図10に示すように、第2基板31のさらに外側つまり光源6側に配置しても良い。
【0141】
通常、同じ材質(例えばガラス)からなる第1基板21とカラーフィルター(CF)基板12とを互いに貼り合せた後、そのパネルを化学エッチング液に浸漬すと、両基板が同じようにエッチングされ、両基板が同時に薄型化されてしまう。このため、カラーフィルター(CF)基板12に支持基板としての機能を持たせることが困難になる場合がある。このため、別途、第2基板31を準備し、図15に示す画像読み取り装置61のような構成にすることが望ましい。
【0142】
ところで、液晶7の表示モードが、TNモードのように偏光子を必要とする場合、図10に示すように、光電変換素子形成面から読み取り対象物(原稿P等)の間に偏光子としての偏光板14を挿入する必要がある。偏光板14の厚みが厚くなると、これも読み取り画像のボケを助長する原因になるため、偏光板14はできるだけ薄く形成する必要がある。
【0143】
一方、液晶7の表示モードが、ゲストホストモードのように偏光板12を必要としない場合には、図12に示す画像読み取り装置62のように、光電変換素子形成面から読み取り対象物(原稿P等)の間に偏光板14を設置する必要はない。したがって、光電変換素子形成面と読み取り対象物(原稿P等)との間を最小限に薄くでき、画像のボケを小さくすることができるので有用である。なお、上記偏光子を使用しない液晶表示モードとして、上記のゲストホスト(GH)モードの他、例えば、動的散乱(DS)モード、相転移(PC)モード、及び高分子分散型液晶(PDLC)モード等が有る。
【0144】
このように、本実施の形態の画像読み取り装置60・61・62は、第1基板21と第2基板31との間に液晶7を備えるとともに、この液晶7をスイッチング素子3にて駆動するので、一つの画面で画像の読み取り(入力)と表示(出力)を行なうことができる画像読み取り装置60・61・62を実現することができる。
【0145】
また、本実施の形態の画像読み取り装置60・61・62では、液晶7を第1基板21と第2基板31との間に封入することが可能であり、第2基板31を、液晶7を駆動するための表示用共通電極9を備えた対向基板として有効に利用することができる。
【0146】
また、本実施の形態の画像読み取り装置62では、液晶7の表示モードは、偏光子不要の表示モードである。したがって、第1基板21から原稿Pまでの間に偏光板14の設置が必要ないので、光電変換素子2と原稿Pとの隙間を最小限に短くすることができ、画像のボケの少ない画像読み取り装置62を実現することができる。
【0147】
また、本実施の形態の画像読み取り装置60・61・62では、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用される光源6を設けることによって、バックライトとしての光源6が一組しか必要なく、部材コストを削減することが可能になる。
【0148】
〔実施の形態5〕
本発明のさらに他の実施の形態について図13に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態1ないし実施の形態4の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0149】
前記実施の形態4では、表示媒体としての液晶7を備えた光電変換装置について説明したが、液晶7の代わりにEL(Electro Luminescence)素子を適用することもできる。以下、EL表示機能付きの光電変換装置について詳しく説明する。
【0150】
本実施の形態の画像読み取り装置70は、図13に示すように、表示媒体として有機ELを用いた表示機能一体型の光電変換装置である。
【0151】
上記画像読み取り装置70では、光電変換素子形成基板としての第1基板21上には、実施の形態1と同様に、画素毎に、光電変換素子2が形成されている。また、これら光電変換素子2の形成面と同じ面に、表示媒体としてEL素子15が画素毎に形成されている。さらに、光電変換素子2やEL素子15への信号のやり取りを制御するスイッチング素子3が設けられている。このスイッチング素子3にはTFTが好適に用いられる。このTFTは、光電変換素子2とEL素子15とに対し、別々に、すなわち、各画素に複数個設けても良いし、1個のTFTにて光電変換素子2とEL素子15との両方の駆動用に兼用しても良い。
【0152】
一方、支持基板としての第2基板31は、機械的な補強効果だけでなく、EL層のバリア膜、つまりEL素子15の信頼性に悪影響を与える外気や水分の流入を遮断する層(膜)としても利用することができ、これら両基板はシール部材としてのモールド材16によって接着固定されている。
【0153】
ここで、実施の形態1でも説明したように、被写体の読み取り像がボケないように、第1基板21はできるだけ薄く加工する必要がある。一方、EL素子15層を介して対向する支持基板及びバリア基板としての第2基板31は、本パネルの機械的強度を向上させるために、第1基板21よりも厚くなるように設定している。
【0154】
この結果、画像のボケを最小限に抑えながら、パネルの機械的強度を確保することが可能になる。もちろん、実施の形態1と同様に、光電変換素子2の駆動に必要な電気部材(IC、TCP、FPC等)の実装部分が情報読み取り面に出っ張ることもなく、被写体と情報読み取り面との密着性を向上させることも可能である。
【0155】
なお、前記実施の形態4の図11に示す画像読み取り装置61と同様の考えにより、光電変換素子形成基板としての第1基板21とその対向基板であるバリア基板とを、第1基板21を薄板化するプロセスで同時に薄板化しておき、別途、支持基板としての第2基板31を準備し、それをバリア基板の外側に設置しても良い。また、バリア基板としてバリアシート(金属箔)などを用い、別途、支持基板としての第2基板31を準備し、それをバリア基板の外側に設置しても良い。
【0156】
このように、本実施の形態の画像読み取り装置70は、表示媒体が、EL素子15である。このため、EL素子15を用いた表示(出力)を行なうことができる。また、EL素子15が第1基板21と第2基板31との間に封入される構造になるため、第2基板31をEL素子15のバリア層として有効に利用することが可能になる。
【0157】
また、本実施の形態の画像読み取り装置70では、EL素子15は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の発光素子との両用途に兼用される。このため、別途に光源6を設ける必要がなく、これによって、部材コストを削減することが可能になる。
【0158】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的手段に含まれる。
【0159】
【発明の効果】
