JP2002214351A - 放射線検出装置 - Google Patents
放射線検出装置Info
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- JP2002214351A JP2002214351A JP2001005309A JP2001005309A JP2002214351A JP 2002214351 A JP2002214351 A JP 2002214351A JP 2001005309 A JP2001005309 A JP 2001005309A JP 2001005309 A JP2001005309 A JP 2001005309A JP 2002214351 A JP2002214351 A JP 2002214351A
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- circuit element
- substrate
- drive circuit
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 GaAs等の材料を用いたセンサ基板は大面
積のものがないため、センサ基板をタイリングしている
が、駆動回路素子基板の大きさに限定されてしまう。 【解決手段】 基台パネル103と、放射線を検出し電
気信号に変換する複数のセンサ部を有するタイリングさ
れた複数のセンサ基板101と、センサ基板101のセ
ンサ部の駆動回路素子部を有するタイリングされた複数
の駆動回路素子基板102とを具備する。
積のものがないため、センサ基板をタイリングしている
が、駆動回路素子基板の大きさに限定されてしまう。 【解決手段】 基台パネル103と、放射線を検出し電
気信号に変換する複数のセンサ部を有するタイリングさ
れた複数のセンサ基板101と、センサ基板101のセ
ンサ部の駆動回路素子部を有するタイリングされた複数
の駆動回路素子基板102とを具備する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、医療用放射線診断
装置、非破壊検査装置等に用いられる放射線検出装置に
関するものである。
装置、非破壊検査装置等に用いられる放射線検出装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、レントゲン撮影のデジタル化の流
れの中、種々のX線エリアセンサが発表されている。そ
の方式はダイレクト方式(X線を直接電気信号に変換し
て読み取るタイプ)とインダイレクト方式(X線を一旦
可視光に変換して可視光を電気信号に変換して読み取る
タイプ)の2つに大別される。
れの中、種々のX線エリアセンサが発表されている。そ
の方式はダイレクト方式(X線を直接電気信号に変換し
て読み取るタイプ)とインダイレクト方式(X線を一旦
可視光に変換して可視光を電気信号に変換して読み取る
タイプ)の2つに大別される。
【0003】図13はダイレクト方式の代表的なX線エ
リアセンサを示す図である。図13(a)は平面図、図
13(b)はその断面図である。図中、801はIII −
V族化合物等よりなるもので、例えば、GaAs基板で
ある。基板801の上部表面から下部裏面にかけてPI
N構造をとるダイオード型のセンサとなっている。な
お、GaAs基板等の特殊な単結晶基板は大きなサイズ
のものがなく、ここでは正方形状に切断した4枚分の基
板を一枚の駆動回路素子基板にタイリングして必要な面
積にしている。
リアセンサを示す図である。図13(a)は平面図、図
13(b)はその断面図である。図中、801はIII −
V族化合物等よりなるもので、例えば、GaAs基板で
ある。基板801の上部表面から下部裏面にかけてPI
N構造をとるダイオード型のセンサとなっている。な
お、GaAs基板等の特殊な単結晶基板は大きなサイズ
のものがなく、ここでは正方形状に切断した4枚分の基
板を一枚の駆動回路素子基板にタイリングして必要な面
積にしている。
【0004】802はアモルファスシリコンを用いたT
FT(薄膜トランジスタ)とコンデンサからなる駆動回
路素子部が形成された基板である。811はセンサ下部
に設けられた信号取り出し用のAl等の金属材料からな
るバンプ部、812は各センサ基板の表面側を電気的に
接続するための接続材料、821は駆動回路素子部、8
51はバンプ部811と駆動回路素子部821を電気的
に接続するための導電材料である。GaAs基板801
側の各センサと基板802側の各駆動回路素子は1対1
に対応した状態で2次元に配列されており、お互いが8
51の導電材料によって電気的に接続されている。
FT(薄膜トランジスタ)とコンデンサからなる駆動回
路素子部が形成された基板である。811はセンサ下部
に設けられた信号取り出し用のAl等の金属材料からな
るバンプ部、812は各センサ基板の表面側を電気的に
接続するための接続材料、821は駆動回路素子部、8
51はバンプ部811と駆動回路素子部821を電気的
に接続するための導電材料である。GaAs基板801
側の各センサと基板802側の各駆動回路素子は1対1
に対応した状態で2次元に配列されており、お互いが8
51の導電材料によって電気的に接続されている。
【0005】ここで、GaAs基板801に入射したX
線情報はGaAsで吸収されるが、この時GaAs基板
内の空乏層内では吸収されたX線のエネルギーによって
電子とホールが発生する。これらの電気信号は導電材8
51を介して駆動回路素子部に転送され、タイミングを
合せて蓄積及びスイッチングを行うことによって図示し
ない外部信号処理回路へと転送される。このようにして
各センサ毎に吸収されたX線信号が等量の電気信号に変
換されて画像に展開されるのである。
線情報はGaAsで吸収されるが、この時GaAs基板
内の空乏層内では吸収されたX線のエネルギーによって
電子とホールが発生する。これらの電気信号は導電材8
51を介して駆動回路素子部に転送され、タイミングを
合せて蓄積及びスイッチングを行うことによって図示し
ない外部信号処理回路へと転送される。このようにして
各センサ毎に吸収されたX線信号が等量の電気信号に変
換されて画像に展開されるのである。
【0006】図14は図13のエリアセンサの等価回路
を示す図である。902は信号転送用TFT、912は
信号転送用TFTのゲート線、932は信号線、903
はリセット用TFT、913はリセット用TFTのゲー
ト線、933はリセット電圧供給用のバイアス線、90