本発明の光電変換装置は、以上のように、情報読取面の裏面に複数の光電変換素子を形成した光電変換素子形成基板と、上記光電変換素子形成基板の複数の光電変換素子に対向して接着部材にて一体化するように貼り合わされた支持基板とを備えたものである。
【0160】
それゆえ、この構成では、光電変換素子を形成するための光電変換素子形成基板の裏面が情報読取面となっており、光電変換素子形成基板が原稿画像への接触に対する保護基板の役割を兼用している。
【0161】
このため、従来のように保護作用をもたらすマイクロガラスシートを別途準備して、光電変換素子形成基板に貼り合わせる必要がなくなる。
【0162】
この結果、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし得る光電変換装置を提供することができるという効果を奏する。
【0163】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記支持基板は、前記光電変換素子形成基板よりも厚いものである。
【0164】
それゆえ、光電変換素子形成基板の厚みが薄い場合であっても、支持基板によって構造的に補強することが可能となるという効果を奏する。
【0165】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子の駆動に必要な半導体集積回路(IC)が、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されているものである。
【0166】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子の駆動に必要なTCP及び/又はFPCが、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されているものである。
【0167】
それゆえ、半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPCが情報読取面の裏面側に形成されることになる。このため、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面への半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0168】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置を提供することができるという効果を奏する。
【0169】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記複数の光電変換素子は半導体層を含み、前記光電変換素子形成基板と前記半導体層との間に透光部が存在するものである。
【0170】
それゆえ、原稿画像の読み取りに際して、金属電極が読み取りの障害とならないという効果を奏する。
【0171】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記光電変換素子形成基板の情報読取面に、X線を光に変換するX線光変換膜が設けられているものである。
【0172】
それゆえ、光電変換装置をいわゆる間接変換方式のX線の撮像装置として使用することができるという効果を奏する。
【0173】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記光電変換素子形成基板と前記支持基板との間に表示媒体を備えるとともに、上記光電変換素子形成基板の光電変換素子形成面に、上記表示媒体を駆動するためのアクティブ素子を備えているものである。
【0174】
それゆえ、一つの画面で画像の読み取り(入力)と表示(出力)を行なうことができる光電変換装置を実現することができるという効果を奏する。
【0175】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体は、液晶である。
【0176】
それゆえ、液晶を光電変換素子形成基板と支持基板との間に封入することが可能であり、支持基板を、液晶を駆動するための共通電極を備えた対向基板として有効に利用することができるという効果を奏する。
【0177】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体である液晶の表示モードは、偏光子不要の表示モードである。
【0178】
それゆえ、光電変換素子形成面から原稿等の読み取り対象物までの間に偏光子の設置が必要ないので、光電変換素子と読み取り対象物との隙間を最小限に短くすることができ、画像のボケの少ない光電変換装置を実現することができるという効果を奏する。
【0179】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記支持基板の、光電変換素子形成基板とは反対側に光源を備えるとともに、上記光源は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用されるものである。
【0180】
それゆえ、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用される光源を設けることによって、バックライトとしての光源が一組しか必要なく、部材コストを削減することが可能になるという効果を奏する。
【0181】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記表示媒体は、EL素子である。
【0182】
それゆえ、EL素子を用いた表示(出力)を行なうことができる。また、EL素子が光電変換素子形成基板と支持基板との間に封入される構造になるため、支持基板をEL素子のバリア層として有効に利用することが可能になるという効果を奏する。
【0183】
また、本発明の光電変換装置は、上記記載の光電変換装置において、前記EL素子は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の発光素子との両用途に兼用されるものである。
【0184】
それゆえ、別途に光源を設ける必要がなく、これによって、部材コストを削減することが可能になるという効果を奏する。
【0185】
また、本発明の光電変換装置の製造方法は、上記課題を解決するために、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC)を実装する実装工程と、上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含む方法である。
【0186】
それゆえ、従来存在した、保護基板としてマイクロガラスシートの貼り合せせるプロセスを無くすことができるので、光電変換装置を簡単に製造することができる。
【0187】
また、本発明では、先に光電変換素子を形成した光電変換素子形成基板の裏面を削って薄くするので、光電変換素子形成基板の破損が防止される。したがって、製品の歩留まりの低減を防止することができる。