4は電気信号蓄積用のコンデンサである。これら902
〜904,912,913,932,933は、全て基
板802上に形成されている。942は外部回路に設け
たアンプ、943はリセット電源、952は転送用ゲー
ト電源、953はリセット用ゲート電源である。
を示す図である。902は信号転送用TFT、912は
信号転送用TFTのゲート線、932は信号線、903
はリセット用TFT、913はリセット用TFTのゲー
ト線、933はリセット電圧供給用のバイアス線、90
4は電気信号蓄積用のコンデンサである。これら902
〜904,912,913,932,933は、全て基
板802上に形成されている。942は外部回路に設け
たアンプ、943はリセット電源、952は転送用ゲー
ト電源、953はリセット用ゲート電源である。
【0007】一方、901はGaAs基板によって形成
されたダイオード型センサ部で、GaAs基板801の
表側(上側)から裏側(下側)にかけてのバルク中に形
成されている。921はGaAs基板表面に形成された
Al等よりなるバイアス線である。なお、バイアス線と
表現したが、実際にはGaAs基板の上面全体に形成さ
れているものである。922は導電材料によって形成さ
れた抵抗成分である。この抵抗成分922はGaAs基
板をタイリングするが故に発生してしまうものである。
923はバイアス電源である。図面中心部に示すCは実
際の中心部に相当する。また、図14では4×4次元で
示しているが、必要に応じてN×M次元のセンサ配列が
可能である。
されたダイオード型センサ部で、GaAs基板801の
表側(上側)から裏側(下側)にかけてのバルク中に形
成されている。921はGaAs基板表面に形成された
Al等よりなるバイアス線である。なお、バイアス線と
表現したが、実際にはGaAs基板の上面全体に形成さ
れているものである。922は導電材料によって形成さ
れた抵抗成分である。この抵抗成分922はGaAs基
板をタイリングするが故に発生してしまうものである。
923はバイアス電源である。図面中心部に示すCは実
際の中心部に相当する。また、図14では4×4次元で
示しているが、必要に応じてN×M次元のセンサ配列が
可能である。
【0008】ここで、簡単に駆動について説明する。バ
イアス線921には一定のマイナス電圧を投入した状態
にしてダイオード型センサ901を常に逆バイアスにし
ておく。最初、リセット用ゲート線913にリセット用
ゲート電源953からのプラスの電圧を投入し、リセッ
トTFT903をON状態にして、蓄積コンデンサ部9
04をリセット電圧供給用のバイアス線933の電位に
固定しておく、この状態で、X線を爆射する。そうする
と、GaAsバルク中に形成された各センサ内では、そ
れぞれ入射したX線に相当する量の電子とホールのペア
が発生し、電子が蓄積コンデンサ904に蓄積される。
イアス線921には一定のマイナス電圧を投入した状態
にしてダイオード型センサ901を常に逆バイアスにし
ておく。最初、リセット用ゲート線913にリセット用
ゲート電源953からのプラスの電圧を投入し、リセッ
トTFT903をON状態にして、蓄積コンデンサ部9
04をリセット電圧供給用のバイアス線933の電位に
固定しておく、この状態で、X線を爆射する。そうする
と、GaAsバルク中に形成された各センサ内では、そ
れぞれ入射したX線に相当する量の電子とホールのペア
が発生し、電子が蓄積コンデンサ904に蓄積される。
【0009】この状態で、転送TFTゲートライン91
2より転送用ゲート電源952からのプラス電圧を投入
すると、転送用TFT902がON状態になり、蓄積さ
れていた電子がシグナルライン932に流れる。これを
アンプ942によって増幅し、図示しないシグナル読み
出し装置で信号処理を行うことによって、信号出力を取
り出すことができる。
2より転送用ゲート電源952からのプラス電圧を投入
すると、転送用TFT902がON状態になり、蓄積さ
れていた電子がシグナルライン932に流れる。これを
アンプ942によって増幅し、図示しないシグナル読み
出し装置で信号処理を行うことによって、信号出力を取
り出すことができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な直接型放射線検出器を用いると、X線エネルギーを光
に変換する工程を経ないので、エネルギーの損失が少な
く、一般的には間接型に比べ、高感度にすることが可能
とされている。中でもGaAs、CdTe、PbI2 、
HgI2 等は、X線吸収効率が高いため、高感度にする
にふさわしい材料とされている。
な直接型放射線検出器を用いると、X線エネルギーを光
に変換する工程を経ないので、エネルギーの損失が少な
く、一般的には間接型に比べ、高感度にすることが可能
とされている。中でもGaAs、CdTe、PbI2 、
HgI2 等は、X線吸収効率が高いため、高感度にする
にふさわしい材料とされている。
【0011】しかしながら、このような特殊な材料を用
いた場合、大面積なものが世の中に存在せず、小さなも
のに限られてしまうため用途も限られていた。従来例に
示したものは、下側にセンサ材料基板よりも大きな基板
を置き、その大きさに合せてセンサ基板をタイリングし
ている。これにより、センサ材料だけを用いるものより
も大きな面積が実現できるので、用途も広くできるもの
であったが、それでも駆動素子回路基板の大きさに限定
されるという問題があった。
いた場合、大面積なものが世の中に存在せず、小さなも
のに限られてしまうため用途も限られていた。従来例に
示したものは、下側にセンサ材料基板よりも大きな基板
を置き、その大きさに合せてセンサ基板をタイリングし
ている。これにより、センサ材料だけを用いるものより
も大きな面積が実現できるので、用途も広くできるもの
であったが、それでも駆動素子回路基板の大きさに限定
されるという問題があった。
【0012】本発明は、上記従来の事情に鑑みなされた
もので、その目的は、センサ基板及び駆動回路素子基板
の面積に限定されない有効検出面積を持つ放射線検出装
置を提供することにある。
もので、その目的は、センサ基板及び駆動回路素子基板
の面積に限定されない有効検出面積を持つ放射線検出装
置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、基台パ
ネルと、放射線を検出し電気信号に変換する複数のセン
サ部を有するタイリングされた複数のセンサ基板と、前
記センサ基板のセンサ部の駆動回路素子部を有するタイ
リングされた複数の駆動回路素子基板とを備えたことを