【0188】
したがって、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができるという効果を奏する。
【0189】
また、本発明では、実装工程において、複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC)までも実装する。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面への半導体集積回路(IC)、TCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0190】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置の製造方法を提供することができるという効果を奏する。
【0191】
本発明の光電変換装置の製造方法は、上記課題を解決するために、第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要なTCP及び/又はFPCを実装する実装工程と、上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含む方法である。
【0192】
それゆえ、保護基板としてのマイクロガラスシートを貼り合せるプロセスを無くし、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができるという効果を奏する。
【0193】
また、本発明では、TCP及び/又はFPCが情報読取面の裏面側に形成されることになる。したがって、情報読取面は光電変換素子形成基板の平滑面となっており、従来存在した、原稿撮像面へのTCP及び/又はFPC等の実装部分の出っ張りが無くなっている。
【0194】
この結果、原稿画像の撮像面への実装部分の出っ張りを無くし得る光電変換装置の製造方法を提供することができるという効果を奏する。
【0195】
本発明の光電変換装置の製造方法は、上記記載の光電変換装置の製造方法において、前記第1基板がガラス材からなり、前記加工工程における第1基板の研磨工程が、化学研磨加工である方法である。
【0196】
それゆえ、物理的な研磨等に比べて、加工時の製品の破損が少ない。この結果、製品の歩留まりの低減を防止し得る光電変換装置の製造方法を提供することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における画像読み取り装置の実施の一形態を示す断面図である。
【図2】(a)は上記画像読み取り装置においてガラス基板(第1基板)上にスイッチング素子及び光電変換素子のアレイを形成する工程を示す断面図、(b)は接着剤で対向支持基板(第2基板)を貼り付ける工程を示す断面図、(c)はガラス基板(第1基板)をエッチバックしてマイクロガラスシート保護膜に仕上げる工程を示す断面図、(d)は光源を取り付けて原稿を読み取る状態を示す断面図である。
【図3】上記光電変換素子の第1基板への取り付け状態を示す断面図である。
【図4】トップゲート構造のTFTからなる光電変換素子を示す断面図である。
【図5】本発明における画像読み取り装置の他の実施の形態を示す断面図である。
【図6】(a)は上記画像読み取り装置においてガラス基板(第1基板)上にスイッチング素子及び光電変換素子のアレイを形成し、さらにICを基板の端部に取り付ける工程を示す断面図、(b)は接着剤で対向支持基板(第2基板)を貼り付ける工程を示す断面図、(c)はガラス基板(第1基板)をエッチバックしてマイクロガラスシート保護膜に仕上げる工程を示す断面図、(d)は光源を取り付ける工程を示す断面図である。
【図7】本発明における画像読み取り装置の他の実施の形態を示すものであり、(a)は上記画像読み取り装置においてガラス基板(第1基板)上にスイッチング素子及び光電変換素子のアレイを形成し、さらにFPC又はTCPを基板の端部に取り付ける工程を示す断面図、(b)は接着剤で対向支持基板(第2基板)を貼り付ける工程を示す断面図、(c)はガラス基板(第1基板)をエッチバックしてマイクロガラスシート保護膜に仕上げる工程を示す断面図、(d)は光源を取り付ける工程及び完成品を示す断面図である。
【図8】本発明における画像読み取り装置のさらに他の実施の形態を示すものであり、光電変換素子としてのフォトトランジスタとスイッチング素子としてのトランジスタとを、1つのTFTにて兼用したタイプの画像読み取り装置を示す平面図である。
【図9】本発明における画像読み取り装置のさらに他の実施の形態を示すものであり、間接変換方式のX線の撮像装置として使用する場合の画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【図10】本発明における画像読み取り装置のさらに他の実施の形態を示すものであり、液晶による表示機能を備えた画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【図11】上記画像読み取り装置の変形例の構成を示すものであり、カラーフィルター(CF)基板を第2基板と別体に形成した画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【図12】上記画像読み取り装置の他の変形例の構成を示すものであり、偏光子不要の表示モードを採用した画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【図13】本発明における画像読み取り装置のさらに他の実施の形態を示すものであり、EL素子による表示機能を備えた画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【図14】従来の画像読み取り装置の構成を示す平面図である。
【図15】上記画像読み取り装置の構成を示す断面図である。
【符号の説明】
1       支持基板
2       光電変換素子
3       スイッチング素子(アクティブ素子)
4       光電変換素子形成基板
5       接着樹脂(接着部材)
6       光源
7       液晶
8       表示用画素電極
9       表示用共通電極
10       画像読み取り装置(光電変換装置)
11       カラーフィルター
12       カラーフィルター(CF)基板
13       偏光板(偏光子)
14       偏光板(偏光子)
21       第1基板
31       第2基板
40       画像読み取り装置(光電変換装置)
41       IC(半導体集積回路)
50       画像読み取り装置(光電変換装置)
51       FPC又はTCP
60・61・62 画像読み取り装置
70       画像読み取り装置
P       原稿