特徴とする放射線検出装置によって達成される。
ネルと、放射線を検出し電気信号に変換する複数のセン
サ部を有するタイリングされた複数のセンサ基板と、前
記センサ基板のセンサ部の駆動回路素子部を有するタイ
リングされた複数の駆動回路素子基板とを備えたことを
特徴とする放射線検出装置によって達成される。
【0014】このような構成にすることによって、セン
サ基板と駆動回路素子基板の大きさを様々に組み合わせ
ることができ、全体の大きさを基台の大きさに合せられ
るものである。基台には、特別な素子を形成する必要は
ないので、大きくすることが可能である。
サ基板と駆動回路素子基板の大きさを様々に組み合わせ
ることができ、全体の大きさを基台の大きさに合せられ
るものである。基台には、特別な素子を形成する必要は
ないので、大きくすることが可能である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。
を参照して詳細に説明する。
【0016】(第1の実施形態)図1は本発明の放射線
検出装置の第1の実施形態の構成を示す図である。図1
(a)は平面図、図1(b)はその断面図である。な
お、以下の実施形態においてはX線を検出する場合を例
として説明する。図1において、101はGaAs等の
III −V族化合物半導体等よりなるセンサ基板である。
各々のセンサ基板101には、上部表面から下部裏面に
かけてPIN構造をとるダイオード型のセンサ群が形成
されている。
検出装置の第1の実施形態の構成を示す図である。図1
(a)は平面図、図1(b)はその断面図である。な
お、以下の実施形態においてはX線を検出する場合を例
として説明する。図1において、101はGaAs等の
III −V族化合物半導体等よりなるセンサ基板である。
各々のセンサ基板101には、上部表面から下部裏面に
かけてPIN構造をとるダイオード型のセンサ群が形成
されている。
【0017】102はアモルファスシリコンを用いたT
FT(薄膜トランジスタ)とコンデンサからなる駆動回
路素子部が形成された駆動回路素子基板(ガラス基板)
である。111はセンサ下部に設けられた信号取り出し
用のAl等の金属材料からなるバンプ部、131は各セ
ンサ基板の表面側を電気的に接続するための導電性接着
剤等からなる導電材料、121は駆動回路素子部、15
1は111と121を電気的に接続するための導電性接
着剤等からなる導電材料である。
FT(薄膜トランジスタ)とコンデンサからなる駆動回
路素子部が形成された駆動回路素子基板(ガラス基板)
である。111はセンサ下部に設けられた信号取り出し
用のAl等の金属材料からなるバンプ部、131は各セ
ンサ基板の表面側を電気的に接続するための導電性接着
剤等からなる導電材料、121は駆動回路素子部、15
1は111と121を電気的に接続するための導電性接
着剤等からなる導電材料である。
【0018】また、103はパネル基台、141は駆動
素子基板102と基台103を貼り合せるための接着剤
である。図1に示す通り、センサ基板101側の各セン
サとガラス基板102側の各駆動回路素子は1対1に対
応した状態で2次元に配列されており、お互いが151
の導電材料によって電気的に接続されている。本実施形
態では、1枚の駆動回路素子基板102に4枚のセンサ
基板101をタイリングし、更に4枚の駆動回路素子基
板102をパネル基台103にタイリングした構造をと
っている。
素子基板102と基台103を貼り合せるための接着剤
である。図1に示す通り、センサ基板101側の各セン
サとガラス基板102側の各駆動回路素子は1対1に対
応した状態で2次元に配列されており、お互いが151
の導電材料によって電気的に接続されている。本実施形
態では、1枚の駆動回路素子基板102に4枚のセンサ
基板101をタイリングし、更に4枚の駆動回路素子基
板102をパネル基台103にタイリングした構造をと
っている。
【0019】この事によって、センサ基板101の16
枚分、駆動回路素子基板102の4枚分の有効面積を実
現している。図1においては、一例としてこのような組
み合わせを示したが、それぞれの枚数はどのような組み
合わせでも構わず、供給体制や歩留まり等様々な観点か
ら最適な組み合わせを用いればよい。また、センサ基板
101としては、X線を吸収して電子とホールを発生す
る半導体であればよく、この他にもII−VI族化合物や金
属沃化物、アモルファスセレン等を用いることが可能で
ある。
枚分、駆動回路素子基板102の4枚分の有効面積を実
現している。図1においては、一例としてこのような組
み合わせを示したが、それぞれの枚数はどのような組み
合わせでも構わず、供給体制や歩留まり等様々な観点か
ら最適な組み合わせを用いればよい。また、センサ基板
101としては、X線を吸収して電子とホールを発生す
る半導体であればよく、この他にもII−VI族化合物や金
属沃化物、アモルファスセレン等を用いることが可能で
ある。
【0020】また、駆動回路素子を形成したガラス基板
102は、ガラス以外にシリコンウエハーを用いても構
わない。シリコンウエハーを用いる場合は、ガラスほど
大きなものはできないが、スピードの早いものが形成可
能である。最近では、φ300mmのものも実用化され
つつあるので、少なくともIII −V族化合物、II−VI族
化合物等よりも大きなもので形成可能である。また、導
電材料131としては電気的接続がとれる構造であれば
良く、小型フレキ基板や金属板等を用いても構わない。
更に、導電材料151も電気的接続がとれる構造であれ
ば良く、異方性導電材等を圧着しても構わない。
102は、ガラス以外にシリコンウエハーを用いても構
わない。シリコンウエハーを用いる場合は、ガラスほど
大きなものはできないが、スピードの早いものが形成可
能である。最近では、φ300mmのものも実用化され
つつあるので、少なくともIII −V族化合物、II−VI族
化合物等よりも大きなもので形成可能である。また、導
電材料131としては電気的接続がとれる構造であれば
良く、小型フレキ基板や金属板等を用いても構わない。
更に、導電材料151も電気的接続がとれる構造であれ
ば良く、異方性導電材等を圧着しても構わない。
【0021】ここで、従来と同様に上部から入射したX
線情報はGaAsで吸収されるが、この時GaAs基板
内の空乏層内では吸収されたX線のエネルギーによって
電子とホールが発生する。これらの電気信号を導電材1
51を介して駆動回路素子部に転送し、タイミングを合
せて蓄積及びスイッチングを行うことによって、図示し