Claims (15)

  1. 情報読取面の裏面に複数の光電変換素子を形成した光電変換素子形成基板と、
    上記光電変換素子形成基板の複数の光電変換素子に対向して接着部材にて一体化するように貼り合わされた支持基板とを備えたことを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記支持基板は、前記光電変換素子形成基板よりも厚いことを特徴とする請求項1記載の光電変換装置。
  3. 前記複数の光電変換素子の駆動に必要な半導体集積回路(IC)が、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されていることを特徴とする請求項1又は2記載の光電変換装置。
  4. 前記複数の光電変換素子の駆動に必要なTCP及び/又はFPCが、前記光電変換素子形成基板の周辺部における情報読取面の裏面に実装されていることを特徴とする請求項1又は2記載の光電変換装置。
  5. 前記複数の光電変換素子は半導体層を含み、前記光電変換素子形成基板と前記半導体層との間に透光部が存在することを特徴とする請求項1又は2記載の光電変換装置。
  6. 前記光電変換素子形成基板の情報読取面に、X線を光に変換するX線光変換膜が設けられていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  7. 前記光電変換素子形成基板と前記支持基板との間に表示媒体を備えるとともに、
    上記光電変換素子形成基板の光電変換素子形成面に、上記表示媒体を駆動するためのアクティブ素子を備えていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  8. 前記表示媒体は、液晶であることを特徴とする請求項7記載の光電変換装置。
  9. 前記表示媒体である液晶の表示モードは、偏光子不要の表示モードであることを特徴とする請求項8記載の光電変換装置。
  10. 前記支持基板の、光電変換素子形成基板とは反対側に光源を備えるとともに、上記光源は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の表示用光源との両用途に兼用されることを特徴とする請求項8記載の光電変換装置。
  11. 前記表示媒体は、EL素子であることを特徴とする請求項7記載の光電変換装置。
  12. 前記EL素子は、情報読取時の被写体照射光源と情報表示時の発光素子との両用途に兼用されることを特徴とする請求項11記載の光電変換装置。
  13. 情報を読み取る光電変換装置の製造方法において、
    第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要な半導体集積回路(IC)を実装する実装工程と、
    上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、
    上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含むことを特徴とする光電変換装置の製造方法。
  14. 情報を読み取る光電変換装置の製造方法において、
    第1基板における情報読取面の裏面に複数の光電変換素子及び該複数の光電変換素子を駆動するのに必要なTCP及び/又はFPCを実装する実装工程と、
    上記第1基板における情報読取面の裏面に実装された該複数の光電変換素子を覆うように接着部材を用いて第2基板を貼り合せる貼合工程と、
    上記第1基板における情報読取面をエッチング又は研磨して上記第1基板の厚みを薄く加工する加工工程とを含むことを特徴とする光電変換装置の製造方法。
  15. 前記第1基板がガラス材からなり、前記加工工程における第1基板の研磨工程が、化学研磨加工であることを特徴とする請求項13又は14記載の光電変換装置の製造方法。
JP2003140388A 2002-08-30 2003-05-19 光電変換装置及びその製造方法 Expired - Fee Related JP4364553B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003140388A JP4364553B2 (ja) 2002-08-30 2003-05-19 光電変換装置及びその製造方法
US10/516,091 US7211880B2 (en) 2002-08-30 2003-07-07 Photoelectric conversion apparatus and manufacturing method of same
AU2003298995A AU2003298995A1 (en) 2002-08-30 2003-07-07 Photoelectric conversion apparatus and manufacturing method of same
PCT/JP2003/008628 WO2004027874A1 (en) 2002-08-30 2003-07-07 Photoelectric conversion apparatus and manufacturing method of same
KR1020047020528A KR100759644B1 (ko) 2002-08-30 2003-07-07 광전 변환 장치 및 그 제조 방법
TW092119828A TWI238527B (en) 2002-08-30 2003-07-21 Photoelectric conversion apparatus and manufacturing method of same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002255474 2002-08-30
JP2003140388A JP4364553B2 (ja) 2002-08-30 2003-05-19 光電変換装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004146778A true JP2004146778A (ja) 2004-05-20
JP4364553B2 JP4364553B2 (ja) 2009-11-18

Family

ID=32032848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003140388A Expired - Fee Related JP4364553B2 (ja) 2002-08-30 2003-05-19 光電変換装置及びその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7211880B2 (ja)
JP (1) JP4364553B2 (ja)
KR (1) KR100759644B1 (ja)
AU (1) AU2003298995A1 (ja)
TW (1) TWI238527B (ja)
WO (1) WO2004027874A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006049877A (ja) * 2004-07-09 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icチップ及びその作製方法
JP2010010232A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2010010472A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2011022818A (ja) * 2009-07-16 2011-02-03 Semiconductor Energy Lab Co Ltd タッチパネルとその作製方法
WO2011019163A2 (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 (주)아이뷰테크 전자장치
US8426293B2 (en) 2004-07-09 2013-04-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC chip and its manufacturing method
JP2015065433A (ja) * 2013-08-30 2015-04-09 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
JP2016103578A (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 凸版印刷株式会社 接触型2次元イメージセンサ素子およびセンサ装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7675501B2 (en) * 2003-12-17 2010-03-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display apparatus with light sensor
US8138502B2 (en) * 2005-08-05 2012-03-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and manufacturing method thereof
DE102005060795A1 (de) * 2005-12-16 2007-07-12 Siemens Ag Flachbilddetektor
GB2439098A (en) * 2006-06-12 2007-12-19 Sharp Kk Image sensor and display
GB2439118A (en) * 2006-06-12 2007-12-19 Sharp Kk Image sensor and display
CN101012748B (zh) * 2007-02-02 2011-08-10 中国石化集团胜利石油管理局测井公司 微电阻率扫描井壁成像测井仪
JP5166745B2 (ja) * 2007-03-07 2013-03-21 信越化学工業株式会社 単結晶シリコン太陽電池の製造方法
JP4834614B2 (ja) * 2007-06-12 2011-12-14 キヤノン株式会社 放射線検出装置および放射線撮像システム
US7947523B2 (en) * 2008-04-25 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing photoelectric conversion device
US8610155B2 (en) 2008-11-18 2013-12-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone
KR101151912B1 (ko) * 2009-03-20 2012-05-31 주식회사바텍 대면적 패널 합착용 스크린 프린트 부재
US8576209B2 (en) 2009-07-07 2013-11-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP5448877B2 (ja) * 2010-01-25 2014-03-19 富士フイルム株式会社 放射線検出器
CN107340509B (zh) * 2012-03-09 2020-04-14 株式会社半导体能源研究所 半导体装置的驱动方法
KR101486250B1 (ko) * 2013-07-08 2015-02-05 주식회사 레이언스 이미지센서와 그 제조방법
KR101520433B1 (ko) 2013-07-08 2015-05-14 주식회사 레이언스 이미지센서 및 이의 제조방법
WO2023004790A1 (zh) * 2021-07-30 2023-02-02 华为技术有限公司 光芯片及其制作方法、电子设备