ない外部信号処理回路へと転送する。こうして各センサ
毎に吸収されたX線信号が等量の電気信号に変換されて
画像に展開されるのである。
線情報はGaAsで吸収されるが、この時GaAs基板
内の空乏層内では吸収されたX線のエネルギーによって
電子とホールが発生する。これらの電気信号を導電材1
51を介して駆動回路素子部に転送し、タイミングを合
せて蓄積及びスイッチングを行うことによって、図示し
ない外部信号処理回路へと転送する。こうして各センサ
毎に吸収されたX線信号が等量の電気信号に変換されて
画像に展開されるのである。
【0022】図2は図1の放射線検出装置の等価回路を
示す回路図である。202は信号転送用TFT、212
は信号転送用TFTのゲート線、232は信号線、20
3はリセット用TFT、213はリセット用TFTのゲ
ート線、233はリセット電圧供給用のバイアス線、2
04は電気信号蓄積用のコンデンサである。これら20
2〜204,212,213,232,233は、全て
ガラス基板102上に形成されている。一方、201は
GaAs基板によって形成されたダイオード型センサ部
で、センサ基板101の表側(上側)から裏側(下側)
にかけてのバルク中に形成されている。
示す回路図である。202は信号転送用TFT、212
は信号転送用TFTのゲート線、232は信号線、20
3はリセット用TFT、213はリセット用TFTのゲ
ート線、233はリセット電圧供給用のバイアス線、2
04は電気信号蓄積用のコンデンサである。これら20
2〜204,212,213,232,233は、全て
ガラス基板102上に形成されている。一方、201は
GaAs基板によって形成されたダイオード型センサ部
で、センサ基板101の表側(上側)から裏側(下側)
にかけてのバルク中に形成されている。
【0023】また、221はGaAs基板表面に形成さ
れたAl等よりなるバイアス線である。なお、バイアス
線と表現したが、実際にはGaAs上面全体に形成され
ている。222は導電材料によって形成された抵抗成分
である。この抵抗成分222は、GaAs基板をタイリ
ングするが故に発生してしまうものである。図面中心付
近に示すAは、実際の中心部に相当する。
れたAl等よりなるバイアス線である。なお、バイアス
線と表現したが、実際にはGaAs上面全体に形成され
ている。222は導電材料によって形成された抵抗成分
である。この抵抗成分222は、GaAs基板をタイリ
ングするが故に発生してしまうものである。図面中心付
近に示すAは、実際の中心部に相当する。
【0024】ここで、従来例の等価回路は、4×4次元
で全体が分かるように示したが、本実施形態では従来例
と異なる部分のみを示している。即ち、Aを基準に左
上、右上、右下、左下の方向は、全て駆動回路素子が独
立しているため、それぞれのゲート線212及び213
と信号線232、そしてバイアス線233は独立してい
る。従来例では、独立していない。また、図2では2×
2次元で一つのセンサ基板を表記している。そのため、
バイアス線221は、お互いに抵抗成分222によって
電気的に接続されている。駆動方法は、従来例と全く同
じであるので、説明は割愛する。
で全体が分かるように示したが、本実施形態では従来例
と異なる部分のみを示している。即ち、Aを基準に左
上、右上、右下、左下の方向は、全て駆動回路素子が独
立しているため、それぞれのゲート線212及び213
と信号線232、そしてバイアス線233は独立してい
る。従来例では、独立していない。また、図2では2×
2次元で一つのセンサ基板を表記している。そのため、
バイアス線221は、お互いに抵抗成分222によって
電気的に接続されている。駆動方法は、従来例と全く同
じであるので、説明は割愛する。
【0025】次に、本実施形態の放射線検出装置の製造
方法を図3〜図5を参照して詳細に説明する。なお、図
3〜図5において(a)は平面図、(b)はその断面図
である。まず、図3に示すようにアモルファスシリコン
半導体プロセス及びスライス工程によって形成した駆動
回路素子基板102の各素子部121に導電性接着剤等
の導電材151をスクリーン印刷等の方法によってドッ
ト印刷する。続いて、図4に示すように半導体プロセス
及びスライス工程によって形成されたGaAsセンサ基
板101を図示しない装置によってアライメントした状
態で駆動回路素子基板102に接続し、この際、各セン
サのバンプ部111と駆動回路素子部121を導電材1
51を用いて接続する。
方法を図3〜図5を参照して詳細に説明する。なお、図
3〜図5において(a)は平面図、(b)はその断面図
である。まず、図3に示すようにアモルファスシリコン
半導体プロセス及びスライス工程によって形成した駆動
回路素子基板102の各素子部121に導電性接着剤等
の導電材151をスクリーン印刷等の方法によってドッ
ト印刷する。続いて、図4に示すように半導体プロセス
及びスライス工程によって形成されたGaAsセンサ基
板101を図示しない装置によってアライメントした状
態で駆動回路素子基板102に接続し、この際、各セン
サのバンプ部111と駆動回路素子部121を導電材1
51を用いて接続する。
【0026】この時、図4(b)の左の端面は次工程で
タイリングする際の合せ辺となるので、センサ基板側も
駆動素子回路側も同時に垂直性を確保しなければならな
い。次いで、図5に示すようにパネル基台103に予め
接着剤141を塗布しておき、センサ基板101がタイ
リングされた駆動回路素子基板102を4枚タイリング
する。ここまでは、先に駆動回路素子基板にセンサ基板
を貼り合せた例を示したが、逆にパネル基台103に駆
動回路素子基板102をタイリングしてから、センサ基
板101をタイリングしても構わない。続いて、各セン
サ基板101同士を導電性接着剤131で接続すること
で図1に示すような放射線検出装置が完成する。
タイリングする際の合せ辺となるので、センサ基板側も
駆動素子回路側も同時に垂直性を確保しなければならな
い。次いで、図5に示すようにパネル基台103に予め
接着剤141を塗布しておき、センサ基板101がタイ
リングされた駆動回路素子基板102を4枚タイリング
する。ここまでは、先に駆動回路素子基板にセンサ基板
を貼り合せた例を示したが、逆にパネル基台103に駆
動回路素子基板102をタイリングしてから、センサ基
板101をタイリングしても構わない。続いて、各セン
サ基板101同士を導電性接着剤131で接続すること
で図1に示すような放射線検出装置が完成する。
【0027】本実施形態による放射線検出装置の構造及
び製造方法によれば、小さなセンサ基板101と駆動回
路素子基板102を平面的につなぎ合わせているので、
センサ基板101や駆動回路素子基板102の面積によ
らず、大画面の放射線検出装置を実現することができ
る。
び製造方法によれば、小さなセンサ基板101と駆動回
路素子基板102を平面的につなぎ合わせているので、
センサ基板101や駆動回路素子基板102の面積によ
らず、大画面の放射線検出装置を実現することができ
る。
【0028】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態について説明する。図6は本発明の放射線検出
装置の第2の実施形態の構成を示す図である。図6
(a)は平面図、図6(b)はその断面図である。図6
では図1と同一部分は同一符号を付している。101は
GaAs等のIII −V族化合物半導体等よりなるセンサ
基板で、上部表面から下部裏面にかけてPIN構造をと
るダイオード型のセンサ群が形成されている。102は
アモルファスシリコンを用いたTFTとコンデンサから
なる駆動回路素子部が形成された駆動回路素子基板(ガ
ラス基板)である。111はセンサ下部に設けられた信
号取り出し用のAl等の金属材料からなるバンプ部、1
21は駆動回路素子部、151は111と121を電気
的に接続するための導電性接着剤等からなる導電材料で
ある。
実施形態について説明する。図6は本発明の放射線検出
装置の第2の実施形態の構成を示す図である。図6
(a)は平面図、図6(b)はその断面図である。図6
では図1と同一部分は同一符号を付している。101は
GaAs等のIII −V族化合物半導体等よりなるセンサ
基板で、上部表面から下部裏面にかけてPIN構造をと
るダイオード型のセンサ群が形成されている。102は
アモルファスシリコンを用いたTFTとコンデンサから
なる駆動回路素子部が形成された駆動回路素子基板(ガ
ラス基板)である。111はセンサ下部に設けられた信
号取り出し用のAl等の金属材料からなるバンプ部、1
21は駆動回路素子部、151は111と121を電気
的に接続するための導電性接着剤等からなる導電材料で
ある。
【0029】103はパネル基台、131はAl等の金
属薄膜等からなる電極、132はセンサ基板101と基
台103を貼り合わせるための導電性の接着剤である。
図6においても、センサ基板101側の各センサとガラ
ス基板102側の各駆動回路素子は1対1に対応した状
態で2次元に配列されており、お互いが151の導電材
料によって電気的に接続されている。
属薄膜等からなる電極、132はセンサ基板101と基
台103を貼り合わせるための導電性の接着剤である。
図6においても、センサ基板101側の各センサとガラ
ス基板102側の各駆動回路素子は1対1に対応した状
態で2次元に配列されており、お互いが151の導電材
料によって電気的に接続されている。
【0030】本実施形態においても、1枚の駆動回路素
子基板102に4枚のセンサ基板101をタイリング
し、更に4枚の駆動回路素子基板102をパネル基台1
03にタイリングした構造をとっている。パネル基台1
03がセンサ基板101側に位置していることが第1の
実施形態との違いである。この構造を取ることによって
センサ基板101の上部バイアス電極は、導電性の接着
剤132と金属薄膜131によって、お互いに電気的な
接続がなされている。このため、パネル基台103をセ
ンサのバイアス線同士の電気接続に利用することが可能
となり、第1の実施形態のように導電材131を設ける
工程を省略できるので、その分、製造が容易でコストダ
ウンが可能である。
子基板102に4枚のセンサ基板101をタイリング
し、更に4枚の駆動回路素子基板102をパネル基台1
03にタイリングした構造をとっている。パネル基台1
03がセンサ基板101側に位置していることが第1の
実施形態との違いである。この構造を取ることによって
センサ基板101の上部バイアス電極は、導電性の接着
剤132と金属薄膜131によって、お互いに電気的な
接続がなされている。このため、パネル基台103をセ
ンサのバイアス線同士の電気接続に利用することが可能
となり、第1の実施形態のように導電材131を設ける
工程を省略できるので、その分、製造が容易でコストダ
ウンが可能である。
【0031】次に、本実施形態の放射線検出装置の製造
方法を図7〜図10を参照して詳細に説明する。なお、
図7〜図10においては(a)は平面図、(b)はその
断面図である。まず、図7に示すように基台103上に
Al等の金属薄膜131を形成しておき、その上にスク
リーン印刷等の方法によって導電性接着剤132を塗布
する。続いて、図8に示すように半導体プロセス及びス
ライス工程によって形成されたGaAsセンサ基板10
1を図示しない装置によって互いをアライメントした状
態で導電性接着剤132を用いて基台103に接続す
る。また、図9に示すようにセンサ基板101のバンプ
部111上にスクリーン印刷等の方法によって導電性接
着剤151を塗布する。
方法を図7〜図10を参照して詳細に説明する。なお、
図7〜図10においては(a)は平面図、(b)はその
断面図である。まず、図7に示すように基台103上に
Al等の金属薄膜131を形成しておき、その上にスク
リーン印刷等の方法によって導電性接着剤132を塗布
する。続いて、図8に示すように半導体プロセス及びス
ライス工程によって形成されたGaAsセンサ基板10
1を図示しない装置によって互いをアライメントした状
態で導電性接着剤132を用いて基台103に接続す
る。また、図9に示すようにセンサ基板101のバンプ
部111上にスクリーン印刷等の方法によって導電性接
着剤151を塗布する。
【0032】次いで、図10に示すようにアモルファス
シリコン半導体プロセス及びスライス工程によって形成
した駆動回路素子基板102を互いにアライメントした
状態でセンサ基板101との間で先に塗布した導電性接
着剤151によって貼り合わせる。なお、この工程説明
の断面図は説明の都合上図6と上下反対にして示してあ
る。この製法によれば第1の実施形態のようにセンサ基
板側も駆動素子回路側も同時に垂直性を確保しなければ
ならないという難しさを軽減できる。本実施形態によれ
ば、センサ基板101と駆動回路素子基板102の位置
を反対にしているので、第1の実施形態の効果に加えて
センサ基板を接続する導電材131を不要にでき、その
分、安価に作製することができる。
シリコン半導体プロセス及びスライス工程によって形成
した駆動回路素子基板102を互いにアライメントした
状態でセンサ基板101との間で先に塗布した導電性接
着剤151によって貼り合わせる。なお、この工程説明
の断面図は説明の都合上図6と上下反対にして示してあ
る。この製法によれば第1の実施形態のようにセンサ基
板側も駆動素子回路側も同時に垂直性を確保しなければ
ならないという難しさを軽減できる。本実施形態によれ
ば、センサ基板101と駆動回路素子基板102の位置
を反対にしているので、第1の実施形態の効果に加えて
センサ基板を接続する導電材131を不要にでき、その
分、安価に作製することができる。
【0033】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態について説明する。図11は本発明の第3の実
施形態の構成を示す図である。図11(a)は平面図、
図11(b)はその断面図である。なお、図11では図
6と同一部分は同一符号を付している。本実施形態で
は、4枚の駆動回路素子基板102のタイリングと9枚
のセンサ基板101のタイリングによる構造をとってお
り、第1、第2の実施形態と違ってセンサ基板101と
駆動回路素子基板102のタイリング境界部が全て不一
致にしている例である。本実施形態のようにセンサ基板
と駆動回路素子基板は、任意の大きさのものをとること
が可能である。
実施形態について説明する。図11は本発明の第3の実
施形態の構成を示す図である。図11(a)は平面図、
図11(b)はその断面図である。なお、図11では図
6と同一部分は同一符号を付している。本実施形態で
は、4枚の駆動回路素子基板102のタイリングと9枚
のセンサ基板101のタイリングによる構造をとってお
り、第1、第2の実施形態と違ってセンサ基板101と
駆動回路素子基板102のタイリング境界部が全て不一
致にしている例である。本実施形態のようにセンサ基板
と駆動回路素子基板は、任意の大きさのものをとること
が可能である。
【0034】図12は図11の等価回路図である。図1
2では図2と同一部分は同一符号を付している。但し、
240は導電材料132と金属薄膜131によって形成
された抵抗成分である。図面中心付近に示すBは、実際
の中心部に相当する。また、従来例の等価回路は、4×
4次元で全体が分かるように示したが、図12において
も従来例と異なる部分のみを示している。図面からBを
基準に左上、右上、右下、左下の方向は、全て駆動回路
素子が独立しているため、それぞれのゲート線212及
び213と信号線232、そしてバイアス線233は独
立している。これは、第1の実施形態と同じである。ま
た、図12でも2×2次元で一つのセンサ基板を表記し
ている。特に、Bを含むセンサ基板は4つの駆動回路素
子基板にまたがった構造となっている。
2では図2と同一部分は同一符号を付している。但し、
240は導電材料132と金属薄膜131によって形成
された抵抗成分である。図面中心付近に示すBは、実際
の中心部に相当する。また、従来例の等価回路は、4×
4次元で全体が分かるように示したが、図12において
も従来例と異なる部分のみを示している。図面からBを
基準に左上、右上、右下、左下の方向は、全て駆動回路
素子が独立しているため、それぞれのゲート線212及
び213と信号線232、そしてバイアス線233は独
立している。これは、第1の実施形態と同じである。ま
た、図12でも2×2次元で一つのセンサ基板を表記し
ている。特に、Bを含むセンサ基板は4つの駆動回路素
子基板にまたがった構造となっている。
【0035】駆動方法は、従来例と全く同じである。ま
た、製造方法も第2の実施形態と同じなので説明を省略
する。このように本実施形態によれば、センサ基板10
1と駆動回路素子基板102の平面サイズが整数倍の関
係になくても大画面のセンサを実現することができる。
た、製造方法も第2の実施形態と同じなので説明を省略
する。このように本実施形態によれば、センサ基板10
1と駆動回路素子基板102の平面サイズが整数倍の関
係になくても大画面のセンサを実現することができる。
【0036】なお、以上の実施形態では、X線を検出す
る場合を例として説明したが、本発明は、これに限るこ
となく、例えば、α線、β線、γ線等を使用する場合に
も適用することができる。
る場合を例として説明したが、本発明は、これに限るこ
となく、例えば、α線、β線、γ線等を使用する場合に
も適用することができる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明は以下のよう
な効果がある。 (1)大画面基板が存在しない直接型の放射線検出装置
を容易に大画面にすることができる。 (2)センサ基板と駆動回路素子基板と基台の上下位置
関係を自由に設定することが可能となり、コストダウン
も可能となる。 (3)センサ基板サイズと駆動回路素子基板サイズを整
数倍に限定する必要もなく、生産工程の事情に合せ、自
由に選択することができる。
な効果がある。 (1)大画面基板が存在しない直接型の放射線検出装置
を容易に大画面にすることができる。 (2)センサ基板と駆動回路素子基板と基台の上下位置
関係を自由に設定することが可能となり、コストダウン
も可能となる。 (3)センサ基板サイズと駆動回路素子基板サイズを整
数倍に限定する必要もなく、生産工程の事情に合せ、自
由に選択することができる。
【図1】本発明の放射線検出装置の第1の実施形態の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図2】図1の放射線検出装置の等価回路図である。
【図3】図1の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図4】図1の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図5】図1の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図6】本発明の放射線検出装置の第2の実施形態の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図7】図6の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図8】図6の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図9】図6の放射線検出装置の製造方法を示す図であ
る。
る。
【図10】図6の放射線検出装置の製造方法を示す図で
ある。
ある。
【図11】本発明の放射線検出装置の第3の実施形態の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図12】図11の放射線検出装置の等価回路図であ
る。
る。
【図13】従来例のダイレクト方式X線エリアセンサを
示す図である。
示す図である。
【図14】図13のX線エリアセンサの等価回路図であ
る。
る。
【符号の説明】 101 センサ基板 102 駆動回路素子基板(ガラス基板) 103 パネル基台 111 バンプ部 121 駆動回路素子部 131 導電材料 141 接着剤 151 導電材料 201 ダイオード型センサ部 202 信号転送用TFT 203 リセット用TFT 204 電気信号蓄積用のコンデンサ 212 信号転送用TFTのゲート線 213 リセット用TFTのゲート線 221 バイアス線 222 抵抗成分 232 信号線 233 リセット電圧供給用のバイアス線 240 抵抗成分 A 中心部
フロントページの続き Fターム(参考) 2G088 EE01 EE29 FF02 FF04 FF05 FF06 GG21 JJ05 JJ37 4M118 AB01 BA05 BA19 CA05 CB02 CB05 DD11 DD12 FB09 FB13 FB16 FB19 GA10 HA22 HA26 HA27 HA31 5F088 AB07 AB09 BB03 BB07 EA04 EA08 JA03 KA03 LA07
Claims (12)
- 【請求項1】 基台パネルと、放射線を検出し電気信号
に変換する複数のセンサ部を有するタイリングされた複
数のセンサ基板と、前記センサ基板のセンサ部の駆動回
路素子部を有するタイリングされた複数の駆動回路素子
基板とを備えたことを特徴とする放射線検出装置。 - 【請求項2】 前記センサ基板のセンサ部は2次元に配
列されていることを特徴とする請求項1に記載の放射線
検出装置。 - 【請求項3】 前記センサ基板は、III −V族化合物、
II−VI族化合物、金属沃化物、又はアモルファスセレン
から構成されていることを特徴とする請求項1〜2のい
ずれか1項に記載の放射線検出装置。 - 【請求項4】 前記駆動回路素子基板は、前記センサ部
の電荷を蓄積するコンデンサ部、前記コンデンサ部に蓄
積された電荷を転送するTFT部を有することを特徴と
する請求項1に記載の放射線検出装置。 - 【請求項5】 前記駆動回路素子基板は、シリコンによ
り構成されていることを特徴とする請求項1、4のいず
れか1項に記載の放射線検出装置。 - 【請求項6】 前記複数のセンサ基板は、センサ部の配
列が揃うようにアライメントされていることを特徴とす
る請求項1〜3のいずれか1項に記載の放射線検出装
置。 - 【請求項7】 前記複数のセンサ基板は、上部バイアス
電極同士が電気的に接続されていることを特徴とする請
求項1〜3、6のいずれか1項に記載の放射線検出装
置。 - 【請求項8】 前記複数の駆動回路素子基板は、駆動回
路素子部の配列が揃うようにアライメントされているこ
とを特徴とする請求項1、4、5のいずれか1項に記載
の放射線検出装置。 - 【請求項9】 前記複数のセンサ基板と駆動回路素子基
板は、前記センサ部の配列と駆動素子部の配列が揃うよ
うにアライメントされていることを特徴とする請求項1
に記載の放射線検出装置。 - 【請求項10】 前記センサ基板のセンサ部と前記駆動
回路素子基板の駆動回路素子部は電気的に接続されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。 - 【請求項11】 前記センサ基板と駆動回路素子基板
は、前記基台パネル上に駆動回路素子基板、センサ基板
の順に積層されていることを特徴とする請求項1に記載
の放射線検出装置。 - 【請求項12】 前記センサ基板と駆動回路素子基板
は、前記基台パネル上にセンサ基板、駆動回路素子基板
の順に積層されていることを特徴とする請求項1に記載
の放射線検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001005309A JP2002214351A (ja) | 2001-01-12 | 2001-01-12 | 放射線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001005309A JP2002214351A (ja) | 2001-01-12 | 2001-01-12 | 放射線検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002214351A true JP2002214351A (ja) | 2002-07-31 |
Family
ID=18873367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001005309A Pending JP2002214351A (ja) | 2001-01-12 | 2001-01-12 | 放射線検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002214351A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005201642A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Hitachi Ltd | 放射線検出装置および核医学診断装置 |
JP2006521683A (ja) * | 2003-03-27 | 2006-09-21 | アジャト オイ, リミテッド | 放射線撮像デバイスのための伝導性接着剤で結合された半導体基板 |
JP2007067381A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-03-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及び発光装置の作製方法 |
JP2009111089A (ja) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
JP2009111090A (ja) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
JP2013017234A (ja) * | 2012-09-26 | 2013-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 固体撮像装置 |
US8610155B2 (en) | 2008-11-18 | 2013-12-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
JP2014238327A (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-18 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft | 半導体ウェハをダイシングしてなる放射線検出器及びそのダイシング方法 |
JP2020507070A (ja) * | 2017-01-27 | 2020-03-05 | ディテクション テクノロジー オイ | 放射線検出器パネルアセンブリ構造 |
WO2020194069A3 (ko) * | 2019-03-22 | 2021-10-14 | 아르크소프트 코포레이션 리미티드 | 타일형 이미지 센서 |
-
2001
- 2001-01-12 JP JP2001005309A patent/JP2002214351A/ja active Pending
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006521683A (ja) * | 2003-03-27 | 2006-09-21 | アジャト オイ, リミテッド | 放射線撮像デバイスのための伝導性接着剤で結合された半導体基板 |
JP4594624B2 (ja) * | 2004-01-13 | 2010-12-08 | 株式会社日立製作所 | 放射線検出装置および核医学診断装置 |
JP2005201642A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Hitachi Ltd | 放射線検出装置および核医学診断装置 |
US8497512B2 (en) | 2005-08-05 | 2013-07-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and manufacturing method thereof |
JP2007067381A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-03-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置及び発光装置の作製方法 |
JP2009111089A (ja) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
JP2009111090A (ja) * | 2007-10-29 | 2009-05-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
US11818925B2 (en) | 2008-11-18 | 2023-11-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
US8610155B2 (en) | 2008-11-18 | 2013-12-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
US10896941B2 (en) | 2008-11-18 | 2021-01-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
US10269883B2 (en) | 2008-11-18 | 2019-04-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device method for manufacturing the same, and cellular phone |
US11289558B2 (en) | 2008-11-18 | 2022-03-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
US10600853B2 (en) | 2008-11-18 | 2020-03-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device, method for manufacturing the same, and cellular phone |
JP2013017234A (ja) * | 2012-09-26 | 2013-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 固体撮像装置 |
US9755098B2 (en) | 2013-06-07 | 2017-09-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Radiation detector manufactured by dicing a semiconductor wafer and dicing method therefor |
JP2014238327A (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-18 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft | 半導体ウェハをダイシングしてなる放射線検出器及びそのダイシング方法 |
JP7023286B2 (ja) | 2017-01-27 | 2022-02-21 | ディテクション テクノロジー オイ | 放射線検出器パネルアセンブリ構造 |
JP2020507070A (ja) * | 2017-01-27 | 2020-03-05 | ディテクション テクノロジー オイ | 放射線検出器パネルアセンブリ構造 |
WO2020194069A3 (ko) * | 2019-03-22 | 2021-10-14 | 아르크소프트 코포레이션 리미티드 | 타일형 이미지 센서 |
US11848306B2 (en) | 2019-03-22 | 2023-12-19 | Arcsoft Corporation Limited | Tiled image sensor |
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