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61196571A (ja) 1985-02-25 1986-08-30 Hitachi Zosen Corp アモルフアスシリコンx線センサ
JPH028055U (ja) 1988-06-24 1990-01-18
JPH0254964A (ja) 1988-08-19 1990-02-23 Seiko Epson Corp 固体撮像装置の製造方法
JPH05243547A (ja) 1992-03-02 1993-09-21 Hitachi Ltd 薄膜光センサ
JP3112773B2 (ja) 1993-06-07 2000-11-27 キヤノン株式会社 半導体装置及び画像読取装置及びその製造方法
JPH088414A (ja) 1994-06-22 1996-01-12 Casio Comput Co Ltd 画像読取装置の駆動回路チップ接続構造
JP3704889B2 (ja) * 1997-05-30 2005-10-12 カシオ計算機株式会社 表示装置
JPH1140791A (ja) 1997-07-23 1999-02-12 Tdk Corp 固体撮像装置およびその製造方法
JP3462135B2 (ja) 1999-01-14 2003-11-05 シャープ株式会社 二次元画像検出器およびアクティブマトリクス基板並びに表示装置
JP2001074845A (ja) * 1999-09-03 2001-03-23 Canon Inc 半導体装置及びそれを用いた放射線撮像システム

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006049877A (ja) * 2004-07-09 2006-02-16 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Icチップ及びその作製方法
US8426293B2 (en) 2004-07-09 2013-04-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. IC chip and its manufacturing method
JP2010010232A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2010010472A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2011022818A (ja) * 2009-07-16 2011-02-03 Semiconductor Energy Lab Co Ltd タッチパネルとその作製方法
WO2011019163A2 (ko) * 2009-08-11 2011-02-17 (주)아이뷰테크 전자장치
WO2011019163A3 (ko) * 2009-08-11 2011-07-21 (주)아이뷰테크 전자장치
US8872302B2 (en) 2009-08-11 2014-10-28 Eyeviewtech Co., Ltd. Electronic apparatus
JP2015065433A (ja) * 2013-08-30 2015-04-09 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
JP2016103578A (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 凸版印刷株式会社 接触型2次元イメージセンサ素子およびセンサ装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI238527B (en) 2005-08-21
TW200403844A (en) 2004-03-01
US20050161754A1 (en) 2005-07-28
AU2003298995A1 (en) 2004-04-08
WO2004027874A1 (en) 2004-04-01
KR100759644B1 (ko) 2007-09-17
JP4364553B2 (ja) 2009-11-18
KR20050023309A (ko) 2005-03-09
US7211880B2 (en) 2007-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4364553B2 (ja) 光電変換装置及びその製造方法
KR101135797B1 (ko) 방사선 검출 장치의 제조 방법, 방사선 검출 장치 및 방사선 촬상 시스템
JP3462135B2 (ja) 二次元画像検出器およびアクティブマトリクス基板並びに表示装置
US8040456B2 (en) Liquid crystal display device and manufacturing method of liquid crystal display device
US7158199B2 (en) Liquid crystal display apparatus containing image sensor and process for producing the same
US7919779B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing thereof
US8411057B2 (en) Protection-plate-attached electronic member
US7038213B2 (en) Composite active-matrix substrates, methods for manufacturing same, and electromagnetic wave capturing devices
US9442200B2 (en) Radiation image detection device and method for manufacturing same
JPH09152486A (ja) 撮像装置
US7999265B2 (en) Photoelectric conversion device, electro-optic device, and electronic device
TW200935277A (en) Sensing structure of a display
TW200421493A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof, delamination method, and transferring method
US20210202779A1 (en) Flat panel detector and manufacturing method thereof
TW200933250A (en) Display and electronic apparatus
WO2007072963A1 (en) Radiation detection apparatus and radiation detection system
JP4408044B2 (ja) 液晶表示装置の作製方法
US9140953B2 (en) Reflective display apparatus
CN116264049A (zh) 显示设备及其制造方法
JP2005017885A (ja) 表示パネル保持構造および表示モジュール
KR20050059967A (ko) 보호필름과 그 보호필름의 박리 방법
JP2004254046A (ja) 画像読取装置
JP2024004725A (ja) 放射線検出器
KR20220096822A (ko) 디스플레이 모듈 및 이를 포함한 디스플레이 장치
JP2023099277A (ja) 保護フィルム構造と電子ペーパー表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050810

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090706

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090706

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090818

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090819

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4364553

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees